JPH04210472A - 薄膜形成装置 - Google Patents
薄膜形成装置Info
- Publication number
- JPH04210472A JPH04210472A JP40060590A JP40060590A JPH04210472A JP H04210472 A JPH04210472 A JP H04210472A JP 40060590 A JP40060590 A JP 40060590A JP 40060590 A JP40060590 A JP 40060590A JP H04210472 A JPH04210472 A JP H04210472A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- target
- thin film
- sputtering
- vapor deposition
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
[00011
【産業上の利用分野]この発明は、薄膜を形成する装置
、特にプラズマを用いた物理的蒸着法(PVD法)によ
り高品質の薄膜を蒸着形成する薄膜形成装置のイオン源
装置に関するものである。 [0002] 【従来の技術】従来から半導体膜、光学薄膜、磁性膜、
絶縁膜などの高品質の薄膜がスパッタリング法もしくは
低エネルギーイオンビームアシスト蒸着法により形成さ
れている。図2は低エネルギー(20eV〜500eV
)のイオンを用いる後者の方法による従来の薄膜形成装
置を模式的に示す断面図であり、イオン源装置の部分の
みを示す。 図において、1は上方図示外の基板上に形成される薄膜
の材料である蒸着物質、2は蒸着物質1の蒸気を発生さ
せる蒸気発生源、3は蒸着物質1を収容する密閉形のる
つぼ、4はるつぼ3の上部に設けられたオリフィス、5
はるつぼ3を加熱するヒーターであり、るつぼ3、オリ
フィス4およびヒーター5で蒸気発生源2を構成してい
る。 [0003]6はるつぼ3の上方に設けられて、蒸着物
質1の蒸気をイオン化するイオン化装置、7は電子を放
出するカソード、8はカソード7から電子・を引き出す
アノードであり、カソード7とアノード8でイオン化装
置6を構成している。9はイオン化装置6の上方に設け
られて、装@6によってイオン化された蒸着物質1を電
界で加速する加速装置、10はアースに対して正の電位
が与えられた加速電極、11はアース電位になったアー
ス電極であり、加速電極10とアース電極11とで加速
装置9を構成している。以上が基板とともに図示しない
真空槽内に収納されている。 [0004]次に動作について説明する。まず、真空槽
内を10− ’ Torr程度以下の真空度になるまで
図示しない真空排気系により排気した後、ヒーター5で
るつぼ3を加熱すると、るつぼ3内の蒸着物質1が蒸発
し、オリフィス4を通ってイオン化装置6中へ噴出する
。そこで蒸着物質1の蒸気の一部が、カソード7から放
出された電子と衝突してイオン化される。イオン化され
た蒸着物質1の蒸気は、加速電極10とアース電極11
により形成される電界で加速され、イオン化されない蒸
気とともに基板に衝突してその表面に薄膜を形成する。 [0005]
、特にプラズマを用いた物理的蒸着法(PVD法)によ
り高品質の薄膜を蒸着形成する薄膜形成装置のイオン源
装置に関するものである。 [0002] 【従来の技術】従来から半導体膜、光学薄膜、磁性膜、
絶縁膜などの高品質の薄膜がスパッタリング法もしくは
低エネルギーイオンビームアシスト蒸着法により形成さ
れている。図2は低エネルギー(20eV〜500eV
)のイオンを用いる後者の方法による従来の薄膜形成装
置を模式的に示す断面図であり、イオン源装置の部分の
みを示す。 図において、1は上方図示外の基板上に形成される薄膜
の材料である蒸着物質、2は蒸着物質1の蒸気を発生さ
せる蒸気発生源、3は蒸着物質1を収容する密閉形のる
つぼ、4はるつぼ3の上部に設けられたオリフィス、5
はるつぼ3を加熱するヒーターであり、るつぼ3、オリ
フィス4およびヒーター5で蒸気発生源2を構成してい
る。 [0003]6はるつぼ3の上方に設けられて、蒸着物
質1の蒸気をイオン化するイオン化装置、7は電子を放
出するカソード、8はカソード7から電子・を引き出す
アノードであり、カソード7とアノード8でイオン化装
置6を構成している。9はイオン化装置6の上方に設け
られて、装@6によってイオン化された蒸着物質1を電
界で加速する加速装置、10はアースに対して正の電位
