JPH04232822A - 超短時間レーザパルスのパルス幅及びチャープを判断するためのデータを得る方法及びその装置 - Google Patents
超短時間レーザパルスのパルス幅及びチャープを判断するためのデータを得る方法及びその装置Info
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- JPH04232822A JPH04232822A JP3171313A JP17131391A JPH04232822A JP H04232822 A JPH04232822 A JP H04232822A JP 3171313 A JP3171313 A JP 3171313A JP 17131391 A JP17131391 A JP 17131391A JP H04232822 A JPH04232822 A JP H04232822A
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- pulses
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J11/00—Measuring the characteristics of individual optical pulses or of optical pulse trains
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Lasers (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Optical Transform (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、光スペクトル範囲の
超短時間単一パルスのパルス幅及び周波数変調（”チャ
ープ（ｃｈｉｒｐ） ”）を判断するためのデータを獲
得する方法及びその装置に関する。このパルスは例えば
、周波数変化及び強調成分、及び分散光成分を同時に使
用する、分散型ダイレーザ（ｄｙｅｌａｓｅｒ） 、又
はフェーズロック（ｐｈａｓｅ−ｌｏｃｋｅｄ）ダイレ
ーザから発生するパルスである。
超短時間単一パルスのパルス幅及び周波数変調（”チャ
ープ（ｃｈｉｒｐ） ”）を判断するためのデータを獲
得する方法及びその装置に関する。このパルスは例えば
、周波数変化及び強調成分、及び分散光成分を同時に使
用する、分散型ダイレーザ（ｄｙｅｌａｓｅｒ） 、又
はフェーズロック（ｐｈａｓｅ−ｌｏｃｋｅｄ）ダイレ
ーザから発生するパルスである。
【０００２】
【従来の技術】ピコ秒（ｐｓ）及びフェムト秒（ｆｅｍ
ｔｏｓｅｃｏｎｄ） 範囲のパルス幅を有する超短時間
パルスの周波数変調（”チャープ”）の判定はこれまで
、秒単位のいわゆる干渉計の自己相関方法を用いてのみ
可能であった。 この方法は、複数パルス処理（Ｄｉｅｌｓ．Ｆｏｎｔａ
ｉｎｅ，ＭｃＭｉｃｈａｅｌ ａｎｄ Ｓｉｍｏｎｉ，
Ａｐｐｌ．Ｏｐｔ．．２４，１２７０（１９８５））
、及び単一パルス処理（Ｓｚａｂｏ，Ｂｏｒ ａｎｄ
Ｍｕｌｌｅｒ，Ｏｐｔ．Ｌｅｔｔ．１３，７４６（１９
８８））の両方の方法に基づく。しかし、これらの方法
では、α≧３…４（後述の式１５ａ参照）の値を有する
パルスのチャープのみしか決定できない。
ｔｏｓｅｃｏｎｄ） 範囲のパルス幅を有する超短時間
パルスの周波数変調（”チャープ”）の判定はこれまで
、秒単位のいわゆる干渉計の自己相関方法を用いてのみ
可能であった。 この方法は、複数パルス処理（Ｄｉｅｌｓ．Ｆｏｎｔａ
ｉｎｅ，ＭｃＭｉｃｈａｅｌ ａｎｄ Ｓｉｍｏｎｉ，
Ａｐｐｌ．Ｏｐｔ．．２４，１２７０（１９８５））
、及び単一パルス処理（Ｓｚａｂｏ，Ｂｏｒ ａｎｄ
Ｍｕｌｌｅｒ，Ｏｐｔ．Ｌｅｔｔ．１３，７４６（１９
８８））の両方の方法に基づく。しかし、これらの方法
では、α≧３…４（後述の式１５ａ参照）の値を有する
パルスのチャープのみしか決定できない。
【０００３】Ｔｒｅａｃｙ，ＩＥＥＥ Ｊ．Ｑｕａｎｔ
．Ｅｌｅｃｔｒｏｎ．ＱＥ−５，４５４（１９６９）
によると、ＴＲＥＡＸＹコンプレッサと一般に呼ばれる
その装置は、光放射パルスを圧縮（短縮）することが知
られ、その動作モードは次式により示すことができる。
．Ｅｌｅｃｔｒｏｎ．ＱＥ−５，４５４（１９６９）
によると、ＴＲＥＡＸＹコンプレッサと一般に呼ばれる
その装置は、光放射パルスを圧縮（短縮）することが知
られ、その動作モードは次式により示すことができる。
【０００４】
【数１】
【０００５】ここで、μはグループ遅延分散（ｇｒｏｕ
ｐ ｄｅｌａｙ ｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）を定義するパ
ラメータ、ｌは二つの回析格子の間の直角中心距離（こ
こで、ＴＲＥＡＣＹコンプレッサに使用される二重経路
は、因数２： １´＝２．１と考えられる）、ｄは格
子定数、ｃは光の速度、ω０ は光パルスの搬送周波数
、及びγは入射光と格子直角の間で測定された入射角。
ｐ ｄｅｌａｙ ｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ）を定義するパ
ラメータ、ｌは二つの回析格子の間の直角中心距離（こ
こで、ＴＲＥＡＣＹコンプレッサに使用される二重経路
は、因数２： １´＝２．１と考えられる）、ｄは格
子定数、ｃは光の速度、ω０ は光パルスの搬送周波数
、及びγは入射光と格子直角の間で測定された入射角。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明の目的は、レー
ザスポット内の単一光パルスのパルス幅及びチャープ（
周波数変調）を判定するデータを獲得することである。
ザスポット内の単一光パルスのパルス幅及びチャープ（
周波数変調）を判定するデータを獲得することである。
【０００７】この目的を達成するために、単一光放射パ
