JPH0420808A - レベル計測装置 - Google Patents

レベル計測装置

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JPH0420808A
JPH0420808A JP12493990A JP12493990A JPH0420808A JP H0420808 A JPH0420808 A JP H0420808A JP 12493990 A JP12493990 A JP 12493990A JP 12493990 A JP12493990 A JP 12493990A JP H0420808 A JPH0420808 A JP H0420808A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
height
light
level
laser
light emitting
Prior art date
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Pending
Application number
JP12493990A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Saito
賢治 斉藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
KYB Corp
Original Assignee
Kayaba Industry Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Kayaba Industry Co Ltd filed Critical Kayaba Industry Co Ltd
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Publication of JPH0420808A publication Critical patent/JPH0420808A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、構造物の不同沈下の計測なと、複数部位のレ
ベル変動を監視するレベル計測装置の改良に関する。
(従来の技術) 建造物の不同沈下の計測など複数部位のレベルを計測す
る場合に、従来は水準器とスタン7による計測が広く行
われていた。また、近年では1メーザ尤線を照射する電
子レベルと、レーザ光線を受光する受光器とを用いて、
受光器の受光高さから受光器を配置した測点のレベルを
求める装置も使用されている。
(発明の課題) しかしながら、いずれの場合でも一点に据え付けた水準
器や電子レベルでは、障害物などのために総ての測点を
カバー8来ない場合が多く、そのような場合は水準器や
電子レベルを移動し、未計測の測点を既に計測されてい
る少なくとも一つの測点とともに計測し、所定の演算を
行って全測、克のレベルを求めていた。しかしながら、
このような計測方法は手間と時間がかかるという問題が
あった。
本発明は、以上の開運、つに鑑みてなされたもので、移
動せずに広い範囲のレベル測量が行えるしベル計測装置
を提供するを目的とする。
(課題を達成するための手段) 本発明は、異なる位置に配置され、旋回しながらレーザ
光線を水平方向に照射する複数のレーザ照射器と、各レ
ーザ照射器の周囲に設けた複数の側、りに各々配置され
た受光器と、これらの受光器の受光^さから各測点のレ
ベルを求める手段とを備えるとともに、これらの受光器
のうちに複数のレーザ照射器のレーザ光線を受光でさる
受光器を備え、前記レベルを求める手段が求めた各測点
のレベルをこの受光器の受光するレーザ光線の受光高さ
の差に基づき補正する手段を備えている。
(作用) 異なる位置に備えた複数のレーザ照射器からレーザ光線
を照射することにより、レーザ照射器を移動しなくても
金側1党の受光器がレーザ光線を受光する。
また、補正手段は複数のレーザ照射器のレーザ光線を受
光する受光器の受光高さの違いから、レーザ照射器の照
射器さの違いを演算し、各計測点のレベルをこの演算結
果に基づき補正する。これにより、全測点のレベルが同
一水準点を起点としたレベルに統一される。
(実施例) 第1図〜第4図に本発明の実施例を示す。
第1図において、1Aと1Bは異なる位置に配置された
レーザ照射器であり、それぞれが第2図に示される発光
部2と水平調整部3と上下移動部4を備え、プラケント
5により第3図に示す建造物の基礎梁6に固定される。
発光部2は従来の電子レベルと同様のレーザ光線発射機
能と、水平1!4整部3の微小範囲の傾斜に対して光軸
を水平に維持する従来のオートレベルと同様の自動水平
維持機能とを備える。また、発光部2は旋回用の7クチ
ユエータと旋回角度を検出する旋回角度計とを備え、ア
クチュエータの駆動により水平W14983に対して3
60°水平旋回する。
水平調整部3は直交する水平基準軸を起点に発光部2の
傾斜角度を各々調整するアクチュエータと、これらの傾
斜角度を計測する傾斜計または水準計とを備える。
上下移動部4は発光部2を水平調整部3とともに昇降さ
せるアクチュエータと、発光部2の昇降位置を検出する
位置センサとを備える。
なお、レーザ照射器IAと1Bはそれぞれ信号回路で後
述のコントローラ10に接続され、発光部2の昇降位置
、旋回角度及び傾斜角度が信号としてコントローラ10
に入力され、発光部2の水平旋回、傾斜角度の調整及び
昇降を行う各7クチユエータはコントローラ10から送
られる信号により制御1される。また、レーザ光線の発
射もコントa−210から送られる信号により制御され
る。
一方、建造物の柱7の基部には受光器8が各々取り付け
られる。受光器3はそれぞれ信号回路でコントローラ1
0に接続される。受光器8はレーザ光線に反応するセン
サを垂直方向に数多く配置した受光部を備え、レーザ光
線を受光すると、受光したセンサの位置に対応する高さ
信号を信号回路を通じてコントローラ10に出力する。
なお、第4図に示す受光器8A〜8Dはレーザ照射器I
A1と1Bの両方のレーザ光線を受光できる位置に取り
付けられる。
コントローラ10は受光器8の受光高さから受光器8を
配置した測点のレベルを求める手段及びこのレベルを補
正する手段としてマイクロコンピュータで構成され、表
示部11とオペレータが命令を入力するための入力装置
とを備える。
コントローラ10は入力装置を介して入力される命什に
応じてレーザ照射器IAとIBへ信号を出力し、各発光
部2を任意の高さに昇降させ、傾斜を水平に調整し、任
意の旋回角度に旋回させてレーザ光線を発射させる。
また、レーザ照射器IAとIBの両方のレーザ光線を受
光した受光器8から高さ信号が入力されると、これらの
入力信号からレーザ照射器IAと1Bの発光112の^
さの違いを演算し、この演算結果に基づき他の受光器8
から入力される高さ信号を補正して受光器8を設置した
各計測点のレベルを表示部11に表示する。
次に作用を説明する。
このレベル計測装置を使用する場合は、まずオペレータ
が入力装置への命令入力により、レーザ照射器1AとI
Bの上下移動部3を駆動して発光部2を昇降させ、発射
されるレーザ光線の高さが受光可能なすべての受光器8
の受光範囲に収まるようにする。
次に、オペレータは水平調整部3に備えた傾斜計からコ
ントローラ10に入力される傾斜角度信号がゼロになる
ように、入力装置に命令を入力して水平調整部3を駆動
し、発光部2の傾きを水平に1itqする。
そして、入力装置への命令入力により発光部2に備えた
アクチュエータを駆動し、発光部2を水平旋回させつつ
、発光部2からレーザ光線を発射させる。なお、この時
発光部2の自動水平維持機能が働くので、発射されるレ
ーザ光線の水平は高い精度で維持される。
一方、各受光部8はレーザ光線が入光すると、受光高さ
に応じた高さ信号をコントローラ10に入力する。この
高さ信号は受光器8を配置した各計測点のレベルに対応
したものとなるが、レーザ照射部1AとIBではレーザ
発光部2の昇降位置が必ずしも同一でないため、第4図
に示すように領域(1)内の測点と領域(II)内の測
点のレベルには相関性がない。
しかしながら、領域(1)と領域(It)の境界付近に
存在する受光器8A〜8Dにはレーザ照射器IAと1B
の両方のレーザ光線が入光する。そこで、コントローラ
10は例えば受光器8Aから信号入力される2種類のレ
ベルの差を演算し、レーザ照射器IAとIBの発光部2
の高さの差を検出する。
そして、領域(I)の受光器8から入力される高さ信号
については、信号に対応するレベルの数値を表示装置1
1にそのまま表示する一方、領域(■)の受光器8から
入力される高さ信号については、高さ信号に対応するレ
ベルの値を検出された発光部2の高さの差に応じて補正
した上で、表示装!11に表示する。このため、得られ
たレベルは領域(1)と(I[)を問わず、すべてレー
ザ照射器IAを基準としたレベルとなる。
このようにして、すべての計測点のレベルが計測される
が、レーザ照射器IAとIBはブラケット5により基礎
梁6に固定され、移動する必要がないので、計測作業は
短時間で効率良く行われる。
なお、この実施例では2台のレーザ照射器IAとIBを
使用しているが、計測範囲の広さに応じてレーザ照射器
の数を増やすことが可能である。
(発明の効果) 以上のように、本発明は複数のレーザ照射器から照射さ
れたレーザ光線を受光できる受光器と、検出した各測点
のレベルをこの受光器のレーザ光線の受光高さの違いに
基づき補正する手段とを備えたので、得られるレベルは
全測点に渡って同一水準点に基づくものとなり、広い計
測範囲に数多くの測、克が存在するような場合でもレベ
ル計測を効率良く短時間で行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示すレベル計測装置の概略の
斜視図、第2図はレーザ照射器の側面図、第3図はレベ
ル計測装置の配置状態を示す建造物基部の側面図、第4
図はレーザ照射器と受光器との位置関係を示す平面図で
ある。 I A、I B・・・レーザ照射器、2・・・発光部、
3・・・水平調整部、4・・・上下調整部、8・・・受
光部、10・・コントローラ。 特許出願人      カヤバエ業株式会社(外1名ン
岱“