が与えられた加速電極、11はアース電位になったアー
ス電極であり、加速電極10とアース電極11とで加速
装置9を構成している。以上が基板とともに図示しない
真空槽内に収納されている。 [0004]次に動作について説明する。まず、真空槽
内を10− ’ Torr程度以下の真空度になるまで
図示しない真空排気系により排気した後、ヒーター5で
るつぼ3を加熱すると、るつぼ3内の蒸着物質1が蒸発
し、オリフィス4を通ってイオン化装置6中へ噴出する
。そこで蒸着物質1の蒸気の一部が、カソード7から放
出された電子と衝突してイオン化される。イオン化され
た蒸着物質1の蒸気は、加速電極10とアース電極11
により形成される電界で加速され、イオン化されない蒸
気とともに基板に衝突してその表面に薄膜を形成する。 [0005]
【発明が解決しようとする課題】従来の薄膜形成装置は
以上のように構成されているので、シリコンやアルミニ
ウムなどのるつぼ材料との濡れ性のよい蒸着物質を使う
と、熔融した蒸着物質がオリフィスまで這い上がったり
、さらにるつぼ外壁面に沿ってしみ出したりする現象が
おこり、イオン源装置を安定的に稼動させることができ
ない。また一般的に熔融した蒸着物質はイオン源装置を
構成する材料と激しい反応性を示すため、蒸着物質に濡
れた部分が腐食されて寿命が極端に短かくなるという問
題点があった。さらに、蒸着物質のイオンを加速してそ
のエネルギーを制御することにより薄膜の性能が向上す
るが、上記のような低エネルギーのイオンを用いた蒸着
法では、生成されるイオンが蒸気中に占める割合(イオ
ン化効率)がせいぜい5%以下であり、利用できるイオ
ンの割合が小さいので、イオンのエネルギーによる薄膜
の性能向上に限界があった。 [0006]また、スパッタリングにより成膜する方法
があるが、この場合は蒸着物質の粒子に対して加速が行
なわれず、したがって蒸着物質のエネルギーによる薄膜
の性能向上ができないなどの問題点があった。この発明
は上記のような問題点を解消するためになされたもので
、濡れ性のよい蒸着物質を使用しても安定的に稼動でき
、蒸着物質による腐食を防止できるとともに、イオン化
効率の高い薄膜形成装置を得ることを目的とし、また、
一定量のイオンが基板へ照射するのを保持しながらその
加速の度合いを制御できる薄膜形成装置を得ることを目
的とする。 [0007]
以上のように構成されているので、シリコンやアルミニ
ウムなどのるつぼ材料との濡れ性のよい蒸着物質を使う
と、熔融した蒸着物質がオリフィスまで這い上がったり
、さらにるつぼ外壁面に沿ってしみ出したりする現象が
おこり、イオン源装置を安定的に稼動させることができ
ない。また一般的に熔融した蒸着物質はイオン源装置を
構成する材料と激しい反応性を示すため、蒸着物質に濡
れた部分が腐食されて寿命が極端に短かくなるという問
題点があった。さらに、蒸着物質のイオンを加速してそ
のエネルギーを制御することにより薄膜の性能が向上す
るが、上記のような低エネルギーのイオンを用いた蒸着
法では、生成されるイオンが蒸気中に占める割合(イオ
ン化効率)がせいぜい5%以下であり、利用できるイオ
ンの割合が小さいので、イオンのエネルギーによる薄膜
の性能向上に限界があった。 [0006]また、スパッタリングにより成膜する方法
があるが、この場合は蒸着物質の粒子に対して加速が行
なわれず、したがって蒸着物質のエネルギーによる薄膜
の性能向上ができないなどの問題点があった。この発明
は上記のような問題点を解消するためになされたもので
、濡れ性のよい蒸着物質を使用しても安定的に稼動でき
、蒸着物質による腐食を防止できるとともに、イオン化
効率の高い薄膜形成装置を得ることを目的とし、また、
一定量のイオンが基板へ照射するのを保持しながらその
加速の度合いを制御できる薄膜形成装置を得ることを目
的とする。 [0007]
【課題を解決するための手段】この発明に係る薄膜形成
装置は、蒸着物質から成るターゲットと透孔が形成され
たスパッタリング電極とを対向させるとともに、ターゲ
ットとは反対側でスパッタリング電極に対向して加速装
置を配置し、ターゲットとスパッタリング電極との間で
グロー放電を生じさせるようにしたものであり、さらに
、加速装置を互いに電位の異なる引出電極と加速制御電
極とで構成したものである。 [0008]
装置は、蒸着物質から成るターゲットと透孔が形成され
たスパッタリング電極とを対向させるとともに、ターゲ
ットとは反対側でスパッタリング電極に対向して加速装
