JPH04243181A - Semiconductor laser module - Google Patents

Semiconductor laser module

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Publication number
JPH04243181A
JPH04243181A JP1573891A JP1573891A JPH04243181A JP H04243181 A JPH04243181 A JP H04243181A JP 1573891 A JP1573891 A JP 1573891A JP 1573891 A JP1573891 A JP 1573891A JP H04243181 A JPH04243181 A JP H04243181A
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JP
Japan
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base
semiconductor laser
fixed
peltier element
laser module
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP1573891A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shunichi Sato
俊一 佐藤
Toshio Oya
大矢 利夫
Takayuki Masuko
益子 隆行
Tetsuo Ishizaka
哲男 石坂
Saeko Yokoi
横井 小恵子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Abstract

PURPOSE:To provide a semiconductor laser module in which a Peltier element scarcely deteriorates even if the temperature changes while the module is operated. CONSTITUTION:For example, in a semiconductor laser module having a Peltier element 2, a base secured onto the element 2 by welding, a chip carrier 6 secured onto the base 4, and a semiconductor laser chip 8 secured onto the carrier 6, at least a part of the base 4 where the chip carrier 6 is secured is thinner than the other part.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は半導体レーザモジュール
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor laser module.

【0002】実用化されている光通信システムにおいて
は、一般に、半導体レーザを時系列の電流パルスで強度
変調し、この強度変調された光を光ファイバにより受信
側に伝送するようにしている。半導体レーザチップから
放射された光を効率よく光ファイバに導き入れるために
は、チップから放射された光をレンズ(場合によっては
光ファイバの先端に光ファイバと一体に設けられる)に
より集束させて光ファイバに入射させる必要がある。こ
のため、光通信システムの送信側においては、半導体レ
ーザチップと光ファイバの端末部とを所定の位置関係で
保持してなる半導体レーザモジュールが使用される。
[0002] In optical communication systems that have been put to practical use, a semiconductor laser is generally intensity-modulated with time-series current pulses, and this intensity-modulated light is transmitted to the receiving side via an optical fiber. In order to efficiently guide the light emitted from a semiconductor laser chip into an optical fiber, the light emitted from the chip is focused by a lens (in some cases, installed integrally with the optical fiber at the tip of the optical fiber). It is necessary to input it into the fiber. For this reason, on the transmitting side of an optical communication system, a semiconductor laser module is used in which a semiconductor laser chip and an end portion of an optical fiber are held in a predetermined positional relationship.

【0003】この種の半導体レーザモジュールにおいて
は、半導体レーザチップの冷却用にペルチェ素子が備え
られており、半導体レーザチップはベース及びチップキ
ャリアを介してペルチェ素子上に固定される。
This type of semiconductor laser module is equipped with a Peltier element for cooling the semiconductor laser chip, and the semiconductor laser chip is fixed onto the Peltier element via a base and a chip carrier.

【0004】0004

【従来の技術】従来、図9に示すように、ペルチェ素子
2と、ペルチェ素子2上に溶接固定されたベース4と、
ベース4上に固定された主として放熱用のチップキャリ
ア6と、チップキャリア6上に固定された半導体レーザ
チップ8とを備えた半導体レーザモジュールが公知であ
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, as shown in FIG. 9, a Peltier element 2, a base 4 welded and fixed on the Peltier element 2,
A semiconductor laser module is known that includes a chip carrier 6 fixed on a base 4 mainly for heat dissipation, and a semiconductor laser chip 8 fixed on the chip carrier 6.

【0005】ペルチェ素子は、異種の導体又は半導体の
接点に電流を流すときにジュール熱以外に熱の放出或い
は吸収が生じるペルチェ効果を冷却等に用いたもので、
構造上、2枚の平行なセラミック基板2a,2bと、こ
れらの間に介在する導体又は半導体2cとを備えている
[0005] A Peltier element uses the Peltier effect, which releases or absorbs heat other than Joule heat, for purposes such as cooling, when current is passed through contacts of different types of conductors or semiconductors.
Structurally, it includes two parallel ceramic substrates 2a and 2b and a conductor or semiconductor 2c interposed between them.

