JPH0421840B2 - - Google Patents
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- JPH0421840B2 JPH0421840B2 JP57065246A JP6524682A JPH0421840B2 JP H0421840 B2 JPH0421840 B2 JP H0421840B2 JP 57065246 A JP57065246 A JP 57065246A JP 6524682 A JP6524682 A JP 6524682A JP H0421840 B2 JPH0421840 B2 JP H0421840B2
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- diffraction
- crystal
- receiving surface
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- interplanar spacing
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- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—HANDLING OF PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/06—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
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- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—HANDLING OF PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K2201/00—Arrangements for handling radiation or particles
- G21K2201/06—Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
- G21K2201/062—Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements the element being a crystal
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- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—HANDLING OF PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K2201/00—Arrangements for handling radiation or particles
- G21K2201/06—Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
- G21K2201/064—Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements having a curved surface
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—HANDLING OF PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K2201/00—Arrangements for handling radiation or particles
- G21K2201/06—Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
- G21K2201/068—Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements specially adapted for particle beams
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、結晶構造体を使用した回折に関し、
更に詳しくは、結晶構造体中の結晶平面に関連す
る間隔がこの構造体の面または方向に沿つて累進
的に増加または減少してブラツグ回折角を累進的
に変化させた回折装置に関し、また、回折間隔に
関連する結晶構造体の面または方向に沿つてブラ
ツグ角の制御された累進的な変化をもたらして単
色放射に対するこの構造体の使用可能な回折領域
または許容角を増加せしめ、これによつて光子や
粒子のビームが集束されまたは制御される程度を
向上させる方法に関するものである。
更に詳しくは、結晶構造体中の結晶平面に関連す
る間隔がこの構造体の面または方向に沿つて累進
的に増加または減少してブラツグ回折角を累進的
に変化させた回折装置に関し、また、回折間隔に
関連する結晶構造体の面または方向に沿つてブラ
ツグ角の制御された累進的な変化をもたらして単
色放射に対するこの構造体の使用可能な回折領域
または許容角を増加せしめ、これによつて光子や
粒子のビームが集束されまたは制御される程度を
向上させる方法に関するものである。
X線やガンマ線のごとき光子の結晶による回折
は古い、充分に確立された技術である。結晶回折
は一般に2種類に分類される。すなわち、“透過
型”と“表面回折すなわち反射型”である。第1
a図に示したような透過型においては、回折プロ
セスに用いる複数の結晶平面が結晶の面すなわち
入射表面に対して垂直であり、光子ビームは結晶
を通過する。第1b図に示したような表面回折す
なわち反射型においては、複数の結晶回折平面が
結晶の面すなわち入射表面に平行であり、光子ビ
ームはこの表面付近で回折されて、ビームが入射
する結晶の同じ面から反射される。透過型回折は
主として小さいブラツグ角をもつ高エネルギ光子
に対して用いられ、一方表面型回折は比較的大き
いブラツグ角と比較的高い吸収率をもつ低エネル
ギ光子に対してより有用である。
は古い、充分に確立された技術である。結晶回折
は一般に2種類に分類される。すなわち、“透過
型”と“表面回折すなわち反射型”である。第1
a図に示したような透過型においては、回折プロ
セスに用いる複数の結晶平面が結晶の面すなわち
入射表面に対して垂直であり、光子ビームは結晶
を通過する。第1b図に示したような表面回折す
なわち反射型においては、複数の結晶回折平面が
結晶の面すなわち入射表面に平行であり、光子ビ
ームはこの表面付近で回折されて、ビームが入射
する結晶の同じ面から反射される。透過型回折は
主として小さいブラツグ角をもつ高エネルギ光子
に対して用いられ、一方表面型回折は比較的大き
いブラツグ角と比較的高い吸収率をもつ低エネル
ギ光子に対してより有用である。
分光計のごとき所期の回折装置は平らな結晶を
使用しており、給源光子当りの回折光子はせいぜ
い10-9程度の効率であつた。かような低効率は、
結晶の非常に薄い切片のみしか下記ブラツグ式に
基づく回折に対するブラツグ条件を満足しないと
いう理由に起因していた: nλ=2dsinθ ここで“n”は回折のオーダ、“λ”は光子の
波長、“d”は結晶平面の間隔、および“θ”は
ブラツグ角すなわち入射角を示す。光子ビームが
ブラツグ角以外の角度で結晶に入ると、ビームの
その部分での反射は実質的に排除される。例え
ば、約2秒(角度)のロツキング・カーブと約
100cmの距離の光源の場合、高品質結晶として使
用可能な結晶薄片はわずかに約0.001cmのもので
ある。
使用しており、給源光子当りの回折光子はせいぜ
い10-9程度の効率であつた。かような低効率は、
結晶の非常に薄い切片のみしか下記ブラツグ式に
基づく回折に対するブラツグ条件を満足しないと
いう理由に起因していた: nλ=2dsinθ ここで“n”は回折のオーダ、“λ”は光子の
波長、“d”は結晶平面の間隔、および“θ”は
ブラツグ角すなわち入射角を示す。光子ビームが
ブラツグ角以外の角度で結晶に入ると、ビームの