置を配置し、ターゲットとスパッタリング電極との間で
グロー放電を生じさせるようにしたものであり、さらに
、加速装置を互いに電位の異なる引出電極と加速制御電
極とで構成したものである。 [0008]
【作用】この発明における薄膜形成装置は、グロー放電
を生成してターゲットの蒸着物質をスパッタし、プラズ
マ中のイオンを加速して基板へ照射する。また、加速装
置の引出電極でイオンをイオン化装置から引き出して加
速した後、加速制御電極でイオンの加速制御を行なう。 [0009]
を生成してターゲットの蒸着物質をスパッタし、プラズ
マ中のイオンを加速して基板へ照射する。また、加速装
置の引出電極でイオンをイオン化装置から引き出して加
速した後、加速制御電極でイオンの加速制御を行なう。 [0009]
【実施例】以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図1はこの発明の一実施例による薄膜形成装置を
模式的に示す断面図であり、図において、21は上方図
示外の基板上に形成される薄膜の材料である蒸着物質を
イオン化するイオン化装置、22は蒸着物質から成るタ
ーゲット、23はターゲット22に対向して配置された
スパッタリング電極、24はスパッタリング電極23に
多数形成された第1の透孔、25はターゲット22およ
びスパッタリング電極23を収容する容器、26はター
ゲット22と容器25との間を絶縁する第1の絶縁部で
あり、22〜26でイオン化装置21を構成している。 [0010127は容器25内へガスを導入するガス導
入装置、28は容器25の周囲に設けられた磁界発生装
置で、永久磁石または直流コイルによって構成され、容
器25内に、図において上下方向に磁界を発生させるよ
うになっている。29はターゲット22の、図において
下方に設けられた磁石で、ターゲット22の近傍でその
表面に沿った方向の成分の磁界を発生させるようになっ
ている。 [0011130はターゲット22とは反対側でスパッ
タリング電極23に対向して設けられた加速装置、31
はスパッタリング電極23に対向して配置された引出電
極、32は引出電極31に多数形成された第2の透孔、
33は加速制御電極としてのアース電極で、接地されて
おり、図において下方からスパッタリング電極23、引
出電極31、アース電極33の順に配置されている。3
4はアース電極33に多数形成された第3の透孔であり
、31〜34で加速装置30を構成している。35はス
パッタリング電極23、引出電極31およびアース電極
33を互いに絶縁する第2の絶縁部である。 [001,2136はターゲット22とスパッタリング
電極23の間に電圧を印加する電源装置で、高周波電圧
または直流電圧を発生する。37.38はスパッタリン
グ電極23と加速装置30の間に電位差を与える第1、
第2の直流電源で、第1の直流電源37により引出電極
31が、そして第2の直流電源38によりアース電極3
3がスパッタリング電極23に対してそれぞれ負の電位
が与えられ、引出電極31とアース電極33とは互いに
異なる電位になっている。この実施例では第2の直流電
源38の電圧を第1の直流電源37の電圧よりも低くし
ている。 [0013]次に動作について説明する。ガス導入装置
27から容器25内へガスを導入し、電源装置36によ
りターゲット22とスパッタリング電極23との間に高
周波電圧もしくは直流電圧を印加する。ターゲット22
とスパッタリング電極23との間に図中39で示すグロ
ー放電を発生させ、ターゲット22の蒸着物質をスパッ
タすると、導入したガスのプラズマが発生するとともに
、スパッタされた蒸着物質もその中で一部イオン化され
る。 [0014]この実施例ではグロー放@39のプラズマ
密度を増加させる磁界発生装置28を設けているので、
電子がらせん運動してガスおよび蒸着物質の原子の電離
が促進され、さらに効率よくイオン化を行なうことがで
きる。また、ターゲット22の下方に磁石29を設けて
いるので、ターゲット22近傍で電子がらせん運動し、
プラズマが安定化して効率良く蒸着物質のスパッタリン
グができる効果がある。 [0015]このようにし7てイオン化装置21内で生
成した蒸着物質およびガスのイオンは、スパッタリング
電極23に形成された第1の透孔24を通って、図にお
いて上方へ移動する。蒸着物質として多く用いられる金
属では正電荷を持つイオンとなっているので、スパッタ
リング電極23に対して負電位の加速装@30により加
速され、第2、第3の透孔32.34を通って基板に達
