JPH04233607A - 伝達関数を有する被制御装置を少なくとも部分的に制御するための制御装置および方法 - Google Patents
伝達関数を有する被制御装置を少なくとも部分的に制御するための制御装置および方法Info
- Publication number
- JPH04233607A JPH04233607A JP3186839A JP18683991A JPH04233607A JP H04233607 A JPH04233607 A JP H04233607A JP 3186839 A JP3186839 A JP 3186839A JP 18683991 A JP18683991 A JP 18683991A JP H04233607 A JPH04233607 A JP H04233607A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- samples
- difference
- sample rate
- output parameter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 14
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 55
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 16
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 11
- 230000003134 recirculating effect Effects 0.000 claims 3
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 2
- 230000001351 cycling effect Effects 0.000 claims 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 34
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B21/00—Systems involving sampling of the variable controlled
- G05B21/02—Systems involving sampling of the variable controlled electric
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B13/00—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion
- G05B13/02—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric
- G05B13/0205—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric not using a model or a simulator of the controlled system
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC
- G05F1/56—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC using semiconductor devices in series with the load as final control devices
- G05F1/575—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC using semiconductor devices in series with the load as final control devices characterised by the feedback circuit
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Feedback Control In General (AREA)
- Control Of Electrical Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、適応型デジタル電力制
御のための装置および方法に関する。
御のための装置および方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】デジタル電力制御（ｐｏｗｅｒ ｃｏ
ｎｔｒｏｌｓ）は典型的には一定のサンプリング方法を
用い、特定の電力制御特性に対しサンプリングレートを
選択する。電力制御特性を変えるために一般には制御装
置の伝達関数の変更または修正を必要とし、これは典型
的には関係する制御システムの物理的要素の変更または
修正を必要とする。
ｎｔｒｏｌｓ）は典型的には一定のサンプリング方法を
用い、特定の電力制御特性に対しサンプリングレートを
選択する。電力制御特性を変えるために一般には制御装
置の伝達関数の変更または修正を必要とし、これは典型
的には関係する制御システムの物理的要素の変更または
修正を必要とする。
【０００３】スペクトラ（ＳＰＥＣＴＲＡ）８００およ
び９００ＭＨｚパワーコントロールのような適応型アナ
ログ電力制御システムが開発されている。
び９００ＭＨｚパワーコントロールのような適応型アナ
ログ電力制御システムが開発されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】システムの同時的な物
理的修正を必要とすることなくデジタル電力制御の変更
を許容する適応型デジタル電力制御システムの必要性が
存在する。
理的修正を必要とすることなくデジタル電力制御の変更
を許容する適応型デジタル電力制御システムの必要性が
存在する。
【０００５】そのシステムの同時的な物理的変更または
修正を必要とすることなくシステムの電力制御に対する
貢献の度合いを変更するためのデジタル電力制御装置に
対する必要性および他の必要性は本発明により実質的に
満たされる。
修正を必要とすることなくシステムの電力制御に対する
貢献の度合いを変更するためのデジタル電力制御装置に
対する必要性および他の必要性は本発明により実質的に
満たされる。
【０００６】
【課題を解決するための手段および作用】伝達関数を調
整するために修正されたデジタル電力制御サンプリング
レートを選択的に利用することにより、伝達関数を有す
る被制御装置を、少なくとも部分的に制御するための適
応型電力制御装置および方法が提供される。
整するために修正されたデジタル電力制御サンプリング
レートを選択的に利用することにより、伝達関数を有す
る被制御装置を、少なくとも部分的に制御するための適
応型電力制御装置および方法が提供される。
【０００７】伝達関数を有する被制御装置を、少なくと
も部分的に、制御するために制御装置が利用され、該制
御装置は、選択されたサンプル値、その前のサンプル値
、およびさらに選択されるサンプル値の、少なくとも３
つのサンプル値を得るためにあるサンプルレートで被制
御装置の出力パラメータをサンプリングすることにより
、少なくとも部分的に、前記被制御装置を制御する。 該制御装置は前記出力パラメータのサンプル値を前記サ
ンプリングレートを出力パラメータのサンプル値の関数
として制御し、かつ自動的に該サンプリングレートの、
少なくとも一部の、関数として伝達関数を変更するため
に使用する。
も部分的に、制御するために制御装置が利用され、該制
