JPH04214874A - プラズマ装置 - Google Patents
プラズマ装置Info
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- JPH04214874A JPH04214874A JP6407891A JP6407891A JPH04214874A JP H04214874 A JPH04214874 A JP H04214874A JP 6407891 A JP6407891 A JP 6407891A JP 6407891 A JP6407891 A JP 6407891A JP H04214874 A JPH04214874 A JP H04214874A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マイクロ波を用いた電
子サイクロトロン共鳴励起により発生させたプラズマを
利用して試料に対する成膜、或いはエッチングを行うた
めのプラズマ装置に関する。
子サイクロトロン共鳴励起により発生させたプラズマを
利用して試料に対する成膜、或いはエッチングを行うた
めのプラズマ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に高集積半導体装置の製造にはRF
プラズマを用いた反応性イオンエッチング(RIE)
装置やプラズマCVD 装置、或いは電子サイクロトロ
ン共鳴励起(ECR) により生成したプラズマを利用
するCVD 装置が用いられるが、特に電子サイクロト
ロン共鳴励起を利用したプラズマ装置は低ガス圧で活性
度の高いプラズマを生成出来、また大径のプラズマ流を
引き出せることから CVD装置, エッチング装置と
して広く利用されている。図4は従来におけるマイクロ
波を用いた電子サイクロトロン共鳴励起により生成した
プラズマを利用する CVD装置の模式的断面図であり
、図4において、31はプラズマ生成室を示している。 プラズマ生成室31は中空の円筒形に形成され、周囲壁
を2重構造にして冷却水の通流室31a を備え、また
上部壁中央には石英ガラス板31b にて封止したマイ
クロ波導入口31c を、更に下部壁中央には前記マイ
クロ波導入口31c と対向する位置にプラズマ引出窓
31d を夫々備えている。前記マイクロ波導入口31
c には他端を図示しないマイクロ波発振器に接続した
導波管32の一端が接続され、またプラズマ引出窓31
d に臨ませて試料室33を配設し、更に周囲にはプラ
ズマ生成室31及びこれに接続した導波管32の一端部
にわたってこれらを囲繞する態様でこれらと同心状に励
磁コイル34を配設してある。
プラズマを用いた反応性イオンエッチング(RIE)
装置やプラズマCVD 装置、或いは電子サイクロトロ
ン共鳴励起(ECR) により生成したプラズマを利用
するCVD 装置が用いられるが、特に電子サイクロト
ロン共鳴励起を利用したプラズマ装置は低ガス圧で活性
度の高いプラズマを生成出来、また大径のプラズマ流を
引き出せることから CVD装置, エッチング装置と
して広く利用されている。図4は従来におけるマイクロ
波を用いた電子サイクロトロン共鳴励起により生成した
プラズマを利用する CVD装置の模式的断面図であり
、図4において、31はプラズマ生成室を示している。 プラズマ生成室31は中空の円筒形に形成され、周囲壁
を2重構造にして冷却水の通流室31a を備え、また
上部壁中央には石英ガラス板31b にて封止したマイ
クロ波導入口31c を、更に下部壁中央には前記マイ
クロ波導入口31c と対向する位置にプラズマ引出窓
31d を夫々備えている。前記マイクロ波導入口31
c には他端を図示しないマイクロ波発振器に接続した
導波管32の一端が接続され、またプラズマ引出窓31
d に臨ませて試料室33を配設し、更に周囲にはプラ
ズマ生成室31及びこれに接続した導波管32の一端部
にわたってこれらを囲繞する態様でこれらと同心状に励
磁コイル34を配設してある。
【0003】試料室33内には前記プラズマ引出窓31
d と対向する位置に試料台35が配設され、その上に
