JPH04237941A - 電場セクタ用電極 - Google Patents
電場セクタ用電極Info
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- JPH04237941A JPH04237941A JP3004436A JP443691A JPH04237941A JP H04237941 A JPH04237941 A JP H04237941A JP 3004436 A JP3004436 A JP 3004436A JP 443691 A JP443691 A JP 443691A JP H04237941 A JPH04237941 A JP H04237941A
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- Japan
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- electrode
- electric field
- electrodes
- voltage
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、質量分析装置等に用い
られる電場セクタ用の電極の構造に関するものである。
られる電場セクタ用の電極の構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】質量分析装置においては、通常、電場セ
クタと磁場セクタが配置される。そして、電場セクタと
磁場セクタは、光軸(以下、光軸をZ軸とする)に沿っ
て電場セクタ、磁場セクタの順にそれぞれ単独に直列に
配置されることも、同一位置に配置されて重畳場を形成
することもある。電場セクタ用の電極としては、絶縁体
上に複数の線状電極を配置した、いわゆる多電極構造の
もの、あるいは、左右に配置された2極の主電極の上下
に、通称松田プレートと称される補助電極を配置した構
造のもの等が知られている。
クタと磁場セクタが配置される。そして、電場セクタと
磁場セクタは、光軸(以下、光軸をZ軸とする)に沿っ
て電場セクタ、磁場セクタの順にそれぞれ単独に直列に
配置されることも、同一位置に配置されて重畳場を形成
することもある。電場セクタ用の電極としては、絶縁体
上に複数の線状電極を配置した、いわゆる多電極構造の
もの、あるいは、左右に配置された2極の主電極の上下
に、通称松田プレートと称される補助電極を配置した構
造のもの等が知られている。
【0003】図11は前者の構成例を示す図であり、図
11Aは平面図、同図Bは図11AのA−Aから見た側
面図である。Z軸の上下には、それぞれ、上側抵抗膜電
極40、下側抵抗膜電極41が配置され、内側電極42
および外側電極43により所定の間隔をもって配置され
る。上側抵抗膜電極40および下側抵抗膜電極41は、
それぞれ、抵抗膜上に、例えば 0.2 mm 幅の白
金からなる線状電極が、例えば 2.5 mm のピッ
チで形成されている。従って、例えば、内側電極42に
所定の負の電位を、外側電極43に正の電位を与えると
、上側抵抗膜電極40と下側抵抗膜電極41との間に形
成される等電位面は図11Bの46で示すようになり、
従って、電場は図の矢印47で示す方向となるから、正
の電荷を有するイオンビームは矢印47とは反対の方向
、即ち内側電極42側に曲げられることになる。なお、
図11Aにおいて、44、45はシャント板であり、当
該電場セクタの入射口および出射口にそれぞれ所定の間
隔dをもって配置されている。
11Aは平面図、同図Bは図11AのA−Aから見た側
面図である。Z軸の上下には、それぞれ、上側抵抗膜電
極40、下側抵抗膜電極41が配置され、内側電極42
および外側電極43により所定の間隔をもって配置され
る。上側抵抗膜電極40および下側抵抗膜電極41は、
それぞれ、抵抗膜上に、例えば 0.2 mm 幅の白
金からなる線状電極が、例えば 2.5 mm のピッ
チで形成されている。従って、例えば、内側電極42に
所定の負の電位を、外側電極43に正の電位を与えると
、上側抵抗膜電極40と下側抵抗膜電極41との間に形
成される等電位面は図11Bの46で示すようになり、
従って、電場は図の矢印47で示す方向となるから、正
の電荷を有するイオンビームは矢印47とは反対の方向
、即ち内側電極42側に曲げられることになる。なお、
図11Aにおいて、44、45はシャント板であり、当
