JPH04214680A - 太陽電池 - Google Patents
太陽電池Info
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- JPH04214680A JPH04214680A JP2401935A JP40193590A JPH04214680A JP H04214680 A JPH04214680 A JP H04214680A JP 2401935 A JP2401935 A JP 2401935A JP 40193590 A JP40193590 A JP 40193590A JP H04214680 A JPH04214680 A JP H04214680A
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/545—Microcrystalline silicon PV cells
-
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- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/548—Amorphous silicon PV cells
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【利用分野】本発明は、入射光を散乱せしめて活性層で
の光吸収を増加させる高効率太陽電池に関する。
の光吸収を増加させる高効率太陽電池に関する。
【0002】
【従来技術】光反射性基板を用いた太陽電池において、
その光反射面を凹凸のある粗面として形成し、低吸収波
長の光の行路長を増大せしめることによりその効率を改
善する方法は、例えば、USP4126150号公報(
出願人、RCA)に示唆され、特開昭56−15227
6号公報(出願人、帝人)においても述べられている。 更に特開昭59−104185号公報(出願人、エクソ
ン・リサーチ・アンド・エンジニアリング・カンパニー
)において、粗面化基板の光学的効果が詳述されている
。
その光反射面を凹凸のある粗面として形成し、低吸収波
長の光の行路長を増大せしめることによりその効率を改
善する方法は、例えば、USP4126150号公報(
出願人、RCA)に示唆され、特開昭56−15227
6号公報(出願人、帝人)においても述べられている。 更に特開昭59−104185号公報(出願人、エクソ
ン・リサーチ・アンド・エンジニアリング・カンパニー
)において、粗面化基板の光学的効果が詳述されている
。
【0003】凹凸の形成法としては、特開昭54−15
3588号公報(出願人、ナショナル・パテント・ディ
ベロップメント・コーポレーション)においてウエット
・エッチング法が、特開昭58−159383号公報(
出願人、エナジー・コンバージョン・デバイセス)にお
いてサンドブラスト法、共蒸着法が、特開昭59−14
682号公報(出願人、電解箔工業他)において、直流
電解エッチング法又は、化学エッチング法によるアルミ
ニウムの粗面化がそれぞれ開示されている。
3588号公報(出願人、ナショナル・パテント・ディ
ベロップメント・コーポレーション)においてウエット
・エッチング法が、特開昭58−159383号公報(
出願人、エナジー・コンバージョン・デバイセス)にお
いてサンドブラスト法、共蒸着法が、特開昭59−14
682号公報(出願人、電解箔工業他)において、直流
電解エッチング法又は、化学エッチング法によるアルミ
ニウムの粗面化がそれぞれ開示されている。
【0004】また、特開昭63−169769号公報に
おいて、ダイヤモンド薄膜上に透明電極を形成し、該透
明電極上にp型層、i型層及びn型層を積層した太陽電
池を形成する例が示されている。
おいて、ダイヤモンド薄膜上に透明電極を形成し、該透
明電極上にp型層、i型層及びn型層を積層した太陽電
池を形成する例が示されている。
【0005】
【従来技術の問題点】前記従来技術による基板表面の凹
凸形成方法では、太陽電池を形成した場合に種々の問題
点があった。
凸形成方法では、太陽電池を形成した場合に種々の問題
点があった。
【0006】たとえば、直流電解エッチング又は化学エ
ッチング等の溶液でのエッチングでは、基板のエッチン
グ残渣が基板表面に生じていた。そのためこのような基
板上に半導体層を堆積すると、エッチング残渣が半導体
層に拡散し、太陽電池の特性を低下させていた。また、
このようなエッチング残渣は基板との密着性が弱いため
に、その上に堆積した半導体層がはがれやすく、均一な
特性の太陽電池を堆積することが難しいという問題点が
あった。
ッチング等の溶液でのエッチングでは、基板のエッチン
グ残渣が基板表面に生じていた。そのためこのような基
板上に半導体層を堆積すると、エッチング残渣が半導体
層に拡散し、太陽電池の特性を低下させていた。また、
このようなエッチング残渣は基板との密着性が弱いため
に、その上に堆積した半導体層がはがれやすく、均一な
特性の太陽電池を堆積することが難しいという問題点が
あった。
【0007】またサンドブラスト法では、微粒子を基板
に吹きつけて凹凸を形成するため、基板上に吹きつけた
微粒子が残り、微粒子が半導体層の異常成長の核となる
場合があった。また、微粒子は、基板との密着性が悪い
ために、その上に堆積した半導体層がはがれやすいとい
う問題点もあった。また更に、サンドブラスト法は、微
粒子を吹き付けて基板表面に凹凸を形成するため、基板
に歪が生じ、それが経時的に緩和していくために堆積し
た半導体層に、歪を生じさせる場合があり、半導体層の
はがれや、電気的特性の劣化をまねいていた。
に吹きつけて凹凸を形成するため、基板上に吹きつけた
微粒子が残り、微粒子が半導体層の異常成長の核となる
場合があった。また、微粒子は、基板との密着性が悪い
ために、その上に堆積した半導体層がはがれやすいとい
う問題点もあった。また更に、サンドブラスト法は、微
粒子を吹き付けて基板表面に凹凸を形成するため、基板
に歪が生じ、それが経時的に緩和していくために堆積し
た半導体層に、歪を生じさせる場合があり、半導体層の
はがれや、電気的特性の劣化をまねいていた。
【0008】また共蒸着法によって、基板表面に凹凸を
形成する場合では、少なくとも2種の原料を同時に蒸着
するため、蒸着膜に不均一性が生じやすいという問題が
あり、その上に半導体層を堆積して形成した太陽電池に
特性むらができやすいという問題点があった。
形成する場合では、少なくとも2種の原料を同時に蒸着
するため、蒸着膜に不均一性が生じやすいという問題が
あり、その上に半導体層を堆積して形成した太陽電池に
特性むらができやすいという問題点があった。
【0009】また更に、前記特開昭63−169769
号公報に記載のダイヤモンド薄膜を太陽電池の基板に用
いる例においては、ダイヤモンド薄膜上に透明電極を形
成し、当該透明電極上に半導体層を積層して、太陽電池
を形成している。この様な層構成の場合、ダイヤモンド
はガラス基板のかわりの高抵抗な基板として使用されて
いる。そのためダイヤモンド薄膜の上に透明電極が設け
られていた。この従来例では、ダイヤモンド薄膜と、半
導体層との間の優れた密着性が生かされないものであっ
た。また、透明電極の構成元素が半導体層に拡散すると
いう問題があった。
号公報に記載のダイヤモンド薄膜を太陽電池の基板に用
いる例においては、ダイヤモンド薄膜上に透明電極を形
成し、当該透明電極上に半導体層を積層して、太陽電池
を形成している。この様な層構成の場合、ダイヤモンド
はガラス基板のかわりの高抵抗な基板として使用されて
いる。そのためダイヤモンド薄膜の上に透明電極が設け
られていた。この従来例では、ダイヤモンド薄膜と、半
導体層との間の優れた密着性が生かされないものであっ
た。また、透明電極の構成元素が半導体層に拡散すると
いう問題があった。
【0010】
【発明の目的】本発明は前記従来技術の問題点を解決す
ることを目的としている。
ることを目的としている。
【0011】すなわち本発明の目的は、エッチング残渣
による太陽電池特性の低下のない太陽電池を提供するこ
とである。
による太陽電池特性の低下のない太陽電池を提供するこ
とである。
【0012】また本発明の目的は、サンドブラスト法等
で基板上に生じる残留微粒子の影響の全くない太陽電池
を提供することである。更に、微粒子の衝突による基板
の歪の経時的緩和による特性の低下のない太陽電池を提
供することである。
で基板上に生じる残留微粒子の影響の全くない太陽電池
を提供することである。更に、微粒子の衝突による基板
の歪の経時的緩和による特性の低下のない太陽電池を提
供することである。
【0013】また更に本発明の目的は、電極材料の半導
体層への拡散の影響のない太陽電池を提供することであ
る。
体層への拡散の影響のない太陽電池を提供することであ
る。
【0014】また本発明の目的は、変換効率の高い太陽
電池を提供することにある。
電池を提供することにある。
【0015】また更に本発明の目的は、基板の歪による
太陽電池の経時的な劣化の問題のない太陽電池を提供す
ることにある。
太陽電池の経時的な劣化の問題のない太陽電池を提供す
ることにある。
【0016】
【問題点を解決するための手段】本発明の太陽電池は、
前記問題点を解決し、目的を達成するために、導電性基
板上に、非単結晶Siから成るp型層、活性層としての
i型層、n型層の各半導体層を積層して構成される太陽
電池において、前記p型層とn型層の少なくとも一方に
炭素原子を含有し、かつ前記導電性基板と前記半導体層
との間に、表面に凹凸を有し、価電子制御剤を含有する
ダイヤモンド層を積層したことを特徴としている。
前記問題点を解決し、目的を達成するために、導電性基
板上に、非単結晶Siから成るp型層、活性層としての
i型層、n型層の各半導体層を積層して構成される太陽
電池において、前記p型層とn型層の少なくとも一方に
炭素原子を含有し、かつ前記導電性基板と前記半導体層
との間に、表面に凹凸を有し、価電子制御剤を含有する
ダイヤモンド層を積層したことを特徴としている。
【0017】図1は、本発明の太陽電池の1例の模式的
説明図である。
説明図である。
【0018】図1において、本発明の太陽電池は導電性
基板101、ダイヤモンド層102、n型層103、i
型層104、p型層105、透明電極106から構成さ
れている。
基板101、ダイヤモンド層102、n型層103、i
型層104、p型層105、透明電極106から構成さ
れている。
【0019】以下本発明の太陽電池を構成する各層につ
いて詳細に述べる。
いて詳細に述べる。
【0020】(導電性基板)本発明において、導電性の
基板は、導電性の材料または、導電処理された絶縁性材
料で形成される。導電性の材料としては、例えばNiC
r、ステンレス、Al、Cr、Mo、Au、Nb、Ta
、V、Ti、Pt、Pb等の金属またはこれ等の合金が