はウェーハ等の試料Sがそのまま、又は静電吸着等の手
段にて着脱可能に載置され、また試料室33の下部壁に
は図示しない排気装置に連なる排気口33a が開口さ
れている。36はプラズマ生成室31に連なるガス供給
系、37a,37b は冷却水の給水系, 排水系であ
る。而してこのようなプラズマ装置にあってはプラズマ
生成室31, 試料室33内を所定の真空度に設定した
後、プラズマ生成室32内にガス供給系36を通じて種
ガスを供給し、励磁コイル34にて磁界を形成しつつマ
イクロ波導入口31c を通じてプラズマ生成室31内
にマイクロ波を導入し、プラズマ生成室31を空洞共振
器として種ガスを共鳴励起し、プラズマを生成させる。 生成したプラズマは励磁コイル34にて形成された試料
室33側に向かうに従い磁束密度が低下する発散磁界に
よって試料室33内の試料S周辺に投射せしめられ、試
料S表面でプラズマ流中のイオン、ラジカル粒子による
表面反応を生起させて成膜処理を施すようになっている
(特開昭57−133636 号公報)。
d と対向する位置に試料台35が配設され、その上に
はウェーハ等の試料Sがそのまま、又は静電吸着等の手
段にて着脱可能に載置され、また試料室33の下部壁に
は図示しない排気装置に連なる排気口33a が開口さ
れている。36はプラズマ生成室31に連なるガス供給
系、37a,37b は冷却水の給水系, 排水系であ
る。而してこのようなプラズマ装置にあってはプラズマ
生成室31, 試料室33内を所定の真空度に設定した
後、プラズマ生成室32内にガス供給系36を通じて種
ガスを供給し、励磁コイル34にて磁界を形成しつつマ
イクロ波導入口31c を通じてプラズマ生成室31内
にマイクロ波を導入し、プラズマ生成室31を空洞共振
器として種ガスを共鳴励起し、プラズマを生成させる。 生成したプラズマは励磁コイル34にて形成された試料
室33側に向かうに従い磁束密度が低下する発散磁界に
よって試料室33内の試料S周辺に投射せしめられ、試
料S表面でプラズマ流中のイオン、ラジカル粒子による
表面反応を生起させて成膜処理を施すようになっている
(特開昭57−133636 号公報)。
【0004】ところでこのような装置にあってはプラズ
マ生成室31内で生成されたプラズマを発散磁界によっ
て試料室33内の試料S上に導くこととしているが、プ
ラズマ生成室内で生成されたプラズマは均一ではなく、
従って磁力線に沿って移動されるプラズマも不均一とな
り、今後一層大径化,異形化すると予測されるウェーハ
等の試料に対して均一な処理を施すことは難しいという
問題があった。図5は他の従来装置を示す模式図であり
、ベルジャ型をなす反応器41における上部の半球型を
なす頂部外周にホーン型をなす導波管42の一端部を外
嵌すると共に、導波管42の他端部にマイクロ波発振器
49を設け、また反応器41の頂部外周及びこれに外嵌
した導波管42の端部外周にわたって、励磁コイル44
,45 を同心状に配設し、更に反応器41内には電源
Eによりバイアス電圧を印加可能とした載置台46を設
け、該載置台46上に試料Sを載置させるようにしてあ
る。47,48は反応器の側壁に接続したガス供給管,
排気管である。
マ生成室31内で生成されたプラズマを発散磁界によっ
て試料室33内の試料S上に導くこととしているが、プ
ラズマ生成室内で生成されたプラズマは均一ではなく、
従って磁力線に沿って移動されるプラズマも不均一とな
り、今後一層大径化,異形化すると予測されるウェーハ
等の試料に対して均一な処理を施すことは難しいという
問題があった。図5は他の従来装置を示す模式図であり
、ベルジャ型をなす反応器41における上部の半球型を
なす頂部外周にホーン型をなす導波管42の一端部を外
嵌すると共に、導波管42の他端部にマイクロ波発振器
49を設け、また反応器41の頂部外周及びこれに外嵌
した導波管42の端部外周にわたって、励磁コイル44
,45 を同心状に配設し、更に反応器41内には電源
Eによりバイアス電圧を印加可能とした載置台46を設
け、該載置台46上に試料Sを載置させるようにしてあ