該電場セクタの入射口および出射口にそれぞれ所定の間
隔dをもって配置されている。
【0004】図12は後者の電極の構成例を示す斜視図
であり、主電極50,51はZ軸に対して回転対称に配
置されて偏向器として機能し、該主電極50,51の上
下には、通称松田プレートと称される補助電極52,5
3を備えている。そして、補助電極52,53には所定
の電圧が印加されて同電位となされる。また、主電極5
0,51には、イオンが陰イオンの場合には、それぞれ
Vd, −Vd (Vd >0)が印加され、陽イオン
の場合にはそれぞれ−Vd , Vd が印加される。
であり、主電極50,51はZ軸に対して回転対称に配
置されて偏向器として機能し、該主電極50,51の上
下には、通称松田プレートと称される補助電極52,5
3を備えている。そして、補助電極52,53には所定
の電圧が印加されて同電位となされる。また、主電極5
0,51には、イオンが陰イオンの場合には、それぞれ
Vd, −Vd (Vd >0)が印加され、陽イオン
の場合にはそれぞれ−Vd , Vd が印加される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図11
の構成の電極においては、電場強度の広い範囲に渡って
理論計算通りの制御を行うことができるばかりでなく、
上側抵抗膜電極40と下側抵抗膜電極41との間のギャ
ップGを 15mm 程度あるいはそれ以下に狭くする
ことができるので、当該電場セクタの上下に磁極を配置
して重畳場を形成する場合には磁場を形成するためのア
ンペア・ターンを小さくできるという利点を有するもの
の、線状電極の位置には高い精度が求められるので、製
作上の問題があり、特に線状電極の数が多い場合には製
作が困難となる。また、線状電極を形成する絶縁体の抵
抗値は経年変化により徐々に低くなるが、これを避ける
ことができないという問題もある。また、図12に示す
構成の電極においては、構造が簡単なので製作が容易で
あり、しかも補助電極に印加する電圧を変化させること
によって、電場強度と磁場強度の広い範囲に渡って集束
条件を一定に保つことができるが、当該電極を重畳場に
使用し、良好な分解能を得るためには、補助電極52,
53の間のギャップGは 30 〜 40 mm程度は
必要となり、大型になるばかりでなく、所定の磁場強度
を得るためには多くのアンペア・ターンが必要となると
いう問題があり、更に、電場に歪みが生じ、且つ電場の
3次の係数が大きくなり、重畳場型質量分析装置として
の分解能が低下してしまうという問題がある。本発明は
、上記の課題を解決するものであって、小型で製作が容
易で、且つ電場のコントロールを容易にできる電場セク
タ用電極を提供することを目的とするものである。
の構成の電極においては、電場強度の広い範囲に渡って
理論計算通りの制御を行うことができるばかりでなく、
上側抵抗膜電極40と下側抵抗膜電極41との間のギャ
ップGを 15mm 程度あるいはそれ以下に狭くする
ことができるので、当該電場セクタの上下に磁極を配置
して重畳場を形成する場合には磁場を形成するためのア
ンペア・ターンを小さくできるという利点を有するもの
の、線状電極の位置には高い精度が求められるので、製
作上の問題があり、特に線状電極の数が多い場合には製
作が困難となる。また、線状電極を形成する絶縁体の抵
抗値は経年変化により徐々に低くなるが、これを避ける
ことができないという問題もある。また、図12に示す
構成の電極においては、構造が簡単なので製作が容易で
あり、しかも補助電極に印加する電圧を変化させること
によって、電場強度と磁場強度の広い範囲に渡って集束
条件を一定に保つことができるが、当該電極を重畳場に
使用し、良好な分解能を得るためには、補助電極52,
53の間のギャップGは 30 〜 40 mm程度は
必要となり、大型になるばかりでなく、所定の磁場強度
を得るためには多くのアンペア・ターンが必要となると
いう問題があり、更に、電場に歪みが生じ、且つ電場の
3次の係数が大きくなり、重畳場型質量分析装置として
の分解能が低下してしまうという問題がある。本発明は
、上記の課題を解決するものであって、小型で製作が容
易で、且つ電場のコントロールを容易にできる電場セク
タ用電極を提供することを目的とするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の電場セクタ用電極は、対向して配置され
