JPH0426434B2 - - Google Patents
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- JPH0426434B2 JPH0426434B2 JP59213592A JP21359284A JPH0426434B2 JP H0426434 B2 JPH0426434 B2 JP H0426434B2 JP 59213592 A JP59213592 A JP 59213592A JP 21359284 A JP21359284 A JP 21359284A JP H0426434 B2 JPH0426434 B2 JP H0426434B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、Dip and Read式の試験片を用い
て、試験片の取り出し、被検液への浸漬、測光、
演算、廃棄等全てを自動で行なう連続自動分析方
法及び装置に関するものである。
て、試験片の取り出し、被検液への浸漬、測光、
演算、廃棄等全てを自動で行なう連続自動分析方
法及び装置に関するものである。
現在、血液や尿等の分析に最も多く用いられる
試験片２は、第３図に示すように透明なプラスチ
ツク製ストリツプの一方の端から試薬面２Ａ…を
設け他端部を把持部２Ｂとするものである。尚、
試薬面２Ａは測定項目数に応じた個数だけ設けら
れるが、更に標準反射片を設けてもよい。また、
図示のものは試薬面２Ａとして試薬を含浸させた
濾紙の小片を両面粘着テープで貼着したものであ
るが、その他試薬を基材とともに塗布してフイル
ム化したものもある。そしてこれらの試薬片は、
本来被検試料に浸漬した後比色用見本と比較して
被検物質の濃度を測定するいわゆるDip and
Read式検査に用いるものであるが、現在ではこ
のReadの段階が装置化されて定着乃至判定量が
可能となり、また測光から演算、濃度の表示、試
験片の排出まで自動化されたものもある。しかし
Dipの段階を人手に頼つている現状では、検体数
が増える試験片を密閉容器から１本ずつ取り出
し、被検液に浸して色表と見比べたり、または光
学的測定装置の測定部にセツトし、測定が終了し
た試験片を廃棄するという作業の繰り返しは、操
作者に多大な負担を課するものである。しかも、
一定の反応時間を必要とするので操作者は測定中
完全に拘束される。また、人手だと浸漬時間や浸
漬測定開始までの時間がどうしてもバラつきやす
く測定誤差を生じ易い。従つて、このDip段階を
含めて完全な自動化を行なうことが望まれる。
試験片２は、第３図に示すように透明なプラスチ
ツク製ストリツプの一方の端から試薬面２Ａ…を
設け他端部を把持部２Ｂとするものである。尚、
試薬面２Ａは測定項目数に応じた個数だけ設けら
れるが、更に標準反射片を設けてもよい。また、
図示のものは試薬面２Ａとして試薬を含浸させた
濾紙の小片を両面粘着テープで貼着したものであ
るが、その他試薬を基材とともに塗布してフイル
ム化したものもある。そしてこれらの試薬片は、
本来被検試料に浸漬した後比色用見本と比較して
被検物質の濃度を測定するいわゆるDip and
Read式検査に用いるものであるが、現在ではこ
のReadの段階が装置化されて定着乃至判定量が
可能となり、また測光から演算、濃度の表示、試
験片の排出まで自動化されたものもある。しかし
Dipの段階を人手に頼つている現状では、検体数
が増える試験片を密閉容器から１本ずつ取り出
し、被検液に浸して色表と見比べたり、または光
学的測定装置の測定部にセツトし、測定が終了し
た試験片を廃棄するという作業の繰り返しは、操
作者に多大な負担を課するものである。しかも、
一定の反応時間を必要とするので操作者は測定中
完全に拘束される。また、人手だと浸漬時間や浸
漬測定開始までの時間がどうしてもバラつきやす
く測定誤差を生じ易い。従つて、このDip段階を
含めて完全な自動化を行なうことが望まれる。
しかし、Dip段階までを含めて完全な自動化を
