JPH04261475A - ポジ型感光性電着塗料組成物 - Google Patents
ポジ型感光性電着塗料組成物Info
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Landscapes
- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、導電性を有する基板、
特にプリント配線板用のポジ型感光性電着塗料に関する
ものであり、更に詳しくはスルーホールを有する銅張積
層板に電着塗装し粘着性のない平滑な塗膜を形成し、該
電着塗装膜上に回路パターンを持ったポジマスクを介し
て紫外線を照射した後、現像、エッチング及びはく離工
程をへて高密度配線板を製造するのに好適なポジ型感光
性電着塗料組成物に関するものである。
特にプリント配線板用のポジ型感光性電着塗料に関する
ものであり、更に詳しくはスルーホールを有する銅張積
層板に電着塗装し粘着性のない平滑な塗膜を形成し、該
電着塗装膜上に回路パターンを持ったポジマスクを介し
て紫外線を照射した後、現像、エッチング及びはく離工
程をへて高密度配線板を製造するのに好適なポジ型感光
性電着塗料組成物に関するものである。
【0002】
【従来の技術】プリント配線板の回路形成の方法として
は従来より各種の方法があるがスクリーン印刷法とフォ
ト法に大別される。スクリーン印刷法は銅張基板上にス
クリーン印刷にて熱硬化型又は紫外線硬化型のレジスト
膜の回路パターンを形成する方法であるが200μ以下
の回路パターンの形成は難しい。一方、フォト法では従
来より感光性フィルム法が主流であるがフィルム厚が一
般に50μと厚いため得られる回路パターンがシャープ
でなく且つ銅張基板上に均一にラミネートするのが難し
いなどの問題がある。
は従来より各種の方法があるがスクリーン印刷法とフォ
ト法に大別される。スクリーン印刷法は銅張基板上にス
クリーン印刷にて熱硬化型又は紫外線硬化型のレジスト
膜の回路パターンを形成する方法であるが200μ以下
の回路パターンの形成は難しい。一方、フォト法では従
来より感光性フィルム法が主流であるがフィルム厚が一
般に50μと厚いため得られる回路パターンがシャープ
でなく且つ銅張基板上に均一にラミネートするのが難し
いなどの問題がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】先述のフォトレジスト
にはネガ型とポジ型があり、感光性フィルムは通常ネガ
型である。ネガ型とは光照射された部分即ち露光部が紫
外線等の照射により硬化する組成物であり現像により未
露光部が溶出されパターニングが出来る方式である。ポ
ジ型はその反対に露光部が光分解され現像により溶出さ
れパターニングされる方式である。
にはネガ型とポジ型があり、感光性フィルムは通常ネガ
型である。ネガ型とは光照射された部分即ち露光部が紫
外線等の照射により硬化する組成物であり現像により未
露光部が溶出されパターニングが出来る方式である。ポ
ジ型はその反対に露光部が光分解され現像により溶出さ
れパターニングされる方式である。
【0004】現在のプリント配線板の製造に於いてはよ
り高密度の回路が望まれ、多層板の製造割合が増加する
傾向があり、スルーホールを有する配線板の製造に於い
てはネガ型のフォトレジストを用いるとスルーホール内
部を露光し完全に硬化させる事が困難である。もし不完
全な硬化の状態で現像、エッチング工程を行えばスルー
ホール内のレジスト膜が無いため結果としてスルーホー
ル欠損を生じる。それ故これを防止する余分な工程を必
要とする。ポジ型の場合には原理的にこの問題は解決で
きる。前述の如くスクリーン印刷法、感光性フィルム法
に於いては解像度、密着性等の諸問題があり原理的には
ネガ型はスルーホールの処理方法に問題があるなど現状
の高密度配線板の製造に使用されるものとして満足でき
るものではない。
り高密度の回路が望まれ、多層板の製造割合が増加する
傾向があり、スルーホールを有する配線板の製造に於い
てはネガ型のフォトレジストを用いるとスルーホール内
部を露光し完全に硬化させる事が困難である。もし不完
全な硬化の状態で現像、エッチング工程を行えばスルー
ホール内のレジスト膜が無いため結果としてスルーホー
ル欠損を生じる。それ故これを防止する余分な工程を必
要とする。ポジ型の場合には原理的にこの問題は解決で
きる。前述の如くスクリーン印刷法、感光性フィルム法
に於いては解像度、密着性等の諸問題があり原理的には
ネガ型はスルーホールの処理方法に問題があるなど現状
の高密度配線板の製造に使用されるものとして満足でき
るものではない。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明者らはプリント配
線板の製造に関し上述のごとき従来法の欠点を改善すべ
く鋭意研究を重ねた結果、ポジ型感光性電着塗料を用い
て回路パターンの形成を行えば作業性に優れた信頼性の
高い高密度配線板の製造が可能であるとの実験結果を得
てこの知見に基づいて本発明を完成した。先述の如く解
像度、密着性及びスルーホールを有するプリント基板の
製造に於ける諸問題は全てポジ型感光性電着塗料を用い
た回路形成法で解決する。即ちポジ型のフォトレジスト
はスルーホールを有する配線板の製造に特に好適である
。その理由は先述のネガ型とは逆にスルーホール内のレ
ジストを露光する必要がないからである。即ち工程順に
説明するとポジ型レジストの場合、電着塗装にてレジス
ト膜が形成されることで配線基板上への膜厚分布は全て
ほぼ均一に出来るし、任意の膜厚が容易に得られる。 特に注目すべきは銅との付着性が他の塗装方法よりも数
倍優れている事である。更にスルーホール内の膜厚分布
はほぼ一定であり、配線基板の表面上の膜厚とも同じで
ある事である。
線板の製造に関し上述のごとき従来法の欠点を改善すべ
く鋭意研究を重ねた結果、ポジ型感光性電着塗料を用い
て回路パターンの形成を行えば作業性に優れた信頼性の
高い高密度配線板の製造が可能であるとの実験結果を得
てこの知見に基づいて本発明を完成した。先述の如く解
像度、密着性及びスルーホールを有するプリント基板の
製造に於ける諸問題は全てポジ型感光性電着塗料を用い
た回路形成法で解決する。即ちポジ型のフォトレジスト
はスルーホールを有する配線板の製造に特に好適である
。その理由は先述のネガ型とは逆にスルーホール内のレ
ジストを露光する必要がないからである。即ち工程順に
説明するとポジ型レジストの場合、電着塗装にてレジス
ト膜が形成されることで配線基板上への膜厚分布は全て
ほぼ均一に出来るし、任意の膜厚が容易に得られる。 特に注目すべきは銅との付着性が他の塗装方法よりも数
倍優れている事である。更にスルーホール内の膜厚分布
はほぼ一定であり、配線基板の表面上の膜厚とも同じで
ある事である。
【0006】この様に従来法又は他の方法では得られな
い特徴及び利点を持った電着塗装で形成されたポジ型レ
ジスト膜は電着塗装浴液及び槽から出た後付着する浴液
を水洗除去した後一定の条件で乾燥されると平滑な粘着
性のない膜になる。次いでポジ型パターンマスクを介し
て紫外線を照射すると塗膜中のオルソキノンジアジド基
が光分解しケテン化合物を得て水と接触するとカルボン
酸を生成する。それ故アルカリ水で現像すると水溶性塩
を形成し溶出除去され未露光部のみがマスクのパターン
に応じて残存し回路が形成される。未露光部の電着レジ
スト膜で形成されている回路板の露出銅箔部を塩化第二
鉄又は塩化第二銅の水溶液でエッチングし次いでレジス
ト膜をはく離する事で精密な回路をもった配線板が製造
される。上述の説明でわかる様にスルーホールに関して
はポジ型はエッチングレジストとしては未露光部がその
役目を果たすものであるからスルーホール内の照射が必
要なく従ってスルーホールの径及びアスペクト比の大小
とに無関係でかつマスキングをする以外は特に煩雑な前
処理工程をする必要が無い事で最も優れた方法といえる
。
い特徴及び利点を持った電着塗装で形成されたポジ型レ
