JPH04236334A - 微弱信号用分光器 - Google Patents
微弱信号用分光器Info
- Publication number
- JPH04236334A JPH04236334A JP3016844A JP1684491A JPH04236334A JP H04236334 A JPH04236334 A JP H04236334A JP 3016844 A JP3016844 A JP 3016844A JP 1684491 A JP1684491 A JP 1684491A JP H04236334 A JPH04236334 A JP H04236334A
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- JP
- Japan
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- photodetector
- mirror
- light
- pinhole
- condensing
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- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は赤外領域における微弱放
射光の分光分析に用いられる微弱信号用分光器に関する
ものである。
射光の分光分析に用いられる微弱信号用分光器に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】図5は従来の分光器の一例を示す構成図
である。被測定体からの入射光1(放射光)は凹面の反
射面を有する集光ミラー2によって反射ならびに集光さ
れ、その出射光路上には出射光を平行光にするコリメー
トミラー3が配設され、その途中の集光ミラー2による
集光位置にはピンホール4を有するピンホール板5が配
設され、その直前には、モータ7を駆動源とする光チョ
ッパ6が設けられている。光チョッパ6は、円板の外周
縁の円周方向に一定間隔にスリットを設けたもので、そ
の中心にモータ7の回転軸が取り付けられている。
である。被測定体からの入射光1(放射光)は凹面の反
射面を有する集光ミラー2によって反射ならびに集光さ
れ、その出射光路上には出射光を平行光にするコリメー
トミラー3が配設され、その途中の集光ミラー2による
集光位置にはピンホール4を有するピンホール板5が配
設され、その直前には、モータ7を駆動源とする光チョ
ッパ6が設けられている。光チョッパ6は、円板の外周
縁の円周方向に一定間隔にスリットを設けたもので、そ
の中心にモータ7の回転軸が取り付けられている。
【0003】コリメートミラー3の出射光路上には、グ
レーティング8(回折格子)が配設され、その出射光路
上には、集光ミラー9が設けられ、その集光位置に光検
出器10が配設されている。光検出器10には光電変換
素子が用いられるが、赤外線領域の微弱の分光分析を行
うためには高感度のInSb、HgCdTeなどの半導
体素子を用いるのが好ましい。
レーティング8(回折格子)が配設され、その出射光路
上には、集光ミラー9が設けられ、その集光位置に光検
出器10が配設されている。光検出器10には光電変換
素子が用いられるが、赤外線領域の微弱の分光分析を行
うためには高感度のInSb、HgCdTeなどの半導
体素子を用いるのが好ましい。
【0004】図6は光検出器10の詳細を示す斜視図で
ある。例えば、HgCdTeによる光検出器10の光検
出素子12はパッケージ11内に配設され、その検出部
に対向する部分には窓13(開口)が形成されている。 検出位置には、同一仕様の複数の光検出素子12が一方
向に整列配置され、グレーティング8によって分光され
た複数の出射光をそれぞれ受光できるように構成されて
いる。
ある。例えば、HgCdTeによる光検出器10の光検
出素子12はパッケージ11内に配設され、その検出部
に対向する部分には窓13(開口)が形成されている。 検出位置には、同一仕様の複数の光検出素子12が一方
向に整列配置され、グレーティング8によって分光され
た複数の出射光をそれぞれ受光できるように構成されて
いる。
【0005】図5の構成にあっては、集光ミラー2を介
して入射された放射光が光チョッパ6により断続され、