図るためには、試験片を規則的に取り出す機構、
及び害取り出した試験片を被検液に浸漬しこれを
測光部に正しくセツトする試験片自動操作機構が
必要となる。しかもこれらは、正確に作動しまた
好ましくは小型で且つ安価であることが必要であ
る。
図るためには、試験片を規則的に取り出す機構、
及び害取り出した試験片を被検液に浸漬しこれを
測光部に正しくセツトする試験片自動操作機構が
必要となる。しかもこれらは、正確に作動しまた
好ましくは小型で且つ安価であることが必要であ
る。
本発明は、上記要請のもとに開発されたもので
あり、試験片自動操作機構と試験片の自動供給機
構及び従来公知の測光機構等を有機的に組合せて
Dip及びReadの全ての工程を自動的連続的に行
なうものである。以下、本発明を図面に示す実施
例に基づいて詳細に説明する。
あり、試験片自動操作機構と試験片の自動供給機
構及び従来公知の測光機構等を有機的に組合せて
Dip及びReadの全ての工程を自動的連続的に行
なうものである。以下、本発明を図面に示す実施
例に基づいて詳細に説明する。
第１図は、本発明装置の一例でその作動状態を
示す概略斜視図、第２図はそのブロツク図であ
る。この試験片を用いる連続自動分析装置１は、
試験片自動操作機構３の周囲に試験片自動供給機
構４、試料容器供給機構５及び測光機構６等を配
置したものである。また、第２図中符号７は制御
部、８は入力部、９は出力部である。
示す概略斜視図、第２図はそのブロツク図であ
る。この試験片を用いる連続自動分析装置１は、
試験片自動操作機構３の周囲に試験片自動供給機
構４、試料容器供給機構５及び測光機構６等を配
置したものである。また、第２図中符号７は制御
部、８は入力部、９は出力部である。
試験片自動操作機構３は、先端に試験片保持具
１１を設けたアーム１２とアーム駆動用シヤフト
１３及びシヤフト回転用モータ１４からなる回転
部１５を、縦方向のシヤフト１７で支承するとと
もに上下駆動用モータ１８の軸に巻係されたワイ
ヤ１９で上下動可能に吊持する。またアーム駆動
用シヤフト１３の一端部を支えて振り止めするス
ライダー１６を、左右駆動用モータ２０の軸に巻
係したワイヤ２１で左右方向に駆動する。このス
ライダー１６は左右駆動用シヤフト２２に支持さ
れており、これら全体は枠体２３に組み込まれて
いる。
１１を設けたアーム１２とアーム駆動用シヤフト
１３及びシヤフト回転用モータ１４からなる回転
部１５を、縦方向のシヤフト１７で支承するとと
もに上下駆動用モータ１８の軸に巻係されたワイ
ヤ１９で上下動可能に吊持する。またアーム駆動
用シヤフト１３の一端部を支えて振り止めするス
ライダー１６を、左右駆動用モータ２０の軸に巻
係したワイヤ２１で左右方向に駆動する。このス
ライダー１６は左右駆動用シヤフト２２に支持さ
れており、これら全体は枠体２３に組み込まれて
いる。
また、本例の試験片保持具１１はレリーズ２４
の押し引きにより開閉するハサミ機構（嘴機構）
で、本例ではこのレリーズ２４の操作はソレノイ
ド２５で行なつているがエアシリンダーで行なつ
てもよく、或いはハサミ機構の開閉を直接ソレノ
イドやエアシリンダーで行なつてもよい。またハ
サミ機構に替えて空気吸引により直接保持する方
式を採用してもよい。このうちレリーズ式のもの
が軽量で力強く望ましい。これらのレリーズやエ
アパイプはアーム１２の中を通す他空間に浮かし
てもよい。更に、前記各モータ１４，１８，２０
は正確な位置決めをするためパルスモータが好ま
しい。
の押し引きにより開閉するハサミ機構（嘴機構）
で、本例ではこのレリーズ２４の操作はソレノイ
ド２５で行なつているがエアシリンダーで行なつ
てもよく、或いはハサミ機構の開閉を直接ソレノ
イドやエアシリンダーで行なつてもよい。またハ
サミ機構に替えて空気吸引により直接保持する方
式を採用してもよい。このうちレリーズ式のもの
が軽量で力強く望ましい。これらのレリーズやエ
アパイプはアーム１２の中を通す他空間に浮かし