た補助電極の間に光軸に対して回転対称に配置された主
電極を備える電場セクタ用電極において、前記主電極は
複数対の電極を備えることを特徴とする。
めに、本発明の電場セクタ用電極は、対向して配置され
た補助電極の間に光軸に対して回転対称に配置された主
電極を備える電場セクタ用電極において、前記主電極は
複数対の電極を備えることを特徴とする。
【0007】
【作用】光軸に対して回転対称に配置される二つの主電
極は、それぞれ同じ個数に複数分割されており、且つそ
れぞれの主電極の対応する分割電極は対をなしている。
極は、それぞれ同じ個数に複数分割されており、且つそ
れぞれの主電極の対応する分割電極は対をなしている。
【0008】
【実施例】以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。
図1は本発明に係る電場セクタ用電極を重畳場型質量分
析装置に適用した場合の一実施例の構成を示す図であり
、図1Aは断面図、図1Bは平面図である。外側主電極
2L は、3L , 4L , 5L の3つの電極を
備え、内側主電極2R は3R , 4R , 5R
の3つの電極を備えている。電極3L と電極3R 、
電極4L と電極4R 、電極5L と電極5Rはそれ
ぞれ対をなし、Z軸に対して回転対称となる位置に配置
されている。外側主電極2L と内側主電極2R の上
下には、それぞれ補助電極6,7がx軸に対して平面対
称に配置されている。そして、外側主電極2L 、内側
主電極2R 及び補助電極6,7の4種類の電極で構成
される電場セクタ用電極の上下には、それぞれポールピ
ース1,10が配置され、これによって重畳場が形成さ
れる。なお、図1Bにおいてはポールピース6,7は省
略されており、8は入射口側ヘルツォークシャント、9
は出射口側ヘルツォークシャントを示す。各電極には図
1Aに示すような電圧が印加される。即ち、電極3L
と電極5Lには電圧V2 が印加され、電極3R と電
極5R には電圧V1 が印加され、補助電極6,7に
は電圧V3 が印加される。そして、電極4L に電圧
V4 (但し、V4>0)が印加された場合には、電極
4R には−V4 の電圧が印加される。
析装置に適用した場合の一実施例の構成を示す図であり
、図1Aは断面図、図1Bは平面図である。外側主電極
2L は、3L , 4L , 5L の3つの電極を
備え、内側主電極2R は3R , 4R , 5R
の3つの電極を備えている。電極3L と電極3R 、
電極4L と電極4R 、電極5L と電極5Rはそれ
ぞれ対をなし、Z軸に対して回転対称となる位置に配置
されている。外側主電極2L と内側主電極2R の上
下には、それぞれ補助電極6,7がx軸に対して平面対
称に配置されている。そして、外側主電極2L 、内側
主電極2R 及び補助電極6,7の4種類の電極で構成
される電場セクタ用電極の上下には、それぞれポールピ
ース1,10が配置され、これによって重畳場が形成さ
れる。なお、図1Bにおいてはポールピース6,7は省
略されており、8は入射口側ヘルツォークシャント、9
は出射口側ヘルツォークシャントを示す。各電極には図
1Aに示すような電圧が印加される。即ち、電極3L
と電極5Lには電圧V2 が印加され、電極3R と電
極5R には電圧V1 が印加され、補助電極6,7に
は電圧V3 が印加される。そして、電極4L に電圧
V4 (但し、V4>0)が印加された場合には、電極
4R には−V4 の電圧が印加される。
【0009】次に、形成される電場について説明する。
【0010】ところで、図1に示すようなZ軸に関して
回転対称な電場のイオン光学的な特性は、図1Aのx−
y平面における任意の点(x,y)の電位φを下記の(
1)式のように展開したときの係数Ui0(i=1,2
,……)、即ちx方向についての電位φの変化率によっ
て決定されることが知られている。
回転対称な電場のイオン光学的な特性は、図1Aのx−
y平面における任意の点(x,y)の電位φを下記の(
1)式のように展開したときの係数Ui0(i=1,2
,……)、即ちx方向についての電位φの変化率によっ
て決定されることが知られている。
【0011】
【数1】
【0012】但し、aは図1Bに示すようにZ軸の回転
半径であり、また係数Ui0は、
半径であり、また係数Ui0は、
【0013】
【数2】
【0014】で表される。従って、E0 は、x−y平
面の原点における電場強度をEとしたとき、電位の1次
