JPH04235357A - 電子装置のロードダンプ試験装置 - Google Patents
電子装置のロードダンプ試験装置Info
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- JPH04235357A JPH04235357A JP3001273A JP127391A JPH04235357A JP H04235357 A JPH04235357 A JP H04235357A JP 3001273 A JP3001273 A JP 3001273A JP 127391 A JP127391 A JP 127391A JP H04235357 A JPH04235357 A JP H04235357A
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- Japan
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- capacitor
- diode
- transistor
- power supply
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は例えばいわゆるＩＰＳ（
ＩｎｔｅｌｌｉｇｅｎｔＰｏｗｅｒ Ｓｗｉｔｃｈの
略、各種の異常判断機能を備えた車載装置保護用の電源
スイッチ）等の電子装置に後述のようなロードダンプ試
験を施す装置に関する。
ＩｎｔｅｌｌｉｇｅｎｔＰｏｗｅｒ Ｓｗｉｔｃｈの
略、各種の異常判断機能を備えた車載装置保護用の電源
スイッチ）等の電子装置に後述のようなロードダンプ試
験を施す装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】自動車工業規格（ＪＳＯ）は車載用の電
子装置に対しフィールド試験においてロードダンプ試験
を実施するように定めている。このロードダンプ試験は
車載用の電子装置（ここではＩＰＳとする）の直流電源
ラインに図３のようなパルス電圧を印加する試験である
。なお図２の（Ａ），（Ｂ）は図３を構成するパルスＰ
１，Ｐ２の詳細波形を示す。ここでＰ１は例えば最大値
８０Ｖ，立上がり時間１０μＳ以下、立下がり時定数τ
１＝５０〜５５μＳ，繰返し周波数ｆ＝１ＫＨｚ〜１０
０Ｈｚ（周期１〜１０ｍｓ）の連続パルス、Ｐ２は最大
値１１０Ｖ，立上がり時間１ｍｓ以下、立下がり時定数
０．１８〜０．２ｓの単発パルスである。そして連続パ
ルスＰ１と単発パルスＰ２とは重畳されるものとする。
子装置に対しフィールド試験においてロードダンプ試験
を実施するように定めている。このロードダンプ試験は
車載用の電子装置（ここではＩＰＳとする）の直流電源
ラインに図３のようなパルス電圧を印加する試験である
。なお図２の（Ａ），（Ｂ）は図３を構成するパルスＰ
１，Ｐ２の詳細波形を示す。ここでＰ１は例えば最大値
８０Ｖ，立上がり時間１０μＳ以下、立下がり時定数τ
１＝５０〜５５μＳ，繰返し周波数ｆ＝１ＫＨｚ〜１０
０Ｈｚ（周期１〜１０ｍｓ）の連続パルス、Ｐ２は最大
値１１０Ｖ，立上がり時間１ｍｓ以下、立下がり時定数
０．１８〜０．２ｓの単発パルスである。そして連続パ
ルスＰ１と単発パルスＰ２とは重畳されるものとする。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのロー
ドダンプ試験を行う設備は市販化されておらず、その試
験の実施が困難であるという問題がある。そこで本発明
は電子装置のロードダンプ試験装置を提供することを課
題とする。
ドダンプ試験を行う設備は市販化されておらず、その試
験の実施が困難であるという問題がある。そこで本発明
は電子装置のロードダンプ試験装置を提供することを課
題とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、請求項１のロードダンプ試験装置は『直流電源（
バッテリ電源Ｅ０など）で作動する電子装置（ＩＰＳ１