てもよい。更に、前記各モータ１４，１８，２０
は正確な位置決めをするためパルスモータが好ま
しい。
もつとも、試験片自動操作機構３としては図示
のものに限らず、アーム１２をモータとワイヤや
螺条、シリンダー等を用いて後述の如く上下・左
右の移動及び回転駆動させるものであれば如何な
る構造のものも使用可能である。
のものに限らず、アーム１２をモータとワイヤや
螺条、シリンダー等を用いて後述の如く上下・左
右の移動及び回転駆動させるものであれば如何な
る構造のものも使用可能である。
次に試験片自動供給機構４は、試験片２を一枚
ずつ供給するもので、種々な構造のものが考えら
れる。本例では、試験片を投入するホツパー２６
が試験片嵌入溝２７を備えた底部２８と該溝２７
に平行な２つの内壁面２９ａ，３０ａを含む壁部
２９，３０を有し底部２８をスライドさせて試験
片嵌入溝２７をホツパー外に移動させるスライベ
ース方式のものを用いている。
ずつ供給するもので、種々な構造のものが考えら
れる。本例では、試験片を投入するホツパー２６
が試験片嵌入溝２７を備えた底部２８と該溝２７
に平行な２つの内壁面２９ａ，３０ａを含む壁部
２９，３０を有し底部２８をスライドさせて試験
片嵌入溝２７をホツパー外に移動させるスライベ
ース方式のものを用いている。
尚、第４図ａ，ｂはその詳細を示すもので、底
部２８がラツク３１とピニオンギヤ３２を介して
モータ３３により内壁面２９ａ，３０ａ間（第４
図ｂ〜の間）を左右に移動させられているう
ちに、ホツパー２６内に投入された試験片２の内
一枚が、ホツパー内のの位置で溝２７に嵌る。
検知器３４…が溝２７内の試験片２を検知する
と、底部２８は更に外方に移動して、溝２７が試
験片２の取り出し位置（第１図の状態）に停止
する。また試験片２が裏向き溝２７に嵌入してい
る場合、検知器３４でその旨を検知して底部２８
を更に進行させ（溝３７の位置）、反転機構の
レバー３５の試験片２を壁部２９側に反転させつ
つ押し出す。そして底部２８が逆行する際壁部の
外壁面下端で溝２７に嵌入させ、の位置で表面
を向いているか否かを再度チエツクして、正しけ
れば逆転しての位置でて停止する。
部２８がラツク３１とピニオンギヤ３２を介して
モータ３３により内壁面２９ａ，３０ａ間（第４
図ｂ〜の間）を左右に移動させられているう
ちに、ホツパー２６内に投入された試験片２の内
一枚が、ホツパー内のの位置で溝２７に嵌る。
検知器３４…が溝２７内の試験片２を検知する
と、底部２８は更に外方に移動して、溝２７が試
験片２の取り出し位置（第１図の状態）に停止
する。また試験片２が裏向き溝２７に嵌入してい
る場合、検知器３４でその旨を検知して底部２８
を更に進行させ（溝３７の位置）、反転機構の
レバー３５の試験片２を壁部２９側に反転させつ
つ押し出す。そして底部２８が逆行する際壁部の
外壁面下端で溝２７に嵌入させ、の位置で表面
を向いているか否かを再度チエツクして、正しけ
れば逆転しての位置でて停止する。
ここに検知器３４としては、試験片２の有無を
検知する透過型のホトインタラプタ、表裏判定用
の反射型ホトインタラプタ等の光センサーを１個
或いは適宜組み合わせて用いるが、その他例えば
近傍センサーで溝３７の部分の高低を検知して試
験片２の有無や表裏判定を行なうようにしてもよ
い。更に、試薬面２Ａの夫々に対応する検知器３
４を複数設けて試験片の種類の判定や試験片の破
損等のチエツクを行ない、別の種類のものや不良
品な系外に除去するようにしてもよい。
検知する透過型のホトインタラプタ、表裏判定用
の反射型ホトインタラプタ等の光センサーを１個
或いは適宜組み合わせて用いるが、その他例えば
近傍センサーで溝３７の部分の高低を検知して試
験片２の有無や表裏判定を行なうようにしてもよ
い。更に、試薬面２Ａの夫々に対応する検知器３
４を複数設けて試験片の種類の判定や試験片の破
損等のチエツクを行ない、別の種類のものや不良
品な系外に除去するようにしてもよい。
尚、反転機構を省略して試験片２が表裏反対の