御装置は、選択されたサンプル値、その前のサンプル値
、およびさらに選択されるサンプル値の、少なくとも３
つのサンプル値を得るためにあるサンプルレートで被制
御装置の出力パラメータをサンプリングすることにより
、少なくとも部分的に、前記被制御装置を制御する。 該制御装置は前記出力パラメータのサンプル値を前記サ
ンプリングレートを出力パラメータのサンプル値の関数
として制御し、かつ自動的に該サンプリングレートの、
少なくとも一部の、関数として伝達関数を変更するため
に使用する。
【０００８】１つの実施例はサンプルされた出力パラメ
ータの引き続く差異の比較を利用し所望の出力パラメー
タを得るように被制御装置の伝達関数を調整するサンプ
リングレートの変更または修正を決定する。
ータの引き続く差異の比較を利用し所望の出力パラメー
タを得るように被制御装置の伝達関数を調整するサンプ
リングレートの変更または修正を決定する。
【０００９】他の実施例はサンプリングの遅延を利用す
る時を決定するために標準的な偏差（ｄｅｖｉａｔｉｏ
ｎ）アルゴリズムを利用し、それにより制御機能のプロ
セスを最適化しかつ、同時に、被制御装置が前記遅延時
間の間に付加的な機能を達成することを許容することに
より被制御装置の効率を増大する。
る時を決定するために標準的な偏差（ｄｅｖｉａｔｉｏ
ｎ）アルゴリズムを利用し、それにより制御機能のプロ
セスを最適化しかつ、同時に、被制御装置が前記遅延時
間の間に付加的な機能を達成することを許容することに
より被制御装置の効率を増大する。
【００１０】本制御方法は、伝達関数を有する被制御装
置を、少なくとも３つのサンプル値を得るために選択さ
れたサンプリングレートで被制御装置の出力パラメータ
をサンプリングすることにより、少なくとも部分的に制
御し、かつ前記サンプル値を上に述べたように利用する
。
置を、少なくとも３つのサンプル値を得るために選択さ
れたサンプリングレートで被制御装置の出力パラメータ
をサンプリングすることにより、少なくとも部分的に制
御し、かつ前記サンプル値を上に述べたように利用する
。
【００１１】
【実施例】図１は、一般的に数字１００で示される、本
発明に関わる電力差検出技術を利用するデジタル電力制
御方法のフローダイヤグラムを示す。
発明に関わる電力差検出技術を利用するデジタル電力制
御方法のフローダイヤグラムを示す。
【００１２】１つの実施例においては、被制御装置の初
期出力パラメータ（ＯＰｉｎｉｔ）がサンプルされ（１
０２）、それに続き選択された時間に出力パラメータ（
ＯＰ）の他のサンプリングが行われる（１０４）。典型
的な初期出力パラータ値は０（ゼロ）である。該出力パ
ラメータは少なくとも３回サンプルされ（１０４）、少
なくとも３つのサンプル、すなわち選択されたサンプル
（ａ ｓｅｌｅｃｔｅｄ ｓａｍｐｌｅ）、その前
のサンプル（ａ ｓａｍｐｌｅ ｐｒｅｖｉｏｕｓ
ｔｈｅｒｅｔｏ）、およびさらに選択されるサンプ
ル（ａ ｆｕｒｔｈｅｒｓｅｌｅｃｔｅｄ ｓａｍ
ｐｌｅ）を得る。その前のサンプルはその直前に得られ
たサンプルであり、かつさらに選択されたサンプルはそ
の直後に得られるサンプルである。サンプルされる典型
的な出力パラメータは被制御装置の出力電力である。出
力パラメータの選択されたサンプルとその前のサンプル
との間の第一の差が判定され（１０６）、かつ選択され
たサンプルとさらに選択されるサンプルとの間の第二の
差も判定される（１１０）。該第一の差は該第二の差と
比較される（１１２、１２０）。
期出力パラメータ（ＯＰｉｎｉｔ）がサンプルされ（１
０２）、それに続き選択された時間に出力パラメータ（
ＯＰ）の他のサンプリングが行われる（１０４）。典型
的な初期出力パラータ値は０（ゼロ）である。該出力パ
ラメータは少なくとも３回サンプルされ（１０４）、少
なくとも３つのサンプル、すなわち選択されたサンプル
（ａ ｓｅｌｅｃｔｅｄ ｓａｍｐｌｅ）、その前
のサンプル（ａ ｓａｍｐｌｅ ｐｒｅｖｉｏｕｓ
ｔｈｅｒｅｔｏ）、およびさらに選択されるサンプ
ル（ａ ｆｕｒｔｈｅｒｓｅｌｅｃｔｅｄ ｓａｍ
ｐｌｅ）を得る。その前のサンプルはその直前に得られ
たサンプルであり、かつさらに選択されたサンプルはそ
の直後に得られるサンプルである。サンプルされる典型
的な出力パラメータは被制御装置の出力電力である。出
力パラメータの選択されたサンプルとその前のサンプル
との間の第一の差が判定され（１０６）、かつ選択され
たサンプルとさらに選択されるサンプルとの間の第二の
差も判定される（１１０）。該第一の差は該第二の差と
比較される（１１２、１２０）。
【００１３】第二の差、現在の差（ＤＩＦＦ ｃｕｒ
）が第一の差、前の差（ＤＩＦＦ ｐｒｅｖ）より大
きく、かつ第一の差が実質的にゼロに等しい場合（１１
４）、制御の使用のために割り当てられた所定の最大サ
ンプリングレート、ｆｎｓ、がセットされる（１１８）
。制御の使用のために割り当てられた典型的な所定の最
大サンプルレートは２．５ＫＨｚである。
）が第一の差、前の差（ＤＩＦＦ ｐｒｅｖ）より大
きく、かつ第一の差が実質的にゼロに等しい場合（１１
４）、制御の使用のために割り当てられた所定の最大サ
ンプリングレート、ｆｎｓ、がセットされる（１１８）
。制御の使用のために割り当てられた典型的な所定の最
大サンプルレートは２．５ＫＨｚである。
【００１４】第二の差、現在の差（ＤＩＦＦ ｃｕｒ
）が第一の差、前の差（ＤＩＦＦ ｐｒｅｖ）より大
きく、かつ第一の差が実質的にゼロに等しくない場合（
１１４）、最大サンプルレート値は、２によって乗算さ
れた使用されるサンプルレートの積、および制御の使用
のために割り当てられた所定の最大サンプルレート、の
内の最も小さいものとして選択される（１１６）。
）が第一の差、前の差（ＤＩＦＦ ｐｒｅｖ）より大
きく、かつ第一の差が実質的にゼロに等しくない場合（
１１４）、最大サンプルレート値は、２によって乗算さ
れた使用されるサンプルレートの積、および制御の使用
のために割り当てられた所定の最大サンプルレート、の
内の最も小さいものとして選択される（１１６）。
【００１５】第二の差、現在の差（ＤＩＦＦ ｃｕｒ
）が第一の差、前の差（ＤＩＦＦ ｐｒｅｖ）より小
さい場合（１２０）、最大サンプルレートは２で除算さ
れた使用されるサンプルレートの商、および制御の使用
のために割り当てられた所定の最小サンプルレートの内
のより大きなものとして選択される（１２２）。制御の
使用のために割り当てられた典型的な所定の最小サンプ
ルレートは５０Ｈｚである。
）が第一の差、前の差（ＤＩＦＦ ｐｒｅｖ）より小
さい場合（１２０）、最大サンプルレートは２で除算さ
れた使用されるサンプルレートの商、および制御の使用
のために割り当てられた所定の最小サンプルレートの内
のより大きなものとして選択される（１２２）。制御の
使用のために割り当てられた典型的な所定の最小サンプ
ルレートは５０Ｈｚである。
【００１６】選択されたサンプルレートを得るために第
一の差および第二の差の比較を用いた後（１１６、１１
８、１２２）、該サンプルレートは選択されたサンプル
レート、ｆｓ、にセットされかつシステムパラメータが
更新される（１２４）。システムパラメータを更新する
ことはサンプリングレート、ｆｓ、の自動的な選択を含
み、これは図６に示されるような方法で任意のオーダの
システムに対するあらかじめ選択された所望の出力応答
を近似することに応じて特徴的な出力応答を変更し、そ
れにより自動的にそれに関係するダンピング係数を変更
する。次に処理はさらに選択されたサンプルを得るため
に巡回する（１０８）。
一の差および第二の差の比較を用いた後（１１６、１１
８、１２２）、該サンプルレートは選択されたサンプル