ルスのパルス幅及びチャープを判定するデータを獲得す
る本発明の実施例に従う方法が使用される。発明の改良
点は、放射パルスが第１及び第２部分パルスに分かれる
ことである。この部分パルスは第１及び第２の二つの装
置により、異なるグループ遅延分散を伴い伝送され、そ
して部分パルスはその結果同一スケールで記録される。
ルスのパルス幅及びチャープを判定するデータを獲得す
る本発明の実施例に従う方法が使用される。発明の改良
点は、放射パルスが第１及び第２部分パルスに分かれる
ことである。この部分パルスは第１及び第２の二つの装
置により、異なるグループ遅延分散を伴い伝送され、そ
して部分パルスはその結果同一スケールで記録される。
【０００８】単一光放射パルスのパルス幅及びチャープ
を判定するデータを獲得するこの発明の実施例による装
置は、光入力パルスを２つの部分パルスに分離する入力
ビームデバイダ（ｂｅａｍ ｄｉｖｉｄｅｒ）、第１部
分パルスのビーム経路内の所定第１グループ遅延分散を
有する光学機器、第１のものとは異なる所定第２グルー
プ遅延分散を有する光学機器、及び部分パルスが前記光
学機器を通過した後、部分パルスの分離登録を同一時間
ベースで行う手段を具備する。
を判定するデータを獲得するこの発明の実施例による装
置は、光入力パルスを２つの部分パルスに分離する入力
ビームデバイダ（ｂｅａｍ ｄｉｖｉｄｅｒ）、第１部
分パルスのビーム経路内の所定第１グループ遅延分散を
有する光学機器、第１のものとは異なる所定第２グルー
プ遅延分散を有する光学機器、及び部分パルスが前記光
学機器を通過した後、部分パルスの分離登録を同一時間
ベースで行う手段を具備する。
【０００９】この方法及び装置により、後に示される単
一レーザショットの関係式（４）で定義される超短時間
光パルスの複合ガウスパラメータΓ０ を決定できる。 ＴＲＥＡＣＹコンプレッサのパラメータを適切に選択す
ることにより、パルス延長が行われる。従って、ストリ
ークカメラ（ｓｔｒｅａｋｃａｍｅｒａ） の時間分解
能より短いパルス幅を有するパルスを測定することがで
きる。これまでこの範囲は前述の二次の自己相関法（ａ
ｕｔｏｃｏｒｒｅｌａｔｉｏｎ ｍｅｔｈｏｄｓ） の
みが使用可能であった。
一レーザショットの関係式（４）で定義される超短時間
光パルスの複合ガウスパラメータΓ０ を決定できる。 ＴＲＥＡＣＹコンプレッサのパラメータを適切に選択す
ることにより、パルス延長が行われる。従って、ストリ
ークカメラ（ｓｔｒｅａｋｃａｍｅｒａ） の時間分解
能より短いパルス幅を有するパルスを測定することがで
きる。これまでこの範囲は前述の二次の自己相関法（ａ
ｕｔｏｃｏｒｒｅｌａｔｉｏｎ ｍｅｔｈｏｄｓ） の
みが使用可能であった。
【００１０】この発明はストリークカメラのフォトカソ
ードの全スペクトル範囲に適用することができる。これ
とは対称的に、二次の自己相関法のスペクトル範囲は、
必要となる周波数の倍増のために、電気光検出器がまだ
使用できるスペクトル範囲に制限される。
ードの全スペクトル範囲に適用することができる。これ
とは対称的に、二次の自己相関法のスペクトル範囲は、
必要となる周波数の倍増のために、電気光検出器がまだ
使用できるスペクトル範囲に制限される。
【００１１】ここに説明される方法を用いる二次の干渉
計自己相関法とは対称的に、チャープ（上方又は下方チ
ャープ）のサイン、即ち周波数変化の方向も決定される
。
計自己相関法とは対称的に、チャープ（上方又は下方チ
ャープ）のサイン、即ち周波数変化の方向も決定される
。
【００１２】一般的な二次の干渉計相関法（ｉｎｔｅｒ
ｆｅｒｏｍｅｔｒｉｃｃｏｒｒｅｌａｔｉｏｎ ｍｅｔ
ｈｏｄｓ） とは対称的に、ここで示される方法により
、小さいチャープ（α＝約１）も許容される。
ｆｅｒｏｍｅｔｒｉｃｃｏｒｒｅｌａｔｉｏｎ ｍｅｔ
ｈｏｄｓ） とは対称的に、ここで示される方法により
、小さいチャープ（α＝約１）も許容される。
【００１３】
【実施例】図１に示すように、本発明による方法におい
て、光入力パルスＥＰは、そのパルス幅及びチャープ（
周波数変調）が測定され、ビームデバイダＳＴ２ によ
り、ほぼ同一強度の２つの部分パルス分離される。そし
てこれらのパルスは、２つの回折格子構成Ｇ１ 、Ｇ２
、及びＧ３ 、Ｇ４ を介する二経路を各々通過する
。これら回折格子はいわゆるＴＲＥＡＣＹコンプレッサ
ＴＫ１ 及びＴＫ２ である。これらを通過した後、ほ
ぼ同一強度の２つの出力パルスは、２つの平行に伸びる
ビーム経路内の２つのビームデバイダＳＴ１ 及びＳＴ
３ を用いて、そのビーム経路により結合される。そし
て変調のない光システムＬを介して画像化される。この
システムＬは簡単のため単一レンズとして示され、ギャ
ップＳを介して高時間分解能のストリークカメラＳＣの
フォトカソードＰＫ上に画像化される。ギャップＳから
２つのＴＲＥＡＣＹコンプレッサＴＫ１ 、ＴＫ２ ま
での異なる２つの距離は、２つの出力パルスＡＰ１ 、
ＡＰ２ の時間分割に影響し、従ってそれらは同一時間
性に基づき、互いに分離してストリークカメラのスクリ
ーン上に示すことができる。又、それらは電気記録手段
及び後に示す実験室的コンピュータを用いて記録するこ
とができる。
て、光入力パルスＥＰは、そのパルス幅及びチャープ（
周波数変調）が測定され、ビームデバイダＳＴ２ によ
り、ほぼ同一強度の２つの部分パルス分離される。そし
てこれらのパルスは、２つの回折格子構成Ｇ１ 、Ｇ２
、及びＧ３ 、Ｇ４ を介する二経路を各々通過する
。これら回折格子はいわゆるＴＲＥＡＣＹコンプレッサ
ＴＫ１ 及びＴＫ２ である。これらを通過した後、ほ
ぼ同一強度の２つの出力パルスは、２つの平行に伸びる
ビーム経路内の２つのビームデバイダＳＴ１ 及びＳＴ
３ を用いて、そのビーム経路により結合される。そし
て変調のない光システムＬを介して画像化される。この
システムＬは簡単のため単一レンズとして示され、ギャ
ップＳを介して高時間分解能のストリークカメラＳＣの
