JPH04248408A - 塗膜厚さの測定方法 - Google Patents
塗膜厚さの測定方法Info
- Publication number
- JPH04248408A JPH04248408A JP1224791A JP1224791A JPH04248408A JP H04248408 A JPH04248408 A JP H04248408A JP 1224791 A JP1224791 A JP 1224791A JP 1224791 A JP1224791 A JP 1224791A JP H04248408 A JPH04248408 A JP H04248408A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coating film
- thickness
- distance
- displacement meter
- film
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/08—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は金属構造物への高分子材
料の塗装防蝕施工において塗膜厚さを非接触で精度良く
測定する方法に関する。
料の塗装防蝕施工において塗膜厚さを非接触で精度良く
測定する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から塗膜厚さを測定する方法には各
種の方法があるが、例えば磁力式センサや渦流センサを
用いた方法においては、塗膜にセンサを押し付けて塗膜
の厚さにより変化するインダクタンス等の電磁気的な特
性を利用して塗膜の厚さを計測していた。
種の方法があるが、例えば磁力式センサや渦流センサを
用いた方法においては、塗膜にセンサを押し付けて塗膜
の厚さにより変化するインダクタンス等の電磁気的な特
性を利用して塗膜の厚さを計測していた。
【０００３】また、特開昭５５−１４９８０３号公報に
は静電容量型距離測定計によって塗膜の厚さを測定する
方法が開示されている。
は静電容量型距離測定計によって塗膜の厚さを測定する
方法が開示されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】磁力式センサや渦流セ
ンサを用いた測定方法においては、センサを塗膜に押し
付けていため、その加圧力で塗膜が変形し、また、その
押し付け力は測定者によってバラツキがあり、正確な塗
膜厚さの測定ができないという問題点があった。更に、
塗膜が完全に乾燥してからでないと測定できず、従って
、塗装作業中に塗膜厚さを知りたいという現場の要請に
は応えることができないという問題点があった。
ンサを用いた測定方法においては、センサを塗膜に押し
付けていため、その加圧力で塗膜が変形し、また、その
押し付け力は測定者によってバラツキがあり、正確な塗
膜厚さの測定ができないという問題点があった。更に、
塗膜が完全に乾燥してからでないと測定できず、従って
、塗装作業中に塗膜厚さを知りたいという現場の要請に
は応えることができないという問題点があった。
【０００５】静電容量型距離測定計による測定方法にお
いては、塗膜が厚くなるに従って測定精度が悪化し、ま
た塗膜厚さが同じでもその種類（材料）により静電容量
が異なり、塗膜材料に応じた補正が必要である。更に、
磁力式センサ等の場合と同様に塗膜が完全に乾燥してか
らでないと測定できなかった。つまり、塗膜が完全に乾
燥していないと、塗膜厚さが同じでも静電容量が異なり
その補正も困難であり、また水に濡れていると静電容量
が大幅に変化してしまい測定できなかった。更に、測定
精度が外部の誘導により影響を受けるという問題点があ
った。
いては、塗膜が厚くなるに従って測定精度が悪化し、ま
た塗膜厚さが同じでもその種類（材料）により静電容量
が異なり、塗膜材料に応じた補正が必要である。更に、
磁力式センサ等の場合と同様に塗膜が完全に乾燥してか
らでないと測定できなかった。つまり、塗膜が完全に乾
燥していないと、塗膜厚さが同じでも静電容量が異なり
その補正も困難であり、また水に濡れていると静電容量
が大幅に変化してしまい測定できなかった。更に、測定
精度が外部の誘導により影響を受けるという問題点があ
った。
【０００６】本発明は、このような問題点を解決するた
めになされたものであり、非接触で高精度に塗膜の厚さ
を測定することを可能にして塗膜厚さの測定方法を提供
することを目的とする。
めになされたものであり、非接触で高精度に塗膜の厚さ
を測定することを可能にして塗膜厚さの測定方法を提供
することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明の塗膜厚
さの測定方法は、基準位置から塗膜の表面までの距離を
レーザ変位計又は超音波変位計により測定する工程と、
基準位置から金属の表面までの距離を磁気変位計により
測定する工程と、基準位置から金属の表面までの距離と
塗膜の表面までの距離との差に基づいて塗膜の厚さを求
める工程とを有する。
さの測定方法は、基準位置から塗膜の表面までの距離を
レーザ変位計又は超音波変位計により測定する工程と、
基準位置から金属の表面までの距離を磁気変位計により
測定する工程と、基準位置から金属の表面までの距離と
塗膜の表面までの距離との差に基づいて塗膜の厚さを求
める工程とを有する。
【０００８】
【実施例】図１はこの発明の一実施例に係る塗膜厚さの
測定方法を実施した測定装置の構成を示すブロック図で
ある。図において、１は例えば鋼板であり、２はその上
に塗布された塗膜である。１０はセンサ部であり、レー
ザ変位計１１及び渦流変位計１２が機械的に一体化され
ており、鋼板１に対して対向した任意の距離の位置に配
置してある。このレーザ変位計１１及び渦流変位計１２
をそれらの背後から見た位置関係は図２に示したとおり
であり、両者は併置されそれぞれの測定点が一致するよ
うに配置されている。
測定方法を実施した測定装置の構成を示すブロック図で
ある。図において、１は例えば鋼板であり、２はその上
に塗布された塗膜である。１０はセンサ部であり、レー
ザ変位計１１及び渦流変位計１２が機械的に一体化され
ており、鋼板１に対して対向した任意の距離の位置に配
置してある。このレーザ変位計１１及び渦流変位計１２
をそれらの背後から見た位置関係は図２に示したとおり
であり、両者は併置されそれぞれの測定点が一致するよ
うに配置されている。
【０００９】１３は増幅器であり、レーザ変位計１１及
び渦流変位計１２からの計測信号を増幅する。１４はＡ
／Ｄ変換器であり、増幅器１３からのアナログ信号をデ
ジタル信号に変換する。１５はパーソナルコンピュータ
（以下パソコンという）であり、Ａ／Ｄ変換器からの信
号に基づいて塗膜２の厚さｔを求める。
び渦流変位計１２からの計測信号を増幅する。１４はＡ
／Ｄ変換器であり、増幅器１３からのアナログ信号をデ
ジタル信号に変換する。１５はパーソナルコンピュータ
（以下パソコンという）であり、Ａ／Ｄ変換器からの信
号に基づいて塗膜２の厚さｔを求める。
【００１０】次に動作説明をする。レーザ変位計１１を
作動させると塗膜２の表面までの距離Ｌ１を求めそれに
対応した信号を出力する。また、渦流変位計１２は鋼板
１の表面までの距離Ｌ２を求めそれに対応した信号を出
力する。増幅器１３ではそれらの信号をそれぞれ適当に
増幅した後、Ａ／Ｄ変換器１４に送り出す。Ａ／Ｄ変換
器１４は入力してきた距離信号であるアナログ信号をデ
ジタル信号に変換してパソコン１５に送り出す。パソコ
ン１５では入力してきた距離信号の差（＝Ｌ２−Ｌ１）
により塗膜２の厚さｔを求める。
作動させると塗膜２の表面までの距離Ｌ１を求めそれに
対応した信号を出力する。また、渦流変位計１２は鋼板
１の表面までの距離Ｌ２を求めそれに対応した信号を出
力する。増幅器１３ではそれらの信号をそれぞれ適当に
増幅した後、Ａ／Ｄ変換器１４に送り出す。Ａ／Ｄ変換
器１４は入力してきた距離信号であるアナログ信号をデ
ジタル信号に変換してパソコン１５に送り出す。パソコ
ン１５では入力してきた距離信号の差（＝Ｌ２−Ｌ１）
により塗膜２の厚さｔを求める。
【００１１】なお、塗膜２までの距離を測定するセンサ
はレーザ変位計１１の代わりに超音波変位計を用いても
よく、また、鋼板１などの金属面との距離を測定する磁
気変位計は渦流変位計１２に限られるものではなく他の
形式の変位計であってもよい。
はレーザ変位計１１の代わりに超音波変位計を用いても
よく、また、鋼板１などの金属面との距離を測定する磁
気変位計は渦流変位計１２に限られるものではなく他の
形式の変位計であってもよい。
【００１２】ところで、図１の測定装置は非接触の金属
表面粗さ計にも適用できる。図３は金属の表面粗さ計に
適用したときの動作説明図である。レーザ変位計１１は
ビームスポットを１００μｍ以下に設定することができ
るので、塗装の前処理のためにショットブラストなどで
荒らされた金属表面の凹凸を検出することができる。図
においてＬ１０はレーザ変位計１１により測定された距
離の軌跡を示している。
表面粗さ計にも適用できる。図３は金属の表面粗さ計に
適用したときの動作説明図である。レーザ変位計１１は
ビームスポットを１００μｍ以下に設定することができ
るので、塗装の前処理のためにショットブラストなどで
荒らされた金属表面の凹凸を検出することができる。図
においてＬ１０はレーザ変位計１１により測定された距
離の軌跡を示している。
【００１３】一方、渦流変位計１２は１０ｍｍ前後の広
い範囲で平均的な距離を測定するため、その測定軌跡は
Ｌ２０に示すように平均距離の軌跡となる。従って、こ
の２つのＬ１０及びＬ２０をパソコン１５で演算処理す
ることにより金属の表面粗さが得られる。
い範囲で平均的な距離を測定するため、その測定軌跡は
Ｌ２０に示すように平均距離の軌跡となる。従って、こ
の２つのＬ１０及びＬ２０をパソコン１５で演算処理す
ることにより金属の表面粗さが得られる。
【００１４】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、塗膜表面
までの距離及び金属表面までの距離をレーザー変位計又
は超音波センサ及び磁気センサによりそれぞれ求めてそ
の差により塗膜の厚さを求めるようにしたので、非接触
でかつ高精度に塗膜の厚さが測定できる。
までの距離及び金属表面までの距離をレーザー変位計又
は超音波センサ及び磁気センサによりそれぞれ求めてそ
の差により塗膜の厚さを求めるようにしたので、非接触
でかつ高精度に塗膜の厚さが測定できる。
【００１５】つまり、レーザー変位計又は超音波センサ
により塗膜の表面までの距離を求めるようにしたので、
塗膜が厚くなっても測定精度が劣化することがなく、塗
膜材料の相違によって測定値が異なるということもなく
、塗膜が乾いていない状態であっても、一定の測定精度
で測定できるので、塗装作業中に塗膜の厚さがリアルタ
イムで認識でき、その情報を自動塗装機にフィードバッ
クすることにより塗装作業が無人でできる。更に、塗膜
表面との距離を大きくとることができ、また、焦点を絞
ることにより直径０．２ミクロン程度の狭い範囲の塗膜
厚さが測定でき、局部の塗膜の厚さの変化を精度よく測
定できる。また、測定精度が外部の環境の変化を受けず
らいという利点もある。
により塗膜の表面までの距離を求めるようにしたので、
塗膜が厚くなっても測定精度が劣化することがなく、塗
膜材料の相違によって測定値が異なるということもなく
、塗膜が乾いていない状態であっても、一定の測定精度
で測定できるので、塗装作業中に塗膜の厚さがリアルタ
イムで認識でき、その情報を自動塗装機にフィードバッ
クすることにより塗装作業が無人でできる。更に、塗膜
表面との距離を大きくとることができ、また、焦点を絞
ることにより直径０．２ミクロン程度の狭い範囲の塗膜
厚さが測定でき、局部の塗膜の厚さの変化を精度よく測
定できる。また、測定精度が外部の環境の変化を受けず
らいという利点もある。
【図１】本発明の一実施例に係る塗膜厚さの測定方法を
実施例した測定装置のブロック図である。
実施例した測定装置のブロック図である。
【図２】図１のレーザ変位計及び渦流変位計をその背面
から見た状態の配置を示す図である。
から見た状態の配置を示す図である。
【図３】図１の測定装置を金属の表面粗さの測定に適用
した場合の説明図である。
した場合の説明図である。
１ 鋼板
２ 塗膜
１１ レーザ変位計
１２ 渦流変位計
Claims (2)
- 【請求項１】 金属板上のに塗布された塗膜厚さを測
定する方法において、基準位置から塗膜の表面までの距
離をレーザ変位計により測定する工程と、基準位置から
金属の表面までの距離を磁気変位計により測定する工程
と、基準位置から金属の表面までの距離と塗膜の表面ま
での距離との差に基づいて塗膜の厚さを求める工程とを
有することを特徴とする塗膜厚さの測定方法。 - 【請求項２】 レーザ変位計の代わりに超音波変位計
を用いることを特徴とする請求項１記載の塗膜厚さの測
定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1224791A JPH04248408A (ja) | 1991-02-01 | 1991-02-01 | 塗膜厚さの測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1224791A JPH04248408A (ja) | 1991-02-01 | 1991-02-01 | 塗膜厚さの測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04248408A true JPH04248408A (ja) | 1992-09-03 |
Family
ID=11800039
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1224791A Pending JPH04248408A (ja) | 1991-02-01 | 1991-02-01 | 塗膜厚さの測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04248408A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0589315A1 (de) * | 1992-09-24 | 1994-03-30 | Krupp Hoesch Tecna Aktiengesellschaft | Einrichtung zum Messen der Schichtdicke eines in Richtung der Rohrachse kontinuierlich bewegten Rundrohrstranges aus Stahl |
| KR20020006355A (ko) * | 2000-07-12 | 2002-01-19 | 이구택 | 도금량 측정장치 |
| JP2003014616A (ja) * | 2001-06-28 | 2003-01-15 | Toshiba Corp | 摩擦力測定装置及び測定方法 |
| JP2019078719A (ja) * | 2017-10-27 | 2019-05-23 | 日本ウレタンエンジニアリング株式会社 | ウレタン厚み表示ピン、およびそのウレタン厚み表示ピンを使用したウレタンの所定厚吹付け方法 |
-
1991
- 1991-02-01 JP JP1224791A patent/JPH04248408A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0589315A1 (de) * | 1992-09-24 | 1994-03-30 | Krupp Hoesch Tecna Aktiengesellschaft | Einrichtung zum Messen der Schichtdicke eines in Richtung der Rohrachse kontinuierlich bewegten Rundrohrstranges aus Stahl |
| KR20020006355A (ko) * | 2000-07-12 | 2002-01-19 | 이구택 | 도금량 측정장치 |
| JP2003014616A (ja) * | 2001-06-28 | 2003-01-15 | Toshiba Corp | 摩擦力測定装置及び測定方法 |
| JP2019078719A (ja) * | 2017-10-27 | 2019-05-23 | 日本ウレタンエンジニアリング株式会社 | ウレタン厚み表示ピン、およびそのウレタン厚み表示ピンを使用したウレタンの所定厚吹付け方法 |
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