の係数U10を用いて、−E/U10で求められる値で
ある。
面の原点における電場強度をEとしたとき、電位の1次
の係数U10を用いて、−E/U10で求められる値で
ある。
【0015】イオン光学では、電位については4次の係
数まで、即ち軌道については3次の係数までを考慮すれ
ば十分であるので、結局重畳場のイオン光学的特性はU
10,U20,U30,U40の4つの係数で決定され
ることになる。なお、これらはそれぞれ下記の(3)式
、(4)式、(5)式、(6)式で与えられる。
数まで、即ち軌道については3次の係数までを考慮すれ
ば十分であるので、結局重畳場のイオン光学的特性はU
10,U20,U30,U40の4つの係数で決定され
ることになる。なお、これらはそれぞれ下記の(3)式
、(4)式、(5)式、(6)式で与えられる。
【0016】
【数3】
【0017】
【数4】
【0018】
【数5】
【0019】
【数6】
【0020】ここでVはイオンの加速電圧である。そし
て、これら4つの係数U10,U20,U30,U40
の値は各電極に印加される4つの電圧V1 , V2
, V3 ,V4 の組合せにより決定され、係数U1
0,U20,U30,U40が決定されることによって
、5次以上の係数U50,U60,……の値が自動的に
定まる。なお、2次の係数U20は軌道の1次収差を支
配する係数であり、3次の係数U30は軌道の2次収差
を支配する係数であり、4次の係数U40は軌道の3次
の収差に影響する係数である。U10,U20,U30
,U40の特定の値の組に対する電場、従って各電極に
印加する電圧V1 , V2 , V3 , V4 の
値は、例えば表面電荷法とシンプレックス(SIMPE
X)法を組み合わせてシミュレーションを行うことによ
り、精度よく求めることができる。その例を以下に説明
する。
て、これら4つの係数U10,U20,U30,U40
の値は各電極に印加される4つの電圧V1 , V2
, V3 ,V4 の組合せにより決定され、係数U1
0,U20,U30,U40が決定されることによって
、5次以上の係数U50,U60,……の値が自動的に
定まる。なお、2次の係数U20は軌道の1次収差を支
配する係数であり、3次の係数U30は軌道の2次収差
を支配する係数であり、4次の係数U40は軌道の3次
の収差に影響する係数である。U10,U20,U30
,U40の特定の値の組に対する電場、従って各電極に
印加する電圧V1 , V2 , V3 , V4 の
値は、例えば表面電荷法とシンプレックス(SIMPE
X)法を組み合わせてシミュレーションを行うことによ
り、精度よく求めることができる。その例を以下に説明
する。
【0021】1次のオーダーで二重集束であり、且つ立
体集束を成立させる重畳場を形成するための電場は、U
10=−1.0 且つU20=0である必要があること
が分かっている。また、U30及びU40も零の近傍が
よいことが本発明者による実験を含めた理論的検討によ
り明らかになっている。そして、イオン加速電圧VをV
= 3.0kVとしたとき、U10=−1.0 ,U2
0=U30=U40=0となる電圧値は、V1 =V1
0,V2 =V20,V3 =V30,V4 =V40
とおくと、計算により次のような値となる。 V10=−1.244389×102 (V)
…(7)V20= 3.083180×10
2 (V) …(8)V30=−1.399
793×102 (V) …(9)V4
0=−1.999861×102 (V)
…(10)しかし、実際にはフリンジ場や端面場の
影響によって1次の集束条件がずれるので、U10,U
20,U30,U40の値は上記の値からずれ、従って
各電極に印加する電圧V10,V20,V30,V40
の値も異なってくる。このときのx−y平面の原点にお
けるU10,U20,U30,U40の値を、それぞれ
U100,U200,U300,U400 とおくと、
原点からのUi0(i=1,2,3,4)の変化は次の
式で表すことができる。 △U1 =U10−U100
…(11)△U2 =U20−U200
…(12)△
U3 =U30−U300
…(13)△U4 =U40−U400
…(14)そし
て、このとき、△V1 =V1 −V10,△V2 =
V2 −V20,△V3 =V3 −V30,△V4
=V4 −V40として、
体集束を成立させる重畳場を形成するための電場は、U
10=−1.0 且つU20=0である必要があること