しその表面に薄膜を形成する。 [0016]このとき、第1の直流電源37でスパッタ
リング電極23に対して負にバイアスされた引出電極3
1により引き出されたイオンはこの間で一旦加速される
。第1の直流電源37の電圧は第2の直流電源の電圧よ
りも高いので、引出電極31はアース電極33よりも電
位が低くなっており、加速されて第2の透孔32を通過
したイオンは、引出電極31とアース電極33の間で減
速される。結局、イオンはスパッタリング電極23とア
ース電極33の間の電位差(加速電圧)に応じた運動エ
ネルギーが与えられて、第3の透孔Mから基板へ入射す
ることになる。 [0017]スパツタリング電極23と引出電極31の
間の電圧をある一定値にすれば、加速電圧を変化させて
も、引き出されるイオンはあるレベル以−ヒの量が確保
できる。したがって、低エネルギーイオンの特性を生か
した薄膜を形成したいような場合、必要なイオン量を確
保しつつ、低い加速電圧で成膜を行なうことが可能であ
る。 また、この実施例では引出電極31の電位が、接地され
ている基板に対して常に負にバイアスされているので、
グロー放電39が生じている部分から飛び出してくる電
子が基板へ入射するのを抑制する効果がある。 [0018]なお、上記実施例では磁界発生装置28、
磁石29、引出電極31を設けたが、これらが設けられ
ていないものにも適用でき、そのために生じる効率低下
は導入するガスの圧力を高めることで補うことができる
。また、正電荷を持つイオンに対応できるようにスパッ
タリング電極23に対して加速装置30の電位を負にし
たが、負電荷を持つイオンを扱うために上記電位を正に
してもよい。 [00191 【発明の効果]以上のように、この発明によればターゲ
ットとスパッタリング電極の間でグロー放電を生じさせ
、そこで生じたイオンを加速するよう構成し、また加速
装置を、互いに電位の異なる引出電極と加速制御電極と
で構成したので、るつぼで蒸着物質を熔融する必要がな
く、したがって濡れ性のよい蒸着物質を使用しても、熔
融蒸着物質のしみ出しなどなく安定的に稼動でき、また
グロー放電部のプラズマからイオンを引き出して利用で
き、したがって、イオン化効率を高くできる。さらに、
引出allで引き出したイオンを加速制御電極で加速制
御することにより、一定量のイオンを保持しながらその
加速の度合いを制御できる効果がある。
する。図1はこの発明の一実施例による薄膜形成装置を
模式的に示す断面図であり、図において、21は上方図
示外の基板上に形成される薄膜の材料である蒸着物質を
イオン化するイオン化装置、22は蒸着物質から成るタ
ーゲット、23はターゲット22に対向して配置された
スパッタリング電極、24はスパッタリング電極23に
多数形成された第1の透孔、25はターゲット22およ
びスパッタリング電極23を収容する容器、26はター
ゲット22と容器25との間を絶縁する第1の絶縁部で
あり、22〜26でイオン化装置21を構成している。 [0010127は容器25内へガスを導入するガス導
入装置、28は容器25の周囲に設けられた磁界発生装
置で、永久磁石または直流コイルによって構成され、容
器25内に、図において上下方向に磁界を発生させるよ
うになっている。29はターゲット22の、図において
下方に設けられた磁石で、ターゲット22の近傍でその
表面に沿った方向の成分の磁界を発生させるようになっ
ている。 [0011130はターゲット22とは反対側でスパッ
タリング電極23に対向して設けられた加速装置、31
はスパッタリング電極23に対向して配置された引出電
極、32は引出電極31に多数形成された第2の透孔、
33は加速制御電極としてのアース電極で、接地されて
おり、図において下方からスパッタリング電極23、引
出電極31、アース電極33の順に配置されている。3
4はアース電極33に多数形成された第3の透孔であり
、31〜34で加速装置30を構成している。35はス
パッタリング電極23、引出電極31およびアース電極
33を互いに絶縁する第2の絶縁部である。 [001,2136はターゲット22とスパッタリング
電極23の間に電圧を印加する電源装置で、高周波電圧
または直流電圧を発生する。37.38はスパッタリン
グ電極23と加速装置30の間に電位差を与える第1、
第2の直流電源で、第1の直流電源37により引出電極
31が、そして第2の直流電源38によりアース電極3
3がスパッタリング電極23に対してそれぞれ負の電位
が与えられ、引出電極31とアース電極33とは互いに
異なる電位になっている。この実施例では第2の直流電
