JPH04261768A - 両面ラップ加工装置 - Google Patents

両面ラップ加工装置

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Publication number
JPH04261768A
JPH04261768A JP3023269A JP2326991A JPH04261768A JP H04261768 A JPH04261768 A JP H04261768A JP 3023269 A JP3023269 A JP 3023269A JP 2326991 A JP2326991 A JP 2326991A JP H04261768 A JPH04261768 A JP H04261768A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
surface plate
workpiece
grindstone
grain size
double
Prior art date
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Pending
Application number
JP3023269A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Koba
孝 木場
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH04261768A publication Critical patent/JPH04261768A/ja
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  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は樹脂、繊維強化樹脂、セ
ラミックなどの各材料からなる加工物の対向する二つの
面を研磨加工するラップ加工装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に部品の表面を研磨加工するために
使用されるラップ加工装置は、上位定盤と、下位定盤と
、上位定盤と下位定盤との間に設けられ加工物を保持す
る孔を有する保持部材とを備え、上位定盤と下位定盤と
保持部材とに相対的な回転運動を与えて定盤に設けた砥
石で加工物を研磨加工する装置である。ここで、上位定
盤の下面と下位定盤の上面に夫々砥石を設けて加工物の
対向する一対の面を同時に加工するものが両面ラップ加
工装置であり、一方の定盤のみに砥石面を設けて加工物
の対向する一対の面の一方のみを加工するものが片面ラ
ップ加工装置である。
【0003】ところで、最近一対の面を有する加工物に
おいて、各面が異なる表面粗さを要求されることがある
。例えば、電子装置に使用されるセラミック部品におい
て一方の面は高い精度の表面粗さが要求され、他方の面
は他の部品と接着材を用いて接着するために粗い表面粗
さが要求されることがある。このように表面粗さが異な
る一対の面を有する加工物の表面をラップ加工装置で加
工する場合には、次に述べる方法が提案されている。
【0004】第一の加工方法は、両面ラップ加工装置で
加工物の一対の面を粗い表面粗さに加工し、次に片面ラ
ップ加工装置で高い精度を要求されている面をその表面
粗さで加工する方法である。第二の加工方法は、片面ラ
ップ加工装置で加工物の一方の面を加工し、次いで片面
ラップ加工装置で加工物の他方の面を加工する方法であ
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
の加工方法には次に述べる問題がある。
【0006】第一の加工方法は、加工物の両面をラップ
加工した後、一方の面を加工するので、2回の加工工程
が必要である。第二の加工方法は、加工物の各面を個別
にラップ加工するために、同じく2回の加工工程が必要
である。
【0007】また、第一および第二の加工方法は、いず
れも2回目の工程で加工物を片面ラップ加工装置で加工
するが、この時加工物の加工を必要しない面をラップ加
工装置の上位定盤または下位定盤の一方に接着し、加工
を必要とする面を他の定盤で加工する必要がある。この
時、加工物の定盤に接着した一方の面と、加工した他方
の面との間で平行度が低下することがある。すなわち、
上位定盤と下位定盤との平行度の誤差、加工物と定盤と
の間に介在する接着剤の厚みのばらつきなどが影響して
