JPH0425659Y2 - - Google Patents
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- JPH0425659Y2 JPH0425659Y2 JP1986058766U JP5876686U JPH0425659Y2 JP H0425659 Y2 JPH0425659 Y2 JP H0425659Y2 JP 1986058766 U JP1986058766 U JP 1986058766U JP 5876686 U JP5876686 U JP 5876686U JP H0425659 Y2 JPH0425659 Y2 JP H0425659Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- current
- current detection
- high voltage
- winding
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- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
[考案の技術分野]
本考案は、高電圧機器の電流を正確に検出する
電流検出回路に関する。
電流検出回路に関する。
[考案の技術的背景]
たとえば、耐電圧試験装置等の高電圧機器で
は、高圧トランスの二次巻線の一端を、電流検出
抵抗を介して接地して電流検出を行なうようにし
ている。
は、高圧トランスの二次巻線の一端を、電流検出
抵抗を介して接地して電流検出を行なうようにし
ている。
第10図は、このような従来の高電圧回路の一
例を示す回路図である。
例を示す回路図である。
すなわち、高圧トランス1の一次側1aに商用
電源等の交流電源2を接続し、二次側1bに高電
圧を得る。
電源等の交流電源2を接続し、二次側1bに高電
圧を得る。
そして二次巻線の一端(COM)を電流検出抵
抗3を介して接地している。
抗3を介して接地している。
そして一方の高圧出力端子4を接地し、他方の
高圧出力端子5を二次巻線1bの他端(HV)に
接続している。
高圧出力端子5を二次巻線1bの他端(HV)に
接続している。
したがつて高圧出力端子4,5間に負荷6、す
なわち適宜な被試験機器を接続することによつ
て、その耐圧を試験することができる。
なわち適宜な被試験機器を接続することによつ
て、その耐圧を試験することができる。
そして負荷6に流れる電流は電流検出抵抗3の
端子間電圧を増幅器7を介して取出し、この出力
値から測定するようにしている。
端子間電圧を増幅器7を介して取出し、この出力
値から測定するようにしている。
[背景技術の問題点]
ところでこのような、たとえば耐電圧試験装置
では被試験装置に対して高圧ケーブルを介して高
電圧を印加するようにしている。
では被試験装置に対して高圧ケーブルを介して高
電圧を印加するようにしている。
そして、耐電圧試験装置の内部で、高圧出力端
子4,5間に浮遊容量(図示c)が存在し、また
上記高圧ケーブルにおいても浮遊容量が存在す
る。そしてこの浮遊容量にも電流が流れるため
に、上記増幅器7から得られた電圧は、実際に負
荷6を流れる電流よりも多くなり、電流の測定値
に誤差を生じる。
子4,5間に浮遊容量(図示c)が存在し、また
上記高圧ケーブルにおいても浮遊容量が存在す
る。そしてこの浮遊容量にも電流が流れるため
に、上記増幅器7から得られた電圧は、実際に負
荷6を流れる電流よりも多くなり、電流の測定値
に誤差を生じる。
第11図は、第10図に示す従来の耐電圧試験
装置の等価回路である。
装置の等価回路である。
ここで高圧トランスの一端(COM)を共通電
位としてノード方程式を立てると次の(1)式が成立
つ。
位としてノード方程式を立てると次の(1)式が成立
つ。
(jωC+1/RL)(V1−Vs)=1/RSVs …(1)
そして(1)式の左辺の第1項のjωCが誤差分とな
る。
る。
ここで
V1は高圧巻線の出力電圧
Rsは電流検出抵抗の抵抗値
Vsは接地電位
Cは浮遊容量の値
Rは負荷抵抗の抵抗値である。
このような浮遊容量による誤差は、出力電圧が
低く、検出電流が大きい場合はあまり問題にはな
らないが、逆に出力電圧が高く、検出電流が小さ
い場合は大きな誤差を生じることになる。たとえ
ば、浮遊容量が40Pfの時に、検出電流が0.5mA、
負荷抵抗値が2MΩであれば誤差は0.03%である
が、検出電流が0.01mA、負荷抵抗値が500MΩに
なると誤差は536%にもなる。このような浮遊容
量を減少するためには、例えば耐電圧試験装置の
内部では、二次巻線の他端(HV)側に静電シー
ルドを施してその一端(COM)に接続すること
が考えられる。しかしながら、このようなもので
は構造が複雑になり、価格も高価で重量も大幅に
増加する。また耐電圧試験装置の外部において上
記浮遊容量を少なくすることは、ほとんど困難で