る。47,48は反応器の側壁に接続したガス供給管,
排気管である。
【0005】而してこのような従来装置にあっては反応
器41内を排気して所定の真空度に設定し、ガス供給管
47を通じて反応器41内にガスを供給しつつ導波管4
2を通じて電界を、また励磁コイル44,45 を用い
て磁界を印加し、反応器41内にプラズマを生成させ、
試料Sに対する成膜, エッチング等を行うようになっ
ている。このような装置は反応器41内で生成させたプ
ラズマを同じ反応器41内に配した試料Sに導く構造と
なっているため、プラズマ生成域の面積を拡大すると励
磁コイル44,45 を含めて装置全体が3次元的に大
きくなり、しかもプラズマ発生中プラズマ生成域でマイ
クロ波の高次モードが多く発生してマイクロ波の制御が
困難となり、同様に均一処理が難しいという難点があっ
た。
器41内を排気して所定の真空度に設定し、ガス供給管
47を通じて反応器41内にガスを供給しつつ導波管4
2を通じて電界を、また励磁コイル44,45 を用い
て磁界を印加し、反応器41内にプラズマを生成させ、
試料Sに対する成膜, エッチング等を行うようになっ
ている。このような装置は反応器41内で生成させたプ
ラズマを同じ反応器41内に配した試料Sに導く構造と
なっているため、プラズマ生成域の面積を拡大すると励
磁コイル44,45 を含めて装置全体が3次元的に大
きくなり、しかもプラズマ発生中プラズマ生成域でマイ
クロ波の高次モードが多く発生してマイクロ波の制御が
困難となり、同様に均一処理が難しいという難点があっ
た。
【0006】この対策としてマイクロ波を用いて大面積
に均一なプラズマを生成出来る図6に示す如きプラズマ
処理装置が提案されている(特開昭62−5600 号
公報)。 図6は従来の更に他のプラズマ処理装置を示す模式的断
面図であり、金属製容器51内を誘電損失の小さい耐熱
性板52にて上, 下に仕切り、上部室53の天井壁内
面にマイクロ波導波路を形成すべく誘電体層55を設け
て誘電体線路を形成し、その一端部を導波管56を介し
てマイクロ波発振器57に連結する。一方、下部室54
はプラズマ生成室として構成され、その周壁にガス導入
管58, 排気管59を連結すると共に、底部に試料S
を載置するようにしてある。60は試料加熱用のヒータ
である。而してこのような装置にあってはプラズマ生成
室54内に試料Sを収容し、内部を所定の真空度に設定
した後、試料Sをヒータ60にて所定温度に加熱しつつ
、ガス導入管58を通じてガスを導入し、またマイクロ
波発振器57から発生させたマイクロ波を導波管56,
誘電体層55を通じて上部室53、更には下部室54
内に導入し、下部室54内にマイクロ波プラズマを生成
させ、試料S表面に対する処理を行うようになっている
。
に均一なプラズマを生成出来る図6に示す如きプラズマ
処理装置が提案されている(特開昭62−5600 号
公報)。 図6は従来の更に他のプラズマ処理装置を示す模式的断
面図であり、金属製容器51内を誘電損失の小さい耐熱
性板52にて上, 下に仕切り、上部室53の天井壁内
面にマイクロ波導波路を形成すべく誘電体層55を設け
て誘電体線路を形成し、その一端部を導波管56を介し
てマイクロ波発振器57に連結する。一方、下部室54
はプラズマ生成室として構成され、その周壁にガス導入
管58, 排気管59を連結すると共に、底部に試料S
を載置するようにしてある。60は試料加熱用のヒータ
である。而してこのような装置にあってはプラズマ生成
室54内に試料Sを収容し、内部を所定の真空度に設定
した後、試料Sをヒータ60にて所定温度に加熱しつつ
、ガス導入管58を通じてガスを導入し、またマイクロ
波発振器57から発生させたマイクロ波を導波管56,
誘電体層55を通じて上部室53、更には下部室54
内に導入し、下部室54内にマイクロ波プラズマを生成
させ、試料S表面に対する処理を行うようになっている
。
【0007】一般に図6に示す如き誘電体線路を用いる
プラズマ装置の構造を模式化して示すと図7に示す如く
になる。図7(a) は誘電体線路を用いるプラズマ装