【0006】半導体レーザチップ8の駆動に伴って発生
した熱は、ペルチェ素子2の制御電流に応じて、チップ
キャリア6及びベース4を介してペルチェ素子2に吸収
され、この吸収された熱は、図示しないモジュール筐体
を介して外部に放出される。半導体レーザチップ8から
放射された光は、例えばベース4上に固定された図示し
ないレンズにより集束され、図示しない光ファイバに導
き入れられる。
The heat generated when the semiconductor laser chip 8 is driven is absorbed by the Peltier element 2 via the chip carrier 6 and the base 4 in accordance with the control current of the Peltier element 2, and this absorbed heat is It is released to the outside through a module housing (not shown). The light emitted from the semiconductor laser chip 8 is focused by a lens (not shown) fixed on the base 4, for example, and guided into an optical fiber (not shown).

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】従来、例えばSUS材
からなるベース4のペルチェ素子への固定は、表面に金
属ランドが形成されたセラミック基板を備えたペルチェ
素子を用い、上記金属ランドにベース4を溶接すること
により行われていた。
[Problems to be Solved by the Invention] Conventionally, in order to fix the base 4 made of, for example, a SUS material to a Peltier element, a Peltier element having a ceramic substrate with a metal land formed on the surface was used, and the base 4 was fixed to the Peltier element on the metal land. This was done by welding.

【0008】しかしながら、一般にベースとセラミック
基板の線熱膨張係数は大きく異なるので、モジュール使
用時に温度変化が与えられると、ベース及びセラミック
基板に熱応力が作用し、ペルチェ素子が劣化するという
問題があった。ペルチェ素子の劣化は、具体的には、セ
ラミック基板2aの変形に起因する接触抵抗の増大等で
ある。
However, since the linear thermal expansion coefficients of the base and the ceramic substrate generally differ greatly, there is a problem in that when temperature changes are applied to the base and the ceramic substrate during use of the module, thermal stress acts on the base and the ceramic substrate, causing deterioration of the Peltier element. Ta. Specifically, the deterioration of the Peltier element is an increase in contact resistance due to deformation of the ceramic substrate 2a.

【0009】本発明はこのような点に鑑みて創作された
もので、モジュール使用時に温度変化が与えられたとし
てもペルチェ素子が劣化しにくい半導体レーザモジュー
ルを提供することを目的としている。
The present invention was created in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a semiconductor laser module in which the Peltier element does not easily deteriorate even if temperature changes are applied during use of the module.

【0010】0010

【課題を解決するための手段】上述した技術的課題は、
本発明の半導体レーザモジュールの第1乃至第5の構成
のいずれかにより解決される。
[Means for solving the problem] The technical problem mentioned above is
This problem is solved by any one of the first to fifth configurations of the semiconductor laser module of the present invention.

【0011】図1は本発明の半導体レーザモジュールの
第1の構成の原理説明図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of a first configuration of a semiconductor laser module according to the present invention.

【0012】この半導体レーザモジュールは、ペルチェ
素子2と、該ペルチェ素子2上に溶接固定されたベース
4と、該ベース4上に固定されたチップキャリア6と、
該チップキャリア6上に固定された半導体レーザチップ
8とを備えた半導体レーザモジュール(以下「公知のモ
ジュール」という。)において、上記ベース4の少なく
とも上記チップキャリア6が固定される部分を他の部分
よりも薄くして構成される。
This semiconductor laser module includes a Peltier element 2, a base 4 welded and fixed on the Peltier element 2, a chip carrier 6 fixed on the base 4,
In a semiconductor laser module (hereinafter referred to as a "known module") comprising a semiconductor laser chip 8 fixed on the chip carrier 6, at least the part of the base 4 on which the chip carrier 6 is fixed is separated from other parts. It is constructed thinner than the

【0013】本発明の半導体レーザモジュールの第2の
構成は、公知のモジュールにおいて、ベースの溶接部の
近傍に切り込みを形成したものである。
A second configuration of the semiconductor laser module of the present invention is a known module in which a notch is formed in the vicinity of the welded portion of the base.

