JPH0425348B2 - - Google Patents

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JPH0425348B2
JPH0425348B2 JP60054682A JP5468285A JPH0425348B2 JP H0425348 B2 JPH0425348 B2 JP H0425348B2 JP 60054682 A JP60054682 A JP 60054682A JP 5468285 A JP5468285 A JP 5468285A JP H0425348 B2 JPH0425348 B2 JP H0425348B2
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JP
Japan
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copper
chemical
plating solution
oxide powder
solution
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JP60054682A
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JPS61217581A (ja
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Yoshinori Suzuki
Hiroko Sekya
Tadashi Kato
Tetsuo Kono
Toyoki Yamazaki
Hideo Pponma
Eisai Kin
Tomonori Shibuya
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Metal Mining Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Metal Mining Co Ltd
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/31Coating with metals
    • C23C18/38Coating with copper
    • C23C18/40Coating with copper using reducing agents

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
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  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕 本発明は化学銅めつきに係り、特にプリント配
線基板用として好適な化学銅めつき液に関するも
のである。 〔従来の技術〕 従来化学銅めつき液は、一般に銅源として硫酸
銅、錯化剤として酒石酸ナトリウムカリウム、エ
チレンジアミン四酢酸又はそのナトリウム塩、還
元剤としてホルマリン、パラホルムアルデヒド、
アルカリとしては水酸化ナトリウム等が使用され
ている。 しかし、主要成分として上記の組み合せから成
る化学銅めつき液で得られた銅膜は、一般に脆弱
であり延性に欠ける。プリント配線基板の導体部
をめつきした膜が脆いと、加工や熱的歪によつて
回路の断線を生ずる事がある。 この点を考慮して該めつき液に、さらにシアン
化合物やジピリジル、およびポリエチレングリコ
ール等を添加して銅めつき膜の延性を向上する方
法が実用されている。このようなめつき液を使用
して得られるめつき膜は、3〜7%の延性と30〜
50Kgw/mm2の引張り強さがありプリント配線基板
の導体膜として実用に供し得るものである。 しかしながら、近年高密度又は多層線板用の需
要が多くなるに従つて、さらに延性に優れた銅め
つき膜が望まれている現状にある。 又、このプリント配線基板上に、30〜40μmと
厚い銅膜を形成する場合には、めつき反応を維持
するために、銅、還元剤、アルカリ等を順次補給
しなければならなないが、そうすると析出する銅
膜の延性は低下する傾向を示し、該めつき液の安
定性も損われる。 この問題点に対して1)イオン交換膜を用いて
反応副成物を分離する。2)隔膜電解によりエチ
レンジアミン4酢酸(以下E.D.T.Aと略す)水溶
液に銅を溶解させてE.D.T.A−Cu錯体を調整す
る方法などが提案されているが、1)の方法は抽
出効率が低いので実用性に乏しい。2)の方法
は、銅濃度を20〜25g/lとするまでに長時間を
要し効率的ではない。 又1),2)の双方と電解を伴なうため、化学
めつき工程と対応させて装置を稼動させる必要が
あり煩雑でコスト高などの欠点がある。 〔発明が解決しようとする問題点〕 発明の目的は、上記の欠点がなく優れた延性と
物性とを備えた銅膜が得られる化学銅めつき液及
び化学銅めつき方法を提供することにある。 〔問題点を解決するための手段〕 この目的を達成するため、本発明者等は鋭意研
究の結果、従来の錯化剤、還元剤、PH調整剤、
2,2′ジピリジルおよびポリエチレングリコー
ル等の主要組成物に銅源として酸化銅粉末の所定
量を添加してなる化学銅めつき液を見出した。 即ち本発明の銅源としては、酸化銅粉末好まし
くは鉱酸および有機酸に易溶性の酸化第二銅粉
末、より好ましくは、電気銅及び陰極を隔膜袋中
に収納し、0.3〜1.1モル/lの硫酸ナトリウム水
溶液を電解液として、PH5〜13、液温55〜75℃、
陰極電流密度150〜300A/m2の条件で製造された
酸化第二銅粉末の所定量を使用し、他は公知の組
成の水溶液が使用できる。その1例を示せば第1
表の如くである。 第 1 表 水酸化ナトリウム (PH調整に必要な量) CuO粉末 Cuとして20g/l E.D.T.A.4H 110g/l パラフオルムアルデヒド 6g/l (p−HCHO) 2,2′−ジピリジル 0.005〜0.02g/l ポリエチレングリコール 0.05〜0.02g/l 残部 水 PH 11.5〜13 (初期PH5.0) 〔作用〕 本発明に於ける銅以外の主要組成物は、前にも
述べたように公知のものが所定範囲内で使用でき
るが、銅分としては極力高純度の酸化銅粉末の所
定量を用いるのが好ましい。一般に市販されてい
る酸化第二銅粉末や水酸化銅等は、E.D.T.Aなど
の錯化剤に溶解する際に不溶解物が残留し且つ溶
解に長時間を要する。このような銅源は特にめつ
きの建浴や補給用としては不都合である。 本発明で推奨する塩酸、硝酸等の鉱酸、
EDTA等の有機酸に易溶性の酸化第二銅を用い
て、高濃度のE.D.T.A−Cu溶液(Cuとして20g/
l程度)を造る例としては、まずE.D.T.