０など）と直列に、かつその電流を通ずる方向に第１，
第２の２つのダイオード（Ｄ１，Ｄ２など）を挿入し、
めに、請求項１のロードダンプ試験装置は『直流電源（
バッテリ電源Ｅ０など）で作動する電子装置（ＩＰＳ１
０など）と直列に、かつその電流を通ずる方向に第１，
第２の２つのダイオード（Ｄ１，Ｄ２など）を挿入し、
【０００５】前記第１のダイオードの両端に所定の第１
の直流電圧（電源コンデンサ３Ａの電圧など）で充電さ
れた第１のコンデンサ（連続パルスコンデンサＣ１など
）を該ダイオードによって該直流電圧が短絡されない極
性に接続することを（連続方形波発生回路４Ａなどを介
し）所定の周期（１／ｆ）で繰返し、
の直流電圧（電源コンデンサ３Ａの電圧など）で充電さ
れた第１のコンデンサ（連続パルスコンデンサＣ１など
）を該ダイオードによって該直流電圧が短絡されない極
性に接続することを（連続方形波発生回路４Ａなどを介
し）所定の周期（１／ｆ）で繰返し、
【０００６】前記
第２のダイオードの両端に所定の第２の直流電圧（電源
コンデンサ３Ｂの電圧など）で充電された第２のコンデ
ンサ（単発パルスコンデンサＣ２など）を該ダイオード
によって該直流電圧が短絡されない極性に接続すること
を（手動スイッチＳ１，単発方形波発生回路４Ｂなどを
介し）単発的に行うように』するものとし、
第２のダイオードの両端に所定の第２の直流電圧（電源
コンデンサ３Ｂの電圧など）で充電された第２のコンデ
ンサ（単発パルスコンデンサＣ２など）を該ダイオード
によって該直流電圧が短絡されない極性に接続すること
を（手動スイッチＳ１，単発方形波発生回路４Ｂなどを
介し）単発的に行うように』するものとし、
【０００７】請求項２のロードダンプ試験装置は前記請
求項１のロードダンプ試験装置において、『前記第１の
コンデンサの前記の充電および第１のダイオードへの接
続をそれぞれ第１および第２のトランジスタ（ＴＲ１１
およびＴＲ１２など）を介して行い、前記第２のコンデ
ンサの前記の充電および第２のダイオードへの接続をそ
れぞれ第３および第４のトランジスタ（ＴＲ２１および
ＴＲ２２など）を介して行うように』するものとし、ま
た
求項１のロードダンプ試験装置において、『前記第１の
コンデンサの前記の充電および第１のダイオードへの接
続をそれぞれ第１および第２のトランジスタ（ＴＲ１１
およびＴＲ１２など）を介して行い、前記第２のコンデ
ンサの前記の充電および第２のダイオードへの接続をそ
れぞれ第３および第４のトランジスタ（ＴＲ２１および
ＴＲ２２など）を介して行うように』するものとし、ま
た
【０００８】請求項３のロードダンプ試験装置は前記請
求項１または請求項２のロードダンプ試験装置において
、『前記第１，第２の２つのダイオードを直列に接続し
、このダイオードの直列回路の両端を前記電子装置に切
換え接続するスイッチ（Ｓ２など）を備えた』ものとす
る。
求項１または請求項２のロードダンプ試験装置において
、『前記第１，第２の２つのダイオードを直列に接続し
、このダイオードの直列回路の両端を前記電子装置に切
換え接続するスイッチ（Ｓ２など）を備えた』ものとす
る。
【０００９】
【作 用】電子装置の電源バッテリと直列にその通電
方向にダイオードＤ１，Ｄ２を接続し、電源コンデンサ
３ＡからトランジスタＴＲ１１を介し所定の電圧に充電
された連続パルス用コンデンサＣ１をトランジスタＴＲ
１２を介しダイオードＤ１の両端へこのダイオードＤ１
で短絡されぬ極性に接続することを所定周期で繰返し、
他方、電源コンデンサ３ＢからトランジスタＴＲ２１を
介し所定の電圧に充電された単一パルス用コンデンサＣ
２をトランジスタＴＲ２２を介しダイオードＤ２の両端
へこのダイオードＤ２で短絡されぬ極性に接続すること
を単発的に行い、このコンデンサＣ１，Ｃ２のダイオー
ドＤ１，Ｄ２への接続によって、前記コンデンサＣ１，
Ｃ２が夫々抵抗負荷としての電子装置を介し放電する形
で、夫々所定の減衰時定数の連続パルス，単発パルスを
電源バッテリラインに重畳させ電子装置に印加する。
