JPH04220585A - 光波距離計 - Google Patents

光波距離計

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JPH04220585A
JPH04220585A JP41204490A JP41204490A JPH04220585A JP H04220585 A JPH04220585 A JP H04220585A JP 41204490 A JP41204490 A JP 41204490A JP 41204490 A JP41204490 A JP 41204490A JP H04220585 A JPH04220585 A JP H04220585A
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JP
Japan
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light
distance
distance measuring
optical path
optical system
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JP41204490A
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English (en)
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Inventor
Mochiyume Takayama
高山 抱夢
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Pentax Precision Co Ltd
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Asahi Seimitsu KK
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
【0001】本発明は、光波距離計における測距光学系
に関する。
【0002】
【従来の技術】測距光学系は、一般には、電気信号を発
光素子により光変換された光源から発光された光が送光
光学系を通って送光され、測定点の反射プリズムに反射
されて戻ってきて、受光光学系を通して受光部に入射し
受光素子により光変換されて電気信号となり、この信号
の位相差を距離に変換する測距光路を具備すると共に、
これに対して、光源から本体内部に光学部材またはファ
イバー等により導入され直接受光部に入る基準光路を具
備し、その基準光路内での距離情報が温度等により変化
すれば補正して正しい距離として表示させる構成を具備
している。
【0003】即ち、図4において、光源3から発光され
た光は、分離プリズム2により反射され、望遠鏡光学系
の対物レンズ1により測距光路10(送光側)を通って
測定点の反射プリズムに向かい、反射された光は測距光
路(受光側)10’を通って分離プリズム2で反射され
、受光部6に入射するのに対して、基準光は光源の外周
部から基準光路11を通って反射ミラー12を介して直
接受光部6に入射する。図4において、4はモータ5に
より回転駆動されて、光源3から発光された光を測距光
と基準光に切り換える測距光・基準光の切り換えシャッ
ター、8はモータ9により駆動される光量調整用NDフ
ィルター、7は干渉フィルターである。
【0004】前記測距光学系の光源は、一般にビームの
広がりを持っていて、その中心部を測距光路に使い、周
辺部を基準光路に使っている。
【0005】
【発明が解決しようとする問題点】上記の通り、従来の
測距光学系は、光源のビームは広がりを持っており、そ
の中心部を測距光として使用し、周辺部を基準光として
使用していたため、図3に示すように、中心部の測距光
路部分に対して、周辺部の基準光路部分は、光源の特性
として位相差の遅れあるいは進みがあり、距離情報に誤
差の含まれるおそれがあると共に、温度等の条件で位相
差の遅れまたは進みが加わり、距離測定誤差の原因にな
っていた。
【0006】
【問題点を解決するための手段】そこで本発明は、光源
より発光する測距光の有効範囲内に半透過反射部材を設
け、透過光を測距光路に送光する一方、反射光を基準光
路に送光する構成を備えた測距光学系を提供すると共に
、上記測距光学系において、透過光と反射光とを交互に
切り換えるシャッターを、透過光に開口する底面開口窓
と反射光に開口する円筒面開口窓とを交互に設けた有底
円筒形部材で形成したことを特徴とする測距光学系を提
供するものである。
【0007】
【作用】そして本発明による測距光学系によれば、光源
より発光する測距光の有効範囲内に半透過反射部材を設
け、測距光と同じ光路光からの反射光を基準光路に送光
するから、光源の特性、あるいは温度等の外的環境条件
で位相差の遅れ、あるいは進みによる距離情報への誤差
の影響を少なくすることができる。
【0008】また、透過光と反射光とを交互に切り換え
るシャッターを、透過光に開口する底面開口窓と反射光
に開口する円筒面開口窓とを交互に設けた有底円筒形部
材で形成した構成を備えることにより、測距光路に設け
た半透過反射部材により、反射光をほぼ直角に屈折して
基準光路とすることができ、両光路を明確に分離して、
切り換えを明確にすることができる。
【0009】
【実施例】以下、図示する実施例に基づいて本発明の構
成を詳細に説明する。図1の実施例において、3は、I
RED(赤外線発光ダイオード),LED(通常の発光