源38の電圧を第1の直流電源37の電圧よりも低くし
ている。 [0013]次に動作について説明する。ガス導入装置
27から容器25内へガスを導入し、電源装置36によ
りターゲット22とスパッタリング電極23との間に高
周波電圧もしくは直流電圧を印加する。ターゲット22
とスパッタリング電極23との間に図中39で示すグロ
ー放電を発生させ、ターゲット22の蒸着物質をスパッ
タすると、導入したガスのプラズマが発生するとともに
、スパッタされた蒸着物質もその中で一部イオン化され
る。 [0014]この実施例ではグロー放@39のプラズマ
密度を増加させる磁界発生装置28を設けているので、
電子がらせん運動してガスおよび蒸着物質の原子の電離
が促進され、さらに効率よくイオン化を行なうことがで
きる。また、ターゲット22の下方に磁石29を設けて
いるので、ターゲット22近傍で電子がらせん運動し、
プラズマが安定化して効率良く蒸着物質のスパッタリン
グができる効果がある。 [0015]このようにし7てイオン化装置21内で生
成した蒸着物質およびガスのイオンは、スパッタリング
電極23に形成された第1の透孔24を通って、図にお
いて上方へ移動する。蒸着物質として多く用いられる金
属では正電荷を持つイオンとなっているので、スパッタ
リング電極23に対して負電位の加速装@30により加
速され、第2、第3の透孔32.34を通って基板に達
しその表面に薄膜を形成する。 [0016]このとき、第1の直流電源37でスパッタ
リング電極23に対して負にバイアスされた引出電極3
1により引き出されたイオンはこの間で一旦加速される
。第1の直流電源37の電圧は第2の直流電源の電圧よ
りも高いので、引出電極31はアース電極33よりも電
位が低くなっており、加速されて第2の透孔32を通過
したイオンは、引出電極31とアース電極33の間で減
速される。結局、イオンはスパッタリング電極23とア
ース電極33の間の電位差(加速電圧)に応じた運動エ
ネルギーが与えられて、第3の透孔Mから基板へ入射す
ることになる。 [0017]スパツタリング電極23と引出電極31の
間の電圧をある一定値にすれば、加速電圧を変化させて
も、引き出されるイオンはあるレベル以−ヒの量が確保
できる。したがって、低エネルギーイオンの特性を生か
した薄膜を形成したいような場合、必要なイオン量を確
保しつつ、低い加速電圧で成膜を行なうことが可能であ
る。 また、この実施例では引出電極31の電位が、接地され
ている基板に対して常に負にバイアスされているので、
グロー放電39が生じている部分から飛び出してくる電
子が基板へ入射するのを抑制する効果がある。 [0018]なお、上記実施例では磁界発生装置28、
磁石29、引出電極31を設けたが、これらが設けられ
ていないものにも適用でき、そのために生じる効率低下
は導入するガスの圧力を高めることで補うことができる
。また、正電荷を持つイオンに対応できるようにスパッ
タリング電極23に対して加速装置30の電位を負にし
たが、負電荷を持つイオンを扱うために上記電位を正に
してもよい。 [00191 【発明の効果]以上のように、この発明によればターゲ
ットとスパッタリング電極の間でグロー放電を生じさせ
、そこで生じたイオンを加速するよう構成し、また加速
装置を、互いに電位の異なる引出電極と加速制御電極と
で構成したので、るつぼで蒸着物質を熔融する必要がな
く、したがって濡れ性のよい蒸着物質を使用しても、熔
融蒸着物質のしみ出しなどなく安定的に稼動でき、また
グロー放電部のプラズマからイオンを引き出して利用で
き、したがって、イオン化効率を高くできる。さらに、
引出allで引き出したイオンを加速制御電極で加速制
御することにより、一定量のイオンを保持しながらその
加速の度合いを制御できる効果がある。
【図1】この発明の一実施例による薄膜形成装置の断面
図である。
図である。
【図2】従来の薄膜形成装置の断面図である。
22 ターゲット
2:3 スパッタリング電極
24 第1の透孔
25 容器
27 ガス導入装置
30 加速装置
31 引出電極
32 第2の透孔
33 アース電極
34 第3の透孔
36 電源装置
37 第1の直流電源
38 第2の直流電源
39 グロー放電
Claims (2)
- 【請求項1】蒸着物質から成るターゲット、透孔が形成
され、上記ターゲットに対向して配置されたスパッタリ
ング電極、上記ターゲットとスパッタリング電極とを収
容する容器、この容器内へガスを導入するガス導入装置
、上記ターゲットとスパッタリング電極との間に電圧を
