JPH0425780A - 超電導磁界測定装置 - Google Patents
超電導磁界測定装置Info
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- JPH0425780A JPH0425780A JP2130481A JP13048190A JPH0425780A JP H0425780 A JPH0425780 A JP H0425780A JP 2130481 A JP2130481 A JP 2130481A JP 13048190 A JP13048190 A JP 13048190A JP H0425780 A JPH0425780 A JP H0425780A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、粒界が弱結合構成の超電導体からなる磁気抵
抗素子に、バイアス磁界を印加する高感度の磁界測定装
置の測定精度向上に関するものである。
抗素子に、バイアス磁界を印加する高感度の磁界測定装
置の測定精度向上に関するものである。
ぐ従来の技術〉
従来、磁界の検出や測定などには、半導体又はある1n
Sb、InAs等での形状効果や、強磁性体金属である
F e −N i 、 Co −N i等での配向効果
を用いた磁気抵抗素子が実用化されている。
Sb、InAs等での形状効果や、強磁性体金属である
F e −N i 、 Co −N i等での配向効果
を用いた磁気抵抗素子が実用化されている。
更に、酸化物超電導体などで構成した粒子の粒界が弱結
合になった超電導体の磁気抵抗効果により、微弱な磁界
も検出と測定を行なう方法が開発されている。
合になった超電導体の磁気抵抗効果により、微弱な磁界
も検出と測定を行なう方法が開発されている。
〈発明が解決しようとする課題〉
従来の半導体や磁性体材料の磁気抵抗素子は、測定磁界
が弱いときは感度が悪いので、永久磁石などでバイアス
磁界を印加し、その磁気抵抗素子の感度のよい領域へ移
す方法もとられているが、それでも、微弱な磁界を精度
よく測定することは困難であった。
が弱いときは感度が悪いので、永久磁石などでバイアス
磁界を印加し、その磁気抵抗素子の感度のよい領域へ移
す方法もとられているが、それでも、微弱な磁界を精度
よく測定することは困難であった。
又、超電導体の磁気抵抗素子を用いる磁界の測定は、そ
の素子に流すバイアス電流値によって決まるしきい値以
上の強さの磁界が印加されたとき、素子の超電導状態が
破れて常電導状態に遷移するので、その遷移点から素子
の抵抗が急激に増大しそれに比例した出力電圧も形成さ
れる高感度の領域ができる特性がある。
の素子に流すバイアス電流値によって決まるしきい値以
上の強さの磁界が印加されたとき、素子の超電導状態が
破れて常電導状態に遷移するので、その遷移点から素子
の抵抗が急激に増大しそれに比例した出力電圧も形成さ
れる高感度の領域ができる特性がある。
しかし、その超電導体の磁気抵抗素子には10Hz以下
での低周波の揺らぎ現象があるので直流、又は1OHz
以下の交流バイアス磁界による測定では微弱な磁界の測
定が困難であり、更に冷却した超電導磁気抵抗素子がも
つ温度揺らぎによる出力の変動があり、この変動の補正
ができなかった。
での低周波の揺らぎ現象があるので直流、又は1OHz
以下の交流バイアス磁界による測定では微弱な磁界の測
定が困難であり、更に冷却した超電導磁気抵抗素子がも
つ温度揺らぎによる出力の変動があり、この変動の補正
ができなかった。
本発明は、従来の磁気抵抗効果を利用した磁界測定方法
がもつ課題を解消し、超電導磁気抵抗素子によシ、高い
精度で効率よく磁界を測定する装置を提供することを目
的としている。
がもつ課題を解消し、超電導磁気抵抗素子によシ、高い
精度で効率よく磁界を測定する装置を提供することを目
的としている。
く課題を解決するための手段〉
本発明の磁界測定装置は、弱結合の粒界をもつ鴨測定誤
差を避け、又、その超電導磁気抵抗素子の固有揺らぎが
測定誤差にならない高い周波数の交流バイアヌ磁界を印
加したときの超電導磁気抵抗素子の出力から、印7JI
] した交流バイアヌ磁界の周波数成分とその第2次高
調波成分を抽出し、この2成分を用いた演算で素子の温
度による出力の揺らぎを補正して、高感度で精度よく外
部磁界の強さを測定するものである。
差を避け、又、その超電導磁気抵抗素子の固有揺らぎが
測定誤差にならない高い周波数の交流バイアヌ磁界を印
加したときの超電導磁気抵抗素子の出力から、印7JI
] した交流バイアヌ磁界の周波数成分とその第2次高
調波成分を抽出し、この2成分を用いた演算で素子の温
度による出力の揺らぎを補正して、高感度で精度よく外
部磁界の強さを測定するものである。
なお、以上の磁気測定装置は、使用する超電導磁気抵抗
素子に印加する直流磁界の強さを変化できる直流バイア