そのスリットを通過した光はピンホール板5のピンホー
ル4によって外乱光が除去される。ピンホール4を通過
した放射光はコリメートミラー3によって平行光にされ
、グレーティング8に照射される。グレーティング8は
、入射光の全幅を波長毎に分散させて反射し、これを集
光ミラー9へ出射させる。集光ミラー9はグレーティン
グ8により分光した光を光検出器10へ集光する。なお
、以上の説明では、光検出器10が複数の光検出素子1
2からなるものとしたが、光検出素子12が1個のみと
することもでき、その場合には、グレーティング8を回
動させ、放射光の波長が順次光検出素子12に集光され
るようにする。
して入射された放射光が光チョッパ6により断続され、
そのスリットを通過した光はピンホール板5のピンホー
ル4によって外乱光が除去される。ピンホール4を通過
した放射光はコリメートミラー3によって平行光にされ
、グレーティング8に照射される。グレーティング8は
、入射光の全幅を波長毎に分散させて反射し、これを集
光ミラー9へ出射させる。集光ミラー9はグレーティン
グ8により分光した光を光検出器10へ集光する。なお
、以上の説明では、光検出器10が複数の光検出素子1
2からなるものとしたが、光検出素子12が1個のみと
することもでき、その場合には、グレーティング8を回
動させ、放射光の波長が順次光検出素子12に集光され
るようにする。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記した従来
技術にあっては、周囲温度による影響を受け、分光後の
放射束測定精度を高めることができなかった。また、出
力信号も分光後の光を測定するため、たいへん弱いもの
であった。本発明の目的は、周囲温度の影響を受けるこ
となく、精度及び出力信号の向上を図ることのできる微
弱信号用分光器を提供することにある。
技術にあっては、周囲温度による影響を受け、分光後の
放射束測定精度を高めることができなかった。また、出
力信号も分光後の光を測定するため、たいへん弱いもの
であった。本発明の目的は、周囲温度の影響を受けるこ
となく、精度及び出力信号の向上を図ることのできる微
弱信号用分光器を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、測定対象からの放射光を一点に集光させ
る集光光学系と、その集光点にピンホールが位置するよ
うに配設されたピンホール板と、前記集光光学系からの
光を前記ピンホールへ断続的に入射させる光チョッパと
、前記ピンホールからの光を分光するグレーティングと
、該グレーティングからの光を光電変換する光検出器と
を備えた微弱信号用分光器において、前記光チョッパに
対向する面の前記ピンホールの周囲に設けられる凹面鏡
と、前記光チョッパの前記凹面鏡に対向する面に設けら
れる鏡面とを設け、かつ周囲温度による出力値の変動を
防止するために、光検出器を一定温度に保持する恒温手
段を設けている。また、測定精度を向上させるために、
凹面鏡の近傍に測温素子を装着し、その測温値に基づい
て前記光検出器の出力値を補正することもできる。
に、本発明は、測定対象からの放射光を一点に集光させ
る集光光学系と、その集光点にピンホールが位置するよ
うに配設されたピンホール板と、前記集光光学系からの
光を前記ピンホールへ断続的に入射させる光チョッパと
、前記ピンホールからの光を分光するグレーティングと
、該グレーティングからの光を光電変換する光検出器と
を備えた微弱信号用分光器において、前記光チョッパに
対向する面の前記ピンホールの周囲に設けられる凹面鏡
と、前記光チョッパの前記凹面鏡に対向する面に設けら
れる鏡面とを設け、かつ周囲温度による出力値の変動を
防止するために、光検出器を一定温度に保持する恒温手
段を設けている。また、測定精度を向上させるために、
凹面鏡の近傍に測温素子を装着し、その測温値に基づい
て前記光検出器の出力値を補正することもできる。
【0008】
【作用】上記した手段によれば、測定対象からの放射光
は光チョッパによって、ピンホールを断続的に通過して
光検出器に到達するが、一方光検出器面自体からの放射
光は光学系を戻って集光光学系からの光の遮光時に光チ
ョッパの裏面の鏡面に到達し反射される。さらに凹面鏡
で反射され、再度光チョッパの裏面で反射されて光検出
器へ戻される。この時、光検出器面自体からの放射光が