ある。
低く、検出電流が大きい場合はあまり問題にはな
らないが、逆に出力電圧が高く、検出電流が小さ
い場合は大きな誤差を生じることになる。たとえ
ば、浮遊容量が40Pfの時に、検出電流が0.5mA、
負荷抵抗値が2MΩであれば誤差は0.03%である
が、検出電流が0.01mA、負荷抵抗値が500MΩに
なると誤差は536%にもなる。このような浮遊容
量を減少するためには、例えば耐電圧試験装置の
内部では、二次巻線の他端(HV)側に静電シー
ルドを施してその一端(COM)に接続すること
が考えられる。しかしながら、このようなもので
は構造が複雑になり、価格も高価で重量も大幅に
増加する。また耐電圧試験装置の外部において上
記浮遊容量を少なくすることは、ほとんど困難で
ある。
[考案の目的]
本考案は上記の事情に鑑みてなされたもので、
簡単な構成で高圧巻線の出力端と接地との間に生
じる浮遊容量を流れる電流を相殺し、正確に負荷
電流を測定することができる電流測定装置を提供
することを目的とするものである。
簡単な構成で高圧巻線の出力端と接地との間に生
じる浮遊容量を流れる電流を相殺し、正確に負荷
電流を測定することができる電流測定装置を提供
することを目的とするものである。
[考案の概要]
すなわち、本考案は、高圧トランスの二次側に
高圧巻線および低圧巻線を設け、上記高圧巻線の
一端と接地との間に電流検出抵抗を介挿し、この
電流検出抵抗の端子間電圧から上記高圧巻線の端
子間に接続した負荷を流れる電流を測定するとと
もに、一端に上記低圧巻線の出力電圧を与えら
れ、他端を上記電流検出抵抗の端子に接続した補
償コンデンサを有する打消し手段により、上記高
圧巻線の他端の高圧出力端と接地との間の浮遊容
量を介して上記電流検出抵抗に流れる電流を打ち
消すことを特徴とするものである。
高圧巻線および低圧巻線を設け、上記高圧巻線の
一端と接地との間に電流検出抵抗を介挿し、この
電流検出抵抗の端子間電圧から上記高圧巻線の端
子間に接続した負荷を流れる電流を測定するとと
もに、一端に上記低圧巻線の出力電圧を与えら
れ、他端を上記電流検出抵抗の端子に接続した補
償コンデンサを有する打消し手段により、上記高
圧巻線の他端の高圧出力端と接地との間の浮遊容
量を介して上記電流検出抵抗に流れる電流を打ち
消すことを特徴とするものである。
[考案の実施例]
以下本考案の一実施例を第1図に示すブロツク
図を参照して詳細に説明する。
図を参照して詳細に説明する。
高圧トランス11の一次側11aに交流電源1
2を接続する。この高圧トランス11の二次巻線
は途中からコモン端子(COM)を導出し、高圧
巻線11bおよび低圧巻線11cを設けている。
2を接続する。この高圧トランス11の二次巻線
は途中からコモン端子(COM)を導出し、高圧
巻線11bおよび低圧巻線11cを設けている。
そして高圧巻線11bの高圧出力端(HV)を
一方の高圧出力端子13aに接続し、他方の高圧
出力端子13bを接地し、この高圧出力端子13
a,13b間に負荷Rを接続する。
一方の高圧出力端子13aに接続し、他方の高圧
出力端子13bを接地し、この高圧出力端子13
a,13b間に負荷Rを接続する。
そしてコモン端子(COM)を電流検出抵抗1
4を介して接地し、低圧巻線11cの低圧出力端
を(LV)を補償コンデンサ15を介して接地し
ている。
4を介して接地し、低圧巻線11cの低圧出力端
を(LV)を補償コンデンサ15を介して接地し
ている。
この補償コンデンサ15は、高圧巻線11bの
高圧出力端(HV)と接地との間の浮遊容量(図
字破線で接続して示すC)に低圧巻線11cに対
する高圧巻線11bの巻線比、すなわち低・高圧
巻線の出力電圧比を乗じた容量とする。
高圧出力端(HV)と接地との間の浮遊容量(図
字破線で接続して示すC)に低圧巻線11cに対
する高圧巻線11bの巻線比、すなわち低・高圧
巻線の出力電圧比を乗じた容量とする。
そしてコモン端子(COM)と電流検出抵抗1
4の接続点を増幅器16の入力に接続し、この増
幅器16の出力に、上記電流検出抵抗14の端子
間電圧、すなわち負荷Rを流れる電流に対応して
電圧を得るようにしている。
4の接続点を増幅器16の入力に接続し、この増
幅器16の出力に、上記電流検出抵抗14の端子
間電圧、すなわち負荷Rを流れる電流に対応して
電圧を得るようにしている。
このようにすれば、第1図に示すブロツク図は
第2図に示す等価回路で与えられる。
第2図に示す等価回路で与えられる。
ここで高圧トランスの一端(COM)を共通電
位としてノード方程式を立てると次の(2)式が成立
つ。
位としてノード方程式を立てると次の(2)式が成立
つ。
(jωc+1/RL)(V1−Vs)=
1/RsVs+jωNC(VS−V2) …(2)
ここで
V1は高圧巻線の出力電圧
V2は低圧巻線の出力電圧
Rsは電流検出抵抗の抵抗値
Vsは接地電位
Nは低圧・高圧巻線の巻線比
Cは浮遊容量の値
RLは負荷抵抗の抵抗値、
である。
ここで、V2=−V1/Nであり、これを(2)式に代
入すると上記(2)式は次の(3)式のように変形でき
る。
る。
1/RL(V1−Vs)=
{1/Rs+jωC(N+1)}Vs …(3)
そして、この場合第2図に示す等価回路は、た
とえば第3図に示す等価回路によつて表わすこと
ができ、浮遊容量Cを消去することができる。
とえば第3図に示す等価回路によつて表わすこと
ができ、浮遊容量Cを消去することができる。
そして負荷RLに流れる電流1/RL(V1−Vs)と
電流検出アドミツタンス{1/Rs+jωC(N+1)}
に流れる電流{1/Rs+jωC(N+1)}Vsは等し
い。
なお本考案は上記実施例に限定されるものでは
なく、例えば第4図に示す等価回路のように高圧
出力端子間に絶縁抵抗Rが接続されている場合に
も適用することができる。
なく、例えば第4図に示す等価回路のように高圧
出力端子間に絶縁抵抗Rが接続されている場合に
も適用することができる。
すなわち、この場合は、絶縁抵抗Rの値を低
圧・高圧巻線の巻線比で除した値を有する補償抵
抗を補償コンデンサNCに並列に接続する。
圧・高圧巻線の巻線比で除した値を有する補償抵
抗を補償コンデンサNCに並列に接続する。
この時のノード方程式は次の(4)式で与えられ
る。
る。
(jωC+1/R+1/RL)(V1−Vs)
=1/RsVs+(jωNC+N/R)(Vs+V1/N)…(4)
したがつてこの(4)式は、次の(5)式に変形でき
る。
る。
1/RL(V1−Vs)=
{1/Rs+1/R(N+1)+jωC(N+1)}Vs…
(5) そしてこの(5)式の等価回路は、第5図に示すよ
うになる。
(5) そしてこの(5)式の等価回路は、第5図に示すよ
うになる。
したがつて、第5図の等価回路では(5)式におい
て、浮遊容量Cおよび絶縁抵抗Rを消去すること
ができる。また、この時、負荷RLに流れる電流
は電流検出アドミツタンス{1/Rs+1/R(N+1) +jωC(N+1)}とその両端の電圧の積に等し
い。
て、浮遊容量Cおよび絶縁抵抗Rを消去すること
ができる。また、この時、負荷RLに流れる電流
は電流検出アドミツタンス{1/Rs+1/R(N+1) +jωC(N+1)}とその両端の電圧の積に等し
い。
さらに本考案は第6図に示すように、低圧巻線
の出力端を、増幅率kで、COM端子をコモンと
して動作する増幅器AMPおよび補償コンデンサ
NCを介して接地するようにしてもよい。
の出力端を、増幅率kで、COM端子をコモンと
して動作する増幅器AMPおよび補償コンデンサ
NCを介して接地するようにしてもよい。
この時のノード方程式は次の(6)式で与えられ
る。
る。
(jωkC+1/RL)(V1−Vs)
=1/RsVs+jωNC(Vs+V1/NK) …(6)
したがつてこの(6)式は、次の(7)式に変形でき
る。
る。
1/RL(V1−Vs)
={1/Rs+jωC(k+N)}Vs …(7)
そしてこの(7)式の等価回路は、第7図に示すよ
うになる。
うになる。
したがつて、浮遊容量Cを消去することがで
き、かつ増幅器AMPの増幅率kを可変すれば、
浮遊容量の値が変化しても補正が可能である。
き、かつ増幅器AMPの増幅率kを可変すれば、
浮遊容量の値が変化しても補正が可能である。
また、本考案は第8図に示すように、高圧トラ
ンスとしてオートトランスを用い、そのコモン端
子(COM)に電流検出抵抗14の一端を接続し、
この電流検出抵抗14の他端を高圧出力端子13
bに接続し、低圧出力端子(LV)の出力を、
COM端子をコモンとして動作するインバータ2
1および補償コンデンサ15を直列に介して、電
流検出抵抗14の他端に接続してもよい。
ンスとしてオートトランスを用い、そのコモン端
子(COM)に電流検出抵抗14の一端を接続し、
この電流検出抵抗14の他端を高圧出力端子13
bに接続し、低圧出力端子(LV)の出力を、
COM端子をコモンとして動作するインバータ2
1および補償コンデンサ15を直列に介して、電
流検出抵抗14の他端に接続してもよい。
なおこの場合の、補償コンデンサ15の容量
は、インバータ21の増幅率が乗じられるので、
必要な補償コンデンサの容量に対してインバータ
の増幅率を除した値のコンデンサを用いればよ
い。
は、インバータ21の増幅率が乗じられるので、
必要な補償コンデンサの容量に対してインバータ
の増幅率を除した値のコンデンサを用いればよ
い。
さらに、第9図に示すように高圧トランス11
としてオートトランスを用いて、その低圧出力端
(LV)を、高圧出力端子13bをコモンとして動
作するバツフアー22および補償コンデンサ15
を介して電流検出抵抗14の一端に接続してもよ
い。
としてオートトランスを用いて、その低圧出力端
(LV)を、高圧出力端子13bをコモンとして動
作するバツフアー22および補償コンデンサ15
を介して電流検出抵抗14の一端に接続してもよ
い。
特に、第9図に示す実施例の場合は、検出電流
が補償コンデンサを流れないので、高精度に補償
を行なうことができる。
が補償コンデンサを流れないので、高精度に補償
を行なうことができる。
[考案の効果]
以上のように本考案によれば、比較的簡単な構
成で、高圧巻線の出力端と接地との間の浮遊容量
に流れる電流による誤差を相殺し、正確な負荷電
流を測定することができる電流検出回路を提供す
ることができる。
成で、高圧巻線の出力端と接地との間の浮遊容量
に流れる電流による誤差を相殺し、正確な負荷電
流を測定することができる電流検出回路を提供す
ることができる。
第1図は本考案の一実施例を示す回路図、第2
図は第1図の等価回路図、第3図は第1図の回路
に適正な補正を行なつた時の等価回路図、第4
図、第5図は本考案の他の実施例を示す等価回路
図、第6図ないし第9図は本考案の各別の他の実
施例を示す等価回路図、第10図は従来の電流検
出回路の位置例を示す回路図、第11図は第10
図に示す電流検出回路の等価回路図である。 11……高圧トランス、12……交流電源、1
3a,13b……高圧出力端子、14……電流検
出抵抗、15……補償コンデンサ。
図は第1図の等価回路図、第3図は第1図の回路
に適正な補正を行なつた時の等価回路図、第4
図、第5図は本考案の他の実施例を示す等価回路
図、第6図ないし第9図は本考案の各別の他の実
施例を示す等価回路図、第10図は従来の電流検
出回路の位置例を示す回路図、第11図は第10
図に示す電流検出回路の等価回路図である。 11……高圧トランス、12……交流電源、1
3a,13b……高圧出力端子、14……電流検
出抵抗、15……補償コンデンサ。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 二次側に高圧巻線および低圧巻線を設けた高
圧トランスと、 上記高圧巻線の一端と接地との介挿した電流
検出抵抗と、 上記電流検出抵抗の端子間電圧から上記高圧
巻線の端子間に接続した負荷を流れる電流を測
定する手段とを有し、 一端に上記低圧巻線の出力電圧を与えられ他
端を上記電流検出抵抗の端子に接続した補償コ
ンデンサにより、上記高圧巻線の他端の高圧出
力端と接地との間の浮遊容量を介して上記電流
検出抵抗に流れる電流を打ち消す打消し手段を
具備することを特徴とする電流検出回路。 (2) 実用新案登録請求の範囲第1項に記載のもの
において、 上記高圧トランスは高圧巻線の途中から低圧
巻線用のタツプを導出したオートトランスであ
ることを特徴とする電流検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986058766U JPH0425659Y2 (ja) | 1986-04-21 | 1986-04-21 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986058766U JPH0425659Y2 (ja) | 1986-04-21 | 1986-04-21 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62170570U JPS62170570U (ja) | 1987-10-29 |
| JPH0425659Y2 true JPH0425659Y2 (ja) | 1992-06-19 |
Family
ID=30889628
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986058766U Expired JPH0425659Y2 (ja) | 1986-04-21 | 1986-04-21 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0425659Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003098217A (ja) * | 2001-09-25 | 2003-04-03 | Hioki Ee Corp | 絶縁耐圧試験器 |
| JP2005181021A (ja) * | 2003-12-17 | 2005-07-07 | Ntt Data Ex Techno Corp | 電流測定装置および電流測定手段を有する電源装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS556805U (ja) * | 1978-06-29 | 1980-01-17 |
-
1986
- 1986-04-21 JP JP1986058766U patent/JPH0425659Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62170570U (ja) | 1987-10-29 |
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