JPH04221496A - 単一基板上に設けられるコンピュータメモリ回路およびコンピュータメモリを消去するためのシーケンスを終らせる方法 - Google Patents

単一基板上に設けられるコンピュータメモリ回路およびコンピュータメモリを消去するためのシーケンスを終らせる方法

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JPH04221496A
JPH04221496A JP3085813A JP8581391A JPH04221496A JP H04221496 A JPH04221496 A JP H04221496A JP 3085813 A JP3085813 A JP 3085813A JP 8581391 A JP8581391 A JP 8581391A JP H04221496 A JPH04221496 A JP H04221496A
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JP
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latch
memory
signal
command
erase
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JP3085813A
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English (en)
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Mickey L Fandrich
ミッキイ・リイ・ファンドリッチ
Owen W Jungroth
オーウェン・ダブリュ・ジュングロス
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Intel Corp
Original Assignee
Intel Corp
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    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits
    • G11C16/14Circuits for erasing electrically, e.g. erase voltage switching circuits
    • G11C16/16Circuits for erasing electrically, e.g. erase voltage switching circuits for erasing blocks, e.g. arrays, words, groups
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/32Timing circuits

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はコンピュータメモリの分
野に関するものである。更に詳しくいえば、本発明は、
コンピュータメモリを消去またはプログラミングの動作
を終らせるための信号を発生する回路および方法に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来の不揮発性コンピュータメモリの1
つの種類はフラッシュ消去可能かつプログラム可能な読
出し専用メモリ(「フラッシュEPROM」)である。 フラッシュEPROMはユーザーによるプログラムがで
き、ひとたびプログラムされると、フラッシュEPRO
Mは消去されるまでそれのデータを保持する。フラッシ
ュEPROMの電気的消去により、フラッシュEPRO
Mのメモリの内容が1回の比較的速い動作で消去される
。それからフラッシュEPROMを新しいコードでプロ
グラムできる。
【0003】従来の1つのEPROMは、アメリカ合衆
国カリホルニア州サンタ・クララ(Santa Cla
ra )所在のインテル・コーポレーション(Inte
l Corporation ) により販売されてい
る28F256相補金属−酸化物−半導体(CMOS)
フラッシュメモリである。このEPROMは256キロ
ビットのフラッシュEPROMである。この28F25
6フラッシュメモリは、電気的消去および再プログラミ
ングを管理するために指令レジスタを含む。指令は、標
準的なマイクロプロセッサ書込みタイミングを用いて、
制御プロセッサから指令レジスタへ書込まれる。指令レ
ジスタの内容は、消去およびプログラミング回路を制御
する内部状態マシンへの入力として機能する。
【0004】28F256フラッシュメモリにおいては
、フラッシュメモリの消去を開始させるために2段階動
作シーケンスが用いられる。第1に、16進数の20を
フラッシュメモリの指令レジスタへ書込むことにより、
調整消去動作が行われる。調整消去動作は、フラッシュ
メモリのメモリアレイ中の全てのバイトを電気的に消去
するための装置を設ける指令のみの動作である。
【0005】第2に、16進数の20が指令レジスタへ
再び書込まれる。これは消去指令を表す。消去動作は、
この消去指令を指令レジスタへ書込むことを許す書込み
可能化パルスの立上がり縁部で始められる。
【0006】消去動作は、指令レジスタへ書込まれる次
の指令を伴う次の書込み可能化パルスの立上り縁部によ
り終らされる。28F256フラッシュメモリの消去動
作の開始と終了の間の時間が長すぎるとすると、非常に
多くの電荷が失われるために、消去用にそのフラッシュ
メモリへ加えられる高電圧VPPによりメモリアレイが
破壊されることがある。いいかえると、消去指令の書込
み可能化パルスの立上り縁部と、指令レジスタへ書込ま
れる次の指令の書込み可能化パルスの立上り縁部との間
の時間が長すぎるとすると、フラッシュメモリが破壊さ
れることがある。
【0007】この従来のフラッシュメモリの1つの欠点
は、消去動作とプログラム動作を終らせるために以後の
検査指令を送る制御マイクロプロセッサに依存するが、
時にはマイクロプロセッサは適切な信号を送らず、ある
いは適切な信号を送っても遅すぎる。その結果として、
高電圧VPPが非常に長時間フラッシュメモリへ加えら
れて、フラッシュメモリを破壊する結果となる可能性が
ある。
【0008】制御マイクロプロセッサは、いくつかの理
由から消去動作またはプログラミング動作を終らせるの
に誤って失敗することがある。たとえば、制御プロセッ
サのためのアルゴリズムにユーザーソフトウエアの誤り
が存在することがある。別の例として、電源の障害でプ
ロセッサの実行の誤りがひき起させることがある。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】従来知られている回路
および方法の制限にかんがみて、本発明の1つの目的は
、制御マイクロプロセッサがコンピュータメモリの消去
動作を終らせるための唯一の手段ではない、というよう
な回路および方法を得ることである。また、本発明の別
の目的は、コンピュータメモリのプログラミング動作を
終らせるための唯一の手段ではない、というような回路
および方法を得ることである。
【0010】
【課題を解決するための手段】それらの目的は、単一の
基板に設けられているコンピュータメモリ回路により達
成される。コンピュータメモリ回路はメモリを含む。第
1のラッチが設けられる。この第1のラッチはプロセッ
サにより送られた指令を格納する。第1のラッチへ第2
のラッチが結合され、メモリの内容を消去するための動
作シーケンスの開始を指令が呼出したときに、第2のラ
ッチは第1の値を格納する。第2のラッチとメモリの間
にタイマが結合される。このタイマはカウンタを含む。 第1の値が第2のラッチに格納された時に、そのカウン
タはカウント動作を開始する。タイマは、カウンタに応