が分かっている。また、U30及びU40も零の近傍が
よいことが本発明者による実験を含めた理論的検討によ
り明らかになっている。そして、イオン加速電圧VをV
= 3.0kVとしたとき、U10=−1.0 ,U2
0=U30=U40=0となる電圧値は、V1 =V1
0,V2 =V20,V3 =V30,V4 =V40
とおくと、計算により次のような値となる。 V10=−1.244389×102 (V)
…(7)V20= 3.083180×10
2 (V) …(8)V30=−1.399
793×102 (V) …(9)V4
0=−1.999861×102 (V)
…(10)しかし、実際にはフリンジ場や端面場の
影響によって1次の集束条件がずれるので、U10,U
20,U30,U40の値は上記の値からずれ、従って
各電極に印加する電圧V10,V20,V30,V40
の値も異なってくる。このときのx−y平面の原点にお
けるU10,U20,U30,U40の値を、それぞれ
U100,U200,U300,U400 とおくと、
原点からのUi0(i=1,2,3,4)の変化は次の
式で表すことができる。 △U1 =U10−U100
…(11)△U2 =U20−U200
…(12)△
U3 =U30−U300
…(13)△U4 =U40−U400
…(14)そし
て、このとき、△V1 =V1 −V10,△V2 =
V2 −V20,△V3 =V3 −V30,△V4
=V4 −V40として、
【0022】
【数15】
【0023】
【数16】
【0024】
【数17】
【0025】
【数18】
【0026】が成り立ち、また、
【0027】
【数19】
【0028】とおくと、
【0029】
【数20】
【0030】とマトリクスで表すことができ、従って、
【0031】
【数21】
【0032】となり、必要なUi0の値が求められ、従
って△Ui が求められた場合には、この(21)式を
用いてVi を求めることができる。なお、(21)式
は|△Ui |≒ 1.0及び|△Ui |<1.0
の範囲では(20)式、(21)式がかなり正確に成立
していることは表面電荷法等により確認されている。こ
こで、U100 =−1,U200=U300=U40
0=0のときのAijの値は、各電極の寸法が図2に示
すようであるとき、図3に示す値となることがシミュレ
ーションにより求められている。 なお、図2において数値の単位はmmである。
って△Ui が求められた場合には、この(21)式を
用いてVi を求めることができる。なお、(21)式
は|△Ui |≒ 1.0及び|△Ui |<1.0
の範囲では(20)式、(21)式がかなり正確に成立
していることは表面電荷法等により確認されている。こ
こで、U100 =−1,U200=U300=U40
0=0のときのAijの値は、各電極の寸法が図2に示
すようであるとき、図3に示す値となることがシミュレ
ーションにより求められている。 なお、図2において数値の単位はmmである。
【0033】図4は、U20,U30,U40の値を原
点に固定した状態、即ちU20=U200=0,U30
=U300=0,U40=U400=0の状態において
、U10を変化させたときの電圧Vi (i =1,2
,3,4 )の変化を示す図であり、図5は、U10,
U30,U40の値を原点に固定した状態、即ちU10
=U100 =−1,U30=U300=0,U40=
U400=0の状態においてU20を変化させたときの
電圧Vi の変化を示す図であり、図6は同様に、U1
0=U100 =−1,U20=U200=0,U40
=U400=0の状態において、U30を変化させたと
きの電圧Vi の変化を示す図であり、図7はU10=
U100 =−1,U20=U200=0,U30=U
300=0の状態においてU40を変化させたときの電
圧Vi の変化を示す図である。なお、図4〜図7にお
いては電圧Vi は偏向の基準電圧(V0 = 200
Vで規格化されて表されている。図4〜図7から容易に
理解できるように、U10,U20,U30,U40の
中の一つだけを変化させ、残りの係数を固定したときの
電圧Vi の変化は、広い範囲に渡って直線で表される
ことが分かる。特に、U30を変化させたときには、図
6から明らかなように、U30が± 1.0程度変化し
ても規格化された値(Vi /V0 )はグラフ上では
殆ど変化しない。従って、図6には、原点における電圧
Vi0からのずれ、即ち△Vi が示されているもので
ある。これによれば、U30が−1.0 〜1.0 ま