、加工物が定盤に垂直に位置せず、両方の加工面の平行
度が低下することがある。
【0008】本発明は前記事情に基づいてなされたもの
で、表面粗さが異なる一対の面を有する加工物の該面を
一回の加工工程でラップ加工できる両面ラップ加工装置
を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段と作用】本発明の発明者は
、互いに対向して表面粗さが異なる一対の面を有する加
工物の該面をラップ加工する装置について研究を重ねて
きたが、この結果次のことがわかった。
【0010】従来の加工技術は、ラップ加工装置で加工
物を2回の加工工程で加工するために加工工程数が多く
、また2回目の加工工程で片面加工を行うために一対の
面の平行度が悪いという問題を踏まえて、両面ラップ加
工装置を用いて1回の加工工程で加工物の一対の面を加
工することについて研究を重ねた。
【0011】この結果、両面ラップ加工装置において、
上位定盤に粒度が細かい砥石を配置し、粒度が粗い砥石
を下位定盤に配置することにより、互いに対向して表面
粗さが異なる一対の面を有する加工物の該面を同時に加
工できることを見出した。
【0012】上位定盤に粒度が細かい砥石を配置し、粒
度が粗い砥石を下位定盤に配置する理由は、粒度の細か
い上位定盤の砥石から剥がれた砥粒や削りかすが流れ出
て下位定盤に達しても、表面粗さの粗い加工物の面には
影響をおよぼさないからである。
【0013】本発明の両面ラップ加工装置は、下面に砥
石を有する上位定盤と、上面に砥石を有する下位定盤と
、前記上位定盤と前記下位定盤との間に設けられ加工物
を保持する孔を有する保持部材とを備え、前記上位定盤
と前記下位定盤と前記保持部材との間で相対的な回転運
動を与えて前記加工物の対向する面を前記上位定盤の砥
石と前記下位定盤の砥石で研磨加工する装置において、
前記上位定盤の砥石の粒度が前記下位定盤の砥石の粒度
よりも細かいことを特徴とするものである。
【0014】
【実施例】本発明の実施例を図面を参照して説明する。 本発明の両面ラップ加工装置の一実施例について図1お
よび図2を参照して説明する。
【0015】図中1は上位定盤、2は下位定盤、これら
両方の定盤1、2は上下に相対して水平に配置されてい
る。上位定盤1は定盤型をなす定盤本体1a の下面部
に砥石1b を埋設したものである。下位定盤2は定盤
型をなす定盤本体2a の上面部に砥石2b を埋設し
たものである。上位定盤1に設けた砥石1b は下位定
盤2に設けた砥石2b に比較して粒度の細かいものを
用いる。上位定盤1に設けてある砥石1b の粒度と下
位定盤2に設けた砥石2b の粒度の大きさは、ラップ
加工する加工物の加工面の表面粗さに応じて設定する。
【0016】上位定盤1は垂直な保持軸3に取り付けら
れ、下位定盤2は垂直な保持軸4に取付けられている。 これら保持軸3、4は図示しない回転装置により回転さ
れ、また上位定盤1を取付けた保持軸3は図示しない上
下移動装置により上下移動される。
【0017】また、上位定盤1と下位定盤2との間には
、これらと平行に円盤型をなす加工物の保持部材5が配
置されている。この保持部材5は加工物を保持する複数
の孔6が形状中心を中心として所定半径をもって描かれ
る2個の円に位置して等間隔存して形成されている。 これは定盤の広い範囲で加工物を保持して各定盤の砥石
を全面にわたり均一に摩耗させるためである。また外周
縁部には歯部5a が形成されている。保持部材5は図
示しない部材に回転自在に水平に支承されており、歯部
5a には駆動歯車7が噛合している。駆動歯車7は図
示しない回転装置による回転される。このように構成さ
れた両面ラップ加工装置の作用について説明する。加工
物Sは互いに対向する一対の面を有するものである。
【0018】上位定盤1と下位定盤2との間の間隙を拡
大して、保持部材5の各孔6に加工物Sを挿入して下位
定盤2の砥石2b に上面に載せる。加工物Sは小さい
表面粗さを必要とする面を上側にし、大きい表面粗さを
必要とする面を下側にする。保持軸3により上位定盤1
を下方に移動して上位定盤1の砥石1a の下面を加工
物Sの上面に接触させる。これにより加工物Sの小さい
表面粗さを必要とする面は上側定盤1の砥石1b に接
触し、大きい表面粗さを必要とする面は下側定盤2の砥
石2b に接触する。
【0019】各回転装置により保持軸3、4を介して上
位定盤1と下位定盤2を互いに逆向きの方向に回転させ
る。回転装置により駆動歯車7を回転して保持部材5を