ジスト膜は電着塗装浴液及び槽から出た後付着する浴液
を水洗除去した後一定の条件で乾燥されると平滑な粘着
性のない膜になる。次いでポジ型パターンマスクを介し
て紫外線を照射すると塗膜中のオルソキノンジアジド基
が光分解しケテン化合物を得て水と接触するとカルボン
酸を生成する。それ故アルカリ水で現像すると水溶性塩
を形成し溶出除去され未露光部のみがマスクのパターン
に応じて残存し回路が形成される。未露光部の電着レジ
スト膜で形成されている回路板の露出銅箔部を塩化第二
鉄又は塩化第二銅の水溶液でエッチングし次いでレジス
ト膜をはく離する事で精密な回路をもった配線板が製造
される。上述の説明でわかる様にスルーホールに関して
はポジ型はエッチングレジストとしては未露光部がその
役目を果たすものであるからスルーホール内の照射が必
要なく従ってスルーホールの径及びアスペクト比の大小
とに無関係でかつマスキングをする以外は特に煩雑な前
処理工程をする必要が無い事で最も優れた方法といえる
。
【0007】この様なポジ型感光性電着塗料については
すでに特公昭49−9642にその方法が提案されてい
るが具体的な組成説明がなく概念のみの記述に終わって
いる。特にポジ型感光剤であるキノンジアジド化合物に
ついては水溶性アクリル樹脂液に単に混合したものであ
る事がわかる。本発明者らの研究によれば代表的ポジ型
感光剤である1,2ナフトキノンジアジド5−スルホン
酸エステル化合物は水溶性樹脂と混合して水分散した場
合非常に安定性が悪いことが確認されている。即ち水分
散している樹脂成分と分離してキノンジアジド化合物の
みが沈澱する。
すでに特公昭49−9642にその方法が提案されてい
るが具体的な組成説明がなく概念のみの記述に終わって
いる。特にポジ型感光剤であるキノンジアジド化合物に
ついては水溶性アクリル樹脂液に単に混合したものであ
る事がわかる。本発明者らの研究によれば代表的ポジ型
感光剤である1,2ナフトキノンジアジド5−スルホン
酸エステル化合物は水溶性樹脂と混合して水分散した場
合非常に安定性が悪いことが確認されている。即ち水分
散している樹脂成分と分離してキノンジアジド化合物の
みが沈澱する。
【0008】本発明者らはポジ型感光剤であるキノンジ
アジド化合物を安定に水分散する為には水溶性又は水分
散性樹脂とキノンジアジド化合物を反応し樹脂と結合し
たキノンジアジド化合物を含有する水溶性又は水分酸性
樹脂を得る事が重要と考え新規でかつ安定な結合方法に
工夫を重ねた。その結果本発明に至ったものである。
アジド化合物を安定に水分散する為には水溶性又は水分
散性樹脂とキノンジアジド化合物を反応し樹脂と結合し
たキノンジアジド化合物を含有する水溶性又は水分酸性
樹脂を得る事が重要と考え新規でかつ安定な結合方法に
工夫を重ねた。その結果本発明に至ったものである。
【0009】本発明は分子中に下記式(1)で示される
変性キノンジアジドスルホン酸単位を含むアニオン性又
はカチオン性の水溶性又は水分散性ポジ型感光性樹脂を
主成分とするポジ型感光性電着塗料組成物である。式(
1)
変性キノンジアジドスルホン酸単位を含むアニオン性又
はカチオン性の水溶性又は水分散性ポジ型感光性樹脂を
主成分とするポジ型感光性電着塗料組成物である。式(
1)
【0010】更に式(1)について説明するとR1 の
アルキル基は直鎖状又は分岐鎖状のいずれでもよく、例
えばメチル、エチル、n−プロピル、iso−プロピル
、n−ブチル、iso−ブチル、tert−ブチル、n
−ペンチル、ネオペンチル、n−ヘキシル、n−オクチ
ル、n−ノニル,n−デシル等がある。アルコキシ基は
例えばメトキシ、エトキシ、プロポキシ、ブトキシ等が
ある。
アルキル基は直鎖状又は分岐鎖状のいずれでもよく、例
えばメチル、エチル、n−プロピル、iso−プロピル
、n−ブチル、iso−ブチル、tert−ブチル、n
−ペンチル、ネオペンチル、n−ヘキシル、n−オクチ
ル、n−ノニル,n−デシル等がある。アルコキシ基は
例えばメトキシ、エトキシ、プロポキシ、ブトキシ等が
ある。
【0011】R5 のアルキレン基としては例えばなど
がある。シクロアルキレン基としては例えばなどがある
。フェニレン基としては例えばなどがある。キシリレン
基としては がある。R6 の炭素数1〜20のアルキル基としては
例えばメチル、ビニル、アリルブチル、ペンチル、ヘキ
シル、オクチル、オクテニル、ドデシル、ヘキサデシル
、オクタデシルなどがある。
がある。シクロアルキレン基としては例えばなどがある
。フェニレン基としては例えばなどがある。キシリレン
基としては がある。R6 の炭素数1〜20のアルキル基としては
例えばメチル、ビニル、アリルブチル、ペンチル、ヘキ
シル、オクチル、オクテニル、ドデシル、ヘキサデシル
、オクタデシルなどがある。
【0012】本発明の式(1)で示される変性キノンジ
アシドスルホン酸単位は で示される変性キノンジアジドスルホニルクロリドを予
め式(2)で示される化合物と式(3)で示される化合
物を反応して生成した式(4)に示される化合物に、付
加し、更に−OH基1モルと−NCO基2モルの割合で
ジイソシアネート化合物と反応させて得られる式(5)
で示されるキノンジアジド化合物とOH基含有水溶性又
は水分散性樹脂を反応させることにより得られる。式(
2) 式(3) 式(4) 式(5) 上記式(2)、(3)、(4)のR1 、R2 、R3
、R4 、R5 、nは式(1)と同じ。
アシドスルホン酸単位は で示される変性キノンジアジドスルホニルクロリドを予
め式(2)で示される化合物と式(3)で示される化合
物を反応して生成した式(4)に示される化合物に、付
加し、更に−OH基1モルと−NCO基2モルの割合で
ジイソシアネート化合物と反応させて得られる式(5)
で示されるキノンジアジド化合物とOH基含有水溶性又
は水分散性樹脂を反応させることにより得られる。式(
2) 式(3) 式(4) 式(5) 上記式(2)、(3)、(4)のR1 、R2 、R3
、R4 、R5 、nは式(1)と同じ。
【0013】本発明の式(1)示される単位を含むアニ
オン性又はカチオン性の水溶性又は水分散性ポジ型感光
性樹脂はOH基を含む水溶性又は水分散性樹脂と式(5
)で示されるキノンジアジド化合物とを反応する事によ
って本質的には得られるが樹脂組成及び製造過程により
次に述べる様な幾種の方法がある。
オン性又はカチオン性の水溶性又は水分散性ポジ型感光
性樹脂はOH基を含む水溶性又は水分散性樹脂と式(5
)で示されるキノンジアジド化合物とを反応する事によ
って本質的には得られるが樹脂組成及び製造過程により
次に述べる様な幾種の方法がある。
【0014】■水酸基含有ビニル単量体と式(5)のキ
ノンジアジド化合物を反応して得たビニル単量体を酸性
基又は塩基性基を有するビニル単量体及び他の適当なビ
ニル単量体とを共重合反応させる方法。■水酸基含有ビ
ニル単量体、酸性基又は塩基性基含有ビニル単量体及び
他の適当なビニル単量体を共重合して得たアクリル樹脂
と式(5)で示されるキノンジアジド化合物を反応させ
る方法。■水酸基含有水溶性又は水分散性ポリエステル
樹脂又はエポキシ樹脂と式(5)で示されるキノンジア
ジド化合物を反応させる方法。
ノンジアジド化合物を反応して得たビニル単量体を酸性
基又は塩基性基を有するビニル単量体及び他の適当なビ
ニル単量体とを共重合反応させる方法。■水酸基含有ビ
ニル単量体、酸性基又は塩基性基含有ビニル単量体及び
他の適当なビニル単量体を共重合して得たアクリル樹脂
と式(5)で示されるキノンジアジド化合物を反応させ
る方法。■水酸基含有水溶性又は水分散性ポリエステル
樹脂又はエポキシ樹脂と式(5)で示されるキノンジア
ジド化合物を反応させる方法。
【0015】本発明の式(2)示される化合物としては
例えば4−ヒドロキシジフェニルアミン、3,3’−ジ
ヒドロキシ−ジフェニルアミン、N−カルバミル−m−
アミノフェノール、m−エチルアミノフェノールなどが
あり類似化合物としてアドレナリンやアミノナフトール
なども使用できる。上記にあげられた化合物は1,2−