置の原理説明図であり、例えば図7(a),図7(b)
に示す如くマイクロ波の進行方向をz軸方向、これと
直交する反応器41側をx軸方向とすると、誘電体線路
内を伝送されるマイクロ波の基本モードはTMモードで
あるから、その電界にはz軸方向成分Ez , x軸方
向成分Ex が夫々存在する。従ってこのような装置に
ついてz軸方向,x軸方向のいずれの方向に磁場を加え
てもECR プラズマ生成条件を成立させることが可能
となる。ただ図7(a) に示す如くz軸方向に磁場を
加えたときに所定の ECR条件が成立するのは等磁場
面MSにおいてのみであるから、プラズマ発生域内の一
部分でのみしか ECRプラズマが発生せず、プラズマ
の生成が試料に対して不均一となることを免れ得ない。 そこで図7(b) に示す如くマイクロ波プラズマに代
えて ECRプラズマを生成させるべくx軸方向に磁場
を加えることで試料Sの処理面と対向する略全面にわた
って ECR条件を満たす等磁場面MSを形成出来るこ
ととなり、大面積にわたり均一にプラズマを生成せしめ
得、大面積の試料Sも均一に処理することが可能となる
。
プラズマ装置の構造を模式化して示すと図7に示す如く
になる。図7(a) は誘電体線路を用いるプラズマ装
置の原理説明図であり、例えば図7(a),図7(b)
に示す如くマイクロ波の進行方向をz軸方向、これと
直交する反応器41側をx軸方向とすると、誘電体線路
内を伝送されるマイクロ波の基本モードはTMモードで
あるから、その電界にはz軸方向成分Ez , x軸方
向成分Ex が夫々存在する。従ってこのような装置に
ついてz軸方向,x軸方向のいずれの方向に磁場を加え
てもECR プラズマ生成条件を成立させることが可能
となる。ただ図7(a) に示す如くz軸方向に磁場を
加えたときに所定の ECR条件が成立するのは等磁場
面MSにおいてのみであるから、プラズマ発生域内の一
部分でのみしか ECRプラズマが発生せず、プラズマ
の生成が試料に対して不均一となることを免れ得ない。 そこで図7(b) に示す如くマイクロ波プラズマに代
えて ECRプラズマを生成させるべくx軸方向に磁場
を加えることで試料Sの処理面と対向する略全面にわた
って ECR条件を満たす等磁場面MSを形成出来るこ
ととなり、大面積にわたり均一にプラズマを生成せしめ
得、大面積の試料Sも均一に処理することが可能となる
。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところでこのような従
来装置にあってはLSI の微細化に伴い、マイクロロ
ーディング効果を抑制し、異方性エッチングを行う場合
、プラズマ生成室内の圧力を10−3Torr以下に設
定することが必要とされるものの、この領域では活性度
の高いプラズマを生成させるのが難しく、またプラズマ
流の制御も難しいという問題があった。本発明はかかる
事情に鑑みてなされたものであって、その目的とすると
ころは、電子サイクロトロン共鳴励起によりプラズマを
大面積にわたって均一に発生させ得、プラズマ流の制御
性も良く、その上装置全体を小嵩になし得るようにした
プラズマ装置を提供するにある。
来装置にあってはLSI の微細化に伴い、マイクロロ
ーディング効果を抑制し、異方性エッチングを行う場合
、プラズマ生成室内の圧力を10−3Torr以下に設
定することが必要とされるものの、この領域では活性度
の高いプラズマを生成させるのが難しく、またプラズマ
流の制御も難しいという問題があった。本発明はかかる
事情に鑑みてなされたものであって、その目的とすると
ころは、電子サイクロトロン共鳴励起によりプラズマを
大面積にわたって均一に発生させ得、プラズマ流の制御
性も良く、その上装置全体を小嵩になし得るようにした
プラズマ装置を提供するにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】第1の発明に係るプラズ
マ装置は、一側端がマイクロ波を透過する耐熱性板で気
密に封止された内部に試料を配置する金属製容器と、該
耐熱製板に対向し、マイクロ波導波路を形成すべく配置
