JPH04249733A - 光トランシーバのループバック試験方法 - Google Patents
光トランシーバのループバック試験方法Info
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- JPH04249733A JPH04249733A JP3011498A JP1149891A JPH04249733A JP H04249733 A JPH04249733 A JP H04249733A JP 3011498 A JP3011498 A JP 3011498A JP 1149891 A JP1149891 A JP 1149891A JP H04249733 A JPH04249733 A JP H04249733A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光送信素子として半導体
レーザを用いた光トンランシーバの試験に利用する。本
発明は、特に、半導体レーザを送信と受信との双方に時
分割で使用する一素子形の時分割方向制御伝送方式（い
わゆるピンポン伝送方式、以下ＴＣＭ方式という）に利
用するに適する。
レーザを用いた光トンランシーバの試験に利用する。本
発明は、特に、半導体レーザを送信と受信との双方に時
分割で使用する一素子形の時分割方向制御伝送方式（い
わゆるピンポン伝送方式、以下ＴＣＭ方式という）に利
用するに適する。
【０００２】
【従来の技術】半導体レーザは基本的にＰＮ接合をもつ
ダイオードであり、発光素子としてだけでなく、受光素
子としても使用できる。すなわち、しきい値以上の順バ
イアスを印加すれば発光素子として使用でき、それ以下
のバイアスないし逆バイアスでは、その発振波長および
それより短い波長に対して感度のある受光素子として使
用できる。
ダイオードであり、発光素子としてだけでなく、受光素
子としても使用できる。すなわち、しきい値以上の順バ
イアスを印加すれば発光素子として使用でき、それ以下
のバイアスないし逆バイアスでは、その発振波長および
それより短い波長に対して感度のある受光素子として使
用できる。
【０００３】このような半導体レーザの特性を利用した
一素子形ＴＣＭ方式の基本的な構成例を図６に示し、こ
の方式に用いられる一般的なフレーム構成を図７に示す
。
一素子形ＴＣＭ方式の基本的な構成例を図６に示し、こ
の方式に用いられる一般的なフレーム構成を図７に示す
。
【０００４】送信受信切替回路１と半導体レーザ２とに
より構成された伝送装置（以下「トランシーバ」という
）は、光ファイバ伝送路３を介して、半導体レーザ４と
送信受信切替回路５とにより構成された光トランシーバ
に接続される。それぞれの光トランシーバには、情報供
給源および情報供給先となる装置、例えば端末装置が接
続されるが、ここでは省略する。
より構成された伝送装置（以下「トランシーバ」という
）は、光ファイバ伝送路３を介して、半導体レーザ４と
送信受信切替回路５とにより構成された光トランシーバ
に接続される。それぞれの光トランシーバには、情報供
給源および情報供給先となる装置、例えば端末装置が接
続されるが、ここでは省略する。
【０００５】送信受信切替回路１、５はそれぞれ、半導
体レーザ２、４の動作モードを切り替え、光ファイバ伝
送路３へのバースト信号の送信と、同じ光ファイバ伝送
路３からのバースト信号の受信とを時分割で行う。すな
わち、半導体レーザ２が送信モードのとき半導体レーザ
４は受信モードとなり、半導体レーザ４が送信モードの
ときには半導体レーザ２が受信モードとなるように切り
替えられる。
体レーザ２、４の動作モードを切り替え、光ファイバ伝
送路３へのバースト信号の送信と、同じ光ファイバ伝送
路３からのバースト信号の受信とを時分割で行う。すな
わち、半導体レーザ２が送信モードのとき半導体レーザ
４は受信モードとなり、半導体レーザ４が送信モードの
ときには半導体レーザ２が受信モードとなるように切り
替えられる。
【０００５】これを図７を参照して詳しく説明すると、
半導体レーザ２が送信を開始したとき、半導体レーザ４
は、伝送遅延時間ＴＤ の後に受信を開始する。伝送遅
延時間ＴＤ は、光ファイバ伝送路３中を光が伝送され
るのに要する時間である。半導体レーザ４は、受信が完
了すると送信モードに切り替えられ、送信切替のための
ガード時間ＴＧ が経過した後に送信を開始する。
半導体レーザ２が送信を開始したとき、半導体レーザ４
は、伝送遅延時間ＴＤ の後に受信を開始する。伝送遅
延時間ＴＤ は、光ファイバ伝送路３中を光が伝送され
るのに要する時間である。半導体レーザ４は、受信が完
了すると送信モードに切り替えられ、送信切替のための
ガード時間ＴＧ が経過した後に送信を開始する。
【０００６】半導体レーザ２は、送信が完了すると受信
モードに切り替えられ、自分の送信した光が相手に届く
までの伝送遅延時間ＴＤ 、相手の送信切替のためのガ
ード時間ＴＧ および相手の送信した光が自分に届くま
での伝送遅延時間ＴＤ が経過した後に受信を開始する
。受信が完了するとガード時間ＴＧ が経過した後に再
び送信を開始する。
モードに切り替えられ、自分の送信した光が相手に届く
までの伝送遅延時間ＴＤ 、相手の送信切替のためのガ
ード時間ＴＧ および相手の送信した光が自分に届くま
での伝送遅延時間ＴＤ が経過した後に受信を開始する
。受信が完了するとガード時間ＴＧ が経過した後に再
び送信を開始する。
【０００７】このように、半導体レーザ２と半導体レー
ザ４とは、時分割で送受信を繰り返す。この繰り返しの
周期、すなわち１バースト時間ＴＢ は、半導体レーザ
２、４の送信時間、すなわち情報伝送時間をＴＩ とし
て、 ＴＢ ＝２ＴＩ ＋２ＴＤ ＋２ＴＧ となる。
ザ４とは、時分割で送受信を繰り返す。この繰り返しの
周期、すなわち１バースト時間ＴＢ は、半導体レーザ
２、４の送信時間、すなわち情報伝送時間をＴＩ とし
て、 ＴＢ ＝２ＴＩ ＋２ＴＤ ＋２ＴＧ となる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】このような方式におい
て、正常な動作が行われなかった場合には、送信受信切
替回路１と半導体レーザ２とにより構成された光トラン
シーバ、半導体レーザ４と送信受信切替回路５とにより
構成された光トランシーバ、または光ファイバ伝送路３
のいずれに原因があるかについて、それぞれを試験する
方法が必要となる。本明細書では、光トランシーバを試
験の対象とする。
て、正常な動作が行われなかった場合には、送信受信切
替回路１と半導体レーザ２とにより構成された光トラン
シーバ、半導体レーザ４と送信受信切替回路５とにより
構成された光トランシーバ、または光ファイバ伝送路３
のいずれに原因があるかについて、それぞれを試験する
方法が必要となる。本明細書では、光トランシーバを試
験の対象とする。
【０００９】一般の伝送方式では、伝送装置の試験方法
として、端末その他の情報供給源から供給された信号を
送信すると同時にその信号を受信するループバック試験
方法が用いられている。しかし、一素子形のＴＣＭ方式
では、送信と受信とを同じ素子で行うため、送信と受信
とを同時に行うことができず、光トランシーバのループ
バック試験は行えなかった。
として、端末その他の情報供給源から供給された信号を
送信すると同時にその信号を受信するループバック試験
方法が用いられている。しかし、一素子形のＴＣＭ方式
では、送信と受信とを同じ素子で行うため、送信と受信
とを同時に行うことができず、光トランシーバのループ
バック試験は行えなかった。
【００１０】本発明は、半導体レーザを送信素子および
受信素子として使用する一素子形のＴＣＭ方式における
光トランシーバに適したループバック試験方法を提供す
ることを目的とする。
受信素子として使用する一素子形のＴＣＭ方式における
光トランシーバに適したループバック試験方法を提供す
ることを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明のループバック試
験方法は、半導体レーザの送信端と反対側の端面に近接
して受光素子を配置し、この受光素子で半導体レーザか
らこの受光素子側に放射される光を検出することを特徴
とする。
験方法は、半導体レーザの送信端と反対側の端面に近接
して受光素子を配置し、この受光素子で半導体レーザか
らこの受光素子側に放射される光を検出することを特徴
とする。
【００１２】本発明は、一素子形のＴＣＭ方式に使用す
る光トランシーバのループバック試験に適するが、他の
方式、例えば半導体レーザを送信専用に用いる場合でも
利用できる。
る光トランシーバのループバック試験に適するが、他の
方式、例えば半導体レーザを送信専用に用いる場合でも
利用できる。
【００１３】
【作用】一般に半導体レーザは、光放射方向が一方向と
なるように使用されるが、実際には、その逆方向にも光
が放射される。そこで、半導体レーザを試験信号で変調
された光が得られるように駆動し、そのときに送信方向
と逆方向に放射される試験信号光を検出する。この方法
により、一素子形のＴＣＭ方式に使用する光トランシー
バにおいても、端末側からのループバック試験が可能と
なる。
なるように使用されるが、実際には、その逆方向にも光
が放射される。そこで、半導体レーザを試験信号で変調
された光が得られるように駆動し、そのときに送信方向
と逆方向に放射される試験信号光を検出する。この方法
により、一素子形のＴＣＭ方式に使用する光トランシー
バにおいても、端末側からのループバック試験が可能と
なる。
【００１４】半導体レーザから逆方向に放射された光を
検出することは、従来から、自動パワー調整の目的で行
われている。さらに、半導体レーザとホトダイオードと
が集積された素子も市販されている。本発明は、このよ
うな素子を利用し、パワー調整ではなく、変調、送信な
どの光トランシーバの動作を試験するものである。
検出することは、従来から、自動パワー調整の目的で行
われている。さらに、半導体レーザとホトダイオードと
が集積された素子も市販されている。本発明は、このよ
うな素子を利用し、パワー調整ではなく、変調、送信な
どの光トランシーバの動作を試験するものである。
【００１５】
【実施例】図１は本発明を実施するための光トランシー
バの回路構成の一例を示すブロック構成図である。
バの回路構成の一例を示すブロック構成図である。
【００１６】この光トランシーバは、ループバック試験
用の信号を発生する試験信号発生回路１１と、送信端が
光ファイバ伝送路２０に接続された送信専用または送受
信兼用の半導体レーザ１３と、端末装置その他の情報供
給源または試験信号発生回路１１から供給される信号に
したがって半導体レーザ１３を駆動する駆動回路１２と
、半導体レーザ１３の送信端と反対側の端面に近接して
配置された受光素子１４と、この受光素子１４の検出し
た信号を受信する受信回路１５とを備える。
用の信号を発生する試験信号発生回路１１と、送信端が
光ファイバ伝送路２０に接続された送信専用または送受
信兼用の半導体レーザ１３と、端末装置その他の情報供
給源または試験信号発生回路１１から供給される信号に
したがって半導体レーザ１３を駆動する駆動回路１２と
、半導体レーザ１３の送信端と反対側の端面に近接して
配置された受光素子１４と、この受光素子１４の検出し
た信号を受信する受信回路１５とを備える。
【００１７】通常の動作時には、端末装置その他の情報
供給源からの信号が駆動回路１２に供給され、その信号
により半導体レーザ１３が駆動され、光信号が光ファイ
バ伝送路２０に送出される。半導体レーザ１３を送受信
兼用に使用する場合には、受信時に、駆動回路１２から
半導体レーザ１３に供給するバイアスを例えば零にする
。これにより半導体レーザ１３が受信モードとなり、光
ファイバ伝送路２０からの光信号を受信できる。受信信
号は、受信回路 （図示せず） を介して、端末装置そ
の他の情報供給先の装置に送られる。
供給源からの信号が駆動回路１２に供給され、その信号
により半導体レーザ１３が駆動され、光信号が光ファイ
バ伝送路２０に送出される。半導体レーザ１３を送受信
兼用に使用する場合には、受信時に、駆動回路１２から
半導体レーザ１３に供給するバイアスを例えば零にする
。これにより半導体レーザ１３が受信モードとなり、光
ファイバ伝送路２０からの光信号を受信できる。受信信
号は、受信回路 （図示せず） を介して、端末装置そ
の他の情報供給先の装置に送られる。
【００１８】試験時には、試験信号発生回路１１から駆
動回路１２に試験信号を供給する。駆動回路１２はこの
試験信号により半導体レーザ１３を駆動し、試験光信号
を発生させる。この光信号は半導体レーザ１３の送信端
とは反対側にも放出される。この光を受光素子１４で検
出し、受信回路１５に出力する。このようにして、試験
信号発生回路１１の発生した試験信号が、駆動回路１２
、半導体レーザ１３、受光素子１４、受信回路１５の順
でループバックされる。これにより、これらの部分が正
常か異常かを受信回路１５に得られた信号で判定できる
。
動回路１２に試験信号を供給する。駆動回路１２はこの
試験信号により半導体レーザ１３を駆動し、試験光信号
を発生させる。この光信号は半導体レーザ１３の送信端
とは反対側にも放出される。この光を受光素子１４で検
出し、受信回路１５に出力する。このようにして、試験
信号発生回路１１の発生した試験信号が、駆動回路１２
、半導体レーザ１３、受光素子１４、受信回路１５の順
でループバックされる。これにより、これらの部分が正
常か異常かを受信回路１５に得られた信号で判定できる
。
【００１９】図２は光トランシーバの回路構成の別の例
を示すブロック構成図である。
を示すブロック構成図である。
【００２０】この例では、光トランシーバは、試験信号
の発生および停止を制御するための制御回路１６と、こ
の制御回路１６により制御されて受光素子１４と受信回
路１５との接続を断続するスイッチ１７とを備える。
の発生および停止を制御するための制御回路１６と、こ
の制御回路１６により制御されて受光素子１４と受信回
路１５との接続を断続するスイッチ１７とを備える。
【００２１】この場合にも、図１の例と同様に、試験信
号発生回路１１の発生した試験信号が、駆動回路１２、
半導体レーザ１３、受光素子１４、受信回路１５の順で
ループバックされ、これらの部分が正常か異常かを受信
回路１５に得られた信号で判定できる。
号発生回路１１の発生した試験信号が、駆動回路１２、
半導体レーザ１３、受光素子１４、受信回路１５の順で
ループバックされ、これらの部分が正常か異常かを受信
回路１５に得られた信号で判定できる。
【００２２】スイッチ１７は、ループバック試験中は受
光素子１４と受信回路１５とを接続するが、通常の通信
中は受光素子１４と受信回路１５とを切り離す。このと
き、受光素子１４の出力を他の目的、例えば自動パワー
調整に使用することもできる。
光素子１４と受信回路１５とを接続するが、通常の通信
中は受光素子１４と受信回路１５とを切り離す。このと
き、受光素子１４の出力を他の目的、例えば自動パワー
調整に使用することもできる。
【００２３】図３は端末装置からループバック信号を発
生する場合の試験信号の流れを示す。
生する場合の試験信号の流れを示す。
【００２４】上述した例では、光トランシーバ内で試験
信号を発生して試験を行っていた。これに対して図３に
示した例では、試験信号を端末装置２１から接続線２２
を介して光トランシーバ１０に供給する。このとき光ト
ランシーバ１０は、試験信号をループバックし、その受
信結果を端末装置２１に返送する。また、端末装置２１
の代わりに局装置を用い、局に設置された装置から光ト
ランシーバ、そして再び局装置の経路のループバック試
験も可能である。
信号を発生して試験を行っていた。これに対して図３に
示した例では、試験信号を端末装置２１から接続線２２
を介して光トランシーバ１０に供給する。このとき光ト
ランシーバ１０は、試験信号をループバックし、その受
信結果を端末装置２１に返送する。また、端末装置２１
の代わりに局装置を用い、局に設置された装置から光ト
ランシーバ、そして再び局装置の経路のループバック試
験も可能である。
【００２５】図４、図５は一素子形以外の光トランシー
バで本発明を実施する場合の構成例を示す。
バで本発明を実施する場合の構成例を示す。
【００２６】図４に示した例は、二心の光ファイバ伝送
路２０−１、２０−２を用いて伝送する場合の光トラン
シーバの試験方法を示す。この場合には半導体レーザ１
３は送信専用であり、この半導体レーザ１３の送信端と
反対側の端面に近接して受光素子１４が配置され、この
受光素子１４で半導体レーザ１３からこの受光素子１４
側に放射される光を検出する。また、受信用には、受光
素子１４とは別の受光素子１８が用いられる。
路２０−１、２０−２を用いて伝送する場合の光トラン
シーバの試験方法を示す。この場合には半導体レーザ１
３は送信専用であり、この半導体レーザ１３の送信端と
反対側の端面に近接して受光素子１４が配置され、この
受光素子１４で半導体レーザ１３からこの受光素子１４
側に放射される光を検出する。また、受信用には、受光
素子１４とは別の受光素子１８が用いられる。
【００２７】図５に示した例は、光結合器１９を用いて
双方向伝送を行う場合の試験方法を示す。すなわち、送
信用の半導体レーザ１３と受信用の受光素子１８とが光
結合器１９を介して光ファイバ伝送路２０に接続される
。半導体レーザ１３の送信端と反対側にはその端面に近
接して受光素子１４が配置され、この受光素子１４で半
導体レーザ１３からこの受光素子１４側に放射される光
を検出する。
双方向伝送を行う場合の試験方法を示す。すなわち、送
信用の半導体レーザ１３と受信用の受光素子１８とが光
結合器１９を介して光ファイバ伝送路２０に接続される
。半導体レーザ１３の送信端と反対側にはその端面に近
接して受光素子１４が配置され、この受光素子１４で半
導体レーザ１３からこの受光素子１４側に放射される光
を検出する。
【００２８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のループバ
ック試験方法は、半導体レーザを用いた光トランシーバ
、特に半導体レーザを送信素子および受信素子の双方に
時分割で利用する一素子形の時分割方向制御伝送方式に
使用される光トランシーバについ、その動作を試験でき
る。このように試験方法が確立されることにより、光ト
ランシーバの経済的な運用が可能となる。
ック試験方法は、半導体レーザを用いた光トランシーバ
、特に半導体レーザを送信素子および受信素子の双方に
時分割で利用する一素子形の時分割方向制御伝送方式に
使用される光トランシーバについ、その動作を試験でき
る。このように試験方法が確立されることにより、光ト
ランシーバの経済的な運用が可能となる。
【図１】 本発明を実施するための光トランシーバの
回路構成の一例を示すブロック構成図。
回路構成の一例を示すブロック構成図。
【図２】 光トランシーバの回路構成の別の例を示す
ブロック構成図。
ブロック構成図。
【図３】 端末装置からループバック試験信号を発生
する場合の試験信号の流れを示す図。
する場合の試験信号の流れを示す図。
【図４】 一素子形以外の光トランシーバで本発明を
実施する場合の構成の一例を示すブロック構成図。
実施する場合の構成の一例を示すブロック構成図。
【図５】 一素子形以外の光トランシーバで本発明を
実施する場合の構成の別の例を示すブロック構成図。
実施する場合の構成の別の例を示すブロック構成図。
【図６】 一素子形ＴＣＭ方式の基本的な構成例を示
すブロック構成図。
すブロック構成図。
【図７】 この方式に用いられる一般的なフレーム構
成を示す図。
成を示す図。
１、５ 送信受信切替回路
２、４、１３ 半導体レーザ
３、２０ 光ファイバ伝送路
１０ 光トランシーバ
１１ 試験信号発生回路
１２ 駆動回路
１４、１８ 受光素子
１５ 受信回路
１６ 制御回路
１７ スイッチ
２１ 端末装置
２２ 接続線
Claims (1)
- 【請求項１】 送信素子として半導体レーザを備えた
光トランシーバを試験信号で駆動し、そのときの光信号
を検出してその光トランシーバが正常に動作しているか
否かを判定する光トランシーバのループバック試験方法
において、前記半導体レーザの送信端と反対側の端面に
近接して受光素子を配置し、この受光素子で前記半導体
レーザからこの受光素子側に放射される光を検出するこ
とを特徴とする光トランシーバのループバック試験方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3011498A JP2899617B2 (ja) | 1991-01-07 | 1991-01-07 | 光トランシーバのループバック試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3011498A JP2899617B2 (ja) | 1991-01-07 | 1991-01-07 | 光トランシーバのループバック試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04249733A true JPH04249733A (ja) | 1992-09-04 |
| JP2899617B2 JP2899617B2 (ja) | 1999-06-02 |
Family
ID=11779693
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3011498A Expired - Fee Related JP2899617B2 (ja) | 1991-01-07 | 1991-01-07 | 光トランシーバのループバック試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2899617B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007132763A (ja) * | 2005-11-09 | 2007-05-31 | Fujitsu Ltd | 光モジュールテスト方法 |
| US7471220B2 (en) | 2004-07-16 | 2008-12-30 | Infineon Technologies Ag | Electronic test circuit for an integrated circuit and methods for testing the driver strength and for testing the input sensitivity of a receiver of the integrated circuit |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5728897B2 (ja) | 2010-11-19 | 2015-06-03 | コニカミノルタ株式会社 | 充電システム |
-
1991
- 1991-01-07 JP JP3011498A patent/JP2899617B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7471220B2 (en) | 2004-07-16 | 2008-12-30 | Infineon Technologies Ag | Electronic test circuit for an integrated circuit and methods for testing the driver strength and for testing the input sensitivity of a receiver of the integrated circuit |
| JP2007132763A (ja) * | 2005-11-09 | 2007-05-31 | Fujitsu Ltd | 光モジュールテスト方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2899617B2 (ja) | 1999-06-02 |
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