で変化するとき各Vi の変化△Vi は殆ど1V以下
であり、このことは逆にV1,V2,V3 が少し変化
してもU30は大きく変化することを示している。
点に固定した状態、即ちU20=U200=0,U30
=U300=0,U40=U400=0の状態において
、U10を変化させたときの電圧Vi (i =1,2
,3,4 )の変化を示す図であり、図5は、U10,
U30,U40の値を原点に固定した状態、即ちU10
=U100 =−1,U30=U300=0,U40=
U400=0の状態においてU20を変化させたときの
電圧Vi の変化を示す図であり、図6は同様に、U1
0=U100 =−1,U20=U200=0,U40
=U400=0の状態において、U30を変化させたと
きの電圧Vi の変化を示す図であり、図7はU10=
U100 =−1,U20=U200=0,U30=U
300=0の状態においてU40を変化させたときの電
圧Vi の変化を示す図である。なお、図4〜図7にお
いては電圧Vi は偏向の基準電圧(V0 = 200
Vで規格化されて表されている。図4〜図7から容易に
理解できるように、U10,U20,U30,U40の
中の一つだけを変化させ、残りの係数を固定したときの
電圧Vi の変化は、広い範囲に渡って直線で表される
ことが分かる。特に、U30を変化させたときには、図
6から明らかなように、U30が± 1.0程度変化し
ても規格化された値(Vi /V0 )はグラフ上では
殆ど変化しない。従って、図6には、原点における電圧
Vi0からのずれ、即ち△Vi が示されているもので
ある。これによれば、U30が−1.0 〜1.0 ま
で変化するとき各Vi の変化△Vi は殆ど1V以下
であり、このことは逆にV1,V2,V3 が少し変化
してもU30は大きく変化することを示している。
【0034】次に、Ui0が変化したときにイオン光学
的な集束特性がどのように変化するかについて説明する
。 U10の変化△U10は1次のエネルギー収差を与える
。従って、質量分解能3000を得るためには、△U1
0は少なくとも下記の条件を満足する必要がある。
的な集束特性がどのように変化するかについて説明する
。 U10の変化△U10は1次のエネルギー収差を与える
。従って、質量分解能3000を得るためには、△U1
0は少なくとも下記の条件を満足する必要がある。
【0035】
【数22】
【0036】次に、U20は図8から1次の方向集束の
収差に影響する係数であることが分かる。即ち、図8A
,Bはそれぞれ、U10=−1.0 ,U30=2.5
,U40=0に固定し、U20を 0 にした場合、
−0.05にした場合のZ方向のビームの1次の集束点
を示す図であり、これからU20を変化させると1次の
集束点が移動することが理解できる。従って、U20の
変化△U20は少なくとも下記の条件を満足する必要が
ある。
収差に影響する係数であることが分かる。即ち、図8A
,Bはそれぞれ、U10=−1.0 ,U30=2.5
,U40=0に固定し、U20を 0 にした場合、
−0.05にした場合のZ方向のビームの1次の集束点
を示す図であり、これからU20を変化させると1次の
集束点が移動することが理解できる。従って、U20の
変化△U20は少なくとも下記の条件を満足する必要が
ある。
【0037】
【数23】
【0038】次に、U30は、図9からビームの集束点
における2次収差によるビームの広がりに影響すること
が分かる。即ち、図9A,B,C,DはそれぞれU10
,U20,U40を固定し、U30を−5.0 にした
場合、0 にした場合、2.5 にした場合、5.0に
した場合の集束点における2次収差に基づくビームの広
がりを示す図であり、これからU30を変化させると集
束点において2次収差に基づくビームの広がりが変化す
ることが分かる。なお、図9ではU30以外のUi0の
値は、U10=−1.0 ,U20=−0.05,U4
0=0である。そして、ビームの開き角が±1/150
(rad)に対して、U30が 2.5程度変化した場
合には、2次収差によるビームの広がりは 50 μm
程度になることが確認されている。これは質量分解能6
000に相当するものである。従って、U30の変化△
U30は下記の条件を満足する必要がある。
における2次収差によるビームの広がりに影響すること
が分かる。即ち、図9A,B,C,DはそれぞれU10
,U20,U40を固定し、U30を−5.0 にした