方向にダイオードＤ１，Ｄ２を接続し、電源コンデンサ
３ＡからトランジスタＴＲ１１を介し所定の電圧に充電
された連続パルス用コンデンサＣ１をトランジスタＴＲ
１２を介しダイオードＤ１の両端へこのダイオードＤ１
で短絡されぬ極性に接続することを所定周期で繰返し、
他方、電源コンデンサ３ＢからトランジスタＴＲ２１を
介し所定の電圧に充電された単一パルス用コンデンサＣ
２をトランジスタＴＲ２２を介しダイオードＤ２の両端
へこのダイオードＤ２で短絡されぬ極性に接続すること
を単発的に行い、このコンデンサＣ１，Ｃ２のダイオー
ドＤ１，Ｄ２への接続によって、前記コンデンサＣ１，
Ｃ２が夫々抵抗負荷としての電子装置を介し放電する形
で、夫々所定の減衰時定数の連続パルス，単発パルスを
電源バッテリラインに重畳させ電子装置に印加する。
【００１０】
【実施例】図１は本発明の一実施例としての構成を示す
回路図である。１０は例えば２５Ωの抵抗負荷と見做さ
れるＩＰＳ、Ｅ０はこのＩＰＳの直流電源としての例え
ば１２Ｖのバッテリ電源、Ｄ１，Ｄ２は定常時、バッテ
リ電源Ｅ０をＩＰＳ１０に印加するための直列接続のダ
イオード、Ｓ２は通常接点ａ側に接触し、必要に応じて
接点ｂ側にも切換えられるスイッチである。
回路図である。１０は例えば２５Ωの抵抗負荷と見做さ
れるＩＰＳ、Ｅ０はこのＩＰＳの直流電源としての例え
ば１２Ｖのバッテリ電源、Ｄ１，Ｄ２は定常時、バッテ
リ電源Ｅ０をＩＰＳ１０に印加するための直列接続のダ
イオード、Ｓ２は通常接点ａ側に接触し、必要に応じて
接点ｂ側にも切換えられるスイッチである。
【００１１】次にＡ部，Ｂ部は夫々連続パルスＰ１，単
発パルスＰ２の発生部であり、１Ａ，１Ｂは夫々各パル
ス発生部Ａ，Ｂに属する出力電圧可変可能な交流電源、
２Ａ，２Ｂは夫々交流電源１Ａ，１Ｂの出力電圧を全波
整流する整流回路、３Ａ，３Ｂは夫々整流回路２Ａ，２
Ｂの出力電圧を平滑化する電源コンデンサである。
発パルスＰ２の発生部であり、１Ａ，１Ｂは夫々各パル
ス発生部Ａ，Ｂに属する出力電圧可変可能な交流電源、
２Ａ，２Ｂは夫々交流電源１Ａ，１Ｂの出力電圧を全波
整流する整流回路、３Ａ，３Ｂは夫々整流回路２Ａ，２
Ｂの出力電圧を平滑化する電源コンデンサである。
【００１２】Ｃ１は連続パルスＰ１の電圧を直接発生す
るコンデンサ（便宜上、連続パルスコンデンサともいう
）、Ｃ２は単発パルスＰ２の電圧を直接発生するコンデ
ンサ（便宜上、単発パルスコンデンサともいう）である
。
るコンデンサ（便宜上、連続パルスコンデンサともいう
）、Ｃ２は単発パルスＰ２の電圧を直接発生するコンデ
ンサ（便宜上、単発パルスコンデンサともいう）である
。
【００１３】ＴＲ１１は連続パルスコンデンサＣ１を電
源コンデンサ３Ａを介して充電するトランジスタ、ＴＲ
１２は該コンデンサＣ１をＩＰＳ１０の側へ放電させる
トランジスタ、同様にＴＲ２１は単発パルスコンデンサ
Ｃ２を電源コンデンサ３Ｂを介して充電するトランジス
タ、ＴＲ２２は該コンデンサＣ２をＩＰＳ１０の側へ放
電させるトランジスタである。
源コンデンサ３Ａを介して充電するトランジスタ、ＴＲ
１２は該コンデンサＣ１をＩＰＳ１０の側へ放電させる
トランジスタ、同様にＴＲ２１は単発パルスコンデンサ
Ｃ２を電源コンデンサ３Ｂを介して充電するトランジス
タ、ＴＲ２２は該コンデンサＣ２をＩＰＳ１０の側へ放
電させるトランジスタである。
【００１４】４Ａは連続パルスＰ１の繰返し周波数ｆに
相当する周波数の方形波を発生する連続方形波発生回路
、４ＢはスイッチＳ１の操作に基づいて単発の方形波パ
ルスを発生する単発方形波発生回路である。
相当する周波数の方形波を発生する連続方形波発生回路
、４ＢはスイッチＳ１の操作に基づいて単発の方形波パ
ルスを発生する単発方形波発生回路である。
【００１５】５Ａは連続方形波発生回路４Ａの出力信号
に基づき、繰返し周波数ｆで、その出力端子Ｑ，反転Ｑ
（上にバーの付いたＱ）のレベルを夫々Ｈ，Ｌ→Ｌ，Ｈ
→Ｈ，Ｌ…と繰返し反転してトランジスタＴＲ１１，Ｔ