レート、ｆｓ、にセットされかつシステムパラメータが
更新される（１２４）。システムパラメータを更新する
ことはサンプリングレート、ｆｓ、の自動的な選択を含
み、これは図６に示されるような方法で任意のオーダの
システムに対するあらかじめ選択された所望の出力応答
を近似することに応じて特徴的な出力応答を変更し、そ
れにより自動的にそれに関係するダンピング係数を変更
する。次に処理はさらに選択されたサンプルを得るため
に巡回する（１０８）。
【００１７】被制御装置に対する制御装置の調整は制御
ループ特性の動的操作を提供し、専用の制御システムの
マイクロプロセッサの必要性を除去しかつ制御システム
の変更の柔軟性を許容する。同時に、制御装置の効率が
最適化される。
ループ特性の動的操作を提供し、専用の制御システムの
マイクロプロセッサの必要性を除去しかつ制御システム
の変更の柔軟性を許容する。同時に、制御装置の効率が
最適化される。
【００１８】図２は、一般的に数字２００で示される、
標準偏差アルゴリズムを利用するデジタル電力制御方法
を示す。
標準偏差アルゴリズムを利用するデジタル電力制御方法
を示す。
【００１９】１つの実施例においては、開始電力入力が
決定される（２０２）。典型的な開始電力入力値はゼロ
である。所定の最小の受入れ可能な標準偏位値、△／２
、その典型的な値は±１ｄＢである、は選択されたサン
プルおよびその前のサンプルの間の差に対し、所望の所
定の最大演算平均値、μｓｅｔ、とともにプリセットさ
れ、そのような偏位の典型的な値は±０．５ｄＢである
。μｓｅｔおよびΔ／２の内の最小の値である、所定の
最小の所望の標準偏差値、ｓｉｇｍａｍｉｎ、がプリセ
ットされる（２０６）。
決定される（２０２）。典型的な開始電力入力値はゼロ
である。所定の最小の受入れ可能な標準偏位値、△／２
、その典型的な値は±１ｄＢである、は選択されたサン
プルおよびその前のサンプルの間の差に対し、所望の所
定の最大演算平均値、μｓｅｔ、とともにプリセットさ
れ、そのような偏位の典型的な値は±０．５ｄＢである
。μｓｅｔおよびΔ／２の内の最小の値である、所定の
最小の所望の標準偏差値、ｓｉｇｍａｍｉｎ、がプリセ
ットされる（２０６）。
【００２０】被制御装置の出力パラメータはＮ回サンプ
ルされ（２０８）、複数のサンプル、Ｎ、を得、Ｎは少
なくとも被制御装置の被制御システムの帯域幅の逆数お
よび制御装置により決定されかつセットされる最小の時
間の商に実質的に等価なサンプル数である。サンプルさ
れる典型的な出力パラメータは被制御装置の出力電力で
あり、かつサンプルされる出力パラメータの複数のサン
プルは選択されたサンプルレートにおける順次的なサン
プリングによって得られる。
ルされ（２０８）、複数のサンプル、Ｎ、を得、Ｎは少
なくとも被制御装置の被制御システムの帯域幅の逆数お
よび制御装置により決定されかつセットされる最小の時
間の商に実質的に等価なサンプル数である。サンプルさ
れる典型的な出力パラメータは被制御装置の出力電力で
あり、かつサンプルされる出力パラメータの複数のサン
プルは選択されたサンプルレートにおける順次的なサン
プリングによって得られる。
【００２１】先行するＮサンプルの標準偏差値、シグマ
Ｎ、および先行するＮサンプルの算術平均、μＮ、が決
定される（２１０）。シグマＮがｓｉｇｍａｍｉｎより
小さいかまたは等しいかが判定される（２１２）。シグ
マＮがｓｉｇｍａｍｉｎより小さくないかまたは等しく
ない場合は、システムパラメータをｓｉｇｍａｍｉｎの
セットに戻ることにより更新し（２１４）かつ次に出力
パラメータをＮ回サンプルすることが行われる（２０８
）。シグマＮがｓｉｇｍａｍｉｎより小さいかまたは等
しい場合には、Ｎサンプリングサイクルの遅延が行われ
、次にｓｉｇｍａｍｉｎをセットするために（２０６）
再循環し（２１６）そして出力パラメータのＮ回のサン
プリング（２０８）が行われる。双方の再循環の場合、
μｓｅｔは直前のＮサンプルに対し直前のμＮにリセッ
トされる。
Ｎ、および先行するＮサンプルの算術平均、μＮ、が決
定される（２１０）。シグマＮがｓｉｇｍａｍｉｎより
小さいかまたは等しいかが判定される（２１２）。シグ
マＮがｓｉｇｍａｍｉｎより小さくないかまたは等しく
ない場合は、システムパラメータをｓｉｇｍａｍｉｎの
セットに戻ることにより更新し（２１４）かつ次に出力
パラメータをＮ回サンプルすることが行われる（２０８
）。シグマＮがｓｉｇｍａｍｉｎより小さいかまたは等
しい場合には、Ｎサンプリングサイクルの遅延が行われ
、次にｓｉｇｍａｍｉｎをセットするために（２０６）
再循環し（２１６）そして出力パラメータのＮ回のサン
プリング（２０８）が行われる。双方の再循環の場合、
μｓｅｔは直前のＮサンプルに対し直前のμＮにリセッ
トされる。
【００２２】図３は、一般に数字３００で示される、本
発明に関わるマイクロプロセッサをベースとした電力制
御システムのブロック図を示し、典型的には電力増幅器
（３０２）である、被制御装置への制御システム電圧入
力および無線周波（ＲＦ）入力（３０１）を示している
。センサ（３０６）は電力制御装置（３０８）へのフィ
ードバック入力を提供し該電力制御装置（３０８）は被
制御装置（３０２）に対し制御システム電圧を供給する
。該制御システム電圧は本発明に従いセンサのフィード
バック入力を利用して被制御装置（３０２）に供給され
るＲＦ信号入力の増幅度を調整し、それによりアンテナ
（３０４）が所望の大きさのＲＦ信号を送信するように
する。電力制御装置（３０８）は、電力設定入力制御装
置（３１２）およびセンサ（３０６）とともに、本発明
を実施するためのフィードバック装置システム（３１０
）を構成する。電力制御装置（３０８）は電力設定入力
制御装置（３１２）により所定の制御電圧値にセットさ
れる。
発明に関わるマイクロプロセッサをベースとした電力制
御システムのブロック図を示し、典型的には電力増幅器
（３０２）である、被制御装置への制御システム電圧入
力および無線周波（ＲＦ）入力（３０１）を示している
。センサ（３０６）は電力制御装置（３０８）へのフィ
ードバック入力を提供し該電力制御装置（３０８）は被
制御装置（３０２）に対し制御システム電圧を供給する
。該制御システム電圧は本発明に従いセンサのフィード
バック入力を利用して被制御装置（３０２）に供給され
るＲＦ信号入力の増幅度を調整し、それによりアンテナ
（３０４）が所望の大きさのＲＦ信号を送信するように
する。電力制御装置（３０８）は、電力設定入力制御装
置（３１２）およびセンサ（３０６）とともに、本発明
を実施するためのフィードバック装置システム（３１０
）を構成する。電力制御装置（３０８）は電力設定入力
制御装置（３１２）により所定の制御電圧値にセットさ
れる。
【００２３】より特定的には、電力制御装置（３０８）
はセンサ（３０６）とともに被制御装置（３０２）、典
型的には電力増幅器、を少なくとも部分的に、制御する
ための制御装置（３１０）として機能する。
はセンサ（３０６）とともに被制御装置（３０２）、典
型的には電力増幅器、を少なくとも部分的に、制御する
ための制御装置（３１０）として機能する。
【００２４】図４は、一般的に数字４００で示される、
閉ループフィードバック制御システムのブロック図を示
し、該閉ループフィードバック制御システムは、マイク
ロプロセッサ（４０２）、Ｄ／Ａ変換器（４０４）、電
圧レベル調整器（４０６）、変換器（２０８）、および
第一の伝達関数（４１０）を備えた電力制御システムの
ための準方向信号フロー経路パワーセット（４０１）、
とともにセンサ（４１６）およびＡ／Ｄ変換器（４１４
）を備えたフィードバック信号フロー経路を含む。変換
器（４０８）および第一の伝達関数（４１０）とともに