場合試験片保持具１１を駆動して試験片２の表裏
が逆になるようにしてもよい。この取り出し機構
４も底部２８を固定して壁部を可動にするなどの
変形が種々考えられる。
場合試験片保持具１１を駆動して試験片２の表裏
が逆になるようにしてもよい。この取り出し機構
４も底部２８を固定して壁部を可動にするなどの
変形が種々考えられる。
或いは、試験片自動供給機構４としてカセツト
式のものを用いることもできる。第５図はこの一
例で、カセツト４６内に多数詰め込まれた試験片
２を、スライダー４７で下から１枚宛順次押し出
して取り出し位置に置き、検知器４８で確認して
おく。そして、この位置で試験片保持具１１によ
り取り出される。
式のものを用いることもできる。第５図はこの一
例で、カセツト４６内に多数詰め込まれた試験片
２を、スライダー４７で下から１枚宛順次押し出
して取り出し位置に置き、検知器４８で確認して
おく。そして、この位置で試験片保持具１１によ
り取り出される。
ところで、本例における試料容器供給機構５や
測光機構６は従来公知のものを組み込んでいる
が、その他種々な変形例が考えられる。本例の試
料容器供給機構５はターンテーブル方式のもの
で、該試料ターンテーブル３６はその円周部に試
料容器３７を受け入れるポート３８を多数設けて
おり、モータ３９で正逆方向に回転駆動される。
この試料ターンテーブル３６を脱着可能に順次交
換しうるようにすると、大量の試料を手際よく処
理することができる。一方測光機構６は、測光部
４０と該測光部４０に試験片２…を導く担持台と
しての反応ターンテーブル４１からなり、反応タ
ーンテーブル４１には試験片載置個所として複数
の溝４２が放射状に設けられていてモータ４３で
一定方向に間欠回転される。測光部４０は溝４２
が停止する或位置の上方に置かれている。測光部
４０は、光学系４４と試験片２を移動させる引張
機構４５からなる。
測光機構６は従来公知のものを組み込んでいる
が、その他種々な変形例が考えられる。本例の試
料容器供給機構５はターンテーブル方式のもの
で、該試料ターンテーブル３６はその円周部に試
料容器３７を受け入れるポート３８を多数設けて
おり、モータ３９で正逆方向に回転駆動される。
この試料ターンテーブル３６を脱着可能に順次交
換しうるようにすると、大量の試料を手際よく処
理することができる。一方測光機構６は、測光部
４０と該測光部４０に試験片２…を導く担持台と
しての反応ターンテーブル４１からなり、反応タ
ーンテーブル４１には試験片載置個所として複数
の溝４２が放射状に設けられていてモータ４３で
一定方向に間欠回転される。測光部４０は溝４２
が停止する或位置の上方に置かれている。測光部
４０は、光学系４４と試験片２を移動させる引張
機構４５からなる。
次に、上記例装置１による測定動作を説明す
る。まず、試験片自動操作機構３のアーム１２が
モータ２０の回転により外方（図では左方）に移
動し同時に回転部１５がモータ１８の回転により
降下して、試験片保持具１１は試験片自動供給機
構４の試験片２取り出し位置Ａにくる。この際試
験片保持具１１は開いており、試験片２の把持部
をくわえた後閉じる。次いで各モータ１８，２０
が逆回転し、その後シヤフト回転用モータ１４が
回転して、試験片保持具１１は試験片浸漬位置Ｂ
にくる。試験片保持具１１はそのまま降下して所
定時間試薬面２Ａを被検液中に浸漬しておく。次
いでモータ１８が回転して試験片２を引き揚げ、
更にモータ１８，１４が回転して試験片保持具１
１を測光機構６のターンテーブル溝４２の位置Ｃ
に移動さて、ここで試験片２を離して溝４２内に
載置する。試験片２なターンテーブル４１に回転
に伴つて測光部４０に送られ、測定される。続い
て試験片保持具１１はＡの位置に戻り、同様の操
作を繰り返す。
る。まず、試験片自動操作機構３のアーム１２が
モータ２０の回転により外方（図では左方）に移
動し同時に回転部１５がモータ１８の回転により
降下して、試験片保持具１１は試験片自動供給機
構４の試験片２取り出し位置Ａにくる。この際試