挙げられる。
基板は、導電性の材料または、導電処理された絶縁性材
料で形成される。導電性の材料としては、例えばNiC
r、ステンレス、Al、Cr、Mo、Au、Nb、Ta
、V、Ti、Pt、Pb等の金属またはこれ等の合金が
挙げられる。
【0021】電気絶縁性材料としては、ポリエステル、
ポリエチレン、ポリカーボーネート、セルロースアセテ
ート、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニ
リデン、ポリスチレン、ポリアミド等の合成樹脂のフィ
ルム又はシート、ガラス、セラミックス、紙などが通常
使用される。これ等の電気絶縁性材料は、少なくともそ
の一方の表面を導電処理し、該導電処理した表面側に他
の層を設けるのが望ましい。
ポリエチレン、ポリカーボーネート、セルロースアセテ
ート、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニ
リデン、ポリスチレン、ポリアミド等の合成樹脂のフィ
ルム又はシート、ガラス、セラミックス、紙などが通常
使用される。これ等の電気絶縁性材料は、少なくともそ
の一方の表面を導電処理し、該導電処理した表面側に他
の層を設けるのが望ましい。
【0022】例えば、ガラスであれば、その表面に、N
iCr、Al、Cr、Mo、Au、Ir、Nb、Ta、
V、Ti、Pt、Pd、In2O3、SnO2、ITO
(In2O3+SnO2)等から成る薄膜を設けること
によって導電性が付与され、或いはポリエステルフィル
ム等の合成樹脂フィルムであれば、NiCr、Al、A
g、Pb、Zn、Ni、An、Cr、Mo、Ir、Nb
、Ta、V、Ti、Pt等の金属の薄膜を真空蒸着、電
子ビーム蒸着、スパッタリング等でその表面に設け、又
は前記金属でその表面をラミネート処理して、その表面
に導電性が付与される。
iCr、Al、Cr、Mo、Au、Ir、Nb、Ta、
V、Ti、Pt、Pd、In2O3、SnO2、ITO
(In2O3+SnO2)等から成る薄膜を設けること
によって導電性が付与され、或いはポリエステルフィル
ム等の合成樹脂フィルムであれば、NiCr、Al、A
g、Pb、Zn、Ni、An、Cr、Mo、Ir、Nb
、Ta、V、Ti、Pt等の金属の薄膜を真空蒸着、電
子ビーム蒸着、スパッタリング等でその表面に設け、又
は前記金属でその表面をラミネート処理して、その表面
に導電性が付与される。
【0023】基板の厚さは、所望通りの太陽電池が形成
される様に適宜決定されるが、製造上及び取り扱い上、
機械的強度等の点から、通常は10μm以上とされる。
される様に適宜決定されるが、製造上及び取り扱い上、
機械的強度等の点から、通常は10μm以上とされる。
【0024】(ダイヤモンド層)本発明において、ダイ
ヤモンド層は、太陽電池の交換効率を向上させ、かつ経
時的劣化を減少させる働きをする重要な層である。
ヤモンド層は、太陽電池の交換効率を向上させ、かつ経
時的劣化を減少させる働きをする重要な層である。
【0025】本発明において、ダイヤモンド層は、多結
晶のダイヤモンドで形成される。多結晶のダイヤモンド
には平滑多面体形状、骸晶形状、針状結晶集合体形状等
があるが、本発明においては、平滑多面体形状の多結晶
ダイヤモンドが適している。
晶のダイヤモンドで形成される。多結晶のダイヤモンド
には平滑多面体形状、骸晶形状、針状結晶集合体形状等
があるが、本発明においては、平滑多面体形状の多結晶
ダイヤモンドが適している。
【0026】この様に平滑多面体形状の多結晶ダイヤモ
ンドで形成したダイヤモンド層は、該層表面に凹凸を有
している。該凹凸によって太陽電池内に照射された光が
散乱され、太陽電池表面で散乱光が全反射し、または散
乱光は太陽電池内を厚さ方向に対して、斜めに進行する
。その結果、太陽電池内で吸収される光量が増加し、太
陽電池の変換効率が増加する。特に、平滑多面体形状の
多結晶ダイヤモンドは、平滑多面体の多面体表面がほぼ
鏡面であり、従来技術による凹凸の各微小表面より表面
性が良い。その結果、太陽電池内での光閉じ込め効果が
、従来よりも良くなり、太陽電池の変換効率が向上する
。
ンドで形成したダイヤモンド層は、該層表面に凹凸を有
している。該凹凸によって太陽電池内に照射された光が
散乱され、太陽電池表面で散乱光が全反射し、または散
乱光は太陽電池内を厚さ方向に対して、斜めに進行する
。その結果、太陽電池内で吸収される光量が増加し、太
陽電池の変換効率が増加する。特に、平滑多面体形状の
多結晶ダイヤモンドは、平滑多面体の多面体表面がほぼ
鏡面であり、従来技術による凹凸の各微小表面より表面
性が良い。その結果、太陽電池内での光閉じ込め効果が
、従来よりも良くなり、太陽電池の変換効率が向上する
。
【0027】又、更に平滑多面体形状の多結晶ダイヤモ
ンド層は、多結晶ダイヤモンドの構造が非常にち密であ
るため、導電性基板からの金属の半導体層への拡散を防
止することができる。
ンド層は、多結晶ダイヤモンドの構造が非常にち密であ
るため、導電性基板からの金属の半導体層への拡散を防
止することができる。
【0028】又、多結晶ダイヤモンドは、構造的に結晶
界面が柔軟であるため、太陽電池作製時の歪を緩和する
ことができる。その結果、前記基板からの不純物の拡散
または歪による太陽電池の経時的劣化を防止することが
できる。
界面が柔軟であるため、太陽電池作製時の歪を緩和する
ことができる。その結果、前記基板からの不純物の拡散
または歪による太陽電池の経時的劣化を防止することが
できる。
【0029】このような機能を有する平滑多面体形状の
多結晶ダイヤモンド層は、全ての平滑多面体形状が適し
ている訳ではなく、ごく限られたものが適するものであ
る。
多結晶ダイヤモンド層は、全ての平滑多面体形状が適し
ている訳ではなく、ごく限られたものが適するものであ
る。
【0030】本発明に適したダイヤモンド層は、層厚が
0.1μm〜5μmであり、表面の凹凸は0.05S〜
1Sである。
0.1μm〜5μmであり、表面の凹凸は0.05S〜
1Sである。
【0031】又、平滑多面体結晶の大きさは、平均半径
で0.05μm〜5μmである。
で0.05μm〜5μmである。
【0032】また更にダイヤモンド層内、特に多結晶の
界面に水素が含有される。含有水素量は1〜5at%が
適している。
界面に水素が含有される。含有水素量は1〜5at%が
適している。
【0033】加えて本発明のダイヤモンド層は、導電性
基板と半導体層の間に設けられるため、ダイヤモンド層
は低抵抗であることが必要である。ダイヤモンド層の好
ましい暗導電率としては、0.1S/cm以上である。 この様な暗導電率にするために必要な不純物のドーピン
グ量は、1at%〜10at%である。不純物のドーピ
ング量が10at%より多くなると、ダイヤモンド層が
平滑多面体形状の結晶で構成することができなくなる。
基板と半導体層の間に設けられるため、ダイヤモンド層
は低抵抗であることが必要である。ダイヤモンド層の好
ましい暗導電率としては、0.1S/cm以上である。 この様な暗導電率にするために必要な不純物のドーピン
グ量は、1at%〜10at%である。不純物のドーピ
ング量が10at%より多くなると、ダイヤモンド層が
平滑多面体形状の結晶で構成することができなくなる。
【0034】本発明において、ダイヤモンド層内に含有
される価電子制御剤としては、n型である場合には、周
期表5族の元素、特に、N、P、As、Sb、Biが適
している。またp型である場合には、周期表3族の元素
、特に、B、Al、Ga、In、Tlが適している。
される価電子制御剤としては、n型である場合には、周
期表5族の元素、特に、N、P、As、Sb、Biが適
している。またp型である場合には、周期表3族の元素
、特に、B、Al、Ga、In、Tlが適している。
【0035】本発明におけるダイヤモンド層は、熱フィ
ラメントCVD法、高周波プラズマCVD法、マイクロ
波プラズマCVD法、直流プラズマCVD法、イオンビ
ーム法、等で堆積される。
ラメントCVD法、高周波プラズマCVD法、マイクロ
波プラズマCVD法、直流プラズマCVD法、イオンビ
ーム法、等で堆積される。
【0036】その中で特にマイクロ波プラズマCVD法
が適している。
が適している。
【0037】本発明におけるダイヤモンド層を、前記プ
ラズマCVD法で堆積する場合、適した原料ガスとして
は、次の様な原料ガスが挙げられる。
ラズマCVD法で堆積する場合、適した原料ガスとして
は、次の様な原料ガスが挙げられる。
【0038】炭素原子導入用の原料ガスとなる炭素原子
含有化合物としては、例えば炭素数1〜4の飽和炭化水
素、炭素数2〜4のエチレン系炭化水素、炭素数2〜3
のアセチレン系炭化水素等が挙げられる。
含有化合物としては、例えば炭素数1〜4の飽和炭化水
素、炭素数2〜4のエチレン系炭化水素、炭素数2〜3
のアセチレン系炭化水素等が挙げられる。
【0039】具体的には、飽和炭化水素としては、メタ
ン(CH4)、エタン(C2H6)、プロパン(C3H
8)、n−ブタン(n−C4H10)、ペンタン(C5
H12)、エチレン系炭化水素としては、エチレン(C
2H4)、プロピレン(C3H6)、ブテン−1(C4
H8)、ブテン−2(C4H8)、イソブチレン(C4
H8)、ペンテン(C5H10)、アセチレン系炭化水
素としては、アセチレン(C2H2)、メチルアセチレ
ン(C3H4)、ブチン(C4H6)等が挙げられる。
ン(CH4)、エタン(C2H6)、プロパン(C3H
8)、n−ブタン(n−C4H10)、ペンタン(C5
H12)、エチレン系炭化水素としては、エチレン(C
2H4)、プロピレン(C3H6)、ブテン−1(C4
H8)、ブテン−2(C4H8)、イソブチレン(C4
H8)、ペンテン(C5H10)、アセチレン系炭化水
素としては、アセチレン(C2H2)、メチルアセチレ
ン(C3H4)、ブチン(C4H6)等が挙げられる。
【0040】又、ハロゲン原子含有の炭化水素も挙げら
れる。
れる。
【0041】具体的には、CH3F、CH2F2、CH
3Cl、CH2Cl2、CF4、C2H5F、C2H4
F2、C2H4FCl、C2H2F2、C2H2FCl
等が挙げられる。
3Cl、CH2Cl2、CF4、C2H5F、C2H4
F2、C2H4FCl、C2H2F2、C2H2FCl
等が挙げられる。
【0042】また更に、本発明のダイヤモンド層形成に
は、前記炭素原子導入用の原料ガスに加えて、水素ガス
が必須である。
は、前記炭素原子導入用の原料ガスに加えて、水素ガス
が必須である。
【0043】本発明のダイヤモンド層形成に適した炭素
原子導入用原料ガスの水素ガスに対する混合比は、1〜
10%である。
原子導入用原料ガスの水素ガスに対する混合比は、1〜
10%である。
【0044】本発明において第3族原子導入用の出発物
質として有効に使用されるものとしては、具体的には硼
