JPH0421776A - 絶縁皮膜形成装置 - Google Patents

絶縁皮膜形成装置

Info

Publication number
JPH0421776A
JPH0421776A JP12300390A JP12300390A JPH0421776A JP H0421776 A JPH0421776 A JP H0421776A JP 12300390 A JP12300390 A JP 12300390A JP 12300390 A JP12300390 A JP 12300390A JP H0421776 A JPH0421776 A JP H0421776A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
source
base material
boron nitride
insulating film
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12300390A
Other languages
English (en)
Inventor
Shoji Morita
章二 森田
Tetsuyoshi Wada
哲義 和田
Nobuki Yamashita
信樹 山下
Makoto Ogawa
真 小川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority to JP12300390A priority Critical patent/JPH0421776A/ja
Publication of JPH0421776A publication Critical patent/JPH0421776A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用公費〉 本発明は、高純度の立方晶窒化硼素、窒化チタン、ダイ
ヤモンドなどの絶縁皮膜を形成することができる絶縁皮
膜形成装置に関する。
〈従来の技術〉 従来より、窒化′@素を製作する方法として、物理的蒸
着(PVD )法及び化学的蒸着(CVD )法が知ら
れている。PVD法はイオンを利用する蒸着であり、C
VD法はプラズマ等を利用する蒸着である。例えばCV
D法では、ハロゲン化硼素苦しく(よジボラン(Bよ)
(8)などの理化物と窒素(N2)若しくはアンモニア
(NH:、 )とをチャンバ内に導入し、これらの原料
ガスを熱励起あるいはプラズマ等の手段を用いて分解・
励起してこれを基材上に堆積させろ方法である。
しかし、これらの方法で形成される窒化硼素膜は何れも
軟質の六方晶窒化硼素から構成されており、立方晶窒化
硼素の結晶粒はほとんど含まれていない。
そこで、高硬度の窒化硼素膜を得るために、金属硼素(
B)の蒸着と、窒素及び希ガスの混合イオン照射とを併
用する方法が提案されている。かかる方法により窒化硼
素膜を形成する装置を第4図に示す。同図中、1はチャ
ンバであり、その排気口2は図示しない真空源に連通し
ている。チャンバ1の上部には天井に取付けられている
基材ホルダ3が設けられており、この基材ホルダ3には
基材4が保持されるようになっている。一方、基材4に
相対向するように設置されているイオン源Sは、例えば
マイクロ波放電型イオン源でありガス導入管6から供給
されるガスをイオン化して上記基材4に向けて混合イオ
ン7を照射するものである。また、チャンバ1の下部、
基材ホルダ3の下方に配置されている蒸発源8は、例え
ば電子ビーム蒸発源であって、その中に保持される蒸発
材料9を蒸発させるものであり、蒸発された材料蒸気1
0は基材4上に蒸着される。
との装置を用いた窒化硼素膜を形成するには、まず、例
えば膜厚3μmの窒化チタン(TiN)を形成した超硬
合金からなる基材3を基材ホルダ2に取付けた後、チャ
ンバ1内を図示しない真空源によって予備排気する。
次に、蒸発源8に設置した金属硼素(B)からなる蒸発
材料9を蒸発させると共に、イオン源5に供給された窒
素(N2)及び希ガスをイオン化してその混合イオン7
を基材4に照射することにより、基材4上に窒化硼素膜
を形成する。
〈発明が解決しようとする課題〉 前述したように金属′@素の蒸着と、窒素及び希ガスの
混合イオン照射とを併用する方法では、イオンが有する
高い運動エネルギー及び化学的活性度を利用するため、
硬質の立方晶窒化硼素を多く含有する窒化硼素膜を形成
することが可能である。
しかし、立方晶窒化硼素は電気絶縁性が高いため、膜成
長と共に膜表面に正の電荷が帯電し、イオンが減速され
てイオンの連動エネルギーを十分に利用できないという
問題がある。したがって、この方法では、立方晶窒化硼
素を多く含有し且つ厚さ約1μm以上の窒化硼素膜を得
ることはできない。
本発明はこのような事情に鑑み、硬質の立方晶窒化硼素
の結晶粒を多く含有して熱伝導性及び電気絶縁性に優れ
且つ厚さ1μm以上の窒化硼素膜などを形成することが
できる絶縁皮膜形成装置を提供することを目的とする。
く課題を解決するための手段〉 前記目的を達成する絶縁皮膜形成装置ζよ、真空チャン
バ内に設置された基材表面に絶縁皮撲を形成する装置で
あって、蒸発源と、上記基材表面に向けてイオンを照射
するイオン源と、上記基材表面に向けて電子を照射する
電子源とを具備したことを特徴とする。
く作   用〉 前記構成の装置を用いて例えば窒化硼素膜を形成するに
は、蒸発源により金属硼素(B)を蒸発させて基材表面
に蒸着すると同時に、イオン源によゆ窒素及び希ガスを
イオン化してその混合イオンを基材に照射を行う。これ
により、基材上に立方晶窒化硼素の結晶粒を多く含有す
る窒化硼素膜が形成されろ。また、この基材に対して電
子源により電子照射を同時に行う。これにより、基材表
面で成長する窒化硼素膜表面の正の電荷の帯電が緩和さ
れろ。この結果、膜成長中に、常に安定したエネルギー
を有する混合イオンを基材に供給でき、硬質の立方晶窒
化硼素を多く含有し且つ1μmJJ上の厚さを有する窒
化硼T:罠をも形成できろ。
く実 施 例〉 息下、本発明を実施例に基づいて352明する。
第1図には一実施例に係る絶縁皮膜形成装置を概念的に