験片保持具１１は開いており、試験片２の把持部
をくわえた後閉じる。次いで各モータ１８，２０
が逆回転し、その後シヤフト回転用モータ１４が
回転して、試験片保持具１１は試験片浸漬位置Ｂ
にくる。試験片保持具１１はそのまま降下して所
定時間試薬面２Ａを被検液中に浸漬しておく。次
いでモータ１８が回転して試験片２を引き揚げ、
更にモータ１８，１４が回転して試験片保持具１
１を測光機構６のターンテーブル溝４２の位置Ｃ
に移動さて、ここで試験片２を離して溝４２内に
載置する。試験片２なターンテーブル４１に回転
に伴つて測光部４０に送られ、測定される。続い
て試験片保持具１１はＡの位置に戻り、同様の操
作を繰り返す。
これら各機構３，４，５，６の動作は、夫々制
御部７のマイクロコンピユータで制御される。ま
たこのマイクロコンピユータは、反射率から夫々
の被検物質の濃度等を演算し、その結果を表示部
４９に出力する。また第２図中符号５０はプリン
ター、５１は外部出力、５２なキーボードであ
る。
御部７のマイクロコンピユータで制御される。ま
たこのマイクロコンピユータは、反射率から夫々
の被検物質の濃度等を演算し、その結果を表示部
４９に出力する。また第２図中符号５０はプリン
ター、５１は外部出力、５２なキーボードであ
る。
次に、液面検知機構１０について説明する。こ
れは、試験片２を自動で試料容器３７中に挿入す
るので、被検液が少ない場合試薬面２Ａが浸漬さ
れないし、多すぎると浸漬時間が長くなり正確な
測定が出来なくなる虞があるので、浸漬前に予め
液面を検知しておき試験片２の挿入の程度を調節
したり被検液の不足を予告したりするためのもの
である。そして、この液面検知は、ノズルアーム
５３の先端に支持された長短２本の電極５４，５
５で行なう。尚、ノズルアーム５３はノズルモー
タ５６により駆動され、各電極５４，５５は、測
定毎に洗浄槽５７で洗浄される尚、長い方の電極
５４は吸引ノズルを兼ねており、ここから吸引さ
れた被検液は比重ユニツト５８に導かれて比重の
測定がなされる。ただ、試験片２の浸漬に先立つ
て吸引を行なうと液面が低下するので、その分を
予め予測するか或いは一旦液面検知を行い次いで
浸漬してから後に吸引を行なうようにしてもよ
い。これらの操作はターンテーブル３６の回転を
制御して行なう。尚この液面検知は反射光を用い
た光センサー等で行なつてもよい。
れは、試験片２を自動で試料容器３７中に挿入す
るので、被検液が少ない場合試薬面２Ａが浸漬さ
れないし、多すぎると浸漬時間が長くなり正確な
測定が出来なくなる虞があるので、浸漬前に予め
液面を検知しておき試験片２の挿入の程度を調節
したり被検液の不足を予告したりするためのもの
である。そして、この液面検知は、ノズルアーム
５３の先端に支持された長短２本の電極５４，５
５で行なう。尚、ノズルアーム５３はノズルモー
タ５６により駆動され、各電極５４，５５は、測
定毎に洗浄槽５７で洗浄される尚、長い方の電極
５４は吸引ノズルを兼ねており、ここから吸引さ
れた被検液は比重ユニツト５８に導かれて比重の
測定がなされる。ただ、試験片２の浸漬に先立つ
て吸引を行なうと液面が低下するので、その分を
予め予測するか或いは一旦液面検知を行い次いで
浸漬してから後に吸引を行なうようにしてもよ
い。これらの操作はターンテーブル３６の回転を
制御して行なう。尚この液面検知は反射光を用い
た光センサー等で行なつてもよい。
以上詳述したように、本発明は供給装置から１
枚ずつ供給される試験片の把持部を保持して持ち
上げ、順次送られてくる試料容器中の試料液に試
験片の試薬面を挿入して所定時間浸漬した後、引
き上げた試験片を試験片担持台にセツトし、次い
で所定時間後試薬面を測光する、試薬片を用いる
連続自動分析方法及び装置である。従つて、Dip
and Read式の試験片を用いて、試験片の取り出
し、被検液の浸漬、測光、演算、廃棄等全てを自
動で行なうことができるので、Dipの段階が人手
に委ねられている従来方法と比べて操作者の負担