【0014】本発明の半導体レーザモジュールの第3の
構成は、公知のモジュールにおいて、ベースの表面から
裏面に貫通する孔を形成したものである。
A third configuration of the semiconductor laser module of the present invention is a known module in which a hole penetrating from the front surface to the back surface of the base is formed.

【0015】本発明の半導体レーザモジュールの第4の
構成は、公知のモジュールにおいて、ベースの表面及び
裏面に互い違いに溝を形成したものである。
A fourth configuration of the semiconductor laser module of the present invention is a known module in which grooves are alternately formed on the front and back surfaces of the base.

【0016】本発明の半導体レーザモジュールの第5の
構成は、公知のモジュールにおいて、ベースの溶接部の
近傍に座ぐりを形成したものである。
A fifth configuration of the semiconductor laser module of the present invention is a known module in which a counterbore is formed in the vicinity of the welded portion of the base.

【0017】[0017]

【作用】本発明の第1の構成によると、ベースの少なく
ともチップキャリアが固定される部分を他の部分よりも
薄くしているので、モジュール使用時に温度変化が与え
られたときにベース及びペルチェ素子に生じる熱応力は
、ベースが変形することにより吸収され、ペルチェ素子
が劣化しにくくなる。
[Operation] According to the first configuration of the present invention, at least the part of the base to which the chip carrier is fixed is made thinner than other parts, so that when a temperature change is applied during use of the module, the base and Peltier element Thermal stress generated in the base is absorbed by deformation of the base, making it difficult for the Peltier element to deteriorate.

【0018】本発明の第2又は第3の構成によると、ベ
ースの溶接部の近傍に切り込みを形成するか或いはベー
スの表面から裏面に貫通する孔を形成しているので、従
来構成と比べてベースが変形しやすくなり、第1の構成
におけるのと同様にして、ペルチェ素子が劣化しにくく
なる。
According to the second or third configuration of the present invention, a notch is formed in the vicinity of the welded portion of the base or a hole is formed penetrating from the front surface to the back surface of the base, so that the cost is reduced compared to the conventional configuration. The base becomes easier to deform, and the Peltier element is less likely to deteriorate in the same way as in the first configuration.

【0019】本発明の第4の構成によると、ベースの表
面及び裏面に互い違いに溝を形成しているので、ベース
が変形しやすくなり、同じようにペルチェ素子が劣化し
にくくなる。
According to the fourth aspect of the present invention, since the grooves are formed alternately on the front and back surfaces of the base, the base is easily deformed, and the Peltier element is similarly prevented from deteriorating.

【0020】本発明の第5の構成によると、ベースの溶
接部の近傍に座ぐりを形成しているので、ベースが変形
しやすくなり、同じようにしてペルチェ素子が劣化しに
くくなる。
According to the fifth aspect of the present invention, since the counterbore is formed near the welded portion of the base, the base is easily deformed, and the Peltier element is similarly prevented from deteriorating.

【0021】[0021]

【実施例】以下本発明の実施例を説明する。図2は本発
明の実施例を示す半導体レーザモジュールの斜視図であ
る。
[Examples] Examples of the present invention will be described below. FIG. 2 is a perspective view of a semiconductor laser module showing an embodiment of the present invention.