フォトカソードＰＫ上に画像化される。ギャップＳから
２つのＴＲＥＡＣＹコンプレッサＴＫ１ 、ＴＫ２ ま
での異なる２つの距離は、２つの出力パルスＡＰ１ 、
ＡＰ２ の時間分割に影響し、従ってそれらは同一時間
性に基づき、互いに分離してストリークカメラのスクリ
ーン上に示すことができる。又、それらは電気記録手段
及び後に示す実験室的コンピュータを用いて記録するこ
とができる。
【００１４】ＴＲＥＡＣＹコンプレッサの光パルスに関
する動作モードは、次のように示すことができる（例え
ば、Ａ．Ｅ．Ｓｉｅｇｍａｎｎ：”Ｌａｓｅｒｓ”，Ｕ
ｎｉｖｅｒｓｉｔｙ Ｓｃｉｅｎｃｅ Ｂｏｏｋｓ，Ｍ
ｉｌｌ Ｖａｌｌｅｙ，Ｃａｌｉｆ．，ＵＳＡ（１９８
６），ｃａｐ．９ 参照）：ガウスエンベロープ（Ｇａ
ｕｓｓｉａｎ ｅｎｖｅｌｏｐｅ） 及び線形周波数変
調即ちチャープを伴う光入力パルスが仮定される。この
ようなパルスの電界強度は次の関係式により示すことが
できる。
する動作モードは、次のように示すことができる（例え
ば、Ａ．Ｅ．Ｓｉｅｇｍａｎｎ：”Ｌａｓｅｒｓ”，Ｕ
ｎｉｖｅｒｓｉｔｙ Ｓｃｉｅｎｃｅ Ｂｏｏｋｓ，Ｍ
ｉｌｌ Ｖａｌｌｅｙ，Ｃａｌｉｆ．，ＵＳＡ（１９８
６），ｃａｐ．９ 参照）：ガウスエンベロープ（Ｇａ
ｕｓｓｉａｎ ｅｎｖｅｌｏｐｅ） 及び線形周波数変
調即ちチャープを伴う光入力パルスが仮定される。この
ようなパルスの電界強度は次の関係式により示すことが
できる。
【００１５】
【数２】
【００１６】パルスのいわゆる複合ガウスパラメータ（
ｃｏｍｐｌｅｘ Ｇａｕｓｓｉａｎ ｐａｒａｍｅｔｅ
ｒ）である。
ｃｏｍｐｌｅｘ Ｇａｕｓｓｉａｎ ｐａｒａｍｅｔｅ
ｒ）である。
【００１７】パルスの強度は次式により示される。
【００１８】
【数３】
【００１９】つまり、パルス幅τｐ （１／２幅）とパ
ラメータａ０ 間の関係は、
ラメータａ０ 間の関係は、
【００２０】
【数４】
【００２１】パラメータｂ０ は、次に示すパルスを形
成する波形列の瞬間周波数ω１ に依存する。
成する波形列の瞬間周波数ω１ に依存する。
【００２２】
ω１ （ｔ）＝ω０ ＋２・ｂ０ ・ｔ
（７）従って、複合ガウスパラメータの消えない
イマジナリ成分（ｎｏｎ−ｖａｎｉｓｈｉｎｇ ｉｍａ
ｇｉａｒｙ ｃｏｍｐｏｎｅｎｔ）ｂ０ を有するガウ
スパルスは、時間に依存して線形に変化する周波数、い
わゆる線形チャープを有する。従ってパラメータｂ０
はこのチャープの測定値、即ち周波数偏倚である。
（７）従って、複合ガウスパラメータの消えない
イマジナリ成分（ｎｏｎ−ｖａｎｉｓｈｉｎｇ ｉｍａ
ｇｉａｒｙ ｃｏｍｐｏｎｅｎｔ）ｂ０ を有するガウ
スパルスは、時間に依存して線形に変化する周波数、い
わゆる線形チャープを有する。従ってパラメータｂ０
はこのチャープの測定値、即ち周波数偏倚である。
【００２３】ＴＲＥＡＣＹコンプレッサを通過して、パ
ルスの複合ガウスパラメータは変化し、その結果次式が
得られる。
ルスの複合ガウスパラメータは変化し、その結果次式が
得られる。
【００２４】
１／Γ´＝１／Γ０ ＋２・ｉ／μ
（８）（４）を（８）に代入することにより、
（８）（４）を（８）に代入することにより、
【００
２５】
２５】
【数５】
【００２６】（１）内の様々なパラメータ又は選択によ
り、ＴＲＥＡＣＹコンプレッサは、それらの方形位相用
語μ：μ２ ≠μ１ において異なるものにすることが
できる。最高分解能を得るために、特にμ２ ＝−μ１
を選択すのが望ましい。出版物、Ｍａｒｔｉｎｅｚ，
Ｇｏｒｄｏｎ ａｎｄ Ｆｏｒｋ，Ｊ．Ｏｐｔ．Ｓｏｃ
．Ａｍ．Ａ１，１００３（１９８４） から、μのサイ
ンは適切な大きさのビーム延長望遠鏡をＴＲＥＡＣＹコ
ンプレッサに挿入することにより反転できることが判る
。ここでは、２つの無変調レンズＬ１ 及びＬ２ をＴ
Ｋ１ のビーム経路に挿入している。
り、ＴＲＥＡＣＹコンプレッサは、それらの方形位相用
語μ：μ２ ≠μ１ において異なるものにすることが
できる。最高分解能を得るために、特にμ２ ＝−μ１
を選択すのが望ましい。出版物、Ｍａｒｔｉｎｅｚ，
Ｇｏｒｄｏｎ ａｎｄ Ｆｏｒｋ，Ｊ．Ｏｐｔ．Ｓｏｃ
．Ａｍ．Ａ１，１００３（１９８４） から、μのサイ
ンは適切な大きさのビーム延長望遠鏡をＴＲＥＡＣＹコ
ンプレッサに挿入することにより反転できることが判る
。ここでは、２つの無変調レンズＬ１ 及びＬ２ をＴ
Ｋ１ のビーム経路に挿入している。
【００２７】未知のパラメータａ００及びｂ００を有す
るレーザパルスが図１に示す構成を通過し、又、ストリ
ークカメラを用いて、ＴＲＥＡＣＹコンプレッサＴＫ１
、ＴＫ２ （図２参照）により変調されたパルス幅τ
１１及びτ１２が決定したならば、パラメータａ１１及
びａ１２は、（６）に類似する応用により、それらから
検出できる。
るレーザパルスが図１に示す構成を通過し、又、ストリ
ークカメラを用いて、ＴＲＥＡＣＹコンプレッサＴＫ１
、ＴＫ２ （図２参照）により変調されたパルス幅τ
１１及びτ１２が決定したならば、パラメータａ１１及
びａ１２は、（６）に類似する応用により、それらから
検出できる。
【００２８】ここで、μ＝μ２ ＝｜−μ１ ｜と仮定
すると、次の分析結果が得られる。
すると、次の分析結果が得られる。
【００２９】
【数６】
【００３０】ここで、 Ｓ＝ａ１１＋ａ１２ 及び
、Ｄ＝ａ１１−ａ１２ 及び Ｐ＝ａ１１・ａ１２
μ１ とμ２ が異なるとき、（１１）を適用すること
により、２つの未知量ａ００及びｂ００に対して２つの
式が得られる。そして標準的な計算方法でそれらの式を
解くことができる。
、Ｄ＝ａ１１−ａ１２ 及び Ｐ＝ａ１１・ａ１２
μ１ とμ２ が異なるとき、（１１）を適用すること
により、２つの未知量ａ００及びｂ００に対して２つの
式が得られる。そして標準的な計算方法でそれらの式を
解くことができる。
【００３１】これより図１に示す装置の実施例が詳細に
説明され、又同時に、２つの例を用いてこの発明による
測定方法が説明される。
