JPH0421881U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0421881U JPH0421881U JP6079990U JP6079990U JPH0421881U JP H0421881 U JPH0421881 U JP H0421881U JP 6079990 U JP6079990 U JP 6079990U JP 6079990 U JP6079990 U JP 6079990U JP H0421881 U JPH0421881 U JP H0421881U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- performance board
- pin card
- motherboard
- board
- socket
- Prior art date
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- Granted
Links
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims 4
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第1図はこの考案の一実施例を示す側面図、第
2図はゼロインサーシヨンフオース型コネクタの
一例を示す一部を切欠いた斜視図、第3図はゼロ
インサーシヨンフオース型コネクタの一例を説明
するための断面図、第4図はゼロインサーシヨン
フオース型コネコタの操作板の駆動機構の一例を
示す平面図、第5図は従来の技術を説明するため
の側面図、第6図は従来用いられている接触子の
構造を説明するための斜視図である。 100……パフオーマンスボード、101……
ICソケツト、200……マザーボード、300
……ピンカード、400……ゼロインサーシヨン
フオース型コネクタ。
2図はゼロインサーシヨンフオース型コネクタの
一例を示す一部を切欠いた斜視図、第3図はゼロ
インサーシヨンフオース型コネクタの一例を説明
するための断面図、第4図はゼロインサーシヨン
フオース型コネコタの操作板の駆動機構の一例を
示す平面図、第5図は従来の技術を説明するため
の側面図、第6図は従来用いられている接触子の
構造を説明するための斜視図である。 100……パフオーマンスボード、101……
ICソケツト、200……マザーボード、300
……ピンカード、400……ゼロインサーシヨン
フオース型コネクタ。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 A 被試験IC用ソケツトが実装され、この被試
験IC用ソケツトの各一つの端子から各種の試験
回路に接続するための複数の端子を導出するパフ
オーマンスボードと、パフオーマンスボードに導
出された各端子に接続する電気回路が実装された
ピンカードと、このピンカードと上記パフオーマ
ンスボードとの間に介在し、パフオーマンスボー
ドとピンカードとの間を電気的に接続するマザー
ボードと、 を具備して成るIC試験装置において、 B 上記マザーボードとパフオーマンスボードと
の間およびマザーボードとピンカードとの間をゼ
ロインサーシヨンフオース型コネクタによつて接
続および切離しを行う構造としたIC試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990060799U JP2537892Y2 (ja) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | Ic試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990060799U JP2537892Y2 (ja) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | Ic試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0421881U true JPH0421881U (ja) | 1992-02-24 |
| JP2537892Y2 JP2537892Y2 (ja) | 1997-06-04 |
Family
ID=31588481
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1990060799U Expired - Lifetime JP2537892Y2 (ja) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | Ic試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2537892Y2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999042851A1 (en) * | 1998-02-20 | 1999-08-26 | Advantest Corporation | Structure of test fixture interface |
| JP2003503712A (ja) * | 1999-06-28 | 2003-01-28 | テラダイン・インコーポレーテッド | 半導体並列テスタ |
| JP2007078675A (ja) * | 2005-09-15 | 2007-03-29 | Agilent Technol Inc | プローブアセンブリおよびこれを利用した装置 |
| WO2008062579A1 (en) * | 2006-11-22 | 2008-05-29 | Panasonic Corporation | Semiconductor inspection equipment |
| WO2010052761A1 (ja) * | 2008-11-04 | 2010-05-14 | 株式会社アドバンテスト | コネクタ着脱装置およびテストヘッド |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5960269A (ja) * | 1982-09-29 | 1984-04-06 | Nec Corp | 汎用フイクスチヤ− |
| JPS62120289U (ja) * | 1986-01-22 | 1987-07-30 | ||
| JPS63153481A (ja) * | 1986-12-18 | 1988-06-25 | Asia Electron Kk | 集積回路測定用接続装置 |
-
1990
- 1990-06-08 JP JP1990060799U patent/JP2537892Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
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| JP5161975B2 (ja) * | 2008-11-04 | 2013-03-13 | 株式会社アドバンテスト | コネクタ着脱装置およびテストヘッド |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2537892Y2 (ja) | 1997-06-04 |
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