JPH04232272A - チタン、ジルコニウム又はハフニウムを含有する層の基板上への析出方法 - Google Patents
チタン、ジルコニウム又はハフニウムを含有する層の基板上への析出方法Info
- Publication number
- JPH04232272A JPH04232272A JP18716291A JP18716291A JPH04232272A JP H04232272 A JPH04232272 A JP H04232272A JP 18716291 A JP18716291 A JP 18716291A JP 18716291 A JP18716291 A JP 18716291A JP H04232272 A JPH04232272 A JP H04232272A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- titanium
- substrate
- hafnium
- compound
- zirconium
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 62
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 17
- 238000000151 deposition Methods 0.000 title claims description 17
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 13
- PMTRSEDNJGMXLN-UHFFFAOYSA-N titanium zirconium Chemical compound [Ti].[Zr] PMTRSEDNJGMXLN-UHFFFAOYSA-N 0.000 title 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 50
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 42
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 15
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims abstract description 7
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims abstract description 3
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 62
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 54
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 45
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 27
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 claims description 25
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 23
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 claims description 14
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 10
- 239000012071 phase Substances 0.000 claims description 7
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 claims description 7
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 claims description 6
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 claims description 5
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 claims description 4
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 abstract description 7
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 abstract 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 50
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 23
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 11
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 8
- 229910010062 TiCl3 Inorganic materials 0.000 description 7
- YONPGGFAJWQGJC-UHFFFAOYSA-K titanium(iii) chloride Chemical compound Cl[Ti](Cl)Cl YONPGGFAJWQGJC-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 7
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 6
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 6
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 6
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 6
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 6
- -1 Titanium Organic Compounds Chemical class 0.000 description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 5
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 5
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 5
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 5
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N Pentane Chemical compound CCCCC OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 150000003609 titanium compounds Chemical class 0.000 description 4
- MTPVUVINMAGMJL-UHFFFAOYSA-N trimethyl(1,1,2,2,2-pentafluoroethyl)silane Chemical compound C[Si](C)(C)C(F)(F)C(F)(F)F MTPVUVINMAGMJL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 3
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 3
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 3
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 3
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- XJDNKRIXUMDJCW-UHFFFAOYSA-J titanium tetrachloride Chemical compound Cl[Ti](Cl)(Cl)Cl XJDNKRIXUMDJCW-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 3
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 2
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 125000002837 carbocyclic group Chemical group 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- CHVJITGCYZJHLR-UHFFFAOYSA-N cyclohepta-1,3,5-triene Chemical compound C1C=CC=CC=C1 CHVJITGCYZJHLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000002188 cycloheptatrienyl group Chemical group C1(=CC=CC=CC1)* 0.000 description 2
- KDUIUFJBNGTBMD-VXMYFEMYSA-N cyclooctatetraene Chemical compound C1=C\C=C/C=C\C=C1 KDUIUFJBNGTBMD-VXMYFEMYSA-N 0.000 description 2
- ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N endo-cyclopentadiene Natural products C1C=CC=C1 ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000003446 ligand Substances 0.000 description 2
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 2
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 description 2
- 210000000056 organ Anatomy 0.000 description 2
- 238000006303 photolysis reaction Methods 0.000 description 2
- 230000015843 photosynthesis, light reaction Effects 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 2
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 239000013589 supplement Substances 0.000 description 2
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- 229910021341 titanium silicide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 2
- 102100032957 C5a anaphylatoxin chemotactic receptor 1 Human genes 0.000 description 1
- 229920000049 Carbon (fiber) Polymers 0.000 description 1
- UCVIZTDOJLBADJ-UHFFFAOYSA-M Cl[Mg]C1C=CC=C1 Chemical compound Cl[Mg]C1C=CC=C1 UCVIZTDOJLBADJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 101000867983 Homo sapiens C5a anaphylatoxin chemotactic receptor 1 Proteins 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N Nitrous Oxide Chemical compound [O-][N+]#N GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 239000004734 Polyphenylene sulfide Substances 0.000 description 1
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical group [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- USZGMDQWECZTIQ-UHFFFAOYSA-N [Mg](C1C=CC=C1)C1C=CC=C1 Chemical compound [Mg](C1C=CC=C1)C1C=CC=C1 USZGMDQWECZTIQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 150000001335 aliphatic alkanes Chemical class 0.000 description 1
- 150000001338 aliphatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- FPCJKVGGYOAWIZ-UHFFFAOYSA-N butan-1-ol;titanium Chemical compound [Ti].CCCCO.CCCCO.CCCCO.CCCCO FPCJKVGGYOAWIZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004917 carbon fiber Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- BMTKGBCFRKGOOZ-UHFFFAOYSA-K cyclopenta-1,3-diene;zirconium(4+);trichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Cl-].[Zr+4].C=1C=C[CH-]C=1 BMTKGBCFRKGOOZ-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 125000000058 cyclopentadienyl group Chemical group C1(=CC=CC1)* 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- NKZSPGSOXYXWQA-UHFFFAOYSA-N dioxido(oxo)titanium;lead(2+) Chemical compound [Pb+2].[O-][Ti]([O-])=O NKZSPGSOXYXWQA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 1
- 238000005485 electric heating Methods 0.000 description 1
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 150000002363 hafnium compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000013067 intermediate product Substances 0.000 description 1
- 239000011872 intimate mixture Substances 0.000 description 1
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 description 1
- DBKDYYFPDRPMPE-UHFFFAOYSA-N lithium;cyclopenta-1,3-diene Chemical compound [Li+].C=1C=C[CH-]C=1 DBKDYYFPDRPMPE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002681 magnesium compounds Chemical class 0.000 description 1
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UGVPKMAWLOMPRS-UHFFFAOYSA-M magnesium;propane;bromide Chemical compound [Mg+2].[Br-].CC[CH2-] UGVPKMAWLOMPRS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229920000620 organic polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003208 petroleum Substances 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 description 1
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- 150000003388 sodium compounds Chemical class 0.000 description 1
- VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N strontium titanate Chemical compound [Sr+2].[O-][Ti]([O-])=O VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 description 1
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 description 1
- 239000004408 titanium dioxide Substances 0.000 description 1
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VOITXYVAKOUIBA-UHFFFAOYSA-N triethylaluminium Chemical compound CC[Al](CC)CC VOITXYVAKOUIBA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003755 zirconium compounds Chemical class 0.000 description 1
- DUNKXUFBGCUVQW-UHFFFAOYSA-J zirconium tetrachloride Chemical compound Cl[Zr](Cl)(Cl)Cl DUNKXUFBGCUVQW-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、チタン、ジルコニウム
又はハフニウムを含有する層を基板上に析出させる方法
に関する。
又はハフニウムを含有する層を基板上に析出させる方法
に関する。
【0002】
【従来の技術】基板を表面被覆により、その表面が特定
の機能特性を有するように変性させることはすでに公知
である。例えば導電性層又は半導電性層、例えば導体路
を施すここができる。更に、接着を媒介する、又はマイ
グレーションを阻止する層を基板上に施すことも公知で
ある。
の機能特性を有するように変性させることはすでに公知
である。例えば導電性層又は半導電性層、例えば導体路
を施すここができる。更に、接着を媒介する、又はマイ
グレーションを阻止する層を基板上に施すことも公知で
ある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の解決する課題
は、チタン、ジルコニウム又はハフニウムを含有する層
を基板上に析出させる方法を提供することであった。
は、チタン、ジルコニウム又はハフニウムを含有する層
を基板上に析出させる方法を提供することであった。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題は、本発明の方
法により解決される。
法により解決される。
【0005】チタン、ジルコニウム又はハフニウムを含
有する層を基板上に析出させるための本発明の方法は、
一般式: (CnR1uR2v)Mt(CmR3wR4x)(I)
[式中、n、m=5、6、7、8 u+v=n w+x=m、及びR1、R2、R3及びR4は同じか又
は異なっていてのよく、かつ水素原子、アルキル基、特
にメチル基を表わし、Mtはチタン、ジルコニウム又は
ハフニウム、有利にはチタンを表す]で示される化合物
の分解により、チタン、ジルコニウム又はハフニウムを
含有する層を基板上に施すことを特徴とする。u、v、
w及びxは、oとnないしはmの間の整数である。
有する層を基板上に析出させるための本発明の方法は、
一般式: (CnR1uR2v)Mt(CmR3wR4x)(I)
[式中、n、m=5、6、7、8 u+v=n w+x=m、及びR1、R2、R3及びR4は同じか又
は異なっていてのよく、かつ水素原子、アルキル基、特
にメチル基を表わし、Mtはチタン、ジルコニウム又は
ハフニウム、有利にはチタンを表す]で示される化合物
の分解により、チタン、ジルコニウム又はハフニウムを
含有する層を基板上に施すことを特徴とする。u、v、
w及びxは、oとnないしはmの間の整数である。
【0006】一般式(I)の化合物のリガンドにおいて
は炭素環が挙げられる。該化合物は通常いわゆる“サン
ドイッチ構造”化合物として存在する。該化合物におい
ては炭素環CnR1uR2vないしはCmR3wR4x
の環炭素原子は、一般的見地では同じ形式で金属原子に
配位されている。n又はm個が同じ形式で金属原子に配
位された炭素原子を有するこのような炭素環は、n−h
aptoないしはetan又はm−haptoないしは
etamとも称される。一般に、一般式(I)の化合物
は(n−hapto−CnR1uR2v)Mt(m−h
apto−CmR3wR4x)として存在すると見なさ
れている。
は炭素環が挙げられる。該化合物は通常いわゆる“サン
ドイッチ構造”化合物として存在する。該化合物におい
ては炭素環CnR1uR2vないしはCmR3wR4x
の環炭素原子は、一般的見地では同じ形式で金属原子に
配位されている。n又はm個が同じ形式で金属原子に配
位された炭素原子を有するこのような炭素環は、n−h
aptoないしはetan又はm−haptoないしは
etamとも称される。一般に、一般式(I)の化合物
は(n−hapto−CnR1uR2v)Mt(m−h
apto−CmR3wR4x)として存在すると見なさ
れている。
【0007】しかしながら、本発明による方法において
は、該化合物の環式リガンドが該配位とは多少異なった
形式を有する一般式(I)の化合物も使用可能である。 該化合物(C8H8)Ti(C8H8)に関しては、例
えば(8−hapto−C8H8)Ti(8−hapt
o−C8H8)又は(8−hapto−C8H8)Ti
(4−hapto−C8H8)の形態として存在する化
合物も可能とみなされる。もちろん(C8H8)Ti(
C8H8)は、配位の形式には全く依存せず本発明の方
法に使用可能である。
は、該化合物の環式リガンドが該配位とは多少異なった
形式を有する一般式(I)の化合物も使用可能である。 該化合物(C8H8)Ti(C8H8)に関しては、例
えば(8−hapto−C8H8)Ti(8−hapt
o−C8H8)又は(8−hapto−C8H8)Ti
(4−hapto−C8H8)の形態として存在する化
合物も可能とみなされる。もちろん(C8H8)Ti(
C8H8)は、配位の形式には全く依存せず本発明の方
法に使用可能である。
【0008】本発明による方法において有利な実施形態
を配慮して、つまりチタンを含有する層の発生について
更に説明する。
を配慮して、つまりチタンを含有する層の発生について
更に説明する。
【0009】式中、R1、R2、R3及びR4が水素原
子を表すか、又は式中、R1及びR2がメチル基かつR
3及びR4が水素原子を表す化合物を使用するのが有利
である。
子を表すか、又は式中、R1及びR2がメチル基かつR
3及びR4が水素原子を表す化合物を使用するのが有利
である。
【0010】n及びmがそれぞれ8、又はn=5及びm
=7、又はn=5及びm=8、n及びmがそれぞれ6を
表すのが有利である。特に式中、n=5及びm=7を表
す化合物が適している。
=7、又はn=5及びm=8、n及びmがそれぞれ6を
表すのが有利である。特に式中、n=5及びm=7を表
す化合物が適している。
【0011】例えば(C8H8)2Ti;(C5H5)
Ti(C8H8)、(C5Me5)Ti(C8H8);
(C5H5)Ti(C7H7);(C5Me5)Ti(
C7H7)又は(C6H6)2Tiが良好に使用可能で
ある。
Ti(C8H8)、(C5Me5)Ti(C8H8);
(C5H5)Ti(C7H7);(C5Me5)Ti(
C7H7)又は(C6H6)2Tiが良好に使用可能で
ある。
【0012】際立って適しているのは、(5−hapt
o−C5H5)Ti(7−hapto−C7H7)であ
る。
o−C5H5)Ti(7−hapto−C7H7)であ
る。
【0013】チタンを含有する層を析出するために、当
業者は析出を凝縮相から又は気相ないしは蒸気相から行
うことができる。その際、当業者にとって一般式(I)
の特定な化合物だけでなく、そのような化合物の混合物
も使用できるということは明らかである。
業者は析出を凝縮相から又は気相ないしは蒸気相から行
うことができる。その際、当業者にとって一般式(I)
の特定な化合物だけでなく、そのような化合物の混合物
も使用できるということは明らかである。
【0014】凝縮相から析出させるために、当業者は一
般式(I)の化合物を溶剤を用いず、又は有利には溶剤
に溶かして基板上に施し、該化合物を分解させる。溶剤
としては所望の場合には配位特性を有していてもよい、
極性又は無極性の中性有機溶剤を使用することができる
。例えば脂肪族炭化水素、例えばペンタン又は石油ベン
ジン、芳香族炭化水素、例えばベンゼン又はトルエン又
はエーテル例えばテトラヒドロフランが適している。
般式(I)の化合物を溶剤を用いず、又は有利には溶剤
に溶かして基板上に施し、該化合物を分解させる。溶剤
としては所望の場合には配位特性を有していてもよい、
極性又は無極性の中性有機溶剤を使用することができる
。例えば脂肪族炭化水素、例えばペンタン又は石油ベン
ジン、芳香族炭化水素、例えばベンゼン又はトルエン又
はエーテル例えばテトラヒドロフランが適している。
【0015】それぞれの出発化合物を基板上に施すため
には、自体公知の方法を利用することができる、例えば
基板を化合物中に又は適当な溶液中に浸漬することがで
き、該出発化合物又は適当な溶液を基板上に塗布するか
、又は有利には化合物又は適当な溶液を基板上に吹き付
けることができる。
には、自体公知の方法を利用することができる、例えば
基板を化合物中に又は適当な溶液中に浸漬することがで
き、該出発化合物又は適当な溶液を基板上に塗布するか
、又は有利には化合物又は適当な溶液を基板上に吹き付
けることができる。
【0016】本発明による方法の上記実施態様、すなわ
ち凝縮相から出発化合物(ないしは出発化合物の適当な
混合物)を施すことにより広い表面も急速に被覆するこ
とができる。
ち凝縮相から出発化合物(ないしは出発化合物の適当な
混合物)を施すことにより広い表面も急速に被覆するこ
とができる。
【0017】次いで、チタンを含有する層を析出させる
ために、基板上に施した出発化合物を所望の場合には減
圧下で分解させる。好ましくは熱的に分解させる。
ために、基板上に施した出発化合物を所望の場合には減
圧下で分解させる。好ましくは熱的に分解させる。
【0018】このことは出発化合物で被覆した基板を適
当に加熱した室内に導入することにより、出発化合物を
施す前、最中に及び/又は後に所定の温度範囲内に基板
を加熱することにより行うことができる。
当に加熱した室内に導入することにより、出発化合物を
施す前、最中に及び/又は後に所定の温度範囲内に基板
を加熱することにより行うことができる。
【0019】該熱分解は放射誘導で、例えば紫外線範囲
内、赤外線範囲内、又は可視光線範囲内で作用し、基板
を加熱するレーザーにより引き起こすことができる。
内、赤外線範囲内、又は可視光線範囲内で作用し、基板
を加熱するレーザーにより引き起こすことができる。
【0020】所望の場合には、光分解によっても分解さ
せることができる。該光分解は適当な波長で作用するレ
ーザー又はUVランプにより引き起こすことができる。
せることができる。該光分解は適当な波長で作用するレ
ーザー又はUVランプにより引き起こすことができる。
【0021】該分解はプラズマ誘導によっても行うこと
もできる。このためには種々の公知の方法が適している
。
もできる。このためには種々の公知の方法が適している
。
【0022】例えば熱的なプラズマ法、例えばアーク放
電プラズマ又はプラズマジェットを用いることができる
。その際、圧力は通常10トル〜標準圧にある。
電プラズマ又はプラズマジェットを用いることができる
。その際、圧力は通常10トル〜標準圧にある。
【0023】特に低圧プラズマ法、例えば直流プラズマ
法、グロー放電プラズマ法及び交流プラズマ法、例えば
低周波、中周波、高周波プラズマ法、及びマイクロウェ
ーブプラズマ法が好適である。通常10ミリバール未満
の圧力、例えば10−2〜1ミリバールで操作する。
法、グロー放電プラズマ法及び交流プラズマ法、例えば
低周波、中周波、高周波プラズマ法、及びマイクロウェ
ーブプラズマ法が好適である。通常10ミリバール未満
の圧力、例えば10−2〜1ミリバールで操作する。
【0024】プラズマ誘導分解は公知のプラズマ反応器
内で行う。例えば管型、トンネル型、平行板型及びコロ
ナ放電型反応器が使用可能である。プラズマ中での分解
を、所望の場合には低温で実施することができるので、
プマズマ中での該分解は、比較的低い熱安定性を有する
基板の被覆、例えばプラスチックの被覆に好適である。
内で行う。例えば管型、トンネル型、平行板型及びコロ
ナ放電型反応器が使用可能である。プラズマ中での分解
を、所望の場合には低温で実施することができるので、
プマズマ中での該分解は、比較的低い熱安定性を有する
基板の被覆、例えばプラスチックの被覆に好適である。
【0025】当業者は反応性ガスの添加により、チタン
が層内に存在する形に影響を与えることができる。この
こと、並びに別の金属の同時析出法、又は別の、特に別
の組成を有する別の層の析出法については後で説明する
。
が層内に存在する形に影響を与えることができる。この
こと、並びに別の金属の同時析出法、又は別の、特に別
の組成を有する別の層の析出法については後で説明する
。
【0026】本発明による方法のもう1つの実施態様は
、気相ないしは蒸気相での出発化合物の分解に関する。 該実施態様は、特に良好な付着性の、均一な薄い層の析
出を可能にする。
、気相ないしは蒸気相での出発化合物の分解に関する。 該実施態様は、特に良好な付着性の、均一な薄い層の析
出を可能にする。
【0027】蒸気相ないしは気相の圧力は程度の差こそ
あれ高くてよい。例えば操作温度で使用出発化合物の蒸
気圧に等しい圧力で操作することができる。全圧は標準
圧に達するまで高くてもよい。好ましくは減圧、例えば
10−2〜10ミリバールで、有利には0.1〜1ミリ
バールで操作する。
あれ高くてよい。例えば操作温度で使用出発化合物の蒸
気圧に等しい圧力で操作することができる。全圧は標準
圧に達するまで高くてもよい。好ましくは減圧、例えば
10−2〜10ミリバールで、有利には0.1〜1ミリ
バールで操作する。
【0028】蒸気相又は気相での出発化合物の分解は、
好ましくはCVD(Chemical−Vapour−
Deposition)法により実施する。
好ましくはCVD(Chemical−Vapour−
Deposition)法により実施する。
【0029】CVD法を適用して基板を被覆する原理的
操作法、並びにそれに適した装置はすでに公知である。 ヨーロッパ特許出願公開第297348号明細書(もち
ろん本発明とは全く別の被覆、すなわち銅、銀又は金を
含有する層に係わる)は、当業者にCVD法の実施方法
並びにその際使用可能な装置について詳細に教示してい
る。
操作法、並びにそれに適した装置はすでに公知である。 ヨーロッパ特許出願公開第297348号明細書(もち
ろん本発明とは全く別の被覆、すなわち銅、銀又は金を
含有する層に係わる)は、当業者にCVD法の実施方法
並びにその際使用可能な装置について詳細に教示してい
る。
【0030】気相ないしは蒸気相からの分解は、好まし
くは耐圧性の、真空可能な装置内で実施する。該装置に
被覆すべき基板を導入する。減圧でチタンを含有する出
発化合物を含有する雰囲気を発生させる。該条件下で気
体状ないしは蒸気状の出発化合物の他に、所望の場合に
は不活性ガス又は反応性ガスが装置のガス室内に存在し
ていてもよい。
くは耐圧性の、真空可能な装置内で実施する。該装置に
被覆すべき基板を導入する。減圧でチタンを含有する出
発化合物を含有する雰囲気を発生させる。該条件下で気
体状ないしは蒸気状の出発化合物の他に、所望の場合に
は不活性ガス又は反応性ガスが装置のガス室内に存在し
ていてもよい。
【0031】1つの変法では、出発化合物を被覆すべき
基板と共に装置に導入する。
基板と共に装置に導入する。
【0032】選択的に有利な変法では、まず基板だけを
耐圧性装置に導入し、すでに気体状ないしは蒸気状で存
在する出発化合物を特殊な管を介して連続的に又は不連
続的に装置に導入する。ここでもキャリヤーガスを使用
することができる。
耐圧性装置に導入し、すでに気体状ないしは蒸気状で存
在する出発化合物を特殊な管を介して連続的に又は不連
続的に装置に導入する。ここでもキャリヤーガスを使用
することができる。
【0033】出発化合物のガスないしは蒸気状への変換
は、加熱により及び所望の場合にはキャリヤーガスの添
加により促進することができる。
は、加熱により及び所望の場合にはキャリヤーガスの添
加により促進することができる。
【0034】該分解をすでに公知の方法で熱的に、プラ
ズマ作用により及び/又は光分解で実施する。
ズマ作用により及び/又は光分解で実施する。
【0035】気相ないしは蒸気相からの熱的分解は、一
般的には装置の壁面を冷しておいて、基板を所望の銅を
含有する層が基板上に析出する温度に加熱して実施する
。当業者は簡単な予備実験により、それぞれの使用化合
物に必要な最低温度を容易に決定することができる。 一般的に基板を加熱する温度は、約120℃より高いと
ころにある。
般的には装置の壁面を冷しておいて、基板を所望の銅を
含有する層が基板上に析出する温度に加熱して実施する
。当業者は簡単な予備実験により、それぞれの使用化合
物に必要な最低温度を容易に決定することができる。 一般的に基板を加熱する温度は、約120℃より高いと
ころにある。
【0036】基板の加熱は、常法で例えば抵抗加熱、誘
導加熱、電気加熱装置、例えば加熱コイル又は類似のも
のにより行うことができる。基板の加熱は、放射エネル
ギーにより誘導することができる。このためには特にレ
ーザー放射エネルギーが適している。例えば可視光線の
範囲内、UV範囲内又はIR範囲内で作用するレーザー
を使用することができる。レーザーは程度の差こそあれ
焦点を合わせることができ、従って目的に合致した制限
された基板の領域又は点を加熱することができる。
導加熱、電気加熱装置、例えば加熱コイル又は類似のも
のにより行うことができる。基板の加熱は、放射エネル
ギーにより誘導することができる。このためには特にレ
ーザー放射エネルギーが適している。例えば可視光線の
範囲内、UV範囲内又はIR範囲内で作用するレーザー
を使用することができる。レーザーは程度の差こそあれ
焦点を合わせることができ、従って目的に合致した制限
された基板の領域又は点を加熱することができる。
【0037】熱的CVD法を通常低圧で実施するので、
当業者には真空技術で使用されるような耐圧性装置を備
えることは自明である。該装置は好ましくは金属有機化
合物又は不活性ガスのための加熱可能なガス管、遮断可
能なガス送入及び送出口を有し、場合によりキャリヤー
ガス又は反応性ガスを供給するための開口、温度測定装
置、所望の場合には金属有機化合物を供給するための開
口、基板を加熱するための装置、更に所望の低圧を発生
するために適するポンプなどが存在すべきである。放射
エネルギーによる誘導CVD法を実施する際には、更に
可視光線、赤外線又は紫外線の範囲内の放射線を放出す
る放射源もなくてはならない。相応するレーザー放射エ
ネルギー源が特に適している。放射エネルギーを用いて
基板を加熱することができる。
当業者には真空技術で使用されるような耐圧性装置を備
えることは自明である。該装置は好ましくは金属有機化
合物又は不活性ガスのための加熱可能なガス管、遮断可
能なガス送入及び送出口を有し、場合によりキャリヤー
ガス又は反応性ガスを供給するための開口、温度測定装
置、所望の場合には金属有機化合物を供給するための開
口、基板を加熱するための装置、更に所望の低圧を発生
するために適するポンプなどが存在すべきである。放射
エネルギーによる誘導CVD法を実施する際には、更に
可視光線、赤外線又は紫外線の範囲内の放射線を放出す
る放射源もなくてはならない。相応するレーザー放射エ
ネルギー源が特に適している。放射エネルギーを用いて
基板を加熱することができる。
【0038】本発明を実施するための非常に簡単な好ま
しい装置は図1に示されている。
しい装置は図1に示されている。
【0039】該装置は不活性ガス供給導管1と、遮断可
能な弁2を介して連結されたガラス管3を有し、該ガラ
ス管は同心的に、管状に形成された加熱炉4内に配置さ
れており、該加熱炉は2つの加熱帯域5及び6(“2帯
域管型炉”)を有する。管のもう一方の側は冷却トラッ
プ7を介して真空管8と連結されている。
能な弁2を介して連結されたガラス管3を有し、該ガラ
ス管は同心的に、管状に形成された加熱炉4内に配置さ
れており、該加熱炉は2つの加熱帯域5及び6(“2帯
域管型炉”)を有する。管のもう一方の側は冷却トラッ
プ7を介して真空管8と連結されている。
【0040】不活性ガス供給導管側に位置する最初の加
熱帯域に、出発化合物を導入する。真空管側に位置する
2つ目の加熱帯域に基板を導入する。
熱帯域に、出発化合物を導入する。真空管側に位置する
2つ目の加熱帯域に基板を導入する。
【0041】プラズマ誘導分解はすでに上記記載の装置
内で実施する。
内で実施する。
【0042】ここではチタン化合物の分解による層の形
成についての説明は行わないが、チタン化合物の気体な
いしは蒸気が基板上に達し、そこで分解してチタンを含
有する層を形成すると見なさる。層の厚さは、実質的に
は析出を実施する時間、金属有機化合物の分圧及び析出
温度に依存する。程度の差こそあれ薄い層、例えば厚さ
20ミクロメーター以下、例えば100オングストロー
ム〜20ミクロメーターの層が作られる。その都度所望
の層厚に基づき、当業者は予備実験によりチタンを含有
する一定の厚さの層を製造するために必要な時間及び析
出温度を決定することができる。
成についての説明は行わないが、チタン化合物の気体な
いしは蒸気が基板上に達し、そこで分解してチタンを含
有する層を形成すると見なさる。層の厚さは、実質的に
は析出を実施する時間、金属有機化合物の分圧及び析出
温度に依存する。程度の差こそあれ薄い層、例えば厚さ
20ミクロメーター以下、例えば100オングストロー
ム〜20ミクロメーターの層が作られる。その都度所望
の層厚に基づき、当業者は予備実験によりチタンを含有
する一定の厚さの層を製造するために必要な時間及び析
出温度を決定することができる。
【0043】すでに述べたように、該分解を光分解させ
ることもできる、例えば適当な波長で作用するレーザー
を使用するか又はUVランプを用いる。
ることもできる、例えば適当な波長で作用するレーザー
を使用するか又はUVランプを用いる。
【0044】基板を包囲する雰囲気は、気体状ないしは
蒸気状で存在する前記の出発化合物を含有している。更
に不活性ガス又は反応性ガスがガス雰囲気に含有されて
いてもよいことはすでに述べた。実施方法によっては、
全く異なったチタンを含有する層が析出する。
蒸気状で存在する前記の出発化合物を含有している。更
に不活性ガス又は反応性ガスがガス雰囲気に含有されて
いてもよいことはすでに述べた。実施方法によっては、
全く異なったチタンを含有する層が析出する。
【0045】出発化合物を不活性ガス又は反応性ガスを
添加しないで分解させると、熱分解の際、特にCVD法
として実施する際に、チタンを実質的に金属の形態で含
有する層が析出される。
添加しないで分解させると、熱分解の際、特にCVD法
として実施する際に、チタンを実質的に金属の形態で含
有する層が析出される。
【0046】不活性ガス又は反応性ガスを添加せずに操
作し、CVD法でプラズマ誘導させて分解させると、チ
タンを実質的に炭化チタンの形態で含有する層が析出さ
れる。
作し、CVD法でプラズマ誘導させて分解させると、チ
タンを実質的に炭化チタンの形態で含有する層が析出さ
れる。
【0047】特に熱的CVD法の熱分解において、チタ
ンを実質的に金属の形態で含有するないしは層、ないし
は特にプラズマ誘導CVD法でチタンを実質的に炭化チ
タンの形態で含有する層は、不活性ガスの存在下で、例
えばアルゴンのような希ガスの存在下で操作すれば析出
させることができる。
ンを実質的に金属の形態で含有するないしは層、ないし
は特にプラズマ誘導CVD法でチタンを実質的に炭化チ
タンの形態で含有する層は、不活性ガスの存在下で、例
えばアルゴンのような希ガスの存在下で操作すれば析出
させることができる。
【0048】もう1つの実施態様では、分解を反応性ガ
ス雰囲気内で実施する。このような反応性ガス雰囲気は
もちろん付加的に不活性ガス、例えばアルゴンのような
希ガスを含有することができる。
ス雰囲気内で実施する。このような反応性ガス雰囲気は
もちろん付加的に不活性ガス、例えばアルゴンのような
希ガスを含有することができる。
【0049】1つの変法では、還元性反応性ガス雰囲気
で操作する。該分解は特に熱的に又はプラズマ誘導CV
D法の形式で実施する。アンモニア、窒素又は類似のN
−含有添加物を含有する反応性ガス雰囲気で、チタンを
含有する出発化合物を分解することにより、チタンを実
質的に窒化チタンの形態で含有する層が生じる。
で操作する。該分解は特に熱的に又はプラズマ誘導CV
D法の形式で実施する。アンモニア、窒素又は類似のN
−含有添加物を含有する反応性ガス雰囲気で、チタンを
含有する出発化合物を分解することにより、チタンを実
質的に窒化チタンの形態で含有する層が生じる。
【0050】もう一つの変法では、分解を特に熱的又は
プラズマ誘導CVD法の形式により実施する。N含有ガ
ス添加物及びC含有ガス添加物、例えばアルカンを含有
する反応性ガス雰囲気で、チタンを含有する出発化合物
を分解することにより、チタンを実質的に炭窒化チタン
、TICxNy、の形態で含有する層が生じる。炭窒化
物中で、xとyの和は約1〜1.1である。該組成はま
た非化学量論的であってもよい。
プラズマ誘導CVD法の形式により実施する。N含有ガ
ス添加物及びC含有ガス添加物、例えばアルカンを含有
する反応性ガス雰囲気で、チタンを含有する出発化合物
を分解することにより、チタンを実質的に炭窒化チタン
、TICxNy、の形態で含有する層が生じる。炭窒化
物中で、xとyの和は約1〜1.1である。該組成はま
た非化学量論的であってもよい。
【0051】もう一つの変法では、分解を同様に特に熱
的に又はプラズマ誘導CVD法の形式により実施し、チ
タンを含有する出発化合物を加水分解する及び/又は酸
化する反応性ガス雰囲気で実施する。好ましくは該反応
性ガス雰囲気は水及び/又は酸素、N2O又はオゾンを
含有する。分解の際、チタンを実質的に二酸化チタンの
形態で含有する層が生じる。
的に又はプラズマ誘導CVD法の形式により実施し、チ
タンを含有する出発化合物を加水分解する及び/又は酸
化する反応性ガス雰囲気で実施する。好ましくは該反応
性ガス雰囲気は水及び/又は酸素、N2O又はオゾンを
含有する。分解の際、チタンを実質的に二酸化チタンの
形態で含有する層が生じる。
【0052】本発明による方法で、原理的に被覆が所望
される任意の基板を被覆することができる。例えば無機
物質、例えば金属又は合金、例えば鋼、半導体、珪素、
絶縁体、セラミック又は有機ポリマー、例えばポリフェ
ニレンスルフィド又はポリイミド又はポリメチルメタク
リレートを基板として使用することができる。
される任意の基板を被覆することができる。例えば無機
物質、例えば金属又は合金、例えば鋼、半導体、珪素、
絶縁体、セラミック又は有機ポリマー、例えばポリフェ
ニレンスルフィド又はポリイミド又はポリメチルメタク
リレートを基板として使用することができる。
【0053】更に、超伝導体製造の際にも用いられる基
板、例えば炭素、特に炭素繊維又は例えばチタン酸スト
ロンチウム、酸化アルミニウム又は酸化マグネシウムを
使用することができる。
板、例えば炭素、特に炭素繊維又は例えばチタン酸スト
ロンチウム、酸化アルミニウム又は酸化マグネシウムを
使用することができる。
【0054】チタンを実質的に金属チタンの形態で含有
する層の析出は、例えば自体公知の構造化方法に基づい
て特定の被覆すべきでない領域をマスキングして、非導
電性基板例えばセラミック又は有機ポリマーの上への導
電性導体路の形成を可能にする。特定の基板上に、特定
の条件下で自体公知の拡散現象を認めることができる。 珪素基板に施された金属チタンが高温、例えば700℃
に基板を加熱する際に珪素基板に拡散し、程度の差こそ
あれチタンを含有し、かつ極端な場合には珪化チタンで
ある層が生じる。このような珪化チタンはマイクロエレ
クトロニクスでの機能的な層である。
する層の析出は、例えば自体公知の構造化方法に基づい
て特定の被覆すべきでない領域をマスキングして、非導
電性基板例えばセラミック又は有機ポリマーの上への導
電性導体路の形成を可能にする。特定の基板上に、特定
の条件下で自体公知の拡散現象を認めることができる。 珪素基板に施された金属チタンが高温、例えば700℃
に基板を加熱する際に珪素基板に拡散し、程度の差こそ
あれチタンを含有し、かつ極端な場合には珪化チタンで
ある層が生じる。このような珪化チタンはマイクロエレ
クトロニクスでの機能的な層である。
【0055】チタンを実質的に炭化チタン及び/又は炭
窒化物の形態で含有する層は、摩耗低下及び付着改良作
用する。例えば、特に工具又は機械部品を製造するため
に使用される金属又は合金を被覆することができる。更
に窒化チタンを含有する層は、例えば半導体技術で必要
な拡散バリアとして作用する。
窒化物の形態で含有する層は、摩耗低下及び付着改良作
用する。例えば、特に工具又は機械部品を製造するため
に使用される金属又は合金を被覆することができる。更
に窒化チタンを含有する層は、例えば半導体技術で必要
な拡散バリアとして作用する。
【0056】酸化チタンを含有する層は、例えば光工業
で用いられるか又はプラスチックを耐研磨性に装備する
ために役立つ。
で用いられるか又はプラスチックを耐研磨性に装備する
ために役立つ。
【0057】本発明による方法は、当業者に更に別の可
能性を提供する。例えばチタンの他に1種以上の別の金
属を含有する層の析出にも適している。本発明による方
法の実施態様は、このような層を析出させるために1種
以上の別の金属の化合物及び一般式(I)の化合物を同
時に分解させることを特徴とする。チタン及び1種以上
の別の金属を均質混合物中に含有する層が形成される。 該実施態様においても不活性又は反応性ガス雰囲気で操
作できる。例えば別の金属の化合物として、鉛のβ−ジ
ケトネートを使用することができ、酸化する雰囲気でチ
タン酸鉛を含有する層を析出させることができる。該層
は誘電特性を有する。
能性を提供する。例えばチタンの他に1種以上の別の金
属を含有する層の析出にも適している。本発明による方
法の実施態様は、このような層を析出させるために1種
以上の別の金属の化合物及び一般式(I)の化合物を同
時に分解させることを特徴とする。チタン及び1種以上
の別の金属を均質混合物中に含有する層が形成される。 該実施態様においても不活性又は反応性ガス雰囲気で操
作できる。例えば別の金属の化合物として、鉛のβ−ジ
ケトネートを使用することができ、酸化する雰囲気でチ
タン酸鉛を含有する層を析出させることができる。該層
は誘電特性を有する。
【0058】更に、当業者は数種の異なった層を漸次前
後して基板に施すことができ、その際少なくとも1つの
層は本発明の方法により形成される。
後して基板に施すことができ、その際少なくとも1つの
層は本発明の方法により形成される。
【0059】例えば基板上に本発明の方法によりまず、
拡散バリアとして作用し、更に別の析出すべき層の付着
を改良する炭化チタンを含有する層を析出させることが
できる。
拡散バリアとして作用し、更に別の析出すべき層の付着
を改良する炭化チタンを含有する層を析出させることが
できる。
【0060】次いで本発明の方法により、自体公知の構
造化方法に基づき、特定の被覆すべきでない領域の好適
なマスキングにより導体路を形成することができ、同時
に金属チタンを含有する層を本発明の方法に従い析出さ
せる。所望の場合には新たに窒化チタンを含有する層を
本発明の方法により保護層として析出させることができ
る。
造化方法に基づき、特定の被覆すべきでない領域の好適
なマスキングにより導体路を形成することができ、同時
に金属チタンを含有する層を本発明の方法に従い析出さ
せる。所望の場合には新たに窒化チタンを含有する層を
本発明の方法により保護層として析出させることができ
る。
【0061】もちろんチタンを含有する層を析出させる
前後に、本発明の方法によりすでに公知の析出方法を実
施することもできる。例えば基板上に本発明の方法によ
り窒化チタンを含有する層を拡散バリアとして、かつ付
着改良させて生成することができる。次いでヨーロッパ
特許出願公開第297348号明細書から公知の方法に
より、特定の被覆するべきでない領域の好適なマスキン
グにより、自体公知の構造化方法により導体路を形成す
ることができ、同時にトリアルキルホスファン−(シク
ロペンタジエニル)−銅(I)−錯体の分解により熱的
CVD法で、激しい減圧で銅を析出させる。
前後に、本発明の方法によりすでに公知の析出方法を実
施することもできる。例えば基板上に本発明の方法によ
り窒化チタンを含有する層を拡散バリアとして、かつ付
着改良させて生成することができる。次いでヨーロッパ
特許出願公開第297348号明細書から公知の方法に
より、特定の被覆するべきでない領域の好適なマスキン
グにより、自体公知の構造化方法により導体路を形成す
ることができ、同時にトリアルキルホスファン−(シク
ロペンタジエニル)−銅(I)−錯体の分解により熱的
CVD法で、激しい減圧で銅を析出させる。
【0062】本発明の方法で使用された一般式(I)の
化合物及びその製造はすでに公知である。
化合物及びその製造はすでに公知である。
【0063】式中、nが5であり、mが7又は8を表す
一般式で示される化合物の製造は、一般式;(C5R1
uR2v)TiCl3(II)の化合物から出発するこ
とができる。該中間生成物の製造も又公知であり、例え
ば“Gmelin Handbuch deranor
ganishen Chemie、第8版に対する補充
版、第40巻、チタン有機化合物、第1部、136〜1
42頁”に記載されている。例えば、四塩化チタンを適
当なシクロペンタジエニル−リチウム−、マグネシウム
−又はナトリウム化合物と、溶剤を用いて又は用いない
で反応させ、一般式(II)の化合物を単離する。
一般式で示される化合物の製造は、一般式;(C5R1
uR2v)TiCl3(II)の化合物から出発するこ
とができる。該中間生成物の製造も又公知であり、例え
ば“Gmelin Handbuch deranor
ganishen Chemie、第8版に対する補充
版、第40巻、チタン有機化合物、第1部、136〜1
42頁”に記載されている。例えば、四塩化チタンを適
当なシクロペンタジエニル−リチウム−、マグネシウム
−又はナトリウム化合物と、溶剤を用いて又は用いない
で反応させ、一般式(II)の化合物を単離する。
【0064】例えば(C5H5)TiCl3の製造は四
塩化チタンとビス(シクロペンタジネニル)マグネシウ
ムとをキシレン中で反応させることにより78%の収率
で得られる。
塩化チタンとビス(シクロペンタジネニル)マグネシウ
ムとをキシレン中で反応させることにより78%の収率
で得られる。
【0065】(C5H4Me)TiCl3[式中“Me
”はメチル基を表す]の製造は、四塩化チタンをメチル
シクロペンタジエニルナトリウムと沸騰するキシレン中
で反応させることにより得られる。
”はメチル基を表す]の製造は、四塩化チタンをメチル
シクロペンタジエニルナトリウムと沸騰するキシレン中
で反応させることにより得られる。
【0066】(C5Me5)TiCl3の製造は、ペン
タメチルシクロペンタジエニルリチウムをベンゼン/ヘ
キサンに室温で転化することにより得られる。
タメチルシクロペンタジエニルリチウムをベンゼン/ヘ
キサンに室温で転化することにより得られる。
【0067】類似の方法で適当なジルコニウム化合物、
例えばシクロペンタジエニル塩化マグネシウム又はビス
(シクロペンタジエニル)マグネシウムと四塩化ジルコ
ンからシクロペンタジエニル三塩化ジルコニウムが製造
される、Gmelins Handbuch der
anorganishen Chemie、第8版に対
する補充版、ジルコニウム有機化合物、第10巻(19
73)、15〜16頁も参照。
例えばシクロペンタジエニル塩化マグネシウム又はビス
(シクロペンタジエニル)マグネシウムと四塩化ジルコ
ンからシクロペンタジエニル三塩化ジルコニウムが製造
される、Gmelins Handbuch der
anorganishen Chemie、第8版に対
する補充版、ジルコニウム有機化合物、第10巻(19
73)、15〜16頁も参照。
【0068】相応するハフニウム化合物は、例えば適当
なビス(シクロペンタジエニル)二塩化ハフニウム化合
物を塩素化することにより製造することができる。
なビス(シクロペンタジエニル)二塩化ハフニウム化合
物を塩素化することにより製造することができる。
【0069】次いで相応して製造したオルガノ−チタン
−、ジルコニウム−又は三塩化ハフニウム化合物を引続
き所望の一般式(I)の化合物に添加する。
−、ジルコニウム−又は三塩化ハフニウム化合物を引続
き所望の一般式(I)の化合物に添加する。
【0070】グリニヤル化合物、つまりエーテル中のi
−C3H7MgBrの存在下で、シクロヘプタトリエン
を用いて(C5H5)TiCl3を(C5H5)Ti(
C7H7)に転化することは、H.O.van Ove
n、H.H.著、DE Liefde Meijer
in J. Organomet.Chem. 27
(1970)、159〜163頁に記載されている。
−C3H7MgBrの存在下で、シクロヘプタトリエン
を用いて(C5H5)TiCl3を(C5H5)Ti(
C7H7)に転化することは、H.O.van Ove
n、H.H.著、DE Liefde Meijer
in J. Organomet.Chem. 27
(1970)、159〜163頁に記載されている。
【0071】THF中でMg及びシクロヘプタトリエン
を用いて(C5H5)TiCl3を(C5H5)Ti(
C7H7)に、又はTHF中でK2C8H8を用いて(
C5H5)Ti(C8H8)に転化することは、L.B
. Kool、 M.D. Rausch 及び R.
D. Rogers著、J. Organomet.
Chem. 297 (1985)、289〜299
頁に記載されている。
を用いて(C5H5)TiCl3を(C5H5)Ti(
C7H7)に、又はTHF中でK2C8H8を用いて(
C5H5)Ti(C8H8)に転化することは、L.B
. Kool、 M.D. Rausch 及び R.
D. Rogers著、J. Organomet.
Chem. 297 (1985)、289〜299
頁に記載されている。
【0072】(C5Me5)Ti(C7H7)、(C5
Me5)Zr(C7H7)、(C5Me5)Hf(C7
H7)並びに(C5Me5)Ti(C8H8)及び(C
5Me5)Zr(C8H8)の製造は、J. Blen
kers、 P. Bruin 及び J.H. Te
uben著、J. Organomet. Chem.
297 (1985)、61〜67頁に記載されて
いる。
Me5)Zr(C7H7)、(C5Me5)Hf(C7
H7)並びに(C5Me5)Ti(C8H8)及び(C
5Me5)Zr(C8H8)の製造は、J. Blen
kers、 P. Bruin 及び J.H. Te
uben著、J. Organomet. Chem.
297 (1985)、61〜67頁に記載されて
いる。
【0073】上記著者によれば、該化合物を該当するオ
ルガノ金属−三塩化物−化合物とシクロヘプタトリエン
ないしはシクロオクタテトラエンをエーテル中Mgチッ
プを用いて反応させることにより製造する。
ルガノ金属−三塩化物−化合物とシクロヘプタトリエン
ないしはシクロオクタテトラエンをエーテル中Mgチッ
プを用いて反応させることにより製造する。
【0074】置換されたシクロヘプタトリエニルを使用
することもできる。その際、相応して置換されたシクロ
ヘプタトリエニル基が存在する金属有機化合物が得られ
る。該化合物の製造は、例えば“Gmelins Ha
ndbuch der annorganischen
Chemie、 第8版(1984)、 Organ
o−Titan Verbindungen 第4部、
82〜87頁”に記載されている。
することもできる。その際、相応して置換されたシクロ
ヘプタトリエニル基が存在する金属有機化合物が得られ
る。該化合物の製造は、例えば“Gmelins Ha
ndbuch der annorganischen
Chemie、 第8版(1984)、 Organ
o−Titan Verbindungen 第4部、
82〜87頁”に記載されている。
【0075】式中、n及びmは8を表わす一般式(I)
の化合物の製造は、例えばH. Breil及び G.
Wilke著、Angew. Chem. 78
(1966)、942頁に記載されている。該化合物は
テトラブトキシチタンをシクロオクタテトラエンと80
℃でトリエチルアルミニウムを用いて反応させることに
より製造される。
の化合物の製造は、例えばH. Breil及び G.
Wilke著、Angew. Chem. 78
(1966)、942頁に記載されている。該化合物は
テトラブトキシチタンをシクロオクタテトラエンと80
℃でトリエチルアルミニウムを用いて反応させることに
より製造される。
【0076】式中、n及びmがそれぞれ6を表わす一般
式(I)の化合物の製造は、P.N. Hawker、
E.P. Kuendig 及び P. Timms
著、 J.C.S. Chem. Comm. 197
8、730〜731頁に記載されている方法により実施
することができる。この方法においては、カリウム原子
をテトラヒドロフラン中、チタンハロゲン化物、例えば
TiCl3及び所望のアレン、例えばトルエン又はメエ
シチレンの撹拌溶液に導入する。次いで該生成物を常法
で溶液から単離して結晶化する。
式(I)の化合物の製造は、P.N. Hawker、
E.P. Kuendig 及び P. Timms
著、 J.C.S. Chem. Comm. 197
8、730〜731頁に記載されている方法により実施
することができる。この方法においては、カリウム原子
をテトラヒドロフラン中、チタンハロゲン化物、例えば
TiCl3及び所望のアレン、例えばトルエン又はメエ
シチレンの撹拌溶液に導入する。次いで該生成物を常法
で溶液から単離して結晶化する。
【0077】n及びmがそれぞれ6を表わす一般式(I
)の化合物のもう1つの可能性は、F.W.S. Be
nfied、 M.H. Green、 J.S. O
gden 及び D. Young著、 J.C.S
Chem. Comm. 1973、886〜867頁
に記載されている。この方法においてはチタン蒸気及び
ベンゼン蒸気を真空中で所望の(C6H6)2Tiに共
縮合させる。
)の化合物のもう1つの可能性は、F.W.S. Be
nfied、 M.H. Green、 J.S. O
gden 及び D. Young著、 J.C.S
Chem. Comm. 1973、886〜867頁
に記載されている。この方法においてはチタン蒸気及び
ベンゼン蒸気を真空中で所望の(C6H6)2Tiに共
縮合させる。
【0078】
【実施例】次に本発明を、以下の実施例により説明する
が、該実施例は本発明の範囲を制限するものでない。
が、該実施例は本発明の範囲を制限するものでない。
【0079】例1:(C5H5)Ti(C7H7)の製
造H.O. van Oven 及び H.J. de
Liefde Meijer著、 J. Organ
omet. Chem. 23(1970)、159〜
160頁、記載の仕様に基づいて製造した。
造H.O. van Oven 及び H.J. de
Liefde Meijer著、 J. Organ
omet. Chem. 23(1970)、159〜
160頁、記載の仕様に基づいて製造した。
【0080】C5H5TiCl38.08gとC7H8
12.4gを窒素雰囲気下で乾燥した酸素不含のエーテ
ル中に溶した。溶液を−78℃に冷却し、エーテル中の
i−C3H7MgBrの約0.8モル溶液140mlを
約4時間にわたり添加した。添加終了後なお約1.5時
間、−78℃で更に撹拌した。次いで反応混合物を環境
温度にして、その後なお約12時間更に撹拌した。溶剤
を真空中で分離した。残留物をペンタンそれぞれ100
mlで2回洗浄した。次いで約125℃及び1mmの圧
力で青い結晶を昇華により取り出した。収量:約2.8
gチタン化合物をより大量に得るために、例1の実験を
何度も繰り返した。
12.4gを窒素雰囲気下で乾燥した酸素不含のエーテ
ル中に溶した。溶液を−78℃に冷却し、エーテル中の
i−C3H7MgBrの約0.8モル溶液140mlを
約4時間にわたり添加した。添加終了後なお約1.5時
間、−78℃で更に撹拌した。次いで反応混合物を環境
温度にして、その後なお約12時間更に撹拌した。溶剤
を真空中で分離した。残留物をペンタンそれぞれ100
mlで2回洗浄した。次いで約125℃及び1mmの圧
力で青い結晶を昇華により取り出した。収量:約2.8
gチタン化合物をより大量に得るために、例1の実験を
何度も繰り返した。
【0081】例2:2.チタンを含有する層を製造する
ための(C5H5)Ti(C7H7)の使用2.1.使
用する装置 図1に相応して構成された装置を使用した。
ための(C5H5)Ti(C7H7)の使用2.1.使
用する装置 図1に相応して構成された装置を使用した。
【0082】石英ガラスが同心的に2帯域管型炉に導入
されていた。該石英ガラスの片側は遮断可能に、不活性
ガス管に連結されており、もう一方は真空ポンプに連結
されていた。石英管と真空ポンプの間に、圧送した気流
から揮発性の成分を分離するために急速冷却可能なトラ
ップが設けられていた。
されていた。該石英ガラスの片側は遮断可能に、不活性
ガス管に連結されており、もう一方は真空ポンプに連結
されていた。石英管と真空ポンプの間に、圧送した気流
から揮発性の成分を分離するために急速冷却可能なトラ
ップが設けられていた。
【0083】蒸発すべき金属有機性化合物を磁製ボール
に入れて2帯域管式炉の最初の加熱帯域中のガラス管に
配置した。基板は第2の加熱帯域に導入した。実験では
ガラス管壁を基板として利用した。
に入れて2帯域管式炉の最初の加熱帯域中のガラス管に
配置した。基板は第2の加熱帯域に導入した。実験では
ガラス管壁を基板として利用した。
【0084】2.2.実験操作
2.2.1. 基板としてのシリコンの使用基板とし
てシリコンウェーハを使用した。例1により製造したチ
タン化合物を加熱帯域1に導入した。
てシリコンウェーハを使用した。例1により製造したチ
タン化合物を加熱帯域1に導入した。
【0085】珪素基板を加熱帯域2で約400℃の温度
にした。圧力は約0.03ミリバールだった。出発化合
物を加熱帯域1で120℃に加熱した。その際形成する
出発化合物の蒸気は基板上に流れ、チタンを含有する層
を析出して分解した。キャリヤーガスは使用しなかった
。
にした。圧力は約0.03ミリバールだった。出発化合
物を加熱帯域1で120℃に加熱した。その際形成する
出発化合物の蒸気は基板上に流れ、チタンを含有する層
を析出して分解した。キャリヤーガスは使用しなかった
。
【0086】約10分後析出が終了し、それまで遮断さ
れていた不活性ガス管を介して石英管を浄化した窒素で
標準圧にした。被覆した基板を石英管から取り出した。 該分析により、該ウェーハがチタンで被覆されているこ
とが判明した。該層は炭素1重量%未満を含有していた
。
れていた不活性ガス管を介して石英管を浄化した窒素で
標準圧にした。被覆した基板を石英管から取り出した。 該分析により、該ウェーハがチタンで被覆されているこ
とが判明した。該層は炭素1重量%未満を含有していた
。
【0087】2.2.2. 基板としての鋼の使用例
2.2.1.を繰り返したが、今回は鋼円板を基板とし
て使用した。析出条件及びその結果は例2.2.1.の
それに相応した。
2.2.1.を繰り返したが、今回は鋼円板を基板とし
て使用した。析出条件及びその結果は例2.2.1.の
それに相応した。
【0088】2.2.3. 基板としてのガラスの使
用例2.2.1.を繰り返した。今回は基板を加熱帯域
2に導入せず、ガラス壁を該帯域に基板として使用した
。 その他の操作は、例2.2.1.に相応して行った。析
出終了後、石英ガラス管にチタンの層が析出したのが確
認された。
用例2.2.1.を繰り返した。今回は基板を加熱帯域
2に導入せず、ガラス壁を該帯域に基板として使用した
。 その他の操作は、例2.2.1.に相応して行った。析
出終了後、石英ガラス管にチタンの層が析出したのが確
認された。
【図1】本発明を実施するための装置の略示構成図であ
る。
る。
Claims (10)
- 【請求項1】 チタン、ジルコニウム又はハフニウム
を含有する層を基板上に析出させる方法において、一般
式: (CnR1uR2v)Mt(CmR3wR4x)(I)
[式中、n、m=5、6、7、8 u+v=n w+x=m、及びR1、R2、R3及びR4は同じか又
は異なっていてのよく、かつ水素原子、アルキル基を表
わし、Mtはチタン、ジルコニウム又はハフニウムを表
す]で示される化合物の分解により、チタン、ジルコニ
ウム又はハフニウムを含有する層を基板上に施すことを
特徴とする、チタン、ジルコニウム又はハフニウムを含
有する層の基板上への析出方法。 - 【請求項2】 nとmがそれぞれ8を表すか、n=5
及びm=8、n=5及びm=7を表すか、又はnとmが
それぞれ6を表す、請求項1記載の方法。 - 【請求項3】 n=5及びm=7を表す、請求項1又
は2記載の方法。 - 【請求項4】 R1、R2、R3及びR4が水素原子
を表すか、又はR1とR2がメチル及びR3とR4が水
素原子を表す、請求項1から3までのいずれか1項記載
の方法。 - 【請求項5】 一般式(I)の化合物を気相又は蒸気
相で分解させる請求項1から4までのいずれか1項記載
の方法。 - 【請求項6】 一般式(I)の化合物を減圧下で、所
望の場合にはキャリヤーガスの適用下で蒸気相に変換し
、減圧で分解させる請求項5記載の方法。 - 【請求項7】 熱的に分解させる請求項1から6まで
のいずれか1項記載の方法。 - 【請求項8】 一般式(I)に化合物を、基板を約1
20℃より高い温度に加熱することにより熱的に分解さ
せる、請求項7記載の方法。 - 【請求項9】 チタン、ジルコニウム又はハフニウム
を実質的に金属の形態で含有する、チタン、ジルコニウ
ム又はハフニウムを含有する層を析出させるために、分
解を形成された金属及び一般式(I)の使用化合物に対
して不活性の、場合により水素を含有するガス雰囲気で
分解を実施する請求項1から8までのいずれか1項記載
の方法。 - 【請求項10】 チタン、ジルコニウム又はハフニウ
ムを実質的に窒化物、炭窒化物又は酸化物の形態で含有
する、チタン、ジルコニウム又はハフニウムを含有する
層を析出させるために、分解を反応性雰囲気で実施する
請求項1から8までのいずれか1項記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4023882 | 1990-07-27 | ||
| DE4023882.2 | 1990-07-27 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04232272A true JPH04232272A (ja) | 1992-08-20 |
Family
ID=6411130
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18716291A Pending JPH04232272A (ja) | 1990-07-27 | 1991-07-26 | チタン、ジルコニウム又はハフニウムを含有する層の基板上への析出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04232272A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6063443A (en) * | 1992-09-22 | 2000-05-16 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | CVD method for forming oxide-system dielectric thin film |
| US6103002A (en) * | 1993-09-14 | 2000-08-15 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | CVD method for forming oxide-system dielectric thin film |
| JP2012526811A (ja) * | 2009-05-13 | 2012-11-01 | リンデ アクチエンゲゼルシャフト | 原子層堆積のための溶液ベースのジルコニウム前駆体 |
| JP2017504657A (ja) * | 2013-12-22 | 2017-02-09 | インテグリス・インコーポレーテッド | TiO2のALD用オゾン活性化リガンドを有するシクロペンタジエニルチタンアルコキシド |
-
1991
- 1991-07-26 JP JP18716291A patent/JPH04232272A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6063443A (en) * | 1992-09-22 | 2000-05-16 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | CVD method for forming oxide-system dielectric thin film |
| US6212059B1 (en) | 1992-09-22 | 2001-04-03 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Capacitor including barium strontium titanate film |
| US6231658B1 (en) | 1992-09-22 | 2001-05-15 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Chemical vapor deposition source for depositing lead zirconate titanate film |
| US6236559B1 (en) | 1992-09-22 | 2001-05-22 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Capacitor |
| US6103002A (en) * | 1993-09-14 | 2000-08-15 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | CVD method for forming oxide-system dielectric thin film |
| JP2012526811A (ja) * | 2009-05-13 | 2012-11-01 | リンデ アクチエンゲゼルシャフト | 原子層堆積のための溶液ベースのジルコニウム前駆体 |
| JP2017504657A (ja) * | 2013-12-22 | 2017-02-09 | インテグリス・インコーポレーテッド | TiO2のALD用オゾン活性化リガンドを有するシクロペンタジエニルチタンアルコキシド |
| US10870921B2 (en) | 2013-12-22 | 2020-12-22 | Entegris, Inc. | Cyclopentadienyl titanium alkoxides with ozone activated ligands for ALD of TiO2 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5908947A (en) | Difunctional amino precursors for the deposition of films comprising metals | |
| JP7842823B2 (ja) | 高純度酸化スズの堆積用の有機金属化合物ならびに酸化スズ膜のドライエッチングおよび堆積リアクタ | |
| JP4280412B2 (ja) | けい素・窒素ベースフィルムおよびその製作方法 | |
| US5866205A (en) | Process for titanium nitride deposition using five- and six-coordinate titanium complexes | |
| US6063705A (en) | Precursor chemistries for chemical vapor deposition of ruthenium and ruthenium oxide | |
| EP0804631B1 (en) | Method of depositing thin group iiia metal films | |
| US6338880B1 (en) | Chemical vapor deposition process for depositing titanium nitride films from an organometallic compound | |
| US5659057A (en) | Five- and six-coordinate precursors for titanium nitride deposition | |
| EP0174743A2 (en) | Process for transition metal nitrides thin film deposition | |
| US5449799A (en) | Compound for depositing copper layers | |
| JP7032781B2 (ja) | ガリウムを含有する薄膜の原子層堆積方法 | |
| CN101316855A (zh) | 有机金属化合物及其用法 | |
| KR20070107124A (ko) | 유기알루미늄 전구체 화합물 | |
| JPH04232271A (ja) | 銅を含有する層の基板上への析出方法 | |
| JPH04232272A (ja) | チタン、ジルコニウム又はハフニウムを含有する層の基板上への析出方法 | |
| US6696109B2 (en) | Chemical vapor deposition process for depositing titanium silicide films from an organometallic compound | |
| JP5096016B2 (ja) | タンタル化合物とその製造方法、及びそれを原料とするタンタル含有薄膜とその形成方法 | |
| DE4120344A1 (de) | Verfahren zur abscheidung von titan, zirkonium oder hafnium enthaltenden schichten | |
| JPH04232270A (ja) | 銅を含有する層の基板上への析出方法、並びに新規の銅化合物 | |
| JP4542506B2 (ja) | 第8(viii)族メタロセン前駆物質を用いた蒸着法 | |
| WO2006082739A1 (ja) | タンタル化合物、その製造方法、タンタル含有薄膜、及びその形成方法 | |
| DE4122473A1 (de) | Verfahren zur abscheidung von titan, zirkonium oder hafnium enthaltenden schichten | |
| CN101155640A (zh) | 有机铝前体化合物 | |
| JPH05214546A (ja) | モリブデンもしくはタングステンを含有する層の析出法 | |
| JPH04232269A (ja) | 遷移金属含有層を析出させる方法及び新規の配位化合物 |