【0022】10はコバール等からなるモジュール筐体
であり、この筐体10の内部の底面にはペルチェ素子2
が固着されている。12は筐体10内に収容された電子
回路基板である。ペルチェ素子2上に溶接固定されたS
US材からなるベース4上には、その上面に半導体レー
ザチップ8が固定されたチップキャリア6と、半導体レ
ーザチップ8の前方出射光を集束させるための第1レン
ズ14と、半導体レーザチップ8の後方出射光をモニタ
リングするための受光素子16とが固定されている。
Reference numeral 10 denotes a module housing made of Kovar or the like, and a Peltier element 2 is provided on the inside bottom of this housing 10.
is fixed. 12 is an electronic circuit board housed within the housing 10. S welded and fixed on Peltier element 2
On the base 4 made of US material, there is a chip carrier 6 on which a semiconductor laser chip 8 is fixed, a first lens 14 for focusing the forward emitted light of the semiconductor laser chip 8, and a first lens 14 for focusing the forward emitted light of the semiconductor laser chip 8. A light receiving element 16 for monitoring rear emitted light is fixed.

【0023】18は電子回路基板12に搭載されたドラ
イバICであり、このICは半導体レーザチップ8に接
続されている。20は筐体10の内部と外部を電気的に
接続するためのリード端子であり、22は筐体10の側
面に固着された光アイソレータである。24は図示しな
い第2レンズ及び光ファイバ26を備えたファイバアセ
ンブリであり、このアセンブリは位置調整されて光アイ
ソレータ22に固定されている。半導体レーザチップ8
から放射された光は、第1レンズ14及び第2レンズに
より所要のビーム形状にされて光ファイバ26に導き入
れられる。
Reference numeral 18 denotes a driver IC mounted on the electronic circuit board 12, and this IC is connected to the semiconductor laser chip 8. 20 is a lead terminal for electrically connecting the inside and outside of the casing 10, and 22 is an optical isolator fixed to the side surface of the casing 10. A fiber assembly 24 includes a second lens (not shown) and an optical fiber 26, and this assembly is fixed to the optical isolator 22 with its position adjusted. Semiconductor laser chip 8
The light emitted from the optical fiber is shaped into a desired beam shape by the first lens 14 and the second lens, and then guided into the optical fiber 26 .

【0024】図3は本発明の第1実施例を示す半導体レ
ーザモジュールの要部斜視図であり、ペルチェ素子及び
その上に搭載された部品(第1レンズ及び受光素子の図
示は省略)が図示されている。この実施例では第1の構
成が採用されており、ベース4はその四隅に対応する肉
厚部4aと肉厚部を除いた部分に対応する肉薄部4bと
からなる。ベースの肉薄部4bには、肉厚部4aに隣接
して肉薄部の外側から内側に向かって8つの切り込み4
cが形成されており、チップキャリア6はベースの肉薄
部4b上に切欠き4cにかからないように搭載されてい
る。半導体レーザチップ8は、このチップの底面及びチ
ップキャリア6の上面に金を蒸着し、例えばAu/Sn
半田を用いてチップキャリア6上に固定される。ペルチ
ェ素子2は、2枚の平行なセラミック基板2a,2bと
これらの間に介在する導体又は半導体2cとからなる。 28はセラミック基板2aの半導体レーザチップ等を搭
載する面上に固着された銅プレート等からなる金属ラン
ドであり、ベース4はその肉厚部4aを金属ランド28
にレーザ溶接することによりペルチェ素子2上に溶接固
定されている。
FIG. 3 is a perspective view of a main part of a semiconductor laser module showing a first embodiment of the present invention, in which a Peltier element and parts mounted thereon (the first lens and the light receiving element are not shown) are shown. has been done. In this embodiment, the first configuration is adopted, and the base 4 includes thick portions 4a corresponding to the four corners thereof and thin portions 4b corresponding to the portions excluding the thick portions. The thin wall portion 4b of the base has eight notches 4 adjacent to the thick wall portion 4a from the outside to the inside of the thin wall portion.
c is formed, and the chip carrier 6 is mounted on the thin part 4b of the base so as not to overlap the notch 4c. The semiconductor laser chip 8 has gold deposited on the bottom surface of the chip and the top surface of the chip carrier 6, for example, Au/Sn.
It is fixed onto the chip carrier 6 using solder. The Peltier element 2 consists of two parallel ceramic substrates 2a, 2b and a conductor or semiconductor 2c interposed between them. Reference numeral 28 denotes a metal land made of a copper plate or the like fixed on the surface of the ceramic substrate 2a on which a semiconductor laser chip or the like is mounted.
It is welded and fixed onto the Peltier element 2 by laser welding.

