JPH0423237A - 光学式ピックアップ検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は光情報記録再生用の光学式ピックアップに係
わり、特に光学式ピックアンプの出射光量測定に関する
ものである。

［従来の技術］ 光情報の記録及び再生においては、情報の記録及び再生
にレーザービームが用いられており、このレーザービー
ムの発光源としては、レーザーダイオードが一般に用い
られる。このレーザーダイオードは、第５図に示すよう
に、温度変化により出力が大きく変化するとともに経時
変化も大きい。

これがため、レーザービームの出力を最適値に保つよう
なサーボ回路が必要となる。このようなサーボ回路は、
＾ＰＣ回路（自動出力制御回路）と称され、レーザーダ
イオードの発光回路では一般的に用いられている。

かかる従来の光情報記録再生装置に用いられているＡＰ
Ｃ回路の一例を第６図に示す。図中、２１はレーザーダ
イオードで、このレーザーダイオード２１からのレーザ
ービームは光情報媒体に向かって照射される。また、レ
ーザーダイオード２１の発光出力はレーザーダイオード
２１に近接して設けられたモニター用のフォトダイオー
ド２２によって検出される。すなわち、レーザーダイオ
ード２１の発光出力がフォトダイオード２２で受光され
ると、フォトダイオード２２に光量に応じた電流が流れ
る。

フォトダイオード２２を流れる電流は、電流−電圧変換
回路２３で電圧に変換され、この電流−電圧変換回路２
３の出力は比較回路２４に供給される。この比較回路２
４には目標電圧■２も供給されている。

比較回路２４の出力はローバラスフィルタ（ＬＰＦ）２
５を介して電流リミッタ２６に供給される。この電流リ
ミッタ２６は、過電流がレーザーダイオード２１に流れ
てレーザーダイオード２１が破壊されるのを防止するた
めに設けたものである。電流リミッタ２６の出力はドラ
イブ回路２７に供給し、このドライブ回路２７の出力を
レーザーダイオード２１に供給し、これによりてレーザ
ーダイオード２１の発光出力を所望のように制御する。

上述したように、レーザーダイオード２１の出力は、フ
ォトディテクタダイオード２２で検出され、比較回路２
４で目標値と比較される。従って、レーザーダイオード
２１は、比較回路２４の出力に応じて制御されることに
なり、従って、レーザーダイオード２１の発光出力は目
標値に対応して一定となるよう制御される。

このようにして制御される光学式ピックアッフの出射光
量を測定する従来技術としては、例えば、実開昭６２−
５９８２２号公報に示されるものがある。この測定装置
は、第７図に示すように、フォトディテクタを内蔵した
光パワーセンサ３１およびセンサキャップ３０で構成さ
れ、このセンサキャップ３０により、光学式ピックアッ
プ３２と光パワーセンサ３１との距離を一定に保持し、
出射光量の測定を行うものである。

このような従来技術において、フォトディテクタの面内
感度のばらつきによる影響および光学式ピックアップの
出射光がフォトディテクタ面上の一点に集中することに
よって起きるフォトディテクタの劣化を防止するために
、現実的にはこの光学式ピックアップおよびフォトディ
テクタの距離を光学式ピックアップの合焦点位置からは
ずれるように設定する必要がある。

［発明が解決しようとする課題］ 光学式ピンクアンプの出射光量測定では、出射光量およ
びレーザーダイオード駆動電流の関係と、出射光量およ
び前述の目標電圧の関係とをそれぞれ求めることが必要
である。

第７図のような構成では出射光量を測定する際、フォト
ディテクタは光学式ピックアップの合焦点位置からはず
れた位置に配置されている。これがため、光学式ピック
アップからの出射光量のうちフォトディテクタ上で反射
し、再び光学式ピックアップに入射する光量は微小であ
り、光学式ピックアップに与える影響も無視できる程度
のものである。

ところが、光学式ピックアップにより実際に情報の記録
及び再生を行う際には、光情報媒体に対して、常に光学
式ピックアップが合焦点位置にあるようにフォーカスサ
ーボがかけられる。従って、光学式ピックアップからの
出射光は光情報媒体上で光情報媒体の反射率に対応した
光量骨だけ反射し、再び光学式ピックアップに入射する
ことになる。

この再び光学式ピックアップに入射した光により、第６
図におけるモニタ用のフォトダイオード２２はレーザー
ダイオード２１の発光出力以外にも光を受けることにな
り、出力電流が変化する。また、レーザーダイオード２
１も再び入射した光により発光特性に変化をきたすよう
になる。

これがため、光学式ピ・ンクアップの合焦点位置からは
ずれた位置にフォトディテクタを配置して測定した出射
光量およびレーザーダイオード駆動電流及の関係と、出
射光量および目標電圧の関係とは光学式ピックアップが
実際に、情報の記録、再生を行っている状態での関係と
異なるという問題が生じることになる。

しがって、この発明は、光学式ピックアップが実際に情
報の記録、再生を行っているフォーカスサ−ボがかかっ
た状態での、出射光量およびレザーダイオード駆動電流
の関係と、出射光量および目標電圧の関係とをそれぞれ
測定する装置を提供することをその目的とする。