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 異なる位置に配置され、旋回しながらレーザ光線を水平
    方向に照射する複数のレーザ照射器と、各レーザ照射器
    の周囲に設けた複数の測点に各々配置された受光器と、
    これらの受光器の受光高さから各測点のレベルを求める
    手段とを備えるとともに、これらの受光器のうちに複数
    のレーザ照射器のレーザ光線を受光できる受光器を備え
    、前記レベルを求める手段が求めた各測点のレベルをこ
    の受光器の受光するレーザ光線の受光高さの差に基づき
    補正する手段を備えたことを特徴とするレベル計測装置
JP12493990A 1990-05-15 1990-05-15 レベル計測装置 Pending JPH0420808A (ja)

Priority Applications (1)

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JP12493990A JPH0420808A (ja) 1990-05-15 1990-05-15 レベル計測装置

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JP12493990A JPH0420808A (ja) 1990-05-15 1990-05-15 レベル計測装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0420808A true JPH0420808A (ja) 1992-01-24

Family

ID=14897930

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12493990A Pending JPH0420808A (ja) 1990-05-15 1990-05-15 レベル計測装置

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JP (1) JPH0420808A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2026014136A1 (ja) * 2024-07-10 2026-01-15 株式会社ダイフク レール高さ検出方法、レール高さ調整方法、及びレール高さ検出装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2026014136A1 (ja) * 2024-07-10 2026-01-15 株式会社ダイフク レール高さ検出方法、レール高さ調整方法、及びレール高さ検出装置
JP2026010873A (ja) * 2024-07-10 2026-01-23 株式会社ダイフク レール高さ検出方法、レール高さ調整方法、及びレール高さ検出装置

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