ベンゾキノンジアジド−4−スルホニルクロリド又は1
,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド
とジオキサン溶媒に溶解し20〜30℃で2〜16時間
の条件で炭酸ソーダ、重炭酸ソーダ、カ性ソーダ、トリ
エチルアミン等のアルカリを触媒として反応して得られ
る。アルカリは式(4)のフェノール性OH基とキノン
ジアジド化合物のSO2 Cl基との縮合によって生成
するHClを除去して反応を促進するために使用される
。通常は30分〜2時間で滴下する方法がとられる。
例えば4−ヒドロキシジフェニルアミン、3,3’−ジ
ヒドロキシ−ジフェニルアミン、N−カルバミル−m−
アミノフェノール、m−エチルアミノフェノールなどが
あり類似化合物としてアドレナリンやアミノナフトール
なども使用できる。上記にあげられた化合物は1,2−
ベンゾキノンジアジド−4−スルホニルクロリド又は1
,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド
とジオキサン溶媒に溶解し20〜30℃で2〜16時間
の条件で炭酸ソーダ、重炭酸ソーダ、カ性ソーダ、トリ
エチルアミン等のアルカリを触媒として反応して得られ
る。アルカリは式(4)のフェノール性OH基とキノン
ジアジド化合物のSO2 Cl基との縮合によって生成
するHClを除去して反応を促進するために使用される
。通常は30分〜2時間で滴下する方法がとられる。
【0016】縮合反応に際してキノンジアジドスルホニ
ルクロリドはフェノール性をOHの全てに反応させる事
が出来るがn=1のときは0.9以下、n=2のときは
1.5以下が望ましい。理由は縮合反応が100%と行
われず未反応キノンジアジドスルホニルクロリドが残る
のを防止するためである。反応によって生成した縮合物
は副生する塩酸のアルカリ塩を含むので反応後反応物を
数倍の純水中に注ぎ込み縮合物を析出し濾過洗浄した後
乾燥する方法が一般に行われる。尚、式(4)示される
化合物は式(2)の化合物と式(3)のモノエポキシ化
合物と反応させて得られる。反応はジオキサン等の溶剤
に溶解して不活性ガス気流下で、60〜150℃×5〜
15時間の条件でアルカリを触媒して−NH基とエポキ
シ基を反応する。反応終点は滴定法によるエポキシ当量
の測定で決める。式(3)で示されるモノエポキシ化合
物としては例えばアリルグリシジルエーテル、p−te
rtブチルベンゾイックアシドグリシジルエーテル、n
−ブチルグリシジルエーテル、フェニルグリシジルエー
テル、1,2−ドデシレンオキサイド、1,2−エポキ
シドデカン、1,2エポキシヘキサデカン、1,2−エ
ポキシーエイコサン、グリシジルステラレートなどがあ
る。
ルクロリドはフェノール性をOHの全てに反応させる事
が出来るがn=1のときは0.9以下、n=2のときは
1.5以下が望ましい。理由は縮合反応が100%と行
われず未反応キノンジアジドスルホニルクロリドが残る
のを防止するためである。反応によって生成した縮合物
は副生する塩酸のアルカリ塩を含むので反応後反応物を
数倍の純水中に注ぎ込み縮合物を析出し濾過洗浄した後
乾燥する方法が一般に行われる。尚、式(4)示される
化合物は式(2)の化合物と式(3)のモノエポキシ化
合物と反応させて得られる。反応はジオキサン等の溶剤
に溶解して不活性ガス気流下で、60〜150℃×5〜
15時間の条件でアルカリを触媒して−NH基とエポキ
シ基を反応する。反応終点は滴定法によるエポキシ当量
の測定で決める。式(3)で示されるモノエポキシ化合
物としては例えばアリルグリシジルエーテル、p−te
rtブチルベンゾイックアシドグリシジルエーテル、n
−ブチルグリシジルエーテル、フェニルグリシジルエー
テル、1,2−ドデシレンオキサイド、1,2−エポキ
シドデカン、1,2エポキシヘキサデカン、1,2−エ
ポキシーエイコサン、グリシジルステラレートなどがあ
る。
【0017】本発明の式(5)で示される化合物は前述
の式(4)で示される化合物とキノンジアジドスルホニ
ルクロリドとの縮合物をジイソシアネート化合物と反応
して得られる。反応は前述縮合物1モルに対してジイソ
シアネート化合物1モルの割合で行い反応の終点は反応
系のNCO含有量が初期の濃度の2分の1に達した点で
ある。即ちジイソシアネート化合物の1分子中に含まれ
る2個のNCO基の1個が反応し式(5)で示される化
合物となる。通常反応は不活性溶剤(例えばジオキサン
)中にて40〜80°の温度で2〜10時間行われる。 反応触媒としてはトリエチルアミン、トリブチルアミン
等の3級アミン及びジブチル錫ラウレートなどを0.0
1〜1.0%添加して行っても良い。NCO濃度の測定
は滴定法にて行う。ジイソシアネート化合物としては例
えばトリレンジイソシアネート、4,4’−ジフェニル
−メタンジイソシアネート、キシリレンジイソシアネー
ト、メタキシリレンジイソシアネート、ヘキサメチレン
ジイソシアネート、リジンジイソシアネート、4,4’
−メチレンビス(シクロヘキシルイソシアネート)、メ
チルシクロヘキサン2,4(又は2,6)ジイソイアネ
ート、1,3−ジイソシアネートメチルシクロヘキサン
、イソホロンジイソシアネート,ダイマー酸ジイソシア
ネートなどがある。
の式(4)で示される化合物とキノンジアジドスルホニ
ルクロリドとの縮合物をジイソシアネート化合物と反応
して得られる。反応は前述縮合物1モルに対してジイソ
シアネート化合物1モルの割合で行い反応の終点は反応
系のNCO含有量が初期の濃度の2分の1に達した点で
ある。即ちジイソシアネート化合物の1分子中に含まれ
る2個のNCO基の1個が反応し式(5)で示される化
合物となる。通常反応は不活性溶剤(例えばジオキサン
)中にて40〜80°の温度で2〜10時間行われる。 反応触媒としてはトリエチルアミン、トリブチルアミン
等の3級アミン及びジブチル錫ラウレートなどを0.0
1〜1.0%添加して行っても良い。NCO濃度の測定
は滴定法にて行う。ジイソシアネート化合物としては例
えばトリレンジイソシアネート、4,4’−ジフェニル
−メタンジイソシアネート、キシリレンジイソシアネー
ト、メタキシリレンジイソシアネート、ヘキサメチレン
ジイソシアネート、リジンジイソシアネート、4,4’
−メチレンビス(シクロヘキシルイソシアネート)、メ
チルシクロヘキサン2,4(又は2,6)ジイソイアネ
ート、1,3−ジイソシアネートメチルシクロヘキサン
、イソホロンジイソシアネート,ダイマー酸ジイソシア
ネートなどがある。
【0018】本発明での主成分となるアニオン性又はカ
チオン性の水溶性(又は分散)性ポジ型感光性樹脂は上
述の式(5)で示される化合物とOH基含有樹脂との付
加反応にて生成される。OH基含有樹脂にはアクリル樹
脂、エポキシ樹脂、ポリエステル樹脂などがある。但し
アクリル樹脂については製造方法として先ず式(3)の
化合物とOH基含有ビニル単量体とを反応して共重合可
能なビニル基含有キノンジアジド化合物を生成し次いで
他のビニル単量体と反応する方法もある。アクリル樹脂
の製造は通常のラジカル重合にて行われ、ジオキサン、
トルエン、キシレン、メチルーイソブチルケトンなどの
溶剤下で60〜150℃の温度で3〜10時間の条件に
てラジカル開始剤例えばアゾビスイソブチロニトリルや
ベンゾイルパーオキサイド0.5〜5%をビニル単量体
混合物と混合して反応する。ビニル単量体としてはOH
基含有ビニル単量体、酸性又は塩基性基含有ビニル単量
体が必須成分である。本発明に用いられるOH基含有ビ
ニル単量体としては2−ヒドロキシエチル(メタ)アク
リレート、ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、
カプロラクタン変性2−ヒドロキシエチル(メタ)アク
リレートなどがある。全単量体中10〜50wt%の範
囲で使用されるのが好ましい。10wt%未満では式(
5)の化合物と反応するOH基として少なく又50wt
%を越えると塗膜の耐水性が低下する。