された誘電体層と、一端が前記誘電体層に連結され、他
端がマイクロ波発振器に連結された導波管と、前記金属
製容器内に電子サイクロトロン共鳴励起によりプラズマ
を生成させるべく前記誘電体層の外側に設けた磁場発生
手段を具備することを特徴とする。第2の発明に係るプ
ラズマ装置は、前記金属製容器の周囲に他の磁場発生手
段を備えることを特徴とする。
マ装置は、一側端がマイクロ波を透過する耐熱性板で気
密に封止された内部に試料を配置する金属製容器と、該
耐熱製板に対向し、マイクロ波導波路を形成すべく配置
された誘電体層と、一端が前記誘電体層に連結され、他
端がマイクロ波発振器に連結された導波管と、前記金属
製容器内に電子サイクロトロン共鳴励起によりプラズマ
を生成させるべく前記誘電体層の外側に設けた磁場発生
手段を具備することを特徴とする。第2の発明に係るプ
ラズマ装置は、前記金属製容器の周囲に他の磁場発生手
段を備えることを特徴とする。
【0010】
【作用】本発明にあってはこれによって、試料表面に対
して平行な向きの等磁場面を持つ磁場を印加することが
可能となり、プラズマを均一に生成させ得ると共に、均
一な密度で試料表面に誘導出来、試料に対する均一な処
理が可能となる。
して平行な向きの等磁場面を持つ磁場を印加することが
可能となり、プラズマを均一に生成させ得ると共に、均
一な密度で試料表面に誘導出来、試料に対する均一な処
理が可能となる。
【0011】
【実施例】以下本発明をその実施例を示す図面に基づき
具体的に説明する。 (実施例1) 図1は本発明に係るプラズマ装置の模式的断面図であり
、図中1は中空直方体形の反応器であって上部壁を除く
全体が金属製であり、特に周囲壁は二重構造であって内
部に冷却水用の通流室1aを備えている。反応器1の上
部壁はマイクロ波の透過が可能であって、しかも誘電損
失が小さい耐熱性板2、例えば石英ガラス,硼硅酸耐熱
ガラス等にて気密状態に封止されている。反応器1の内
部には図示しない試料台上に試料Sが配設されるように
してあり、またその周壁にはこれを貫通してガス供給管
3が、更に底壁には排気管4が夫々連結されている。
具体的に説明する。 (実施例1) 図1は本発明に係るプラズマ装置の模式的断面図であり
、図中1は中空直方体形の反応器であって上部壁を除く
全体が金属製であり、特に周囲壁は二重構造であって内
部に冷却水用の通流室1aを備えている。反応器1の上
部壁はマイクロ波の透過が可能であって、しかも誘電損
失が小さい耐熱性板2、例えば石英ガラス,硼硅酸耐熱
ガラス等にて気密状態に封止されている。反応器1の内
部には図示しない試料台上に試料Sが配設されるように
してあり、またその周壁にはこれを貫通してガス供給管
3が、更に底壁には排気管4が夫々連結されている。
【0012】耐熱性板2の上方には、耐熱性板2との間
に所要の空間を隔てて反応器1の上面を覆い得る大きさ
の、例えばアルミニウム板等の導電性板5と、その下面
に貼付させた誘電損失の小さい、例えばフッ素,ポリス
チレン,ポリエチレン樹脂製の誘電体層6とを積層した
状態で配置してマイクロ導波路である誘電体線路7が形
成されている。誘電体線路7の側部には導波管8を介し
てマイクロ波発振器9が連結されており、マイクロ波発
振器9から発振されたマイクロ波は導波管8、誘電体線
路7を経て反応器1の内部に導入され、ここに電界が形
成されるようになっている。そして前記誘電体線路7の
上方には、磁場発生手段として、中心部に鉄心10を配
した励磁コイル11が、その磁力線の向きを誘電体線路
7によるマイクロ波の伝播方向と直交する方向、具体的
には垂直方向に向けた状態で配設されている。
に所要の空間を隔てて反応器1の上面を覆い得る大きさ
の、例えばアルミニウム板等の導電性板5と、その下面
に貼付させた誘電損失の小さい、例えばフッ素,ポリス
チレン,ポリエチレン樹脂製の誘電体層6とを積層した
状態で配置してマイクロ導波路である誘電体線路7が形
成されている。誘電体線路7の側部には導波管8を介し
てマイクロ波発振器9が連結されており、マイクロ波発
振器9から発振されたマイクロ波は導波管8、誘電体線