［課題を解決するための手段］ 本発明はレーザーダイオード発光回路と、レザーダイオ
ード駆動電流検出回路と、光学式ピンクアンプの出射光
を受光するフォトディテクタとからなる光学式ピックア
ンプの検査装置において、光学式ピックアップと前記フ
ォトディテクタとの間にハーフミラ−を配置したことを
特徴とする。

第１図は本発明光学式ピックアップの光出力検査装置の
構成を示す説明図である。この第１図に示すように、本
発明光学式ピックアップ検査装置によれば、フォーカス
サーボ回路４と、レーザーダイオード発光回路５とレー
ザーダイオード駆動電流検出回路６と、光学式ピックア
ップの出射光を受光するフォトディテクタ２とを備え、
光学式ピックアップ３とフォトディテクタ２との間の合
焦点にハーフミラ−１を配置し、光学式ピックアップ３
の出射光量を測定し得るようにする。

［作用］ レーザーダイオード発光回路５はこれに入力される基準
電圧ｖ１により、光学式ピックアップ３に内蔵されたレ
ーザーダイオードを発光させる。光学式ピックアップ３
からの出射光は、光学式ピックアップ３の光軸上に配置
されたハーフミラ−１によりその一部が反射して再び光
学式ピックアップ３に入射し、他の一部は透過してフォ
トディテクタ２に入射する。この状態でフォトディテク
タ２はハーフミラ−１を透過した光を受光し、光量に応
した電気信号を出力する。これと同時にレザーダイオー
ド駆動電流検出回路６によってレーザーダイオード発光
回路５の出力電流値■１を測定する。

これにより、出射光量およびレーザーダイオード駆動電
流の関係と、出射光量および目標電圧の関係とをそれぞ
れ測定することができる。

［実施例］ 以下、この発明の実施例について図面を参照して説明す
る。

第１図はこの発明の第１実施例を示すものである。

第１図において、５はレーザーダイオード発光回路を示
す。このレーザーダイオード発光回路５によって基準電
圧ｖ１によって光学式ピックアップ３に内蔵されている
レーザーダイオードの出力を制御する。レーザーダイオ
ード駆動電流検出回路６によってレーザーダイオード発
光回路５の出力電流値を測定する。光学式ピックアップ
３の上方に設けられたハーフミラ−１は、光学式ピンク
アンプ３からの出射光の一部を反射し、他の一部を透過
する。フォーカスサーボ回路４はハーフミラ−１からの
反射光によって光学式ピックアップ３の合焦点位置がハ
ーフミラ−１上にあるように光学式ピツクアツプ３のフ
ォーカスサーボ機構を制御する。ハーフミラ−１の上方
に設けられたフォトディテクタ２はハーフミラ−１を透
過した光を受光しその光量に応じた電流を出力する。電
流−電圧変換回路７はフォトディテクタ２の電流出力を
電圧に変換して出力する。

以下にこの発明の第１実施例の動作について説明する。

レーザーダイオード発光回路５によってこれに入力され
る基準電圧Ｖ１により光学式ピックアップ３に内蔵され
たレーザーダイオードを発光させる。光学式ピックアッ
プ３からの出射光は、光学式ピックアップ３の光軸上に
配置されたハーフミラ−１においてその一部が反射して
再び光学式ピックアップ３に入射し、他の一部は透過し
てフォトディテクタ２に入射する。再び光学式ビ・ンク
アソブ３に入射するハーフミラ−１による反射光を利用
して、フォーカスサーボ回路４によって光学式ビックア
ンプ３の合焦点位置がハーフミラ−１上にあるように光
学式ピックアップ３のフォーカスサーボ機構を制御する
。この状態でフォトディテクタ２はハーフミラ−１を透
過した光を受光し、その光量に応じた電流を出力する。

フォトディテクタ２の出力電流は、電流−電圧変換回路
７によって電圧に変換され外部に出力される。これと同
時にレーザーダイオード駆動電流検出回路６によってレ
ーザーダイオード発光回路５の出力電流値１．を測定す
る。

上述の第１実施例によれば、フォーカスサーボがかかっ
た状態での、出射光量およびレーザーダイオード駆動電
流の関係と、出射光量および目標電圧の関係とを測定す
ることができる。この測定結果によって、光学式ピック
アップ３を、光情報記録再生装置に搭載した際に、最適
な条件を設定することができる。

（第２実施例） 次に、この発明の第２実施例を第２図に示す。

本例では、光学式ピックアップ３とフォトディテクタ２
との間に置かれたハーフミラ−１の光学式ピックアップ
３側に保護層１５をハーフミラ−１の反射面１６と密着
するように配置する。この保護層１５の厚み材質は、使
用している光情報記録媒体の保護層と同じになるように
選択する。

実際に光情報記録に用いられる光情報記録媒体は情報の
記録反射層の上に保護層が存在するように構成する。こ
れがため、光学式ピックアップ３はこの保護層による屈
折等を考慮して設計している。

この第２の実施例においては、光学式ピックアップ３の
出射光は、保護層１５に入射し、その後ハーフミラ−反
射面１６に到達する。従って、出射光はその一部がハー
フミラ−反射面１６で反射し、また他の一部は透過して
フォトディテクタ２に入射する。ハーフミラ−反射面１
６で反射した光は、保護層内１５を通り再び光学式ピッ
クアップ３に入射する。この再び入射する光によって、
フォーカスサーボをかけることで、実際に使用する光情
報記録媒体上にフォーカスサーボをかけた場合と同し条
件で光学式ピックアップ３の出射出力の測定を行うこと
ができる。

また、光情報記録媒体には、トラックと称される溝があ
る。従ってハーフミラ−反射面を第３図に示すような、
光情報記録媒体のトラックと同じ構造とすることもでき
る。上述の第２実施例では、実際に使用される光情報記
録媒体と同様の面にフォーカスサーボがかった状態での
出射光量およびレーザーダイオード駆動電流の関係と、
出射光量および目標電圧の関係とを測定することかでき
る。

この測定結果によって光学式ピックアップ３を光情報記
録再生装置に搭載した際、使用する光情報記録媒体に対
応した最適な条件を設定することができる。

（第３実施例） この発明の第３実施例を第４図に示す。本例では、第１
実施例の構成に加え光学式ピ、クア、ブ３を固定する移
動ステージ１１を備え、移動ステージ１１の可動範囲内
に、光情報記録媒体１０と光情報記録媒体１０の駆動機
構とを備えるようにしている。

記録、再生信号変復調回路１３は光情報記録媒体１０か
ら読出した再生信号の復調、及び光情報記録媒体１０に
記録する信号の変調を夫々行う。トラックサーボ回路１
４は光情報記録媒体１０上に刻設されたトラックと称さ
れる溝の一定位置に、光学式ピックアップ３の出射光が
常に位置するようにして光学式ピンクアンプのトラック
サーボ機構を制御するものである。

この第３実施例では、光学式ピックアップ３がハーフミ
ラ−１と対向する位置にあるときにはレーザーダイオー
ド発光回路５とフォーカスサーボ回路４とによってハー
フミラ−１上にフォーカスサーボをかけた状態にする。

この状態でフォトディテクタ２はハーフミラ−１を透過
した光学式ピンクアンプの出射光を受光し、その光量に
応した電流を出力する。電流−電圧変換器７によってフ
ォトディテクタ２の電流出力を電圧に変換して出力する
。

また、光学式ピックアップ３が光情報記録媒体１０と対
向する位置にある場合には、レーザーダイオード発光回
路５と、フォーカスサーボ回路４と、トラックサーボ回
路１４とによって光情報記録媒体１０上にフォーカスサ
ーボがかった状態にする。この状態で光学式ピックアッ
プ３は光情報記録媒体１０に記録された情報を読取り、
記録、再生信号変調回路１３に出力する。また、この状
態で記録再生信号変調回路１３は記録信号を光学式ピッ
クアップ３に出力する。光学式ピンクアンプ３は記録信
号に従って光情報記録媒体１０に記録動作を行う。

この第３実施例によれば第１実施例似つき説明した所と
同様の効果に加え、光学式ビンクアンフの記録、再生の
性能をｍす定することかできる。

［発明の効果］ この発明によれば、光学式ピックアンプがハーフミラ−
上で集光している状態でハーフミラ−を透過する光によ
って光学式ピックアップの出射光量を測定している。ま
た、銅ぞに目標電圧及びし−ザーダイオード駆動電流を
測定している。このため、光学式ピックアップが実際に
情報の記録再生を行っているフォーカスサーボがかった
状態での出射光置きレーザーダイオード駆動電流及び出
射光量と目標電圧との関係を測定することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明光学式ピックアップ検査装置の第１実施
例の構成を示す説明図、 第２図は本発明光学式ピックアップ検査装置の第２実施
例の構成を示す説明図、 第３図は光情報記録媒体の構成を示す断面図、第４図は
本発明光学式ピックアップ検査装置の第３実施例の構成
を示す説明図、 第５図はレーザーダイオードの温度に対する出力特性を
示す特性図、 第６図は光情報記録再生装置のＡＰＣ回路を示す説明図
、 第７図は従来の光学式ピックアップの出射光量を測定す
る装置を示す説明図である。 ハーフミラ− フォトディテクタ 光学式ピックアップ フォー力スサーホ回路 レーザーダイオード発光回路 レーザーダイオード駆動電流検出回路 電流−電圧変換回路 光軸 光情報記録媒体 移動式ステージ 記録再生信号変復調回路 トラックサーボ回路 保護層 ハーフミラ−反射面 レーザーダイオード フォトディテクタ 電流−電圧変換回路 比較回路 ローパスフィルタ 電流リミ　ツタ ドライブ回路 センサーキャップ 光パワーセンサ 光学式ピックアップ 光軸

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）レーザーダイオード発光回路と、レーザーダイオ
   ード駆動電流検出回路と、光学式ピックアップの出射光
   を受光するフォトディテクタとからなる光学式ピックア
   ップの検査装置において、光学式ピックアップと前記フ
   ォトディテクタとの間にハーフミラーを配置したことを
   特徴とする光学式ピックアップ検査装置。