Ｒ１２をオン，オフ駆動するベース駆動回路、同様に５
Ｂは単発方形波発生回路４Ｂの出力信号に基づき、その
出力端子Ｑ，反転Ｑのレベルを夫々予めＨ，Ｌ（従って
トランジスタＴＲ２１をオン，ＴＲ２２をオフ）とした
状態から、Ｌ，Ｈ（従ってトランジスタＴＲ２１をオフ
，ＴＲ２２をオン）の状態に切換へ、その後再び初めの
状態に戻る形でスイッチＳ１を押す毎に夫々トランジス
タＴＲ２１，ＴＲ２２を１回オン，オフ駆動するベース
駆動回路である。なおＤ３はトランジスタＴＲ１２の逆
電圧保護用のダイオードである。
に基づき、繰返し周波数ｆで、その出力端子Ｑ，反転Ｑ
（上にバーの付いたＱ）のレベルを夫々Ｈ，Ｌ→Ｌ，Ｈ
→Ｈ，Ｌ…と繰返し反転してトランジスタＴＲ１１，Ｔ
Ｒ１２をオン，オフ駆動するベース駆動回路、同様に５
Ｂは単発方形波発生回路４Ｂの出力信号に基づき、その
出力端子Ｑ，反転Ｑのレベルを夫々予めＨ，Ｌ（従って
トランジスタＴＲ２１をオン，ＴＲ２２をオフ）とした
状態から、Ｌ，Ｈ（従ってトランジスタＴＲ２１をオフ
，ＴＲ２２をオン）の状態に切換へ、その後再び初めの
状態に戻る形でスイッチＳ１を押す毎に夫々トランジス
タＴＲ２１，ＴＲ２２を１回オン，オフ駆動するベース
駆動回路である。なおＤ３はトランジスタＴＲ１２の逆
電圧保護用のダイオードである。
【００１６】以上のように構成することにより図１にお
いては連続パルスコンデンサＣ１はトランジスタＴＲ１
１のオン（ＴＲ１２のオフ）時に電源コンデンサ３Ａに
よって充電されたのち、トランジスタＴＲ１２のオン（
ＴＲ１１のオフ）時には、連続パルスＰ１と単発パルス
Ｐ２とが重畳しない時点では、コンデンサＣ１→トラン
ジスタＴＲ１２→ダイオードＤ３→ＩＰＳ１０→スイッ
チＳ２の接点ａ→バッテリ電源Ｅ０→ダイオードＤ２→
コンデンサＣ１の経路で放電し、ＩＰＳ１０にはバッテ
リ電源Ｅ０の電圧にさらにコンデンサＣ１の電圧、即ち
図２（Ａ）のように急峻に立上がり、時定数τ１＝Ｃ１
・Ｒで減衰する波形の連続パルスＰ１が重畳して印加さ
れる。但しＲはＩＰＳの等価抵抗である。
いては連続パルスコンデンサＣ１はトランジスタＴＲ１
１のオン（ＴＲ１２のオフ）時に電源コンデンサ３Ａに
よって充電されたのち、トランジスタＴＲ１２のオン（
ＴＲ１１のオフ）時には、連続パルスＰ１と単発パルス
Ｐ２とが重畳しない時点では、コンデンサＣ１→トラン
ジスタＴＲ１２→ダイオードＤ３→ＩＰＳ１０→スイッ
チＳ２の接点ａ→バッテリ電源Ｅ０→ダイオードＤ２→
コンデンサＣ１の経路で放電し、ＩＰＳ１０にはバッテ
リ電源Ｅ０の電圧にさらにコンデンサＣ１の電圧、即ち
図２（Ａ）のように急峻に立上がり、時定数τ１＝Ｃ１
・Ｒで減衰する波形の連続パルスＰ１が重畳して印加さ
れる。但しＲはＩＰＳの等価抵抗である。
【００１７】同様にスイッチＳ１の操作時点には、単発
パルスコンデンサＣ２は予めトランジスタＴＲ２１のオ
ン（ＴＲ２２のオフ）により、電源コンデンサ３Ｂによ
って充電されている状態から、トランジスタＴＲ２２の
オン（ＴＲ２１のオフ）によって、パルスＰ１，Ｐ２が
重畳しない時点では、コンデンサＣ２→トランジスタＴ
Ｒ２２→ダイオードＤ１→ＩＰＳ１０→スイッチＳ２の
接点ａ→バッテリ電源Ｅ０→コンデンサＣ２の経路で放
電し、ＩＰＳ１０にはバッテリ電源Ｅ０の電圧にさらに
コンデンサＣ２の電圧、即ち図２（Ｂ）のように急峻に
立上がり、時定数τ２＝Ｃ２・Ｒで減衰する波形の単発
パルスＰ２が重畳して印加される。
パルスコンデンサＣ２は予めトランジスタＴＲ２１のオ
ン（ＴＲ２２のオフ）により、電源コンデンサ３Ｂによ
って充電されている状態から、トランジスタＴＲ２２の
オン（ＴＲ２１のオフ）によって、パルスＰ１，Ｐ２が
重畳しない時点では、コンデンサＣ２→トランジスタＴ
Ｒ２２→ダイオードＤ１→ＩＰＳ１０→スイッチＳ２の
接点ａ→バッテリ電源Ｅ０→コンデンサＣ２の経路で放
電し、ＩＰＳ１０にはバッテリ電源Ｅ０の電圧にさらに
コンデンサＣ２の電圧、即ち図２（Ｂ）のように急峻に
立上がり、時定数τ２＝Ｃ２・Ｒで減衰する波形の単発