路7を経て反応器1の内部に導入され、ここに電界が形
成されるようになっている。そして前記誘電体線路7の
上方には、磁場発生手段として、中心部に鉄心10を配
した励磁コイル11が、その磁力線の向きを誘電体線路
7によるマイクロ波の伝播方向と直交する方向、具体的
には垂直方向に向けた状態で配設されている。
【0013】而してこのような本発明装置にあっては、
反応器1の載置台上に試料Sを載置し、反応器1内のガ
スを排気して反応器1内を所定の真空度に設定した後、
ガス供給管4からガスを供給し、同時にマイクロ波発振
器9から導波管8、誘電体線路7を介してマイクロ波を
導入して電界を、また励磁コイル11に通電して等磁場
面が試料Sの処理面と略平行な向きとなる磁場を夫々反
応器1内に形成する。これによって反応器1内にはプラ
ズマ生成条件が成立し、試料Sの処理面の全域にわたっ
てプラズマが均一に生成され、試料Sの表面に向けて移
動し、試料S表面に対する成膜,或いはエッチング等の
処理が施されることとなる。なお、励磁コイル11には
鉄心10を設けなくてもよいことは勿論である。
反応器1の載置台上に試料Sを載置し、反応器1内のガ
スを排気して反応器1内を所定の真空度に設定した後、
ガス供給管4からガスを供給し、同時にマイクロ波発振
器9から導波管8、誘電体線路7を介してマイクロ波を
導入して電界を、また励磁コイル11に通電して等磁場
面が試料Sの処理面と略平行な向きとなる磁場を夫々反
応器1内に形成する。これによって反応器1内にはプラ
ズマ生成条件が成立し、試料Sの処理面の全域にわたっ
てプラズマが均一に生成され、試料Sの表面に向けて移
動し、試料S表面に対する成膜,或いはエッチング等の
処理が施されることとなる。なお、励磁コイル11には
鉄心10を設けなくてもよいことは勿論である。
【0014】(実施例2)
図2は本発明の他の実施例を示す模式的断面図であり、
この実施例にあっては図1に示す実施例1の励磁コイル
11に比較してこれよりも小さい複数の励磁コイル12
を夫々磁力線の方向が誘電体線路7中のマイクロ波伝播
方向と直交する方向であって、等磁場面が図7(b)
に示す如く試料Sの処理面と略平行となるよう配設され
ている。 13はコイル12の中心に配した鉄心である。他の構成
は図1に示す実施例1と実質的に同じであり、対応する
部分には同じ番号を付して説明を省略する。このような
実施例2にあっては励磁コイル12の数を増すことによ
って ECRプラズマ発生面積を適宜に設定することが
可能となる。なお励磁コイル12の形状については特に
円形に限るものではなく、矩形, 棒状等としてもよい
。またコイルに代えて永久磁石を用いてもよいことは勿
論である。また、反応器1の内径に対する励磁コイル1
2の径等の大きさはコイルの巻数、コイルの厚さ、鉄心
の有無等の条件で変わるので夫々の装置に応じて設定す
る。
この実施例にあっては図1に示す実施例1の励磁コイル
11に比較してこれよりも小さい複数の励磁コイル12
を夫々磁力線の方向が誘電体線路7中のマイクロ波伝播
方向と直交する方向であって、等磁場面が図7(b)
に示す如く試料Sの処理面と略平行となるよう配設され
ている。 13はコイル12の中心に配した鉄心である。他の構成
は図1に示す実施例1と実質的に同じであり、対応する
部分には同じ番号を付して説明を省略する。このような
実施例2にあっては励磁コイル12の数を増すことによ
って ECRプラズマ発生面積を適宜に設定することが
可能となる。なお励磁コイル12の形状については特に
円形に限るものではなく、矩形, 棒状等としてもよい
。またコイルに代えて永久磁石を用いてもよいことは勿
論である。また、反応器1の内径に対する励磁コイル1
2の径等の大きさはコイルの巻数、コイルの厚さ、鉄心
の有無等の条件で変わるので夫々の装置に応じて設定す
る。
【0015】(実施例3)
図3は本発明の更に他の実施例を示す模式的断面図であ
る。この実施例3では反応器21は同じく中空直方体形
をなす金属製容器として構成されているが、試料Sの配