答して、カウンタが第1のカウントに達した時に、メモ
リの内容を消去するための動作シーケンスを終らせるた
めの信号を発生する。
【0011】また、前記目的は、単一基板上に設けられ
るコンピュータメモリ回路により達成される。このコン
ピュータメモリ回路はメモリを含む。プロセッサにより
送られた指令を格納するために第1のラッチが設けられ
る。第1のラッチへ第2のラッチが結合される。メモリ
をプログラミングするための動作シーケンスの開始を指
令が求めた時に、第2のラッチは第1の値を格納する。 第2のラッチとメモリの間にタイマが結合される。この
タイマはカウンタを含む。第1の値が第2のラッチに格
納された時に、そのカウンタはカウント動作を開始する
。タイマは、カウンタに応答して、カウンタが第1のカ
ウントに達した時にメモリのプログラミングする動作シ
ーケンスを終らせる信号を発生する。
【0012】また、前記目的は、コンピュータメモリの
内容を消去するための動作シーケンスを終らせる方法に
より達成される。プロセッサにより送られた指令を、コ
ンピュータメモリが形成されている基板と同じ基板に設
けられている第1のラッチに格納する。コンピュータメ
モリの内容を消去する動作シーケンスの開始をその指令
が求めた時に、コンピュータメモリが形成されている基
板と同じ基板に設けられている第2のラッチに第1の値
を格納する。第2のラッチに第1の値が格納された時に
、コンピュータメモリが形成されている基板と同じ基板
に設けられているカウンタがカウント動作を開始する。 カウンタが第1のカウントに達した時に、コンピュータ
メモリの内容を消去する動作シーケンスを終らせる信号
を発生させる。
【0013】また、前記目的は、コンピュータメモリを
プログラミングする動作シーケンスを終らせる方法によ
り達成される。プロセッサにより送られた指令を、コン
ピュータメモリが形成されている基板と同じ基板に設け
られている第1のラッチに格納する。コンピュータメモ
リをプログラミングするための動作シーケンスの開始を
その指令が求めた時に、コンピュータメモリが形成され
ている基板と同じ基板に設けられている第2のラッチに
第1の値を格納する。コンピュータメモリが形成されて
いる基板と同じ基板に設けられているカウンタが、第1
の値が第2のラッチに格納された時に、カウント動作を
開始する。カウンタが第1のカウントに達した時に、コ
ンピュータメモリをプログラミングするための動作シー
ケンスを終らせる信号を発生する。
【0014】
【実施例】図1は、本発明の好適な実施例を実現する、
EPROM10の回路を示すブロック図である。フラッ
シュEPROMはフラッシュメモリとも呼ばれる。フラ
ッシュメモリ10はメモリアレイ12を含む。このメモ
リアレイは、アドレスにデータを格納するメモリセルを
含む。本発明の一実施例においては、メモリアレイ12
は1,048,546ビット(すなわち、1メガバイト
)の情報を格納できる。しかし、メモリアレイ12の容
量をそれより大きくも、小さくもできる。たとえば、メ
モリアレイ12は256ビットを含むことができる。
【0015】好適な実施例においては、図1に示すフラ
ッシュメモリ10の回路は単一の基板に形成される。好
適な実施例においては、フラッシュメモリ10はCMO
S回路を採用する。
【0016】VPPはフラッシュメモリ10のための消
去/プログラム電源電圧である。VCCはフラッシュメ
モリ10のための装置電源電圧であり、VSSはアース
電位である。一実施例においては、VPPは12.0ボ
ルト、VCCは約5ボルトである。
【0017】フラッシュメモリ10へのVPP入力端子
に高電圧が存在しないと、フラッシュメモリは読出し専
用メモリとして機能する。線1000を介して供給され
たアドレスに格納されているデータはメモリアレイ12
から読出され、線92,94,54を介してフラッシュ
メモリ10の外部の回路で利用できるようにされる。
【0018】フラッシュメモリ10は、チップイネイブ
ルCEバーと出力イネイブルOEバーの2つの機能を含
む。チップイネイブル入力CEバーは電力制御であって
、フラッシュメモリ10を選択するために用いられる。 出力イネイブル入力OEバーはフラッシュメモリ10の
ための出力制御であって、装置の選択とは独立に、フラ
ッシュメモリ10からの出力ピンからのデータをゲート
するために使用すべきである。フラッシュメモリ10の
出力端子においてデータを得るために、制御機能CEバ
ーとOEバーは論理的に活動状態になければならない。
【0019】フラッシュメモリ10は指令レジスタ38
と、状態制御回路40と、状態ラッチ42と、ストップ
タイマ44とを更に含む。フラッシュメモリ10の消去
とプログラミングは、高電圧VPP信号が線68へ加え
られた時に、指令レジスタ38を介して行われる。指令
レジスタ38の内容は、内部状態マシンとして作用する
状態制御回路40への入力として作用する。
【0020】状態制御回路40の出力の1つは消去可能
化信号SELVPSであって、この信号は線72を介し
て消去電圧スイッチ48へ送られる。状態制御回路40
の別の出力はプログラム可能化バー信号PROBであっ
て、線74を介してプログラム電圧スイッチ52へ送ら
れる。電圧VPPは線68を介して消去電圧スイッチ4
8へ送られるとともに、線68と76を介してプログラ
ム電圧スイッチ52へ加えられる。
【0021】消去電圧スイッチ48は線72を介して論
理的に高い消去可能信号を受ける。そうすると消去電圧
スイッチが線68から消去電圧VPPを線80を介して
メモリアレイ12へ送る。それからメモリアレイ12の
内容の消去が始まる。メモリアレイ12の内容の消去は
メモリアレイ12内の全てのセルの内容の電気的消去で
ある。本発明の一実施例においては、メモリアレイの消
去は、おのおのの持続時間が約10ミリ秒であるパルス
を約1000個用いて行われる。各パルスの後で1個ま
たは複数の消去確認指令が典型的に実行される。
【0022】線72上の消去可能化信号SELVPSが
論理に低いとすると、線68における消去電源電圧VP
Pは線80へ送られないから、線80における電圧は0
ボルトである。このためにメモリアレイ12の消去動作
シーケンスが終る。
【0023】線74上のプログラム可能化バー信号が論
理的に低いと、プログラム電圧スイッチ52は線68と
76上の電圧VPPを線82へ送り、その電圧VPPは
Yデコーダ20とXデコーダ18へ加えられる。Yデコ
ーダ20はメモリアレイ12のための列デコーダであり
、Xデコーダ18はメモリアレイ12のための行デコー
ダである。
【0024】書込み可能化信号WEバーは指令レジスタ
38と、状態ラッチ42と、状態制御回路40とへ結合
される。書込み可能化信号は指令レジスタ38およびメ
モリアレイ12への書込みを制御する。書込み可能化信
号はアクティブ低である。アドレスが書込み可能化パル
スの立下り縁部で保持される。データは書込み可能化パ
ルスの立上り縁部で保持される。
【0025】指令レジスタ38自体はアドレス可能な記
憶場所を占めない。その代りに、指令レジスタ38は、
指令の実行に必要なアドレスおよびデータ情報とともに
指令を格納するために用いられるラッチである。
【0026】指令レジスタ38は、電圧VPPが高電圧
の時だけ変更できる。本発明の一実施例においては、メ
モリの更新が望ましい時だけ高電圧VPPを利用できる
。高電圧が除かれると、指令レジスタ38の内容が読出
し指令を省略して、フラッシュメモリ10を読出し専用
メモリにする。
【0027】本発明の別の実施例においては、高電圧V
PPを指令レジスタ38が常に利用できるようにする。 その場合には、フラッシュメモリ10の全ての動作は指
令レジスタ38と共同して行われる。
【0028】フラッシュメモリ10を制御するマイクロ
プロセッサ98により指令レジスタ38へ書込まれる。 書込み可能化信号WEバーを低い論理レベルにし、チッ
プ可能化信号CEバーを論理的に低いレベルにすること
により、指令レジスタ38へ書込まれる。アドレスは書
込み可能化パルスの立下り縁部で保持され、データは書
込み可能化パルスの立上り縁部で格納される。書込み可
能化パルスはマイクロプロセッサ98により供給される
。好適な実施例においては標準的なマイクロプロセッサ
書込みタイミングが用いられる。
【0029】指令レジスタ38の3つの高位レジスタビ
ットR7、R6、R5が制御機能を符号化する。指令レ
ジスタ38の他の全てのレジスタビットは零でなければ
ならない。したがって、指令レジスタ38の他のレジス
タビットR4、R3、R2、R1、R0は零である。こ
れの唯一の例外はリセット指令である。リセット指令に
対しては、16進数FFが指令レジスタ38へ書込まれ
る。
【0030】指令レジスタ38のレジスタビットR7乃
至R0へロードされるデータは、マイクロプロセッサ9
8からフラッシュメモリ10へ供給される。そのデータ
は線54,62,64と入力/出力バッファ38を介し
て供給される。
【0031】VPP/VCC検出器152がVPPとV
CCの電圧レベルを調べる。VPPとVCCの少なくと
も一方が低レベルであると、VPP/VCC検出器は、
指令レジスタ38の動作を不能にするために、信号を線
154を介して指令ラッチ38へ送る。低電圧がVPP
ピンへ供給されると、指令レジスタ38の内容は16進
数00を省略する。これは読出し専用動作のみを可能状
態にする。
【0032】特定のデータパターンをデータ入力線54
、62、64を介して指令レジスタへ書込むことにより
、装置の動作が選択される。下の表1は指令レジスタ3
8に対するある指令を定義するものである。
【0033】            表    1

0034】表1におけるEAは、消去検査動作中に読出
すべき記憶場所のアドレスを表す。表1でのEVDは、
消去検査動作中に場所EAから読出されるデータを表す
。PAはプログラムすべき記憶場所のアドレスを表す。 PDは場所PAにいおいてプログラムすべきデータを表
す。PVDは、プログラム検査動作中に場所PAから読
出されるデータを表す。
【0035】消去およびプログラミングのためにVPP
が高い間に、メモリアレイ12を読出し指令を介してア
クセスできる。16進数の00を指令レジスタ38へ書
込むことにより読出し動作が開始される。
【0036】図2は、指令レジスタ38と、ストップタ
イマ44と、状態ラッチ42とデータ制御回路40の一
部を構成するある回路との間の相互接続を詳しく示す。 図3はアドレス波形202と、書込み可能化波形204
と、データ波形206と、カウント波形208と、KI
LLERSB波形210と、VCC波形212と、フラ
ッシュメモリ10の消去に関連するVPP波形214と
を示す。
【0037】図2において、データの8ビットが指令ラ
ッチ38へ加えられる。指令ラッチ38は指令レジスタ
38とも呼ばれる。線64上のデータの3個の上位ビッ
トが制御機能を符号化する。
【0038】線152、154、156が指令レジスタ
38のそれぞれの上位ビットR7、R6、R5を状態制
御回路40の指令復号論理102へ結合する。指令制御
論理102が指令ラッチ38のビットR7、R6、R5
を復号し、線136、122、124へ信号を発生する
【0039】セットアップ消去動作は、メモリアレイ1
2中の全てのバイトを電気的に消去するために、フラッ
シュメモリ10を段階的に動作させる、指令のみによる
動作である。セットアップ消去動作は、16進数の20
を指令レジスタ38へ書込むことにより行われる。図3
には16進数20がデータ222として示されている。 データ222は図3の書込み可能化パルス226の立上
り縁部において指令ラッチ38に保持される。図2に示
すように、書込み可能化信号204は指令ラッチ38と
、指令復号論理102と、状態ラッチ104とへ入力さ
れる。
【0040】そうすると指令復号論理102は指令ラッ
チ38のビットR7、R6、R5のデータを復号する。 指令復号論理102はこれをセットアップ消去指令とし
て翻訳する。それから、指令複号論理102は論理1を
線136へ出力する。その論理1は状態ラッチ104に
保持されていない。次の書込み可能化パルスWEバーの
立上り縁部が生じた時に、線136上のデータが状態ラ
ッチ104に保持される。
【0041】指令復号論理102はERASE  SE
T−UP信号である論理1信号も線124へ送る。しか
し、線134におけるSBIT信号が論理0を保つから
、線72における消去可能化信号SELVPSは論理0
のままである。線134上の論理0はナンドゲート11
2の入力端子へ加えられる。したがって、このナンドゲ
ートは論理1信号を線117へ生ずる。この論理1信号
はインバータ118により論理0にされて線72へ加え
られる。線72上の論理0信号は、消去電圧スイッチ4
8が閉じたままであことを意味するから、高電圧は線7
8を介してメモリアレイ12へ加えられることはない。 したがって、線124上の論理信号自体はメモリアレイ
12の内容の消去をトリガしない。
【0042】メモリ12の内容の消去を開始するために
、消去指令、すなわち、16進数20、を指令レジスタ
38へ再び書込まねばならない。16進数20の指令ラ
ッチ38へのこの書込みが図3にパルス232として示
されている。消去動作は図3の書込み可能化パルス23
4の立上り縁部で始まる。
【0043】実行に先行するこの2段階セットアップ動
作シーケンスにより、メモリアレイ12の内容が偶発的
に消去されることがないようにされる。また、フラッシ
ュメモリ10のVPPピンへ高電圧が加えられた時だけ
チップ消去を行うことができる。この電圧がない時は、
メモリアレイ12の内容が消去から保護される。
【0044】書込み可能化パルス234は状態ラッチ1
04へも加えられる。この書込み可能化パルス234は
線136上の論理1を状態ラッチ104に保持させる。 これは、状態ラッチ104に結合されている線を論理0
から論理1へ移行させる。そうすると、線134上の論
理1がナンドゲート112へ加えられる。ナンドゲート
112への他の2つの入力も論理1である。指令復号論
理102はビットR7、R6、R5として格納されてい
るのと同じ2進データを見ることを続けるから、指令復
号論理102は論理1信号の消去セットアップ線124
へ送り出しを続ける。また、線140上の消去停止信号
は論理的に高い状態にある。ナンドゲート112への3
つの入力の全てが論理1状態にあると、線117へ出力
されるナンドゲート112の出力は論理0である。イン
バータ118がその論理0信号を論理1に反転して、そ
れを線72へ出力する。したがって、消去信号SELV
PSは論理1になる。その論理1は線72を介して消去
電圧スイッチ48へ送られる。そのために消去電圧スイ
ッチは閉じられるから、電圧VPPが消去電圧スイッチ
48を通って線80を介してメモリアレイ12へ加えら
れる。図3の波形214に示すように、セットアップ消
去動作および消去動作中は消去電圧VPPは論理的に高
い状態(すなわち、VPPh)である。線80の高電圧
がメモリアレイ12のバイトの消去を開始する。
【0045】上記のように、セットアップ消去指令がラ
ッチ38により受けられた後で、消去指令が指令ラッチ
38により受けられた時に論理1が線134に現われる
。線134上の信号はSBIT信号とも呼ばれる。論理
的に高い信号SBITは線130を介してストップタイ
マ44のENABLE入力端子へ加えられる。
【0046】ストップタイマ44はメモリアレイ12の
内容の電気的消去動作を終らせために用いられる。図3
は、点211においてストップタイマ44がカウント動
作を開始することを示す。点211は論理1が図2の線
134と130に現われる点である。ストップタイマ4
4内のカウンタはカウント動作を続ける。
【0047】点209において、所定の長さの時間が経
過したことを表すあるカウント値にカウンタが達する。 消去動作のためには、その時間は約10ミリ秒プラスマ
イナス約0.5ミリ秒である。その時間は現在の消去パ
ルスを終らせる保守点を表す。上記のように、メモリア
レイ12の内容を完全に消去するためには、持続時間が
おのおの約10ミリ秒であるパルスを約1000個要す
る。
【0048】点209においては、ストップタイマ内の
一致回路が論理0の消去停止信号を発生する。この信号
は図2の線140へ加えられる。この消去停止信号はア
クティブ低であるから、通常は論理的に高い。消去停止
信号はKILLERSBまたはKILL  ERASE
  BAR信号とも呼ばれる。点209においては、K
ILLERSB信号は図3に示すように論理的に低いレ
ベルになる。
【0049】線140における論理0がナンドゲート1
12へ加えられる。このために論理1が線117へ加え
られる。インバータ118は線117上のその論理1信
号を反転して線72へ加える。したがって、線72は0
を消去電圧スイッチ48へ加えて、そのスイッチを開か
せる。そのために線80とメモリアレイ12から高電圧
が除去される。このことは、消去動作が点209の付近
で終ることを意味する。
【0050】そうすると、消去指令が発せられた時にス
トップタイマ44が動作を開始し、点209において特
定のカウントに達したたっせ後でストップタイマ44は
現在の消去パルスを終らせる。点209の後で、タイマ
44内のカウンタはカウントを続ける。そのカウンタが
最大カウントに達した後で、カウンタは零リセットされ
、0からのカウントを続ける。ストップタイマ44のE
NABLE入力端子へ論理0信号が加えられたことによ
り、そのカウンタが動作不能状態にされた時にだけ、そ
のカウンタはカウント動作を停止する。これは図3の点
213で起る。点213においては、書込み可能化パル
ス244の立上り縁部が線130と134におけるSB
IT信号を論理0状態にする。そのために論理0がスト
ップタイマ44のENABLE入力端子へ論理0を加え
ることにより、ストップタイマを動作不能にする。この
ためにそのストップタイマのSTOP  ERASE出
力がそれの正常な論理的に高い状態へ戻される。これが
図3の波形210の点213により示されている。
【0051】このようにして、図2のストップタイマ4
4は、制御マイクロプロセッサ98がソフトウエアでの
消去動作を終らせるのに失敗した時に、消去動作を終ら
せるためのハードウエア機構をフラッシュメモリ10に
設ける。消去動作を行うのにあまり長くかかるとすると
、メモリアレイ12が破壊されることがある。フラッシ
ュメモリ10にストップタイマ44を設けることにより
、制御プロセッサ98が消去動作を終らせるのではなく
、開始させる問題を避けることが助けられる。マイクロ
プロセッサ98による消去動作を終らせることがそのよ
うに失敗することは、マイクロプロセッサ98内のアル
ゴリズムのユーザーソフトウエアの誤り、または、たと
えば電源の障害によるプロセッサの実行誤りによりひき
起されることがある。
【0052】ストップタイマ44はVPPとVCCによ
っても間接的に制御される。VPPとVCCの少くとも
一方が低いと、VPP/VCC検出器152が指令ラッ
チ38を動作不能にする。そのために線130と134
のSBIT信号が論理0状態にさせられる。これは、論
理0がストップタイマ44のENABLE入力端子へ加
えられることを意味し、またそれによりストップタイマ
44が動作不能にされる。
【0053】しかし、指令レジスタ38へ書込まれるそ
の後の指令は、論理的に低いKILL  ERASE 
 BAR信号がストップタイマ44により発生される前
に、その指令が、指令レジスタ38へ加えられた書込み
可能化パルスにより保持されるならば、メモリアレイ1
2の消去動作を終らせる。その理由は、その指令に関連
する書込み可能化パルスが、線130と134にあるS
BIT信号を論理0にするからである。これは、SEL
VPS信号が論理的に低い状態になることを意味する。 したがって、論理的に低いKILL  ERASE  
BAR信号または論理的に低いSBIT信号のうち、先
に生じたものにより消去動作は終らされる。
【0054】消去指令はメモリアレイ12の全てのバイ
トを並列に消去する。各消去動作の後で、メモリアレイ
12の全てのバイトを検査すべきである。16進数A0
を指令レジスタ38へ書込むことにより消去検査動作は
開始される。これは図3のデータ波形242により示さ
れている。検査すべきバイトのアドレスも、制御マイク
ロプロセッサ98によりフラッシュメモリ10の線10
00へ供給すべきである。このアドレス供給は図3の波
形248により示されている。消去検査指令に関連する
バイトアドレスは、図3の書込み可能化WEバーパルス
244の立下り縁部でフラッシュメモリ10のアドレス
ラッチ22に保持される。ストップタイマ44が論理的
に低いKILL  ERASE  BAR信号をまだ発
生していないとすると、指令レジスタ38への消去検査
指令の書込みにより、書込み可能化パルス244の立上
がり縁部において、書込み動作が終了させられる。
【0055】フラッシュメモリ10は内部で発生された
マージン電圧をアドレスされたバイトへ加える。アドレ
スされたバイトからの16進数FFからの読出しは、バ
イト内の全てのビットが消去されることを意味する。
【0056】各バイトの検査の前に、消去検査指令を指
令レジスタ38のアドレスへ書込むべきである。バイト
が16進数FFをデータとして戻さなくなるまで、また
はメモリ12の最後のアドレスがアクセスされるまで、
このプロセスはメモリアレイ12内の各バイトに対して
続けられる。
【0057】読出されたデータが16進数でない場合に
は、別の消去動作が行われる。次に、最後に検査された
バイトのアドレスから検査が行われる。メモリアレイ1
2内のすべてのバイトが検査されると、消去ステップが
終る。そうするとフラッシュメモリ10をプログラムで
きる。ここで、有効な指令を指令レジスタ38に書込む
ことにより検査が終了する。
【0058】ストップタイマ44は、プログラミング動
作を終らせることができるSTOPPROGRAM出力
も含む。この出力はKILLPRGMB出力またはKI
LL  PROGRAM  BAR出力とも呼ばれる。 ストップタイマ44のKILLPRGMB出力はアクテ
ィブ低であるから、通常は論理的に高い状態にある。
【0059】次に、メモリアレイ12をプログラミング
するためのステップについて説明する。セットアッププ
ログラム動作は、バイトプログラミングのためにフラッ
シュメモリ10を調整する指令のみの動作である。16
進数40を指令レジスタ38へ書込むことによりセット
アップ動作が行われる。データとしての16進数40の
書込みが図4の波形322により示されている。書込み
可能化パルス326の立上り縁部において16進数40
が指令レジスタに保持される。
【0060】16進数40が指令ラッチ38に保持され
た後で、指令複号論理102が指令レジスタ38の上位
ビットR7、R6、R5を読出す。指令復号論理102
はビットR7、R6、R5を復号する。その結果、指令
復号論理102が線136に論理的に高い信号を置く。 状態ラッチ104は書込み可能化パルスをまだ受けてい
ないから、その論理的に高い信号は状態ラッチ104に
よりまた保持されない。
【0061】指令複号論理102は論理的に高いPRO
G1信号も線122に置く。この信号はプログラムセッ
トアップ信号とも呼ばれる。この信号PROG1は線1
28を介してナンドゲート114と116の入力端子へ
も加えられる。
【0062】ナンドゲート114はSBIT信号も加え
られる。この時にはそのSBIT信号は論理的に低い。 ナンドゲート114の第3の入力端子へはストップタイ
マ44からSTOP  PROGRAM信号が線142
を介して加えられる。この時には、このSTOP  P
ROGRAM信号は論理的に高い。ナンドゲート114
へ全ての入力が与えられると、線74上のPROGB信
号が論理的に高い。PROGB信号はプログラム可能化
信号とも呼ばれる。このPROGB信号は線74を介し
てプログラム電圧スイッチ52へも加えられる。論理的
に高いPROGB信号は、プログラム電圧スイッチ52
が開いたままであること、および電圧VPPがXデコー
ダ18とYデコーダ20へ線82を介して加えられない
ことを意味する。
【0063】プログラムセットアップ動作が行われると
、次の書込み可能化パルス334が能動的なプログラミ
ング動作を開始する。フラッシュメモリ10の線100
0へ加えられるアドレスは、書込み可能化パルス334
の立下り縁部でアドレスラッチ22に保持される。保持
されたアドレスが図4の波形352により示されている
。プログラム指令を構成する、線64上のデータが、書
込み書込み可能化パルス334の立上がり縁部で指令レ
ジスタ38に保持される。プログラム指令のデータが図
4に波形332で示されている。
【0064】書込み可能化パルス334の立上り縁部は
プログラミング動作も開始する。これは次のようにして
行われる。書込み可能化パルス334の立上り縁部は、
線136における論理的に高い信号を状態ラッチ104
に保持させる。これにより線130と134におけるS
BIT信号を論理的に高くする。線134における論理
的に高い信号SBITはナンドゲート114の1つの入
力端子へ加えられる。この時には、ナンドゲート114
の他の2つの入力端子へも論理的に高い入力が加えられ
る。このことは、線74上のPROGB信号が論理的に
低い信号となることを意味する。この低い信号PROG
Bは線74を介してプログラム電圧スイッチ52へ加え
られ、プログラム電圧スイッチ52を閉じさせる。そう
すると電源電圧VPPがXデコーダ18とYデコーダ2
0へ加えられ、それによりメモリアレイ12をプログラ
ムできる。
【0065】線130におけるSBIT信号が論理的に
高いという事は、ストップタイマ44へのENABLE
入力が論理的に高くなることを意味する。このENAB
LE入力は図3の点311において論理的に高くなり、
そのためにストップタイマ44は点311においてカウ
ント動作を開始させられる。ストップタイマ44内のカ
ウンタはカウント動作を続け、点309においてストッ
プタイマ44内の一致回路がストップタイマ44のKI
LLPGMB出力を論理的に低くする。これが図3の波
形310に示されている。
【0066】現在のプログラミングパルスのために所定
の時間が経過するように点309が選択される。好適な
実施例においては、所定の時間は各プログラミングパル
スに対して10〜25マイクロ秒である。
【0067】メモリアレイ12が全て完全にプログラム
されるまでに、10〜25マイクロ秒のプログラミング
パルスを比較的多数回繰返えさなければならない。
【0068】論理的に低いKILLPGMBが線142
を介してナンドゲート114の入力端子へ加えられる。 そのために、ナンドゲート114の出力端子に接続され
ている線74上のPROGB信号が、論理的に低い状態
から論理的に高い状態へ移行させられる。論理的に高い
信号PROGB信号は線74を介してプログラム電圧ス
イッチ52へ加えられて、そのスイッチを開く。そうす
ると、高電圧VPPがXデコーダ18とYデコーダ20
へもはや与えられなくなるから、プログラミング動作シ
ーケンスは終る。図3の点313までストップタイマ4
4はカウントを続ける。
【0069】したがって、ストップタイマ44はプログ
ラミング動作を終らせることができる。このようにして
フラッシュメモリ10は、プログラミング動作を終らせ
るためにマイクロプロセッサ98のみに依存する必要は
ない。これによりプログラミング動作が意図しないのに
長時間行われることが避けられ、そのためにフラッシュ
メモリ10が破壊されるおそれがなくなる。
【0070】しかし、後で指令レジスタ38へ加えられ
るどの指令も、ストップタイマ44が論理的に低いST
OP  PROGRAM信号を発生する前に、その指令
が書込み可能化パルスにより指令レジスタ38に保持さ
れるならば、プログラミング動作を終らせることができ
る。その理由は、その指令に関連する書込み可能化パル
スが、線130と134にある信号SBITを論理0状
態にするからである。論理的に低いSBIT信号はPR
OGB信号が論理的に高くなることを意味する。したが
って、論理的に低いKILL  PROGRAM  B
AR信号とSBIT信号のうち先に生じたものによって
プログラミング動作が終らされる。
【0071】フラッシュメモリ10はバイトごとにプロ
グラムされる。バイトプログラミングは順次に、または
無作為に行うことができる。各プログラミング動作に続
いて、プログラムされたばかりのバイトを検査すべきで
ある。
【0072】16進数C0を指令レジスタ38に書込む
ことにより、プログラム検査動作が開始される。この1
6進データC0が図3に波形342で示されている。プ
ログラム検査指令は、論理的に低いKILL  PRO
GRAM  BAR信号が、書込み可能化パルス344
の立上り縁部までにストップタイマ44により発生され
なかったとすると、その時にプログラミング動作を終ら
せる。最後にプログラムされたバイトを検査するために
、プログラム検査動作がフラッシュメモリを設定する。 新しいアドレス情報はアドレスラッチ22により保持さ
れない。
【0073】図2の線26にあるALGPROGB信号
の機能は、プログラム検査動作中に新しいアドレス情報
がアドレスラッチ22により保持されることを阻止する
ことである。ALGPROGB信号はアクティブ低信号
である。ALGPROGB信号はADDRESS  L
ATCH  GENERATOR  PROGRAM 
 BAR信号とも呼ばれる。プログラム検査動作中は、
ナンドゲート116へのPROG1信号とSBIT信号
は共に論理的に高い。したがって、ナンドゲート116
の出力端子へ結合されている線126上のALGPRO
GB信号は論理的に低い。プログラム検査中は新しいア
ドレスがアドレスラッチ22により保持されることを阻
止するために、論理的に低いALGPROGB信号がア
ドレス保持ゼネレータへ送られる。したがって、ストッ
プタイマ44の信号KILLPGMBがフラッシュメモ
リ10の残りをPROG1が活動状態にあるプログラム
スタンドバイに置いたとしても、アドレス保持ゼネレー
タがプログラム状態に保持し、プログラム検査指令はア
ドレスラッチ22を開かない。ALGPROGB波形3
16が図4に示されている。
【0074】フラッシュメモリ10は内部で発生された
マージン電圧をバイトへ加える。マイクロプロセッサ9
8の読出しサイクルがデータを出力する。プログラムさ
れたバイトと真のデータとが一致するということは、バ
イトのプログラムが成功したことを意味する。それから
プログラミングは次の希望のバイト場所へ進む。
【0075】図2の回路では、信号PROG1とERA
SE  SET−UPはストップタイマ44の出力によ
り影響されない。したがって、ストップタイマ44がプ
ログラム動作または消去動作を不能にしたとすると、フ
ラッシュメモリ10はプログラムセットアップ状態また
は消去セットアップ状態に保たれる。これにより、プロ
グラムアルゴリズムと消去アルゴリズムに適合する状態
にフラッシュメモリ10を保つという希望の効果がもた
らされる。
【0076】図5はストップタイマ44の回路をブロッ
ク図で示す。ストップタイマ44はリセットゼネレータ
402と、発振器408と、非重畳クロック発生器41
4と、位相発生器420と、カウンタ426と、オーバ
ライド回路432、438とで構成される。
【0077】ストップタイマ44への入力信号はSBI
T信号、ADDHB信号、ADDIN信号である。信号
ADDHBとADDINはフラッシュメモリ10のテス
トだけに用いられる。ストップタイマ44の出力信号は
KILLPGMB信号とKILLERSB信号である。
【0078】ストップタイマ44はモジュール状に構成
され、電流制御リング発振器408が残りのブロックへ
クロック刺激を供給する。発振器408は、SBIT信
号が活動状態になるまで(または、フラッシュメモリ1
0がテストモードにある時は、信号ADDHBとADD
INが活動状態になるまで)定常状態に保たれる。信号
SBIT(またはADDHB/ADDIN)が活動状態
になると、リング回路により送られた周波数でトグルす
るOSCOUT出力を発振器408は発生する。このO
SCOUT出力はナンド非重畳発生器414を駆動する
【0079】このナンド非重畳発生器414は非重畳ク
ロックを次段の位相発生器420へ加える。位相発生器
420は2ビットシフトレジスタを含む。このシフトレ
ジスタは、SBIT信号が起動させられるまで「00」
状態に保たれる。このシフトレジスタは「00」、「0
1」、「11」、「10」の4つの組合わせを通って桁
送りする。位相発生器420の2つのデコーダが状態「
01」と「10」を監視して2つの出力クロックPH1
とPH2をそれぞれ発生する。それらのクロックPH1
とPH2は15ビットカウンタ426と、プログラム信
号と消去オーバライド信号を発生する回路432と43
8とのための制御クロックとして機能する。
【0080】図6はリセット発生器402を示す。この
リセット発生器は、ストップタイマ44内の全てのノー
ドを既知状態にするために用いられるRESETB信号
を発生する。ストップタイマ44のデータラッチ、クロ
ック回路および一致回路の全てと同様に、発振器408
内の全てのノードが既知状態にされる。
【0081】リセット発生器402は、ナンドゲート4
54、456、458で構成された2レベル論理で実現
される2対1マルチプレクサである。RESETB出力
がストップタイマ44内の他のブロックの全てを駆動す
るならば、インバータ460と462はRESETB信
号を増幅する。
【0082】SBIT信号は状態ラッチ104からくる
。入力信号ADDHBとADDINはフラッシュメモリ
10のテストモードの時だけ用いられる。ADDHB信
号は高電圧検出器からくる。ADDIN信号はフラッシ
ュメモリ10のアドレスピンからくる。ADDHB信号
が論理的に高い(すなわち、非活動)と、SBIT信号
がRESETB信号を制御する。すなわち、信号SBI
Tが低いとRESET信号は低く、SBITが高いとR
ESETBは高い。ADDHBが低い(すなわち、不活
動)と、ADDIN信号は信号RESETBを制御する
。信号ADDHBはテストモード中だけ低い。
【0083】図7は発振器408の回路を示す。この発
振器は、トランジスタ501〜548とインバータ57
2、574で構成された電流制御リング発振器である。 フラッシュメモリ10がテストモードにない時は、SB
IT信号が活動状態になるまで発振器408は定常状態
に保たれる。発振器408が定常状態から出されると、
OSCOUT信号は、発振器408のリング回路によっ
てセットされた周波数でトグルする。
【0084】図8は非重畳クロック発生器414の回路
を示す。非重畳クロック発生器414への入力は信号R
ESETBとOSCINである。信号OSCINは単に
発振器408からの信号OSCOUTである。
【0085】非重畳クロック発生器414は発振器40
8からOSCOUT信号をとり、非重畳クロックCLK
AとCLKB、およびそれらのクロックの論理的補数C
LKABとCLKBBを駆動する。非重畳クロック発生
器は、ナンドゲート604、606とインバータ602
、608、612、614、618を用いる標準的なナ
ンド・ナンド回路を用いる。出力端子から線622と6
24により反対側の入力端子へ帰還が行われる。これに
より、1つの出力が活動状態になることができる前に、
別の出力をそれの非活動状態に1Vt以内になることが
保証される。
【0086】非反転発生器414の出力は位相発生器4
20だけを駆動するから、出力ドライバは比較的小さい
。信号RESETBが活動状態にあると、非重畳発生器
414の全ての出力は非活動状態であり、出力CLKA
とCLKBは論理0、CLKABとCLKBBは論理1
である。
【0087】図9は4分の1分割位相発生器420の回
路を示す。この位相発生器420は、マスタ/スレーブ
ラッチ652と654で構成された2ビットシフトレジ
スタを含む。クロックDPH1とDPH2、およびそれ
の相補クロックDPH1BとDPH2Bが位相発生器4
20の復号回路により発生される。
【0088】位相発生器420は、それが動作している
間に、発振器408の出力を4分の1にする。信号RE
SETBが活動状態にある時は、ラッチ652と654
で構成されているシフトレジスタは「00」へリセット
される。RESETBが非活動状態にされた後で、その
シフトレジスタは「00」、「01」、「11」、「1
0」というシーケンス動作をくりかえす。それらのサイ
クルのうちの2つ「01」と「10」が出力デューダ回
路により検出され、信号DPH1とDPH2を発生する
ためにそれぞれ用いられる。装置668、672、67
6が信号DPH2とDPH2Bを発生し、装置670、
674、678がDPH1とDPH1Bを発生する。装
置662、664、666がラッチ652と654の出
力を増幅する。信号RESETBが活動状態にあると、
全てのクロック出力は非活動状態にある。
【0089】図10はストップタイマ44のカウンタ4
26のブロック図である。カウンタ426はデータラッ
チ701〜715で構成された15ビットシフトレジス
タとして構成される。このシフトレジスタでは、最後の
2ビット(すなわち、最上位ビット)のXNORゲート
726によるXNOR帰還が入力端子に対して行われる
。カウンタ426は非直線的にカウントするが、最大値
32768までカウントできる。
【0090】ラッチのマスタ半分はDPH1がロードさ
れ、それに、保持されているデータはDPH2の間にス
レーブ半分へ転送される。したがって、このカウンタの
出力はDPH2中に有効となり、次のDPH2まで保持
される。RESETBが活動状態にある間は全てのカウ
ンタビットは論理0によりリセットされる。
【0091】図11は、図10のカウンタ426で用い
られるデータラッチ701〜715の1つの例である、
データラッチ722の回路のブロック図である。データ
ラッチ722はマスタ−スレーブ構成であって、マスタ
部分とスレーブ部分は非同期アクティブ低にリセットさ
れる。このラッチの各部分の入力段は、トランジスタ7
52、754、756、758で構成された3安定イン
バータである。この3安定インバータはラッチ自体を入
力の寄生から分離するとともに、帰還装置と入力ドライ
バの間の競合を減少させる。p/nパスゲート対764
と765がロード中に帰還装置を入力ドライバから分離
する。帰還装置はナンドゲートであって、1つの入力が
RESETBにより与えられる。ラッチの出力QOUT
とQOUTBはRESETBが低い間にそれぞれ論理0
と論理1にセットされる。マスタ段はPH1によりクロ
ックされ、スレーブ段はPH2中にロードされる。ラッ
チのスレーブ部分はマスタと同一である。データラッチ
722は位相発生器420にも用いられる種類のラッチ
である。
【0092】図12は一致回路140を示す。この一致
回路は、図10のカウンタ426で用いられる比較器8
01〜815の1つの例である。一致回路740は、カ
ウンタ426からの特定のカウントを検出するために用
いられる簡単なワイヤードNOR回路である。
【0093】線MATCH1とMATCH2はプログラ
ムと、カウント値消去のためのワイヤードNORノード
である。EVALUATEノードはクロックDPH1で
あり、PRECHARGEノードはクロックDPH2で
ある。図13の弱い引上げ回路927とインバータ92
1が半ラッチを構成する。この半ラッチは、EVALU
ATE位相までMATCHノードを保持する。図13の
強いp装置923が、PRECHARGE中にMATC
H線を引上げる前充電装置として機能する。
【0094】DPH2中に、カウンタからの次のカウン
ト値が有効となり、一致ノードが高い値へ引上げられる
。DPH1とDPH2の間のデッド時間中に、MATC
Hノードは半ラッチ(すなわち、MATCHノードにお
ける弱い引上げ回路とインバータ)により高い状態に保
持される。
【0095】次のDPH1中は、EVALUATEn引
下げが可能にされる(図12の装置905)。この引下
げは2つの並列n装置903、901と直列である。装
置903のドレインはMATCH1へ接続され、装置9
01はMATCH2へ接続される。それらの装置のゲー
トは、カウンタを構成するDLATセルの出力QOUT
/QOUTBにより駆動される。このn引下げスタック
(905、903、901)はDLATセルごとに反復
される。したがって、EVALUATE相中にn個の装
置の任意の1つの装置のゲートが「1」であると、対応
するMATCH線が引下げられる。EVALUATE相
中にMATCHが低いと、これは希望のカウントに達し
ていないことを示す。EVALUATE相中にn個の装
置(903、901)のいずれもオンでなく、MATC
Hノードが「1」を保っているとすると、希望のカウン
トに達しており、MATCHノードの「1」状態が再循
環ラッチに保持される。図13は再循環ラッチ回路85
2を示す。この再循環ラッチ回路852は図5のオーバ
ライド回路432と438の部分として用いられ、RE
SETBが起動させられるまで、1に等しいMATCH
状態を保つ。オーバライド回路432と438の出力は
バッファおよび反転されてそれぞれKILLPGMB信
号とKILLERSB信号になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】メモリアレイを含むフラッシュメモリの回路の
ブロック図である。
【図2】フラッシュメモリの指令ラッチ、指令復号論理
、状態ラッチ、ストップタイマのブロック図である。
【図3】フラッシュメモリの消去動作に関連するある波
形を示す。
【図4】フラッシュメモリのプログラミング動作に関連
するある波形を示す。
【図5】ストップタイマの回路のブロック図である。
【図6】ストップタイマのリセット発生器の電気回路図
である。
【図7】ストップタイマの発振器回路の電気回路図であ
る。
【図8】ストップタイマの非重畳クロック発生器の電気
回路図である。
【図9】ストップタイマの位相発生器の電気回路図であ
る。
【図10】ストップタイマのカウンタと一致回路のブロ
ック図である。
【図11】ストップタイマで用いられるデータラッチの
回路の電気回路図である。
【図12】ストップタイマの一致回路の電気回路図であ
る。
【図13】ストップタイマのオーバライド回路の電気回
路図である。
【符号の説明】
10  フラッシュメモリ 12  メモリアレイ 18  Xデコーダ 22  Yデコーダ 26  データラッチ 30  入/出力バッファ 38  指令ラッチ 40  状態制御回路 42、104  状態ラッチ 44  ストップタイマ 48  消去電圧スイッチ 52  プログラムスイッチ 102  指令復号論理。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  (a)メモリと、 (b)プロセッサにより送られてきた指令を格納する第
    1のラッチと、 (c)この第1のラッチへ結合され、メモリを消去する
    ためのシーケンスの開始を指令が求めた時に、第1の値
    を格納する第2のラッチと、 (d)第2のラッチとメモリの間に結合されるタイマと
    、を備え、このタイマは、 (1)第1の値が第2のラッチに格納された時にカウン
    ト動作を開始するカウンタと、 (2)このカウンタに応答して、カウンタが第1のカウ
    ントに達した時にメモリの内容を消去するためのシーケ
    ンスを終らせるための信号を発生する回路と、を含む、
    単一基板上に設けられるコンピュータメモリ回路。
  2. 【請求項2】  (a)コンピュータメモリが設けられ
    ている基板と同じ基板上の第1のラッチに、プロセッサ
    により送られた指令を格納する過程と、 (b)コンピュータメモリが設けられている基板と同じ
    基板上の第2のラッチに、コンピュータメモリの内容を
    消去するための動作の開始を指令が求めた時に、第1の
    値を格納する過程と、 (c)コンピュータメモリが設けられている基板と同じ
    基板上に設けられているカウンタに、第1の値が第2の
    ラッチに格納された時に、カウント動作を開始させる過
    程と、 (d)カウンタが第1のカウントに達した時にコンピュ
    ータメモリを消去する動作シーケンスを終らせる信号を
    発生する過程と、を備える、コンピュータメモリの内容
    を消去するための動作を終らせる方法。
  3. 【請求項3】  (a)メモリと、 (b)プロセッサにより送られた指令を格納する第1の
    ラッチと、 (c)この第1のラッチへ結合され、メモリをプログラ
    ミングするための動作を開始することを指令が要求した
    時に、第1の値を格納する第2のラッチと、(d)第2
    のラッチとメモリの間に結合されたタイマと、を備え、
    このタイマは (1)第1の値が第2のラッチに格納された時にカウン
    ト動作を開始するカウンタと、 (2)このカウンタに応答し、カウンタが第1のカウン
    トに達した時に、メモリをプログラミングするための動
    作を終らせるための信号を発生する回路と、を備える、
    単一の基板上に設けられるコンピュータメモリ回路。
  4. 【請求項4】  (a)コンピュータメモリが設けられ
    ている基板と同じ基板上の第1のラッチに、プロセッサ
    により送られた指令を格納する過程と、 (b)コンピュータメモリが設けられている基板と同じ
    基板上の第2のラッチに、コンピュータをプログラミン
    グするための動作の開始を指令が求めた時に、第1の値
    を格納する過程と、 (c)コンピュータが設けられている基板と同じ基板上
    のカウンタに、第1の値が第2のラッチに格納された時
    に、カウント動作を開始させる過程と、(d)カウンタ
    が第1のカウントに達した時に、コンピュータメモリを
    プログラミングするための動作を終らせる信号を発生す
    る過程と、を備え、コンピュータメモリをプログラミン
    グする動作を終らせる方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1996037826A1 (en) * 1995-05-26 1996-11-28 Macronix International Co., Ltd. Floating gate memory device with protocol to terminate program load cycle
CN109300499A (zh) * 2018-09-26 2019-02-01 京东方科技集团股份有限公司 数据存储电路及数据读写方法、阵列基板、显示装置

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2711831B1 (fr) * 1993-10-26 1997-09-26 Intel Corp Procédé et circuit de mémorisation et de hiérarchisation d'ordres d'effacement dans un dispositif de mémoire.
AU702881B2 (en) * 1994-10-14 1999-03-11 Compaq Computer Corporation Computer system speed control using memory refresh counter
US5778440A (en) * 1994-10-26 1998-07-07 Macronix International Co., Ltd. Floating gate memory device and method for terminating a program load cycle upon detecting a predetermined address/data pattern
US6108237A (en) * 1997-07-17 2000-08-22 Micron Technology, Inc. Fast-sensing amplifier for flash memory
US5682496A (en) * 1995-02-10 1997-10-28 Micron Quantum Devices, Inc. Filtered serial event controlled command port for memory
US5742787A (en) * 1995-04-10 1998-04-21 Intel Corporation Hardware reset of a write state machine for flash memory
US5751944A (en) * 1995-07-28 1998-05-12 Micron Quantum Devices, Inc. Non-volatile memory system having automatic cycling test function
US5557576A (en) * 1995-07-28 1996-09-17 Micron Quantum Devices, Inc. Method and apparatus for monitoring illegal conditions in a nonvolatile memory circuit
JP4015701B2 (ja) * 1996-05-22 2007-11-28 マクロニクス インターナショナル カンパニー リミテッド 集積回路メモリ
US5805501A (en) * 1996-05-22 1998-09-08 Macronix International Co., Ltd. Flash memory device with multiple checkpoint erase suspend logic
US6148360A (en) * 1996-09-20 2000-11-14 Intel Corporation Nonvolatile writeable memory with program suspend command
US6201739B1 (en) * 1996-09-20 2001-03-13 Intel Corporation Nonvolatile writeable memory with preemption pin
US5940861A (en) * 1996-09-20 1999-08-17 Intel Corporation Method and apparatus for preempting operations in a nonvolatile memory in order to read code from the nonvolatile memory
JPH10255489A (ja) * 1997-03-13 1998-09-25 Mitsubishi Electric Corp マイクロコンピュータ
US6189070B1 (en) 1997-08-28 2001-02-13 Intel Corporation Apparatus and method for suspending operation to read code in a nonvolatile writable semiconductor memory
US6226728B1 (en) 1998-04-21 2001-05-01 Intel Corporation Dynamic allocation for efficient management of variable sized data within a nonvolatile memory
US6418059B1 (en) 2000-06-26 2002-07-09 Intel Corporation Method and apparatus for non-volatile memory bit sequence program controller
US6490218B1 (en) 2001-08-17 2002-12-03 Matrix Semiconductor, Inc. Digital memory method and system for storing multiple bit digital data
US7000063B2 (en) 2001-10-05 2006-02-14 Matrix Semiconductor, Inc. Write-many memory device and method for limiting a number of writes to the write-many memory device
US6567304B1 (en) 2002-05-09 2003-05-20 Matrix Semiconductor, Inc Memory device and method for reliably reading multi-bit data from a write-many memory cell
US7466588B2 (en) * 2004-10-07 2008-12-16 Nokia Corporation Method for improving programming speed in memory devices
CN100368990C (zh) * 2005-12-02 2008-02-13 浙江大学 利用定时器控制异步计算的指令的方法
US8054591B2 (en) * 2008-07-24 2011-11-08 General Electric Company Arc detection using discrete wavelet transforms
US9392092B2 (en) 2011-07-14 2016-07-12 Qualcomm Incorporated Method and apparatus for detecting and dealing with a lost electronics device
KR20220039282A (ko) * 2020-09-22 2022-03-29 에스케이하이닉스 주식회사 컨트롤러 및 이를 포함하는 메모리 시스템

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5785255A (en) * 1980-11-17 1982-05-27 Nec Corp Memory storage for integrated circuit
US4460982A (en) * 1982-05-20 1984-07-17 Intel Corporation Intelligent electrically programmable and electrically erasable ROM
US4718037A (en) * 1985-12-12 1988-01-05 Texas Instrumens Incorporated Microcomputer containing EPROM with self-program capability
US4789967A (en) * 1986-09-16 1988-12-06 Advanced Micro Devices, Inc. Random access memory device with block reset
US4791326A (en) * 1987-01-22 1988-12-13 Intel Corporation Current controlled solid state switch
US4802119A (en) * 1987-03-17 1989-01-31 Motorola, Inc. Single chip microcomputer with patching and configuration controlled by on-board non-volatile memory
JPS6432494A (en) * 1987-07-27 1989-02-02 Mitsubishi Electric Corp Non-volatile semiconductor storage device
US4970692A (en) * 1987-09-01 1990-11-13 Waferscale Integration, Inc. Circuit for controlling a flash EEPROM having three distinct modes of operation by allowing multiple functionality of a single pin
US5050125A (en) * 1987-11-18 1991-09-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Electrically erasable programmable read-only memory with NAND cellstructure
US5034922A (en) * 1987-12-21 1991-07-23 Motorola, Inc. Intelligent electrically erasable, programmable read-only memory with improved read latency
US5222046A (en) * 1988-02-17 1993-06-22 Intel Corporation Processor controlled command port architecture for flash memory
US5053990A (en) * 1988-02-17 1991-10-01 Intel Corporation Program/erase selection for flash memory
US5095344A (en) * 1988-06-08 1992-03-10 Eliyahou Harari Highly compact eprom and flash eeprom devices
US5043940A (en) * 1988-06-08 1991-08-27 Eliyahou Harari Flash EEPROM memory systems having multistate storage cells
JPH0283892A (ja) * 1988-09-20 1990-03-23 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
US5172338B1 (en) * 1989-04-13 1997-07-08 Sandisk Corp Multi-state eeprom read and write circuits and techniques
EP0675502B1 (en) * 1989-04-13 2005-05-25 SanDisk Corporation Multiple sector erase flash EEPROM system
US5097444A (en) * 1989-11-29 1992-03-17 Rohm Corporation Tunnel EEPROM with overerase protection

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1996037826A1 (en) * 1995-05-26 1996-11-28 Macronix International Co., Ltd. Floating gate memory device with protocol to terminate program load cycle
CN109300499A (zh) * 2018-09-26 2019-02-01 京东方科技集团股份有限公司 数据存储电路及数据读写方法、阵列基板、显示装置
CN109300499B (zh) * 2018-09-26 2021-08-24 京东方科技集团股份有限公司 数据存储电路及数据读写方法、阵列基板、显示装置

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