【0025】本実施例によると、ベースの肉薄部4bに
切り込み4cを複数(図では8)形成しているので、本
発明の第1の構成において切り込みを形成しない場合と
比較して、ベース4がより変形しやすくなり、ペルチェ
素子がさらに劣化しにくくなる。
According to this embodiment, since a plurality of notches 4c (8 in the figure) are formed in the thin portion 4b of the base, the base 4 becomes more easily deformed, and the Peltier element becomes more difficult to deteriorate.

【0026】図4は本発明の第2実施例を示す半導体レ
ーザモジュールの要部斜視図であり、この実施例におい
ても第1の構成が採用されている。この実施例では、ベ
ースの肉薄部4bに切り込みを形成するのではなく、ベ
ースの肉厚部4aにセラミック基板2aと概略平行に切
り込み4dを形成している。ベースの肉厚部4aにはそ
れぞれ2つの切り込み4dが形成されており、これら2
つの切り込みの形成方向は互いに直交している。
FIG. 4 is a perspective view of a main part of a semiconductor laser module showing a second embodiment of the present invention, and the first configuration is also adopted in this embodiment. In this embodiment, a notch 4d is not formed in the thin part 4b of the base, but a notch 4d is formed in the thick part 4a of the base substantially parallel to the ceramic substrate 2a. Two notches 4d are formed in each thick part 4a of the base, and these two
The formation directions of the two cuts are perpendicular to each other.

【0027】この実施例によると、第1実施例における
のと同様にベースの線熱膨張係数とセラミック基板2a
の線熱膨張係数の差に起因して生じる熱応力は、ベース
4の特に肉厚部4aが変形することにより吸収され、ペ
ルチェ素子2が劣化しにくい。つまり、セラミック基板
2aが変形しにくいので、導体又は半導体2cとセラミ
ック基板2aの接合部分に不所望な応力が加わりにくく
、接触抵抗が増大する等の恐れがない。尚、本実施例に
おいて、ベースの肉厚部4aに形成する切り込みの形成
方向が互いに直交するようにしているのは、ベース4が
各方向に均一に変形しやすくするためである。
According to this embodiment, the linear thermal expansion coefficient of the base and the ceramic substrate 2a are similar to the first embodiment.
Thermal stress caused by the difference in linear thermal expansion coefficients is absorbed by deforming the thick portion 4a of the base 4, so that the Peltier element 2 is less likely to deteriorate. In other words, since the ceramic substrate 2a is difficult to deform, undesired stress is less likely to be applied to the joint between the conductor or semiconductor 2c and the ceramic substrate 2a, and there is no fear that contact resistance will increase. In this embodiment, the directions of the cuts formed in the thick portion 4a of the base are perpendicular to each other in order to make it easier for the base 4 to deform uniformly in each direction.

【0028】図5は本発明の第3実施例を示す半導体レ
ーザモジュールの要部斜視図であり、この実施例では第
2の構成が採用されている。即ち、ベース4の溶接部(
図中黒点で示される)の近傍に切り込み4eを形成する
ことによって、セラミック基板2a上におけるベース4
の変形を容易ならしめているものである。図示された例
では、切り込み4eはチップキャリア6の両側に互い違
いに2つ形成されている。このような位置に切り込み4
eを形成すると、温度変化によりベース4が変形したと
きに、半導体レーザチップ8のモジュール筐体に対する
位置ずれを小さく抑えることができるので、高い光結合
効率を維持することが可能になる。
FIG. 5 is a perspective view of a main part of a semiconductor laser module showing a third embodiment of the present invention, in which the second configuration is adopted. That is, the welded part of the base 4 (
The base 4 on the ceramic substrate 2a is formed by forming a notch 4e in the vicinity of the
This makes it easy to transform. In the illustrated example, two notches 4e are formed alternately on both sides of the chip carrier 6. Make a cut at a position like this 4
When the base 4 is deformed due to a temperature change, the positional deviation of the semiconductor laser chip 8 with respect to the module housing can be suppressed to a small value by forming the base 4, thereby making it possible to maintain high optical coupling efficiency.