説明され、又同時に、２つの例を用いてこの発明による
測定方法が説明される。
【００３２】測定される入力パルスＥＰを発生するため
に、レーザシステムが使用される。このレーザシステム
は、フェーズロックＮＤ：ＹＡＧレーザによりポンプさ
れる分散型フィードバック・ダイレーザ、及び出版物
Ｓｚａｂｏ，Ｂｏｒ ａｎｄ Ｍｕｌｌｅｒ，Ａｐｐｌ
．Ｐｈｙｓ．Ｂ ３１，１（１９８３）により示される
システムに類似するダイレーザ増幅ステージにより構成
される。
に、レーザシステムが使用される。このレーザシステム
は、フェーズロックＮＤ：ＹＡＧレーザによりポンプさ
れる分散型フィードバック・ダイレーザ、及び出版物
Ｓｚａｂｏ，Ｂｏｒ ａｎｄ Ｍｕｌｌｅｒ，Ａｐｐｌ
．Ｐｈｙｓ．Ｂ ３１，１（１９８３）により示される
システムに類似するダイレーザ増幅ステージにより構成
される。
【００３３】この場合、ダイレーザの波長は６０４ｎｍ
に調整される。このレーザシステムには測定に必要な５
μＪ のエネルギを有する単一パルスが供給され、１０
−３の伝送を有するニュートラル密度フィルタにより減
衰される。２−ｐｓ ストリークカメラのパルス幅、及
び高分解能格子を有するレーザパルスのスペクトル帯域
幅の同時測定により、帯域制限パルス幅約２ｐｓのガウ
ス・パルスが発生された。ＳＴ１ 、ＳＴ２ 、ＳＴ３
は５０％のデバイダミラーであった。ＳＰ１ 、ＳＰ
２ 、ＳＰ３ は最高反射率を有するアルミニューム表
面であった。ＴＲＥＡＣＹコンプレッサＴＫ１ 、ＴＫ
２ のパラメータに対して、次の値が選択された（記号
の意味は前述と同じ）。
に調整される。このレーザシステムには測定に必要な５
μＪ のエネルギを有する単一パルスが供給され、１０
−３の伝送を有するニュートラル密度フィルタにより減
衰される。２−ｐｓ ストリークカメラのパルス幅、及
び高分解能格子を有するレーザパルスのスペクトル帯域
幅の同時測定により、帯域制限パルス幅約２ｐｓのガウ
ス・パルスが発生された。ＳＴ１ 、ＳＴ２ 、ＳＴ３
は５０％のデバイダミラーであった。ＳＰ１ 、ＳＰ
２ 、ＳＰ３ は最高反射率を有するアルミニューム表
面であった。ＴＲＥＡＣＹコンプレッサＴＫ１ 、ＴＫ
２ のパラメータに対して、次の値が選択された（記号
の意味は前述と同じ）。
【００３４】
ＴＫ１ ： ｌ１２ ＝１４
５０ｍｍ ｄ−１
＝２４００ｍｍ−１（Ｇ１ 及びＧ２ ）
ω０ ＝３
．１１９ １０１５ ｓ−１（λ０ ＝６０４ｎｍ）
γ
＝１０２７ ｍｒａｄ望遠鏡の２つの無変調レンズＬ
１ 及びＬ２ の焦点距離：ｆ１ ＝ｆ２ ＝６００ｍ
ｍ； Ｍａｒｔｉｎｅｚ，Ｇｏｒｄｏｎ 及び Ｆｏｒｋ，
（１９８４） ，ｌｏｃ．ｃｉｔ．，によれば、（１）
において、Ｌ１２の代わりに、効果的格子間隔が挿入さ
れ、次式により定義される。
５０ｍｍ ｄ−１
＝２４００ｍｍ−１（Ｇ１ 及びＧ２ ）
ω０ ＝３
．１１９ １０１５ ｓ−１（λ０ ＝６０４ｎｍ）
γ
＝１０２７ ｍｒａｄ望遠鏡の２つの無変調レンズＬ
１ 及びＬ２ の焦点距離：ｆ１ ＝ｆ２ ＝６００ｍ
ｍ； Ｍａｒｔｉｎｅｚ，Ｇｏｒｄｏｎ 及び Ｆｏｒｋ，
（１９８４） ，ｌｏｃ．ｃｉｔ．，によれば、（１）
において、Ｌ１２の代わりに、効果的格子間隔が挿入さ
れ、次式により定義される。
【００３５】
ｌｅｆｆ ＝［ｌ１２−２（ｆ１ ＋ｆ２
） ］・（ｆ１ ／ｆ２ ）２
＝−９５０ｍｍこの結果、μ１ ＝０．１２ｐｓ
−２ ＴＫ２ ： ｌ３４ ＝１０
００ｍｍ ｄ−１
＝２４００ｍｍ−１（Ｇ３ 及びＧ４ ）
ω０ ＝３
，１１９．１０１５ ｓ−１（→λ０ ＝６０４ｎｍ）
γ
＝１０２７ ｍｒａｄ
従って、μ２ ＝−０．１２ｐｓ−２ＳＰ１
は線形偏倚手段上におかれ、出力パルスの時間分離を定
義する光経路が変化することができる。
） ］・（ｆ１ ／ｆ２ ）２
＝−９５０ｍｍこの結果、μ１ ＝０．１２ｐｓ
−２ ＴＫ２ ： ｌ３４ ＝１０
００ｍｍ ｄ−１
＝２４００ｍｍ−１（Ｇ３ 及びＧ４ ）
ω０ ＝３
，１１９．１０１５ ｓ−１（→λ０ ＝６０４ｎｍ）
γ
＝１０２７ ｍｒａｄ
従って、μ２ ＝−０．１２ｐｓ−２ＳＰ１
は線形偏倚手段上におかれ、出力パルスの時間分離を定
義する光経路が変化することができる。
【００３６】この例において、時間分解能２ｐｓを有す
る Ｈａｍａｍａｔｓｕ Ｃ−１３７０−０１ストリ
ークカメラがパルスを記録するのに使用された。
る Ｈａｍａｍａｔｓｕ Ｃ−１３７０−０１ストリ
ークカメラがパルスを記録するのに使用された。
【００３７】実験の概略及びパラメータの設定が図２に
示される。
示される。
【００３８】図３はこの構成により記録されたレーザパ
ルスの代表的な例を示す。十字は実験データを示す。実
線はＬｅｖｅｎｂｅｒｇ−Ｍａｒｑｕａｒｄｔ法を用い
て適合されたガウス曲線を示す。
ルスの代表的な例を示す。十字は実験データを示す。実
線はＬｅｖｅｎｂｅｒｇ−Ｍａｒｑｕａｒｄｔ法を用い
て適合されたガウス曲線を示す。
【００３９】この適合は１／２幅を提供する。
【００４０】τ１１＝１１．２ｐｓ（パルス１）及びτ
１２＝１２．１ｐｓ（パルス２） （６）を用いると次のようになる。
１２＝１２．１ｐｓ（パルス２） （６）を用いると次のようになる。
【００４１】ａ１１＝１．１１．１０−２ 及び
ａ１２＝９．４７．１０−３ｐｓ−２ これは入力パルスτ００＝２．１ｐｓのパルス幅に一致
する。
ａ１２＝９．４７．１０−３ｐｓ−２ これは入力パルスτ００＝２．１ｐｓのパルス幅に一致
する。
【００４２】一般に（Ｓｉｅｇｍａｎ，ｌｏｃ．ｃｉｔ
． 参照）、いわゆる時間・帯域幅の積が超短時間パ
ルスを特徴付けるのに使用される。次式はガウスパルス
についても同様である。
． 参照）、いわゆる時間・帯域幅の積が超短時間パ
ルスを特徴付けるのに使用される。次式はガウスパルス
についても同様である。
【００４３】
【数７】
【００４４】ここでδｆｐ は１／２パルス幅τｐ に
リンクされた周波数スペクトルのバンド幅である。パル