パルスＰ２が重畳して印加される。
【００１８】なお２つのパルスＰ１，Ｐ２が重畳する時
点では前記の放電経路中「ダイオードＤ１」の部分は「
コンデンサＣ１→トランジスタＴＲ１２→ダイオードＤ
３」に置換わり、「ダイオードＤ２」の部分は「コンデ
ンサＣ２→トランジスタＴＲ２２」に置換わる。
点では前記の放電経路中「ダイオードＤ１」の部分は「
コンデンサＣ１→トランジスタＴＲ１２→ダイオードＤ
３」に置換わり、「ダイオードＤ２」の部分は「コンデ
ンサＣ２→トランジスタＴＲ２２」に置換わる。
【００１９】
【発明の効果】本発明によれば、バッテリ電源Ｅ０で作
動する電子装置（ＩＰＳ１０など）と直列に、かつその
電流を通ずる方向に２つのダイオードＤ１，Ｄ２を挿入
し、
動する電子装置（ＩＰＳ１０など）と直列に、かつその
電流を通ずる方向に２つのダイオードＤ１，Ｄ２を挿入
し、
【００２０】前記のダイオードＤ１の両端に所定の電源
コンデンサ３Ａの電圧で充電された連続パルスコンデン
サＣ１を該ダイオードＤ１によって該コンデンサＣ１が
短絡されない極性に接続することを連続方形波発生回路
４Ａを介し所定の周期（１／ｆ）で繰返し、
コンデンサ３Ａの電圧で充電された連続パルスコンデン
サＣ１を該ダイオードＤ１によって該コンデンサＣ１が
短絡されない極性に接続することを連続方形波発生回路
４Ａを介し所定の周期（１／ｆ）で繰返し、
【００２１
】前記ダイオードＤ２の両端に所定の電源コンデンサ３
Ｂの電圧で充電された単発パルスコンデンサＣ２を該ダ
イオードＤ２によって該コンデンサＣ２が短絡されない
極性に接続することを手動スイッチＳ１，単発方形波発
生回路４Ｂを介し単発的に行うようにしたので、連続パ
ルスＰ１および単発パルスＰ２の発生にそれぞれＣ１と
Ｒ，Ｃ２とＲ（但しＲは電子装置の等価抵抗）による放
電波形を利用することとなり、２つのパルスＰ１，Ｐ２
の立下がり時点数τ１，τ２の値を容易に可変設定する
ことが可能である。このようにして本発明のロードダン
プ試験装置の開発によりＩＰＳのロードダンプ試験が容
易に行えるようになり、自動車工業規格に合致するＩＰ
Ｓの評価試験等ができるようになった。
】前記ダイオードＤ２の両端に所定の電源コンデンサ３
Ｂの電圧で充電された単発パルスコンデンサＣ２を該ダ
イオードＤ２によって該コンデンサＣ２が短絡されない
極性に接続することを手動スイッチＳ１，単発方形波発
生回路４Ｂを介し単発的に行うようにしたので、連続パ
ルスＰ１および単発パルスＰ２の発生にそれぞれＣ１と
Ｒ，Ｃ２とＲ（但しＲは電子装置の等価抵抗）による放
電波形を利用することとなり、２つのパルスＰ１，Ｐ２
の立下がり時点数τ１，τ２の値を容易に可変設定する
ことが可能である。このようにして本発明のロードダン
プ試験装置の開発によりＩＰＳのロードダンプ試験が容
易に行えるようになり、自動車工業規格に合致するＩＰ
Ｓの評価試験等ができるようになった。
【図１】本発明の一実施例としての構成を示す回路図
【
図２】連続パルス，単発パルスの詳細波形図
図２】連続パルス，単発パルスの詳細波形図
【図３】連
続パルスと単発パルスを含む電源重畳の全パルス波形を
示す図である。
続パルスと単発パルスを含む電源重畳の全パルス波形を
示す図である。
３Ａ 電源コンデンサ
３Ｂ 電源コンデンサ
Ｃ１ 連続パルスコンデンサ
Ｃ２ 単発パルスコンデンサ
ＴＲ１１ トランジスタ
ＴＲ１２ トランジスタ
ＴＲ２１ トランジスタ
ＴＲ２２ トランジスタ
Ｄ１ ダイオード
Ｄ２ ダイオード
Ｅ０ バッテリ電源
４Ａ 連続方形波発生回路
４Ｂ 単発方形波発生回路
５Ａ ベース駆動回路
５Ｂ ベース駆動回路
Ｓ１ スイッチ
Ｓ２ スイッチ
１０ ＩＰＳ
Ｐ１ 連続パルス
Ｐ２ 単発パルス。
Claims (3)
- 【請求項１】直流電源で作動する電子装置と直列に、か
つその電流を通ずる方向に第１，第２の２つのダイオー
ドを挿入し、前記第１のダイオードの両端に所定の第１
の直流電圧で充電された第１のコンデンサを該ダイオー