その部分での反射は実質的に排除される。例え
ば、約2秒(角度)のロツキング・カーブと約
100cmの距離の光源の場合、高品質結晶として使
用可能な結晶薄片はわずかに約0.001cmのもので
ある。
結晶回折装置の重要な特徴のいくつかは、光子
(すなわちX線、ガンマ線)または粒子(すなわ
ち中性子)のビームが相当の効率で回折され、集
束あるいは制御されて所望強度の像をもたらす程
度に関係する。平らな結晶の使用可能領域または
許容角度はかなり制限されるので、結晶を曲げて
ブラツグ条件を満足する領域あるいは許容角度を
向上させ、効率と回折されたビームの強度レベル
とを向上せしめることが必要になつてきた。第2
a図と第2b図は透過型および反射型の結晶回折
に用いる曲げた結晶を示すものである。曲げた結
晶を用いることによつて、結晶回折装置の効率、
強度、および集束作用は平らな結晶を用いる装置
と比べて向上したが、所望程度まで結晶を曲げる
のは必ずしも容易でなく、ビスマスやスズのごと
きいくつかの結晶は、一定程度以上に曲げる前に
破損してしまう傾向がある。
(すなわちX線、ガンマ線)または粒子(すなわ
ち中性子)のビームが相当の効率で回折され、集
束あるいは制御されて所望強度の像をもたらす程
度に関係する。平らな結晶の使用可能領域または
許容角度はかなり制限されるので、結晶を曲げて
ブラツグ条件を満足する領域あるいは許容角度を
向上させ、効率と回折されたビームの強度レベル
とを向上せしめることが必要になつてきた。第2
a図と第2b図は透過型および反射型の結晶回折
に用いる曲げた結晶を示すものである。曲げた結
晶を用いることによつて、結晶回折装置の効率、
強度、および集束作用は平らな結晶を用いる装置
と比べて向上したが、所望程度まで結晶を曲げる
のは必ずしも容易でなく、ビスマスやスズのごと
きいくつかの結晶は、一定程度以上に曲げる前に
破損してしまう傾向がある。
さらに、曲げた結晶を用いた結晶回折装置はい
くつかの欠点を有している。透過型の第2a図に
示したように、単色放射を線像で集中させるため
に広幅光源を用いる必要があつた。反射型につい
ては、第2b図に示したように、点光源から集束
線像をつくることが可能であるが、像と光源の中
心線からの距離は通常等距離であつた。
くつかの欠点を有している。透過型の第2a図に
示したように、単色放射を線像で集中させるため
に広幅光源を用いる必要があつた。反射型につい
ては、第2b図に示したように、点光源から集束
線像をつくることが可能であるが、像と光源の中
心線からの距離は通常等距離であつた。
結晶回折に用いる装置にとつては集束が非常に
重要である。なぜならば、回折ビームの正確な検
出と測定はしばしば回折ビームの強さおよびビー
ムが小さい領域内に集束される程度に依存するか
らである。第1a図と第1b図に効果的に集束さ
れていないビームを示したが、効果的な検出また
は測定のためにはターゲツトまたは像領域を増加
させる必要がある。
重要である。なぜならば、回折ビームの正確な検
出と測定はしばしば回折ビームの強さおよびビー
ムが小さい領域内に集束される程度に依存するか
らである。第1a図と第1b図に効果的に集束さ
れていないビームを示したが、効果的な検出また
は測定のためにはターゲツトまたは像領域を増加
させる必要がある。
平行光線の集束も重要である。地球周囲の軌道
に乗つているアインシユタイン衛星における望遠
鏡では、遠い宇宙からのX線やガンマ線の平行ビ
ームを集束させるために複数の全反射鏡が使用さ
れている。この反射鏡システムの性能の限界は、
この衛星望遠鏡に対する使用可能な光子エネルギ
を約5KeV以下に制限し、より一層満足すべき性
能は約2〜3KeVである。使用可能な光子エネル
ギを約5KeV以上の値に増加せしめることが望ま
しい。この鏡システムを現在の技術状態における
結晶回折システムに代替しても、こうした問題を
解決しないであろう。なぜならば、たとえ低い光
子エネルギであつても平行光線を効果的に集束で
きないからである。従つて、比較的高い光子エネ
ルギで平行光線を集束あるいは収斂する改良され
た性能をもつ新たな結晶回折システムが、衛星望
遠鏡やその他の装置に対して望まれるところであ
る。
に乗つているアインシユタイン衛星における望遠
鏡では、遠い宇宙からのX線やガンマ線の平行ビ
ームを集束させるために複数の全反射鏡が使用さ
れている。この反射鏡システムの性能の限界は、
この衛星望遠鏡に対する使用可能な光子エネルギ
を約5KeV以下に制限し、より一層満足すべき性
能は約2〜3KeVである。使用可能な光子エネル
ギを約5KeV以上の値に増加せしめることが望ま
しい。この鏡システムを現在の技術状態における
結晶回折システムに代替しても、こうした問題を
解決しないであろう。なぜならば、たとえ低い光
子エネルギであつても平行光線を効果的に集束で
きないからである。従つて、比較的高い光子エネ
ルギで平行光線を集束あるいは収斂する改良され
た性能をもつ新たな結晶回折システムが、衛星望
遠鏡やその他の装置に対して望まれるところであ
る。
本発明の目的の1つは、結晶回折に用いられる
結晶構造体における領域または許容角度を増加さ
せる手段を提供することである。別な目的は、回
折プロセスの効率を向上させることである。もう
1つの目的は、回折プロセスの強度を向上させる
ことである。さらに別な目的は、結晶回折による
回折を利用する装置における集束を向上させるこ
とである。他の目的は、平行ビームを集束する手
段を提供することである。さらに別な目的は、回
折装置により回折されうる集束ビームに対するエ
ネルギ・レベルを5KeV以上に増加させることで
ある。これらの目的およびその他の目的は以下の
説明から明らかとなろう。
結晶構造体における領域または許容角度を増加さ
せる手段を提供することである。別な目的は、回
折プロセスの効率を向上させることである。もう
1つの目的は、回折プロセスの強度を向上させる
ことである。さらに別な目的は、結晶回折による
回折を利用する装置における集束を向上させるこ
とである。他の目的は、平行ビームを集束する手
段を提供することである。さらに別な目的は、回
折装置により回折されうる集束ビームに対するエ
ネルギ・レベルを5KeV以上に増加させることで
ある。これらの目的およびその他の目的は以下の
説明から明らかとなろう。
本発明においては、回折用の結晶または格子の
性能は、その結晶構造体の面に沿う間隔に累進的
変化を付与することによつて向上させることがで
きる。結晶を使用してその間隔を累進的に変える
場合には、ブラツグ式中の“d”値を変えること
によつて、結晶面に沿うブラツグ角が累進的に変
化する。ブラツグ角が変化することによつて、結
晶のより大きい領域または許容角度が利用でき、
光子または粒子ビームの効率、強度および集束の
向上をもたらす。さらには、平行ビームを集束せ
しめることができ、あるいは制御された様式で収
斂または発散せしめることができる。もう1つの
利点は、比較的大きい原子番号の材料からなる結
晶を利用して、約5KeV〜100KeV以上の高レベ
ルのビームを回折することができることである。
従つて、本発明の第1の発明は、5KeV以上のエ
ネルギーをもつ光子または粒子のビームを受入れ
る面とビームを回折するこの面に沿つた原子の面
間隔とを備えた表面を持つ結晶構造体を有する回
折装置であつて、面間隔をつくつている原子の面
は結晶構造体の厚さを横切る方向に伸びてビーム
の透過型回折をもたらし、かつ面間隔を原子の面
の積層方向に累進的に変化させてブラツグ角を累
進的に変化せしめたことを特徴とするものであ
る。さらに本発明の第2の発明は、5KeV以上の
エネルギーをもつ光子または粒子のビームを受入
れる面とビームを回折するこの面に沿つた原子の
面間隔とを備えた表面を持つ結晶構造体を有する
回折装置であつて、面間隔をつくつている原子の
面はビーム受入れ面と同方向に伸びてビームの反
射型回折をもたらし、かつ面間隔をビーム受入れ
面に沿つて累進的に変化させてブラツグ角を累進
的に変化せしめたことを特徴とするものである。
間隔の累進的変化はブラツグ角の累進的変化をも
たらし、これによつて光子ビームに対する使用可
能領域を増加させる。結晶回折に対するブラツグ