例えば上位定盤1と同じ方向に回転させる。また、それ
ぞれは回転数を異ならせて回転する。
【0020】これにより加工物Sの上面は上位定盤1の
砥石1b に研摩され、下面は下位定盤2の砥石2b 
に研摩される。上位定盤1の砥石1bの粒度は下位定盤
2の砥石2b の粒度に比較して細かいので、加工物S
の上面は下面に比較して細かい表面粗さで研摩される。 このようにして1回のラップ加工で加工物Sの対向する
2個の面を表面粗さを異ならせて研摩加工をできる。ま
た、加工物の一対の目の平行度の制度に低下も発生しな
い。具体例について説明する。
【0021】縦30mm×横30mm×高さ5 mmの
窒化けい素焼結体の角板を加工物として準備した。この
加工物の対向する一対の面を平行度10um、表面粗さ
が0.4umRa と0.1umRaに仕上るために、
図1および図2に示す両面ラップ加工装置を使用して加
工物にラップ加工を施した。
【0022】上位定盤には平行度20umのダイヤモン
ドを埋込んだ砥石を使用し、下位定盤には 100um
のダイヤモンドを埋込んだ砥石を使用した。保持部材に
は縦35mm×横35mm×厚さ3mm の孔を有する
ガラスエポキシ樹脂からなる物を使用し、加工物を保持
部材に孔に挿入した。加工条件としては、上位定盤を右
前回りに100rpm、下位定盤は左まわりに45rp
m 、保持部材が右回りに25rpm にそれぞれを回
転を設定した。また、比較例として加工物の両面を片面
ラップ加工装置でそれぞれ個別ラップ加工した。
【0023】そして、本発明例の加工物の表面粗さと比
較例の加工物の表面粗さを測定した。この結果、本発明
の両面ラップ加工装置で加工した加工物の2個の加工面
の表面粗さは0.32umRaと0.07umRa、平
行度は7.7um であった。これに対して比較例の加
工物の2個の加工面の表面粗さは0.29umRaと0
.09umRa、平行度は15.6umであった。比較
例の加工物の加工面は表面粗さは本発明例の加工物と大
体同じであったが、平行度は目標値を満足できなかった
。また、加工時間は比較例の加工物の加工では8時間か
かってしまったが、本発明例の加工物の加工では5時間
であって、本発明の場合は比較例の場合と比較して約3
時間短縮できた。本発明の他の実施例について図3およ
び図4について説明する。
【0024】この実施例では、下位定盤2は保持軸4に
保持されず、台12に載置されている。上位定盤1と下
位定盤2との間に、その形状中心を中心として描かれる
円に位置して複数の保持部材8が配置されている。これ
らの保持部材8は円リング形をなすもので、同心円上に
位置して加工物Sを保持する複数の孔8a が形成され
、外周縁部に歯部8b が形成されている。各保持部材
8で囲まれた下位定盤2の中心には歯車9が配置され、
この歯車9は各保持部材8の外周縁部の歯部8b に噛
合している。歯車9は下位定盤2および台12に上下方
向に形成した孔を通して設けた保持軸10に保持されて
いる。 保持軸10は図示しない回転装置に回転されている。各
保持部材8に周囲を囲んで図示しない円形のリング歯車
11が設けられ、このリング歯車11に内周部に形成さ
れた歯部には各保持部材8の外周部の歯部が噛合されて
いる。これにより各保持部材8は歯車9とリング歯車1
1に保持されている。
【0025】各保持部材8の各孔8a には夫々加工物
Sを保持する。回転装置により保持軸10を介して歯車
9を回転すると、各保持部材8がリング歯車11に支持
されて歯車9の周囲を自転しながら公転する。すなわち
、各保持部材8に保持された加工物Sは自転しながら公
転して、その上面および下面が上位定盤1の砥石1bお
よび下位定盤2の砥石2bにより研摩加工される。具体
的な例について説明する。
【0026】加工物として窒化けい素焼結体からなる丸
板(直径50mm×厚さ 10mm )を用意した。前
述した実施例の加工物と同じ大きさの表面粗さを得るこ
とを目標にして、本発明の両面ラップ加工装置を使用し
て加工物の両面をラップ加工した。上位定盤には平行度
20umのダイヤモンドを埋込んだ砥石を使用し、下位
定盤には 100umのダイヤモンドを埋込んだ砥石を
した。保持部材は直径55mm、厚さ6mm の孔を有
するアルミニウム合金からなるものを使用した。加工物
は保持部材の孔に挿入して加工を行った。加工条件とし
ては、上位定盤および下位定盤を固定し、保持部材を2
00rpmで自転させながら各定盤の中心に対して60
rpm で公転させた。加工終了後、加工物の加工面を
測定すると、表面粗さはo.26umRaとo.009
umRa、平行度は5.8umRa であり、前述の実
施例の加工物の場合とほぼ同じであった。なお、本発明
は前述した実施例に限定されずに、種々変形して実施す
ることができる。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、表
面粗さが異なる一対の面を有する加工物の該面を一回の
加工工程でラップ加工でき、しかも加工物の一対の面の
平行度の精度が良好で精度の高いラップ加工を行える両
面ラップ加工装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の両面ラップ加工装置を示す
断面図。
【図2】本発明の一実施例の両面ラップ加工装置におい
て上位定盤を除いて示す平面図。
【図3】本発明の他実施例の両面ラップ加工装置を示す
断面図。
【図4】本発明の他実施例の両面ラップ加工装置におい
て上位定盤を除いて示す平面図。
【符号の説明】
1…上位定盤、1b …砥石、2…下位定盤、2b …
砥石、5…保持部材、S…加工物。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  下面に砥石を有する上位定盤と、上面
    に砥石を有する下位定盤と、前記上位定盤と前記下位定
    盤との間に設けられ加工物を保持する孔を有する保持部
    材とを備え、前記上位定盤と前記下位定盤と前記保持部
    材との間で相対的な回転運動を与えて前記加工物の対向
    する面を前記上位定盤の砥石と前記下位定盤の砥石で研
    磨加工する装置において、前記上位定盤の砥石の粒度が
    前記下位定盤の砥石の粒度よりも細かいことを特徴とす
    る両面ラップ加工装置。
JP3023269A 1991-02-18 1991-02-18 両面ラップ加工装置 Pending JPH04261768A (ja)

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JP3023269A JPH04261768A (ja) 1991-02-18 1991-02-18 両面ラップ加工装置

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002173361A (ja) * 2000-12-07 2002-06-21 Toshiba Corp セラミック基板、薄膜回路基板およびセラミック基板の製造方法
CN104813448A (zh) * 2012-09-28 2015-07-29 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 改进的微研磨工艺
CN111230630A (zh) * 2020-03-14 2020-06-05 李广超 一种扁钢双面打磨器
CN116922259A (zh) * 2023-09-13 2023-10-24 杭州泓芯微半导体有限公司 超精密双面自动研磨机

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002173361A (ja) * 2000-12-07 2002-06-21 Toshiba Corp セラミック基板、薄膜回路基板およびセラミック基板の製造方法
CN104813448A (zh) * 2012-09-28 2015-07-29 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 改进的微研磨工艺
JP2015531318A (ja) * 2012-09-28 2015-11-02 サン−ゴバン セラミックス アンド プラスティクス,インコーポレイティド 修正されたマイクロ研削プロセス
CN111230630A (zh) * 2020-03-14 2020-06-05 李广超 一种扁钢双面打磨器
CN111230630B (zh) * 2020-03-14 2022-04-22 李广超 一种扁钢双面打磨器
CN116922259A (zh) * 2023-09-13 2023-10-24 杭州泓芯微半导体有限公司 超精密双面自动研磨机
CN116922259B (zh) * 2023-09-13 2023-12-15 杭州泓芯微半导体有限公司 超精密双面自动研磨机

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