周囲温度の影響を受けないように光検出器を一定温度に
保持する。したがって、光検出器面自体からの放射光が
光チョッパによって反射され効率的に光検出器へ戻され
、その一定温度に保持された光検出器面自体からの一定
の放射光のみが参照光源として用いられるので、高精度
かつ高感度に測定が行えると共に、周囲温度による出力
変動を招くこともない。
は光チョッパによって、ピンホールを断続的に通過して
光検出器に到達するが、一方光検出器面自体からの放射
光は光学系を戻って集光光学系からの光の遮光時に光チ
ョッパの裏面の鏡面に到達し反射される。さらに凹面鏡
で反射され、再度光チョッパの裏面で反射されて光検出
器へ戻される。この時、光検出器面自体からの放射光が
周囲温度の影響を受けないように光検出器を一定温度に
保持する。したがって、光検出器面自体からの放射光が
光チョッパによって反射され効率的に光検出器へ戻され
、その一定温度に保持された光検出器面自体からの一定
の放射光のみが参照光源として用いられるので、高精度
かつ高感度に測定が行えると共に、周囲温度による出力
変動を招くこともない。
【0009】また、凹面鏡の近傍に設けられた測温素子
は、周囲温度に応じて凹面鏡から生じる熱放射を補正す
るための信号を出力する。したがって、光検出器の出力
を測温素子の出力によって補正することにより、凹面鏡
自体からの放射による誤差分を無くし、測定精度を向上
させることができる。
は、周囲温度に応じて凹面鏡から生じる熱放射を補正す
るための信号を出力する。したがって、光検出器の出力
を測温素子の出力によって補正することにより、凹面鏡
自体からの放射による誤差分を無くし、測定精度を向上
させることができる。
【0010】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
ながら説明する。図1は本発明による低温用分光器の一
実施例を示す構成図である。なお、図1においては、図
5と同一であるものには同一引用数字を用いている。し
たがって、これらについて以下においては重複する説明
を省略する。
ながら説明する。図1は本発明による低温用分光器の一
実施例を示す構成図である。なお、図1においては、図
5と同一であるものには同一引用数字を用いている。し
たがって、これらについて以下においては重複する説明
を省略する。
【0011】本実施例の光学系が図5の構成と異なると
ころは、光学系全体の大きさを小さくまとめるため、平
板の反射ミラー14を集光ミラー2とコリメートミラー
3の間で、かつ光チョッパ6の前段に設けるようにした
ことである。また、光検出器17を水平に配設し、その
構成は基本的に図5の光検出器10と同一であるが、後
記するように温度補償を図った構成にしている。なお、
15は黒体炉であって、例えば、50℃に保持した電気
炉であり、この位置から1mの距離のところに集光ミラ
ー2が配設されている。
ころは、光学系全体の大きさを小さくまとめるため、平
板の反射ミラー14を集光ミラー2とコリメートミラー
3の間で、かつ光チョッパ6の前段に設けるようにした
ことである。また、光検出器17を水平に配設し、その
構成は基本的に図5の光検出器10と同一であるが、後
記するように温度補償を図った構成にしている。なお、
15は黒体炉であって、例えば、50℃に保持した電気
炉であり、この位置から1mの距離のところに集光ミラ
ー2が配設されている。
【0012】さらに、光チョッパ6に対向する側のピン
ホール4の周囲には凹面鏡16が形成されている。この
凹面鏡16は、金メッキ、銀メッキなどにより放射率が
ε<0.1(すなわち、照射された光の9割以上が反射
される状態)に仕上げられている。さらに、光チョッパ
6の凹面鏡16に対向する面は、ε<0.1の鏡面的反
射面が形成され光検出器面自体からの放射光を光チョッ
パ6と凹面鏡16による多重反射によってピンホール4
へ反射できるようにされている。
ホール4の周囲には凹面鏡16が形成されている。この
凹面鏡16は、金メッキ、銀メッキなどにより放射率が
ε<0.1(すなわち、照射された光の9割以上が反射
される状態)に仕上げられている。さらに、光チョッパ
6の凹面鏡16に対向する面は、ε<0.1の鏡面的反
射面が形成され光検出器面自体からの放射光を光チョッ
パ6と凹面鏡16による多重反射によってピンホール4
へ反射できるようにされている。
【0013】図2は本発明による光検出器17の詳細を
示す断面図である。図6と同様に複数の光検出素子12
がパッケージ11内に配設され、その窓13には、光学
系からの放射光を入光可能にし、かつパッケージ11を
真空状態に密封するためにサファイヤガラス18が埋め
込まれている。さらに窓13の内側には、内面が鏡面仕
上げにされた円錐筒状のガイド部19が設けられ、その
下端は光検出素子12に近接している。ガイド部19は
、光検出素子12に向かって内径を小さくしている。
示す断面図である。図6と同様に複数の光検出素子12
がパッケージ11内に配設され、その窓13には、光学
系からの放射光を入光可能にし、かつパッケージ11を
真空状態に密封するためにサファイヤガラス18が埋め
込まれている。さらに窓13の内側には、内面が鏡面仕
上げにされた円錐筒状のガイド部19が設けられ、その
下端は光検出素子12に近接している。ガイド部19は
、光検出素子12に向かって内径を小さくしている。
【0014】さらに、パッケージ11の内面は無光沢の
黒色に塗装され、疑似黒体炉として機能するようにして
いる。光検出素子12の性能を最大限に発揮させるため
には低温度に保持する必要がある。そこで、光検出素子
12の背面には冷却部材20(例えば、電子冷却素子)
が配設されている。また、必要に応じてパッケージ11
の背面(冷却部材20の背面)に放熱板あるいは空冷装
置、水冷装置などの冷却手段21を設けることもできる
。
黒色に塗装され、疑似黒体炉として機能するようにして
いる。光検出素子12の性能を最大限に発揮させるため
には低温度に保持する必要がある。そこで、光検出素子
12の背面には冷却部材20(例えば、電子冷却素子)
が配設されている。また、必要に応じてパッケージ11
の背面(冷却部材20の背面)に放熱板あるいは空冷装
置、水冷装置などの冷却手段21を設けることもできる
。
【0015】以上の構成において、黒体炉15からの放
射光は集光ミラー2及び反射ミラー14によりピンホー
ル4内に集光されるが、その直前で光チョッパ6によっ
て放射光1が断続される。集光点では、ピンホール4に
よって外乱放射光の遮断が行われ、ピンホール4を通過
した放射光はコリメートミラー3によって平行光にされ
、グレーティング8によって分光された光が集光ミラー
9によって光検出器17内の光検出素子12の検出面に
導かれる。
射光は集光ミラー2及び反射ミラー14によりピンホー
ル4内に集光されるが、その直前で光チョッパ6によっ
て放射光1が断続される。集光点では、ピンホール4に
よって外乱放射光の遮断が行われ、ピンホール4を通過
した放射光はコリメートミラー3によって平行光にされ
、グレーティング8によって分光された光が集光ミラー
9によって光検出器17内の光検出素子12の検出面に
導かれる。
【0016】ここで、測定対象からの放射束が光チョッ
パ6によって遮断された時には、光検出器20自体から
の放射束が光チョッパ6及びピンホール4上の凹面鏡1
6により、図3のように反射され、これが光検出器17
の光検出素子12に照射される。光検出器17には、他
からの放射束の照射が無いため、光検出器17には、測
定対象からの放射束と一定温度の低温(例えば、−60
℃)に保たれた光検出器17自体からの放射束が、光チ
ョッパ6の回転に応じて交互に照射され、参照光源など
による比較を行うことなく放射光の分光強度測定を行う
ことができる。
パ6によって遮断された時には、光検出器20自体から
の放射束が光チョッパ6及びピンホール4上の凹面鏡1
6により、図3のように反射され、これが光検出器17
の光検出素子12に照射される。光検出器17には、他
からの放射束の照射が無いため、光検出器17には、測
定対象からの放射束と一定温度の低温(例えば、−60
℃)に保たれた光検出器17自体からの放射束が、光チ
ョッパ6の回転に応じて交互に照射され、参照光源など
による比較を行うことなく放射光の分光強度測定を行う
ことができる。
【0017】このように、光検出器17が一定温度に保
たれていることにより、光検出器17自体からの放射光
を安定させて、凹面鏡16によって光検出器17自体か
らの放射光を再度光検出器17へ戻しているため、周囲
温度の影響を排除することができ、光検出器17による
検出出力に変動を生じさせることがない。また、光検出
器17の出力が高くなり、これに応じて検出精度を向上
させることができる。
たれていることにより、光検出器17自体からの放射光
を安定させて、凹面鏡16によって光検出器17自体か
らの放射光を再度光検出器17へ戻しているため、周囲
温度の影響を排除することができ、光検出器17による
検出出力に変動を生じさせることがない。また、光検出
器17の出力が高くなり、これに応じて検出精度を向上
させることができる。
【0018】図4は本発明の他の実施例を示す構成図で
ある。本実施例は、図1の実施例に測温素子22(例え
ば、白金抵抗体)を凹面鏡16の直近に取り付け、凹面
鏡16の温度補償を行うようにしたものである。したが
って、測温素子22以外の構成については、図1と同一
であるので、ここでは重複する説明を省略する。
ある。本実施例は、図1の実施例に測温素子22(例え
ば、白金抵抗体)を凹面鏡16の直近に取り付け、凹面
鏡16の温度補償を行うようにしたものである。したが
って、測温素子22以外の構成については、図1と同一
であるので、ここでは重複する説明を省略する。
【0019】凹面鏡16の反射率は100%が理想であ
るが、現実には90%程度であり、凹面鏡16は周囲温
度と同じ温度にある。これにより、理想的には無いはず
の放射が凹面鏡16から生じ、これが光チョッパ6の鏡
面で反射して光検出器17へ入射する。周囲温度の変化
に伴う、凹面鏡16の温度変化分による放射は、光検出
器17の検出値の変動となって現れる。そこで、凹面鏡
16の温度を測温素子22によって検出し、この測定値
に応じて光検出器17の検出値を補正する。このような
補正により、例えば、測温素子22を有しない場合には
光検出器17の出力値に1〜2%の変動が見られるが、
測温素子22を設けて補正した場合には1%以下にする
ことが可能になる。なお、前記実施例においては、分光
手段としてグレーティングを用いたが、これに代えてプ
リズムを用いることもできる。
るが、現実には90%程度であり、凹面鏡16は周囲温
度と同じ温度にある。これにより、理想的には無いはず
の放射が凹面鏡16から生じ、これが光チョッパ6の鏡
面で反射して光検出器17へ入射する。周囲温度の変化
に伴う、凹面鏡16の温度変化分による放射は、光検出
器17の検出値の変動となって現れる。そこで、凹面鏡
16の温度を測温素子22によって検出し、この測定値
に応じて光検出器17の検出値を補正する。このような
補正により、例えば、測温素子22を有しない場合には
光検出器17の出力値に1〜2%の変動が見られるが、
測温素子22を設けて補正した場合には1%以下にする
ことが可能になる。なお、前記実施例においては、分光
手段としてグレーティングを用いたが、これに代えてプ
リズムを用いることもできる。
【0020】
【発明の効果】本発明は上記の通り構成されているので
、次に記載する効果を奏する。請求項1の微弱信号用分
光器においては、測定対象からの放射光を一点に集光さ
せる集光光学系と、その集光点にピンホールが位置する
ように配設されたピンホール板と、前記集光光学系から
の光を前記ピンホールへ断続的に入射させる光チョッパ
と、前記ピンホールからの光を分光するグレーティング
と、該グレーティングからの光を光電変換する光検出器
とを備えた微弱信号用分光器において、前記光チョッパ
に対向する面の前記ピンホールの周囲に設けられる凹面
鏡と、前記光チョッパの前記凹面鏡に対向する面に設け
られる鏡面とを設け、さらに光検出器を一定温度に保持
する恒温手段を設けたので、高精度かつ高感度に測定が
行えると共に、周囲温度による出力変動を招くこともな
い。請求項2の微弱信号用分光器においては、凹面鏡の
近傍に測温素子を装着し、その測温値に基づいて前記光
検出器の出力値を補正するようにしたので、光検出器の
出力を補正できるようになり、凹面鏡自体からの放射に
よる誤差分を無くし、測定精度を向上させることができ
る。
、次に記載する効果を奏する。請求項1の微弱信号用分
光器においては、測定対象からの放射光を一点に集光さ
せる集光光学系と、その集光点にピンホールが位置する
ように配設されたピンホール板と、前記集光光学系から
の光を前記ピンホールへ断続的に入射させる光チョッパ
と、前記ピンホールからの光を分光するグレーティング
と、該グレーティングからの光を光電変換する光検出器
とを備えた微弱信号用分光器において、前記光チョッパ
に対向する面の前記ピンホールの周囲に設けられる凹面
鏡と、前記光チョッパの前記凹面鏡に対向する面に設け
られる鏡面とを設け、さらに光検出器を一定温度に保持
する恒温手段を設けたので、高精度かつ高感度に測定が
行えると共に、周囲温度による出力変動を招くこともな
い。請求項2の微弱信号用分光器においては、凹面鏡の
近傍に測温素子を装着し、その測温値に基づいて前記光
検出器の出力値を補正するようにしたので、光検出器の
出力を補正できるようになり、凹面鏡自体からの放射に
よる誤差分を無くし、測定精度を向上させることができ
る。
【図1】本発明による微弱信号用分光器の一実施例を示
す構成図である。
す構成図である。
【図2】本発明による光検出器の詳細構成を示す断面図
である。
である。
【図3】本発明による凹面鏡の反射動作を示す説明図で
ある。
ある。
【図4】本発明による微弱信号用分光器の他の実施例を
示す構成図である。
示す構成図である。
【図5】従来の分光器を示す構成図である。
【図6】図5に示す光検出器の詳細を示す断面図である
。
。
2 集光ミラー
3 コリメートミラー
4 ピンホール
5 ピンホール板
6 光チョッパ
7 モータ
8 グレーティング
9 集光ミラー
11 パッケージ
12 光検出素子
14 反射ミラー
15 黒体炉
16 凹面鏡
17 光検出器
20 冷却部材
21 冷却手段
Claims (2)
- 【請求項1】 測定対象からの放射光を一点に集光さ
せる集光光学系と、その集光点にピンホールが位置する
ように配設されたピンホール板と、前記集光光学系から
の光を前記ピンホールへ断続的に入射させる光チョッパ
と、前記ピンホールからの光を分光する分光素子と、該
分光素子からの光を光電変換する光検出器とを備えた微
弱信号用分光器において、前記光チョッパに対向する面
の前記ピンホールの周囲に設けられる凹面鏡と、前記光
チョッパの前記凹面鏡に対向する面に設けられる鏡面と
を具備し、前記光検出器を一定温度に保持する恒温手段
を設けたことを特徴とする微弱信号用分光器。 - 【請求項2】 請求項1の凹面鏡の近傍に測温素子を
装着し、その測温値に基づいて前記光検出器の出力値を
補正することを特徴とする請求項1の微弱信号用分光器
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3016844A JPH0663861B2 (ja) | 1991-01-18 | 1991-01-18 | 微弱信号用分光器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3016844A JPH0663861B2 (ja) | 1991-01-18 | 1991-01-18 | 微弱信号用分光器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04236334A true JPH04236334A (ja) | 1992-08-25 |
| JPH0663861B2 JPH0663861B2 (ja) | 1994-08-22 |
Family
ID=11927520
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3016844A Expired - Lifetime JPH0663861B2 (ja) | 1991-01-18 | 1991-01-18 | 微弱信号用分光器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0663861B2 (ja) |
-
1991
- 1991-01-18 JP JP3016844A patent/JPH0663861B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0663861B2 (ja) | 1994-08-22 |
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| Date | Code | Title | Description |
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