チオン性の水溶性(又は分散)性ポジ型感光性樹脂は上
述の式(5)で示される化合物とOH基含有樹脂との付
加反応にて生成される。OH基含有樹脂にはアクリル樹
脂、エポキシ樹脂、ポリエステル樹脂などがある。但し
アクリル樹脂については製造方法として先ず式(3)の
化合物とOH基含有ビニル単量体とを反応して共重合可
能なビニル基含有キノンジアジド化合物を生成し次いで
他のビニル単量体と反応する方法もある。アクリル樹脂
の製造は通常のラジカル重合にて行われ、ジオキサン、
トルエン、キシレン、メチルーイソブチルケトンなどの
溶剤下で60〜150℃の温度で3〜10時間の条件に
てラジカル開始剤例えばアゾビスイソブチロニトリルや
ベンゾイルパーオキサイド0.5〜5%をビニル単量体
混合物と混合して反応する。ビニル単量体としてはOH
基含有ビニル単量体、酸性又は塩基性基含有ビニル単量
体が必須成分である。本発明に用いられるOH基含有ビ
ニル単量体としては2−ヒドロキシエチル(メタ)アク
リレート、ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、
カプロラクタン変性2−ヒドロキシエチル(メタ)アク
リレートなどがある。全単量体中10〜50wt%の範
囲で使用されるのが好ましい。10wt%未満では式(
5)の化合物と反応するOH基として少なく又50wt
%を越えると塗膜の耐水性が低下する。
【0019】アクリル樹脂のアニオン性水溶(分散)性
を決める酸性基含有ビニル単量体としては例えば(メタ
)アクリル酸、クロトン酸、イタコン酸、(無水)マレ
イン酸、フマール酸などがあげられる。一方カチオン性
水溶(分散)性を決める塩基性基含有ビニル単量体とし
てはジメチルアミノエチル(メタ)アクリレート、ジエ
チルアミノエチル(メタ)アクリレート、ジエチルアミ
ノプロピル(メタ)アクリルアミドなどがあげられる。 これら水溶性を供与する役目を持つ酸性基又は塩基性基
含有ビニル単量体のアクリル樹脂中の配合量はアクリル
樹脂固形分100部当たりの酸性基及び塩基性基の当量
数が30〜150ミリ当量の範囲になる様配合されるの
が好ましい。30ミリ当量未満では水溶性(分散)性が
充分でなく、150ミリ当量を超えると塗膜の平滑性が
損なわれるとともに耐水性が低下しレジストとしての性
能低下をもたらす。
を決める酸性基含有ビニル単量体としては例えば(メタ
)アクリル酸、クロトン酸、イタコン酸、(無水)マレ
イン酸、フマール酸などがあげられる。一方カチオン性
水溶(分散)性を決める塩基性基含有ビニル単量体とし
てはジメチルアミノエチル(メタ)アクリレート、ジエ
チルアミノエチル(メタ)アクリレート、ジエチルアミ
ノプロピル(メタ)アクリルアミドなどがあげられる。 これら水溶性を供与する役目を持つ酸性基又は塩基性基
含有ビニル単量体のアクリル樹脂中の配合量はアクリル
樹脂固形分100部当たりの酸性基及び塩基性基の当量
数が30〜150ミリ当量の範囲になる様配合されるの
が好ましい。30ミリ当量未満では水溶性(分散)性が
充分でなく、150ミリ当量を超えると塗膜の平滑性が
損なわれるとともに耐水性が低下しレジストとしての性
能低下をもたらす。
【0020】本発明のアクリル樹脂の製造に際しては通
常前述の必須成分としてのビニル単量体と他のビニル単
量体とを混合して共重合反応を行う。これら他のビニル
単量体は適当な割合で1種又はそれ以上が使われそれら
は例えばスチレン、メチル(メタ)アクリレート、エチ
ル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート
、2,エチルヘキシル(メタ)アクリレート、N−ブト
キシエチル(メタ)アクリルアマイド等があげられる。 本発明のアクリル樹脂は数平均分子量が1000〜50
000の範囲のものが好ましい。1000未満であれば
連続した塗膜の形成が難しく、50000を超えると塗
膜の平滑性が失われるので好ましくない。
常前述の必須成分としてのビニル単量体と他のビニル単
量体とを混合して共重合反応を行う。これら他のビニル
単量体は適当な割合で1種又はそれ以上が使われそれら
は例えばスチレン、メチル(メタ)アクリレート、エチ
ル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート
、2,エチルヘキシル(メタ)アクリレート、N−ブト
キシエチル(メタ)アクリルアマイド等があげられる。 本発明のアクリル樹脂は数平均分子量が1000〜50
000の範囲のものが好ましい。1000未満であれば
連続した塗膜の形成が難しく、50000を超えると塗
膜の平滑性が失われるので好ましくない。
【0021】本発明のOH基含有エポキシ樹脂としては
、アニオン性とカチオン性の2種類があるが更に原料エ
ポキシ樹脂の差によって製造方法が若干変わる。即ちビ
スA−型を代表とするエポキシ樹脂とノボラック型エポ
キシ樹脂があり、前者としては例えばエピコート#82
8、#1001、#1004(シェル石油化学社品),
DER330、331、337、661、664、66
7(ダウケミカル社品),アラルダイトGY−260、
GY−280、アラルダイト6071、6084(CI
BA社品)などがあり、後者としてはESCN−195
X、−220(住友化学社品)、エピコート152、1
54、157、180S(油化シェル社品),DEN4
38(ダウケミカル社品)などがあげられる。 前者のエポキシ樹脂群を原料としたアニオン性OH基含
有エポキシ樹脂の製造法は先ずエステル化当量の0.2
〜0.7当量の脂肪酸で150〜230℃で3〜15時
間かけて酸価1以下になるまで反応する。反応を円滑に
するためにアルカリ又はアミンが触媒として用いられ、
更に生成する水を共沸溶剤を還流する事で系外に出す方
法も行われる。次いで酸価が1以下になれば減圧により
共沸溶剤を留去した後2塩基酸の無水物化合物を加え1
30〜160℃×3〜10時間半エステル化しアニオン
性OH基含有エポキシ樹脂を得る。
、アニオン性とカチオン性の2種類があるが更に原料エ
ポキシ樹脂の差によって製造方法が若干変わる。即ちビ
スA−型を代表とするエポキシ樹脂とノボラック型エポ
キシ樹脂があり、前者としては例えばエピコート#82
8、#1001、#1004(シェル石油化学社品),
DER330、331、337、661、664、66
7(ダウケミカル社品),アラルダイトGY−260、
GY−280、アラルダイト6071、6084(CI
BA社品)などがあり、後者としてはESCN−195
X、−220(住友化学社品)、エピコート152、1
54、157、180S(油化シェル社品),DEN4
38(ダウケミカル社品)などがあげられる。 前者のエポキシ樹脂群を原料としたアニオン性OH基含
有エポキシ樹脂の製造法は先ずエステル化当量の0.2
〜0.7当量の脂肪酸で150〜230℃で3〜15時
間かけて酸価1以下になるまで反応する。反応を円滑に
するためにアルカリ又はアミンが触媒として用いられ、
更に生成する水を共沸溶剤を還流する事で系外に出す方
法も行われる。次いで酸価が1以下になれば減圧により
共沸溶剤を留去した後2塩基酸の無水物化合物を加え1
30〜160℃×3〜10時間半エステル化しアニオン
性OH基含有エポキシ樹脂を得る。
【0022】上記脂肪酸としては例えば若草酸、ノナン
酸、デカン酸、バーサティク酸、大豆油脂肪酸、トール
油脂肪酸、アマニ油酸、脱水ひまし油脂肪酸、オレイン
酸、ステアリン酸、安息香酸、アビエチン酸等があげら
れる。2塩基酸の無水物としては無水フタール酸、無水
マレイン酸、更に無水コハク酸、無水トリメリット酸な
どがある。反応触媒としてのアルカリ又はアミンとして
炭酸カリウム、炭酸ナトリウム、トリブチルアミン、ジ
メチルベンジルアミンなどがあげられる。共沸溶剤とし
ては例えばトルエン、キシレン、メチルイソブチルケト
ンなどがあげられる。又同じくカチオン性OH基含有エ
ポキシ樹脂の製造法としては先ずエポキシ基と2級アミ
ンの反応により塩基性基を導入する方法が一般的であり