【0029】図6は本発明の第4実施例を示す半導体レ
ーザモジュールの要部斜視図であり、この実施例では第
3の構成が採用されている。即ち、ベース4におけるチ
ップキャリア6が固着されている部分以外の部分にベー
ス4の表面から裏面に貫通する孔4fを形成することに
よって、セラミック基板2a上におけるベース4の変形
を容易ならしめている。図示された例では、ベースの孔
4fはチップキャリア6の両側に同じ形状及び大きさで
形成されており、これによって、第3実施例におけるの
と同様に、温度変化が与えられたときに半導体レーザチ
ップ8がモジュール筐体に対して位置ずれしにくくなる
FIG. 6 is a perspective view of a main part of a semiconductor laser module showing a fourth embodiment of the present invention, in which the third configuration is adopted. That is, by forming a hole 4f penetrating from the front surface to the back surface of the base 4 in a portion of the base 4 other than the portion to which the chip carrier 6 is fixed, deformation of the base 4 on the ceramic substrate 2a is facilitated. In the illustrated example, the holes 4f in the base are formed with the same shape and size on both sides of the chip carrier 6, so that when a temperature change is applied, the holes 4f in the base The laser chip 8 is less likely to be misaligned with respect to the module housing.

【0030】図7は本発明の第5実施例を示す半導体レ
ーザモジュールの要部斜視図であり、この実施例では第
4の構成が採用されている。即ち、ベース4の表面及び
裏面に互い違いに複数の溝4gを形成することによって
、ペルチェ素子のセラミック基板2a上におけるベース
4の変形を容易にしている。ベース4の表面側において
は、チップキャリア6の両側にチップキャリア6と平行
に溝4gをそれぞれ1つずつ形成し、ベース4の裏面側
には、上記表面側の溝を挟むようにそれぞれ2つの溝4
gを形成している。溝の形状、幅及び間隙は、チップキ
ャリア6の両側で等しく設定されており、この構成によ
り、温度変化が与えられたときにチップキャリア8がモ
ジュール筐体に対して位置ずれしにくくなっている。
FIG. 7 is a perspective view of a main part of a semiconductor laser module showing a fifth embodiment of the present invention, and this embodiment employs the fourth configuration. That is, by forming a plurality of grooves 4g alternately on the front and back surfaces of the base 4, the base 4 can be easily deformed on the ceramic substrate 2a of the Peltier element. On the front side of the base 4, one groove 4g is formed on each side of the chip carrier 6 in parallel with the chip carrier 6, and on the back side of the base 4, two grooves are formed on each side so as to sandwich the groove on the front side. Groove 4
g. The shape, width, and gap of the grooves are set to be equal on both sides of the chip carrier 6, and this configuration makes it difficult for the chip carrier 8 to shift relative to the module housing when a temperature change is applied. .

【0031】図8は本発明の第6実施例を示す半導体レ
ーザモジュールの要部斜視図であり、この実施例では第
5の構成が採用されている。即ち、ベース4のセラミッ
ク基板2aへの溶接部(黒点で示される)の近傍にベー
ス4の表面側から座ぐり4hを形成することによって、
溶接部におけるベースの実質的な厚みを減少させて、セ
ラミック基板2a上でベース4が変形しやすくしている
。座ぐり4hは溶接ポイントに対応してそれぞれ形成さ
れる。この構成によっても、温度変化が与えられたとき
にベース4が変形しやすいので、ペルチェ素子2の劣化
が防止される。
FIG. 8 is a perspective view of a main part of a semiconductor laser module showing a sixth embodiment of the present invention, in which the fifth configuration is adopted. That is, by forming a counterbore 4h from the surface side of the base 4 near the welding part (indicated by a black dot) of the base 4 to the ceramic substrate 2a,
The substantial thickness of the base at the welded portion is reduced to facilitate deformation of the base 4 on the ceramic substrate 2a. The counterbore 4h is formed corresponding to each welding point. With this configuration as well, the base 4 is easily deformed when a temperature change is applied, so deterioration of the Peltier element 2 is prevented.