角の変化、従つて分光計のごとき装置の効率の増
加は下記式から得ることができる: Δd/d=cotθΔθ ここでΔdは平面間隔の変化、Δθは結晶の使用
可能面にわたつてのブラツグ角の変化を表わす。
Δd/dが2.7×10-3に等しく、ブラツグ角θが20°
に等しい場合には、これら代表的条件下でのブラ
ツグ角の変化(Δθ)は約10-3ラジアンすなわち
200秒に等しい。これを、従来技術における良好
な結晶のロツキング・カーブまたは許容角度に対
する約2秒という角度と比較すると、約100倍の
向上をもたらすことになる。第3図から、平面間
隔に変化をもつ結晶構造体に対する許容角度は、
ブラツグ角の変化に実質的に等しいことが明らか
である。さらに、使用可能領域は発散ビームの光
源からの距離により決定されるが、許容角度に実
質的に比例することがわかる。
性能は、その結晶構造体の面に沿う間隔に累進的
変化を付与することによつて向上させることがで
きる。結晶を使用してその間隔を累進的に変える
場合には、ブラツグ式中の“d”値を変えること
によつて、結晶面に沿うブラツグ角が累進的に変
化する。ブラツグ角が変化することによつて、結
晶のより大きい領域または許容角度が利用でき、
光子または粒子ビームの効率、強度および集束の
向上をもたらす。さらには、平行ビームを集束せ
しめることができ、あるいは制御された様式で収
斂または発散せしめることができる。もう1つの
利点は、比較的大きい原子番号の材料からなる結
晶を利用して、約5KeV〜100KeV以上の高レベ
ルのビームを回折することができることである。
従つて、本発明の第1の発明は、5KeV以上のエ
ネルギーをもつ光子または粒子のビームを受入れ
る面とビームを回折するこの面に沿つた原子の面
間隔とを備えた表面を持つ結晶構造体を有する回
折装置であつて、面間隔をつくつている原子の面
は結晶構造体の厚さを横切る方向に伸びてビーム
の透過型回折をもたらし、かつ面間隔を原子の面
の積層方向に累進的に変化させてブラツグ角を累
進的に変化せしめたことを特徴とするものであ
る。さらに本発明の第2の発明は、5KeV以上の
エネルギーをもつ光子または粒子のビームを受入
れる面とビームを回折するこの面に沿つた原子の
面間隔とを備えた表面を持つ結晶構造体を有する
回折装置であつて、面間隔をつくつている原子の
面はビーム受入れ面と同方向に伸びてビームの反
射型回折をもたらし、かつ面間隔をビーム受入れ
面に沿つて累進的に変化させてブラツグ角を累進
的に変化せしめたことを特徴とするものである。
間隔の累進的変化はブラツグ角の累進的変化をも
たらし、これによつて光子ビームに対する使用可
能領域を増加させる。結晶回折に対するブラツグ
角の変化、従つて分光計のごとき装置の効率の増
加は下記式から得ることができる: Δd/d=cotθΔθ ここでΔdは平面間隔の変化、Δθは結晶の使用
可能面にわたつてのブラツグ角の変化を表わす。
Δd/dが2.7×10-3に等しく、ブラツグ角θが20°
に等しい場合には、これら代表的条件下でのブラ
ツグ角の変化(Δθ)は約10-3ラジアンすなわち
200秒に等しい。これを、従来技術における良好
な結晶のロツキング・カーブまたは許容角度に対
する約2秒という角度と比較すると、約100倍の
向上をもたらすことになる。第3図から、平面間
隔に変化をもつ結晶構造体に対する許容角度は、
ブラツグ角の変化に実質的に等しいことが明らか
である。さらに、使用可能領域は発散ビームの光
源からの距離により決定されるが、許容角度に実
質的に比例することがわかる。
本発明を利用する曲げた結晶については、下記
式に示したように、透過型および反射型結晶回折
に対して曲率半径(Rc)と間隔の変化(Δd)の
間に相互依存関係がある: (透過型) Rc=2R1R2/cosθ(R2−R1) Δd/d=−cos2θ/2sinθ (R2+R1)/R2R1Δ
l (反射型) Rc=2R1R2/sinθ(R2−R1) Δd/d=−cosθ/2 (R2+R1)/R2R1Δl ここで“R1”は像から結晶構造体までの距離
に等しく、“R2”は光源から結晶までの距離に等
しく、“Δl”は結晶の表面に沿う距離である。
式に示したように、透過型および反射型結晶回折
に対して曲率半径(Rc)と間隔の変化(Δd)の
間に相互依存関係がある: (透過型) Rc=2R1R2/cosθ(R2−R1) Δd/d=−cos2θ/2sinθ (R2+R1)/R2R1Δ
l (反射型) Rc=2R1R2/sinθ(R2−R1) Δd/d=−cosθ/2 (R2+R1)/R2R1Δl ここで“R1”は像から結晶構造体までの距離
に等しく、“R2”は光源から結晶までの距離に等
しく、“Δl”は結晶の表面に沿う距離である。
結晶回折に関して知られているように、前記ブ
ラツグ条件は、入射角が結晶構造体中での反射角
に等しいという関係も含む。エネルギ・ビームを
回折する手段を用いてこのビームを回折する装置
においては、本発明の改良は、1つの長さをもつ
面とこの長さに沿つて間隔をもたせた回折平面と
を具備し、この間隔が前記長さに沿つて累進的に
変化するような結晶構造体を用いて、特定単色放
射振動数(波長)に対してブラツグ角の減少をも
たらすことからなる。
ラツグ条件は、入射角が結晶構造体中での反射角
に等しいという関係も含む。エネルギ・ビームを
回折する手段を用いてこのビームを回折する装置
においては、本発明の改良は、1つの長さをもつ
面とこの長さに沿つて間隔をもたせた回折平面と
を具備し、この間隔が前記長さに沿つて累進的に
変化するような結晶構造体を用いて、特定単色放
射振動数(波長)に対してブラツグ角の減少をも
たらすことからなる。
この種の装置としては、分光計、処理のために
ビームを集束しまたはビーム強さを増加させるた
めに用いる医療用機器、遠い宇宙からのX線やガ
マン線のごとき光子の平行ビームを集束するため
に用いる衛星望遠鏡、光子や粒子のビームを試料
に当ててこの試料の特性を調べるのに有用な機器
等がある。これらの装置は通常、ターゲツト領域
の回折されたビームを受入れて像をもたらすため
の手段を有し、多くの場合、光源から回折手段へ
ビームを通すための孔等の手段を有している。分
光計においては、ビームを受入れる手段は出口ま
たは検出器スリツトからなり、ビームを通す手段
は入口孔となる。この技術分野で慣用されるよう
に、1個またはそれ以上のコリメータを用いて非
回折ビームから回折ビームを分離することもでき
る。さらには、本発明装置をその部分毎に移動自
在として異なるビーム位置に調節できるようにし
てもよい。衛星望遠鏡用としては、遠い宇宙から
の光子の平行ビームを通し、回折されたビームを
集束するための手段が設けられる。
ビームを集束しまたはビーム強さを増加させるた
めに用いる医療用機器、遠い宇宙からのX線やガ
マン線のごとき光子の平行ビームを集束するため
に用いる衛星望遠鏡、光子や粒子のビームを試料
に当ててこの試料の特性を調べるのに有用な機器
等がある。これらの装置は通常、ターゲツト領域
の回折されたビームを受入れて像をもたらすため
の手段を有し、多くの場合、光源から回折手段へ
ビームを通すための孔等の手段を有している。分
光計においては、ビームを受入れる手段は出口ま
たは検出器スリツトからなり、ビームを通す手段
は入口孔となる。この技術分野で慣用されるよう
に、1個またはそれ以上のコリメータを用いて非
回折ビームから回折ビームを分離することもでき
る。さらには、本発明装置をその部分毎に移動自
在として異なるビーム位置に調節できるようにし
てもよい。衛星望遠鏡用としては、遠い宇宙から
の光子の平行ビームを通し、回折されたビームを
集束するための手段が設けられる。
本発明の装置を用いて回折操作を行う方法は、
(1)結晶構造体の1つの面の長さに沿つて面間隔を
有しこの間隔の値が累進的に変化するような結晶
構造体を配設する工程、(2)この結晶構造体の面に
元素光子および/または粒子のビームを向けて回
折されたビームを得る工程、および(3)この回折ビ
ームを受入れる工程からなる。前記第1の工程は
下記のような種々の方法によつて行なうことがで
きる。すなわち、結晶構造体の長さに沿つて温度
差すなわち温度勾配を付与し、熱膨脹率また熱収
縮率を利用して面間隔を正の値または負の値で累