印加してその間でグロー放電を生じさせる電源装置、お
よび、上記ターゲットとは反対側で上記スパッタリング
電極に対向して配置され、上記スパッタリング電極に対
して電位差を有する加速装置を備えた薄膜形成装置。 - 【請求項2】加速電極を、それぞれ透孔が形成された引
出電極と加速制御電極とで構成し、スパッタリング電極
、上記引出電極、上記加速制御電極の順に配置するとと
もに、上記引出電極と加速制御電極とに互いに異なる電
位を与えるようにした請求項1記載の薄膜形成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP40060590A JPH04210472A (ja) | 1990-12-06 | 1990-12-06 | 薄膜形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP40060590A JPH04210472A (ja) | 1990-12-06 | 1990-12-06 | 薄膜形成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04210472A true JPH04210472A (ja) | 1992-07-31 |
Family
ID=18510500
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP40060590A Pending JPH04210472A (ja) | 1990-12-06 | 1990-12-06 | 薄膜形成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04210472A (ja) |
-
1990
- 1990-12-06 JP JP40060590A patent/JPH04210472A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3562141A (en) | Vacuum vapor deposition utilizing low voltage electron beam | |
| US20070205096A1 (en) | Magnetron based wafer processing | |
| JPS5845892B2 (ja) | スパツタ蒸着装置 | |
| JP2002512658A (ja) | 基板電極を使用するスパッタコーティング装置及び方法 | |
| US5180477A (en) | Thin film deposition apparatus | |
| JPH11329336A (ja) | イオン注入装置 | |
| US20090020415A1 (en) | "Iontron" ion beam deposition source and a method for sputter deposition of different layers using this source | |
| JPH1192919A (ja) | 金属イオンプラズマ発生装置 | |
| JP3406769B2 (ja) | イオンプレーティング装置 | |
| JP3064214B2 (ja) | 高速原子線源 | |
| JPH0770512B2 (ja) | 低エネルギイオン化粒子照射装置 | |
| JP2000144392A (ja) | 薄膜形成装置及び薄膜形成方法 | |
| JP3073711B2 (ja) | イオンプレーティング装置 | |
| JPH0488165A (ja) | スパッタ型イオン源 | |
| JP2566602B2 (ja) | イオン源 | |
| JP2620474B2 (ja) | イオンプレーティング装置 | |
| JP2755499B2 (ja) | 薄膜形成装置 | |
| JPH01119663A (ja) | 薄膜形成装置 | |
| JPH04236774A (ja) | プラズマ源 | |
| JP2594949B2 (ja) | 薄膜形成装置 | |
| JPS616271A (ja) | バイアスイオンプレ−テイング方法および装置 | |
| JPS63266065A (ja) | 膜作成装置 | |
| JP3140248B2 (ja) | イオン・エネルギーの制御方法およびその装置 | |
| JPH0721993B2 (ja) | スパッタ型イオン源 | |
| JPS595732Y2 (ja) | イオンプレ−ティング装置 |