場合、0 にした場合、2.5 にした場合、5.0に
した場合の集束点における2次収差に基づくビームの広
がりを示す図であり、これからU30を変化させると集
束点において2次収差に基づくビームの広がりが変化す
ることが分かる。なお、図9ではU30以外のUi0の
値は、U10=−1.0 ,U20=−0.05,U4
0=0である。そして、ビームの開き角が±1/150
(rad)に対して、U30が 2.5程度変化した場
合には、2次収差によるビームの広がりは 50 μm
程度になることが確認されている。これは質量分解能6
000に相当するものである。従って、U30の変化△
U30は下記の条件を満足する必要がある。
【0039】
【数24】
【0040】次に、U40については、U40が 10
程度変化しても理論計算上ではイオンパスは殆ど変わ
らないことが確かめられている。しかし、U40が変化
すると、5次以上の収差によって、図10に示すように
電場に歪みが生じることがシミュレーションの結果明ら
かになっている。図10A,BはそれぞれU10=−1
.0 ,U20=−0.05,U30=2.5 に固定
し、U40を0.45にした場合、−0.45にした場
合の電気力線の様子を示した図であり、図10Aの方が
同図Bよりも電場の歪みが小さいことが分かる。なお、
各電極の寸法は図2に示すものと同じである。
程度変化しても理論計算上ではイオンパスは殆ど変わ
らないことが確かめられている。しかし、U40が変化
すると、5次以上の収差によって、図10に示すように
電場に歪みが生じることがシミュレーションの結果明ら
かになっている。図10A,BはそれぞれU10=−1
.0 ,U20=−0.05,U30=2.5 に固定
し、U40を0.45にした場合、−0.45にした場
合の電気力線の様子を示した図であり、図10Aの方が
同図Bよりも電場の歪みが小さいことが分かる。なお、
各電極の寸法は図2に示すものと同じである。
【0041】以上のことから、図1に示すように二つの
主電極をそれぞれ3分割し、各電極には上下対称となる
電位を与えることによって、イオン光学的な集束条件、
即ちエネルギー集束性(U10)、方向の1次集束性(
U20)及び2次収差(U30)を独立に制御すること
ができ、次に、こうして得られた最適なU10,U20
,U30の組み合わせに対してU40を変化させて良好
な電場が得られる値を求めることによって、良好な電場
を得ることができることが確認されている。
主電極をそれぞれ3分割し、各電極には上下対称となる
電位を与えることによって、イオン光学的な集束条件、
即ちエネルギー集束性(U10)、方向の1次集束性(
U20)及び2次収差(U30)を独立に制御すること
ができ、次に、こうして得られた最適なU10,U20
,U30の組み合わせに対してU40を変化させて良好
な電場が得られる値を求めることによって、良好な電場
を得ることができることが確認されている。
【0042】以上、本発明の一実施例について説明した
が、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種
々の変形が可能である。例えば、上記実施例では主電極
を3分割にしたが、2分割または4分割以上に分割する
こともでき、分割数を多くすることによって、より均一
な電場を発生させることができる。また、補助電極を図
11に示すような多電極で構成することも可能であり、
更に、主電極の電極分割は、上記実施例ではそれぞれ別
個の電極を用いるものとしているが、主電極を多電極で
構成し、線条電極に印加する電圧を変えることによって
、電気的に電極分割を行うことも可能である。
が、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種
々の変形が可能である。例えば、上記実施例では主電極
を3分割にしたが、2分割または4分割以上に分割する
こともでき、分割数を多くすることによって、より均一
な電場を発生させることができる。また、補助電極を図
11に示すような多電極で構成することも可能であり、
更に、主電極の電極分割は、上記実施例ではそれぞれ別
個の電極を用いるものとしているが、主電極を多電極で
構成し、線条電極に印加する電圧を変えることによって
、電気的に電極分割を行うことも可能である。
【0043】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、小型で作成の容易な電場セクタ用電極を得る
ことができるばかりでなく、エネルギー集束性、方向の
1次集束性及び2次収差を独立に制御でき、しかも高次
の収差に基づく電場の歪みも制御できるので、最適な電
場を得ることができる。
によれば、小型で作成の容易な電場セクタ用電極を得る
ことができるばかりでなく、エネルギー集束性、方向の
1次集束性及び2次収差を独立に制御でき、しかも高次
の収差に基づく電場の歪みも制御できるので、最適な電
場を得ることができる。
【図1】 本発明に係る電場セクタ用電極の一実施例
の構成を示す図である。
の構成を示す図である。
【図2】 電極の寸法例を示す図である。
【図3】 Aijの値の例を示す図である。
【図4】 U10のみを変化させたときの各電極電圧
の変化を示す図である。
の変化を示す図である。
【図5】 U20のみを変化させたときの各電極電圧
の変化を示す図である。
の変化を示す図である。
【図6】 U30のみを変化させたときの各電極電圧
の変化を示す図である。
の変化を示す図である。
【図7】 U40のみを変化させたときの各電極電圧
の変化を示す図である。
の変化を示す図である。
【図8】 U20のみを変化させたときのZ方向のビ
ームの1次の集束点のシフトを説明するための図である
。
ームの1次の集束点のシフトを説明するための図である
。
【図9】 U30のみを変化させたときの2次収差に
基づくビームの広がりを説明するための図である。
基づくビームの広がりを説明するための図である。
【図10】 U40を変化させたときに発生する電場
の歪みを説明するための図である。
の歪みを説明するための図である。
【図11】 従来の多電極を示す図である。
【図12】 従来用いられていた電場セクタ用電極の
構成例を示す図である。
構成例を示す図である。
1,10…ポールピース、2…主電極、3,4,5…分
割電極、6,7…補助電極。
割電極、6,7…補助電極。
Claims (1)
- 【請求項1】 対向して配置された補助電極の間に光
軸に対して回転対称に配置された主電極を備える電場セ
クタ用電極において、前記主電極は複数対の電極を備え
ることを特徴とする電場セクタ用電極。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3004436A JPH04237941A (ja) | 1991-01-18 | 1991-01-18 | 電場セクタ用電極 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3004436A JPH04237941A (ja) | 1991-01-18 | 1991-01-18 | 電場セクタ用電極 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04237941A true JPH04237941A (ja) | 1992-08-26 |
Family
ID=11584183
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3004436A Withdrawn JPH04237941A (ja) | 1991-01-18 | 1991-01-18 | 電場セクタ用電極 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04237941A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019509585A (ja) * | 2016-02-19 | 2019-04-04 | ルクセンブルク インスティトゥート オブ サイエンス アンド テクノロジー(リスト) | 質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム |
-
1991
- 1991-01-18 JP JP3004436A patent/JPH04237941A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019509585A (ja) * | 2016-02-19 | 2019-04-04 | ルクセンブルク インスティトゥート オブ サイエンス アンド テクノロジー(リスト) | 質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980514 |