JPH04220552A - 低温環境形成装置 - Google Patents
低温環境形成装置Info
- Publication number
- JPH04220552A JPH04220552A JP40448990A JP40448990A JPH04220552A JP H04220552 A JPH04220552 A JP H04220552A JP 40448990 A JP40448990 A JP 40448990A JP 40448990 A JP40448990 A JP 40448990A JP H04220552 A JPH04220552 A JP H04220552A
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- Japan
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- low
- temperature
- sample
- container
- liquid nitrogen
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- Pending
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- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 49
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 24
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 23
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 17
- 238000009835 boiling Methods 0.000 claims description 11
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 5
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 5
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、低温環境形成装置に係
り、特に、液体窒素の沸点効果によって得られる低温を
利用して低温雰囲気を形成するものである。
り、特に、液体窒素の沸点効果によって得られる低温を
利用して低温雰囲気を形成するものである。
【０００２】
【従来の技術】低温環境形成装置は、試料を低温環境内
に収容して低温特性を測定する場合に使用される。
に収容して低温特性を測定する場合に使用される。
【０００３】該低温環境形成装置の内部を低温状態とす
る方法としては、液体ヘリウムや液体窒素の潜熱を利用
してこれらの沸点温度近傍の低温環境を形成することが
行われている。
る方法としては、液体ヘリウムや液体窒素の潜熱を利用
してこれらの沸点温度近傍の低温環境を形成することが
行われている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、液体ヘリウム
は、高価でかつ取り扱いが複雑であり、かつ、液体窒素
によって低温を得る場合には、液体窒素の沸点が７７Ｋ
であることから、これよりも低い温度を得ることができ
ないという難点がある。
は、高価でかつ取り扱いが複雑であり、かつ、液体窒素
によって低温を得る場合には、液体窒素の沸点が７７Ｋ
であることから、これよりも低い温度を得ることができ
ないという難点がある。
【０００５】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、液体窒素の沸点より低い温度の低温環境を安
価な液体窒素によって得ることを目的としている。
たもので、液体窒素の沸点より低い温度の低温環境を安
価な液体窒素によって得ることを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め、液体窒素が貯留される低温容器と、該低温容器の内
部気体を吸引して減圧雰囲気とする排気ポンプと、低温
容器の内部に挿入され窒素より沸点の低い伝熱ガスが満
たされるサンプル収納容器と、該サンプル収納容器の内
部に抜き差し可能に挿入されその先端に試料が取り付け
られる試料保持手段とを具備する構成の低温環境形成装
置としている。
め、液体窒素が貯留される低温容器と、該低温容器の内
部気体を吸引して減圧雰囲気とする排気ポンプと、低温
容器の内部に挿入され窒素より沸点の低い伝熱ガスが満
たされるサンプル収納容器と、該サンプル収納容器の内
部に抜き差し可能に挿入されその先端に試料が取り付け
られる試料保持手段とを具備する構成の低温環境形成装
置としている。
【０００７】
【作用】液体窒素を収納している低温容器を真空状態の
近傍まで減圧すると、約６３Ｋの温度が得られるように
なり、低温容器の内部に挿入されているサンプル収納容
器の冷却が促進され、また、伝熱ガスを介して試料の吸
熱がなされ、試料が約６３Ｋまで冷却される。試料保持
手段を抜き差ししてその位置を変更することによって、
試料の環境温度が変化させられる。
近傍まで減圧すると、約６３Ｋの温度が得られるように
なり、低温容器の内部に挿入されているサンプル収納容
器の冷却が促進され、また、伝熱ガスを介して試料の吸
熱がなされ、試料が約６３Ｋまで冷却される。試料保持
手段を抜き差ししてその位置を変更することによって、
試料の環境温度が変化させられる。
【０００８】
【実施例】以下、第１図に基づいて本発明に係る低温環
境形成装置の一実施例を説明する。
境形成装置の一実施例を説明する。
【０００９】第１図において、符号１は低温容器、２は
排気ポンプ、３はサンプル収納容器、４は試料保持手段
である。
排気ポンプ、３はサンプル収納容器、４は試料保持手段
である。
【００１０】前記低温容器１は、その内部に適量の液体
窒素Ｒが貯留される。
窒素Ｒが貯留される。
【００１１】前記排気ポンプ２は、低温容器１に排気管
５を介して接続され、その内部気体である窒素ガスを吸
引することによって、真空に近い例えば１００分の１気
圧程度まで低温容器１の内部を減圧雰囲気とするもので
あり、排気管５の途中には圧力計６が設けられている。
５を介して接続され、その内部気体である窒素ガスを吸
引することによって、真空に近い例えば１００分の１気
圧程度まで低温容器１の内部を減圧雰囲気とするもので
あり、排気管５の途中には圧力計６が設けられている。
【００１２】前記サンプル収納容器３は、低温容器１の
口部にシール部７を介して気密状態に、かつ、上下移動
可能に組み合わせられて、先端 （下端）が低温容器１
の内部の液体窒素Ｒに没するまで挿入可能とされ、また
、その内部が伝熱ガス供給源８に接続され、窒素より沸
点の低い伝熱ガス （例えばヘリウムガス）が満たされ
る。
口部にシール部７を介して気密状態に、かつ、上下移動
可能に組み合わせられて、先端 （下端）が低温容器１
の内部の液体窒素Ｒに没するまで挿入可能とされ、また
、その内部が伝熱ガス供給源８に接続され、窒素より沸
点の低い伝熱ガス （例えばヘリウムガス）が満たされ
る。
【００１３】前記試料保持手段４は、サンプル収納容器
３に対して抜き差し可能にかつシール部７を介して気密
状態に挿入され、その先端 （下端）に試料Ｓを取り付
けて熱伝達を行うためのヒートシンク９が設けられ、該
ヒートシンク９の上部にサンプル収納容器３との間の熱
伝達を妨げる断熱材１０が配される。そして、試料保持
手段４には、各種ケーブル等を介して低温物性測定装置
１１が接続される。
３に対して抜き差し可能にかつシール部７を介して気密
状態に挿入され、その先端 （下端）に試料Ｓを取り付
けて熱伝達を行うためのヒートシンク９が設けられ、該
ヒートシンク９の上部にサンプル収納容器３との間の熱
伝達を妨げる断熱材１０が配される。そして、試料保持
手段４には、各種ケーブル等を介して低温物性測定装置
１１が接続される。
【００１４】このような低温環境形成装置であると、低
温容器１の中に液体窒素Ｒを収納しておいて、排気ポン
プ２及び伝熱ガス供給源８を作動させ、低温容器１の減
圧及びサンプル収納容器３への伝熱ガス供給を行う。
温容器１の中に液体窒素Ｒを収納しておいて、排気ポン
プ２及び伝熱ガス供給源８を作動させ、低温容器１の減
圧及びサンプル収納容器３への伝熱ガス供給を行う。
【００１５】低温容器１を真空状態の近傍、例えば大気
圧の１００分の１程度まで減圧すると、低温容器１の内
部温度が液体窒素の沸点約６３Ｋまで低下する。このた
め、ヒートシンク９及び伝熱ガスを介して、サンプル収
納容器３の内部の吸熱がなされ、試料保持手段４に取り
付けられた試料Ｓの環境が、目的とする低温に設定され
る。
圧の１００分の１程度まで減圧すると、低温容器１の内
部温度が液体窒素の沸点約６３Ｋまで低下する。このた
め、ヒートシンク９及び伝熱ガスを介して、サンプル収
納容器３の内部の吸熱がなされ、試料保持手段４に取り
付けられた試料Ｓの環境が、目的とする低温に設定され
る。
【００１６】試料保持手段４を抜き差しすることによっ
て、サンプル収納容器３の内部における試料Ｓの位置を
変えると、外部から低温容器１の内部への熱伝達状態が
、液体窒素Ｒの液位の位置との関係、熱伝達路の長さ、
断熱材１０の存在等によって変化するために、試料Ｓの
環境を目的とする温度に調整することができる。
て、サンプル収納容器３の内部における試料Ｓの位置を
変えると、外部から低温容器１の内部への熱伝達状態が
、液体窒素Ｒの液位の位置との関係、熱伝達路の長さ、
断熱材１０の存在等によって変化するために、試料Ｓの
環境を目的とする温度に調整することができる。
【００１７】なお、窒素より沸点の低い伝熱ガスとして
、前述したヘリウムガス以外に水素ガスを使用すること
も可能である。
、前述したヘリウムガス以外に水素ガスを使用すること
も可能である。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る低温
環境形成装置によれば、以下に述べるような効果を奏す
る。（１） 液体窒素を収納する低温容器の内部気体
を吸引して減圧雰囲気とし、低温容器の内部に挿入され
た液体窒素の沸点効果によって低温を発生させ、低い伝
熱ガスが満たされるサンプル収納容器に挿入された試料
保持手段に取り付けた試料を冷却するものであるから、
液体窒素を真空圧に近づけることによって、大気圧雰囲
気における液体窒素の沸点７７Ｋより下の低温環境を容
易にかつ経済的に形成することができる。（２） ま
た、試料保持手段をサンプル収納容器に対して抜き差し
することによって、試料を広範囲の環境温度で任意に計
測することができる。
環境形成装置によれば、以下に述べるような効果を奏す
る。（１） 液体窒素を収納する低温容器の内部気体
を吸引して減圧雰囲気とし、低温容器の内部に挿入され
た液体窒素の沸点効果によって低温を発生させ、低い伝
熱ガスが満たされるサンプル収納容器に挿入された試料
保持手段に取り付けた試料を冷却するものであるから、
液体窒素を真空圧に近づけることによって、大気圧雰囲
気における液体窒素の沸点７７Ｋより下の低温環境を容
易にかつ経済的に形成することができる。（２） ま
た、試料保持手段をサンプル収納容器に対して抜き差し
することによって、試料を広範囲の環境温度で任意に計
測することができる。
【図１】本発明に係る低温環境形成装置の一実施例を示
す正断面図である。
す正断面図である。
１ 低温容器
２ 排気ポンプ
３ サンプル収納容器
４ 試料保持手段
５ 排気管
６ 圧力計
７ シール部
８ 伝熱ガス供給源
９ ヒートシンク
１０ 断熱材
１１ 低温物性測定装置
Ｒ 液体窒素
Ｓ 試料
Claims (1)
- 【請求項】 液体窒素が貯留される低温容器と、該低
温容器の内部気体を吸引して減圧雰囲気とする排気ポン
プと、低温容器の内部に挿入され窒素より沸点の低い伝
熱ガスが満たされるサンプル収納容器と、該サンプル収
納容器の内部に抜き差し可能に挿入されその先端に試料
が取り付けられる試料保持手段とを具備することを特徴
とする低温環境形成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP40448990A JPH04220552A (ja) | 1990-12-20 | 1990-12-20 | 低温環境形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP40448990A JPH04220552A (ja) | 1990-12-20 | 1990-12-20 | 低温環境形成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04220552A true JPH04220552A (ja) | 1992-08-11 |
Family
ID=18514158
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP40448990A Pending JPH04220552A (ja) | 1990-12-20 | 1990-12-20 | 低温環境形成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04220552A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014167487A (ja) * | 2014-05-07 | 2014-09-11 | Neturen Co Ltd | 冷却液管理方法 |
-
1990
- 1990-12-20 JP JP40448990A patent/JPH04220552A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014167487A (ja) * | 2014-05-07 | 2014-09-11 | Neturen Co Ltd | 冷却液管理方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19990330 |