ドによって該直流電圧が短絡されない極性に接続するこ
とを所定の周期で繰返し、前記第２のダイオードの両端
に所定の第２の直流電圧で充電された第２のコンデンサ
を該ダイオードによって該直流電圧が短絡されない極性
に接続することを単発的に行うようにしたことを特徴と
する電子装置のロードダンプ試験装置。 - 【請求項２】請求項１に記載のロードダンプ試験装置に
おいて、前記第１のコンデンサの前記の充電および第１
のダイオードへの接続をそれぞれ第１および第２のトラ
ンジスタを介して行い、前記第２のコンデンサの前記の
充電および第２のダイオードへの接続をそれぞれ第３お
よび第４のトランジスタを介して行うようにしたことを
特徴とする電子装置のロードダンプ試験装置。 - 【請求項３】請求項１または請求項２に記載のロードダ
ンプ試験装置において、前記第１，第２の２つのダイオ
ードを直列に接続し、このダイオードの直列回路の両端
を前記電子装置に切換え接続するスイッチを備えたこと
を特徴とする電子装置のロードダンプ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3001273A JPH04235357A (ja) | 1991-01-10 | 1991-01-10 | 電子装置のロードダンプ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3001273A JPH04235357A (ja) | 1991-01-10 | 1991-01-10 | 電子装置のロードダンプ試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04235357A true JPH04235357A (ja) | 1992-08-24 |
Family
ID=11496856
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3001273A Pending JPH04235357A (ja) | 1991-01-10 | 1991-01-10 | 電子装置のロードダンプ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04235357A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011059124A (ja) * | 2010-10-14 | 2011-03-24 | Advantest Corp | 試験装置および電源装置 |
| US8427182B2 (en) | 2009-09-04 | 2013-04-23 | Advantest Corporation | Test apparatus and power supply apparatus |
| CN112284755A (zh) * | 2020-09-29 | 2021-01-29 | 奇瑞汽车股份有限公司 | 一种实车环境下整车电器抛负载的试验方法 |
-
1991
- 1991-01-10 JP JP3001273A patent/JPH04235357A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8427182B2 (en) | 2009-09-04 | 2013-04-23 | Advantest Corporation | Test apparatus and power supply apparatus |
| JP2011059124A (ja) * | 2010-10-14 | 2011-03-24 | Advantest Corp | 試験装置および電源装置 |
| CN112284755A (zh) * | 2020-09-29 | 2021-01-29 | 奇瑞汽车股份有限公司 | 一种实车环境下整车电器抛负载的试验方法 |
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