置してある位置よりも上方の部分の断面積を縮小し、こ
の縮小した部分の周囲壁にのみ冷却水用の通流室21a
を設け、またこの部分の周囲及びその上に配した耐熱
性板2の周囲にわたって第2の磁気発生手段たる励磁コ
イル14を励磁コイル11と略同心に配設してある。他
の構成は実施例1,2と実質的に同じであり、対応する
部分には同じ番号を付して説明を省略する。
る。この実施例3では反応器21は同じく中空直方体形
をなす金属製容器として構成されているが、試料Sの配
置してある位置よりも上方の部分の断面積を縮小し、こ
の縮小した部分の周囲壁にのみ冷却水用の通流室21a
を設け、またこの部分の周囲及びその上に配した耐熱
性板2の周囲にわたって第2の磁気発生手段たる励磁コ
イル14を励磁コイル11と略同心に配設してある。他
の構成は実施例1,2と実質的に同じであり、対応する
部分には同じ番号を付して説明を省略する。
【0016】而してこのような実施例3にあっては、励
磁コイル14を試料Sの配置位置により接近させ得るこ
ととなり、励磁コイル11を大きくするよりも、小嵩で
効率的に磁場の形成が可能となる。しかも励磁コイル1
4は試料Sの配置位置よりも上方に配設されているから
反応器21内には磁場強度が試料S側に向けて単調減少
するよう形成出来て、プラズマ流の逆流等を招くことが
なく、プラズマに対するより精細な制御が可能となる。 励磁コイル14の設置位置については特に上記した態様
にのみ限定するものではないが、図7(b) に示す如
き、磁場を形成するためにはその下端部は試料Sの配置
位置よりも上方に位置させるのが望ましい。なお、本発
明の装置は試料面を水平にして用いる必要はなく、試料
が垂直になるように装置全体を例えば90゜回転させた
状態でも用いることができる。
磁コイル14を試料Sの配置位置により接近させ得るこ
ととなり、励磁コイル11を大きくするよりも、小嵩で
効率的に磁場の形成が可能となる。しかも励磁コイル1
4は試料Sの配置位置よりも上方に配設されているから
反応器21内には磁場強度が試料S側に向けて単調減少
するよう形成出来て、プラズマ流の逆流等を招くことが
なく、プラズマに対するより精細な制御が可能となる。 励磁コイル14の設置位置については特に上記した態様
にのみ限定するものではないが、図7(b) に示す如
き、磁場を形成するためにはその下端部は試料Sの配置
位置よりも上方に位置させるのが望ましい。なお、本発
明の装置は試料面を水平にして用いる必要はなく、試料
が垂直になるように装置全体を例えば90゜回転させた
状態でも用いることができる。
【0017】(試験例1)
図1,図3に示す如きプラズマ装置を夫々用い、各装置
中の誘電体線路7としてマイクロ波進行方向の長さ 5
00mm, 幅250 mm, 厚さ20mmとしたフ
ッ素樹脂製の誘電体層6を用い、また誘電体層6から耐
熱性板2迄の距離は20mmとした。このような本発明
装置を用いて直径8″のSiウェーハを反応器1内にセ
ットし、反応器1内を所定の真空度にして反応器1内に
N2 , SiH4 を導入し、励磁コイル14を用い
て反応器1内に 875 Gaussの磁場を形成し、
電子サイクロトロン共鳴励起によってプラズマを生成さ
せ、試料S表面にSiN膜を形成した。形成されたSi
N膜厚はいずれの装置を用いた場合も均一で、しかも均
質であることが確認された。
中の誘電体線路7としてマイクロ波進行方向の長さ 5
00mm, 幅250 mm, 厚さ20mmとしたフ
ッ素樹脂製の誘電体層6を用い、また誘電体層6から耐
熱性板2迄の距離は20mmとした。このような本発明
装置を用いて直径8″のSiウェーハを反応器1内にセ
ットし、反応器1内を所定の真空度にして反応器1内に
N2 , SiH4 を導入し、励磁コイル14を用い
て反応器1内に 875 Gaussの磁場を形成し、
電子サイクロトロン共鳴励起によってプラズマを生成さ
せ、試料S表面にSiN膜を形成した。形成されたSi
N膜厚はいずれの装置を用いた場合も均一で、しかも均
質であることが確認された。
【0018】
【発明の効果】以上の如く本発明装置にあっては広い面