素原子導入用として、B2H6、B4H10、B5H9
、B5H11、B6H10、B6H12、B6H14等
の水素化硼素、BF3、BCl3、BBr3等のハロゲ
ン化硼素等を挙げることができるが、この他、AlCl
3、GaCl3、InCl3、TlCl3等も挙げるこ
とができる。
質として有効に使用されるものとしては、具体的には硼
素原子導入用として、B2H6、B4H10、B5H9
、B5H11、B6H10、B6H12、B6H14等
の水素化硼素、BF3、BCl3、BBr3等のハロゲ
ン化硼素等を挙げることができるが、この他、AlCl
3、GaCl3、InCl3、TlCl3等も挙げるこ
とができる。
【0045】本発明において、第5族原子導入用の出発
物質として有効に使用されるのは、具体的には燐原子導
入用としては、PH3、P2H4等の水素化燐、PH4
I、PF3、PF5、PCl3、PCl5、PBr3、
PBr5、PI3等のハロゲン化燐が挙げられる。この
他、AsH3、AsF3、AsCl3、AsBr3、A
sF5、SbH3、SbF3、SbF5、SbCl3、
SbCl5、BiH3、BiCl3、BiBr3等も挙
げることができる。
物質として有効に使用されるのは、具体的には燐原子導
入用としては、PH3、P2H4等の水素化燐、PH4
I、PF3、PF5、PCl3、PCl5、PBr3、
PBr5、PI3等のハロゲン化燐が挙げられる。この
他、AsH3、AsF3、AsCl3、AsBr3、A
sF5、SbH3、SbF3、SbF5、SbCl3、
SbCl5、BiH3、BiCl3、BiBr3等も挙
げることができる。
【0046】加えて本発明のダイヤモンド層をプラズマ
CVD法で堆積する場合、以下の様な条件で堆積するこ
とが望ましい。
CVD法で堆積する場合、以下の様な条件で堆積するこ
とが望ましい。
【0047】本発明のダイヤモンド層を堆積する場合、
プラズマ内で分解された炭素原子導入用ガス同志の気相
反応を防止することが必要である。そのため、プラズマ
発生時の内圧は、1mTorr〜50mTorrの間に
制御することが必要である。
プラズマ内で分解された炭素原子導入用ガス同志の気相
反応を防止することが必要である。そのため、プラズマ
発生時の内圧は、1mTorr〜50mTorrの間に
制御することが必要である。
【0048】また、プラズマ内で炭素原子導入用ガスと
水素ガスは、十分に分解または活性化されなければなら
ない。そのために反応空間内に投入されるパワーは、炭
素原子導入用ガスの流量及び反応空間の体積に対して0
.01〜1W/sccm・cm3の間に制御することが
必要である。
水素ガスは、十分に分解または活性化されなければなら
ない。そのために反応空間内に投入されるパワーは、炭
素原子導入用ガスの流量及び反応空間の体積に対して0
.01〜1W/sccm・cm3の間に制御することが
必要である。
【0049】加えて、反応空間内のプラズマで分解され
た炭素原子導入用ガスと水素ガスが基板上で反応し、本
発明のダイヤモンド層を形成する上で基板温度は重要な
因子であり、本発明においては、200℃〜800℃と
することが望ましい。
た炭素原子導入用ガスと水素ガスが基板上で反応し、本
発明のダイヤモンド層を形成する上で基板温度は重要な
因子であり、本発明においては、200℃〜800℃と
することが望ましい。
【0050】(n型層)本発明においてn型層は、太陽
電池の起電力や光電流を支配する重要な層である。
電池の起電力や光電流を支配する重要な層である。
【0051】n型層の材料としては、シリコン含有の非
単結晶半導体が適し、特に水素化及びハロゲン化アモル
ファスシリコン(マイクロクリスタルシリコンを含む)
が適するものである。また更に限定すれば、アモルファ
スシリコンの中のマイクロクリスタルシリコンが最適で
ある。
単結晶半導体が適し、特に水素化及びハロゲン化アモル
ファスシリコン(マイクロクリスタルシリコンを含む)
が適するものである。また更に限定すれば、アモルファ
スシリコンの中のマイクロクリスタルシリコンが最適で
ある。
【0052】又、n型層側から光照射を行う場合には、
n型層での光吸収をより少なくし、i型層へより多くの
光量を導入するためには、アモルファス炭化シリコン(
マイクロクリスタル炭化シリコンも含有する)をn型層
の材料として用いるのが好ましい。
n型層での光吸収をより少なくし、i型層へより多くの
光量を導入するためには、アモルファス炭化シリコン(
マイクロクリスタル炭化シリコンも含有する)をn型層
の材料として用いるのが好ましい。
【0053】マイクロクリスタルシリコン及びマイクロ
クリスタル炭化シリコンの粒径は、好ましくは30Å〜
200Åであり、最適には30Å〜100Åである。
クリスタル炭化シリコンの粒径は、好ましくは30Å〜
200Åであり、最適には30Å〜100Åである。
【0054】また水素及びハロゲン原子の含有量は、マ
イクロクリスタルシリコン又は、マイクロクリスタル炭
化シリコンの場合には、好ましくは1at%〜10at
%であり、最適には1at%〜7at%である。
イクロクリスタルシリコン又は、マイクロクリスタル炭
化シリコンの場合には、好ましくは1at%〜10at
%であり、最適には1at%〜7at%である。
【0055】アモルファスシリコン及びアモルファス炭
化シリコンの場合に水素及びハロゲン原子の含有量は、
好ましくは、1at%〜40at%、最適には5at%
〜20at%である。
化シリコンの場合に水素及びハロゲン原子の含有量は、
好ましくは、1at%〜40at%、最適には5at%
〜20at%である。
【0056】また更に、n型層に含有される価電子制御
剤としては、周期表第5A族元素が適している。その中
で特にリン(P)、ちっ素(N)、ひ素(As)、アン
チモン(S6)が最適である。
剤としては、周期表第5A族元素が適している。その中
で特にリン(P)、ちっ素(N)、ひ素(As)、アン
チモン(S6)が最適である。
【0057】加えて、n型層に含有される価電子制御剤
の含有量は、好ましくは1at%〜20at%であり、
最適には5at%〜10at%である。
の含有量は、好ましくは1at%〜20at%であり、
最適には5at%〜10at%である。
【0058】n型層の電気的特性としては、前記各条件
内で、活性化エネルギーが0.2eV以下のものが好ま
しく、0.1eV以下のものが最適である。また比抵抗
としては、10Ωcm以下が好ましく、1Ωcm以下が
最適である。
内で、活性化エネルギーが0.2eV以下のものが好ま
しく、0.1eV以下のものが最適である。また比抵抗
としては、10Ωcm以下が好ましく、1Ωcm以下が
最適である。
【0059】(i型層)本発明において、i型層は、照
射光に対してキャリアを発生、輸送する重要な層である
。i型層に適したシリコン原子を含有する非単結晶材料
としてはアモルファスシリコン(微結晶シリコン)が挙
げられる。アモルファスシリコンの中でも特に水素化ア
モルファスシリコン、水素化及びハロゲン化アモルファ
スシリコンが適している。
射光に対してキャリアを発生、輸送する重要な層である
。i型層に適したシリコン原子を含有する非単結晶材料
としてはアモルファスシリコン(微結晶シリコン)が挙
げられる。アモルファスシリコンの中でも特に水素化ア
モルファスシリコン、水素化及びハロゲン化アモルファ
スシリコンが適している。
【0060】又、アモルファスシリコン中に含有される
水素またはハロゲンの含有量は、局在準位を減少させ電
気的特性を高品質に保つために非常に重要である。水素
原子とシリコン原子の結合状態は、シリコン原子に水素
原子が1ケ結合した状態が好ましいものである。ハロゲ
ン原子とシリコン原子の結合状態についても同様である
。
水素またはハロゲンの含有量は、局在準位を減少させ電
気的特性を高品質に保つために非常に重要である。水素
原子とシリコン原子の結合状態は、シリコン原子に水素
原子が1ケ結合した状態が好ましいものである。ハロゲ
ン原子とシリコン原子の結合状態についても同様である
。
【0061】又、水素原子とハロゲン原子の含有量は、
好ましくは1at%〜40at%であり、最適には5a
t%〜20at%である。
好ましくは1at%〜40at%であり、最適には5a
t%〜20at%である。
【0062】また更に、i型層の層厚は、本発明の光起
電力素子の特性を左右する重要なパラメーターである。 i型層の好ましい層厚は、0.1μm〜1μmであり、
最適な層厚は、0.2μm〜0.6μmである。
電力素子の特性を左右する重要なパラメーターである。 i型層の好ましい層厚は、0.1μm〜1μmであり、
最適な層厚は、0.2μm〜0.6μmである。
【0063】この層厚は、i型層の吸光係数や太陽光等
のスペクトルを考慮し、上記範囲内で設計することが望
ましいものである。
のスペクトルを考慮し、上記範囲内で設計することが望
ましいものである。
【0064】(p型層)本発明において、p型層は、太
陽電池の光起電力や光電流を支配する重要な層である。
陽電池の光起電力や光電流を支配する重要な層である。
【0065】p型層の材料としては、シリコン原子含有
の非単結晶半導体が適し、特に水素化及びハロゲン化ア
モルファスシリコン(マイクロクリスタルシリコンを含
む)と水素化及びハロゲン化アモルファス炭化シリコン
が適するものである。
の非単結晶半導体が適し、特に水素化及びハロゲン化ア
モルファスシリコン(マイクロクリスタルシリコンを含
む)と水素化及びハロゲン化アモルファス炭化シリコン
が適するものである。
【0066】また更に限定すれば、光起電力や光電流を
より大きくするために禁制帯幅が広く、太陽光に対して
透過率の高いマイクロクリスタル炭化シリコンが好まし
い。
より大きくするために禁制帯幅が広く、太陽光に対して
透過率の高いマイクロクリスタル炭化シリコンが好まし
い。
【0067】本発明において、マイクロクリスタルシリ
コン及びマイクロクリスタル炭化シリコンの粒径は、好
ましくは30Å〜500Åであり、最適には、50Å〜
300Åである。
コン及びマイクロクリスタル炭化シリコンの粒径は、好
ましくは30Å〜500Åであり、最適には、50Å〜
300Åである。
【0068】又、水素及びハロゲン原子の含有量は、マ
イクロクリスタルの場合には、好ましくは1at%〜1
0at%であり、最適には1at%〜7at%である。
イクロクリスタルの場合には、好ましくは1at%〜1
0at%であり、最適には1at%〜7at%である。
【0069】本発明において、アモルファスの場合には
、水素及びハロゲン原子の含有量は、好ましくは1at
%〜40at%、最適には5at%〜20at%である
。
、水素及びハロゲン原子の含有量は、好ましくは1at
%〜40at%、最適には5at%〜20at%である
。
【0070】p型層の層厚は、好ましくは10Å〜50
0Å、最適には30Å〜200Åである。
0Å、最適には30Å〜200Åである。