が大幅に軽減されると共に、浸漬時間や浸漬後測
定開始までの時間がバラつかないので測定誤差を
生じることもなく、また操作者は試料容器に被検
液を注入するだけでよいため省力化が図れる。ま
た、特別の自動分析装置用試験片を用いずとも、
目視で使用できる試験片をそのまま本連続自動分
析装置に流用することもでき、汎用性が高い。
枚ずつ供給される試験片の把持部を保持して持ち
上げ、順次送られてくる試料容器中の試料液に試
験片の試薬面を挿入して所定時間浸漬した後、引
き上げた試験片を試験片担持台にセツトし、次い
で所定時間後試薬面を測光する、試薬片を用いる
連続自動分析方法及び装置である。従つて、Dip
and Read式の試験片を用いて、試験片の取り出
し、被検液の浸漬、測光、演算、廃棄等全てを自
動で行なうことができるので、Dipの段階が人手
に委ねられている従来方法と比べて操作者の負担
が大幅に軽減されると共に、浸漬時間や浸漬後測
定開始までの時間がバラつかないので測定誤差を
生じることもなく、また操作者は試料容器に被検
液を注入するだけでよいため省力化が図れる。ま
た、特別の自動分析装置用試験片を用いずとも、
目視で使用できる試験片をそのまま本連続自動分
析装置に流用することもでき、汎用性が高い。
第１図は本発明装置の一例を示す概略斜視図、
第２図はそのブロツク図、第３図は試験片の側面
図、第４図ａは試験片自動供給機構を示す斜視図
ｂは同じく部分縦断面図、第５図はカセツト式試
験片自動供給装置の一例を示す斜視図である。 １……連続自動分析装置、２……試験片、２Ａ
……試薬面、２Ｂ……把持部、３……試験片自動
操作機構、４……試験片自動供給機構、５……試
料容器供給機構、６……測光機構、７……制御
部、１０……液面検知機構、１１……試験片保持
具、１２……アーム、１３……アーム駆動用シヤ
フト、１４……シヤフト回転用モータ、１７……
シヤフト、１８……上下駆動用モータ、２０……
左右駆動用モータ、２２……左右駆動用シヤフ
ト、２４……レリーズ、２５……ソレノイド、２
６……ホツパー、２７……試験片嵌入溝、２８…
…底部、２９……壁面、２９ａ……内壁面、３０
……壁面、３０ａ……内壁面、３４……検知器、
３５……反転機構のレバー、３６……試料ターン
テーブル、４０……測光部（６の）、４１……反
応ターンテーブル（６の）、４４……光学系、４
６……カセツト、５３……ノズルアーム、５４…
…長電極（吸引ノズル）、５５……短電極、５６
……ノズルモータ、５８……比重ユニツト。
第２図はそのブロツク図、第３図は試験片の側面
図、第４図ａは試験片自動供給機構を示す斜視図
ｂは同じく部分縦断面図、第５図はカセツト式試
験片自動供給装置の一例を示す斜視図である。 １……連続自動分析装置、２……試験片、２Ａ
……試薬面、２Ｂ……把持部、３……試験片自動
操作機構、４……試験片自動供給機構、５……試
料容器供給機構、６……測光機構、７……制御
部、１０……液面検知機構、１１……試験片保持
具、１２……アーム、１３……アーム駆動用シヤ
フト、１４……シヤフト回転用モータ、１７……
シヤフト、１８……上下駆動用モータ、２０……
左右駆動用モータ、２２……左右駆動用シヤフ
ト、２４……レリーズ、２５……ソレノイド、２
６……ホツパー、２７……試験片嵌入溝、２８…
…底部、２９……壁面、２９ａ……内壁面、３０
……壁面、３０ａ……内壁面、３４……検知器、
３５……反転機構のレバー、３６……試料ターン
テーブル、４０……測光部（６の）、４１……反
応ターンテーブル（６の）、４４……光学系、４
６……カセツト、５３……ノズルアーム、５４…
…長電極（吸引ノズル）、５５……短電極、５６
……ノズルモータ、５８……比重ユニツト。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 試験片自動供給機構から１枚ずつ試験片を取
り出し、該試験片を試験片自動操作機構により保
持し、順次送られてくる試料容器の上部へ移送