、反応条件は60〜100℃×1〜8時間である。必要
に応じてその後前述アニオン性OH基含有エポキシ樹脂
と同様脂肪酸によるエステル化及びポリオキシアルキレ
ングリコールイソシアネートを付加して電着塗膜の外観
及び特性を調整する。2級アミンとしては例えばジエチ
ルアミン、ジエタノールアミン、ジイソプロパノールア
ミン、N−メチルエタノールアミン等があげられる。
酸、デカン酸、バーサティク酸、大豆油脂肪酸、トール
油脂肪酸、アマニ油酸、脱水ひまし油脂肪酸、オレイン
酸、ステアリン酸、安息香酸、アビエチン酸等があげら
れる。2塩基酸の無水物としては無水フタール酸、無水
マレイン酸、更に無水コハク酸、無水トリメリット酸な
どがある。反応触媒としてのアルカリ又はアミンとして
炭酸カリウム、炭酸ナトリウム、トリブチルアミン、ジ
メチルベンジルアミンなどがあげられる。共沸溶剤とし
ては例えばトルエン、キシレン、メチルイソブチルケト
ンなどがあげられる。又同じくカチオン性OH基含有エ
ポキシ樹脂の製造法としては先ずエポキシ基と2級アミ
ンの反応により塩基性基を導入する方法が一般的であり
、反応条件は60〜100℃×1〜8時間である。必要
に応じてその後前述アニオン性OH基含有エポキシ樹脂
と同様脂肪酸によるエステル化及びポリオキシアルキレ
ングリコールイソシアネートを付加して電着塗膜の外観
及び特性を調整する。2級アミンとしては例えばジエチ
ルアミン、ジエタノールアミン、ジイソプロパノールア
ミン、N−メチルエタノールアミン等があげられる。
【0023】後者のノボラックエポキシ樹脂を原料とし
てのOH基含有樹脂の製造法は第1段階としてエポキシ
基の30〜80%当量を一塩基酸で酸価1以下になるま
でエステル化する。エステル化の条件としては130〜
160℃で3〜10時間であり、この際にアルカリ又は
3級アミンが反応触媒として用いられる。エステル化率
が30%当量未満では最終の電着塗膜の平滑性が乏しく
なり、又最終の樹脂中に未反応エポキシ基が50%当量
未満の割合で残存する可能性がありその場合電着塗料の
安定性が悪化する。又80%当量を超えると次工程(第
2段階)での酸性基又は塩基性基導入のための2塩基酸
又は2級アミンとの反の反応点が乏しくなり水溶(分散
)性が充分でなくなる。前述の一塩基酸としては前者の
エポキシ樹脂で用いられる脂肪酸類と全く同様のものが
使われ、反応触媒のアルカリ、又は3級アミンも同じで
ある。
てのOH基含有樹脂の製造法は第1段階としてエポキシ
基の30〜80%当量を一塩基酸で酸価1以下になるま
でエステル化する。エステル化の条件としては130〜
160℃で3〜10時間であり、この際にアルカリ又は
3級アミンが反応触媒として用いられる。エステル化率
が30%当量未満では最終の電着塗膜の平滑性が乏しく
なり、又最終の樹脂中に未反応エポキシ基が50%当量
未満の割合で残存する可能性がありその場合電着塗料の
安定性が悪化する。又80%当量を超えると次工程(第
2段階)での酸性基又は塩基性基導入のための2塩基酸
又は2級アミンとの反の反応点が乏しくなり水溶(分散
)性が充分でなくなる。前述の一塩基酸としては前者の
エポキシ樹脂で用いられる脂肪酸類と全く同様のものが
使われ、反応触媒のアルカリ、又は3級アミンも同じで
ある。
【0024】上記エステル化エポキシ樹脂からアニオン
性又はカチオン性OH基が含有エポキシ樹脂を製造する
第2段階の反応としては先ず酸性基の導入方法としては
、残存エポキシ基20〜70%当量に無水物を除く2塩
基酸を付加する。無水物を避ける理由は反応のコントロ
ールが難しく樹脂がゲル化しやすくなる為である。反応
は120〜160℃×3〜15時間でおこなわれる。 ここで使用される2塩基酸としては例えばマロン酸、こ
はく酸、アジピン酸、アゼライン酸、セバチン酸、テレ
フタル酸、イソフタル酸、マレイン酸、フマール酸、ダ
イマー酸などがあげられる。これらは樹脂酸価が30〜
100の範囲になる様配合される。反応の終点は反応開
始時の酸価の45〜40%に酸価が下がった時であり4
5%を超える時は未反応の酸が残存している事になり電
着浴液の不安定性さひいては塗膜のトラブル発生につな
がる。又40%未満の反応の場合分子間架橋が進みゲル
化する危険がある。
性又はカチオン性OH基が含有エポキシ樹脂を製造する
第2段階の反応としては先ず酸性基の導入方法としては
、残存エポキシ基20〜70%当量に無水物を除く2塩
基酸を付加する。無水物を避ける理由は反応のコントロ
ールが難しく樹脂がゲル化しやすくなる為である。反応
は120〜160℃×3〜15時間でおこなわれる。 ここで使用される2塩基酸としては例えばマロン酸、こ
はく酸、アジピン酸、アゼライン酸、セバチン酸、テレ
フタル酸、イソフタル酸、マレイン酸、フマール酸、ダ
イマー酸などがあげられる。これらは樹脂酸価が30〜
100の範囲になる様配合される。反応の終点は反応開
始時の酸価の45〜40%に酸価が下がった時であり4
5%を超える時は未反応の酸が残存している事になり電
着浴液の不安定性さひいては塗膜のトラブル発生につな
がる。又40%未満の反応の場合分子間架橋が進みゲル
化する危険がある。
【0025】一方カチオン性OH基含有エポキシ樹脂は
上述の第1段階の30〜80%当量をエステル化された
エポキシ樹脂に2級アミンを残存エポキシ基と反応させ
る。樹脂のアミン価(アミノ基当量/100g樹脂固型
分)は50〜150の範囲に入る様設計するのが好まし
い。アミン価50未満では水分散性が難しく、150を
超えると電着塗装による塗膜の平滑性、均一性が劣り良
くない。この様な2級アミンとしてはジメチルアミン、
ジエチルアミン、ジエタノールアミン、ジイソプロパノ
ールアミン、N−メチルエタノールアミンなどがある。 アニオン性水溶(分散)性ポリエステル樹脂は一価又は
多価アルコールと一価又は多塩基酸とを反応して得られ
た酸価30〜150で水酸基価30〜150の範囲のも
のが好ましい樹脂である。酸価が30未満では水溶(分
散)性が充分でなく150を超えると電着塗装による塗
膜外観が悪化する。
上述の第1段階の30〜80%当量をエステル化された
エポキシ樹脂に2級アミンを残存エポキシ基と反応させ
る。樹脂のアミン価(アミノ基当量/100g樹脂固型
分)は50〜150の範囲に入る様設計するのが好まし
い。アミン価50未満では水分散性が難しく、150を
超えると電着塗装による塗膜の平滑性、均一性が劣り良
くない。この様な2級アミンとしてはジメチルアミン、
ジエチルアミン、ジエタノールアミン、ジイソプロパノ
ールアミン、N−メチルエタノールアミンなどがある。 アニオン性水溶(分散)性ポリエステル樹脂は一価又は
多価アルコールと一価又は多塩基酸とを反応して得られ
た酸価30〜150で水酸基価30〜150の範囲のも
のが好ましい樹脂である。酸価が30未満では水溶(分
散)性が充分でなく150を超えると電着塗装による塗
膜外観が悪化する。
【0026】水酸基価30未満では式(3)で示される
感光剤との反応活性基の濃度として充分でなく150を
超えると塗膜の耐水性が悪化する。更に好ましくは分子
量が1000〜50000の範囲にある事が望ましく、
1000未満ではレジスト性能が不足し50000を超
えると塗膜の平滑性が欠けてくる。ポリエステル樹脂の
製法としては150〜200℃の温度で5〜20時間溶
剤還流下でエステル化を行い反応により生成した水を系
外に取り除き所定の酸価、分子量に達するまで縮合を行
う。還流する溶剤にとしてはトルエン、キシレン、メチ
ルイソブチルケトン等が用いられる。これらは反応終了
時に減圧にて回収される。一方分留器を用いて反応水を
溶剤還流なしで取り除く方法もあり、いずれの製法でも
良い。ここで用いられる1価又は多価アルコールとして
はn−フェニルアルコール、イソデカノール、エチレン
グリコール、プロピレングリコール、ヘキサンジオール
、ジエチレングリコール、ネオペンチルグリコール、ト
リエチレングリコール、グリセリン、トリメチロールエ
タン、トリメチロールプロパン、ペンタエリスリトール
などがあり、一方酸としては安息香酸、酪酸、無水フタ
ル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、無水コハク酸、ア
ジピン酸、アゼライン酸、セバシン酸、テトラヒドロ無
水フタル酸、無水マレイン酸、無水トリメリット酸、無
水ピロメリット酸などがある。
感光剤との反応活性基の濃度として充分でなく150を
超えると塗膜の耐水性が悪化する。更に好ましくは分子
量が1000〜50000の範囲にある事が望ましく、
1000未満ではレジスト性能が不足し50000を超
えると塗膜の平滑性が欠けてくる。ポリエステル樹脂の
製法としては150〜200℃の温度で5〜20時間溶
剤還流下でエステル化を行い反応により生成した水を系
外に取り除き所定の酸価、分子量に達するまで縮合を行
う。還流する溶剤にとしてはトルエン、キシレン、メチ
ルイソブチルケトン等が用いられる。これらは反応終了
時に減圧にて回収される。一方分留器を用いて反応水を
溶剤還流なしで取り除く方法もあり、いずれの製法でも
良い。ここで用いられる1価又は多価アルコールとして
はn−フェニルアルコール、イソデカノール、エチレン
グリコール、プロピレングリコール、ヘキサンジオール
、ジエチレングリコール、ネオペンチルグリコール、ト
リエチレングリコール、グリセリン、トリメチロールエ
タン、トリメチロールプロパン、ペンタエリスリトール
などがあり、一方酸としては安息香酸、酪酸、無水フタ
ル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、無水コハク酸、ア
ジピン酸、アゼライン酸、セバシン酸、テトラヒドロ無
水フタル酸、無水マレイン酸、無水トリメリット酸、無
水ピロメリット酸などがある。
【0027】式(5)で示されるイソシアネート基含有
キノンジアジド化合物と上述一連のOH基含有樹脂との
反応は活性水素をもたない不活性溶剤中に於いて20〜
80℃で2〜10時間の反応条件で行われる。3級アミ
ン又は有機スズ化合物を触媒として使用しても良い。注
意する点としてはイソシアネート基の当量以上のOH基
を必要とする事である。製造した樹脂は減圧にて溶剤を
留去し、適当な溶剤に置換する事が望ましい。適当な溶
剤としては主に親水性の溶剤であり、例えばイソプロピ
ルアルコール、sec−ブタノール、ダイアセトンアル
コール、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プ
ロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレング
リコールモノブチルエーテル、プロピレンモノクェニル
エーテルなどである。
キノンジアジド化合物と上述一連のOH基含有樹脂との
反応は活性水素をもたない不活性溶剤中に於いて20〜
80℃で2〜10時間の反応条件で行われる。3級アミ
ン又は有機スズ化合物を触媒として使用しても良い。注
意する点としてはイソシアネート基の当量以上のOH基
を必要とする事である。製造した樹脂は減圧にて溶剤を
留去し、適当な溶剤に置換する事が望ましい。適当な溶
剤としては主に親水性の溶剤であり、例えばイソプロピ
ルアルコール、sec−ブタノール、ダイアセトンアル
コール、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プ
ロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレング
リコールモノブチルエーテル、プロピレンモノクェニル
エーテルなどである。
【0028】以上の如く製造したポジ型感光性電着塗料
組成物はアニオン性の場合、通常無機アルカリ又は有機
アミンにて中和され、又カチオン性の場合には無機酸又
は有機酸にて中和され水にて所定の濃度、通常の5〜1
5%に希釈されて電着浴液が調製される。この際必要な
らば添加剤(消泡剤等)や着色剤(染料や顔料)を加え
ても良い。フォトレジストとしての評価試験方法は上記
調整された電着浴液を用いてアニオン性の場合、銅張基
板を陽極にステンレス板を陰極にして(カチオン性の場
合はこの逆にする)浴液に浸漬し適当な電圧にて直流電
流を通電する事で銅張基板上に所定の膜厚のレジスト膜
が形成される。ついで浴液より出し水洗し、基板に付着
した浴液を洗い落とした後60〜100℃×5〜10分
の条件にて乾燥する。その後ポジ型マスクを介して紫外
光線を照射する。レジスト膜の露光部のキノンジアジド
基が光分解し,インデンカルボン酸に変化するのでアル
カリ水で現像と溶出をしマスクパターンに準じたレジス
ト回路が形成される。その後露出した銅面を塩鉄又は塩
銅にてエッチングし更に残存するレジスト膜をはく離す
る事により導電性回路パターンが出来る。この様にして
製造された回路パターンは従来のスクリーン印刷法、感
光性フィルム法に比べて線幅100μ以下の高密度配線
パターンの形成を可能にし製法の簡便さ、信頼性も優れ
ている。
組成物はアニオン性の場合、通常無機アルカリ又は有機
アミンにて中和され、又カチオン性の場合には無機酸又
は有機酸にて中和され水にて所定の濃度、通常の5〜1
5%に希釈されて電着浴液が調製される。この際必要な
らば添加剤(消泡剤等)や着色剤(染料や顔料)を加え
ても良い。フォトレジストとしての評価試験方法は上記
調整された電着浴液を用いてアニオン性の場合、銅張基
板を陽極にステンレス板を陰極にして(カチオン性の場
合はこの逆にする)浴液に浸漬し適当な電圧にて直流電
流を通電する事で銅張基板上に所定の膜厚のレジスト膜
が形成される。ついで浴液より出し水洗し、基板に付着
した浴液を洗い落とした後60〜100℃×5〜10分
の条件にて乾燥する。その後ポジ型マスクを介して紫外
光線を照射する。レジスト膜の露光部のキノンジアジド
基が光分解し,インデンカルボン酸に変化するのでアル
カリ水で現像と溶出をしマスクパターンに準じたレジス
ト回路が形成される。その後露出した銅面を塩鉄又は塩
銅にてエッチングし更に残存するレジスト膜をはく離す
る事により導電性回路パターンが出来る。この様にして
製造された回路パターンは従来のスクリーン印刷法、感
光性フィルム法に比べて線幅100μ以下の高密度配線
パターンの形成を可能にし製法の簡便さ、信頼性も優れ
ている。
【0029】
【実施例】イソシアネート含有キノンジアジド化合物A
500ミリリットルの4ッ口フラスコにm−エチルアミ
ノフェノール82.3g、n−ブチルグリシデイルエー
テル78.9g、ジオキサン161.2g及びトリブチ
アミン1.1gを加えN2 ガス気流下で100〜11
0℃でエポキシ当量が21500以上になるまで反応す
る。約10〜15時間で終了する。この反応物269.
3gを1リットル4ッ口フラスコに仕込み、ジオキサン
323.0g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−ス
ルホニルクロリド121.1gを加え溶解する。温度2
0〜25℃に保ちながらトリエチルアミン45.5gを
滴下ロートより1時間で滴下し更に4時間保持する。4
時間保持後約3リットルの純水に注ぎ縮合生成物を析出
させ水層を除去し、析出物を約500ミリリットルの純
水で数回洗浄した後40℃の真空乾燥器に入れ水分が0
.5%以下になるまで乾燥する。乾燥後析出物のうち1
90.6gを1リットル4ッ口フラスコに仕込みジオキ
サン572gにとかし50℃に加温しヘキサメチレンジ
イソシアネート67.2gとジブチル錫ラウレート0.
5gを投入し50℃〜55℃で温度を保ちながらNCO
%を測定する。NCO%が2.0%以下になれば直ちに
10℃以下に冷却し反応を終了する。
500ミリリットルの4ッ口フラスコにm−エチルアミ
ノフェノール82.3g、n−ブチルグリシデイルエー
テル78.9g、ジオキサン161.2g及びトリブチ
アミン1.1gを加えN2 ガス気流下で100〜11
0℃でエポキシ当量が21500以上になるまで反応す
る。約10〜15時間で終了する。この反応物269.
3gを1リットル4ッ口フラスコに仕込み、ジオキサン
323.0g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−ス
ルホニルクロリド121.1gを加え溶解する。温度2
0〜25℃に保ちながらトリエチルアミン45.5gを
滴下ロートより1時間で滴下し更に4時間保持する。4
時間保持後約3リットルの純水に注ぎ縮合生成物を析出
させ水層を除去し、析出物を約500ミリリットルの純
水で数回洗浄した後40℃の真空乾燥器に入れ水分が0
.5%以下になるまで乾燥する。乾燥後析出物のうち1
90.6gを1リットル4ッ口フラスコに仕込みジオキ
サン572gにとかし50℃に加温しヘキサメチレンジ
イソシアネート67.2gとジブチル錫ラウレート0.
5gを投入し50℃〜55℃で温度を保ちながらNCO
%を測定する。NCO%が2.0%以下になれば直ちに
10℃以下に冷却し反応を終了する。
【0030】イソシアネート含有キノンジアジド化合物
B 500ミリリットルの4ッ口フラスコに3,3’−ジヒ
ドロキシ−ジフェニルアミン80.4gとアリルグリシ
ジルエーテル46.1g、ジオキサン126.5g及び
トリブチルアミン1.1gを加えN2 ガス気流下で温
度110〜115℃に保ちながらエポキシ当量を測定す
る。エポキシ当量が25300以上になれば反応を終了
する。約10〜15時間である。この反応物203.3
gを1リットル4ッ口フラスコに仕込み、ジオキサン4
15.3g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スル
ホニルクロリド129.1gを加え溶解する。温度20
〜25℃に保ち、滴下ロートよりトリエチルアミン48
.5gを1時間で滴下し、更に4時間温度を保持したあ
と約3リットルの純水に注ぎ縮合生成物を析出し、水層
は除去し残った赤褐色の析出物を更に純水500ミリリ
ットルで数回洗浄した後、真空乾燥器に入れ水分が0.
5%以下になるまで乾燥する。乾燥した生成物のうち1
66gを1リットル4ッ口フラスコに仕込みジオキサン
500gに溶解し50〜55℃に温度を加温しイソホロ
ンジイソシアネート55.5gとジブチル錫ラウレート
1.1gを加えNCO%が1.4%以下になれば10℃
に冷却し反応を終了する。
B 500ミリリットルの4ッ口フラスコに3,3’−ジヒ
ドロキシ−ジフェニルアミン80.4gとアリルグリシ
ジルエーテル46.1g、ジオキサン126.5g及び
トリブチルアミン1.1gを加えN2 ガス気流下で温
度110〜115℃に保ちながらエポキシ当量を測定す
る。エポキシ当量が25300以上になれば反応を終了
する。約10〜15時間である。この反応物203.3
gを1リットル4ッ口フラスコに仕込み、ジオキサン4
15.3g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スル
ホニルクロリド129.1gを加え溶解する。温度20
〜25℃に保ち、滴下ロートよりトリエチルアミン48
.5gを1時間で滴下し、更に4時間温度を保持したあ
と約3リットルの純水に注ぎ縮合生成物を析出し、水層
は除去し残った赤褐色の析出物を更に純水500ミリリ
ットルで数回洗浄した後、真空乾燥器に入れ水分が0.
5%以下になるまで乾燥する。乾燥した生成物のうち1
66gを1リットル4ッ口フラスコに仕込みジオキサン
500gに溶解し50〜55℃に温度を加温しイソホロ
ンジイソシアネート55.5gとジブチル錫ラウレート
1.1gを加えNCO%が1.4%以下になれば10℃
に冷却し反応を終了する。
【0031】不飽和基を有するキノンジアジド化合物1
リットル4ッ口フラスコに1,2キノンジアジド−5−
スルホニルクロリド108g、アドレナリン73.3g
及びジオキサン430.4gを仕込み溶解する。温度2
0〜25℃で滴下ロートからトリエチルアミン40.4
gを1時間で滴下し、更に4時間同温度で保持した後、
析出したトリエチルアミン塩酸塩を濾過除去する。 濾液を再び1リットル4ッ口フラスコに仕込み、m−イ
ソプロペニル−α,αジメチルベンジルイソシアネート
80.5gとジブチル錫ジラウレート1.0gを加え5
0℃〜60℃でイソシアネート基が0%になるまで反応
を続ける。終了後取り出し10℃以下で保存する。
リットル4ッ口フラスコに1,2キノンジアジド−5−
スルホニルクロリド108g、アドレナリン73.3g
及びジオキサン430.4gを仕込み溶解する。温度2
0〜25℃で滴下ロートからトリエチルアミン40.4
gを1時間で滴下し、更に4時間同温度で保持した後、
析出したトリエチルアミン塩酸塩を濾過除去する。 濾液を再び1リットル4ッ口フラスコに仕込み、m−イ
ソプロペニル−α,αジメチルベンジルイソシアネート
80.5gとジブチル錫ジラウレート1.0gを加え5
0℃〜60℃でイソシアネート基が0%になるまで反応
を続ける。終了後取り出し10℃以下で保存する。
【0032】実施例1
1リットル4ッ口フラスコにジオキサン192部を仕込
み温度100〜110℃にてスチレン30部、メチルメ
タクリレート30部、2−ヒドロキシエチルメタクリレ
ート60部、ブチルアクリレート150部、メタクリル
酸30部及びアゾビスイソブチロニトリル6部の混合液
を90分で滴下し更に同温度にて4時間保持する。続い
て冷却し50℃以下にてイソシアネート含有キノンジア
ジド化合物A300gを加え45〜50℃で6時間反応
するとイソシアネート基濃度が0になった。かくして得
られた樹脂液をローターエバポレーターにて50〜60
℃で減圧蒸留し濃縮する。濃度が85%以上になればプ
ロピレングリコールモノメチルエーテル50部を投入し
充分混合した後40℃以下で80%ジイソプロパノール
アミン29.4gを加え中和した後徐々に純水を加え濃
度10%に希釈する。この様にして調製された樹脂水溶
液に銅張基板を陽極にステンレス鋼を陰極として25℃
の浴液に浸漬し、80Vの直流電流を30秒間通電する
。通電終了後、浴からとり出し純水水洗をし80℃で1
0分間乾燥することで膜厚8μのピンホール及び粘着性
のない平滑な塗膜が得られた。次いで回路パターンが描
かれたポジ型マスクを介して紫外線を照射(光量約40
0mj/cm2 )すると露光部の樹脂塗膜は感光し含
まれるキノンジアジド基がインデン酸に変換するのでア
ルカリ水で現像すれば未露光部のみが回路パターンとし
て残存する。次いで塩化第2鉄又は塩化第2銅水溶液に
て露出した銅をエッチングし、水洗後乾燥し更にアルカ
リ水でレジスト膜を剥離する。この様にして線幅50μ
の画像パターンを得た。
み温度100〜110℃にてスチレン30部、メチルメ
タクリレート30部、2−ヒドロキシエチルメタクリレ
ート60部、ブチルアクリレート150部、メタクリル
酸30部及びアゾビスイソブチロニトリル6部の混合液
を90分で滴下し更に同温度にて4時間保持する。続い
て冷却し50℃以下にてイソシアネート含有キノンジア
ジド化合物A300gを加え45〜50℃で6時間反応
するとイソシアネート基濃度が0になった。かくして得
られた樹脂液をローターエバポレーターにて50〜60
℃で減圧蒸留し濃縮する。濃度が85%以上になればプ
ロピレングリコールモノメチルエーテル50部を投入し
充分混合した後40℃以下で80%ジイソプロパノール
アミン29.4gを加え中和した後徐々に純水を加え濃
度10%に希釈する。この様にして調製された樹脂水溶
液に銅張基板を陽極にステンレス鋼を陰極として25℃
の浴液に浸漬し、80Vの直流電流を30秒間通電する
。通電終了後、浴からとり出し純水水洗をし80℃で1
0分間乾燥することで膜厚8μのピンホール及び粘着性
のない平滑な塗膜が得られた。次いで回路パターンが描
かれたポジ型マスクを介して紫外線を照射(光量約40
0mj/cm2 )すると露光部の樹脂塗膜は感光し含
まれるキノンジアジド基がインデン酸に変換するのでア
ルカリ水で現像すれば未露光部のみが回路パターンとし
て残存する。次いで塩化第2鉄又は塩化第2銅水溶液に
て露出した銅をエッチングし、水洗後乾燥し更にアルカ
リ水でレジスト膜を剥離する。この様にして線幅50μ
の画像パターンを得た。
【0033】実施例2
1リットル4ッ口フラスコにジオキサン192部を仕込
み100〜110℃の温度に加熱する。滴下ロートより
スチレン60部、2−ヒドロキシエチルメタクリレート
60部、ブチルアクリレート144部、ジエチルアミノ
エチルメタクリレート36部及びアゾビスイソブチロニ
トリル6部の混合液を90分で滴下し更に4時間100
〜110℃の温度を保持する。次いで50℃に冷却しイ
ソシアネート含有キノンジアジド化合物A300gを加
え実施例1と同様に反応、濃縮を行い、30%酢酸29
部にて中和し水に希釈し濃度10%の電着浴液を調製す
る。実施例1と逆に電極板に接続する以外は同様な方法
で80V×30秒間の条件で電着塗装し膜厚7μの塗膜
を得た。次いで実施例1と同様に現像及びエッチングを
行い線幅50μの回路パターンを得た。
み100〜110℃の温度に加熱する。滴下ロートより
スチレン60部、2−ヒドロキシエチルメタクリレート
60部、ブチルアクリレート144部、ジエチルアミノ
エチルメタクリレート36部及びアゾビスイソブチロニ
トリル6部の混合液を90分で滴下し更に4時間100
〜110℃の温度を保持する。次いで50℃に冷却しイ
ソシアネート含有キノンジアジド化合物A300gを加
え実施例1と同様に反応、濃縮を行い、30%酢酸29
部にて中和し水に希釈し濃度10%の電着浴液を調製す
る。実施例1と逆に電極板に接続する以外は同様な方法
で80V×30秒間の条件で電着塗装し膜厚7μの塗膜
を得た。次いで実施例1と同様に現像及びエッチングを
行い線幅50μの回路パターンを得た。
【0034】実施例3
1リットル4ッ口フラスコに不飽和基を有するキノンジ
アジド化合物122.7gとジオキサン95.7gを仕
込み70〜75℃に加熱し滴下ロートよりスチレン60
部、ブチルアクリレート156部、2−ヒドロキシエチ
ルメタクリレート60部、メタクリル酸24部、キノン
ジアジド化合物122.7g及びアゾビスイソブチロニ
トリル7.8部の混合物を2時間で滴下し滴下後同温度
で5時間反応を続けた後実施例1と同様に85%以上に
濃縮し更に80%ジイソプロパノールアミン25.9g
を加え水を徐々に加えて濃度10%に希釈する。以後電
着塗装及び回路形成方法は実施例1と同様に行い75μ
の回路パターンを得た。
アジド化合物122.7gとジオキサン95.7gを仕
込み70〜75℃に加熱し滴下ロートよりスチレン60
部、ブチルアクリレート156部、2−ヒドロキシエチ
ルメタクリレート60部、メタクリル酸24部、キノン
ジアジド化合物122.7g及びアゾビスイソブチロニ
トリル7.8部の混合物を2時間で滴下し滴下後同温度
で5時間反応を続けた後実施例1と同様に85%以上に
濃縮し更に80%ジイソプロパノールアミン25.9g
を加え水を徐々に加えて濃度10%に希釈する。以後電
着塗装及び回路形成方法は実施例1と同様に行い75μ
の回路パターンを得た。
【0035】実施例4
1リットル4ッ口フラスコにノボラックエポキシESC
N−195XHH(住友化学品)201部とジエチレン
グリコールジメチルエーテル60部を加え加熱溶解する
。次いでアマニ油脂肪酸168部とトリブチルアミン0
.2部を加え150℃で6時間反応し酸価1以下になれ
ば100℃でジオキサン55部を加え、60℃でジエタ
ノールアミン42部を加え再び80〜90℃に昇温し2
時間保持する。次いでイソシアネート含有キノンジアジ
ド化合物B368部を加え45〜50℃で6時間保持す
る。その後ロータリーエバポレーターを用い濃度80%
以上に濃縮し、次いで濃縮液ダイアセトンアルコール5
2部、更に30%以上に濃縮し、次いで濃縮液にダイア
セトンアルコール52部、更に30%酢酸36部を加え
中和し純水を徐々に加えて濃度10%まで希釈し電着浴
液を調製する。実施例2に述べたと同様な方法で試験を
行い線幅50μの回路パターンを得た。
N−195XHH(住友化学品)201部とジエチレン
グリコールジメチルエーテル60部を加え加熱溶解する
。次いでアマニ油脂肪酸168部とトリブチルアミン0
.2部を加え150℃で6時間反応し酸価1以下になれ
ば100℃でジオキサン55部を加え、60℃でジエタ
ノールアミン42部を加え再び80〜90℃に昇温し2
時間保持する。次いでイソシアネート含有キノンジアジ
ド化合物B368部を加え45〜50℃で6時間保持す
る。その後ロータリーエバポレーターを用い濃度80%
以上に濃縮し、次いで濃縮液ダイアセトンアルコール5
2部、更に30%以上に濃縮し、次いで濃縮液にダイア
セトンアルコール52部、更に30%酢酸36部を加え
中和し純水を徐々に加えて濃度10%まで希釈し電着浴
液を調製する。実施例2に述べたと同様な方法で試験を
行い線幅50μの回路パターンを得た。
【0036】実施例5
プロピレングリコール81部、ネオペンチルグリコール
94部、アジピン酸20部、テレフタル酸22部及びオ
レイルアルコール98部を精留塔を備えた1リットル4
ッ口フラスコに仕込み180℃に加熱する。酸価45に
なった時無水トリメリット酸103部を加え再び180
℃で酸価50になるまで反応を続ける。反応終了後冷却
し120℃でジエチレングリコールジメチルエーテル5
0部とジオキサン50部を加え均一に溶解する。再び冷
却し40〜50℃でイソシアネート含有キノンジアジド
化合物B355gを加え6時間反応する。実施例1と同
様に濃縮し80%ジイソプロパノールアミン37gで中
和し、電着溶液を作成する。次いで電着塗装及び回路形
成の試験を行い50μの線巾の回路パターンが得られた
。
94部、アジピン酸20部、テレフタル酸22部及びオ
レイルアルコール98部を精留塔を備えた1リットル4
ッ口フラスコに仕込み180℃に加熱する。酸価45に
なった時無水トリメリット酸103部を加え再び180
℃で酸価50になるまで反応を続ける。反応終了後冷却
し120℃でジエチレングリコールジメチルエーテル5
0部とジオキサン50部を加え均一に溶解する。再び冷
却し40〜50℃でイソシアネート含有キノンジアジド
化合物B355gを加え6時間反応する。実施例1と同
様に濃縮し80%ジイソプロパノールアミン37gで中
和し、電着溶液を作成する。次いで電着塗装及び回路形
成の試験を行い50μの線巾の回路パターンが得られた
。
【0037】
【発明の効果】本発明のポジ型感光性電着塗料組成物は
従来のポジ型感光性電着塗料組成物が有する安定性等の
問題を解消できるので特にスルーホールを有するプリン
ト配線基板の製造の際のレジスト膜の形成には好適であ
る。
従来のポジ型感光性電着塗料組成物が有する安定性等の
問題を解消できるので特にスルーホールを有するプリン
ト配線基板の製造の際のレジスト膜の形成には好適であ
る。
Claims (1)
- 【請求項1】分子中に下記式(1)で示される変性キノ
ンジアジドスルホン酸単位を含むアニオン性又はカチオ
ン性の水溶性又は水分散性ポジ型感光性樹脂を主成分と
するポジ型感光性電着塗料組成物。式(1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4297391A JPH04261475A (ja) | 1991-02-14 | 1991-02-14 | ポジ型感光性電着塗料組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4297391A JPH04261475A (ja) | 1991-02-14 | 1991-02-14 | ポジ型感光性電着塗料組成物 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04261475A true JPH04261475A (ja) | 1992-09-17 |
Family
ID=12650985
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4297391A Pending JPH04261475A (ja) | 1991-02-14 | 1991-02-14 | ポジ型感光性電着塗料組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04261475A (ja) |
-
1991
- 1991-02-14 JP JP4297391A patent/JPH04261475A/ja active Pending
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