積にわたって均一で活性度の高いプラズマが得られ、し
かも従来は 200〜300 ℃程度の加熱を必要とし
ていた試料の加熱が不要となり、装置全体の構成が簡略
化され、高品質の成膜, 或いはエッチングが可能とな
るなど本発明は優れた効果を奏するものである。
積にわたって均一で活性度の高いプラズマが得られ、し
かも従来は 200〜300 ℃程度の加熱を必要とし
ていた試料の加熱が不要となり、装置全体の構成が簡略
化され、高品質の成膜, 或いはエッチングが可能とな
るなど本発明は優れた効果を奏するものである。
【図1】本発明にかかるプラズマ装置の模式的断面図で
ある。
ある。
【図2】本発明の他の実施例を示す模式的断面図である
。
。
【図3】本発明の更に他の実施例を示す模式的断面図で
ある。
ある。
【図4】従来装置の模式的断面図である。
【図5】従来装置の模式的断面図である。
【図6】従来装置の模式的断面図である。
【図7】誘電体線路を用いるECR プラズマ装置の原
理説明図である。
理説明図である。
1 反応器
1a 通流室
2 耐熱性板
3 ガス供給管
5 導電性板
6 誘電体層
7 誘電体線路
8 導波管
9 マイクロ波発振器
10 鉄心
11 励磁コイル
12 励磁コイル
14 励磁コイル
21 反応器
Claims (2)
- 【請求項1】 一側端がマイクロ波を透過する耐熱性
板で気密に封止された内部に試料を配置する金属製容器
と、該耐熱製板に対向し、マイクロ波導波路を形成すべ
く配置された誘電体層と、一端が前記誘電体層に連結さ
れ、他端がマイクロ波発振器に連結された導波管と、前
記金属製容器内に電子サイクロトロン共鳴励起によりプ
ラズマを生成させるべく前記誘電体層の外側に設けた磁
場発生手段を具備することを特徴とするプラズマ装置。 - 【請求項2】 前記金属製容器の周囲に他の磁場発生
手段を備える請求項1記載のプラズマ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6407891A JPH04214874A (ja) | 1990-03-08 | 1991-03-04 | プラズマ装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2-57804 | 1990-03-08 | ||
| JP5780490 | 1990-03-08 | ||
| JP6407891A JPH04214874A (ja) | 1990-03-08 | 1991-03-04 | プラズマ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04214874A true JPH04214874A (ja) | 1992-08-05 |
Family
ID=26398878
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6407891A Pending JPH04214874A (ja) | 1990-03-08 | 1991-03-04 | プラズマ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04214874A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06112138A (ja) * | 1992-09-30 | 1994-04-22 | Sumitomo Metal Ind Ltd | マイクロ波プラズマ処理装置 |
-
1991
- 1991-03-04 JP JP6407891A patent/JPH04214874A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06112138A (ja) * | 1992-09-30 | 1994-04-22 | Sumitomo Metal Ind Ltd | マイクロ波プラズマ処理装置 |
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