【0032】各実施例においては、ベース4をペルチェ
素子の金属ランド(図4乃至図8では図示せず)にレー
ザ溶接により固定するようにしているので、固定作業が
容易であるとともに、固定に伴うベース4のペルチェ素
子2に対する変位が少なくて済む。また、第6実施例に
よる場合、予めベース4に座ぐり4hを形成しておくこ
とによって、レーザ溶接に際してレーザを照射すべき位
置の確定が容易であり、作業上便利である。
In each embodiment, the base 4 is fixed to the metal land (not shown in FIGS. 4 to 8) of the Peltier element by laser welding, so that the fixing work is easy and the fixing process is easy. The accompanying displacement of the base 4 with respect to the Peltier element 2 can be reduced. Further, in the case of the sixth embodiment, by forming the counterbore 4h in the base 4 in advance, it is easy to determine the position to be irradiated with the laser during laser welding, which is convenient in terms of work.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
モジュール使用時に温度変化が与えられたとしてもペル
チェ素子が劣化しにくい半導体レーザモジュールの提供
が可能になるという効果を奏する。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention,
This has the effect that it is possible to provide a semiconductor laser module in which the Peltier element does not easily deteriorate even if a temperature change is applied during use of the module.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明の第1の構成の原理説明図である。FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of a first configuration of the present invention.

【図2】本発明の実施例を示す半導体レーザモジュール
の斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view of a semiconductor laser module showing an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1実施例を示す半導体レーザモジュ
ールの要部斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view of a main part of a semiconductor laser module showing a first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第2実施例を示す半導体レーザモジュ
ールの要部斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view of a main part of a semiconductor laser module showing a second embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第3実施例を示す半導体レーザモジュ
ールの要部斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view of a main part of a semiconductor laser module showing a third embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第4実施例を示す半導体レーザモジュ
ールの要部斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view of a main part of a semiconductor laser module showing a fourth embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第5実施例を示す半導体レーザモジュ
ールの要部斜視図である。
FIG. 7 is a perspective view of a main part of a semiconductor laser module showing a fifth embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第6実施例を示す半導体レーザモジュ
ールのの要部斜視図である。
FIG. 8 is a perspective view of a main part of a semiconductor laser module showing a sixth embodiment of the present invention.

【図9】従来技術の説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram of the prior art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2  ペルチェ素子 4  ベース 6  チップキャリア 8  半導体レーザチップ 2 Peltier element 4 Base 6 Chip carrier 8 Semiconductor laser chip