【0071】アモルファス炭化シリコン(マイクロクリ
スタル炭化シリコンも含む)中の炭素含有量は、好まし
くは5at%〜50at%、最適には10at%〜30
at%である。
スタル炭化シリコンも含む)中の炭素含有量は、好まし
くは5at%〜50at%、最適には10at%〜30
at%である。
【0072】また更に、p型層に含有される添加物とし
ては、周期表第3族元素が適している。その中で特にほ
う素(B)、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)
が最適である。
ては、周期表第3族元素が適している。その中で特にほ
う素(B)、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)
が最適である。
【0073】加えて、p型層に含有される添加物の含有
量は、好ましくは1at%〜20at%であり、最適に
は5at%〜10at%である。
量は、好ましくは1at%〜20at%であり、最適に
は5at%〜10at%である。
【0074】p型層の電気的特性としては、前記各条件
内で、活性化エネルギーが0.2eV以下のものが好ま
しく、0.1eV以下のものが最適である。また比抵抗
としては、10Ωcm以下が好ましく、1Ωcm以下が
最適である。
内で、活性化エネルギーが0.2eV以下のものが好ま
しく、0.1eV以下のものが最適である。また比抵抗
としては、10Ωcm以下が好ましく、1Ωcm以下が
最適である。
【0075】(透明電極)本発明において用いられる透
明電極としては太陽や白色蛍光灯等からの光を半導体層
内に効率良く吸収させるために光の透過率が85%以上
であることが望ましく、さらに、電気的には太陽電池の
出力に対して抵抗成分とならぬようにシート抵抗値は1
00Ω以下であることが望ましい。このような特性を備
えた材料として例えばSnO2、In2O3、ZnO、
CdO、Cd2SnO4、ITO(In2O3+SnO
2)などの金属酸化物や、Au、Al、Cu等の金属を
極めて薄く半透明状に成膜した金属薄膜等が挙げられる
。
明電極としては太陽や白色蛍光灯等からの光を半導体層
内に効率良く吸収させるために光の透過率が85%以上
であることが望ましく、さらに、電気的には太陽電池の
出力に対して抵抗成分とならぬようにシート抵抗値は1
00Ω以下であることが望ましい。このような特性を備
えた材料として例えばSnO2、In2O3、ZnO、
CdO、Cd2SnO4、ITO(In2O3+SnO
2)などの金属酸化物や、Au、Al、Cu等の金属を
極めて薄く半透明状に成膜した金属薄膜等が挙げられる
。
【0076】これらの作製方法としては、抵抗加熱蒸着
法、電子ビーム加熱蒸着法、スパッタリング法、スプレ
ー法等を用いることができ所望に応じて適宜選択される
。
法、電子ビーム加熱蒸着法、スパッタリング法、スプレ
ー法等を用いることができ所望に応じて適宜選択される
。
【0077】本発明において、p型層、n型層、i型層
は、直流プラズマCVD法、高周波プラズマCVD法、
マイクロ波プラズマCVD法等で形成することが適して
いる。
は、直流プラズマCVD法、高周波プラズマCVD法、
マイクロ波プラズマCVD法等で形成することが適して
いる。
【0078】前記プラズマCVD法に適した原料ガスと
して次のガスが挙げられる。
して次のガスが挙げられる。
【0079】本発明において使用されるSi供給用の原
料ガスとしては、SiH4、Si2H6、Si3H8、
Si4H10等のガス状態の又はガス化し得る水素化硅
素(シラン類)が有効に使用されるものとして挙げられ
、殊に、層作成作業の扱い易さ、Si供給効率の良さ等
の点でSiH4、Si2H6が好ましいものとして挙げ
られる。
料ガスとしては、SiH4、Si2H6、Si3H8、
Si4H10等のガス状態の又はガス化し得る水素化硅
素(シラン類)が有効に使用されるものとして挙げられ
、殊に、層作成作業の扱い易さ、Si供給効率の良さ等
の点でSiH4、Si2H6が好ましいものとして挙げ
られる。
【0080】本発明において使用されるハロゲン原子導
入用の原料ガスとして有効なのは、多くのハロゲン化合
物が挙げられ、例えばハロゲンガス、ハロゲン化物、ハ
ロゲン間化合物、ハロゲンで置換されたシラン誘導体等
のガス状態の又はガス化し得るハロゲン化合物が好まし
く挙げられる。
入用の原料ガスとして有効なのは、多くのハロゲン化合
物が挙げられ、例えばハロゲンガス、ハロゲン化物、ハ
ロゲン間化合物、ハロゲンで置換されたシラン誘導体等
のガス状態の又はガス化し得るハロゲン化合物が好まし
く挙げられる。
【0081】又、さらには、シリコン原子とハロゲン原
子とを構成要素とするガス状態の又はガス化し得る、ハ
ロゲン原子を含む硅素化合物も有効なものとして本発明
においては挙げることができる。
子とを構成要素とするガス状態の又はガス化し得る、ハ
ロゲン原子を含む硅素化合物も有効なものとして本発明
においては挙げることができる。
【0082】本発明において好適に使用し得るハロゲン
化合物としては、具体的にはフッ素、塩素、臭素、ヨウ
素のハロゲンガス、BrF、ClF、ClF3、BrF
5、BrF3、IF3、IF7、ICl、IBr等のハ
ロゲン間化合物を挙げることができる。
化合物としては、具体的にはフッ素、塩素、臭素、ヨウ
素のハロゲンガス、BrF、ClF、ClF3、BrF
5、BrF3、IF3、IF7、ICl、IBr等のハ
ロゲン間化合物を挙げることができる。
【0083】ハロゲン原子を含む硅素化合物、所謂、ハ
ロゲン原子で置換されたシラン誘導体としては、具体的
には例えばSiF4,Si2F6,SiCl4,SiB
r4等のハロゲン化硅素が好ましいものとして挙げるこ
とができる。
ロゲン原子で置換されたシラン誘導体としては、具体的
には例えばSiF4,Si2F6,SiCl4,SiB
r4等のハロゲン化硅素が好ましいものとして挙げるこ
とができる。
【0084】このようなハロゲン原子を含む硅素化合物
を採用してグロー放電法によって本発明の特徴的な積室
中に導入して該ガスのプラズマ雰囲気を形成してやれば
良い。
を採用してグロー放電法によって本発明の特徴的な積室
中に導入して該ガスのプラズマ雰囲気を形成してやれば
良い。
【0085】本発明においては、ハロゲン原子導入用の
原料ガスとして上記されたハロゲン化合物或いはハロゲ
ンを含む硅素化合物が有効なものとして使用されるもの
であるが、その他に、HF、HCl、HBr、HI等の
ハロゲン化水素、SiH2F2、SiH2I2、SiH
2Cl2、SiHCl3、SiH2Br2、SiHBr
3等のハロゲン置換水素化硅素、等々のガス状態の或い
はガス化し得る、水素原子を構成要素の1つとするハロ
ゲン化物も有効な出発物質として挙げることができる。
原料ガスとして上記されたハロゲン化合物或いはハロゲ
ンを含む硅素化合物が有効なものとして使用されるもの
であるが、その他に、HF、HCl、HBr、HI等の
ハロゲン化水素、SiH2F2、SiH2I2、SiH
2Cl2、SiHCl3、SiH2Br2、SiHBr
3等のハロゲン置換水素化硅素、等々のガス状態の或い
はガス化し得る、水素原子を構成要素の1つとするハロ
ゲン化物も有効な出発物質として挙げることができる。
【0086】これ等の水素原子を含むハロゲン化物は、
層形成の際に形成される層中にハロゲン原子の導入と同
時に電気的或いは光電的特性の制御に極めて有効な水素
原子も導入されるので、本発明においては好適なハロゲ
ン導入用の原料として使用される。
層形成の際に形成される層中にハロゲン原子の導入と同
時に電気的或いは光電的特性の制御に極めて有効な水素
原子も導入されるので、本発明においては好適なハロゲ
ン導入用の原料として使用される。
【0087】炭素原子導入用の原料となる炭素原子含有
化合物としては、例えば炭素数1〜4の飽和炭化水素、
炭素数2〜4のエチレン系炭化水素、炭素数2〜3のア
セチレン系炭化水素等が挙げられる。
化合物としては、例えば炭素数1〜4の飽和炭化水素、
炭素数2〜4のエチレン系炭化水素、炭素数2〜3のア
セチレン系炭化水素等が挙げられる。
【0088】具体的には、飽和炭化水素としては、メタ
ン(CH4)、エタン(C2H6)、プロパン(C3H
8)、n−ブタン(n−C4H10)、ペンタン(C5
H12)、エチレン系炭化水素としては、エチレン(C
2H4)、プロピレン(C3H6)、ブテン−1(C4
H8)、ブテン−2(C4H8)、イソブチレン(C4
H8)、ペンテン(C5H10)、アセチレン系炭化水
素としては、アセチレン(C2H2)、メチルアセチレ
ン(C3H4)、ブチン(C4H6)等が挙げられる。
ン(CH4)、エタン(C2H6)、プロパン(C3H
8)、n−ブタン(n−C4H10)、ペンタン(C5
H12)、エチレン系炭化水素としては、エチレン(C
2H4)、プロピレン(C3H6)、ブテン−1(C4
H8)、ブテン−2(C4H8)、イソブチレン(C4
H8)、ペンテン(C5H10)、アセチレン系炭化水
素としては、アセチレン(C2H2)、メチルアセチレ
ン(C3H4)、ブチン(C4H6)等が挙げられる。
【0089】SiとCとHとを構成原子とする原料ガス
としては、Si(CH3)4、Si(C2H4)等のケ
イ化アルキルを挙げることができる。
としては、Si(CH3)4、Si(C2H4)等のケ
イ化アルキルを挙げることができる。
【0090】第3族原子又は第5族原子の含有される層
を形成するのにグロー放電法を用いる場合、該層形成用
の原料ガスとなる出発物質は、前記したSi用の出発物
質の中から適宜選択したものに、第3族原子又は第5族
原子導入用の出発物質が加えられたものである。そのよ
うな第3族原子又は第5族原子導入用の出発物質として
は第3族原子又は第5族原子を構成原子とするガス状態
の物質又はガス化しうる物質をガス化したものであれば
、いずれのものであってもよい。
を形成するのにグロー放電法を用いる場合、該層形成用
の原料ガスとなる出発物質は、前記したSi用の出発物
質の中から適宜選択したものに、第3族原子又は第5族
原子導入用の出発物質が加えられたものである。そのよ
うな第3族原子又は第5族原子導入用の出発物質として
は第3族原子又は第5族原子を構成原子とするガス状態
の物質又はガス化しうる物質をガス化したものであれば
、いずれのものであってもよい。
【0091】本発明において第3族原子導入用の出発物
質として有効に使用されるものとしては、具体的には硼
素原子導入用として、B2H6、B4H10、B5H9
、B5H11、B6H10、B6H12、B6H14等
の水素化硼素、BF3、BCl3、BBr3等のハロゲ
ン化硼素等を挙げることができるが、この他、AlCl
3、GaCl3、InCl3、TlCl3等も挙げるこ
とができる。
質として有効に使用されるものとしては、具体的には硼
素原子導入用として、B2H6、B4H10、B5H9
、B5H11、B6H10、B6H12、B6H14等
の水素化硼素、BF3、BCl3、BBr3等のハロゲ
ン化硼素等を挙げることができるが、この他、AlCl
3、GaCl3、InCl3、TlCl3等も挙げるこ
とができる。
【0092】本発明において第5族原子導入用の出発物
質として有効に使用されるのは、具体的には燐原子導入
用としては、PH3、P2H4等の水素化燐、PH4I
、PF3、PF5、PCl3、PCl5、PBr3、P
Fr5、PI3等のハロゲン化燐が挙げられる。この他
、AsH3、AsF3、AsCl3、AsBr3、As
F5、SbH3、SbF3、SbF5、SbCl3、S
bCl5、BiH3、BiCl3、BiBr3等も挙げ
ることができる。
質として有効に使用されるのは、具体的には燐原子導入
用としては、PH3、P2H4等の水素化燐、PH4I
、PF3、PF5、PCl3、PCl5、PBr3、P
Fr5、PI3等のハロゲン化燐が挙げられる。この他
、AsH3、AsF3、AsCl3、AsBr3、As
F5、SbH3、SbF3、SbF5、SbCl3、S
bCl5、BiH3、BiCl3、BiBr3等も挙げ
ることができる。
【0093】(実験例)
以下実験例により本発明をさらに詳細に説明するが、本
発明はこれらによって限定されるものではない。
発明はこれらによって限定されるものではない。
【0094】(実験例1)
マイクロ波(以下「μW」と略記する)グロー放電分解
法によって本発明の太陽電池を形成した。
法によって本発明の太陽電池を形成した。
【0095】図3に原料ガス供給装置1020と堆積装
置1000からなるμWグロー放電分解法による太陽電
池の製造装置を示す。
置1000からなるμWグロー放電分解法による太陽電
池の製造装置を示す。
【0096】図中の1071〜1075のガスボンベに
は、本発明の各々の層を形成するための原料ガスが密封
されており、1071はSiH4ガス(純度99.99
%)ボンベ、1072はH2ガス(純度99.9999
%)ボンベ、1073はCH4ガス(純度99.999
%)ボンベ、1074はH2ガスで10%に希釈された
B2H6ガス(純度99.999%、以下「B2H6/
H2」と略記する)ボンベ、1075はH2ガスで10
%に希釈されたPH3ガス(純度99.999%、以下
「PH3/H2」と略記する)ボンベである。また、あ
らかじめ、ガスボンベ1071〜1075を取り付ける
際に、各々のガスを、バルブ1051〜1055から流
入バルブ1031〜1035のガス配管内に導入してあ
る。
は、本発明の各々の層を形成するための原料ガスが密封
されており、1071はSiH4ガス(純度99.99
%)ボンベ、1072はH2ガス(純度99.9999
%)ボンベ、1073はCH4ガス(純度99.999
%)ボンベ、1074はH2ガスで10%に希釈された
B2H6ガス(純度99.999%、以下「B2H6/
H2」と略記する)ボンベ、1075はH2ガスで10
%に希釈されたPH3ガス(純度99.999%、以下
「PH3/H2」と略記する)ボンベである。また、あ
らかじめ、ガスボンベ1071〜1075を取り付ける
際に、各々のガスを、バルブ1051〜1055から流
入バルブ1031〜1035のガス配管内に導入してあ
る。
【0097】図中1004は基板であり、100mm角
、厚さ0.25mmのステンレス(SUS430BA)
製で、表面に鏡面加工を施してある。
、厚さ0.25mmのステンレス(SUS430BA)
製で、表面に鏡面加工を施してある。
【0098】まず、ガスボンベ1071よりSiH4ガ
ス、ガスボンベ1072よりH2ガス、ガスボンベ10
73よりCH4ガス、ガスボンベ1074よりB2H6
/H2ガス、ガスボンベ1075よりPH3/H2ガス
を、バルブ1051〜1055を開けて導入し、圧力調
整器1061〜1065により各ガス圧力を2Kg/c
m2に調整した。
ス、ガスボンベ1072よりH2ガス、ガスボンベ10
73よりCH4ガス、ガスボンベ1074よりB2H6
/H2ガス、ガスボンベ1075よりPH3/H2ガス
を、バルブ1051〜1055を開けて導入し、圧力調
整器1061〜1065により各ガス圧力を2Kg/c
m2に調整した。
【0099】次に、流入バルブ1031〜1035、堆
積室1001のリークバルブ1009が閉じられている
ことを確認し、又、流出バルブ1041〜1045、補
助バルブ1008が開かれていることを確認して、コン
ダクタンス(バタフライ型)バルブ1007を全開にし
て、不図示の真空ポンプにより堆積室1001及びガス
配管内を排気し、真空計1006の読みが約1×10−
4Torrになった時点で補助バルブ1008、流出バ
ルブ1041〜1045を閉じた。
積室1001のリークバルブ1009が閉じられている
ことを確認し、又、流出バルブ1041〜1045、補
助バルブ1008が開かれていることを確認して、コン
ダクタンス(バタフライ型)バルブ1007を全開にし
て、不図示の真空ポンプにより堆積室1001及びガス
配管内を排気し、真空計1006の読みが約1×10−
4Torrになった時点で補助バルブ1008、流出バ
ルブ1041〜1045を閉じた。
【0100】次に、流入バルブ1031〜1035を徐
々に開けて、各々のガスをマスフローコントローラー1
021〜1025内に導入した。
々に開けて、各々のガスをマスフローコントローラー1
021〜1025内に導入した。
【0101】以上のようにして成膜の準備が完了した後
、基板1004上に、ダイヤモンド層、n型層、i型層
、p型層の成膜を行なった。
、基板1004上に、ダイヤモンド層、n型層、i型層
、p型層の成膜を行なった。
【0102】ダイヤモンド層を形成するには、基板10
04を加熱ヒーター1005により400℃に加熱し、
流出バルブ1042、1043、1045及び補助バル
ブ1008を徐々に開いて、H2ガス、CH4ガス、P
H3/H2ガスをガス導入管1003を通じて堆積室1
001内に流入させた。この時、H2ガス流量が500
sccm、CH4ガス流量が5sccm、PH3/H2
ガス流量が2.5sccmとなるように各々のマスフロ
ーコントローラー1022、1023、1025で調整
した。 堆積室1001内の圧力は、20mTorrとなるよう
に真空計1006を見ながらコンダクタンスバルブ10
07の開口を調整した。次に、基板1004に直流電源
1011により、堆積室1001に対して−100vの
直流バイアスを印加した。その後、不図示のμW電源の
電力を0.5W/cm3に設定し、不図示の導波管、導
波部1010及び誘電体窓1002を通じて堆積室10
01内にμW電力を導入し、μWグロー放電を生起させ
、基板1004上にダイヤモンド層の形成を開始し、層
厚1μmのダイヤモンド層を形成したところでμWグロ
ー放電を止め、直流電源1011の出力を切り、又、流
出バルブ1042、1043、1045及び補助バルブ
1008を閉じて、堆積室1001内へのガス流入を止
め、ダイヤモンド層の形成を終えた。
04を加熱ヒーター1005により400℃に加熱し、
流出バルブ1042、1043、1045及び補助バル
ブ1008を徐々に開いて、H2ガス、CH4ガス、P
H3/H2ガスをガス導入管1003を通じて堆積室1
001内に流入させた。この時、H2ガス流量が500
sccm、CH4ガス流量が5sccm、PH3/H2
ガス流量が2.5sccmとなるように各々のマスフロ
ーコントローラー1022、1023、1025で調整
した。 堆積室1001内の圧力は、20mTorrとなるよう
に真空計1006を見ながらコンダクタンスバルブ10
07の開口を調整した。次に、基板1004に直流電源
1011により、堆積室1001に対して−100vの
直流バイアスを印加した。その後、不図示のμW電源の
電力を0.5W/cm3に設定し、不図示の導波管、導
波部1010及び誘電体窓1002を通じて堆積室10
01内にμW電力を導入し、μWグロー放電を生起させ
、基板1004上にダイヤモンド層の形成を開始し、層
厚1μmのダイヤモンド層を形成したところでμWグロ
ー放電を止め、直流電源1011の出力を切り、又、流
出バルブ1042、1043、1045及び補助バルブ
1008を閉じて、堆積室1001内へのガス流入を止
め、ダイヤモンド層の形成を終えた。
【0103】次に、n型層を形成するには、基板100
4を加熱ヒーター1005により280℃に加熱し、流
出バルブ1041、1042、1043、1045及び
補助バルブ1008を徐々に開いて、SiH4ガス、H
2ガス、CH4ガス、PH3/H2ガスをガス導入管1
003を通じて堆積室1001内に流入させた。この時
、SiH4ガス流量が5sccm、H2ガス流量が50
sccm、CH4ガス流量が0.5sccm、PH3/
H2ガス流量が5sccmとなるように各々のマスルフ
ローコントローラー1021、1022、1023、1
025で調整した。堆積室1001内の圧力は、10m
Torrとなるように真空計1006を見ながらコンダ
クタンスバルブ1007の開口を調整した。次に、基板
1004に直流電源1011により、堆積室1001に
対して−60vの直流バイアスを印加した。その後、不
図示のμW電源の電力を0.05W/cm3に設定し、
不図示の導波管、導波部1010及び誘電体窓1002
を通じて堆積室1001内にμW電力を導入し、μWグ
ロー放電を生起させ、ダイヤモンド層上にn型層の形成
を開始し、層厚0.01μmのn型層を形成したところ
でμWグロー放電を止め、直流電源1011の出力を切
り、又、流出バルブ1041、1042、1043、1
045及び補助バルブ1008を閉じて、堆積室100
1内へのガス流入を止め、n型層の形成を終えた。
4を加熱ヒーター1005により280℃に加熱し、流
出バルブ1041、1042、1043、1045及び
補助バルブ1008を徐々に開いて、SiH4ガス、H
2ガス、CH4ガス、PH3/H2ガスをガス導入管1
003を通じて堆積室1001内に流入させた。この時
、SiH4ガス流量が5sccm、H2ガス流量が50
sccm、CH4ガス流量が0.5sccm、PH3/
H2ガス流量が5sccmとなるように各々のマスルフ
ローコントローラー1021、1022、1023、1
025で調整した。堆積室1001内の圧力は、10m
Torrとなるように真空計1006を見ながらコンダ
クタンスバルブ1007の開口を調整した。次に、基板
1004に直流電源1011により、堆積室1001に
対して−60vの直流バイアスを印加した。その後、不
図示のμW電源の電力を0.05W/cm3に設定し、
不図示の導波管、導波部1010及び誘電体窓1002
を通じて堆積室1001内にμW電力を導入し、μWグ
ロー放電を生起させ、ダイヤモンド層上にn型層の形成
を開始し、層厚0.01μmのn型層を形成したところ
でμWグロー放電を止め、直流電源1011の出力を切
り、又、流出バルブ1041、1042、1043、1
045及び補助バルブ1008を閉じて、堆積室100
1内へのガス流入を止め、n型層の形成を終えた。
【0104】次に、i型層を形成するには、基板100
4を加熱ヒーター1005により280℃に加熱し、流
出バルブ1041、1042及び補助バルブ1008を
徐々に開いて、SiH4ガス、H2ガスをガス導入管1
003を通じて堆積室1001内に流入させた。この時
、SiH4ガス流量が50sccm、H2ガス流量が1
00sccmとなるように各々のマスフローコントロー
ラー1021、1022で調整した。堆積室1001内
の圧力は、10mTorrとなるように真空計1006
を見ながらコンダクタンスバルブ1007の開口を調整
した。次に、基板1004に直流電源1011により、
堆積室1001に対して−50vの直流バイアスを印加
した。その後、不図示のμW電源の電力を0.15W/
cm3に設定し、不図示の導波管、導波部1010及び
誘電体窓1002を通じて堆積室1001内にμW電力
を導入し、μWグロー放電を生起させ、n型層上にi型
層の形成を開始し、層厚0.4μmのi型層を形成した
ところでμWグロー放電を止め、直流電源1011の出
力を切り、i型層の形成を終えた。
4を加熱ヒーター1005により280℃に加熱し、流
出バルブ1041、1042及び補助バルブ1008を
徐々に開いて、SiH4ガス、H2ガスをガス導入管1
003を通じて堆積室1001内に流入させた。この時
、SiH4ガス流量が50sccm、H2ガス流量が1
00sccmとなるように各々のマスフローコントロー
ラー1021、1022で調整した。堆積室1001内
の圧力は、10mTorrとなるように真空計1006
を見ながらコンダクタンスバルブ1007の開口を調整
した。次に、基板1004に直流電源1011により、
堆積室1001に対して−50vの直流バイアスを印加
した。その後、不図示のμW電源の電力を0.15W/
cm3に設定し、不図示の導波管、導波部1010及び
誘電体窓1002を通じて堆積室1001内にμW電力
を導入し、μWグロー放電を生起させ、n型層上にi型
層の形成を開始し、層厚0.4μmのi型層を形成した
ところでμWグロー放電を止め、直流電源1011の出
力を切り、i型層の形成を終えた。
【0105】次に、p型層を形成するには、基板100
4を加熱ヒーター1005により280℃に加熱し、流
出バルブ1041、1042、1043、1044及び
補助バルブ1008を徐々に開いて、SiH4ガス、H
2ガス、CH4ガス、B2H6/H2ガスをガス導入管
1003を通じて堆積室1001内に流入させた。この
時、SiH4ガス流量が3sccm、H2ガス流量が5
00sccm、CH4ガス流量が0.5sccm、B2
H6/H2ガス流量が5sccmとなるように各々のマ
スフローコントローラー1021、1022、1023
、1024で調整した。堆積室1001内の圧力は、2
0mTorrとなるように真空計1006を見ながらコ
ンダクタンスバルブ1007の開口を調整した。次に、
基板1004に直流電源1011により、堆積室100
1に対して−100vの直流バイアスを印加した。その
後、不図示のμW電源の電力を0.5W/cm3に設定
し、不図示の導波管、導波部1010及び誘電体窓10
02を通じて堆積室1001内にμW電力を導入し、μ
Wグロー放電を生起させ、i型層上にp型層の形成を開
始し、層厚0.005μmのp型層を形成したところで
μWグロー放電を止め、直流電源1011の出力を切り
、又、流出バルブ1041、1042、1043、10
44及び補助バルブ1008を閉じて、堆積室1001
内へのガス流入を止めp型層の形成を終えた。
4を加熱ヒーター1005により280℃に加熱し、流
出バルブ1041、1042、1043、1044及び
補助バルブ1008を徐々に開いて、SiH4ガス、H
2ガス、CH4ガス、B2H6/H2ガスをガス導入管
1003を通じて堆積室1001内に流入させた。この
時、SiH4ガス流量が3sccm、H2ガス流量が5
00sccm、CH4ガス流量が0.5sccm、B2
H6/H2ガス流量が5sccmとなるように各々のマ
スフローコントローラー1021、1022、1023
、1024で調整した。堆積室1001内の圧力は、2
0mTorrとなるように真空計1006を見ながらコ
ンダクタンスバルブ1007の開口を調整した。次に、
基板1004に直流電源1011により、堆積室100
1に対して−100vの直流バイアスを印加した。その
後、不図示のμW電源の電力を0.5W/cm3に設定
し、不図示の導波管、導波部1010及び誘電体窓10
02を通じて堆積室1001内にμW電力を導入し、μ
Wグロー放電を生起させ、i型層上にp型層の形成を開
始し、層厚0.005μmのp型層を形成したところで
μWグロー放電を止め、直流電源1011の出力を切り
、又、流出バルブ1041、1042、1043、10
44及び補助バルブ1008を閉じて、堆積室1001
内へのガス流入を止めp型層の形成を終えた。
【0106】以上の、太陽電池の作成条件を表1、表2
、表3に示す。
、表3に示す。
【0107】それぞれの層を形成する際に、必要なガス
以外の流出バルブ1041〜1045は完全に閉じられ
ていることは云うまでもなく、また、それぞれのガスが
堆積室1001内、流出バルブ1041〜1045から
堆積室1001に至る配管内に残留することを避けるた
めに、流出バルブ1041〜1045を閉じ、補助バル
ブ1008を開き、さらにコンダクタンスバルブ100
7を全開にして、系内を一旦高真空に排気する操作を必
要に応じて行なう。
以外の流出バルブ1041〜1045は完全に閉じられ
ていることは云うまでもなく、また、それぞれのガスが
堆積室1001内、流出バルブ1041〜1045から
堆積室1001に至る配管内に残留することを避けるた
めに、流出バルブ1041〜1045を閉じ、補助バル
ブ1008を開き、さらにコンダクタンスバルブ100
7を全開にして、系内を一旦高真空に排気する操作を必
要に応じて行なう。
【0108】作成した太陽電池のp型層上に、透明電極
として、ITO(In2O3+SnO2)を公知の方法
にて0.085μm蒸着し、さらに集電電極として、A
lを公知の方法にて2μm蒸着し、太陽電池を作成した
。 同様の操作を行なうことにより2枚の太陽電池を作成し
た(電池No.実−1)。
として、ITO(In2O3+SnO2)を公知の方法
にて0.085μm蒸着し、さらに集電電極として、A
lを公知の方法にて2μm蒸着し、太陽電池を作成した
。 同様の操作を行なうことにより2枚の太陽電池を作成し
た(電池No.実−1)。
【0109】(比較実験例1)基板1004を350℃
に加熱し、基板1004表面上に、スパッタリング法に
より、銀薄膜を0.45μm、さらにZnO薄膜を2μ
m蒸着して下部電極を形成した後に、ダイヤモンド層を
形成しない以外は、実験例1と同じ作成条件で、下部電
極上に、n型層、i型層、p型層、透明電極、集電電極
を形成して2枚の太陽電池を作成した(電池No.比−
1)。
に加熱し、基板1004表面上に、スパッタリング法に
より、銀薄膜を0.45μm、さらにZnO薄膜を2μ
m蒸着して下部電極を形成した後に、ダイヤモンド層を
形成しない以外は、実験例1と同じ作成条件で、下部電
極上に、n型層、i型層、p型層、透明電極、集電電極
を形成して2枚の太陽電池を作成した(電池No.比−
1)。
【0110】実験例1(電池No.実1)及び比較実験
例1(電池No.比1)で作成した太陽電池の初期特性
、熱劣化特性及び応力劣化特性の評価を行なった。
例1(電池No.比1)で作成した太陽電池の初期特性
、熱劣化特性及び応力劣化特性の評価を行なった。
【0111】初期特性は、実験例1(電池No.実1)
及び比較実験例1(電池No.比1)で作成した各々2
枚の太陽電池を、AM−1.5(100mW/cm2)
光照射下に設置し、光電変換効率を測定して評価した。 特性評価の結果、比較実験例(電池No.比1)に対し
て、実験例1(電池No.実1)の太陽電池は、光電変
換効率が平均して1.25倍に優れていた。
及び比較実験例1(電池No.比1)で作成した各々2
枚の太陽電池を、AM−1.5(100mW/cm2)
光照射下に設置し、光電変換効率を測定して評価した。 特性評価の結果、比較実験例(電池No.比1)に対し
て、実験例1(電池No.実1)の太陽電池は、光電変
換効率が平均して1.25倍に優れていた。
【0112】熱劣化特性は、実験例1(電池No.実1
)及び比較実験例1(電池No.比1)で作成した各々
1枚の太陽電池を、100℃に設定した定温乾燥器(ヤ
マト科学(株)製 DV−41)中に1時間放置し、
次に5℃に設定した冷蔵庫(日立製作所(株)製 R
−107W)中に1時間放置する操作を10回繰返した
のちに、初期特性の評価と同様に、AM−1.5(10
0mW/cm2)光照射下に設置し、光電変換効率を測
定して評価した。特性評価の結果、比較実験例(電池N
o.比1)に対して実験例1(電池No.実1)の太陽
電池は、光電変換効率が1.4倍優れていた。
)及び比較実験例1(電池No.比1)で作成した各々
1枚の太陽電池を、100℃に設定した定温乾燥器(ヤ
マト科学(株)製 DV−41)中に1時間放置し、
次に5℃に設定した冷蔵庫(日立製作所(株)製 R
−107W)中に1時間放置する操作を10回繰返した
のちに、初期特性の評価と同様に、AM−1.5(10
0mW/cm2)光照射下に設置し、光電変換効率を測
定して評価した。特性評価の結果、比較実験例(電池N
o.比1)に対して実験例1(電池No.実1)の太陽
電池は、光電変換効率が1.4倍優れていた。
【0113】応力劣化特性は、実験例1(電池No.実
1)及び比較実験例1(電池No.比1)で作成し、熱
劣化特性の評価を行なっていないほうの各々1枚の太陽
電池を、ステンレス製基板を内側にして、曲率半径54
mmに曲げ、次に、平面に戻す操作を50回繰返したの
ちに、初期特性の評価と同様に、該太陽電池をAM−1
.5(100mW/cm2)光照射下に設置し、光電変
換効率を測定して評価した。特性評価の結果、比較実験
例(電池No.比1)に対して、実験例1(電池No.
実1)の太陽電池は、光電変換効率が1.35倍優れて
いた。
1)及び比較実験例1(電池No.比1)で作成し、熱
劣化特性の評価を行なっていないほうの各々1枚の太陽
電池を、ステンレス製基板を内側にして、曲率半径54
mmに曲げ、次に、平面に戻す操作を50回繰返したの
ちに、初期特性の評価と同様に、該太陽電池をAM−1
.5(100mW/cm2)光照射下に設置し、光電変
換効率を測定して評価した。特性評価の結果、比較実験
例(電池No.比1)に対して、実験例1(電池No.