し、該試料容器中の被検液に浸漬して所定時間後
に引き上げ、試験片担持台の上部へ移送し、次い
で該試験片担持台にセツトして試験片の保持を解
放し、所定時間後に試薬面を自動測光することを
特徴とする試験片を用いる連続自動分析方法。 ２ 試験片の保持は、駆動アーム先端のハサミ機
構で行なうものである特許請求の範囲第１項記載
の試験片を用いる連続自動分析方法。 ３ 試薬面の浸漬に先立つて、試料容器中の試料
液の液面の高さを測定し、その高さに応じて試験
片の挿入深さを決定するものである特許請求の範
囲第１項記載の試験片を用いる連続自動分析方
法。 ４ 試験片の自動供給機構と、該機構から取り出
された試験片を保持し被検液に浸漬し且つ試験片
担持台にセツトする試験片自動操作機構を備えて
成ることを特徴とする試験片を用いる連続自動分
析装置。 ５ モータの回転により左右・上下及び回転駆動
されるアームの先端に試験片保持具を設けた試験
片自動操作機構の周囲に、試験片自動供給機構、
試料容器供給機構及び測光機構を配置し、且つ試
験片保持具が試験片自動供給機構の試験片取り出
し位置、試料容器供給機構の試験片浸漬位置、測
光機構の担持台の試験片載置位置に順次移動する
ようモータの回転を制御するとともに、試験片自
動操作機構の駆動、試料容器供給機構の駆動、測
光機構の担持台と測光部の駆動を制御する制御
部、及び制御部に入出力する操作部を備えてなる
特許請求の範囲第４項記載の試験片を用いる連続
自動分析装置。 ６ 試験片自動供給機構は、試験片を投入するホ
ツパーが試験片嵌入溝を備えた底部と該溝に平行
な２つの内壁面を含む壁部を有し底部をスライド
させて試験片嵌入溝をホツパー外に移動させるも
のである特許請求の範囲第４項又は第５項記載の
試験片を用いる連続自動分析装置。 ７ 試料容器供給機構の側部に、液面検知機構を
設けてなる特許請求の範囲第４項又は第５項記載
の試験片を用いる連続自動分析装置。 ８ 液面検知機構は、２本の電極とその信号処理
回路と電極駆動用モータからなる特許請求の範囲
第７項記載の試験片を用いる連続自動分析装置。 ９ 電極の内１本を吸引ノズルとする特許請求の
範囲第８項記載の試験片を用いる連続自動分析装
置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21359284A JPS6191571A (ja) | 1984-10-11 | 1984-10-11 | 試験片を用いる連続自動分析方法及び装置 |
| US06/782,356 US4876204A (en) | 1984-10-11 | 1985-10-01 | Method and apparatus of automatic continuous analysis using analytical implement |
| EP85112715A EP0180792B2 (en) | 1984-10-11 | 1985-10-08 | Method and apparatus of automatic continuous analysis using analytical implement |
| DE8585112715T DE3576857D1 (de) | 1984-10-11 | 1985-10-08 | Verfahren und vorrichtung zur automatischen kontinuierlichen analyse unter verwendung eines analysegeraetes. |
| CN198585108392A CN85108392A (zh) | 1984-10-11 | 1985-10-09 | 分析器具的连续自动分析方法及装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21359284A JPS6191571A (ja) | 1984-10-11 | 1984-10-11 | 試験片を用いる連続自動分析方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6191571A JPS6191571A (ja) | 1986-05-09 |