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  ペルチェ素子(2) と、該ペルチェ
素子(2) 上に溶接固定されたベース(4) と、該
ベース(4) 上に固定されたチップキャリア(6) 
と、該チップキャリア(6) 上に固定された半導体レ
ーザチップ(8) とを備えた半導体レーザモジュール
において、上記ベース(4) の少なくとも上記チップ
キャリア(6) が固定される部分を他の部分よりも薄
くしたことを特徴とする半導体レーザモジュール。
Claim 1: A Peltier element (2), a base (4) fixed by welding on the Peltier element (2), and a chip carrier (6) fixed on the base (4).
and a semiconductor laser chip (8) fixed on the chip carrier (6), in which at least the part of the base (4) to which the chip carrier (6) is fixed is separated from other parts. A semiconductor laser module characterized by being thinner than the previous model.
【請求項2】  上記ベース(4) の肉薄部に外側か
ら内側に向けて切り込み(4c)を形成したことを特徴
とする請求項1に記載の半導体レーザモジュール。
2. The semiconductor laser module according to claim 1, wherein a notch (4c) is formed in the thin portion of the base (4) from outside to inside.
【請求項3】  上記ベース(4) の肉厚部に切り込
み(4d)を形成したことを特徴とする請求項1に記載
の半導体レーザモジュール。
3. The semiconductor laser module according to claim 1, wherein a notch (4d) is formed in the thick portion of the base (4).
【請求項4】  ペルチェ素子(2) と、該ペルチェ
素子(2) 上に溶接固定されたベース(4) と、該
ベース(4) 上に固定されたチップキャリア(6) 
と、該チップキャリア(6) 上に固定された半導体レ
ーザチップ(8) とを備えた半導体レーザモジュール
において、上記ベース(4) の溶接部の近傍に切り込
み(4e)を形成したことを特徴とする半導体レーザモ
ジュール。
4. A Peltier element (2), a base (4) fixed by welding on the Peltier element (2), and a chip carrier (6) fixed on the base (4).
and a semiconductor laser chip (8) fixed on the chip carrier (6), characterized in that a notch (4e) is formed in the vicinity of the welded part of the base (4). semiconductor laser module.
【請求項5】  ペルチェ素子(2) と、該ペルチェ
素子(2) 上に溶接固定されたベース(4) と、該
ベース(4) 上に固定されたチップキャリア(6) 
と、該チップキャリア(6) 上に固定された半導体レ
ーザチップ(8) とを備えた半導体レーザモジュール
において、上記ベース(4) の表面から裏面に貫通す
る孔(4f)を形成したことを特徴とする半導体レーザ
モジュール。
5. A Peltier element (2), a base (4) fixed by welding on the Peltier element (2), and a chip carrier (6) fixed on the base (4).
and a semiconductor laser chip (8) fixed on the chip carrier (6), characterized in that a hole (4f) penetrating from the front surface to the back surface of the base (4) is formed. Semiconductor laser module.
【請求項6】  ペルチェ素子(2) と、該ペルチェ
素子(2) 上に溶接固定されたベース(4) と、該
ベース(4) 上に固定されたチップキャリア(6) 
と、該チップキャリア(6) 上に固定された半導体レ
ーザチップ(8) とを備えた半導体レーザモジュール
において、上記ベース(4) の表面及び裏面に互い違
いに溝(4g)を形成したことを特徴とする半導体レー
ザモジュール。
6. A Peltier element (2), a base (4) fixed by welding on the Peltier element (2), and a chip carrier (6) fixed on the base (4).
and a semiconductor laser chip (8) fixed on the chip carrier (6), characterized in that grooves (4g) are formed alternately on the front and back surfaces of the base (4). Semiconductor laser module.
【請求項7】  ペルチェ素子(2) と、該ペルチェ
素子(2) 上に溶接固定されたベース(4) と、該
ベース(4) 上に固定されたチップキャリア(6) 
と、該チップキャリア(6) 上に固定された半導体レ
ーザチップ(8) とを備えた半導体レーザモジュール
において、上記ベース(4) の溶接部の近傍に座ぐり
(4h)を形成したことを特徴とする半導体レーザモジ
ュール。
7. A Peltier element (2), a base (4) fixed by welding on the Peltier element (2), and a chip carrier (6) fixed on the base (4).
and a semiconductor laser chip (8) fixed on the chip carrier (6), characterized in that a counterbore (4h) is formed near the welding part of the base (4). Semiconductor laser module.
【請求項8】  上記ベース(4) の上記ペルチェ素
子(2) への溶接固定はレーザ溶接によりなされてい
ることを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載の
半導体レーザモジュール。
8. The semiconductor laser module according to claim 1, wherein the base (4) is welded and fixed to the Peltier element (2) by laser welding.
JP1573891A 1991-01-17 1991-01-17 Semiconductor laser module Withdrawn JPH04243181A (en)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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