スにチャープがないとき、即ち周波数変調を示さないと
き、ｂ＝０又はα＝１、及び時間・帯域幅積は、最小値
２ ｌｎ ２／π＝０．４４と考えられる。
リンクされた周波数スペクトルのバンド幅である。パル
スにチャープがないとき、即ち周波数変調を示さないと
き、ｂ＝０又はα＝１、及び時間・帯域幅積は、最小値
２ ｌｎ ２／π＝０．４４と考えられる。
【００４５】前述の実験の場合、（１３）内の平方根は
、値α００＝１．０３、即ち時間・帯域幅積は最小値を
僅か３％だけ超過する。従ってパルスは非常に少ないチ
ャープ（周波数変調）のみを有する。
、値α００＝１．０３、即ち時間・帯域幅積は最小値を
僅か３％だけ超過する。従ってパルスは非常に少ないチ
ャープ（周波数変調）のみを有する。
【００４６】第２の例は、かなりのチャープを含むパル
スの測定を示すための例である。チャープを発生するた
めに、第１の例に示されたタイプは、測定装置に供給さ
れる前に高分散媒体を介して伝送される。
スの測定を示すための例である。チャープを発生するた
めに、第１の例に示されたタイプは、測定装置に供給さ
れる前に高分散媒体を介して伝送される。
【００４７】適切な媒体として、二硫化炭素（ＣＳ２
）が選択され、長さ１．５ｍｍの硝子キュベット（ｃｕ
ｖｅｔ） に導入された。効果を強調するために、パル
スは偏向ミラー構成により、このキュベットを２回通過
された。
）が選択され、長さ１．５ｍｍの硝子キュベット（ｃｕ
ｖｅｔ） に導入された。効果を強調するために、パル
スは偏向ミラー構成により、このキュベットを２回通過
された。
【００４８】図４は図１に示す構成により得られた代表
的測定結果を示す。ガウス曲線の適合により、１／２幅
に対する次の値を提供する。
的測定結果を示す。ガウス曲線の適合により、１／２幅
に対する次の値を提供する。
【００４９】
τ２１＝１３．９ｐｓ（パルス１） 及び τ
２２＝１０．４ｐｓ（パルス２） ａ２１＝７．１８
．１０−３ｐｓ−２ 及び ａ２２＝１．２８．１
０−１ｐｓ−２に対応する。
２２＝１０．４ｐｓ（パルス２） ａ２１＝７．１８
．１０−３ｐｓ−２ 及び ａ２２＝１．２８．１
０−１ｐｓ−２に対応する。
【００５０】この場合、解としては、ａ２Ｍ＝２．０２
１０−１ｐｓ−２ 及びｂ２Ｍ＝１．２８１０−
２であり、これらの値は、τ２Ｍ＝２．６ｐｓ 及び
α２Ｍ＝１．３６に対応する。従ってこの場合、時
間・帯域幅積は最小値を３６％だけ超過する。予期され
るように、このパルスはかなりチャープ（周波数変調）
を含む。
１０−１ｐｓ−２ 及びｂ２Ｍ＝１．２８１０−
２であり、これらの値は、τ２Ｍ＝２．６ｐｓ 及び
α２Ｍ＝１．３６に対応する。従ってこの場合、時
間・帯域幅積は最小値を３６％だけ超過する。予期され
るように、このパルスはかなりチャープ（周波数変調）
を含む。
【００５１】図３及び４から得られる結果をＣＳ２ の
分散を基にして計算される値と比較することにより、良
く一致した結果が得られた。ＴＲＥＡＣＹコンプレッサ
を示すパラメータの適切な選択により、パルス延長が影
響される。従って、使用したストリークカメラの時間分
解能より短いパルス幅を測定可能である。これまで、こ
の範囲に関して、前述の二次自己相関法のみが使用可能
であった。
分散を基にして計算される値と比較することにより、良
く一致した結果が得られた。ＴＲＥＡＣＹコンプレッサ
を示すパラメータの適切な選択により、パルス延長が影
響される。従って、使用したストリークカメラの時間分
解能より短いパルス幅を測定可能である。これまで、こ
の範囲に関して、前述の二次自己相関法のみが使用可能
であった。
【００５２】この場合、検出感度は５ｎｊであった。こ
こで用いられた格子構成の代わりに、プリズムのＴＲＥ
ＡＣＹコンプレッサを使用すると、これは少なくとも一
桁だけ増加できる。フェーズロックされた標準的ダイレ
ーザのパルスの直接分析が可能である。
こで用いられた格子構成の代わりに、プリズムのＴＲＥ
ＡＣＹコンプレッサを使用すると、これは少なくとも一
桁だけ増加できる。フェーズロックされた標準的ダイレ
ーザのパルスの直接分析が可能である。
【００５３】この方法はガウスパルスの分析に制限され
ることはなく、このようなパルスに対して、単に数学的
方法が比較的簡単で明確な方法である。
ることはなく、このようなパルスに対して、単に数学的
方法が比較的簡単で明確な方法である。
【００５４】測定方法の分解能
（１）内のパラメータを適切に選択することによりμが
設定され、測定されるパルスは５…１５ｐｓに広げられ
る。それによりＴＲＥＡＣＹコンプレッサのパラメータ
は全て測定に使用でき、妥当な精度で決定でき、その結
果精度は実質的にそれらに制限されない。
設定され、測定されるパルスは５…１５ｐｓに広げられ
る。それによりＴＲＥＡＣＹコンプレッサのパラメータ
は全て測定に使用でき、妥当な精度で決定でき、その結
果精度は実質的にそれらに制限されない。
【００５５】例えば１０％のストリークカメラを仮定し
た場合、相対測定エラー２ｐｓ、Δτ＝３００ｆｓの時
間差が得られる。この分解能は、例えば測定の反復及び
平均化により２倍にすることができ、従ってこれは測定
される僅か１５０ｆｓの時間差を可能にする。分解能≦
６００ｆｓ を有する更に改良されたストリークカメ
ラにより、更に改良できることが考えられる。
た場合、相対測定エラー２ｐｓ、Δτ＝３００ｆｓの時
間差が得られる。この分解能は、例えば測定の反復及び
平均化により２倍にすることができ、従ってこれは測定
される僅か１５０ｆｓの時間差を可能にする。分解能≦
６００ｆｓ を有する更に改良されたストリークカメ
ラにより、更に改良できることが考えられる。
【００５６】分解能の実際的定義は、パルス幅とチャー
プを組み合わせて考えなければならない。ＴＫ１ の出
力で、所定パルス幅が例えばτ１ ＝５ｐｓと仮定し、
（１３）と（１４）において、例えばΔτ＝３００ｆｓ
、μ＝１ｐｓ−２と更に仮定すると、測定可能な最小パ
ルス幅は τｍｉｎ ＝５６０ｆｓ 及び αｍ
ｉｎ ＝１．０４（（１５ａ）参照）は、時間・帯域幅
積により固定される。
プを組み合わせて考えなければならない。ＴＫ１ の出
力で、所定パルス幅が例えばτ１ ＝５ｐｓと仮定し、
（１３）と（１４）において、例えばΔτ＝３００ｆｓ
、μ＝１ｐｓ−２と更に仮定すると、測定可能な最小パ
ルス幅は τｍｉｎ ＝５６０ｆｓ 及び αｍ
ｉｎ ＝１．０４（（１５ａ）参照）は、時間・帯域幅
積により固定される。
【００５７】ＴＲＥＡＣＹコンプレッサのグループ遅延
分散μは格子定数ｄ、格子空間１、及び入射角γに依存
する。 μ／ｂ００＞ −１に関して、パルス幅の延長となる。
分散μは格子定数ｄ、格子空間１、及び入射角γに依存
する。 μ／ｂ００＞ −１に関して、パルス幅の延長となる。
【００５８】ＴＲＥＡＣＹコンプレッサの原則は、格子
の代わりにプリズムによっても実現できる。用語”ＴＲ
ＥＡＣＹコンプレッサ”はここでプリズムを含む光学機
器を包含するものである。
の代わりにプリズムによっても実現できる。用語”ＴＲ
ＥＡＣＹコンプレッサ”はここでプリズムを含む光学機
器を包含するものである。
【００５９】ネガティブなグループ速度分散を達成でき
るプリズム構成は、例えばＡ．Ｅ．Ｓｉｅｇｍａｎ（ｌ
ｏｃ．ｃｉｔ．） による本のｐ．３５０に述べられて
いる。
るプリズム構成は、例えばＡ．Ｅ．Ｓｉｅｇｍａｎ（ｌ
ｏｃ．ｃｉｔ．） による本のｐ．３５０に述べられて
いる。
【００６０】異なるグループ遅延分散を発生する光学機
器として、いわゆるＧｉｒｅｓ−Ｔｏｕｒｎｏｉｓ干渉
計も又使用できる（Ｓｉｅｇｍａｎ，ｌｏｃ．ｃｉｔ．
，ｐ．３４８，３４９参照）。又はグラスファイバ又は
液体のような最も一般的な分散媒体を使用できる。しか
し、ここで説明されたＴＲＥＡＣＹコンプレッサは、グ
ループ遅延分散の実質的にあらゆる所望値をあらゆる所
望サインで実現できる利点を有する。しかも非常に広い
スペクトル範囲に関する問題は生じない。
器として、いわゆるＧｉｒｅｓ−Ｔｏｕｒｎｏｉｓ干渉
計も又使用できる（Ｓｉｅｇｍａｎ，ｌｏｃ．ｃｉｔ．
，ｐ．３４８，３４９参照）。又はグラスファイバ又は
液体のような最も一般的な分散媒体を使用できる。しか
し、ここで説明されたＴＲＥＡＣＹコンプレッサは、グ
ループ遅延分散の実質的にあらゆる所望値をあらゆる所
望サインで実現できる利点を有する。しかも非常に広い
スペクトル範囲に関する問題は生じない。
【図１】この発明による装置の実施例を示す概略図。
【図２】実施例に使用された２つの実験値及びパラメー
タの略図。
タの略図。
【図３】図１に示す装置より得られた小さいチャープ又
は大きいチャープを有するパルスに関する測定結果。
は大きいチャープを有するパルスに関する測定結果。
【図４】同じく、図１に示す装置より得られた小さいチ
ャープ又は大きいチャープを有するパルスに関する測定
結果。
ャープ又は大きいチャープを有するパルスに関する測定
結果。
Ｇ１ 〜Ｇ４ …回析格子、ＳＰ１ 〜ＳＰ３ …ミ
ラー、Ｌ１ ・Ｌ２ ・Ｌ…レンズ、ＳＴ１ 〜ＳＴ３
…デバイダミラー。
ラー、Ｌ１ ・Ｌ２ ・Ｌ…レンズ、ＳＴ１ 〜ＳＴ３
…デバイダミラー。
Claims (9)
- 【請求項１】 単一光放射パルスの幅及びチャープを
判定するデータを獲得する方法において、ａ）前記放射
パルスは第１及び第２の部分パルスに分割され、 ｂ）前記部分パルスは、異なるグループ遅延分散を有す
る第１及び第２の２つの装置を伝送し、ｃ）前記部分パ
ルスはその結果、同一時間スケールで記録され、以上の
ステップを有することを特徴とする方法。 - 【請求項２】 前記部分パルスはステップｃ）におい
て、同一時間ベースに基づいて連続的に記録されること
を特徴とする請求項１記載の方法。 - 【請求項３】 単一光放射パルスの幅及びチャープを
判定するデータを獲得する装置において、ａ）光入力パ
ルス（ＥＰ）を２つの部分パルスに分離する入力ビーム
デバイダ（ＳＴ２ ）と、ｂ）前記第１部分パルスのビ
ーム経路内に所定第１グループ遅延分散を有する光学機
器（ＴＫ１ ）と、 ｃ）前記第２部分パルスのビーム経路内に、第１とは異
なる所定第２グループ遅延分散を有する光学機器（ＴＫ
２ ）と、 ｄ）前記部分パルスが前記光学機器（ＴＫ１ 、ＴＫ２
）を通過した後、前記部分パルス（ＡＰ１ 、ＡＰ２
）を同一時間ベースで分離記録する手段、を具備する
ことを特徴とする装置。 - 【請求項４】 前記光学機器はＴＲＥＡＳＹコンプレ
ッサであることを特徴とする請求項３記載の装置。 - 【請求項５】 前記光学機器の前記グループ遅延分散
は対向する側を有することを特徴とする請求項３記載の
装置。 - 【請求項６】 前記ＴＲＥＡＳＹコンプレッサの一つ
は望遠鏡（Ｌ１ 、Ｌ２ ）を具備することを特徴とす
る請求項４記載の装置。 - 【請求項７】 前記光学機器（ＴＫ１ 、ＴＫ２ ）
から前記記録手段（ＳＣ）への光経路は異なる長さを有
し、それにより前記部分パルスは前記記録手段（ＳＣ）
に連続的に到達することを特徴とする請求項３記載の装
置。 - 【請求項８】 前記光学機器（ＴＫ１ 、ＴＫ２ ）
は前記部分パルスのパルス幅の測定に適する次元である
ことを特徴とする請求項３記載の装置。 - 【請求項９】 前記部分パルス（ＡＰ１ 、ＡＰ２
）を記録する前記手段（ＳＣ）はストリークカメラを含
むことを特徴とする請求項３記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4023175:5 | 1990-07-20 | ||
| DE4023175A DE4023175A1 (de) | 1990-07-20 | 1990-07-20 | Verfahren und vorrichtung zum gewinnen von daten zur bestimmung der dauer und frequenzmodulation von ultrakurzen laserpulsen |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04232822A true JPH04232822A (ja) | 1992-08-21 |
Family
ID=6410726
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3171313A Pending JPH04232822A (ja) | 1990-07-20 | 1991-07-11 | 超短時間レーザパルスのパルス幅及びチャープを判断するためのデータを得る方法及びその装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5233182A (ja) |
| JP (1) | JPH04232822A (ja) |
| DE (1) | DE4023175A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI779373B (zh) * | 2020-10-26 | 2022-10-01 | 復盛股份有限公司 | 具有調頻控制之壓縮機系統及其調頻控制方法 |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6025911A (en) * | 1995-11-14 | 2000-02-15 | University Of New Mexico | Broadband ultrashort pulse measuring device using non-linear electronic components |
| DE19926812A1 (de) * | 1999-06-13 | 2000-12-14 | Arno Euteneuer | Strahlungs-Meßvorrichtung |
| US6504612B2 (en) | 2000-11-14 | 2003-01-07 | Georgia Tech Research Corporation | Electromagnetic wave analyzer |
| US7361171B2 (en) | 2003-05-20 | 2008-04-22 | Raydiance, Inc. | Man-portable optical ablation system |
| US8921733B2 (en) | 2003-08-11 | 2014-12-30 | Raydiance, Inc. | Methods and systems for trimming circuits |
| US7777199B2 (en) * | 2004-09-17 | 2010-08-17 | Wichita State University | System and method for capturing image sequences at ultra-high framing rates |
| US8135050B1 (en) | 2005-07-19 | 2012-03-13 | Raydiance, Inc. | Automated polarization correction |
| DE102005035173B4 (de) * | 2005-07-27 | 2016-08-11 | Menlo Systems Gmbh | Interferometer, insbesondere für die Bestimmung und Stabillisierung der relativen Phase kurzer Pulse |
| US8189971B1 (en) | 2006-01-23 | 2012-05-29 | Raydiance, Inc. | Dispersion compensation in a chirped pulse amplification system |
| US8232687B2 (en) | 2006-04-26 | 2012-07-31 | Raydiance, Inc. | Intelligent laser interlock system |
| US7444049B1 (en) | 2006-01-23 | 2008-10-28 | Raydiance, Inc. | Pulse stretcher and compressor including a multi-pass Bragg grating |
| US9130344B2 (en) | 2006-01-23 | 2015-09-08 | Raydiance, Inc. | Automated laser tuning |
| US7822347B1 (en) | 2006-03-28 | 2010-10-26 | Raydiance, Inc. | Active tuning of temporal dispersion in an ultrashort pulse laser system |
| CN100422791C (zh) * | 2006-11-08 | 2008-10-01 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 消除拼接光栅错位误差的调整装置 |
| CN100431228C (zh) * | 2006-11-09 | 2008-11-05 | 复旦大学 | 一种基于级联非线性过程的高倍速率多级脉冲压缩方法 |
| US7903326B2 (en) | 2007-11-30 | 2011-03-08 | Radiance, Inc. | Static phase mask for high-order spectral phase control in a hybrid chirped pulse amplifier system |
| US20090273828A1 (en) * | 2008-04-30 | 2009-11-05 | Raydiance, Inc. | High average power ultra-short pulsed laser based on an optical amplification system |
| DE102008022724B4 (de) * | 2008-05-06 | 2010-02-11 | Freie Universität Berlin | Pulsshaper und Infrarotlaser mit Pulsshaper |
| US9120181B2 (en) | 2010-09-16 | 2015-09-01 | Coherent, Inc. | Singulation of layered materials using selectively variable laser output |
| CN104101925B (zh) * | 2014-06-10 | 2016-08-17 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种自适应光栅拼接误差控制方法及其控制装置 |
| RU2587684C1 (ru) * | 2015-03-02 | 2016-06-20 | Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" - Госкорпорация "Росатом" | Способ регистрации временного профиля фронта светового импульса и устройство для его реализации |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2063098A1 (ja) * | 1969-09-12 | 1971-07-09 | Commissariat Energie Atomique | |
| DE2964884D1 (en) * | 1978-03-23 | 1983-03-31 | Daniel Joseph Bradley | Apparatus and method for recording high-speed repetitive optical phenomena |
| DE3108177C2 (de) * | 1981-03-04 | 1983-07-21 | Max Planck Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V., 3400 Göttingen | Verfahren und Einrichtung zum Messen der Dauer von einzelnen kohärenten Strahlungsimpulsen |
| DD220148A1 (de) * | 1983-11-15 | 1985-03-20 | Adw Ddr | Verfahren und anordnung zur bestimmung der phasenmodulation von lichtimpulsen im pikosekundenbereich |
| US4681436A (en) * | 1984-02-28 | 1987-07-21 | Ching Neng H | Femtosecond laser pulse measuring system |
| US4792230A (en) * | 1986-09-08 | 1988-12-20 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Method and apparatus for measuring ultrashort optical pulses |
| US4972423A (en) * | 1988-12-30 | 1990-11-20 | Alfano Robert R | Method and apparatus for generating ultrashort light pulses |
| DD279731A1 (de) * | 1989-02-02 | 1990-06-13 | Zeiss Jena Veb Carl | Verfahren und anordnung zur spektral- und zeitaufgeloesten registrierung ultrakurzer lichtimpulse |
| DE3926945A1 (de) * | 1989-08-14 | 1991-02-21 | Max Planck Gesellschaft | Vorrichtung zum messen der dauer einzelner kurzer optischer strahlungsimpulse |
-
1990
- 1990-07-20 DE DE4023175A patent/DE4023175A1/de not_active Withdrawn
-
1991
- 1991-07-11 JP JP3171313A patent/JPH04232822A/ja active Pending
- 1991-07-12 US US07/729,070 patent/US5233182A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI779373B (zh) * | 2020-10-26 | 2022-10-01 | 復盛股份有限公司 | 具有調頻控制之壓縮機系統及其調頻控制方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE4023175A1 (de) | 1992-01-30 |
| US5233182A (en) | 1993-08-03 |
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