| JPH0426434B2 true JPH0426434B2 (ja) | 1992-05-07 |
Family
ID=16641746
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21359284A Granted JPS6191571A (ja) | 1984-10-11 | 1984-10-11 | 試験片を用いる連続自動分析方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6191571A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5039615A (en) * | 1987-04-11 | 1991-08-13 | Kabushiki Kaisha Kyoto Daiichi Kagaku | Method for chemically analyzing a test piece |
| JP2543243B2 (ja) * | 1990-09-05 | 1996-10-16 | 株式会社京都第一科学 | 検体自動分析装置 |
| JP2601075B2 (ja) * | 1991-10-21 | 1997-04-16 | 株式会社日立製作所 | 試験片を用いる分析方法および分析装置 |
| JP2771367B2 (ja) * | 1991-11-14 | 1998-07-02 | 株式会社日立製作所 | 試験片供給装置およびそれを用いた分析装置 |
| JP2812625B2 (ja) * | 1992-10-19 | 1998-10-22 | 株式会社日立製作所 | 液体試料自動分析装置 |
| EP2040079B1 (de) * | 2007-09-19 | 2009-05-20 | F. Hoffman-la Roche AG | Markierungsverfahren zur Ausschussmarkierung von Testelementen |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6244222B2 (ja) * | 1974-01-29 | 1987-09-18 | Shimadzu Corp | |
| GB1591026A (en) * | 1976-09-15 | 1981-06-10 | Schlaepfer & Co Ag | Transfers for the decoration of sheet materials |
| JPS5631538A (en) * | 1979-08-20 | 1981-03-30 | Tokico Ltd | Method for filling gas in gas spring |
| JPS5782769A (en) * | 1980-11-10 | 1982-05-24 | Hitachi Ltd | Automatic analyzing device |
| JPS581387A (ja) * | 1981-06-25 | 1983-01-06 | Sanyo Electric Co Ltd | サンプリングクロツク再生回路 |
| JPS59779A (ja) * | 1982-06-28 | 1984-01-05 | Nec Corp | デ−タ照合システム |
-
1984
- 1984-10-11 JP JP21359284A patent/JPS6191571A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6191571A (ja) | 1986-05-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |