JPH04219677A - 磁気ディスク記憶装置からのデータの回復方法 - Google Patents
磁気ディスク記憶装置からのデータの回復方法Info
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- JPH04219677A JPH04219677A JP3042185A JP4218591A JPH04219677A JP H04219677 A JPH04219677 A JP H04219677A JP 3042185 A JP3042185 A JP 3042185A JP 4218591 A JP4218591 A JP 4218591A JP H04219677 A JPH04219677 A JP H04219677A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B27/00—Editing; Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Monitoring; Measuring tape travel
- G11B27/36—Monitoring, i.e. supervising the progress of recording or reproducing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
- G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
- G11B19/04—Arrangements for preventing, inhibiting, or warning against double recording on the same blank or against other recording or reproducing malfunctions
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1816—Testing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/012—Recording on, or reproducing or erasing from, magnetic disks
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- G—PHYSICS
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- G11B5/455—Arrangements for functional testing of heads; Measuring arrangements for heads
-
- G—PHYSICS
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- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B2005/0002—Special dispositions or recording techniques
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- G11B2005/0008—Magnetic conditionning of heads, e.g. biasing
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- G11B2020/183—Testing wherein at least one additional attempt is made to read or write the data when a first attempt is unsuccessful
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Digital Magnetic Recording (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Management Or Editing Of Information On Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、読取り／書込み式磁気
ストレージ装置、より詳細に言えば、デイスク上にスト
アされたエラーを持つデータを正しく回復する方法に関
する。
ストレージ装置、より詳細に言えば、デイスク上にスト
アされたエラーを持つデータを正しく回復する方法に関
する。
【０００２】
【従来の技術】基本的に言えば、通常の回転式メモリは
データを磁気的にストアすることのできる少なくとも１
枚の磁気デイスクを含んでいる。通常、空隙を含む磁気
デバイスが磁気デイスクの表面上を飛翔している。磁気
デバイスのコイルに流れる電流は、この磁気デバイスの
空隙の所に磁力線を発生し、これは転じて磁気デイスク
の表面の部分を磁化する。アクチユエータのアームは、
この磁気デバイスが装着されており、デイスクの表面上
の種々の部分にこの磁気デバイスを移動するのに使用さ
れる。
データを磁気的にストアすることのできる少なくとも１
枚の磁気デイスクを含んでいる。通常、空隙を含む磁気
デバイスが磁気デイスクの表面上を飛翔している。磁気
デバイスのコイルに流れる電流は、この磁気デバイスの
空隙の所に磁力線を発生し、これは転じて磁気デイスク
の表面の部分を磁化する。アクチユエータのアームは、
この磁気デバイスが装着されており、デイスクの表面上
の種々の部分にこの磁気デバイスを移動するのに使用さ
れる。
【０００３】また、この磁気デバイスはデイスクの磁化
部分を感知するのに用いられる。これは通常、デイスク
からデータを読取ると言われている。アクチユエータ・
アームは、コンピユータによつて所望の計算を行なうの
に必要なデータを含んでいる選択された関連部分に磁気
デバイスを移動させる。デイスクの磁化部分はデイスク
の表面付近に磁束、即ち磁界を発生する。磁気デバイス
が回転デイスクの表面付近を飛翔、即ち通過した時、回
転デイスクにより発生される磁界の変化によつて磁気デ
バイスのコイル中に電圧が発生される。この電圧はデイ
スクの表面上の磁界の遷移を検出するのに用いられる。 これらの遷移はデイスク上にストアされたデータを表示
している。
部分を感知するのに用いられる。これは通常、デイスク
からデータを読取ると言われている。アクチユエータ・
アームは、コンピユータによつて所望の計算を行なうの
に必要なデータを含んでいる選択された関連部分に磁気
デバイスを移動させる。デイスクの磁化部分はデイスク
の表面付近に磁束、即ち磁界を発生する。磁気デバイス
が回転デイスクの表面付近を飛翔、即ち通過した時、回
転デイスクにより発生される磁界の変化によつて磁気デ
バイスのコイル中に電圧が発生される。この電圧はデイ
スクの表面上の磁界の遷移を検出するのに用いられる。 これらの遷移はデイスク上にストアされたデータを表示
している。
【０００４】或る場合には、デイスクから読取られたデ
ータにエラーが検出され、これは転じて、或る種の訂正
動作を起動する。データがデイスクから読取られている
間で検出されたエラーは、読取りエラーと一般に呼ばれ
ている。ソフト読取りエラーとは、訂正可能な読取りエ
ラーのことである。多くの場合、読取りエラーの訂正は
、回転磁気デイスク・ストレージ装置の範囲外のコンピ
ユータ・システムに干渉を与えることなく処理される。 また、ソフト読取りエラーは、ユーザがソフト読取りエ
ラーの発生に気付く前に訂正される。
ータにエラーが検出され、これは転じて、或る種の訂正
動作を起動する。データがデイスクから読取られている
間で検出されたエラーは、読取りエラーと一般に呼ばれ
ている。ソフト読取りエラーとは、訂正可能な読取りエ
ラーのことである。多くの場合、読取りエラーの訂正は
、回転磁気デイスク・ストレージ装置の範囲外のコンピ
ユータ・システムに干渉を与えることなく処理される。 また、ソフト読取りエラーは、ユーザがソフト読取りエ
ラーの発生に気付く前に訂正される。
【０００５】読取りエラーに遭遇した時、すべての場合
、データ回復プロシージヤと呼ばれる複数のステツプを
含むプロシージヤが試みられる。データ回復プロシージ
ヤ中のステツプが読取りエラーを訂正できない時には、
その読取りエラーはハード・エラーと呼ばれる。
、データ回復プロシージヤと呼ばれる複数のステツプを
含むプロシージヤが試みられる。データ回復プロシージ
ヤ中のステツプが読取りエラーを訂正できない時には、
その読取りエラーはハード・エラーと呼ばれる。
【０００６】ハード・エラーとはデータが喪失されたこ
とを意味する。データが高いドロツプ・カウント（喪失
回数）で喪失した場合、つまり、例えばセクタなどのデ
イスクの特定の領域から多数のデータが失われた場合に
は、その領域はデイスク・ドライブの別個の他の磁化可
能部分に再配分される。再配分の処理の間でエラーが回
復される。ソフト・エラーではないハード・エラーは最
終的には回復可能であるけれども、デイスク・ドライブ
を工場に送り戻した場合に限つて回復される。このプロ
シージヤは、デイスク・ドライブに信頼をおくシステム
、またはそのユーザにとつて時間の浪費であり、またデ
イスク・ドライブの製造者にとつても費用の嵩む仕事で
ある。従つて、エラーを回復するために工場にデイスク
・ドライブを送り戻すことは、重要なデータが大量に失
われた時のように、希に生じるトラブルにしか行なわれ
ない。読取りエラーは極力回避すべきだし、読取りエラ
ーがハード・エラーにならないように、すべての読取り
エラーを回復するストレージ装置の能力を強化するあら
ゆる処理ステツプ、または装置が常に必要である。読取
りエラーを回復する能力を向上させることは、ハード・
エラーの発生率が減少されることであり、これは転じて
、データの喪失や、デイスク・ドライブを信頼するユー
ザにかける迷惑や、工場で行なわれる費用のかかるデー
タの回復などを減少することを意味する。
とを意味する。データが高いドロツプ・カウント（喪失
回数）で喪失した場合、つまり、例えばセクタなどのデ
イスクの特定の領域から多数のデータが失われた場合に
は、その領域はデイスク・ドライブの別個の他の磁化可
能部分に再配分される。再配分の処理の間でエラーが回
復される。ソフト・エラーではないハード・エラーは最
終的には回復可能であるけれども、デイスク・ドライブ
を工場に送り戻した場合に限つて回復される。このプロ
シージヤは、デイスク・ドライブに信頼をおくシステム
、またはそのユーザにとつて時間の浪費であり、またデ
イスク・ドライブの製造者にとつても費用の嵩む仕事で
ある。従つて、エラーを回復するために工場にデイスク
・ドライブを送り戻すことは、重要なデータが大量に失
われた時のように、希に生じるトラブルにしか行なわれ
ない。読取りエラーは極力回避すべきだし、読取りエラ
ーがハード・エラーにならないように、すべての読取り
エラーを回復するストレージ装置の能力を強化するあら
ゆる処理ステツプ、または装置が常に必要である。読取
りエラーを回復する能力を向上させることは、ハード・
エラーの発生率が減少されることであり、これは転じて
、データの喪失や、デイスク・ドライブを信頼するユー
ザにかける迷惑や、工場で行なわれる費用のかかるデー
タの回復などを減少することを意味する。
【０００７】従来、データの回復プロシージヤによりエ
ラー状態にあるデータを正しいデータに回復するために
、幾つかの段階が用いられてきた。米国特許第４８２１
１２５号の第８欄の第３２行には、データの回復プロシ
ージヤに関する記載がある。また、データの回復プロシ
ージヤは流れ図の形式で図１に示されている。基本的に
言うと、この特許は、エラーを含むデイスクの部分を数
回にわたつて再度読取りを行なつた後、チヤンネルの特
性を変更し、次に、エラー状態にあるデータを回復する
ために、デイスクのエラー部分を数回にわたつて再読取
りを行なうことを教示している。デイスクは、エラー訂
正コードを使用することなく、先ず再読取りされる。 その後、或る種のチヤンネル特性が変更される。デイス
クの部分は、エラー訂正コードを用いて再読取りされ、
次に、ヘツドは、読取りトラツクの外側及び内側の両方
向にオフセツトされ、次に可変デルタＶ検出パラメータ
を変更した後に再読取りを試行し、そして、再読取りの
間に第２のエラー訂正コードが用いられる。この米国特
許は１つの特定のエラー回復プロシージヤと、エラーを
回復するために、可変デルタＶ検出パラメータを変更す
る特定のステツプを開示している。
ラー状態にあるデータを正しいデータに回復するために
、幾つかの段階が用いられてきた。米国特許第４８２１
１２５号の第８欄の第３２行には、データの回復プロシ
ージヤに関する記載がある。また、データの回復プロシ
ージヤは流れ図の形式で図１に示されている。基本的に
言うと、この特許は、エラーを含むデイスクの部分を数
回にわたつて再度読取りを行なつた後、チヤンネルの特
性を変更し、次に、エラー状態にあるデータを回復する
ために、デイスクのエラー部分を数回にわたつて再読取
りを行なうことを教示している。デイスクは、エラー訂
正コードを使用することなく、先ず再読取りされる。 その後、或る種のチヤンネル特性が変更される。デイス
クの部分は、エラー訂正コードを用いて再読取りされ、
次に、ヘツドは、読取りトラツクの外側及び内側の両方
向にオフセツトされ、次に可変デルタＶ検出パラメータ
を変更した後に再読取りを試行し、そして、再読取りの
間に第２のエラー訂正コードが用いられる。この米国特
許は１つの特定のエラー回復プロシージヤと、エラーを
回復するために、可変デルタＶ検出パラメータを変更す
る特定のステツプを開示している。
【０００８】上述の米国特許に示されたステツプ以外に
、多様な種類のステツプを特徴付ける多くの異なつたエ
ラー回復プロシージヤがある。データ回復の従来の技術
において知られている他のステツプは、磁気遷移を検出
するのに用いられるタイミング・ウインドウを電気的に
変化させることを含んでいる。このタイミング・ウイン
ドウは、その中心位置から前方、または後方に変位する
ことができ、これにより、タイミング・ウインドウにお
いて発生する遷移時間に対して僅かに進んだタイミング
か、または僅かに遅れたタイミングかの何れかに発生し
た磁気遷移を検出する。
、多様な種類のステツプを特徴付ける多くの異なつたエ
ラー回復プロシージヤがある。データ回復の従来の技術
において知られている他のステツプは、磁気遷移を検出
するのに用いられるタイミング・ウインドウを電気的に
変化させることを含んでいる。このタイミング・ウイン
ドウは、その中心位置から前方、または後方に変位する
ことができ、これにより、タイミング・ウインドウにお
いて発生する遷移時間に対して僅かに進んだタイミング
か、または僅かに遅れたタイミングかの何れかに発生し
た磁気遷移を検出する。
【０００９】米国特許第４５１６１６５号は読取りエラ
ーを回復するための他のデータ回復プロシージヤを開示
している。この特許はエラーを含むトラツクの何れかの
側にある２つの隣接トラツク上のデータを読取り、そし
てストアすることを記載している。隣接したトラツクは
夫々再読取りされ、そして、エラーを含むトラツクはエ
ラーを回復する試みのために再読取りされる。この技術
は、トラツクの誤整列に起因して、所定のトラツクの１
部分が、隣接したトラツクの書込みの時に部分的に狭め
られた場合か、または、隣接したトラツク上のデータが
同位相で、かつ側方のリードバツク振幅が過剰な周波数
である場合において、一致したエラーを示すトラツクか
らのデータを回復させる。
ーを回復するための他のデータ回復プロシージヤを開示
している。この特許はエラーを含むトラツクの何れかの
側にある２つの隣接トラツク上のデータを読取り、そし
てストアすることを記載している。隣接したトラツクは
夫々再読取りされ、そして、エラーを含むトラツクはエ
ラーを回復する試みのために再読取りされる。この技術
は、トラツクの誤整列に起因して、所定のトラツクの１
部分が、隣接したトラツクの書込みの時に部分的に狭め
られた場合か、または、隣接したトラツク上のデータが
同位相で、かつ側方のリードバツク振幅が過剰な周波数
である場合において、一致したエラーを示すトラツクか
らのデータを回復させる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】上述したデータ回復の
従来の技術は或る種のアプリケーシヨンには有用である
。既に述べたように、読取りに際して困難を伴うトラツ
ク、またはセクタ中のデータを回復するための特別の能
力をデイスク・ドライブ、または磁気ストレージ装置に
与えるステツプ、または装置が常に必要である。
従来の技術は或る種のアプリケーシヨンには有用である
。既に述べたように、読取りに際して困難を伴うトラツ
ク、またはセクタ中のデータを回復するための特別の能
力をデイスク・ドライブ、または磁気ストレージ装置に
与えるステツプ、または装置が常に必要である。
【００１１】本発明の目的はエラーを含むデータを回復
するために、デイスク・ドライブの能力を強化する技術
を提供することにある。
するために、デイスク・ドライブの能力を強化する技術
を提供することにある。
【００１２】基本的に言えば、本発明の技術は情報をス
トアするのに用いられないデイスク面の一部を対象とす
るものである。つまり、そのようなデイスクの一部とは
、デイスク・ドライブの動作に不可欠なサーボ情報とか
、または他の重要情報の領域のように、データを喪失す
る危険性を持たずに書込むことのできる領域を意味する
。デイスク・ドライブにおいて、セクタをリザーブする
ことは一般に行なわれていることである。セクタが磁気
的に欠陥があると決定された時に、予備のセクタがバツ
クアツプとして準備されている。通常、各シリンダは幾
つかの予備シリンダを与えられている。通常の動作にお
いて、若し、セクタに欠陥があると決定されたならば、
データはフラグされたセクタ以外の別個のセクタ中に書
込まれる。
トアするのに用いられないデイスク面の一部を対象とす
るものである。つまり、そのようなデイスクの一部とは
、デイスク・ドライブの動作に不可欠なサーボ情報とか
、または他の重要情報の領域のように、データを喪失す
る危険性を持たずに書込むことのできる領域を意味する
。デイスク・ドライブにおいて、セクタをリザーブする
ことは一般に行なわれていることである。セクタが磁気
的に欠陥があると決定された時に、予備のセクタがバツ
クアツプとして準備されている。通常、各シリンダは幾
つかの予備シリンダを与えられている。通常の動作にお
いて、若し、セクタに欠陥があると決定されたならば、
データはフラグされたセクタ以外の別個のセクタ中に書
込まれる。
【００１３】
【課題を解決するための手段】本発明は重要な情報がス
トアされていないデイスクの部分にデータを書込み、次
にエラーを生じたセクタを再読取りするステツプを含ん
でいる。デイスク上の使用していない領域中に、同じヘ
ツドで書込みを行なうことによつて改善されたヘツドの
読取り性能が与えられることが本発明の要素であつて、
このことは、ヘツドの状態が変化されたものと考えられ
ている。
トアされていないデイスクの部分にデータを書込み、次
にエラーを生じたセクタを再読取りするステツプを含ん
でいる。デイスク上の使用していない領域中に、同じヘ
ツドで書込みを行なうことによつて改善されたヘツドの
読取り性能が与えられることが本発明の要素であつて、
このことは、ヘツドの状態が変化されたものと考えられ
ている。
【００１４】従来、ヘツドの非安定性は磁気ストレージ
装置に関する問題として考えられていた。然しながら、
本発明の技術はヘツドの非安定性を利用している。本発
明を適用した磁気ストレージ装置において、書込み後の
ヘツドによる読取りエラー率の減少は、１０００倍まで
変化することが見出されている。読取りエラーを生じた
セクタが、異なつてリセツトされたヘツドの読取り状態
において再度読取られた時、以前に読取ることができな
かつたデータが正しく読取ることのできる確率は高くな
る。
装置に関する問題として考えられていた。然しながら、
本発明の技術はヘツドの非安定性を利用している。本発
明を適用した磁気ストレージ装置において、書込み後の
ヘツドによる読取りエラー率の減少は、１０００倍まで
変化することが見出されている。読取りエラーを生じた
セクタが、異なつてリセツトされたヘツドの読取り状態
において再度読取られた時、以前に読取ることができな
かつたデータが正しく読取ることのできる確率は高くな
る。
【００１５】本発明の技術を使用することによつて、ソ
フト・エラーの回復率が３桁の大きさで改善されること
が判つている。本発明によつて、フアイルのハード・エ
ラーも同様に改善される。また、エラーの回復率を向上
する性能は、フアイルのスループツトを改善する。加え
て、本発明の方法は付加的なハードウエアを必要としな
いし、従来の回復プロシージヤのステツプと比較した時
、処理時間が殆ど増加しない。また、本発明の方法は、
従来から広く使われている単一バースト・エラー訂正コ
ードで訂正できなかつたデータも回復することができる
。
フト・エラーの回復率が３桁の大きさで改善されること
が判つている。本発明によつて、フアイルのハード・エ
ラーも同様に改善される。また、エラーの回復率を向上
する性能は、フアイルのスループツトを改善する。加え
て、本発明の方法は付加的なハードウエアを必要としな
いし、従来の回復プロシージヤのステツプと比較した時
、処理時間が殆ど増加しない。また、本発明の方法は、
従来から広く使われている単一バースト・エラー訂正コ
ードで訂正できなかつたデータも回復することができる
。
【００１６】
【実施例】図２は磁気デイスク・ドライブ、即ち磁気ス
トレージ装置１０の模式的な平面図である。磁気ストレ
ージ装置１０はハウジング１２を含んでいる。ハウジン
グ１２に回転可能に装着された磁気デイスク１４は、同
心円の複数本のトラツク１６を持つている。図３を参照
すると、各トラツク１６は複数個のセクタ１８を含んで
いることが示されている。各セクタは、デイスク１４の
磁気面の磁化領域の形式でデータを保持している。再度
、図２を参照すると、デイスク・ドライブ１０のハウジ
ング１２に回転可能に装着されたアクチユエータ・アー
ム２０が示されている。アクチユエータ・アーム２０に
は、スライダ２４と磁気変換器２６とを含むアセンブリ
２２が装着されている。アクチユエータ・アーム２０は
、スライダ２４に設けられた変換器２６を、選択された
トラツク上に位置付けるために回転される。選択された
トラツクは所望の情報がストアされているセクタ１８を
含んでいる。
トレージ装置１０の模式的な平面図である。磁気ストレ
ージ装置１０はハウジング１２を含んでいる。ハウジン
グ１２に回転可能に装着された磁気デイスク１４は、同
心円の複数本のトラツク１６を持つている。図３を参照
すると、各トラツク１６は複数個のセクタ１８を含んで
いることが示されている。各セクタは、デイスク１４の
磁気面の磁化領域の形式でデータを保持している。再度
、図２を参照すると、デイスク・ドライブ１０のハウジ
ング１２に回転可能に装着されたアクチユエータ・アー
ム２０が示されている。アクチユエータ・アーム２０に
は、スライダ２４と磁気変換器２６とを含むアセンブリ
２２が装着されている。アクチユエータ・アーム２０は
、スライダ２４に設けられた変換器２６を、選択された
トラツク上に位置付けるために回転される。選択された
トラツクは所望の情報がストアされているセクタ１８を
含んでいる。
【００１７】図４を参照すると、磁気ストレージ装置１
０が複数枚のデイスク１４を持つていることが示されて
いる。ヘツド、即ち磁気変換器２６はデイスク１４の各
面に関連付けられる。ヘツド２６は、デイスクの中心に
対して、特定のデイスク上の同じ部分に相対的に各ヘツ
ドを移動させる櫛状の構造体２８に装着されている。換
言すれば、特定の半径の所にある１つのデイスク１４の
同心円状のトラツク１６は同じ半径の所にある他のトラ
ツク１４上に対応するトラツクを持つていることを意味
する。デイスクの中心から特定の半径の所にあるデイス
ク１４上のすべてのトラツク１６は、一般にシリンダと
呼ばれているものを形成する。
０が複数枚のデイスク１４を持つていることが示されて
いる。ヘツド、即ち磁気変換器２６はデイスク１４の各
面に関連付けられる。ヘツド２６は、デイスクの中心に
対して、特定のデイスク上の同じ部分に相対的に各ヘツ
ドを移動させる櫛状の構造体２８に装着されている。換
言すれば、特定の半径の所にある１つのデイスク１４の
同心円状のトラツク１６は同じ半径の所にある他のトラ
ツク１４上に対応するトラツクを持つていることを意味
する。デイスクの中心から特定の半径の所にあるデイス
ク１４上のすべてのトラツク１６は、一般にシリンダと
呼ばれているものを形成する。
【００１８】各シリンダに対して、複数個のセクタ１８
は離隔したセクタ１８′として識別される。シリンダ中
の１つ、またはそれ以上のセクタ１８が磁気的な欠陥あ
りと決定された場合、通常、離隔した他のセクタが指定
される。上述のことを言い代えれば、或るセクタに欠陥
があると決定された場合、データをストアするために指
定されたセクタ１８に対して、別個のセクタ１８′がバ
ツクアツプとして用いられることを意味する。これは、
ソフト・エラー、またはハード・エラーが発生した場合
、データをそのセクタに書込むのではなく、データの完
全性を確保するために、そのデータを別個のセクタ１８
′に書込むと言うことである。特定のシリンダに対して
、すべて別個のセクタ１８′は、シリンダ中の１枚のデ
イスクの１面だけに位置付けられている。１つのデイス
ク面よりも多い面上に別個のセクタ１８′を物理的に位
置付けた異なつたデザインのデイスク・ドライブを設計
することもできる。
は離隔したセクタ１８′として識別される。シリンダ中
の１つ、またはそれ以上のセクタ１８が磁気的な欠陥あ
りと決定された場合、通常、離隔した他のセクタが指定
される。上述のことを言い代えれば、或るセクタに欠陥
があると決定された場合、データをストアするために指
定されたセクタ１８に対して、別個のセクタ１８′がバ
ツクアツプとして用いられることを意味する。これは、
ソフト・エラー、またはハード・エラーが発生した場合
、データをそのセクタに書込むのではなく、データの完
全性を確保するために、そのデータを別個のセクタ１８
′に書込むと言うことである。特定のシリンダに対して
、すべて別個のセクタ１８′は、シリンダ中の１枚のデ
イスクの１面だけに位置付けられている。１つのデイス
ク面よりも多い面上に別個のセクタ１８′を物理的に位
置付けた異なつたデザインのデイスク・ドライブを設計
することもできる。
【００１９】また、リザーブされた領域を各デイスク１
４の外側のトラツクに設けることもできる。このリザー
ブ領域は、データ領域の空間と、デイスク・ドライブ１
０に特別に与えられた機能を遂行するのに必要な領域の
空間とに対する領域の空間である。このリザーブ空間は
、インターフエース・データをストアするためと、各磁
気変換器、即ちヘツド２６の書込み機能のテストのよう
な診断機能に関するデータをストアするためと、フアイ
ル・プロセツサの情報をストアするためなどに使用され
る。
４の外側のトラツクに設けることもできる。このリザー
ブ領域は、データ領域の空間と、デイスク・ドライブ１
０に特別に与えられた機能を遂行するのに必要な領域の
空間とに対する領域の空間である。このリザーブ空間は
、インターフエース・データをストアするためと、各磁
気変換器、即ちヘツド２６の書込み機能のテストのよう
な診断機能に関するデータをストアするためと、フアイ
ル・プロセツサの情報をストアするためなどに使用され
る。
【００２０】図５を参照すると、セクタ１８の細部が示
されている。セクタ１８を配列する方法は多数のものが
公知であり、図示されたセクタは、ほんの１例であるこ
とには注意を払う必要がある。セクタ１８は、セクタの
データを読取る時、データ・チヤンネルと適正に同期さ
せるための情報を含む同期ゾーン３２で開始する。セク
タ１８の次の部分は、その特定のセクタを識別するセク
タ標識３３の部分である。データ部分３４に続いて、エ
ラー訂正コードの部分３５がある。部分３５のエラー訂
正コードは、読取りの時、データ中のエラーを決定する
のに用いられる。セクタの次の部分は内部セクタ・ギヤ
ツプ３６である。内部セクタ・ギヤツプ３６は、ヘツド
書込み電流が滅勢された結果、データの不慮の喪失を回
避するための書き込み回復フイールド、または、回転速
度の変動を吸収するフイールドである。内部セクタ・ギ
ヤツプ３６に続いて、次のセクタの同期ゾーンが後続す
る。
されている。セクタ１８を配列する方法は多数のものが
公知であり、図示されたセクタは、ほんの１例であるこ
とには注意を払う必要がある。セクタ１８は、セクタの
データを読取る時、データ・チヤンネルと適正に同期さ
せるための情報を含む同期ゾーン３２で開始する。セク
タ１８の次の部分は、その特定のセクタを識別するセク
タ標識３３の部分である。データ部分３４に続いて、エ
ラー訂正コードの部分３５がある。部分３５のエラー訂
正コードは、読取りの時、データ中のエラーを決定する
のに用いられる。セクタの次の部分は内部セクタ・ギヤ
ツプ３６である。内部セクタ・ギヤツプ３６は、ヘツド
書込み電流が滅勢された結果、データの不慮の喪失を回
避するための書き込み回復フイールド、または、回転速
度の変動を吸収するフイールドである。内部セクタ・ギ
ヤツプ３６に続いて、次のセクタの同期ゾーンが後続す
る。
【００２１】ヘツドの非安定性は、磁気ストレージ装置
の分野の問題であると考えられていた。ヘツドの非安定
性は、エラーを含んで読取られるデータ信号の確率、ま
たはサーボ信号の確率を高くする。これは、ヘツドの品
質が悪いため、ヘツドの状態が一定でなく、書込み、ま
たは読取り動作の間で変化するので、ヘツドの非安定性
は生産工場の品質の低さであると考えられていた。その
ため、ヘツド製造の分野では、デイスク・ドライブの最
終バージヨンにおけるソフト・エラーの発生率が一定の
許容範囲に入るように、デイスクの毎平方インチ当りに
ストアされるデータのビツト数、即ち単位面積当りのビ
ツト密度は、設計段階において低めに選ばれている。
の分野の問題であると考えられていた。ヘツドの非安定
性は、エラーを含んで読取られるデータ信号の確率、ま
たはサーボ信号の確率を高くする。これは、ヘツドの品
質が悪いため、ヘツドの状態が一定でなく、書込み、ま
たは読取り動作の間で変化するので、ヘツドの非安定性
は生産工場の品質の低さであると考えられていた。その
ため、ヘツド製造の分野では、デイスク・ドライブの最
終バージヨンにおけるソフト・エラーの発生率が一定の
許容範囲に入るように、デイスクの毎平方インチ当りに
ストアされるデータのビツト数、即ち単位面積当りのビ
ツト密度は、設計段階において低めに選ばれている。
【００２２】図２及び図３を参照して、セクタ１８の基
本的な動作と、セクタ１８上のエラーの検出を以下に説
明する。アクチユエータ・アーム２０は所望のデータが
ストアされている所定のセクタ１８を含むトラツク上に
位置付けられる。磁気変換器、即ちヘツド２６はトラツ
ク上で飛翔し、種々のセクタ１８のデータを読取る。読
取り動作の間で、セクタ１８の１つがエラーを持つたと
決定される。セクタ１８の部分３５中のエラー検出コー
ドを用いて、セクタ１８中の読取りエラーを表示する。
本的な動作と、セクタ１８上のエラーの検出を以下に説
明する。アクチユエータ・アーム２０は所望のデータが
ストアされている所定のセクタ１８を含むトラツク上に
位置付けられる。磁気変換器、即ちヘツド２６はトラツ
ク上で飛翔し、種々のセクタ１８のデータを読取る。読
取り動作の間で、セクタ１８の１つがエラーを持つたと
決定される。セクタ１８の部分３５中のエラー検出コー
ドを用いて、セクタ１８中の読取りエラーを表示する。
【００２３】読取りエラーの検出は、図６に示したよう
なエラーを回復するプロシージヤの実行を開始する。デ
ータの回復プロシージヤは、これらのエラーの訂正を試
みる動作を実行し、そして、ハード・エラー、即ちデイ
スク・ドライブ１０内で回復不能なエラーになることを
回避する。図６に示したエラーの回復プロシージヤは、
ハード・エラー、即ち回復不能のエラーを識別するため
のプロシージヤの全ルーチンを通して終了される多数の
ステツプか、または、エラーが訂正されるまで、連続し
て追跡される多数のステツプのプロシージヤであること
には注意を払う必要がある。エラー回復プロシージヤに
おける最初のステツプは通常、最も速度が早く、かつ実
行するのが容易である。その後のステツプは、実行する
に必要な時間が次第に長時間を要するようになる。エラ
ー回復プロシージヤのステツプのグループは、エラーが
デイスク・ドライブ１０の中では回復不可能なハード・
エラーであると決められるまで、何遍か繰り返される。
なエラーを回復するプロシージヤの実行を開始する。デ
ータの回復プロシージヤは、これらのエラーの訂正を試
みる動作を実行し、そして、ハード・エラー、即ちデイ
スク・ドライブ１０内で回復不能なエラーになることを
回避する。図６に示したエラーの回復プロシージヤは、
ハード・エラー、即ち回復不能のエラーを識別するため
のプロシージヤの全ルーチンを通して終了される多数の
ステツプか、または、エラーが訂正されるまで、連続し
て追跡される多数のステツプのプロシージヤであること
には注意を払う必要がある。エラー回復プロシージヤに
おける最初のステツプは通常、最も速度が早く、かつ実
行するのが容易である。その後のステツプは、実行する
に必要な時間が次第に長時間を要するようになる。エラ
ー回復プロシージヤのステツプのグループは、エラーが
デイスク・ドライブ１０の中では回復不可能なハード・
エラーであると決められるまで、何遍か繰り返される。
【００２４】図６に示したように、部分３５において、
エラー訂正コード（ＥＣＣ）を使用することによつてエ
ラーが検出された後、セクタ１８は、ステツプ４２で示
されているようなＥＣＣを用いることなく、数回の再読
取り動作が行なわれる。若し、データの回復が成功しな
ければ、ステツプ４３に示されたように、所定の距離だ
けヘツドをトラツクの外側にオフセツトして、そのセク
タが再読取りされる。次のステツプ４４は所定の距離だ
け内側にオフセツトされて、セクタが再度読取られる。 次のステツプ４６は本発明の要点であつて、その細部は
後述する。次のステツプ４８はエラー訂正コードを使用
して、そのセクタの再読取りを行なう。次の２つのステ
ツプ５０、５２はヘツドの電圧を調節することに関して
おり、このステツプにおいて、そのデータが有効である
と決められる前に、検出されるパルスに対して、電圧を
変更しなければならない。ステツプ４３及び４４に示し
たトラツク移動と同様なヘツドのオフセツトがステツプ
５４で行なわれる。図６に示した最後のステツプ５６は
、磁気遷移がウインドウの前方及び後方の両方に入るよ
うにウインドウを電気的に移動した後に、セクタ１８を
再読取りするステツプである。これは、図６のデータ・
ストローブ・ステツプ５６として示されている。図６に
示された流れ図は、特定の１つのデータ回復プロシージ
ヤの初期の段階だけを示したものである。エラーがハー
ド・エラーと決められる前に、これらのステツプは、デ
ータを回復する試みを数回反復することができるのは注
意を要する。他の異なつたデータ回復プロシージヤは、
図６のデータ回復プロシージヤに示されたステツプとは
異なつた順序に置き換えることができるし、全く異なつ
たステツプを用いることもできる。
エラー訂正コード（ＥＣＣ）を使用することによつてエ
ラーが検出された後、セクタ１８は、ステツプ４２で示
されているようなＥＣＣを用いることなく、数回の再読
取り動作が行なわれる。若し、データの回復が成功しな
ければ、ステツプ４３に示されたように、所定の距離だ
けヘツドをトラツクの外側にオフセツトして、そのセク
タが再読取りされる。次のステツプ４４は所定の距離だ
け内側にオフセツトされて、セクタが再度読取られる。 次のステツプ４６は本発明の要点であつて、その細部は
後述する。次のステツプ４８はエラー訂正コードを使用
して、そのセクタの再読取りを行なう。次の２つのステ
ツプ５０、５２はヘツドの電圧を調節することに関して
おり、このステツプにおいて、そのデータが有効である
と決められる前に、検出されるパルスに対して、電圧を
変更しなければならない。ステツプ４３及び４４に示し
たトラツク移動と同様なヘツドのオフセツトがステツプ
５４で行なわれる。図６に示した最後のステツプ５６は
、磁気遷移がウインドウの前方及び後方の両方に入るよ
うにウインドウを電気的に移動した後に、セクタ１８を
再読取りするステツプである。これは、図６のデータ・
ストローブ・ステツプ５６として示されている。図６に
示された流れ図は、特定の１つのデータ回復プロシージ
ヤの初期の段階だけを示したものである。エラーがハー
ド・エラーと決められる前に、これらのステツプは、デ
ータを回復する試みを数回反復することができるのは注
意を要する。他の異なつたデータ回復プロシージヤは、
図６のデータ回復プロシージヤに示されたステツプとは
異なつた順序に置き換えることができるし、全く異なつ
たステツプを用いることもできる。
【００２５】次に、図１を参照すると、ステツプ４６に
示されているヘツドをリセツトするステツプの細部が示
されている。ステツプ６２で示されているように、ヘツ
ドはリザーブ領域に移動される。リザーブ領域は、デイ
スクの動作に不可欠なデータ、またはサーボ情報などが
含まれていない幾つかの領域の１つである。リザーブ領
域は他のセクタ１８に関連した１つの特定の位置に位置
付ける必要はない。図１を参照すると、読取り動作は、
ステツプ６４で示されているように、リザーブ領域上の
ヘツド２６によつて遂行される。ヘツドが、書込み動作
に一度用いられると、そのヘツドの読取り性能が変化さ
れることが見出されている。ヘツド２６の状態変化は、
ヘツド２６の読取り性能を改善する。参照数字６６で示
されたステツプにおける動作は、読取りエラーを持つセ
クタ上にヘツド２６を位置付けることである。最後に、
セクタ１８の正確な読取りを行なうために、リセツトさ
れたヘツドにより、セクタ１８が読取られる。
示されているヘツドをリセツトするステツプの細部が示
されている。ステツプ６２で示されているように、ヘツ
ドはリザーブ領域に移動される。リザーブ領域は、デイ
スクの動作に不可欠なデータ、またはサーボ情報などが
含まれていない幾つかの領域の１つである。リザーブ領
域は他のセクタ１８に関連した１つの特定の位置に位置
付ける必要はない。図１を参照すると、読取り動作は、
ステツプ６４で示されているように、リザーブ領域上の
ヘツド２６によつて遂行される。ヘツドが、書込み動作
に一度用いられると、そのヘツドの読取り性能が変化さ
れることが見出されている。ヘツド２６の状態変化は、
ヘツド２６の読取り性能を改善する。参照数字６６で示
されたステツプにおける動作は、読取りエラーを持つセ
クタ上にヘツド２６を位置付けることである。最後に、
セクタ１８の正確な読取りを行なうために、リセツトさ
れたヘツドにより、セクタ１８が読取られる。
【００２６】図６のステツプ４６及び図６の細部のステ
ツプで示されたようなヘツドをリセツトするステツプは
、幾つかの実施例がある。それらの実施例の差異は、リ
ザーブ領域が何処にあるかに関連がある。
ツプで示されたようなヘツドをリセツトするステツプは
、幾つかの実施例がある。それらの実施例の差異は、リ
ザーブ領域が何処にあるかに関連がある。
【００２７】第１の実施例は、リザーブ領域がデイスク
１４の外側のトラツクに位置付けられているものである
。リザーブ領域の空間は、書込み回路のテストを含む診
断機能のようなデイスク・ドライブ１０に付加的に設け
られた特別な機能を遂行する領域である。エラーを持つ
セクタ１８を含むトラツク１６からヘツド２６が移動さ
れた時、アクチユエータ・アーム２０はヘツド２６を移
動しなければならない。アクチユエータ・アーム２０は
、ヘツド２６をリセツトして書込みを行なう前に、ヘツ
ド２６を移動し、その後、読取りエラーを持つセクタ１
８にヘツドを再度移動する。この移動後に、読取りエラ
ーを持つセクタが再読取りされる。
１４の外側のトラツクに位置付けられているものである
。リザーブ領域の空間は、書込み回路のテストを含む診
断機能のようなデイスク・ドライブ１０に付加的に設け
られた特別な機能を遂行する領域である。エラーを持つ
セクタ１８を含むトラツク１６からヘツド２６が移動さ
れた時、アクチユエータ・アーム２０はヘツド２６を移
動しなければならない。アクチユエータ・アーム２０は
、ヘツド２６をリセツトして書込みを行なう前に、ヘツ
ド２６を移動し、その後、読取りエラーを持つセクタ１
８にヘツドを再度移動する。この移動後に、読取りエラ
ーを持つセクタが再読取りされる。
【００２８】第２の実施例は第１の実施例と非常に似て
いる。この実施例において、欠陥セクタが発見された時
、代替として用いるために準備されている予備セクタが
、ヘツド２６のヘツドの状態変化のためのリザーブ領域
として使用される。通常、複数の予備セクタが各シリン
ダ毎に与えられる。これらの予備セクタの物理的な位置
は各デイスク・フアイルのデザインによつて異る。例え
ば、多くのフアイルのすべての予備セクタを、１つの磁
気面の１つのシリンダに設けることができる。この場合
、読取りエラーを持つセクタを読んだ特定のヘツドは、
書込みを必要とするヘツドなので、ヘツド状態を変化す
るステツプにおいては、このヘツドはエラーを読取るだ
けにしか使用することができない。
いる。この実施例において、欠陥セクタが発見された時
、代替として用いるために準備されている予備セクタが
、ヘツド２６のヘツドの状態変化のためのリザーブ領域
として使用される。通常、複数の予備セクタが各シリン
ダ毎に与えられる。これらの予備セクタの物理的な位置
は各デイスク・フアイルのデザインによつて異る。例え
ば、多くのフアイルのすべての予備セクタを、１つの磁
気面の１つのシリンダに設けることができる。この場合
、読取りエラーを持つセクタを読んだ特定のヘツドは、
書込みを必要とするヘツドなので、ヘツド状態を変化す
るステツプにおいては、このヘツドはエラーを読取るだ
けにしか使用することができない。
【００２９】予備セクタを位置付ける他のデザインはこ
の実施例を一層効果的にする。例えば、各シリンダのた
めの予備セクタはシリンダ中の表面の各々に発生される
ように、フアイルを設計することができる。この場合、
各トラツクは使用され、または使用されない予備セクタ
を含むことになる。若し使用されないならば、リセツト
するステツプは、アクチユエータ・アーム２０の部分の
移動を必要としない。ヘツドは、読取りエラーを持つセ
クタ１８を有する特定のトラツク１６中の予備セクタ上
にリセツトすることができる。ヘツドが予備セクタのリ
ザーブ領域上を通過するのを１回転で保証する。このデ
ザインにおいて、若し予備セクタが使用されたならば、
アクチユエータ・アーム２０は、ヘツドのリセツト・ス
テツプにおいてその予備セクタを使用するために、隣の
トラツク１６にヘツドを移動させるだけでよい。予備セ
クタの物理的な位置付けの他のデザインも使用すること
ができ、この場合には、異なつた態様になる。加えて、
若し、欠陥セクタが読取りエラーを持つセクタを有する
トラツク１６中で発生したならば、欠陥セクタはリザー
ブ領域として使用することができる。
の実施例を一層効果的にする。例えば、各シリンダのた
めの予備セクタはシリンダ中の表面の各々に発生される
ように、フアイルを設計することができる。この場合、
各トラツクは使用され、または使用されない予備セクタ
を含むことになる。若し使用されないならば、リセツト
するステツプは、アクチユエータ・アーム２０の部分の
移動を必要としない。ヘツドは、読取りエラーを持つセ
クタ１８を有する特定のトラツク１６中の予備セクタ上
にリセツトすることができる。ヘツドが予備セクタのリ
ザーブ領域上を通過するのを１回転で保証する。このデ
ザインにおいて、若し予備セクタが使用されたならば、
アクチユエータ・アーム２０は、ヘツドのリセツト・ス
テツプにおいてその予備セクタを使用するために、隣の
トラツク１６にヘツドを移動させるだけでよい。予備セ
クタの物理的な位置付けの他のデザインも使用すること
ができ、この場合には、異なつた態様になる。加えて、
若し、欠陥セクタが読取りエラーを持つセクタを有する
トラツク１６中で発生したならば、欠陥セクタはリザー
ブ領域として使用することができる。
【００３０】第３の実施例は、ヘツドの状態を変化する
ステツプにおいて、リザーブ領域として内部セクタ・ギ
ヤツプ３６を使用するものである。エラーが検出された
後、ヘツドは内部セクタ・ギヤツプ３６の１つに再書込
みを行ない、次に、読取りエラーを含むセクタ１８の前
に再読取りを行なう。この実施例の利点は、ヘツドの状
態を変化するために他のトラツク上のリザーブ領域にア
クセスする必要がないことである。このステツプは通常
の再読取り以外の時間的な損失を生じないから、この実
施例はフアイル・ストレージ装置のスループツトを向上
する。
ステツプにおいて、リザーブ領域として内部セクタ・ギ
ヤツプ３６を使用するものである。エラーが検出された
後、ヘツドは内部セクタ・ギヤツプ３６の１つに再書込
みを行ない、次に、読取りエラーを含むセクタ１８の前
に再読取りを行なう。この実施例の利点は、ヘツドの状
態を変化するために他のトラツク上のリザーブ領域にア
クセスする必要がないことである。このステツプは通常
の再読取り以外の時間的な損失を生じないから、この実
施例はフアイル・ストレージ装置のスループツトを向上
する。
【００３１】リザーブ領域は、デイスクを動作するのに
必要なデータなどの情報を持たないデイスクの表面の任
意の領域であつてよいことには注意を払う必要がある。 また、或る種のデザインにおいては、リザーブ領域は、
この目的以外に設置されたトラツクの一部であつてもよ
い。
必要なデータなどの情報を持たないデイスクの表面の任
意の領域であつてよいことには注意を払う必要がある。 また、或る種のデザインにおいては、リザーブ領域は、
この目的以外に設置されたトラツクの一部であつてもよ
い。
【００３２】他の実施例はヘツド状態を変化するために
、データ・セクタを使用するものである。書込みのため
にリザーブ領域を用いないで、データ・セクタを用いる
ことができる。１回の通過で、データ・セクタを読取る
ことができる。含まれたデータは同じセクタに書き戻す
ことができる。読取られ、そして再書込みされたセクタ
は、そのセクタが読取りエラーを持つセクタなので、同
じトラツク中のセクタである。データが読取られ、そし
て再書込みされるセクタは読取りエラーを持つセクタの
付近のセクタであることが望ましい。
、データ・セクタを使用するものである。書込みのため
にリザーブ領域を用いないで、データ・セクタを用いる
ことができる。１回の通過で、データ・セクタを読取る
ことができる。含まれたデータは同じセクタに書き戻す
ことができる。読取られ、そして再書込みされたセクタ
は、そのセクタが読取りエラーを持つセクタなので、同
じトラツク中のセクタである。データが読取られ、そし
て再書込みされるセクタは読取りエラーを持つセクタの
付近のセクタであることが望ましい。
【００３３】また、同心円のトラツク以外の磁気ストレ
ージ装置にも同じ技術を用いることもできることには注
意を払う必要がある。例えば、リザーブ領域への書込み
、またはデータ・トラツクへの書込みを渦巻状のトラツ
クを持つ装置にも使用することができる。
ージ装置にも同じ技術を用いることもできることには注
意を払う必要がある。例えば、リザーブ領域への書込み
、またはデータ・トラツクへの書込みを渦巻状のトラツ
クを持つ装置にも使用することができる。
【００３４】また、ヘツド状態の変化を遂行する技術は
、セクタ中の読取りエラーの検出に応答するだけで、ト
リガしないでもできるのは注意を要する。例えば、ヘツ
ドの状態変化の動作は、ヘツドのソフト・エラー発生率
の減少の表示が変更されるよう決定された時にトリガす
ることができる。これは、振幅の測定、または分解能の
測定によつて達成することができる。ヘツド状態の変化
は、表示器を通常の動作範囲に置く。他の方法として、
ヘツドの状態変化を周期的に行なう方法がある。
、セクタ中の読取りエラーの検出に応答するだけで、ト
リガしないでもできるのは注意を要する。例えば、ヘツ
ドの状態変化の動作は、ヘツドのソフト・エラー発生率
の減少の表示が変更されるよう決定された時にトリガす
ることができる。これは、振幅の測定、または分解能の
測定によつて達成することができる。ヘツド状態の変化
は、表示器を通常の動作範囲に置く。他の方法として、
ヘツドの状態変化を周期的に行なう方法がある。
【００３５】また、磁気面に存在するデータに損傷を与
えることのない弱い電流や、高周波電流によりヘツドを
励起することによつてヘツドの状態変化を惹起すること
も可能であることにも注意を向ける必要がある。これは
、リザーブ領域にアクセスすることなく電気的に遂行で
きるものである。
えることのない弱い電流や、高周波電流によりヘツドを
励起することによつてヘツドの状態変化を惹起すること
も可能であることにも注意を向ける必要がある。これは
、リザーブ領域にアクセスすることなく電気的に遂行で
きるものである。
【００３６】加えて、磁気抵抗（ＭＲ）ヘツドのような
或る種のタイプのヘツドによつて、リザーブ領域上にヘ
ツドを通過させ、あるいは、セクタから読取り、そして
同じセクタに再書込みを行なうことなく、ヘツドの状態
変化を行なうことも可能である。
或る種のタイプのヘツドによつて、リザーブ領域上にヘ
ツドを通過させ、あるいは、セクタから読取り、そして
同じセクタに再書込みを行なうことなく、ヘツドの状態
変化を行なうことも可能である。
【００３７】これは、ＭＲ条片の読み戻し状態を変更す
るのと同じ態様でＭＲ条片のバイアスを変化することに
よつて行なうことができる。ＭＲヘツドの書込みギヤツ
プ内か、または、読取りギヤツプに隣接してＭＲ条片を
組込んだＭＲヘツドに対して、上述した方法の書込みコ
イルを付勢することによつて、ＭＲ条片の読取り状態を
変更することができる。
るのと同じ態様でＭＲ条片のバイアスを変化することに
よつて行なうことができる。ＭＲヘツドの書込みギヤツ
プ内か、または、読取りギヤツプに隣接してＭＲ条片を
組込んだＭＲヘツドに対して、上述した方法の書込みコ
イルを付勢することによつて、ＭＲ条片の読取り状態を
変更することができる。
【００３８】ヘツド状態を変化させる処理ステツプ４６
は多くの利点を持つている。この処理は、図６に示され
たエラー訂正プロシージヤの例のステツプに比べた時、
処理時間が非常に短いことが挙げられる。ヘツドをリセ
ツトする時間は、エラー訂正コードを処理する時間より
も短い時間である。また、本発明は、或る種のヘツドに
対して、約１０倍から、１０００倍までの間でソフト・
エラー発生率を減少して、読み取り性能を向上すること
ができる。エラー率を減少する性能の向上は、多くの効
果を生じる。例えば、受容可能なソフト・エラー率を得
るために、単位面積当りの最大ビツト密度について、従
来よりも多くの犠牲を払う必要がない。また、ソフト・
エラー率を改善したことは、フアイルのデータの保全を
確保するためのフアイル動作に付加的な余裕を与える。
は多くの利点を持つている。この処理は、図６に示され
たエラー訂正プロシージヤの例のステツプに比べた時、
処理時間が非常に短いことが挙げられる。ヘツドをリセ
ツトする時間は、エラー訂正コードを処理する時間より
も短い時間である。また、本発明は、或る種のヘツドに
対して、約１０倍から、１０００倍までの間でソフト・
エラー発生率を減少して、読み取り性能を向上すること
ができる。エラー率を減少する性能の向上は、多くの効
果を生じる。例えば、受容可能なソフト・エラー率を得
るために、単位面積当りの最大ビツト密度について、従
来よりも多くの犠牲を払う必要がない。また、ソフト・
エラー率を改善したことは、フアイルのデータの保全を
確保するためのフアイル動作に付加的な余裕を与える。
【００３９】
【発明の効果】本発明は、ソフト・エラーの回復率が３
桁の大きさで改善することが可能であり、同時にフアイ
ルのハード・エラーも改善される。また、エラーの回復
率の向上は、フアイルのスループツトを改善し、加えて
、本発明の方法は付加的なハードウエアを必要としない
し、従来の回復プロシージヤのステツプと比較した時、
処理時間が殆ど増加せず、また、従来から広く使われて
いる単一バースト・エラー訂正コードで訂正できなかつ
たデータも回復することができる。
桁の大きさで改善することが可能であり、同時にフアイ
ルのハード・エラーも改善される。また、エラーの回復
率の向上は、フアイルのスループツトを改善し、加えて
、本発明の方法は付加的なハードウエアを必要としない
し、従来の回復プロシージヤのステツプと比較した時、
処理時間が殆ど増加せず、また、従来から広く使われて
いる単一バースト・エラー訂正コードで訂正できなかつ
たデータも回復することができる。
【図１】本発明のヘツドの状態を変更する処理のステツ
プを示す流れ図である。
プを示す流れ図である。
【図２】デイスク上の種々の領域をアクセスするための
アクチユエータ・アームを模式的に示す平面図である。
アクチユエータ・アームを模式的に示す平面図である。
【図３】デイスク上のトラツク内のセクタを説明するた
めの図である。
めの図である。
【図４】複数枚のデイスクを持つデイスク・ドライブの
側面図である。
側面図である。
【図５】内部セクタ・ギヤツプを持つデイスク上のセク
タ構造を示す図である。
タ構造を示す図である。
【図６】ヘツド状態を変化するステツプを含むデータ回
復処理のステツプを説明するための流れ図である。
復処理のステツプを説明するための流れ図である。
１０ 磁気デイスク・ストレージ装置１６ 同心円
のトラツク １４ 磁気デイスク １８、１８′ セクタ ２０ アクチユエータ・アーム ２４ スライダ ２６ 磁気変換器 ３２ 同期ゾーン ３３ セクタ識別子 ３４ データ領域 ３５ エラー訂正コード ３６ 内部セクタ・ギヤツプ
のトラツク １４ 磁気デイスク １８、１８′ セクタ ２０ アクチユエータ・アーム ２４ スライダ ２６ 磁気変換器 ３２ 同期ゾーン ３３ セクタ識別子 ３４ データ領域 ３５ エラー訂正コード ３６ 内部セクタ・ギヤツプ
Claims (16)
- 【請求項１】 磁気面上のデータ・ストレージ領域中
にデータをストアするのに用いられ、かつデータ・スト
レージ領域からデータを読取り、またはデータ・ストレ
ージ領域にデータを書込むために用いられる磁気変換器
と、磁気記録装置を動作するのに必要な情報のないリザ
ーブ領域とを持つている磁気記録装置のデータを回復す
るための方法において、磁気面上のデータ・ストレージ
領域中の読取りエラーを検出するステツプと、磁気面の
リザーブ領域上に磁気変換器を位置付けるステツプと、
磁気変換器によつてリザーブ領域上にデータを書込むス
テツプと、読取りエラーが検出されたデータ・ストレー
ジ領域上に磁気変換器を位置付けるステツプと、磁気変
換器によつて磁気面上のデータ・ストレージ領域からデ
ータを読取るステツプとからなるデータの回復方法。 - 【請求項２】 データをストアするための複数個のセ
クタを持つ少なくとも１つのトラツクを持ち、上記セク
タの少なくとも１つは読取りエラーを持ち、デイスクの
磁気面の少なくとも一部をリザーブ部分として持つてい
るデイスクを含み、かつ、デイスクの表面からデータを
読取り、またはデイスクの表面にデータを書込む変換器
を有する磁気ストレージ装置からデータを回復する方法
において、読取りエラーを持つセクタ上を通過し、磁気
面のリザーブ部分上に変換器を位置付けるステツプと、
読取りエラーを持つセクタ上を通過する変換器を用いて
、デイスクの磁気面のリザーブ部分に書込みを行なうス
テツプと、読取りエラーが検出されたセクタ上に変換器
を位置付けるステツプと、エラーを持つている磁気面の
セクタを再読取りするステツプとからなるデータの回復
方法。 - 【請求項３】 磁気面のリザーブ部分に書込みを行な
うステツプはデイスク面上の異なつたトラツクに磁気変
換器を移動させるステツプを含むことを特徴とする請求
項２に記載のデータの回復方法。 - 【請求項４】 デイスクの表面上の各セクタは内部セ
クタ・ギヤツプを含み、磁気面のリザーブ部分に書込み
を行なうステツプはエラーを有するセクタを持つトラツ
ク上の内部セクタ・ギヤツプの１つに書込むステツプを
含むことを特徴とする請求項２に記載のデータの回復方
法。 - 【請求項５】 データ回復方法は周期的に行なうこと
を特徴とする請求項２に記載のデータの回復方法。 - 【請求項６】 各磁気面は、変換器の書込み回路をテ
ストするような診断テストを遂行するのに持ちいられる
デイスク上の領域が与えられており、磁気面のリザーブ
部分に書込むステツプは診断機能を遂行するために用い
られるデイスクのリザーブ領域に書込むステツプを含む
ことを特徴とする請求項２に記載のデータの回復方法。 - 【請求項７】 診断テストを遂行するのに用いられる
リザーブ領域はデイスクの外側のトラツクに位置付けら
れていることを特徴とする請求項６に記載のデータの回
復方法。 - 【請求項８】 各磁気面はデイスクの面上に予備セク
タが設けられ、上記予備セクタは、デイスク上のセクタ
が読取りエラーなしでデータをストアすることができな
いと決定された場合に用いられ、磁気面のリザーブ部分
への書込みのステツプはデイスクの面上の予備セクタに
書込むステツプを含むことを特徴とする請求項２に記載
のデータの回復方法。 - 【請求項９】 予備セクタは読取りエラーを持つセク
タと同じトラツク中に位置付けられていることを特徴と
する請求項８に記載のデータの回復方法。 - 【請求項１０】 各磁気面はデイスクの面上に予備セ
クタが設けられており、デイスク上のセクタが読取りエ
ラーなしでデータをストアすることができないと決定さ
れた場合に、上記予備セクタが用いられ、磁気面のリザ
ーブ部分への書込みのステツプは、読取りエラーなしで
データをストアすることができないと決定されたセクタ
に書込みを行なうステツプを含むことを特徴とする請求
項２に記載のデータの回復方法。 - 【請求項１１】 読取りエラーなしでデータをストア
することができないと決定されたセクタは読取りエラー
を持つセクタと同じトラツク中に位置付けられているこ
とを特徴とする請求項１０に記載のデータの回復方法。 - 【請求項１２】 データをストアするための複数個の
セクタを持つ少なくとも１つのトラツクと、少なくとも
読取りエラーを持つ第１のセクタと、読取りエラーを持
たない第２のセクタとを持つデイスクを含み、かつ、デ
イスク面からデータを読取り、またはデイスク面にデー
タを書込むための変換器を持つているセクタ式磁気スト
レージ装置からデータを回復するための方法において、
磁気面の第２のセクタ上に変換器を位置付けるステツプ
と、第２のセクタからデータを読取るステツプと、読取
りエラーを持つセクタ上を通る変換器を用いて第２のセ
クタから第１のセクタにデータを書込むステツプと、読
取りエラーを持つ第１のセクタ上に変換器を位置付ける
ステツプと、エラーを持つていた磁気面の第１のセクタ
から再読取りを行なうステツプとからなるデータの回復
方法。 - 【請求項１３】 データをストアするための複数個の
セクタを持つ少なくとも１つのトラツクを持ち、上記複
数個のセクタのうちの少なくとも１つのセクタは読取り
エラーを持つているデイスクを含み、かつ、デイスク面
からデータを読取り、またはデイスク面にデータを書込
むための変換器を持つている磁気ストレージ装置からデ
ータを回復する方法において、変換器の磁気状態を変更
するステツプと、読取りエラーを持つセクタ上の変換器
を位置付けるステツプと、エラーを持つていた磁気面の
セクタから再読取りするステツプとからなるデータの回
復方法。 - 【請求項１４】 変換器の磁気状態を変更するステツ
プは、変換器の状態を変更するのに十分な大きな値であ
り、かつ変換器の下の磁気面にデータが書込まれないよ
うな十分に小さな値の電流を通すステツプを含むことを
特徴とする請求項１３に記載のデータの回復方法。 - 【請求項１５】 変換器の磁気状態を変更するステツ
プはコイルを通る高周波電流を印加するステツプを含み
、上記高周波電流は変換器の下の磁気面に対して書込み
を行なわない電圧を含むことを特徴とする請求項１３に
記載のデータの回復方法。 - 【請求項１６】 変換器は読取り条片素子及び書込み
素子を有する磁気抵抗ヘツドであり、変換器の状態を変
更するステツプは読取り条片素子のバイアスを変更する
ステツプを含むことを特徴とする請求項１３に記載のデ
ータの回復方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/494,047 US5189566A (en) | 1990-03-15 | 1990-03-15 | Method and apparatus for recovering data |
| US494047 | 1990-03-15 |
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|---|---|
| JPH04219677A true JPH04219677A (ja) | 1992-08-10 |
| JP2614368B2 JP2614368B2 (ja) | 1997-05-28 |
Family
ID=23962806
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| JP3042185A Expired - Fee Related JP2614368B2 (ja) | 1990-03-15 | 1991-02-15 | 磁気ディスク記憶装置からのデータの回復方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5189566A (ja) |
| EP (1) | EP0447246B1 (ja) |
| JP (1) | JP2614368B2 (ja) |
| DE (1) | DE69117550T2 (ja) |
| HK (1) | HK202896A (ja) |
| SG (1) | SG43730A1 (ja) |
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