ス磁界印加手段を設けている。
素子に印加する直流磁界の強さを変化できる直流バイア
ス磁界印加手段を設けている。
く作 用〉
高感度領域をもつが、低周波の個有揺ぎと、冷却時の温
度揺ぎにより高精度の磁界測定が困難であった超電導磁
気抵抗素子による磁界測定装置にその素子に印加する直
流磁界の強さを変える直流バイアヌ磁界印加手段と、素
子の個有低周波の揺らぎに影響されない高い周波数の交
流バイアス磁界を印加する手段と、その交流バイアス磁
界印加による素子の出力から抽出した該交流パイアヌ磁
界の周波数成分と、その第2次高調波成分を用いた演算
によシ、その磁気抵抗素子の冷却により生する磁界測定
装置にした。
度揺ぎにより高精度の磁界測定が困難であった超電導磁
気抵抗素子による磁界測定装置にその素子に印加する直
流磁界の強さを変える直流バイアヌ磁界印加手段と、素
子の個有低周波の揺らぎに影響されない高い周波数の交
流バイアス磁界を印加する手段と、その交流バイアス磁
界印加による素子の出力から抽出した該交流パイアヌ磁
界の周波数成分と、その第2次高調波成分を用いた演算
によシ、その磁気抵抗素子の冷却により生する磁界測定
装置にした。
〈実施例〉
以下、本発明の実施例を、図面を参照して説明する。
第8図は、本実施例に使用した超電導磁気抵抗素子14
の構成を示すもので、第8図fa)は素子14の平面図
で、同図fblは素子14の断面図である。第8図の素
子14は、非磁性の基板lO上に微小な酸化物超電導体
の粒子間が極めて薄い絶縁膜か常電導膜を介するか、ポ
イント状で結合した弱結合粒子の集合体からなる超電導
膜2を形成している。この膜2を機械的な加工で折り返
しのミアンダ形状にして、その両端の近くにそれぞれ一
対の電流電極8a、8b、及び電圧電極4 a、 4
bをチタン(Ti)の蒸着で形成している。以上の第8
図fa)に示したように素子14を使用するときは電流
電FM8a、8bに定電流電#i5を接続し、電圧電極
4a、4bに素子14の6カを測る電圧計6を接続して
いる。
の構成を示すもので、第8図fa)は素子14の平面図
で、同図fblは素子14の断面図である。第8図の素
子14は、非磁性の基板lO上に微小な酸化物超電導体
の粒子間が極めて薄い絶縁膜か常電導膜を介するか、ポ
イント状で結合した弱結合粒子の集合体からなる超電導
膜2を形成している。この膜2を機械的な加工で折り返
しのミアンダ形状にして、その両端の近くにそれぞれ一
対の電流電極8a、8b、及び電圧電極4 a、 4
bをチタン(Ti)の蒸着で形成している。以上の第8
図fa)に示したように素子14を使用するときは電流
電FM8a、8bに定電流電#i5を接続し、電圧電極
4a、4bに素子14の6カを測る電圧計6を接続して
いる。
次の第4図は、第8図で示した超電導膜をスプレーパイ
ロリシス法で作製する装置の概要を示している。実施例
のY−Ba−Cu−0系の酸化物超電導膜を作製すると
きは、原料の硝酸塩であるY (NO3)! ・6Hz
O、B a (NO3)2及びCu (NO3)2 ・
8HzOを元素が所定の組成比(YBa2Cu、)にな
るよう秤量した上、水溶液7にして、スプレーガン9の
容器8に入れておきパイプ10から送られる圧縮空気に
よって、スプレーガン9のノズルから小量ずつの噴霧1
1にする。噴霧11は、ヒーター12で約600 ’C
に加熱した基板13に吹き付けて、熱分解による酸化膜
にした。
ロリシス法で作製する装置の概要を示している。実施例
のY−Ba−Cu−0系の酸化物超電導膜を作製すると
きは、原料の硝酸塩であるY (NO3)! ・6Hz
O、B a (NO3)2及びCu (NO3)2 ・
8HzOを元素が所定の組成比(YBa2Cu、)にな
るよう秤量した上、水溶液7にして、スプレーガン9の
容器8に入れておきパイプ10から送られる圧縮空気に
よって、スプレーガン9のノズルから小量ずつの噴霧1
1にする。噴霧11は、ヒーター12で約600 ’C
に加熱した基板13に吹き付けて、熱分解による酸化膜
にした。
以上の酸化@は厚さ約10μmにした後、空気中で熱処
理を行1て所定の超電導膜にした。
理を行1て所定の超電導膜にした。
なお、上記実施例ではY系の酸化物超電体膜2で形成し
たが、超電導膜2は他のBi系又はTノ系など他の組成
の膜2にしてもよく、その成膜もスパツクやCVD法な
どの他の成膜方法を用いてた。
たが、超電導膜2は他のBi系又はTノ系など他の組成
の膜2にしてもよく、その成膜もスパツクやCVD法な
どの他の成膜方法を用いてた。
以上で説明した第3図の構造の超電導磁気抵抗素子14
には、第2図に示したように、同じ方向にバイアス磁界
を発生する2つのコイ/L’15,16の中央部に配置
して磁界検出部を構成している。
には、第2図に示したように、同じ方向にバイアス磁界
を発生する2つのコイ/L’15,16の中央部に配置
して磁界検出部を構成している。
この磁界検出部を用いることで精度のよい磁界の測定が
可能になるので、測定は磁気ノイズのない磁気シールド
室内で行った。
可能になるので、測定は磁気ノイズのない磁気シールド
室内で行った。
なお、第2図では配線の図示を省略しているが超電導磁
気抵抗素子14には第3図(alの配線が接続され、コ
イ/v15は交流電源を接続し、コイル16には直流電
源を接続している。
気抵抗素子14には第3図(alの配線が接続され、コ
イ/v15は交流電源を接続し、コイル16には直流電
源を接続している。
以上の構成にした磁界検出部を用いた測定での素子14
の出力特性の一例を示したのが第5図である。この測定
には素子14の電流電極8a、8bを介して10mAの
バイアス電流を流しておき、↓ コイ)v16により発生素子に印加した直流磁界の強さ
を変えたときの素子14の電圧電極4aと4bの間に発
生する素子の出力特性である。この図では縦軸が素子出
力特性を、横軸がコイル16で印加した直流磁界の強さ
を示している。
の出力特性の一例を示したのが第5図である。この測定
には素子14の電流電極8a、8bを介して10mAの
バイアス電流を流しておき、↓ コイ)v16により発生素子に印加した直流磁界の強さ
を変えたときの素子14の電圧電極4aと4bの間に発
生する素子の出力特性である。この図では縦軸が素子出
力特性を、横軸がコイル16で印加した直流磁界の強さ
を示している。
次の、第6図は、前記第5図で説明した測定に於て素子
14の出力に含まれているノイズ成分を周波数別にした
ものである。この第6図は縦軸がノイズの大きさで、横
軸が印加した直流磁界の強さである。
14の出力に含まれているノイズ成分を周波数別にした
ものである。この第6図は縦軸がノイズの大きさで、横
軸が印加した直流磁界の強さである。
この第6図から、素子14が発生するノイズの強さは、
印加した直流磁界の強さによる変化は少なく、又、その
ノイズを周波数成分に分けると数Hz程度迄の低周波領
域でのノイズが大きいことが分る。
印加した直流磁界の強さによる変化は少なく、又、その
ノイズを周波数成分に分けると数Hz程度迄の低周波領
域でのノイズが大きいことが分る。
従って超電導磁気抵抗素子14による磁界の測定に、直
流バイアス磁界の印加による直流磁界又は低周波磁界の
測定はノイズに影響されるので、精密な磁界の測定が困
難なことを示している。
流バイアス磁界の印加による直流磁界又は低周波磁界の
測定はノイズに影響されるので、精密な磁界の測定が困
難なことを示している。
本発明による磁界の測定装置は、以上で説明した超電導
磁気抵抗素子14がもつ低周波のノイズに影響されるこ
となく直流磁界及び低周期の変化磁界を測定し、かつ、
その超電導磁気抵抗素子14を超電導状態にするための
冷却のとき生じる能にしたものである。
磁気抵抗素子14がもつ低周波のノイズに影響されるこ
となく直流磁界及び低周期の変化磁界を測定し、かつ、
その超電導磁気抵抗素子14を超電導状態にするための
冷却のとき生じる能にしたものである。
第7図に示したのが、本発明の実施例の交流バイアス磁
界印加による素子14の出力波形である。
界印加による素子14の出力波形である。
この第7図fa)は、第2図で説明した交流磁界用コイ
ル15に1kHzの交流電流を流した振幅100 mg
aussの正弦波の交流磁界であり、この交流磁界を素
子14に印加している。
ル15に1kHzの交流電流を流した振幅100 mg
aussの正弦波の交流磁界であり、この交流磁界を素
子14に印加している。
上記のように、コイ)v15によフ素子14に交流磁界
を印加した状態で、更に、直流磁界用コイル16に所定
の直流電流を流すことで、素子14に直流磁界を印加す
ると、その印加磁界の強さにより前記第5図で示した出
力特注と同じように第8図の特性図になる。この特性曲
線上に記入したA、B、C,D及びE点に対応する直流
磁界を印加したとき、素子14が発生する出力信号は、
第7図fb1. (cL fdl、 iel及びffl
に示した波形になる。
を印加した状態で、更に、直流磁界用コイル16に所定
の直流電流を流すことで、素子14に直流磁界を印加す
ると、その印加磁界の強さにより前記第5図で示した出
力特注と同じように第8図の特性図になる。この特性曲
線上に記入したA、B、C,D及びE点に対応する直流
磁界を印加したとき、素子14が発生する出力信号は、
第7図fb1. (cL fdl、 iel及びffl
に示した波形になる。
以上の第7図の出力信号は、実施例を第1図に示した磁
界検出部に接続し、プロ・りにして表示した装置で、信
号処理を行ない素子14の揺ぎによ6変動を補償してい
る。
界検出部に接続し、プロ・りにして表示した装置で、信
号処理を行ない素子14の揺ぎによ6変動を補償してい
る。
即ち、第1図で素子14の電圧電極4a、4bからの出
力は差動増幅器により20倍に増幅した後に、遮断周波
数が2.5kH2のローパスフィルターを使ったアンチ
・エリアシングフィルターを入れて、折り返し雑音によ
る影響を排除される。
力は差動増幅器により20倍に増幅した後に、遮断周波
数が2.5kH2のローパスフィルターを使ったアンチ
・エリアシングフィルターを入れて、折り返し雑音によ
る影響を排除される。
以上のアンチ・エリアシングフィルターからの出力信号
は、デジタル信号処理回路に入力するmlに、デジタル
信号に変換するがこの変換を第9図を用いて説明する。
は、デジタル信号処理回路に入力するmlに、デジタル
信号に変換するがこの変換を第9図を用いて説明する。
第9図falはコイ/L/15によシ素子14に印加す
る交流バイアス磁界で、第9図(blはそのときの素子
14の出力信号でsb、このときの交流磁界を発生させ
る正弦波発生器からのトリガー信号(第9図(d))と
サンプリング信号(第9図(C))の2種類のタイミン
グ信号を用いることで交流磁界に同期させたデジタル変
換を行っている。
る交流バイアス磁界で、第9図(blはそのときの素子
14の出力信号でsb、このときの交流磁界を発生させ
る正弦波発生器からのトリガー信号(第9図(d))と
サンプリング信号(第9図(C))の2種類のタイミン
グ信号を用いることで交流磁界に同期させたデジタル変
換を行っている。
デジタル変換は16ビノトのA−D変換器で、前記交流
磁界の1周期の間に等時間間隔で16回のサンプリング
を行ないデジタル変換している。
磁界の1周期の間に等時間間隔で16回のサンプリング
を行ないデジタル変換している。
以上でデジタル変換した信号から、交流バイアス磁界と
同じ周波成分(基本波成分〕とその2倍の周波数成分(
第2次高調波成分)をフーリエ変換を行って算出する。
同じ周波成分(基本波成分〕とその2倍の周波数成分(
第2次高調波成分)をフーリエ変換を行って算出する。
その算出した基本波の直を第2次高調波成分の値で除算
することで、前記揺ぎによる変動を除去している。
することで、前記揺ぎによる変動を除去している。
本実施例では1kHzの交流バイアス磁界を用土したの
で、素子14の低周波のノイズ成分の実効函を低くする
ことが可能になった。
で、素子14の低周波のノイズ成分の実効函を低くする
ことが可能になった。
以上のA−D変換器に接続した信号処理器によシ、原理
的には次のデジタル処理を行っている。
的には次のデジタル処理を行っている。
前記のようにA−D変換によシ、離散型デジタル値にし
たので、数値的解析を行なうために離散型フーリエ変換
を行った。即ち、実数値関数x(t)について次のフー
リエ展開を行なう。
たので、数値的解析を行なうために離散型フーリエ変換
を行った。即ち、実数値関数x(t)について次のフー
リエ展開を行なう。
xftl=+ao+atcost+−+ay−0cos
(y−1)t+y a N、/ cos y t 十b
15int + −十b sin (’−1)
t −−・・(1)%−h12 (1)式でN項の離散型フーリエ変換での各係数は次の
ようになる。
(y−1)t+y a N、/ cos y t 十b
15int + −十b sin (’−1)
t −−・・(1)%−h12 (1)式でN項の離散型フーリエ変換での各係数は次の
ようになる。
(2)、 (3)式において、X は入力データ。
Nはデータ
数である。
本実施例では16ビノトのデータを信号処理器によシ、
高速で以上に述べた変換を行なうことで各周波数成分を
算出している。
高速で以上に述べた変換を行なうことで各周波数成分を
算出している。
この実施例では1周期に16回サンプリングするデータ
を8周期分、すなわち、128のデータによコで計算し
た。
を8周期分、すなわち、128のデータによコで計算し
た。
なお素子の冷却は、断熱容器中の液体窒素に浸して、そ
れを蒸発させる方式であるため素子の温度揺ぎは避けら
れず、このため従来の基本波成分のみで磁界の計測して
いたときは素子14の温度特性による出力の揺らぎの誤
差が入っていた。
れを蒸発させる方式であるため素子の温度揺ぎは避けら
れず、このため従来の基本波成分のみで磁界の計測して
いたときは素子14の温度特性による出力の揺らぎの誤
差が入っていた。
本発明では、上記で説明した方法による第2次高調波成
分も用いている。素子14の特性から第2次高調波成分
は、一定の磁界の強さの範囲内で外部磁界の強さに依ら
ず素子の温度による特性の変化のみになる。これに対し
て、その基本波成分には、外部磁界の強さと温度揺らぎ
による素子の出力変化に影響された出力となっている。
分も用いている。素子14の特性から第2次高調波成分
は、一定の磁界の強さの範囲内で外部磁界の強さに依ら
ず素子の温度による特性の変化のみになる。これに対し
て、その基本波成分には、外部磁界の強さと温度揺らぎ
による素子の出力変化に影響された出力となっている。
従って基本波成分を第2次高調波成分で除算することに
より、基本波成分から素子の温度揺らぎで発生した成分
のみ除去できる。従−て、従来の実施例の基本波成分の
みをロックインアンプで検出した方法に比較すると、本
発明の方法は出力の揺らぎを5分の1程度まで減衰させ
ることができた。
より、基本波成分から素子の温度揺らぎで発生した成分
のみ除去できる。従−て、従来の実施例の基本波成分の
みをロックインアンプで検出した方法に比較すると、本
発明の方法は出力の揺らぎを5分の1程度まで減衰させ
ることができた。
次に、以上で説明した信号処理の概要を説明する。
第10図[aJの素子14に印加する交流磁界と、第1
0図[blの素子14の出力との位相差θを測定し、前
記フーリエ変換の係数に次の補正を行ない各成分を求め
た。この位相差の補正を行なうことで、第10図(cl
に示したような正弦波の成分を求めることができる。
0図[blの素子14の出力との位相差θを測定し、前
記フーリエ変換の係数に次の補正を行ない各成分を求め
た。この位相差の補正を行なうことで、第10図(cl
に示したような正弦波の成分を求めることができる。
以上による基本波の余弦成分と正弦成分及び第2次高調
波の余弦成分と正弦成分を、それぞれ、C1とS□及び
C2とS2とすると、それらの周波数での絶対値成分と
したMlとM2は次の式により求められる。
波の余弦成分と正弦成分を、それぞれ、C1とS□及び
C2とS2とすると、それらの周波数での絶対値成分と
したMlとM2は次の式により求められる。
Ml−3n丁T7−(6)
以上での計算によるそれぞれの値により次のように出力
が演算される。
が演算される。
基本波正弦成分/第2次高調波絶対値成分−S z /
M 2 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・(8)基本波絶対値成分/第
2次高調波絶対値成分−M I / M 2 ・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・(9)上記の(8)式により、印加した交流磁界と
同じ方向の外部磁界成分について極性をもった測定が可
能になる。又、(9)式により印加した交流磁界と同じ
方向の外部磁界成分について極性のない絶対値として測
定が可能になる。以上で説明したように磁気検出部の出
力と、印加した交流磁界との位相差になった揺らぎの成
分が信号処理回路での演算によって補償されている。
M 2 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・(8)基本波絶対値成分/第
2次高調波絶対値成分−M I / M 2 ・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・(9)上記の(8)式により、印加した交流磁界と
同じ方向の外部磁界成分について極性をもった測定が可
能になる。又、(9)式により印加した交流磁界と同じ
方向の外部磁界成分について極性のない絶対値として測
定が可能になる。以上で説明したように磁気検出部の出
力と、印加した交流磁界との位相差になった揺らぎの成
分が信号処理回路での演算によって補償されている。
以上のように磁界測定を行った結果を示したのが第11
図である。この第11図の横軸は測定した外部磁界の強
さであシ、縦軸は実施例の超電導磁界測定装置の(8)
式の演算による出力である。この信号処理は演算時間の
短縮化を図るため、第2次高調波成分をM2からC2に
置換して処理することも可能である。このような演算は
以上の例に限定されず、目的に応じて他の組み合せで演
算処理することも可能である。
図である。この第11図の横軸は測定した外部磁界の強
さであシ、縦軸は実施例の超電導磁界測定装置の(8)
式の演算による出力である。この信号処理は演算時間の
短縮化を図るため、第2次高調波成分をM2からC2に
置換して処理することも可能である。このような演算は
以上の例に限定されず、目的に応じて他の組み合せで演
算処理することも可能である。
以上は、本発明の実施例によって説明したが本発明はこ
の実施例によって限定されるものでなく超電導磁気抵抗
素子へのバイアヌ電流値、印加する交流バイアス磁界の
強さや周波数、又は、直流バイアス磁界印加の有無と、
その直流バイアス磁界の強さの制御により測定する磁界
の強さの範囲又は、その測定精度を変更することも可能
になる。
の実施例によって限定されるものでなく超電導磁気抵抗
素子へのバイアヌ電流値、印加する交流バイアス磁界の
強さや周波数、又は、直流バイアス磁界印加の有無と、
その直流バイアス磁界の強さの制御により測定する磁界
の強さの範囲又は、その測定精度を変更することも可能
になる。
又、素子14の出力信号の処理においても、A−り変換
器の分解能や、1周期毎のサンプリング回数は印加した
交流バイアス磁界の1周期内のサンプリング回数が4回
以上の任意の回数、及び、サンプリング点の各成分値を
求めるサンプル数も1周期以上の任意の周期に設定する
など、目的に応じて任意に変更できるものである。
器の分解能や、1周期毎のサンプリング回数は印加した
交流バイアス磁界の1周期内のサンプリング回数が4回
以上の任意の回数、及び、サンプリング点の各成分値を
求めるサンプル数も1周期以上の任意の周期に設定する
など、目的に応じて任意に変更できるものである。
更に、本実施例では素子14の出力をデジタル化した上
で信号処理したが、これはアナログ的信号処理法での実
現も可能である。
で信号処理したが、これはアナログ的信号処理法での実
現も可能である。
以上の他、実施例の直流と交流電流を別に流す2つのコ
イルを用いたバイアス磁界の発生も、1個のコイルに直
流と交流の両方を流す方仏にしてもよい。更に、以上で
説明したコイルを、超電導磁気抵抗素子用の薄膜を形成
した基板に成膜した導体薄膜で形成して、磁気測定の安
定化と測定装置組立の簡易化などを図ることができる。
イルを用いたバイアス磁界の発生も、1個のコイルに直
流と交流の両方を流す方仏にしてもよい。更に、以上で
説明したコイルを、超電導磁気抵抗素子用の薄膜を形成
した基板に成膜した導体薄膜で形成して、磁気測定の安
定化と測定装置組立の簡易化などを図ることができる。
〈発明の効果〉
本発明は、交流バイアス磁界を印加することで超電導磁
気抵抗素子がもつ数Hz以下の固有低周波数のノイズの
影響を避けると共に、その超電導磁気抵抗素子の冷却に
よ多発生する温度揺らぎも出力信号からの高調波成分と
の演算で補償することで微弱な磁界も高い分解能で測定
する装置である。
気抵抗素子がもつ数Hz以下の固有低周波数のノイズの
影響を避けると共に、その超電導磁気抵抗素子の冷却に
よ多発生する温度揺らぎも出力信号からの高調波成分と
の演算で補償することで微弱な磁界も高い分解能で測定
する装置である。
又、超電導磁気抵抗素子は形状の大きさは感度に関連し
ないので、その素子やコイルなどの小型化も可能であり
、微小な空間での測定も可能であフ医療や非破壊検査な
ど多くの分野に利用することができる。
ないので、その素子やコイルなどの小型化も可能であり
、微小な空間での測定も可能であフ医療や非破壊検査な
ど多くの分野に利用することができる。
農
第1図は本発明の実施例磁気測定装置を機能ブロックで
示した図、第2図は実施例の磁界検出部の斜視図、第3
図は実施例の超電導磁気抵抗素子の構成を示す平面図と
断面図、第4図はスジ1/−パイロリシスによるセラミ
ック膜の製造装置の概工 要構成図、第ダ図は実施例の印加磁界の強さに対する出
力特性図、第6図は実施例の印加磁界の強さによる周波
数別ノイズ電圧の特性図、第7図は実施例の印加磁界の
強さに対応する出力波形図、第8図は第6図の出力波形
に対応する出力曲線上の動作点を示す図、第9図は素子
出力信号Dデジタル変換を説明する波形図、第10図は
印加交流磁界と出力信号との位相差補正を示す波形口、
第11図は本発明の実施例による磁界−出力特性図であ
る。 1.18・・・基板、2・・・超電導膜、3・・・電流
電極、4・・・電圧電極、5・・・定電流電源、6・・
・電圧計、7・・・水溶液、8・・・容器、9・・・ス
プレーガン、10・・・パイプ、11・・・噴霧、12
・・・ヒーター・・超電流磁気抵抗素子、 ・・交流バイアス磁界用コイル、 ・直流バイアス磁界用コイル。
示した図、第2図は実施例の磁界検出部の斜視図、第3
図は実施例の超電導磁気抵抗素子の構成を示す平面図と
断面図、第4図はスジ1/−パイロリシスによるセラミ
ック膜の製造装置の概工 要構成図、第ダ図は実施例の印加磁界の強さに対する出
力特性図、第6図は実施例の印加磁界の強さによる周波
数別ノイズ電圧の特性図、第7図は実施例の印加磁界の
強さに対応する出力波形図、第8図は第6図の出力波形
に対応する出力曲線上の動作点を示す図、第9図は素子
出力信号Dデジタル変換を説明する波形図、第10図は
印加交流磁界と出力信号との位相差補正を示す波形口、
第11図は本発明の実施例による磁界−出力特性図であ
る。 1.18・・・基板、2・・・超電導膜、3・・・電流
電極、4・・・電圧電極、5・・・定電流電源、6・・
・電圧計、7・・・水溶液、8・・・容器、9・・・ス
プレーガン、10・・・パイプ、11・・・噴霧、12
・・・ヒーター・・超電流磁気抵抗素子、 ・・交流バイアス磁界用コイル、 ・直流バイアス磁界用コイル。
Claims (1)
- 1 交流バイアス磁界を印加した、粒界が弱結合の粒子
の集合体の超電導体からなる磁気抵抗素子の出力信号か
ら、外部磁界を測定する磁界測定装置において、前記出
力信号から抽出した前記交流バイアス磁界の周波数成分
と第二次高調波成分との比較演算により、前記磁気抵抗
素子が発生する個有の雑音成分を減少した外部磁界測定
信号を形成することを特徴とする超電導磁界測定装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2130481A JPH07113665B2 (ja) | 1990-05-21 | 1990-05-21 | 超電導磁界測定装置 |
| DE69116736T DE69116736T2 (de) | 1990-05-21 | 1991-05-21 | System zum Messen eines Magnetfeldes mit Hilfe eines Supraleitermagnetwiderstandselementes |
| EP91304553A EP0459679B1 (en) | 1990-05-21 | 1991-05-21 | A system for sensing a magnetic field with use of a superconductor magneto-resistive element |
| US07/703,671 US5194808A (en) | 1990-05-21 | 1991-05-21 | Magnetic field detector using a superconductor magnetoresistive element with ac and dc biasing and a signal processor using fourier transform |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2130481A JPH07113665B2 (ja) | 1990-05-21 | 1990-05-21 | 超電導磁界測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0425780A true JPH0425780A (ja) | 1992-01-29 |
| JPH07113665B2 JPH07113665B2 (ja) | 1995-12-06 |
Family
ID=15035288
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2130481A Expired - Lifetime JPH07113665B2 (ja) | 1990-05-21 | 1990-05-21 | 超電導磁界測定装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5194808A (ja) |
| EP (1) | EP0459679B1 (ja) |
| JP (1) | JPH07113665B2 (ja) |
| DE (1) | DE69116736T2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008513762A (ja) * | 2004-09-16 | 2008-05-01 | リエゾン、エレクトロニク−メカニク、エルウエム、ソシエテ、アノニム | 連続校正式磁界センサー |
| JP2019207167A (ja) * | 2018-05-29 | 2019-12-05 | 株式会社東芝 | 磁気センサ及び診断装置 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2700891B1 (fr) * | 1993-01-26 | 1996-06-07 | Thomson Csf | Transducteur frequence/tension a supraconducteur et application aux convertisseurs de frequence/tension. |
| CA2303677A1 (en) * | 1999-04-09 | 2000-10-09 | Hideo Itozaki | Device and method for easily adjusting working point of squid |
| US6891167B2 (en) * | 2000-06-15 | 2005-05-10 | Kla-Tencor Technologies | Apparatus and method for applying feedback control to a magnetic lens |
| US9267781B2 (en) * | 2013-11-19 | 2016-02-23 | Infineon Technologies Ag | On-axis magnetic field angle sensors, systems and methods |
| JP6625083B2 (ja) | 2017-03-21 | 2019-12-25 | 株式会社東芝 | 磁気センサ、生体細胞検出装置及び診断装置 |
| CN111812562B (zh) * | 2020-06-01 | 2024-01-30 | 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院 | 一种用于高温超导环形磁体的失超检测方法及装置 |
| DE102023105724A1 (de) * | 2023-03-08 | 2024-09-12 | Helmholtz-Zentrum Dresden - Rossendorf E. V. | Verfahren und Sensorsystem |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0301902B1 (en) * | 1987-07-29 | 1993-09-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Method and device for sensing a magnetic field with use of a magneto-resistive property of a superconductive material |
| EP0323187B1 (en) * | 1987-12-25 | 1994-03-23 | Sharp Kabushiki Kaisha | Superconductive magneto-resistive device |
| US4906607A (en) * | 1988-04-06 | 1990-03-06 | Drexel University | Sensor and method for indicating the presence of a low magnetic field using high critical temperature superconductor ceramic material to absorb electromagnetic energy |
| JPH0216475A (ja) * | 1988-07-04 | 1990-01-19 | Sharp Corp | 超電導磁気測定装置 |
| JPH0227279A (ja) * | 1988-07-15 | 1990-01-30 | Sharp Corp | 超電導磁気測定装置 |
-
1990
- 1990-05-21 JP JP2130481A patent/JPH07113665B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-05-21 DE DE69116736T patent/DE69116736T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-05-21 EP EP91304553A patent/EP0459679B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-05-21 US US07/703,671 patent/US5194808A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008513762A (ja) * | 2004-09-16 | 2008-05-01 | リエゾン、エレクトロニク−メカニク、エルウエム、ソシエテ、アノニム | 連続校正式磁界センサー |
| JP4757260B2 (ja) * | 2004-09-16 | 2011-08-24 | リエゾン、エレクトロニク−メカニク、エルウエム、ソシエテ、アノニム | 連続校正式磁界センサー |
| JP2019207167A (ja) * | 2018-05-29 | 2019-12-05 | 株式会社東芝 | 磁気センサ及び診断装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07113665B2 (ja) | 1995-12-06 |
| DE69116736T2 (de) | 1996-10-02 |
| EP0459679A1 (en) | 1991-12-04 |
| EP0459679B1 (en) | 1996-01-31 |
| US5194808A (en) | 1993-03-16 |
| DE69116736D1 (de) | 1996-03-14 |
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