示すが、第4図と同一作用を示す部材には同一符号を付
しである。すなわち、同図中、1は真空を保持すること
ができろステンレス製のチャンバ、2は図示しない真空
源に連結されろ排気口、3は基材ホルダ、4は基材、5
はイオン源、6はイオン源5ヘガスを供給するためのガ
ス導入管、7はイオン源5から照射されろ混合ガス、8
は蒸発源、9は蒸発材料、10は蒸発源8により蒸発材
料9が蒸発して発生する材料蒸気である。
そして、本装置は、上記基材4に対して電子を照射する
ための電子発生源11を有しており、さらに、基材4へ
の材料蒸気10の蒸着量を測定するための膜厚モニタ1
2及び基材4を加熱するためのランプヒータ13を具備
している。
次に、かかる絶縁皮膜形成装置を用いて窒化硼素膜を形
成した例について説明する。なお、本実施例では、超硬
合金上にイオンブレーティング法により厚さ3μmの窒
化チタン(TiN)を被覆したものを基材4として用い
た。
まず、かかる基材4をアセント中で超音波洗浄して表面
を清浄化した後、基材ホルダ3へ取付け、チャンバ1内
を2.OX 10  torrす下に排気する。次いで
、ランプヒータ13により基材4を所定の温度に加熱す
る。本実施例では、基材4の温度が300℃になるよう
にランプ辷−夕13の出力をant、た。
続いて、ガス導入管6から窒素(N2)及び希ガスをイ
オン源5へ導入してイオン化し、混合イオン7を基材4
へ照射する。本実施例では希ガスとしてアルゴン(Ar
)を用い、N2とArとの混合比はN236%−Ar 
64%(体積比)とした。また、混合ガスの流量は3 
secmに設定した。なお、このとき、チャンバ1内の
圧力は1.OX 10  tarrであった。
そして、窒化硼素膜を形成する前に基材4の表面を清浄
化するため、混合イオン7のみを照射し、基材4の表面
をエツチングした。
なお、照射条件は、加速電圧3 KV、イオン電流(基
材ホルダ3でモニターした値)23mA、照射時間3分
とした。
次に、蒸発源8から蒸発材料9としての金属硼素(B:
純度99.9%)をg5@させ、混合イオン7と共に材
料蒸気10を基材4へ供給した。また、硼素の蒸発速度
は膜厚モニタ12により常時モニターした。
本実施例では、基材4と形成されろ窒化硼素膜との密着
性を向上させるため、イオン加速電圧及び硼素蒸発速度
を第2図に示すように順次変化させて、窒化チタンと窒
化硼素との混合組成を有するミキシング層を形成した。
その後、立方晶窒化@素の生成条件(イオン加速電圧0
.5KV、イオン電−流14mA、[未蒸発速度0.4
人/、q)にて25時間、成膜を行った。
さらに、厚さ約1μmの窒化硼素膜が形成した時点で、
電子発生[11を駆動させ、硼素蒸着及び混合イオン7
の照射と同時に膜表面に対して電子を照射してそのチャ
ージアップを防止した。
このようにして基材4上に窒化硼素膜14が形成された
。なお、基材ホルダ3上に基材4と共に別途単結晶シリ
コン基材を設置しておき、同様に窒化硼素膜の形成を行
った。
第3図は単結晶シリコン基材上に形成された窒化硼素被
膜の赤外吸収スペクトルである。
1100■−゛付近に立方晶窒化硼素に固有の極めて強
い吸収が認められるのに対し、1400−゛及び800
 an−’付近の六方晶窒化硼素に固有の吸収ピークは
非常に弱いことが認められた。
また、電子線回折装置による電子線回折装置形からも形
成した膜は立方晶窒化硼素の多結晶体であることが確認
された。
一方、形成された窒化taI素膜14について微小硬度
計で硬度を測定したところ、荷重10g ニ対し、ビッ
カース硬度4.800 kg / m2であった。
さらに形成した膜の断面を走査型電子顕微鏡で観察した
結果、膜は極めて緻密であり、膜厚は約8μmであるこ
とがわかった。なお、この膜厚は、電子照射を併用しな
い従来法では得られないものである。
〈発明の効果〉 以上述べたように、本発明に係る絶縁皮膜形成装置によ
ると、基材に対して蒸着と混合イオン照射とを同時に行
うことに加え、電子照射も行うことができるため、膜成
長表面における正電荷の帯電が緩和される。この結果、
膜形成中、常に安定したエネルギーの混合イオンを基材
に供給できろ。したがって、窒化硼素票の形成に用いれ
ば、硬質の立方晶窒化硼素を多く含有し、耐摩耗性、熱
伝導性および電気絶縁性に優れ、且つ厚い窒化硼素膜を
形成できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は一実施例に係る絶縁皮膜形成装置の概念図、第
2図はその成撲条件を示すグラフ、第3図は実施例で形
成した窒化硼素膜の赤外スペクトル、第4図は従来の皮
膜装置の一例を示す概念図である。 図面中、 1はチャンバ、 2は排気口、 3は基材ホルダ、 4は基材、 5はイオン源、 6はガス導入管、 8は蒸発源、 9は蒸発材料、 11は電子発生源、 12は膜厚モニタ、 13はランプヒータ、 14は窒化硼素膜である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  真空チャンバ内に設置された基材表面に絶縁皮膜を形
    成する装置であって、蒸発源と、上記基材表面に向けて
    イオンを照射するイオン源と、上記基材表面に向けて電
    子を照射する電子源とを具備したことを特徴とする絶縁
    皮膜形成装置。
JP12300390A 1990-05-15 1990-05-15 絶縁皮膜形成装置 Pending JPH0421776A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12300390A JPH0421776A (ja) 1990-05-15 1990-05-15 絶縁皮膜形成装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12300390A JPH0421776A (ja) 1990-05-15 1990-05-15 絶縁皮膜形成装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0421776A true JPH0421776A (ja) 1992-01-24

Family

ID=14849855

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12300390A Pending JPH0421776A (ja) 1990-05-15 1990-05-15 絶縁皮膜形成装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0421776A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4676194A (en) Apparatus for thin film formation
US5096740A (en) Production of cubic boron nitride films by laser deposition
Singh et al. Hollow cathode plasma assisted chemical vapor deposition of diamond
JPS582022A (ja) 薄膜形成方法
Murayama et al. Structure of a silicon carbide film synthesized by rf reactive ion plating
Katz et al. Deposition of silicon carbide coatings on titanium alloy with a low pressure RF plasma
US4698235A (en) Siting a film onto a substrate including electron-beam evaporation
JPH0259862B2 (ja)
JPH0421776A (ja) 絶縁皮膜形成装置
JPS63277767A (ja) 高圧相窒化ホウ素の気相合成法
JPS6134173A (ja) 高硬度窒化ホウ素膜の製造方法
JPS5935092A (ja) ダイヤモンドの気相合成法
Rossi et al. Plasma assisted chemical vapour deposition of boron nitride coatings from using BCl3–N2–H2–Ar gas mixture
JPS6395200A (ja) 硬質窒化ホウ素膜の製造方法
JP2611521B2 (ja) 窒化ホウ素薄膜の形成方法
JP2617539B2 (ja) 立方晶窒化ほう素膜の製造装置
JPS63128179A (ja) 硬質窒化硼素の合成方法および合成装置
JP2761026B2 (ja) 窒化ホウ素膜の製造方法
JPH0377870B2 (ja)
JP2646582B2 (ja) プラズマcvd装置
JPH06158323A (ja) 硬質炭素被膜の気相合成方法
JPH08158039A (ja) 窒化炭素薄膜の形成方法
JPH0733580B2 (ja) 立方晶系窒化ホウ素膜の製造方法
JPS62207869A (ja) 酸素含有硬質窒化硼素被覆部品
JPH04116155A (ja) 薄膜の形成方法