進的に変化させる方法;1個またはそれ以上の異
なる結晶構造体を空間的に配列して、異なる面間
隔をもつ一定長さをもたらす方法;結晶構造体の
長さに沿つて組成を変化させて面間隔に累進的変
化をもたらす方法;上記技術を組合せる方法など
である。面間隔を変化させた結晶構造体は、温度
勾配または結晶組成の変化を利用して有利にもた
らされるが、少なくとも約50℃/cmの長さ方向の
温度勾配によつて好ましくもたらすことができ
る。
(1)結晶構造体の1つの面の長さに沿つて面間隔を
有しこの間隔の値が累進的に変化するような結晶
構造体を配設する工程、(2)この結晶構造体の面に
元素光子および/または粒子のビームを向けて回
折されたビームを得る工程、および(3)この回折ビ
ームを受入れる工程からなる。前記第1の工程は
下記のような種々の方法によつて行なうことがで
きる。すなわち、結晶構造体の長さに沿つて温度
差すなわち温度勾配を付与し、熱膨脹率また熱収
縮率を利用して面間隔を正の値または負の値で累
進的に変化させる方法;1個またはそれ以上の異
なる結晶構造体を空間的に配列して、異なる面間
隔をもつ一定長さをもたらす方法;結晶構造体の
長さに沿つて組成を変化させて面間隔に累進的変
化をもたらす方法;上記技術を組合せる方法など
である。面間隔を変化させた結晶構造体は、温度
勾配または結晶組成の変化を利用して有利にもた
らされるが、少なくとも約50℃/cmの長さ方向の
温度勾配によつて好ましくもたらすことができ
る。
好適な結晶構造体としては、少なくとも約200
℃、好ましくは約500℃以上の高い融点を有し、
かつ特定のビームに依存する磁気的性質や原子番
号の特性を有する結晶がある。比較的低いエネル
ギ・ビームに対しては、比較的小さい原子番号の
結晶が望ましく、比較的高いエネルギ・ビームに
対しては逆のことが言える。中性子ビームに対し
ては、いくつかの磁気的性質をもつ結晶が望まし
い。一般に、好適な結晶としては、石英、方解
石、ケイ素、ゲルマニウム、金、スズ、ニツケ
ル、グラフアイト、ベリリウム、銅、亜鉛、サフ
アイア、ダイヤモンド等の結晶がある。ケイ素と
ニツケル、ニツケルとゲルマニウム、ゲルマニウ
ムとスズ、ケイ素とゲルマニウム、ケイ素とスズ
等の別種の組合せも利用できる。組成を変化させ
た結晶構造体としては、ニツケルと約20原子%の
ゲルマニウム、ケイ素またはスズとの組合せ、あ
るいはカドミウムと約30原子%の銀との組合せが
利用できる。組成および面間隔に関するこれら結
晶の特性は、ダブリユ.ビー.ピアソンズ(W.
B.Pearsons)著「金属と合金の格子間隔と構造
のバンドブツク(A Handbook of Lattice
Spacings and Structures of Metals and
Alloys)」、第巻286、288、290頁および第巻
512、980頁(Pergamon Press、London、1958
年および1967年発行)のごとき文献を参照のこ
と。
℃、好ましくは約500℃以上の高い融点を有し、
かつ特定のビームに依存する磁気的性質や原子番
号の特性を有する結晶がある。比較的低いエネル
ギ・ビームに対しては、比較的小さい原子番号の
結晶が望ましく、比較的高いエネルギ・ビームに
対しては逆のことが言える。中性子ビームに対し
ては、いくつかの磁気的性質をもつ結晶が望まし
い。一般に、好適な結晶としては、石英、方解
石、ケイ素、ゲルマニウム、金、スズ、ニツケ
ル、グラフアイト、ベリリウム、銅、亜鉛、サフ
アイア、ダイヤモンド等の結晶がある。ケイ素と
ニツケル、ニツケルとゲルマニウム、ゲルマニウ
ムとスズ、ケイ素とゲルマニウム、ケイ素とスズ
等の別種の組合せも利用できる。組成を変化させ
た結晶構造体としては、ニツケルと約20原子%の
ゲルマニウム、ケイ素またはスズとの組合せ、あ
るいはカドミウムと約30原子%の銀との組合せが
利用できる。組成および面間隔に関するこれら結
晶の特性は、ダブリユ.ビー.ピアソンズ(W.
B.Pearsons)著「金属と合金の格子間隔と構造
のバンドブツク(A Handbook of Lattice
Spacings and Structures of Metals and
Alloys)」、第巻286、288、290頁および第巻
512、980頁(Pergamon Press、London、1958
年および1967年発行)のごとき文献を参照のこ
と。
結晶は高品質のものが好ましく、石英が望まし
い。結晶構造体は、結晶の選定および曲げの必要
性に依存して、平らでもよく曲げてもよい。結晶
構造体の代表的寸法は、長さ1/2から10cm、幅1/2
から10cm、厚さ1/10から5/10cmで、面間隔が約1
から10Å、好ましくは約1から5Å、さらに好ま
しくは約1から2Åである。(これらの値は比較
的高いエネルギに対してのものであり、特に後の
値は光子に対するものである。) 面間隔の変化、好ましくは増加は、結晶面の長
さに沿つて約1/10から5%、好ましくは約1/2か
ら2%である。温度差によりもたらされる間隔に
おいては、少なくとも約200℃から結晶の融点
(または、中性子ビームに対してはキユリー点)
まで、好ましくは約200から500℃の温度差が望ま
しい。少なくとも約50℃/cmから約200℃/cmま
で(最高温度は結晶の融点またはキユリー点以
下)の温度勾配が望ましい。
い。結晶構造体は、結晶の選定および曲げの必要
性に依存して、平らでもよく曲げてもよい。結晶
構造体の代表的寸法は、長さ1/2から10cm、幅1/2
から10cm、厚さ1/10から5/10cmで、面間隔が約1
から10Å、好ましくは約1から5Å、さらに好ま
しくは約1から2Åである。(これらの値は比較
的高いエネルギに対してのものであり、特に後の
値は光子に対するものである。) 面間隔の変化、好ましくは増加は、結晶面の長
さに沿つて約1/10から5%、好ましくは約1/2か
ら2%である。温度差によりもたらされる間隔に
おいては、少なくとも約200℃から結晶の融点
(または、中性子ビームに対してはキユリー点)
まで、好ましくは約200から500℃の温度差が望ま
しい。少なくとも約50℃/cmから約200℃/cmま
で(最高温度は結晶の融点またはキユリー点以
下)の温度勾配が望ましい。
第1図〜第10図の説明図を用いて、従来の結
晶回折の特徴と、本発明に基づく結晶構造体によ
る結晶回折の特徴を説明する。回折プロセスの特
徴を説明するために、面間隔とビームは拡大して
図示されている。
晶回折の特徴と、本発明に基づく結晶構造体によ
る結晶回折の特徴を説明する。回折プロセスの特
徴を説明するために、面間隔とビームは拡大して
図示されている。
第1図と第2図は従来技術に基づく結晶回折を
示している。第1a図と第2a図では透過型の結
晶回折を示し、第1b図と第2b図では反射型を
示している。反射型の回折は1つまたはそれ以上
の層の面間隔を用いるが、簡略化のために、結晶
構造体の面からビームが反射されるように図示さ
れている。第1a図と第1b図は平らな結晶を用
いているが、第2a図と第2b図は曲げた結晶を
用いている。第1a図に示したように、点または
線光源10から出たビームはコリメータ12を通
して狭い幅のビーム14を選定し、さらに許容角
度Δθにより鑑定され、一つの長さ17をもつ面
16を備えた平らな結晶15へ導かれる。結晶1
5の面間隔18は長さ17に沿つて実質的に同じ
であり、従つて、限られた領域20または許容角
度のみによつてブラツグ条件を満足する条件下で
ビームの単色部分を回折することが可能となる。
第1a図の角度θはブラツグ角を表わす。回折さ
れたビーム21は線像22をつくるように導かれ
る。図示のように、ビーム21はわずかに発散す
るため、線像22は集束された像とはならず、距
離D1とD2は中心線D3から等しい。
示している。第1a図と第2a図では透過型の結
晶回折を示し、第1b図と第2b図では反射型を
示している。反射型の回折は1つまたはそれ以上
の層の面間隔を用いるが、簡略化のために、結晶
構造体の面からビームが反射されるように図示さ
れている。第1a図と第1b図は平らな結晶を用
いているが、第2a図と第2b図は曲げた結晶を
用いている。第1a図に示したように、点または
線光源10から出たビームはコリメータ12を通
して狭い幅のビーム14を選定し、さらに許容角
度Δθにより鑑定され、一つの長さ17をもつ面
16を備えた平らな結晶15へ導かれる。結晶1
5の面間隔18は長さ17に沿つて実質的に同じ
であり、従つて、限られた領域20または許容角
度のみによつてブラツグ条件を満足する条件下で
ビームの単色部分を回折することが可能となる。
第1a図の角度θはブラツグ角を表わす。回折さ
れたビーム21は線像22をつくるように導かれ
る。図示のように、ビーム21はわずかに発散す
るため、線像22は集束された像とはならず、距
離D1とD2は中心線D3から等しい。
第1b図においては、結晶28の面間隔30は
面32に平行に長さ34に沿つて延びている。図
示のように、ビーム35が点または線光源36か
ら出てコリメータ37を通つて面32へ向けら
れ、回折されて回折ビーム38を生成し、次いで
線像39をつくる。ビーム38はわずかに発散す
るので線像39は集束されない。距離D1とD2は
中心線D3から等距離として示されている。
面32に平行に長さ34に沿つて延びている。図
示のように、ビーム35が点または線光源36か
ら出てコリメータ37を通つて面32へ向けら
れ、回折されて回折ビーム38を生成し、次いで
線像39をつくる。ビーム38はわずかに発散す
るので線像39は集束されない。距離D1とD2は
中心線D3から等距離として示されている。
透過型結晶回折に用いる曲げた結晶が第2a図
に示されるが、ここではビーム40が幅広光源4
2から出て結晶44の面45へ向けられる。回折
ビーム46はコリメータ47を通り線像48を結
ぶ。図示のように、結晶44は弧50で曲げられ
ているが、この弧50の半径49は、焦点円
(focal circle)の半径51の値の約2倍である。
に示されるが、ここではビーム40が幅広光源4
2から出て結晶44の面45へ向けられる。回折
ビーム46はコリメータ47を通り線像48を結
ぶ。図示のように、結晶44は弧50で曲げられ
ているが、この弧50の半径49は、焦点円
(focal circle)の半径51の値の約2倍である。
第2b図には、曲げた結晶を用いた反射型結晶
回折が示されている。点光源56からのビーム5
4は結晶57の面58へ向けられ、面間隔59に
より回折されて回折ビーム60を生成し、線像6
1をつくる。図示のように、距離D1とD2は中心
線D3から等距離であり、曲げた結晶の弧63の
半径62は焦点円の半径65のほぼ2倍である。
回折が示されている。点光源56からのビーム5
4は結晶57の面58へ向けられ、面間隔59に
より回折されて回折ビーム60を生成し、線像6
1をつくる。図示のように、距離D1とD2は中心
線D3から等距離であり、曲げた結晶の弧63の
半径62は焦点円の半径65のほぼ2倍である。
本発明の1つの実施例を第3図に示す。平らな
結晶構造体70が透過型結晶回折のために用いら
れており、面間隔72は面74の長さ73に沿つ
て冷端75から温端76へその値が増加してい
る。温端76は面間隔72の増加をもたらすの
で、温端76を配置することによつて冷端75の
角度78より小さいブラツグ角77をもたらすこ
とができる。図示のように、ビーム79は面74
へ向けられ、回折されて回折ビーム80をつく
り、これは収斂して集束された線像81をつく
る。
結晶構造体70が透過型結晶回折のために用いら
れており、面間隔72は面74の長さ73に沿つ
て冷端75から温端76へその値が増加してい
る。温端76は面間隔72の増加をもたらすの
で、温端76を配置することによつて冷端75の
角度78より小さいブラツグ角77をもたらすこ
とができる。図示のように、ビーム79は面74
へ向けられ、回折されて回折ビーム80をつく
り、これは収斂して集束された線像81をつく
る。
第4図に示した本発明の第2実施例において
は、ニツケルのごとき材料からなる結晶構造体8
4が用いられ、この結晶構造体の長さに沿つてそ
の濃度が変わるようにしてスズのごとき添加成分
を添加することによつて面間隔に変化をもたせて
いる。スズの濃度は端85の約零%から端86の
約10原子%まで変化させて、面間隔87を端85
の“d”値約3.5172Å(約16℃)から端86の約
3.6000Å(約16℃)まで変化させる。第4図の結
晶回折プロセスにおいては、点また線光源89か
らのビーム88は結晶構造体84へ向けられ、平
面87により回折されて回折ビーム90をつく
り、これは収斂して集束された線像91をつく
る。図示のように、距離D1とD2は中心線D3から
等距離にある。
は、ニツケルのごとき材料からなる結晶構造体8
4が用いられ、この結晶構造体の長さに沿つてそ
の濃度が変わるようにしてスズのごとき添加成分
を添加することによつて面間隔に変化をもたせて
いる。スズの濃度は端85の約零%から端86の
約10原子%まで変化させて、面間隔87を端85
の“d”値約3.5172Å(約16℃)から端86の約
3.6000Å(約16℃)まで変化させる。第4図の結
晶回折プロセスにおいては、点また線光源89か
らのビーム88は結晶構造体84へ向けられ、平
面87により回折されて回折ビーム90をつく
り、これは収斂して集束された線像91をつく
る。図示のように、距離D1とD2は中心線D3から
等距離にある。
3個の異なる結晶94,95および96の空間
配列をもつ本発明の第3実施例を第5図に示す。
図示のように、結晶の各々は両端に冷端と温端を
有し、面間隔が結晶の長さに沿つて変化するよう
になつている。加えて、3個の異種結晶の組成を
変化させて、冷端での面間隔が各結晶について異
なるようにしてある。冷えば、結晶94は比較的
純粋なニツケルからなり、冷端で約3.5175Å(約
16℃)の面間隔を有し、結晶95は約3原子%の
Snを含有するニツケルからなり、冷端で約3.5429
Å(約16℃)の面間隔を有し、結晶96は約6原
子%のSnを含有するニツケルからなり、冷端で
約3.5687Å(約16℃)の面間隔を有している。面
97,98および99の組合せによつて全体長さ
100となり、この長さにわたつて面間隔が変化
し、長さ100に沿う面間隔の増加をもたらす。
結晶94,95および96(各々長さ1cm)につ
いての温度勾配(Δt/cm)はそれぞれ約176℃
(192℃−16℃)、177℃(193℃−16℃)および178
℃(194℃−16℃)のオーダである。結晶94,
95および96は、隣合う端部の間の絶縁するバ
リヤによりわずかな距離(約2cm)隔てられてい
る。許容角度は約540秒である(50KeVの単色ビ
ームで100平面のニツケルを用いて第5次回折の
場合)。回折プロセスにおいては、点または線光
源103からのビーム102が結晶94,95お
よび96の組合せ体へ向けられ、回折されて回折
ビーム105をつくり、これは収斂して集束線像
106をつくる。距離D1とD2は中心線D3から等
距離にある。
配列をもつ本発明の第3実施例を第5図に示す。
図示のように、結晶の各々は両端に冷端と温端を
有し、面間隔が結晶の長さに沿つて変化するよう
になつている。加えて、3個の異種結晶の組成を
変化させて、冷端での面間隔が各結晶について異
なるようにしてある。冷えば、結晶94は比較的
純粋なニツケルからなり、冷端で約3.5175Å(約
16℃)の面間隔を有し、結晶95は約3原子%の
Snを含有するニツケルからなり、冷端で約3.5429
Å(約16℃)の面間隔を有し、結晶96は約6原
子%のSnを含有するニツケルからなり、冷端で
約3.5687Å(約16℃)の面間隔を有している。面
97,98および99の組合せによつて全体長さ
100となり、この長さにわたつて面間隔が変化
し、長さ100に沿う面間隔の増加をもたらす。
結晶94,95および96(各々長さ1cm)につ
いての温度勾配(Δt/cm)はそれぞれ約176℃
(192℃−16℃)、177℃(193℃−16℃)および178
℃(194℃−16℃)のオーダである。結晶94,
95および96は、隣合う端部の間の絶縁するバ
リヤによりわずかな距離(約2cm)隔てられてい
る。許容角度は約540秒である(50KeVの単色ビ
ームで100平面のニツケルを用いて第5次回折の
場合)。回折プロセスにおいては、点または線光
源103からのビーム102が結晶94,95お
よび96の組合せ体へ向けられ、回折されて回折
ビーム105をつくり、これは収斂して集束線像
106をつくる。距離D1とD2は中心線D3から等
距離にある。
第6図は透過型結晶回折を示す本発明第4実施
例であり、石英のごとき材料からなる結晶構造体
101は曲げられて、面111が長さ112に沿
つて凸面形状を形成している。温度勾配が長さ1
12に沿つてつくられていて長さ112に沿い面
間隔に変化をもたらす。これによつて、曲率半径
(Rc)に対する前述の式に基づくブラツグ角、お
よびΔd/d=αΔt(ここでαは熱膨脹率、Δtは温
度差を表わす)という関係に基づく所望のΔd/
dに変化をもたらすことになる。点または線光源
114からのビーム113は面111へ向けら
れ、この面にわたつて面間隔115が変化してい
るためにビームは回折されて回折ビーム116を
つくる。収斂ビーム116によつて線像117が
つくられる。第6図では、距離D1とD2は中心線
D3から等しくない。
例であり、石英のごとき材料からなる結晶構造体
101は曲げられて、面111が長さ112に沿
つて凸面形状を形成している。温度勾配が長さ1
12に沿つてつくられていて長さ112に沿い面
間隔に変化をもたらす。これによつて、曲率半径
(Rc)に対する前述の式に基づくブラツグ角、お
よびΔd/d=αΔt(ここでαは熱膨脹率、Δtは温
度差を表わす)という関係に基づく所望のΔd/
dに変化をもたらすことになる。点または線光源
114からのビーム113は面111へ向けら
れ、この面にわたつて面間隔115が変化してい
るためにビームは回折されて回折ビーム116を
つくる。収斂ビーム116によつて線像117が
つくられる。第6図では、距離D1とD2は中心線
D3から等しくない。
第7図は反射型結晶回折を示しており、結晶構
造体120は曲げられて入射角すなわちブラツグ
角が面122の長さ123に沿つて変化するよう
になつている。前述のように、温度勾配が長さ1
23にわたつて形成されていて、ブラツグ角の変
化と一致する面間隔の変化をもたらしている。回
折プロセスにおいては、点または線光源125か
らのビーム124は面122へ向けられ、回折さ
れて回折ビーム126をつくる。ビーム126の
収斂により線像127がつくられる。図示のよう
に、距離D1とD2は中心線D3に対して等しくない。
造体120は曲げられて入射角すなわちブラツグ
角が面122の長さ123に沿つて変化するよう
になつている。前述のように、温度勾配が長さ1
23にわたつて形成されていて、ブラツグ角の変
化と一致する面間隔の変化をもたらしている。回
折プロセスにおいては、点または線光源125か
らのビーム124は面122へ向けられ、回折さ
れて回折ビーム126をつくる。ビーム126の
収斂により線像127がつくられる。図示のよう
に、距離D1とD2は中心線D3に対して等しくない。
第8図と第9図においては、平行ビーム132
および152を回折し集束する手段としてそれぞ
れ結晶構造体130および150を使用してお
り、かようなタイプの装置は衛星望遠鏡用に使用
できるものである。第8図においては、温度勾配
が結晶構造体130の面133の長さ134の間
に形成されていて面間隔に変化を与えている。ビ
ーム132は面133へ向けられ、回折されて回
折ビーム135をつくり、収斂して集束線像13
6をつくる。第9図では反射型結晶回折を利用し
ているが第8図と同様に、ビーム152は結晶構
造体150の面153へ向けられ、回折されて回
折ビーム155をつくり、収斂して集束線像15
6をつくる。前述のように、温度勾配が面153
の長さ154の間に形成されていて面間隔に変化
を与えている。
および152を回折し集束する手段としてそれぞ
れ結晶構造体130および150を使用してお
り、かようなタイプの装置は衛星望遠鏡用に使用
できるものである。第8図においては、温度勾配
が結晶構造体130の面133の長さ134の間
に形成されていて面間隔に変化を与えている。ビ
ーム132は面133へ向けられ、回折されて回
折ビーム135をつくり、収斂して集束線像13
6をつくる。第9図では反射型結晶回折を利用し
ているが第8図と同様に、ビーム152は結晶構
造体150の面153へ向けられ、回折されて回
折ビーム155をつくり、収斂して集束線像15
6をつくる。前述のように、温度勾配が面153
の長さ154の間に形成されていて面間隔に変化
を与えている。
第10図においては、複数の結晶構造体を利用
して点光源から集束点像をつくつている。前述し
たように、結晶構造体160は面162の長さ1
63に沿つて形成された温度差を有し、面間隔に
変化を与えている。図示のように、面162は点
光源164に曝された凹面形状をもつている。ビ
ーム165は面162へ向けられて回折ビーム1
66をつくり、これは収斂して点像167をつく
る。結晶構造体168は回折ビーム166の通路
内に置かれ、第2の回折ビーム169をつくり、
これは収斂して点像170をつくる。結晶構造体
168も面171の長さ172に沿つて形成され
た温度差を有し、面間隔に変化を与えている。
して点光源から集束点像をつくつている。前述し
たように、結晶構造体160は面162の長さ1
63に沿つて形成された温度差を有し、面間隔に
変化を与えている。図示のように、面162は点
光源164に曝された凹面形状をもつている。ビ
ーム165は面162へ向けられて回折ビーム1
66をつくり、これは収斂して点像167をつく
る。結晶構造体168は回折ビーム166の通路
内に置かれ、第2の回折ビーム169をつくり、
これは収斂して点像170をつくる。結晶構造体
168も面171の長さ172に沿つて形成され
た温度差を有し、面間隔に変化を与えている。
第11図に示した装置180においては、平ら
な結晶182がブラケツト184と185の間に
保持され、光源187からの約50KeVのエネル
ギ・ビーム186を回折するために用いられてい
る。回折ビーム188は検出器スリツト189へ
導かれる。ワイヤ190,191で示したブラケ
ツト184内の電気的加熱と、チユーブ192,
193で示したブラケツト185内の冷却とによ
つて約300℃の温度勾配が形成される。遮蔽19
4は光源からの放射線から検出器189を保護す
る。光源187と検出器スリツト189は移動自
在として、異なる光子エネルギ、異なる温度差、
および異なるブラケツト角に対して調節できるよ
うになつている。包囲体195を設けて、回折プ
ロセスを真空中で行なえるようになつている。
な結晶182がブラケツト184と185の間に
保持され、光源187からの約50KeVのエネル
ギ・ビーム186を回折するために用いられてい
る。回折ビーム188は検出器スリツト189へ
導かれる。ワイヤ190,191で示したブラケ
ツト184内の電気的加熱と、チユーブ192,
193で示したブラケツト185内の冷却とによ
つて約300℃の温度勾配が形成される。遮蔽19
4は光源からの放射線から検出器189を保護す
る。光源187と検出器スリツト189は移動自
在として、異なる光子エネルギ、異なる温度差、
および異なるブラケツト角に対して調節できるよ
うになつている。包囲体195を設けて、回折プ
ロセスを真空中で行なえるようになつている。
前述したように、本発明は、回折のためにビー
ムを受入れる面に沿つて面間隔が変化しているよ
うな結晶構造体を形成することによつて有用な結
晶回折装置を提供するものである。面間隔は次の
ような方法によつて変化させることができる。す
なわち、温度勾配を使用する方法;異なる組成を
もつ異なる種類の複数の結晶構造体を長さに沿つ
て整列させる方法;面に沿つて組成が変化してい
るような1つの結晶構造体を使用する方法;およ
び上記技術の組合せ方法である。異なる組成およ
び異なる面間隔をもつ結晶構造体については、ダ
ブリユ.ビー.ピアソンズ(W.B.Pearsons)著
「金属と合金の格子間隔と構造のバンドブツク
(A Hand−book of Lattice Spacings and
Struc−ture of Metals and Alloys)」、第巻
286、288、290頁および第巻512、980頁
(Pergamon Press、London、1958年および1967
年発行)に示されている。その面に沿つて組成に
変化をもつ結晶構造体はゾーン精製法によつてつ
くることができる。この方法においては、一端で
の組成を第二成分の高含量とし、この第二成分は
ゾーン精製処理の間に結晶構造体の長さに沿つて
分布されることになる。
ムを受入れる面に沿つて面間隔が変化しているよ
うな結晶構造体を形成することによつて有用な結
晶回折装置を提供するものである。面間隔は次の
ような方法によつて変化させることができる。す
なわち、温度勾配を使用する方法;異なる組成を
もつ異なる種類の複数の結晶構造体を長さに沿つ
て整列させる方法;面に沿つて組成が変化してい
るような1つの結晶構造体を使用する方法;およ
び上記技術の組合せ方法である。異なる組成およ
び異なる面間隔をもつ結晶構造体については、ダ
ブリユ.ビー.ピアソンズ(W.B.Pearsons)著
「金属と合金の格子間隔と構造のバンドブツク
(A Hand−book of Lattice Spacings and
Struc−ture of Metals and Alloys)」、第巻
286、288、290頁および第巻512、980頁
(Pergamon Press、London、1958年および1967
年発行)に示されている。その面に沿つて組成に
変化をもつ結晶構造体はゾーン精製法によつてつ
くることができる。この方法においては、一端で
の組成を第二成分の高含量とし、この第二成分は
ゾーン精製処理の間に結晶構造体の長さに沿つて
分布されることになる。
第1a図は、平らな結晶と点または線光源とを
もつ従来の透過型結晶回折の説明図である。第1
b図は、平らな結晶と点または線光源とをもつ従
来の反射型結晶回折の説明図である。第2a図
は、曲げた結晶と広幅光源とをもつ従来の透過型
結晶回折の説明図である。第2b図は、曲げた結
晶と点光源とをもつ従来の反射型結晶回折の説明
図である。第3図は、点または線光源からのビー
ムを集束するための平らな結晶をもつ透過型結晶
回折を利用した本発明の1つの実施例を示す説明
図である。第4図は、透過型結晶回折に使用する
平らな結晶でその長さに沿つて濃度が変化してい
るものを示す本発明の第2実施例の説明図であ
る。第5図は、透過型結晶回折に使用する面間隔
の異なる3個の結晶の空間配列を示す本発明の第
3実施例の説明図である。第6図は、曲げた結晶
と点光源とをもつ透過型結晶回折を示す本発明の
第4実施例の説明図である。第7図は、曲げた結
晶と点光源とをもつ反射型結晶回折を示す本発明
の第5実施例の説明図である。第8図は、結晶が
曲げられ入射ビームが平行光線からなる透過型結
晶回折を示す本発明の第6実施例の説明図であ
る。第9図は、結晶が曲げられ入射ビームが平行
光線からなる反射型結晶回折を示す本発明の第7
実施例の説明図である。第10図は、2つの曲げ
た結晶を用いて点光源からのビームを集束し点像
をつくる透過型結晶回折を示す本発明の第8実施
例の説明図である。第11図は、結晶に沿つて温
度差を生ぜしめる手段を備えた本発明を利用した
装置の斜視図である。 70,84,94,95,96,110,12
0,130,150,160,168,182…
…結晶構造体;72,87,115……面間隔;
77……ブラツグ角(θ);79,88,102,
113,124,132,152,165,18
6……入射ビーム;80,90,105,11
6,126,135,155,166,169,
188……回折ビーム;81,91,106,1
17,127,136,156,167,170
……像;89,103,114,125,16
4,187……光源。
もつ従来の透過型結晶回折の説明図である。第1
b図は、平らな結晶と点または線光源とをもつ従
来の反射型結晶回折の説明図である。第2a図
は、曲げた結晶と広幅光源とをもつ従来の透過型
結晶回折の説明図である。第2b図は、曲げた結
晶と点光源とをもつ従来の反射型結晶回折の説明
図である。第3図は、点または線光源からのビー
ムを集束するための平らな結晶をもつ透過型結晶
回折を利用した本発明の1つの実施例を示す説明
図である。第4図は、透過型結晶回折に使用する
平らな結晶でその長さに沿つて濃度が変化してい
るものを示す本発明の第2実施例の説明図であ
る。第5図は、透過型結晶回折に使用する面間隔
の異なる3個の結晶の空間配列を示す本発明の第
3実施例の説明図である。第6図は、曲げた結晶
と点光源とをもつ透過型結晶回折を示す本発明の
第4実施例の説明図である。第7図は、曲げた結
晶と点光源とをもつ反射型結晶回折を示す本発明
の第5実施例の説明図である。第8図は、結晶が
曲げられ入射ビームが平行光線からなる透過型結
晶回折を示す本発明の第6実施例の説明図であ
る。第9図は、結晶が曲げられ入射ビームが平行
光線からなる反射型結晶回折を示す本発明の第7
実施例の説明図である。第10図は、2つの曲げ
た結晶を用いて点光源からのビームを集束し点像
をつくる透過型結晶回折を示す本発明の第8実施
例の説明図である。第11図は、結晶に沿つて温
度差を生ぜしめる手段を備えた本発明を利用した
装置の斜視図である。 70,84,94,95,96,110,12
0,130,150,160,168,182…
…結晶構造体;72,87,115……面間隔;
77……ブラツグ角(θ);79,88,102,
113,124,132,152,165,18
6……入射ビーム;80,90,105,11
6,126,135,155,166,169,
188……回折ビーム;81,91,106,1
17,127,136,156,167,170
……像;89,103,114,125,16
4,187……光源。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 5KeV以上のエネルギーをもつ光子または粒
子のビームを受入れる面と該ビームを回折する該
面に沿つた原子の面間隔とを備えた表面を持つ結
晶構造体を有する回折装置であつて、該面間隔を
つくつている原子の面は該結晶構造体の厚さを横
切る方向に伸びて該ビームの透過型回折をもたら
し、かつ該面間隔を該原子の面の積層方向に累進
的に変化させてブラツグ角を累進的に変化せし
め、これによつて回折のための該ビーム受入れ面
の使用可能領域を増加しかつ該ビームの集束を達
成できるようにしたことを特徴とする回折装置。 2 前記ビーム受入れ面が凸面形状である特許請
求の範囲第1項記載の装置。 3 前記ビーム受入れ面に平行な方向に結晶構造
体を横切つて温度勾配が付与されており、この温
度勾配は前記面間隔の0.1〜5.0%の範囲で累進的
変化をもたらすのに十分なものである特許請求の
範囲第1項記載の装置。 4 前記温度勾配は少なくとも50℃/cmである特
許請求の範囲第3項記載の装置。 5 前記結晶構造体は前記ビーム受入れ面に平行
な方向に結晶構造体を横切つて異なる組成を有
し、これによつて前記面間隔の累進的変化をもた
らしている特許請求の範囲第1項記載の装置。 6 前記結晶構造体は、前記ビーム受入れ面を形
成するように配列された複数の別個の構造体から
なり、各構造体は異なる原子面間隔を備えた異な
る組成を有し、これによつて前記面間隔の累進的
変化をもたらしている特許請求の範囲第1項記載
の装置。 7 前記結晶構造体は、前記ビーム受入れ面に沿
つて異なる組成を有している特許請求の範囲第3
項記載の装置。 8 5KeV以上のエネルギーをもつ光子または粒
子のビームを受入れる面と該ビームを回折する該
面に沿つた原子の面間隔とを備えた表面を持つ結
晶構造体を有する回折装置であつて、該面間隔を
つくつている原子の面は該ビーム受入れ面と同方
向に伸びて該ビームの反射型回折をもたらし、か
つ該面間隔を該ビーム受入れ面に沿つて累進的に
変化させてブラツグ角を累進的に変化せしめ、こ
れによつて回折のための該ビーム受入れ面の使用
可能領域を増加しかつ該ビームの集束を達成でき
るようにしたことを特徴とする回折装置。 9 前記ビーム受入れ面が凹面形状である特許請
求の範囲第8項記載の装置。 10 前記ビーム受入れ面に平行な方向に結晶構
造体を横切つて温度勾配が付与されており、この
温度勾配は前記面間隔の0.1〜5.0%の範囲で累進
的変化をもたらすのに十分なものである特許請求