、電圧レベル調整器（４０６）は共に第二の正味の伝達
関数（４１２）を提供し、該第二の正味の伝達関数（４
１２）はセンサ（４１６）とともに用いられ制御装置（
４０２）のための電力制御入力を提供する。Ｄ／Ａ変換
器およびＡ／Ｄ変換器は電力制御ユニット内で実施され
るかあるいは図４に示されるように別個のユニットとし
て実施できる。被制御装置は第一の伝達関数（４１０）
を有し、かつ少なくとも部分的に、制御装置により制御
される。Ｄ／Ａ変換器およびＡ／Ｄ変換器は電力制御ユ
ニット内で実施されるかあるいは図４に示されるように
別個のユニットとして実施できる。
閉ループフィードバック制御システムのブロック図を示
し、該閉ループフィードバック制御システムは、マイク
ロプロセッサ（４０２）、Ｄ／Ａ変換器（４０４）、電
圧レベル調整器（４０６）、変換器（２０８）、および
第一の伝達関数（４１０）を備えた電力制御システムの
ための準方向信号フロー経路パワーセット（４０１）、
とともにセンサ（４１６）およびＡ／Ｄ変換器（４１４
）を備えたフィードバック信号フロー経路を含む。変換
器（４０８）および第一の伝達関数（４１０）とともに
、電圧レベル調整器（４０６）は共に第二の正味の伝達
関数（４１２）を提供し、該第二の正味の伝達関数（４
１２）はセンサ（４１６）とともに用いられ制御装置（
４０２）のための電力制御入力を提供する。Ｄ／Ａ変換
器およびＡ／Ｄ変換器は電力制御ユニット内で実施され
るかあるいは図４に示されるように別個のユニットとし
て実施できる。被制御装置は第一の伝達関数（４１０）
を有し、かつ少なくとも部分的に、制御装置により制御
される。Ｄ／Ａ変換器およびＡ／Ｄ変換器は電力制御ユ
ニット内で実施されるかあるいは図４に示されるように
別個のユニットとして実施できる。
【００２５】被制御装置に対する制御装置の調整は制御
ループ特性の動的操作を提供し、Ｖｏｕｔ（４１８）を
制御し、専用の制御システムマイクロプロセッサの必要
性を除去し、かつ制御システムの変更の柔軟性を許容す
る。同時に、制御装置の効率が最適化される。
ループ特性の動的操作を提供し、Ｖｏｕｔ（４１８）を
制御し、専用の制御システムマイクロプロセッサの必要
性を除去し、かつ制御システムの変更の柔軟性を許容す
る。同時に、制御装置の効率が最適化される。
【００２６】図５は、数字５００により、本発明に関わ
る２つの選択されたサンプリング時間を記述する２次の
制御システムに対するルート軌跡（ｒｏｏｔ ｌｏｃ
ｉ）を示すダイヤグラムである。技術上よく知られてい
るように、水平軸およびｙ軸は、それぞれ、ルート軌跡
のＲｅ、実数、およびｊＩｍ、虚数、部を表し、単位円
（５０３）は比較の目的で示されている。サンプリング
期間、Ｔ＝１（５０１）およびＴ＝．１（５０２）はル
ート軌跡（５０４）上に描かれている。サンプリング期
間の変更は２次の制御システムに対するルート軌跡の予
測可能な変化を許容しかつより高い次数の制御システム
における同様の応答の予測可能性を示唆する。
る２つの選択されたサンプリング時間を記述する２次の
制御システムに対するルート軌跡（ｒｏｏｔ ｌｏｃ
ｉ）を示すダイヤグラムである。技術上よく知られてい
るように、水平軸およびｙ軸は、それぞれ、ルート軌跡
のＲｅ、実数、およびｊＩｍ、虚数、部を表し、単位円
（５０３）は比較の目的で示されている。サンプリング
期間、Ｔ＝１（５０１）およびＴ＝．１（５０２）はル
ート軌跡（５０４）上に描かれている。サンプリング期
間の変更は２次の制御システムに対するルート軌跡の予
測可能な変化を許容しかつより高い次数の制御システム
における同様の応答の予測可能性を示唆する。
【００２７】図６は、本発明に関わる時間に関する２次
システムのユニットステップ電力応答に対するサンプリ
ング時間のスイッチング状態を示す。技術上よく知られ
ているように、ｘ軸およびｙ軸は、それぞれ、秒での時
間、および典型的には電圧である、出力を表す。明らか
に、選択された期間、Ｔ＝１（６０１）、Ｔ＝２（６０
２）、Ｔ＝３（６０３）、Ｔ＝４（６０４）、Ｔ＝５（
６０５）、およびＴ＝６（６０６）は、出力が本発明に
従って増大しまたは減少するように選択することを許容
する。
システムのユニットステップ電力応答に対するサンプリ
ング時間のスイッチング状態を示す。技術上よく知られ
ているように、ｘ軸およびｙ軸は、それぞれ、秒での時
間、および典型的には電圧である、出力を表す。明らか
に、選択された期間、Ｔ＝１（６０１）、Ｔ＝２（６０
２）、Ｔ＝３（６０３）、Ｔ＝４（６０４）、Ｔ＝５（
６０５）、およびＴ＝６（６０６）は、出力が本発明に
従って増大しまたは減少するように選択することを許容
する。
【図１】本発明に関わる電力差検出技術を利用したデジ
タル電力制御方法を説明するためのフローチャートであ
る。
タル電力制御方法を説明するためのフローチャートであ
る。
【図２】標準偏差アルゴリズムを利用したデジタル電力
制御を説明するためのフローチャートである。
制御を説明するためのフローチャートである。
【図３】本発明に関わる電力増幅器のためのマイクロプ
ロセッサをベースとした電力制御システムを示すブロッ
ク図である。
ロセッサをベースとした電力制御システムを示すブロッ
ク図である。
【図４】本発明に従って構成された閉ループフィードバ
ック制御システムを示すブロック図である。
ック制御システムを示すブロック図である。
【図５】本発明で使用されるサンプリング時間の変化を
伴う２次制御システムのルート軌跡を示す説明図である
。
伴う２次制御システムのルート軌跡を示す説明図である
。
【図６】本発明に従い時間に関し２次システムのユニッ
トステップ電力応答に対するサンプリング時間のスイッ
チング状態を示すグラフである。
トステップ電力応答に対するサンプリング時間のスイッ
チング状態を示すグラフである。
３００ マイクロプロセッサをベースとした電力制御
システム ３０１ ＲＦ入力 ３０２ 被制御装置 ３０４ アンテナ ３０６ センサ ３０８ 電力制御装置 ３１０ フィードバック装置システム３１２ 電力
設定入力制御装置 ４００ 閉ループフィードバック制御システム４０２
マイクロプロセッサ ４０４ Ｄ／Ａ変換器 ４０６ 電圧レベル調整器 ４０８ 変換器 ４１０ 第一の伝達関数 ４１２ 第二の正味の伝達関数 ４１４ Ａ／Ｄ変換器 ４１６ センサ
システム ３０１ ＲＦ入力 ３０２ 被制御装置 ３０４ アンテナ ３０６ センサ ３０８ 電力制御装置 ３１０ フィードバック装置システム３１２ 電力
設定入力制御装置 ４００ 閉ループフィードバック制御システム４０２
マイクロプロセッサ ４０４ Ｄ／Ａ変換器 ４０６ 電圧レベル調整器 ４０８ 変換器 ４１０ 第一の伝達関数 ４１２ 第二の正味の伝達関数 ４１４ Ａ／Ｄ変換器 ４１６ センサ
Claims (10)
- 【請求項１】 伝達関数を有する被制御装置（３０２
）を、少なくとも部分的に、制御するための制御装置（
３１０）であって、該制御装置（３１０）は少なくとも
３つのサンプル、すなわち選択されたサンプル、その前
のサンプル、およびさらに選択されるサンプル、を得る
ためにあるサンプルレートで被制御装置（３０２）の出
力パラメータをサンプリングすることにより、少なくと
も部分的に、前記被制御装置（３０２）を制御し、前記
制御装置（３１０）は、 Ａ）サンプルされた出力パラメータに応じて、その、少
なくとも一部の、関数としてサンプルレートを制御する
ためのサンプルレート制御手段、そしてＢ）該サンプル
レート制御手段に応じて、該サンプルレートの、少なく
とも一部の、関数として前記伝達関数を自動的に変える
ための伝達関数制御手段、を具備することを特徴とする
伝達関数を有する被制御装置（３０２）を、少なくとも
部分的に、制御するための制御装置（３１０）。 - 【請求項２】 前記その前のサンプルはその直前に得
られたサンプルでありかつ前記さらに選択されるサンプ
ルはその直後に得られるサンプルであるもの、前記選択
されたサンプルおよびその前のサンプルの間の差に対す
る所望の最大偏差は前記制御装置（３１０）への入力で
あるもの、前記その前のサンプルはその直前に得られた
サンプルであるもの、前記サンプルレート制御手段はサ
ンプルされた出力パラメータの複数のサンプルの、少な
くとも一部の、関数として前記サンプルレートを制御し
、この場合、サンプルされた出力パラメータの前記複数
のサンプルは実質的に前記被制御装置（３０２）の被制
御システムの帯域幅の逆数および前記制御装置（３１０
）により決定される最小変換時間の商によって決定され
るもの、およびサンプルされた出力パラメータの前記複
数のサンプルは選択されたサンプルレートで連続的にサ
ンプルすることにより得られるもの、の内の少なくとも
１つに該当するもの、サンプルされた出力パラメータの
前記複数のサンプルは第一の比較基準値を得るために利
用されるもの、第一の比較基準値はサンプルされた出力
パラメータの前記複数のサンプルの算術平均であるもの
、前記サンプルレート制御手段は、第一の比較基準値お
よび所望の最大偏差の内の実質的に最小のものとして最
小の所望の偏差をセットするもの、前記サンプルレート
制御手段が最小の所望の偏差を第一の比較基準値および
所望の最大偏差の内の実質的に最小のものとしてセット
した場合、前記サンプルレート制御手段はさらに、前記
被制御装置（３０２）の被制御システムの帯域幅の逆数
および前記制御装置（３１０）により決定される最小変
換時間の商により実質的に決定される、サンプルされた
出力パラメータの複数のサンプルを得、サンプルされた
出力パラメータの複数のサンプルは選択されたサンプル
レートで連続的にサンプルすることにより得られるもの
、サンプルされた出力パラメータの前記複数のサンプル
は、実質的に、第一および第二の比較基準値を決定する
ために利用されるもの、第一の比較基準値はサンプルさ
れた出力パラメータの複数のサンプルの算術平均である
もの、第二の比較基準値はサンプルされた出力パラメー
タの前記複数のサンプルの標準偏差であるもの、サンプ
ルされた出力パラメータの複数のサンプルの標準偏差は
最小の所望の偏差より小さいかまたは等しく、前記サン
プルレート制御手段はさらに、実質的に被制御装置（３
０２）の制御システムの帯域幅の逆数および前記制御装
置（３１０）により決定される最小変換時間の商によっ
て決定される、サンプルされた出力パラメータの複数の
サンプルのサンプリングを前記制御装置（３１０）が無
視するようにさせ、サンプルされた出力パラメータの前
記複数のサンプルは選択されたサンプルレートで連続的
にサンプルすることにより得られるもの、前記制御（３
１０）が、被制御装置（３０２）の被制御システムの帯
域幅の逆数および制御装置（３１０）によって決定され
る最小変換時間の商によって実質的に決定される、サン
プルされた出力パラメータの複数のサンプのサンプリン
グを無視する場合、サンプルされた出力パラメータの前
記複数のサンプルは選択されたサンプルレートにおける
連続的なサンプリングによって得られ、前記サンプルレ
ート制御手段はさらに最小の所望の偏差を、第１の比較
基準値および所望の最大偏差の内の実質的に最小のもの
としてセットするために反復的に再循環し、前記サンプ
ルレート制御手段はさらに、前記被制御装置（３０２）
の被制御システムの帯域幅の逆数および前記制御装置（
３１０）によって決定される最小変換時間の商により実
質的に決定される、サンプルされた出力パラメータの複
数のサンプルを得、サンプルされた出力パラメータの前
記複数のサンプルは選択されたサンプルレートで連続的
にサンプリングすることによって得られるもの、サンプ
ルされた出力パラメータの複数のサンプルの標準偏差が
最小の所望の偏差より大きい場合、前記サンプルレート
制御手段はさらに前記制御装置（３１０）が前記伝達関
数を前記サンプルレートの、少なくとも一部の、関数と
して自動的に変更するための機能を付勢させるもの、サ
ンプルされた出力パラメータの前記複数のサンプルの標
準偏差が最小の所望の偏差より大きくかつ前記サンプル
レート制御手段が前記制御装置（３１０）に前記サンプ
ルレートの、少なくとも一部の、関数として伝達関数を
自動的に変更するための機能を付勢した時、前記サンプ
ルレート制御手段はさらに最小の所望の偏差を前記第１
の比較基準値および所望の最大偏差の内の実質的に最小
のものとしてセットするために反復的に再循環させるよ
う機能し、前記サンプルレート制御手段はさらに、前記
被制御装置（３０２）の被制御システムの帯域幅の逆数
および前記制御装置（３１０）によって決定される最小
変換時間の商によって実質的に決定される、サンプルさ
れた出力パラメータの複数のサンプルを得、サンプルさ
れた出力パラメータの前記複数のサンプルは選択された
サンプルレートにおける連続的なサンプリングにより得
られるもの、前記サンプルレート制御手段はさらに、少
なくとも部分的に、出力パラメータの選択されたサンプ
ルとその前のサンプルとの間の第１の差を前記さらに選
択されるサンプルと前記選択されたサンプルとの間の第
２の差と比較するよう機能するもの、前記出力パラメー
タの前記選択されたサンプルとその前のサンプルとの間
の第１の差が前記さらに選択されたサンプルと前記選択
されたサンプルとの間の前記第２の差と比較され、かつ
前記さらに選択されたサンプルと前記選択されたサンプ
ルとの間の第２の差が前記出力パラメータの前記選択さ
れたサンプルとその前のサンプルとの間の前記第１の差
より大きく、かつ前記出力パラメータの前記選択された
サンプルとその前のサンプルとの間の前記第１の差が実
質的にゼロに等しい場合、前記サンプルレート制御手段
は前記制御装置（３１０）による制御の使用のために割
り当てられた最大サンプルレートを選択するもの、前記
出力パラメータの前記選択されたサンプルとその前のサ
ンプルとの間の第１の差が前記さらに選択されるサンプ
ルと前記選択されたサンプルとの間の第２の差と比較さ
れ、かつ前記さらに選択されるサンプルと前記選択され
たサンプルとの間の前記第２の差が前記出力パラメータ
の前記選択されたサンプルとその前のサンプルとの間の
前記第１の差より大きく、かつ前記出力パラメータの前
記選択されたサンプルとその前のサンプルとの間の前記
第１の差が実施的にゼロに等しくない場合、前記サンプ
ルレート制御手段は、２で乗算された前記サンプルレー
トの積、および前記制御装置（３１０）による制御の使
用のために割り当てられた最大サンプルレート、の内か
ら最小のサンプルレート値を選択するもの、前記出力パ
ラメータの前記選択されたサンプルとその前のサンプル
との間の前記第１の差が前記さらに選択されるサンプル
と前記選択されたサンプルとの間の前記第２の差と比較
され、かつ前記さらに選択されるサンプルと前記選択さ
れたサンプルとの間の前記第２の差が前記出力パラメー
タの前記選択されたサンプルと前記その前のサンプルと
の間の前記第１の差より小さい場合、前記サンプルレー
ト制御手段は、２で除算された前記サンプルレートの商
、および前記制御装置（３１０）による制御の使用のた
めに割り当てられた最小サンプルレート、の内から最大
のサンプルレート値を選択するもの、前記サンプルレー
ト制御手段が、前記さらに選択されるサンプルと前記選
択されたサンプルとの間の前記第２の差と比較された前
記出力パラメータの前記選択されたサンプルとその前の
サンプルとの間の前記第１の差の値において差が検出さ
れたことに応じて前記サンプルレートが変更されなけれ