A.4H110gに極力高濃度の水酸化ナトリウム水溶
液を添加撹拌して、PH5.0に調整してE.D.T.A4H
を完全に溶解する。 次に該溶液に上記の酸化第二銅粉末25g(Cuと
して20g)を添加して例えばエアレーシヨンを行
なうと約20分間でE.D.T.A−Cu錯体が得られる。 この反応は下式に従うものと思われる。 E.D.T.A・2H・2Na+CuO+H2O→ 〔EDTA−Cu〕2H+2NaOH 反応式から解るように、この錯化反応により初
期PH5.0は通常10.5〜11.0まで上昇する。 このように同じCuのE.D.T.A錯塩を得るのに、
従来技術の2)として説明した電解法と本発明法
との比較では約1/10と所要時間が短縮され、不溶
解残渣も極めて少なく且つ被めつき物に析出した
膜の物性が大巾に向上する。 次にめつきの操作は60℃以上好ましくは80℃以
下で行なうが、その理由はこれ以下の温度ではめ
つきに要する時間が長く、より高温では還元反応
が強くなりすぎ浴が分解する等好ましくないため
である。 尚めつき前の板の活性化は、通常の方法が適用
できるが1例として説明すると、紙フエノール基
板あるいはエポキシ樹脂をガラスクロスに含浸し
積層させて造られた基板を、常法による脱脂を行
つたのち、軽くエツチングし、被エツチ部に少量
の錫を付着させ更にパラジウム水溶液中に浸漬し
てパラジウムと置換する事によつて行われる。 尚めつき時のPH範囲は11.5〜13.0とする。この
範囲外では好適なめつき膜は得られず、めつき膜
のコーナークラツク発生の原因ともなるからであ
る。 〔実施例〕 以下実施例について説明する。 第2表に示した組み合せにより、まず酸に易溶
性の酸化第二銅粉末(クレーム3項により製造し
たもの)又は各種銅源とE.D.T.A.4H及び水酸化
ナトリウム水溶液を添加して初期PH5.0としてエ
アレーシヨンを行つてE.D.T.A−Cu錯体を得、
これに各添加剤及び水を加え、第2表の化学銅め
つき液を夫々調製した。
【表】
【表】 尚試薬は特級品を用いた。 第2表のめつき液に、エポキシ樹脂をガラスク
ロスに含浸し積層させたプリント配線基板を、常
法により脱脂、パラジウムによる活性化したのち
夫々浸漬し、15時間後に引揚げ20〜40μm厚さの
銅膜を形成させ、析出皮膜の機械的特性を東洋測
器社製の引張り試験により測定しその結果を、第
3表に、260℃はんだ上げ試験を行つた結果を第
4表に、従来のめつき液を使用した場合と対比し
て夫々示す。該めつき液の組成をマイクロコンピ
ユーターにより管理しながら容量50の槽でロン
グラン試験を行つた結果を第5表に参考値として
示した。 めつきの際の温度は70℃一定で行つた。
【表】
【表】
【表】 第3表より明らかなように、本発明のめつき液
を使用しためつき膜の延性は飛躍的に向上し、そ
の他の物性もほぼ同等を示した。特に第5表に示
した延性は長期間経過するほど差が大きくなつ
た。第4,5表は夫々めつき膜の穴のコーナー部
にクラツクの発生が見られるかどうかを比較した
ものであるが、ここでも本発明めつき膜が優れて
いることが示された。 (効果) 化学銅めつき液の銅源として、酸に易溶性又は
高純度の酸化第二銅粉末を用いるというだけで、
めつき液の調製も容易で優れためつき膜が得られ
るだけでなく、E.D.T.A−Cuの錯塩を調製する
際の副生成物も少いのでめつき液の寿命も長い等
の利点が得られる。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 銅源、錯化剤、還元剤、PH調整剤、2,2′
    ジピリジル及びポリエチレングリコールを含有す
    る化学めつき液において、銅源として酸化銅粉末
    を用いることを特徴とする化学めつき液。 2 該酸化銅粉末は酸に易溶性の酸化第二銅の粉
    末である第1項に記載の化学めつき液。 3 該錯化剤としてエチレンジアミン酢酸を用
    い、これを水酸化ナトリウム水溶液に完全に溶解
    し、該溶液に該酸化第二銅を添加してエチレンジ
    アミン酢酸−銅錯体を形成することを特徴とする
    第1項に記載の化学めつき液。 4 該酸化第二銅粉末は、電気銅を陽極とし陰陽
    両極とも隔膜袋中に収納した状態で0.3〜1.1モ
    ル/1の硫酸ナトリウム水溶液を電解液として、
    電解液のPH、温度、陰極電流密度を規制して電解
    して得られたものである第2項に記載の化学めつ
    き液。 5 板表面を脱脂し、活性化し、次いで化学銅め
    つき液によつてめつきを行う化学銅めつき方法に
    おいて、該化学銅めつき液の組成が、錯化剤、還
    元剤、PH調整剤、2,2′ジピリジル、ポリエチ
    レングリコール及び酸化銅粉末から成るものであ
    り、該めつき浴の温度を60℃以上に、PHを11.5〜
    13.0として行うことを特徴とする化学銅めつき方
    法。
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