ダイオード)、あるいはLED等と接続したファイバー
等からなる光源である。光源3からでた光源ビームの光
路には、前述の図3の如く、そのビーム角に広がりを持
つが、本発明は、位相誤差の少ないビーム角度の測距光
の有効範囲内の測距光路内に、ハーフミラー、ビームス
ップリッター等からなる半透過反射部材13を設け、直
進する測距光路に対してほぼ直角方向に反射した基準光
路を設けてある。
【0010】尚、基準光路のため半透過反射部材13の
占める反射部分は、測距光路の極く僅かな部分でよい。
【0011】4は、測距光・基準光の切り換えシャッタ
ーで、シャッター駆動用モータ5により回転駆動する。 該シャッター4は、図2に示すように、半透過反射部材
13の透過光(測距光)に開口する底面開口窓4aと、
反射光(基準光)に開口する円筒面開口窓4bとを交互
に所定の回転角度位置に設けた有底円筒形部材で形成し
てあり、底面中央の軸心5aを中心に回転するように構
成してある。
【0012】実施例の場合、底面開口窓4aは、120
度間隔で3個所に設けてある一方、円筒面開口窓4bは
、底面開口窓4aに対して60度ずれた位置に120度
間隔で3個所に設けてあり、該シャッター4が60度回
転するごとに、底面開口窓4aと円筒面開口窓4bとが
交互に開口するように構成してある。
【0013】前述の如く、半透過反射部材13を透過し
、前記シャッター4の底面開口窓4aを通過した測距光
は、分離プリズム2により対物レンズ1に向かってほぼ
直角に反射され、平行ビームとなって測距光路10を進
み、図では省略した目標測定点に設置した反射プリズム
に反射して、測距光路10’を戻り、対物レンズ1を通
って、光量調整用NDフィルター8、干渉用フィルター
7を介してAPD(特殊高感度受光ダイオード)、PD
(受光ダイオード)等に接続するファイバー等からなる
受光部6に入射するように構成してある。
【0014】他方、半透過反射部材13でほぼ直角に反
射した反射光は、前記シャッター4の円筒面開口窓4b
を通って、基準光路11をミラー、プリズムからなる反
射鏡14、15を介して、前記フィルター8、7を通っ
て受光部6に入射するように構成してある。
【0015】
【効果】以上の構成からなる本発明による測距光学系に
よれば、光源より発光する測距光の有効範囲内に半透過
反射部材を設け、測距光と同じ光路光からの反射光を基
準光路に送光する構成を有するから、基準光と測距光と
は同一の光源条件下で受光部に送られるから、光源の特
性、あるいは温度等の外的環境条件で生じる位相差の遅
れ、あるいは進みによる距離情報への誤差の影響を少な
くすることができる効果がある。
【0016】また、透過光と反射光とを交互に切り換え
るシャッターを、透過光に開口する底面開口窓と反射光
に開口する円筒面開口窓とを交互に設けた有底円筒形部
材で形成した構成を備えることにより、測距光路に設け
た半透過反射部材により、反射光をほぼ直角に屈折して
基準光路とすることができ、両光路を明確に分離して、
切り換えを明確にすることができ、測距精度を高める効
果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る測距光学系の一実施例を示す概略
説明図。
【図2】本発明に係る測距光学系の一実施例の要部を示
す概略斜面図。
【図3】本発明に係る測距光学系の光源の特性を説明す
る説明図。
【図4】従来の測距光学系の一実施例を示す概略説明図
【符号の説明】
1・・・対物レンズ 2・・・分離プリズム 3・・・光源 4・・・測距光・基準光の切り替えシャッター4a・・
底面開口窓(測距光側の窓) 4b・・円筒面開口窓(基準光側の窓)5・・・シャッ
ター駆動用モータ 6・・・受光部 7・・・干渉フィルター 8・・・光量調整用NDフィルター 9・・・光量調整用NDフィルター駆動用モータ10・
・・測距光路(送信側) 10’・・測距光路(受信側) 11・・・基準光路 12・・・反射鏡 13・・・半透過反射部材 14・・・反射鏡 15・・・反射鏡

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  光源より発光する測距光の有効範囲内
    に半透過反射部材を設け、透過光を測距光路に送光する
    一方、反射光を基準光路に送光する構成を備えた測距光
    学系。
  2. 【請求項2】  特許請求の範囲の請求項1に記載の測
    距光学系において、透過光と反射光とを交互に切り換え
    るシャッターを、透過光に開口する底面開口窓と反射光
    に開口する円筒面開口窓とを交互に設けた有底円筒形部
    材で構成したことを特徴とする測距光学系。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09236662A (ja) * 1996-02-29 1997-09-09 Ushikata Shokai:Kk 光波距離計
US10732267B2 (en) 2016-07-05 2020-08-04 Topcon Corporation Electro-optical distance meter

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4869354U (ja) * 1971-12-08 1973-09-03
JPH02271279A (ja) * 1989-04-13 1990-11-06 Mitsubishi Electric Corp レーザレーダ装置

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