ばならないことを決定した場合、前記サンプルレート制
御手段は前記サンプリング期間を変更しそれにより前記
伝達関数を変更するもの、前記伝達関数の変更は予め選
択された所望の出力応答に従って特徴的な出力応答を変
更するサンプリングレートの自動的な選択によって行な
われるもの、そして前記伝達関数が変更された時、前記
伝達関数制御手段はさらに前記出力パラメータの前記選
択されたサンプルとその前のサンプルとの間の第１の差
を前記さらに選択されるサンプルと前記選択されたサン
プルとの間の第２の差と比較するために再循環するよう
反復的に機能するもの、の内の少なくとも１つに該当す
る請求項１に記載の制御装置（３１０）。 - 【請求項３】 伝達関数を有する被制御装置（３０２
）を、少なくとも部分的に、制御するための方法（１０
０、２００）であって、制御装置（３１０）は、少なく
とも３つのサンプル、すなわち選択されたサンプル、そ
の前のサンプル、およびさらに選択されるサンプル、を
得るためにあるサンプルレートにおいて前記被制御装置
（３０２）の出力パラメータをサンプリングすることに
より、少なくとも部分的に、前記被制御装置（３０２）
を制御し、前記方法は、 Ａ）前記サンプルされた出力パラメータの、少なくとも
一部の、関数として前記サンプリングレートを制御する
段階、そして Ｂ）前記サンプリングレートの、少なくとも一部の、関
数として前記伝達関数を自動的に変更する段階、を具備
することを特徴とする伝達関数を有する被制御装置（３
０２）を、少なくとも部分的に、制御するための方法（
１００、２００）。 - 【請求項４】 前記その前のサンプルはその直前に得
られたサンプルでありかつ前記さらに選択されるサンプ
ルはその直後に得られるサンプルであることを特徴とす
る請求項３に記載の方法。 - 【請求項５】 前記サンプルレートを前記サンプルさ
れた出力パラメータの、少なくとも一部の、関数として
制御する段階は、 Ａ）前記出力パラメータの少なくとも３つのサンプルを
得る段階（１０４）、 Ｂ）前記サンプルされた出力パラメータ値を利用して少
なくとも第１および第２の比較基準値を決定する段階（
１０６、１１０）、 Ｃ）前記第２の比較基準値が前記第１の比較基準値より
大きくかつ前記第１の比較基準値が実質的にゼロに等し
い場合、前記サンプルレートが前記制御装置（３１０）
による制御の使用のために割り当てられた最大サンプル
レートであることを決定する段階、 Ｄ）前記第２の比較基準値が前記第１の比較基準値より
大きく（１１２）かつ前記第１の比較基準値が実質的に
ゼロでない（１１４）場合、前記サンプルレートが実質
的に、２で乗算された前記サンプルレートの積および前
記制御装置（３１０）による制御の使用のために割り当
てられた最大サンプルレートの内の最小のもの（１１６
）であることを決定する段階、そしてＥ）前記第２の比
較基準値が前記第１の比較基準値より小さい場合（１２
０）、前記サンプルレートは、２で除算された前記サン
プルレートの商および前記制御装置（３１０）による制
御の使用のために割り当てられた最小サンプリングレー
ト、の内の最大のものである（１２２）ことを決定する
段階、を含むことを特徴とする請求項３に記載の方法（
１００）。 - 【請求項６】 前記少なくとも３つのサンプルは、１
つの選択されたサンプル、その直前に得られたサンプル
、およびその直後に得られたサンプルであるもの、前記
第１の比較値は選択されたサンプルとその直前に得られ
たサンプルとの間の差をこれらのサンプルの間の経過時
間により除算した商を決定することにより決定される傾
きであるもの、前記第２の比較値は選択されたサンプル
とその直後に得られたサンプルとの間の差をこれらのサ
ンプルの間の経過時間により除算した商を決定すること
により決定される傾きであるもの、の少なくとも１つに
該当することを特徴とする請求項５に記載の方法。 - 【請求項７】 前記サンプルレートをサンプルされた
出力パラメータの、少なくとも一部の、関数として制御
する段階はさらに、 Ａ）前記出力パラメータの連続的なサンプルに対する最
大の所望の偏差をセットする段階（２０４、２０６）、
Ｂ）実質的に前記被制御装置（３０２）の被制御システ
ムの帯域幅の逆数と前記制御装置（３１０）により決定
される最小変換時間の商により決定されるサンプルされ
た出力パラメータの複数のサンプルをサンプルする段階
（２０８）、 Ｃ）選択されたサンプルレートで連続的にサンプリング
することによりサンプルされた出力パラメータの前記複
数のサンプルを得る段階（２０８）、 Ｄ）第１の主要な相関値を得るためにサンプルされた出
力パラメータの前記複数のサンプルを利用する段階（２
１０）、 Ｅ）最小の所望の偏差を前記第１の主要な相関値および
前記所望の最大偏差の 内の実質的に最小のものとしてセットする段階（２０６
）、Ｆ）実質的に前記被制御装置（３０２）の被制御シ
ステムの帯域幅の逆数および前記制御装置（３１０）に
より決定される最小変換時間の商により決定される、サ
ンプルされた出力パラメータの複数のサンプルを得る段
階（２０８）であって、サンプルされた出力パラメータ
の前記複数のサンプルは選択されたサンプルレートで連
続的にサンプリングすることにより得られるもの、そし
て Ｇ）実質的に、第２の主要な相関値および第２の相関値
を決定するためにサンプルされた出力パラメータの前記
複数のサンプルを利用する段階（２１０）であって、１
）サンプルされた出力パラメータの前記複数のサンプル
の第２の主要な相関値が最小の所望の偏差（２１２）よ
り小さいかまたは等しく、実質的に前記被制御装置の被
制御システムの帯域幅の逆数および前記制御装置（３１
０）により決定される最小変換時間により決定される、
サンプルされた出力パラメータのその後の複数のサンプ
ルのサンプリングを前記制御装置（３１０）に無視させ
る場合、サンプルされた出力パラメータの前記複数のサ
ンプルは選択されたサンプルレートにおける連続的なサ
ンプリングにより得られ、それに続き、最小の所望の偏
差を、第２の主要な相関値および所望の最大偏差の内の
実質的に最小のものとしてセットし（２０６）、前記被
制御装置（３０２）の被制御システムの帯域幅の逆数お
よび前記制御装置（３１０）により決定される最小変換
時間の商により実質的に決定される、サンプルされた出
力パラメータの連続的な複数のサンプルを得、実質的に
第２の主要な相関値およびサンプルされた出力パラメー
タの前記複数のサンプルの第２の相関値を決定し、そし
てここに述べたようにして比較するために反復的に循環
し、 ２）サンプルされた出力パラメータの前記複数のサンプ
ルの第２の相関値が最小の所望の偏差より大きい場合に
、前記サンプルレート制御手段はさらに前記制御装置に
前記サンプルレートの、少なくとも一部の、関数として
伝達関数を自動的に変更する機能を付勢させ、これに続
き最小の所望の偏差を第２の主要な相関値および所望の
最大の偏差の内の実質的に最小のものとしてセットし（
２０６）、被制御装置（３０２）の被制御システムの帯
域幅の逆数および前記制御装置（３１０）により決定さ
れる最小変換時間の商により実質的に決定される、サン
プルされた出力パラメータの連続する複数のサンプルを
得、第２の主要な相関値およびサンプルされた出力パラ
メータの前記複数のサンプルの第２の相関値を決定し、
そしてここに述べたように比較するために反復的に再循
環するもの、を含むことを特徴とする請求項３に記載の
方法（２００）。 - 【請求項８】 前記第１および第２の主要な相関値は
サンプルされた出力パラメータの直前の複数のサンプル
の算術平均であるもの、前記第２の相関値はサンプルさ
れた出力パラメータの直前の複数のサンプルの標準偏差
であるもの、前記第２の相関値が最小の所望の偏差より
大きいことを判定する前記段階はさらに前記伝達関数を
変更する段階を含むもの、前記伝達関数を変更する段階
は予め選択された所望の出力応答に従って特徴的な出力
応答を変更するサンプリングレートの自動的選択によっ
て行なわれるもの、そして前記伝達関数を変更する段階
はさらに、実質的に前記被制御装置（３０２）の被制御
システムの帯域幅の逆数および前記制御装置（３１０）
により決定される最小変換時間の商により実質的に決定
される、サンプルされた出力パラメータの複数のサンプ
ルを得る段階（２０８）を反復的に再循環する段階を含
み、サンプルされた出力パラメータの前記複数のサンプ
ルは選択されたサンプルレートで連続的にサンプルし、
出力パラメータの選択されたサンプルを該出力パラメー
タの複数の前のサンプルに対し決定された比較基準値と
比較し、そして反復的にそこから進むことにより得られ
るもの、の内の少なくとも１つに該当することを特徴と
する請求項７に記載の方法。 - 【請求項９】 入力値を備えた電力制御システムを有
し、該電力制御システムの伝達関数を調整するために該
電力制御システムの出力値のサンプリングレートの変化
を利用するための制御装置（３１０）であって、該制御
装置は、 Ａ）前記サンプリングレートに応じて前記電力制御シス
テムの出力値のそのサンプリングレートを記憶するため
の第１の記憶手段、 Ｂ）前記第１の記憶手段に応じて前記サンプリングレー
トを実施し、少なくとも３つの電力制御システムの出力
値を累積しかつ記憶するための実施、累積、および第２
の記憶手段、 Ｃ）前記第１の記憶手段および前記実行、累積、第２の
記憶手段に応じて少なくとも２つの比較値を決定するた
めに少なくとも３つの電力制御システムの出力値を利用
するための比較および第３の記憶手段、そしてＤ）前記
比較および第３の記憶手段に応じて少なくとも２つの比
較値に従って前記サンプリングレートを調整するための
調整手段、を具備し、これにより前記電力制御システム
の伝達関数がそれに応じて調整されることを特徴とする
制御装置（３１０）。 - 【請求項１０】 前記制御装置（３１０）はプロセッ
サであるもの、前記電力制御システムの入力値は検出可
能な電圧入力であるもの、前記電力制御システムの入力
値は検出可能な電力入力であるもの、前記サンプリング
レートは電力制御の使用のために前記装置に割り当てら
れた最大サンプリング周波数であるもの、前記少なくと
も３つの電力制御出力値は検出可能な電圧出力であるも
の、前記少なくとも３つの電力制御出力値は検出可能な
電力出力であるもの、前記電力制御システムの伝達関数
はディスクリートなデータシステムのそれであるもの、
前記電力制御システムの伝達関数はアナログシステムの
それであるもの、前記比較および第３の記憶手段は前記
少なくとも３つの連続する電力制御システムの出力値の
間の少なくとも２つの差の値を得るもの、後の電力制御
システムの出力差の値が前の電力制御システム出力の差
の値より小さい場合、前記調整手段は、前記サンプルレ
ートを２で除算したサンプリングレートの商または前記
電力制御システムにより許容される最小のサンプリング
レートの内のより大きなものに変更するもの、後の電力
制御システムの出力の差の値が実質的に前の電力制御シ
ステムの出力の値に等しい場合、前記調整手段は実効的
に同じサンプルレートを維持するもの、前記後の電力制
御システムの出力の差の値が前の電力制御システムの出
力の差の値より大きくかつ前の電力制御システムの差の
値が実質的にゼロに等しくない場合に、前記調整手段は
実効的に前記サンプルレートを２で乗算されたサンプリ
ングレートの積または前記電力制御システムによる電力
制御の使用のために許容される最大のサンプリングレー
トの内のより大きいものに等しくセットするもの、後の
電力制御システムの出力の差の値が前の電力制御システ
ムの出力の差の値より大きくかつ前の電力制御システム
の出力の差の値が実質的にゼロに等しい場合、前記調整
手段は実効的にサンプルレートを前記電力制御システム
による電力制御の使用のために許容される最大のサンプ
リングレートに等しくセットするもの、さらに前記電力
制御システムの伝達関数を調整するためにその中の手段
を反復的に利用するための手段を含むもの、前記伝達関
数を調整する段階は予め選択された所望の出力応答に従
って特徴的な出力応答を変更するサンプリングレートの
自動的選択により行なわれもの、そして前記伝達関数が
調整された時、前記伝達関数制御手段はさらに後の電力
制御システムの出力の差の値を前の電力制御システムの
出力の差の値と比較するために再循環するよう反復的に
機能し、かつここに述べたように機能するもの、の少な
くとも１つに該当することを特徴とする請求項９に記載
の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/548,399 US5177695A (en) | 1990-07-05 | 1990-07-05 | Device and method for adaptive digital power control |
| US548,399 | 1990-07-05 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04233607A true JPH04233607A (ja) | 1992-08-21 |
Family
ID=24188703
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3186839A Pending JPH04233607A (ja) | 1990-07-05 | 1991-07-01 | 伝達関数を有する被制御装置を少なくとも部分的に制御するための制御装置および方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5177695A (ja) |
| JP (1) | JPH04233607A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN120908736A (zh) * | 2025-09-30 | 2025-11-07 | 山西互感器电测设备有限公司 | 一种互感器数字采样方法及系统 |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0565681B1 (en) * | 1991-11-04 | 1998-01-21 | Asea Brown Boveri Ab | Control of power network |
| US5291391A (en) * | 1992-03-20 | 1994-03-01 | Cincinnati Milacron Inc. | Fast programmable scan logic controller method and apparatus |
| DE19614866A1 (de) * | 1996-04-16 | 1997-10-23 | Zahnradfabrik Friedrichshafen | Verfahren zur Stromregelung |
| DE19857014A1 (de) * | 1998-12-09 | 2000-06-15 | Wtw Weilheim | Verfahren zur Messung von Wasser- und Abwasserparametern |
| US6711389B2 (en) * | 2001-02-16 | 2004-03-23 | Telefonaktiebolaget L.M. Ericsson | Power controller for a mobile terminal |
| DE10134013A1 (de) * | 2001-07-12 | 2003-01-30 | Siemens Ag | Überwachung eines Messsignals, insbesondere in der Automatisierungstechnik |
| CA2641657A1 (en) * | 2006-02-14 | 2007-08-23 | Edsa Micro Corporation | Systems and methods for real-time system monitoring and predictive analysis |
| US20170046458A1 (en) | 2006-02-14 | 2017-02-16 | Power Analytics Corporation | Systems and methods for real-time dc microgrid power analytics for mission-critical power systems |
| WO2009106095A1 (de) * | 2008-02-27 | 2009-09-03 | Siemens Aktiengesellschaft | Regeleinrichtung für eine prozesstechnische anlage |
| US20110082597A1 (en) | 2009-10-01 | 2011-04-07 | Edsa Micro Corporation | Microgrid model based automated real time simulation for market based electric power system optimization |
| EP2685744B1 (en) | 2012-07-12 | 2018-05-23 | ABB Research Ltd. | Method and sensor node network interface system for wireless control of an industrial process |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3591779A (en) * | 1968-02-21 | 1971-07-06 | Massachusetts Inst Technology | Variable frequency compensation for sampled data control systems |
| US4349868A (en) * | 1980-06-23 | 1982-09-14 | Hewlett-Packard Company | Sampled control loop with dynamic gain optimization |
| US4910692A (en) * | 1985-10-09 | 1990-03-20 | Outram John D | Adaptive data logger |
| US4879643A (en) * | 1987-11-19 | 1989-11-07 | The Boeing Company | Decentralized cautious adaptive control system |
-
1990
- 1990-07-05 US US07/548,399 patent/US5177695A/en not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-07-01 JP JP3186839A patent/JPH04233607A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN120908736A (zh) * | 2025-09-30 | 2025-11-07 | 山西互感器电测设备有限公司 | 一种互感器数字采样方法及系统 |
| CN120908736B (zh) * | 2025-09-30 | 2025-12-30 | 山西互感器电测设备有限公司 | 一种互感器数字采样方法及系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5177695A (en) | 1993-01-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4864490A (en) | Auto-tuning controller using fuzzy reasoning to obtain optimum control parameters | |
| KR880003229A (ko) | 적응프로세스 제어장치 | |
| JP3479093B2 (ja) | テレビジョン用の制御回路と電源 | |
| US5177695A (en) | Device and method for adaptive digital power control | |
| US6298139B1 (en) | Apparatus and method for maintaining a constant speech envelope using variable coefficient automatic gain control | |
| US5303371A (en) | Electronic volume control system | |
| KR20050089159A (ko) | 제어를 위해 페널티 및 플로어를 사용하는 지연 미스매치된피드 포워드 증폭기 시스템 | |
| US5331541A (en) | PiD control unit | |
| US8279983B2 (en) | Automatic gain control apparatus | |
| US3940594A (en) | Automatic process controller with bumpless operation | |
| US7187915B2 (en) | Automatic gain control for a WLAN system | |
| EP1350311A2 (en) | Power amplifier saturation detection and compensation | |
| CN116772284A (zh) | 加热炉温度控制方法 | |
| EP0377165B1 (en) | Gain controller | |
| US6418303B1 (en) | Fast attack automatic gain control (AGC) loop and methodology for narrow band receivers | |
| JPH096405A (ja) | 補償器調整方法 | |
| KR100490408B1 (ko) | 볼륨 조절 장치 및 방법 | |
| JPS5832403B2 (ja) | 制御方式 | |
| JP3069880B2 (ja) | Ｔｄｍａ送信機の送信電力自動制御装置 | |
| JP3295920B2 (ja) | 張力制御方法 | |
| JP3877379B2 (ja) | 音響装置および音響装置における音量調整方法 | |
| JPH09121146A (ja) | ゲート処理装置 | |
| JP3986390B2 (ja) | Ａｇｃ装置 | |
| KR102881040B1 (ko) | 학습형 반도체 공정 배기 제어 장치 및 방법 | |
| JPH075929A (ja) | 調節弁制御装置 |