実1)の太陽電池は、光電変換効率が1.35倍優れて
いた。
【0114】又、ステンレス製基板上に、実験例1と同
じ作成条件でダイヤモンド層を1μm成膜して、結晶分
析用サンプルを作成し、X線回折装置(理学電機製
RAD−3b型)によりダイヤモンド層の結晶性を評価
したところ、立方晶ダイヤモンドの(111)、(22
0)面の回折線に相当する位置、43.9°、75.4
°に鋭い回折線が観察され、ダイヤモンドの結晶が生成
していることが判った。又、該結晶性分析用サンプルの
表面性を表面粗さ測定計((株)小坂研究所製SE−3
0D)により測定したところ、Rz(十点平均粗さ)は
0.2μmであった。
じ作成条件でダイヤモンド層を1μm成膜して、結晶分
析用サンプルを作成し、X線回折装置(理学電機製
RAD−3b型)によりダイヤモンド層の結晶性を評価
したところ、立方晶ダイヤモンドの(111)、(22
0)面の回折線に相当する位置、43.9°、75.4
°に鋭い回折線が観察され、ダイヤモンドの結晶が生成
していることが判った。又、該結晶性分析用サンプルの
表面性を表面粗さ測定計((株)小坂研究所製SE−3
0D)により測定したところ、Rz(十点平均粗さ)は
0.2μmであった。
【0115】又、ステンレス製基板上に、実験例1と同
じ作成条件で、i型層を0.1μm、さらにp型層を0
.005μm成膜して、結晶性分析用サンプルを作成し
、RHEED(日本電子製 JEM−100SX)に
より、p型層の結晶性を評価したところ、リング状で、
アモルファス(マイクロクリスタルを含む)であること
が判った。
じ作成条件で、i型層を0.1μm、さらにp型層を0
.005μm成膜して、結晶性分析用サンプルを作成し
、RHEED(日本電子製 JEM−100SX)に
より、p型層の結晶性を評価したところ、リング状で、
アモルファス(マイクロクリスタルを含む)であること
が判った。
【0116】(実験例2及び比較実験例2)ダイヤモン
ド層を形成するに際して、CH4ガスの流量を表4に示
した値に変えた以外は、実験例1と同じ作成条件で、各
々2枚の太陽電池を作成した(電池No.実2−1〜3
及び電池No.比2−1〜2)。又、実験例1と同様に
、ステンレス製基板上に、表4に示した作成条件でダイ
ヤモンド層を1μm成膜して、結晶性分析用サンプルを
作成した。
ド層を形成するに際して、CH4ガスの流量を表4に示
した値に変えた以外は、実験例1と同じ作成条件で、各
々2枚の太陽電池を作成した(電池No.実2−1〜3
及び電池No.比2−1〜2)。又、実験例1と同様に
、ステンレス製基板上に、表4に示した作成条件でダイ
ヤモンド層を1μm成膜して、結晶性分析用サンプルを
作成した。
【0117】実験例2(電池No.実2−1〜3)及び
比較実験例2(電池No.比2−1〜2)で作成した太
陽電池、結晶性分析用サンプルを、実験例1と同様な方
法で、特性評価を行なった。
比較実験例2(電池No.比2−1〜2)で作成した太
陽電池、結晶性分析用サンプルを、実験例1と同様な方
法で、特性評価を行なった。
【0118】太陽電池の初期特性、熱劣化特性及び応力
劣化特性と、ダイヤモンド層の結晶性及び表面性を図4
に示す。尚、結晶性は、X線回折において、立方晶ダイ
ヤモンドの(111)面の回折線に相当する43.9°
の位置での回折線の半値巾により求めた。図4から判る
とおり、本発明の太陽電池(電池No.実1、実2−1
〜3)が比較実験例の太陽電池(電池No.比2−1〜
2)に対して、優れた特性を有することが判明し、本発
明の効果が実証された。
劣化特性と、ダイヤモンド層の結晶性及び表面性を図4
に示す。尚、結晶性は、X線回折において、立方晶ダイ
ヤモンドの(111)面の回折線に相当する43.9°
の位置での回折線の半値巾により求めた。図4から判る
とおり、本発明の太陽電池(電池No.実1、実2−1
〜3)が比較実験例の太陽電池(電池No.比2−1〜
2)に対して、優れた特性を有することが判明し、本発
明の効果が実証された。
【0119】(実験例3及び比較実験例3)ダイヤモン
ド層を形成するに際して、PH3/H2ガスの流量を表
5に示した値に変えた以外は、実験例1と同じ作成条件
で、各々2枚の太陽電池を作成した(電池No.実3−
1〜3及び電池No.比3−1〜2)。又、実験例1と
同様に、ステンレス製基板上に、表4に示した作成条件
でダイヤモンド層を1μm成膜して、導電率測定用サン
プルを作成した。
ド層を形成するに際して、PH3/H2ガスの流量を表
5に示した値に変えた以外は、実験例1と同じ作成条件
で、各々2枚の太陽電池を作成した(電池No.実3−
1〜3及び電池No.比3−1〜2)。又、実験例1と
同様に、ステンレス製基板上に、表4に示した作成条件
でダイヤモンド層を1μm成膜して、導電率測定用サン
プルを作成した。
【0120】実験例3(電池No.実3−1〜3)及び
比較実験例3(電池No.比3−1〜2)で作成した太
陽電池を、実験例1と同様な方法で、特性評価を行なっ
た。
比較実験例3(電池No.比3−1〜2)で作成した太
陽電池を、実験例1と同様な方法で、特性評価を行なっ
た。
【0121】実験例3(電池No.実3−1〜3)及び
比較実験例3(電池No.比3−1〜2)で作成した導
電率測定用サンプルは、ダイヤモンド層の表面にクロム
(Cr)を直径2mm、厚さ0.1μmの大きさで蒸着
してクロム電極を形成したのちに、該導電率測定用サン
プルを暗所に設置し、pAメーター(横河ヒューレット
パッカード(株)製 4140B)を用いて、クロム
電極とステンレス基板の間に電圧Vを印加し、両電極間
に流れる電流Iを測定し、ダイヤモンド層の層厚Dを用
いて、下記式により、暗導電率σdを求めた。
比較実験例3(電池No.比3−1〜2)で作成した導
電率測定用サンプルは、ダイヤモンド層の表面にクロム
(Cr)を直径2mm、厚さ0.1μmの大きさで蒸着
してクロム電極を形成したのちに、該導電率測定用サン
プルを暗所に設置し、pAメーター(横河ヒューレット
パッカード(株)製 4140B)を用いて、クロム
電極とステンレス基板の間に電圧Vを印加し、両電極間
に流れる電流Iを測定し、ダイヤモンド層の層厚Dを用
いて、下記式により、暗導電率σdを求めた。
【0122】
【0123】又、実験例1で作成した結晶性分析用サン
プル(電池No.実1)も、同様な手順により暗導電率
σdを求めた。
プル(電池No.実1)も、同様な手順により暗導電率
σdを求めた。
【0124】太陽電池の初期特性、熱劣化特性及び応力
劣化特性と、ダイヤモンド層の暗導電率を図5に示す。 図5から判るとおり、本発明の太陽電池(電池No.実
1、実3−1〜3)が比較実験例の太陽電池(電池No
.比3−1〜2)に対して、優れた特性を有することが
判明し、本発明の効果が実証された。
劣化特性と、ダイヤモンド層の暗導電率を図5に示す。 図5から判るとおり、本発明の太陽電池(電池No.実
1、実3−1〜3)が比較実験例の太陽電池(電池No
.比3−1〜2)に対して、優れた特性を有することが
判明し、本発明の効果が実証された。
【0125】(実験例4及び比較実験例4)ダイヤモン
ド層を形成するに際して、PH3/H2ガスの代りにB
2H6/H2ガスを用い、B2H6/H2ガスの流量を
表4に示した値に変えた以外は、実験例1と同じ作成条
件で、各々2枚の太陽電池を作成した(電池No.実4
−1〜3及び電池No.比4−1〜2)。又、実験例3
と同様に、ステンレス製基板上に、表6に示した作成条
件でダイヤモンド層を1μm成膜して、導電率測定用サ
ンプルを作成した。
ド層を形成するに際して、PH3/H2ガスの代りにB
2H6/H2ガスを用い、B2H6/H2ガスの流量を
表4に示した値に変えた以外は、実験例1と同じ作成条
件で、各々2枚の太陽電池を作成した(電池No.実4
−1〜3及び電池No.比4−1〜2)。又、実験例3
と同様に、ステンレス製基板上に、表6に示した作成条
件でダイヤモンド層を1μm成膜して、導電率測定用サ
ンプルを作成した。
【0126】実験例4(電池No.実4−1〜3)及び
比較実験例4(電池No.比4−1〜2)で作成した太
陽電池を、実験例1と同様な方法で、特性評価を行ない
、実験例4(電池No.実4−1〜3)及び比較実験例
4(電池No.比4−1〜2)で作成した導電率測定用
サンプルを、実験例3と同様な方法で、暗導電率σdを
求めた。
比較実験例4(電池No.比4−1〜2)で作成した太
陽電池を、実験例1と同様な方法で、特性評価を行ない
、実験例4(電池No.実4−1〜3)及び比較実験例
4(電池No.比4−1〜2)で作成した導電率測定用
サンプルを、実験例3と同様な方法で、暗導電率σdを
求めた。
【0127】太陽電池の初期特性、熱劣化特性及び応力
劣化特性と、ダイヤモンド層の暗導電率σdを図6に示
す。図6から判るとおり、本発明の太陽電池(電池No
.実4−1〜3)が比較実験例の太陽電池(電池No.
−比4−1〜2)に対して、優れた特性を有することが
判明し、本発明の効果が実証された。
劣化特性と、ダイヤモンド層の暗導電率σdを図6に示
す。図6から判るとおり、本発明の太陽電池(電池No
.実4−1〜3)が比較実験例の太陽電池(電池No.