の範囲第8項記載の装置。 11 前記温度勾配は少なくとも50℃/cmである
特許請求の範囲第10項記載の装置。 12 前記結晶構造体は前記ビーム受入れ面に平
行な方向に結晶構造体を横切つて異なる組成を有
し、これによつて前記面間隔の累進的変化をもた
らしている特許請求の範囲第8項記載の装置。 13 前記結晶構造体は、前記ビーム受入れ面を
形成するように配列された複数の別個の構造体か
らなり、各構造体は異なる原子面間隔を備えた異
なる組成を有し、これによつて前記面間隔の累進
的変化をもたらしている特許請求の範囲第8項記
載の装置。 14 前記結晶構造体は、前記ビーム受入れ面に
沿つて異なる組成を有している特許請求の範囲第
10項記載の装置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US25597481A | 1981-04-20 | 1981-04-20 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57182152A JPS57182152A (en) | 1982-11-09 |
| JPH0421840B2 true JPH0421840B2 (ja) | 1992-04-14 |
Family
ID=22970630
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57065246A Granted JPS57182152A (en) | 1981-04-20 | 1982-04-19 | Diffraction device |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57182152A (ja) |
| CA (1) | CA1183285A (ja) |
| DE (1) | DE3214611A1 (ja) |
| FR (1) | FR2504308B1 (ja) |
| IT (1) | IT1150848B (ja) |
| NL (1) | NL8201621A (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4525853A (en) * | 1983-10-17 | 1985-06-25 | Energy Conversion Devices, Inc. | Point source X-ray focusing device |
| JPS60111125A (ja) * | 1983-11-21 | 1985-06-17 | Hitachi Ltd | モノクロメ−タ |
| US4699509A (en) * | 1984-04-21 | 1987-10-13 | Nippon Soken, Inc. | Device for measuring contamination of lubricant |
| JPH0515120Y2 (ja) * | 1985-05-29 | 1993-04-21 | ||
| DE3820549A1 (de) * | 1988-06-16 | 1989-12-21 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und vorrichtung zur untersuchung von membranoberflaechen |
| JPH02179500A (ja) * | 1988-12-29 | 1990-07-12 | Shimadzu Corp | 軟x線用フレネルゾーンプレート |
| JPH0782117B2 (ja) * | 1989-02-23 | 1995-09-06 | オリンパス光学工業株式会社 | 反射型結像光学系 |
| WO1995005725A1 (en) * | 1993-08-16 | 1995-02-23 | Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation | Improved x-ray optics, especially for phase contrast imaging |
| JP4521573B2 (ja) * | 2007-01-10 | 2010-08-11 | 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構 | 中性子線の反射率曲線測定方法及び測定装置 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3777156A (en) * | 1972-02-14 | 1973-12-04 | Hewlett Packard Co | Bent diffraction crystal with geometrical aberration compensation |
| US4012843A (en) * | 1973-04-25 | 1977-03-22 | Hitachi, Ltd. | Concave diffraction grating and a manufacturing method thereof |
| US3980883A (en) * | 1973-05-15 | 1976-09-14 | National Research Development Corporation | X-ray diffraction gratings |
| JPS5256856Y2 (ja) * | 1974-05-15 | 1977-12-22 | ||
| US3991309A (en) * | 1975-07-09 | 1976-11-09 | University Of Rochester | Methods and apparatus for the control and analysis of X-rays |
| US4132654A (en) * | 1976-07-02 | 1979-01-02 | The Machlett Laboratories, Inc. | X-ray focal spot test system |
| US4192994A (en) * | 1978-09-18 | 1980-03-11 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Diffractoid grating configuration for X-ray and ultraviolet focusing |
-
1982
- 1982-04-15 CA CA000401037A patent/CA1183285A/en not_active Expired
- 1982-04-19 FR FR8206676A patent/FR2504308B1/fr not_active Expired
- 1982-04-19 JP JP57065246A patent/JPS57182152A/ja active Granted
- 1982-04-19 NL NL8201621A patent/NL8201621A/nl unknown
- 1982-04-19 IT IT20815/82A patent/IT1150848B/it active
- 1982-04-20 DE DE19823214611 patent/DE3214611A1/de not_active Withdrawn
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2504308B1 (fr) | 1988-09-02 |
| IT8220815A0 (it) | 1982-04-19 |
| IT1150848B (it) | 1986-12-17 |
| CA1183285A (en) | 1985-02-26 |
| DE3214611A1 (de) | 1982-11-04 |
| FR2504308A1 (fr) | 1982-10-22 |
| NL8201621A (nl) | 1982-11-16 |
| JPS57182152A (en) | 1982-11-09 |
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