−比4−1〜2)に対して、優れた特性を有することが
判明し、本発明の効果が実証された。
【0128】(実験例5及び比較実験例5)ダイヤモン
ド層を形成するに際して、ダイヤモンド層の層厚を表7
に示した値に変えた以外は、実験例1と同じ作成条件で
、各々2枚の太陽電池を作成し(電池No.実5−1〜
3及び電池No.比5−1〜2)、実験例1と同様な方
法で、特性評価を行なった。
ド層を形成するに際して、ダイヤモンド層の層厚を表7
に示した値に変えた以外は、実験例1と同じ作成条件で
、各々2枚の太陽電池を作成し(電池No.実5−1〜
3及び電池No.比5−1〜2)、実験例1と同様な方
法で、特性評価を行なった。
【0129】太陽電池の初期特性、熱劣化特性及び応力
劣化特性と、ダイヤモンド層の層厚を図7に示す。図7
から判るとおり、本発明の太陽電池(電池No.実1、
実5−1〜3)が比較実験例の太陽電池(電池No.比
5−1〜2)に対して、優れた特性を有することが判明
し、本発明の効果が実証された。
劣化特性と、ダイヤモンド層の層厚を図7に示す。図7
から判るとおり、本発明の太陽電池(電池No.実1、
実5−1〜3)が比較実験例の太陽電池(電池No.比
5−1〜2)に対して、優れた特性を有することが判明
し、本発明の効果が実証された。
【0130】以下実施例により本発明を更に詳細に説明
するが、本発明はこれらによって限定されるものではな
い。
するが、本発明はこれらによって限定されるものではな
い。
【0131】
【実施例】(実施例1)実験例1と同じ作成条件で、2
枚の太陽電池を作成し、これらを用いて、太陽電池モジ
ュールを作製し、図8に示すような回路構成の充電器を
作った。図8において、太陽電池モジュール801で発
生した電力は、逆流防止ダイオード803を経て、2次
電池((株)東芝製 TN−1U)804に充電され
る。802は過充電防止用ダイオードである。
枚の太陽電池を作成し、これらを用いて、太陽電池モジ
ュールを作製し、図8に示すような回路構成の充電器を
作った。図8において、太陽電池モジュール801で発
生した電力は、逆流防止ダイオード803を経て、2次
電池((株)東芝製 TN−1U)804に充電され
る。802は過充電防止用ダイオードである。
【0132】(比較例1)比較実験例1と同じ作成条件
で、2枚の太陽電池を作成し、これらを用いて、実施例
1と同様な充電器を作った。
で、2枚の太陽電池を作成し、これらを用いて、実施例
1と同様な充電器を作った。
【0133】実施例1と比較例1で作製した充電器を昼
間の晴天時に屋外に設置し、太陽電池モジュール801
で発生した電力を2次電池804に充電し、次に、実施
例1と比較例1の充電器で充電した各々の2次電池80
4を、懐中電灯((株)東芝製 K−67)に入れて
ライトを点灯させ、2次電池804の電力を使い切った
ところで、再び実施例1と比較例1の充電器を用いて2
次電池804を充電する操作を繰返したところ、実施例
1の充電器のほうが、比較例1の充電器よりも約1.3
倍長く、懐中電灯を点灯させることが出来、本発明によ
る太陽電池の効果が実証された。
間の晴天時に屋外に設置し、太陽電池モジュール801
で発生した電力を2次電池804に充電し、次に、実施
例1と比較例1の充電器で充電した各々の2次電池80
4を、懐中電灯((株)東芝製 K−67)に入れて
ライトを点灯させ、2次電池804の電力を使い切った
ところで、再び実施例1と比較例1の充電器を用いて2
次電池804を充電する操作を繰返したところ、実施例
1の充電器のほうが、比較例1の充電器よりも約1.3
倍長く、懐中電灯を点灯させることが出来、本発明によ
る太陽電池の効果が実証された。
【0134】(実施例2)ダイヤモンド層、n型層、i
型層、p型層を、表6に示す作製条件とした以外は、実
験例1と同様な方法で太陽電池2枚を作製し、これらを
用いて実施例1と同様な充電器を作り、実施例1と同様
に使用したところ、実施例1とほぼ同じ時間、懐中電灯
を点灯させることができ、本発明による太陽電池の効果
が実証された。
型層、p型層を、表6に示す作製条件とした以外は、実
験例1と同様な方法で太陽電池2枚を作製し、これらを
用いて実施例1と同様な充電器を作り、実施例1と同様
に使用したところ、実施例1とほぼ同じ時間、懐中電灯
を点灯させることができ、本発明による太陽電池の効果
が実証された。
【0135】又、ステンレス製基板上に、表8、表9に
示す作成条件で、ダイヤモンド層を1μm、更にn型層
を0.01μm成膜して、結晶性分析用サンプルを作成
し、実験例1と同様に、n型層の結晶性を評価したとこ
ろ、リング状で、アモルフアス(マイクロクリスタルを
含む)であることが判った。
示す作成条件で、ダイヤモンド層を1μm、更にn型層
を0.01μm成膜して、結晶性分析用サンプルを作成
し、実験例1と同様に、n型層の結晶性を評価したとこ
ろ、リング状で、アモルフアス(マイクロクリスタルを
含む)であることが判った。
【0136】更に、ステンレス製基板上に、表8、表9
に示す作成条件で、i型層を0.1μm、更にp型層を
0.005μm成膜して、結晶性分析用サンプルを作成
し、実験例1と同様に、p型層の結晶性を評価したとこ
ろ、リング状で、アモルフアス(マイクロクリスタルを
含む)であることが判った。
に示す作成条件で、i型層を0.1μm、更にp型層を
0.005μm成膜して、結晶性分析用サンプルを作成
し、実験例1と同様に、p型層の結晶性を評価したとこ
ろ、リング状で、アモルフアス(マイクロクリスタルを
含む)であることが判った。
【0137】(実施例3)ダイヤモンド層、n型層、i
型層、p型層を、表10、表11に示す作製条件とした
以外は、実験例1と同様な方法で太陽電池2枚を作製し
、これらを用いて実施例1と同様な充電器を作り、実施
例1と同様に使用したところ、実施例1とほぼ同じ時間
、懐中電灯を点灯させることができ、本発明による太陽
電池の効果が実証された。
型層、p型層を、表10、表11に示す作製条件とした
以外は、実験例1と同様な方法で太陽電池2枚を作製し
、これらを用いて実施例1と同様な充電器を作り、実施
例1と同様に使用したところ、実施例1とほぼ同じ時間
、懐中電灯を点灯させることができ、本発明による太陽
電池の効果が実証された。
【0138】又、ステンレス製基板上に、表7に示す作
成条件で、i型層を0.1μm、更にn型層を0.00
5μm成膜して、結晶性分析用サンプルを作成し、実験
例1と同様に、n型層の結晶性を評価したところ、リン
グ状で、アモルフアス(マイクロクリスタルを含む)で
あることが判った。
成条件で、i型層を0.1μm、更にn型層を0.00
5μm成膜して、結晶性分析用サンプルを作成し、実験
例1と同様に、n型層の結晶性を評価したところ、リン
グ状で、アモルフアス(マイクロクリスタルを含む)で
あることが判った。
【0139】
【0140】
【0141】
【0142】
【0143】
【0144】
【0145】
【0146】
【0147】
【0148】
【0149】
【0150】
【発明の効果】本発明のダイヤモンド層を有する太陽電
池においては、変換効率が向上し、経時的特性劣化が減
少した。その結果、著しく太陽電池の特性が改善された
。
池においては、変換効率が向上し、経時的特性劣化が減
少した。その結果、著しく太陽電池の特性が改善された
。
【0151】また、本発明のダイヤモンド層を有する太
陽電池は、従来の技術による太陽電池よりも製造上の歩
留りが著しく改善された。
陽電池は、従来の技術による太陽電池よりも製造上の歩
留りが著しく改善された。
【図1】本発明の太陽電池の層構成を説明するための模
式的構成図。
式的構成図。
【図2】従来の太陽電池の層構成を説明するための模式
的構成図。
的構成図。
【図3】本発明の太陽電池を作成するための装置の一例
でμWを用いたグロー放電法による製造装置の模式的説
明図。
でμWを用いたグロー放電法による製造装置の模式的説
明図。
【図4】本発明のダイヤモンド層の結晶性及び表面性と
太陽電池の初期特性、熱劣化特性及び応力劣化特性との
関係を示す説明図。
太陽電池の初期特性、熱劣化特性及び応力劣化特性との
関係を示す説明図。
【図5】本発明のダイヤモンド層の暗導電率と初期特性
、熱劣化特性及び応力劣化特性との関係を示す説明図。
、熱劣化特性及び応力劣化特性との関係を示す説明図。
【図6】本発明のダイヤモンド層の暗導電率と初期特性
、熱劣化特性及び応力劣化特性との関係を示す説明図。
、熱劣化特性及び応力劣化特性との関係を示す説明図。
【図7】本発明のダイヤモンド層の層厚と太陽電池の初
期特性、熱劣化特性及び応力劣化特性との関係を示す説
明図。
期特性、熱劣化特性及び応力劣化特性との関係を示す説
明図。
【図8】本発明の太陽電池を用いた充電器の電気回路図
。
。
101 導電性基板
102 ダイヤモンド層
103 n型層(またはp型層)
104 i型層
105 p型層(またはn型層)
106 透明電極
201 導電性基板
202 下部電極
203 n型層(またはp型層)
204 i型層
205 p型層(またはn型層)
206 透明電極
1000 μWグロー放電分解法による成膜装置10
01 堆積室 1002 誘電体窓 1003 ガス導入管 1004 基板 1005 加熱ヒーター 1006 真空計 1007 コンダクタンスバルブ 1008 補助バルブ 1009 リークバルブ 1010 導波部 1011 直流電源 1020 原料ガス供給装置 1021〜1025 マスフローコントローラー10
31〜1035 ガス流入バルブ1041〜1045
ガス流出バルブ1051〜1055 原料ガスボ
ンベのバルブ1061〜1065 圧力調整器 1071〜1075 原料ガスボンベ801 太陽
電池モジュール 802 過充電防止用ダイオード 803 逆流防止ダイオード 804 2次電池
01 堆積室 1002 誘電体窓 1003 ガス導入管 1004 基板 1005 加熱ヒーター 1006 真空計 1007 コンダクタンスバルブ 1008 補助バルブ 1009 リークバルブ 1010 導波部 1011 直流電源 1020 原料ガス供給装置 1021〜1025 マスフローコントローラー10
31〜1035 ガス流入バルブ1041〜1045
ガス流出バルブ1051〜1055 原料ガスボ
ンベのバルブ1061〜1065 圧力調整器 1071〜1075 原料ガスボンベ801 太陽
電池モジュール 802 過充電防止用ダイオード 803 逆流防止ダイオード 804 2次電池
Claims (1)
- 【請求項1】 導電性基板上に、非単結晶Siから成
るp型層、活性層としてのi型層、n型層の各半導体層
を積層して構成される太陽電池において、前記p型層と
n型層の少なくとも一方に炭素原子を含有し、かつ前記
導電性基板と前記半導体層との間に表面に凹凸を有し、
価電子制御剤を含有するダイヤモンド層を積層したこと
を特徴とする太陽電池。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2401935A JP2733384B2 (ja) | 1990-12-13 | 1990-12-13 | 太陽電池 |
| US07/806,347 US5284525A (en) | 1990-12-13 | 1991-12-13 | Solar cell |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2401935A JP2733384B2 (ja) | 1990-12-13 | 1990-12-13 | 太陽電池 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04214680A true JPH04214680A (ja) | 1992-08-05 |
| JP2733384B2 JP2733384B2 (ja) | 1998-03-30 |
Family
ID=18511752
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2401935A Expired - Fee Related JP2733384B2 (ja) | 1990-12-13 | 1990-12-13 | 太陽電池 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2733384B2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6477973A (en) * | 1987-09-19 | 1989-03-23 | Mitsubishi Electric Corp | Photovoltaic device |
| JPH0296382A (ja) * | 1988-09-30 | 1990-04-09 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 半導体装置 |
-
1990
- 1990-12-13 JP JP2401935A patent/JP2733384B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6477973A (en) * | 1987-09-19 | 1989-03-23 | Mitsubishi Electric Corp | Photovoltaic device |
| JPH0296382A (ja) * | 1988-09-30 | 1990-04-09 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 半導体装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2733384B2 (ja) | 1998-03-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |