JPH04276069A - スパッタリング方法およびその装置 - Google Patents
スパッタリング方法およびその装置Info
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- JPH04276069A JPH04276069A JP6106291A JP6106291A JPH04276069A JP H04276069 A JPH04276069 A JP H04276069A JP 6106291 A JP6106291 A JP 6106291A JP 6106291 A JP6106291 A JP 6106291A JP H04276069 A JPH04276069 A JP H04276069A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はグロー放電を利用して薄
膜を形成するスパッタリング方法およびその装置に係わ
り、特にマグネトロンスパッタリング方法およびその装
置に関するものである。
膜を形成するスパッタリング方法およびその装置に係わ
り、特にマグネトロンスパッタリング方法およびその装
置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】マグネトロンスパッタリング技術は、低
温高速スパッタリングとも呼ばれ、以前の2極スパッタ
リングなどに比べて多くの長所を有するため、広く利用
されている。このマグネトロンスパッタリング技術の特
徴は、電場と磁場とが直交するいわゆるマグネトロン放
電を利用し、ターゲットの近傍に高密度プラズマを発生
させる点にある。
温高速スパッタリングとも呼ばれ、以前の2極スパッタ
リングなどに比べて多くの長所を有するため、広く利用
されている。このマグネトロンスパッタリング技術の特
徴は、電場と磁場とが直交するいわゆるマグネトロン放
電を利用し、ターゲットの近傍に高密度プラズマを発生
させる点にある。
【0003】図23〜図26は従来の一例として直径8
インチの円形プレーナーマグネトロンスパッタリングカ
ソードを有するスパッタリング方法およびその装置を説
明する図であり、図23は主要構成を示し、図24はカ
ソード部の断面構造の概略とこれによって生成される高
密度プラズマおよびターゲットの侵食状態を示し、図2
5は図24に示した断面構造を有するカソード部の内部
に配置された磁気装置の発生する漏洩磁界のターゲット
直上面の中心から外周に至る範囲のターゲット面に水平
方向の磁束密度成分を表す図でターゲット直上の漏洩磁
界の磁束密度分布を示し、図26は図24に示した断面
構造を有するカソードにてターゲットとして直径8イン
チの無酸素銅を用い寿命に至るまで使用した場合のター
ゲット中心から外周までの範囲における侵食状態を示し
ている。
インチの円形プレーナーマグネトロンスパッタリングカ
ソードを有するスパッタリング方法およびその装置を説
明する図であり、図23は主要構成を示し、図24はカ
ソード部の断面構造の概略とこれによって生成される高
密度プラズマおよびターゲットの侵食状態を示し、図2
5は図24に示した断面構造を有するカソード部の内部
に配置された磁気装置の発生する漏洩磁界のターゲット
直上面の中心から外周に至る範囲のターゲット面に水平
方向の磁束密度成分を表す図でターゲット直上の漏洩磁
界の磁束密度分布を示し、図26は図24に示した断面
構造を有するカソードにてターゲットとして直径8イン
チの無酸素銅を用い寿命に至るまで使用した場合のター
ゲット中心から外周までの範囲における侵食状態を示し
ている。
【0004】これらの図において、1は永久磁石からな
る中央磁極、2は永久磁石からなる外周磁極、5は中央
磁極1と外周磁極2とを磁気的に結合する軟磁性体から
なるヨーク、6は成膜物質からなるターゲット、8は基
板、11は中央磁極1と外周磁極2との間の磁気回路に
より形成されるトンネル状の磁力線、14はトンネル状
の磁力線11により閉じ込められた環状のプラズマ、1
5はプラズマ14中のスパッタ用ガスイオンの衝突によ
りターゲット6が侵食された部分を表す侵食部、20は
真空容器、21はカソード部外壁、22はターゲット6
およびカソード部の内部を冷却する水配管、23はカソ
ード部を真空容器20に連結する真空シール機能および
電気絶縁機能を有する絶縁体、24は必要に応じてプラ
ズマポテンシャルを調整するアノードリング、25は真
空容器20外の電源からアノードリング24へ給電する
電流導入端子、26は真空容器20に対してアノードリ
ング24を電気的に絶縁し固定する絶縁体、27は基板
8を載置し冷却または加熱され所定の温度を維持し真空
容器20と電気的に絶縁された基板載置手段、28は基
板用アースシールド、29は基板載置手段27と基板用
アースシールド28とを連結する真空シール機能および
電気絶縁機能を有する絶縁体、30はスパッタ用のガス
を導入する質量流量制御弁、31は真空容器20の内部
を排気する排気装置、40はターゲット6およびカソー
ド部にスパッタリング用のプラズマを生成するために高
電圧を給電するスパッタ用高圧電源、41は必要に応じ
てアノードリング24に給電する電源である。
る中央磁極、2は永久磁石からなる外周磁極、5は中央
磁極1と外周磁極2とを磁気的に結合する軟磁性体から
なるヨーク、6は成膜物質からなるターゲット、8は基
板、11は中央磁極1と外周磁極2との間の磁気回路に
より形成されるトンネル状の磁力線、14はトンネル状
の磁力線11により閉じ込められた環状のプラズマ、1
5はプラズマ14中のスパッタ用ガスイオンの衝突によ
りターゲット6が侵食された部分を表す侵食部、20は
真空容器、21はカソード部外壁、22はターゲット6
およびカソード部の内部を冷却する水配管、23はカソ
ード部を真空容器20に連結する真空シール機能および
電気絶縁機能を有する絶縁体、24は必要に応じてプラ
ズマポテンシャルを調整するアノードリング、25は真
空容器20外の電源からアノードリング24へ給電する
電流導入端子、26は真空容器20に対してアノードリ
ング24を電気的に絶縁し固定する絶縁体、27は基板
8を載置し冷却または加熱され所定の温度を維持し真空
容器20と電気的に絶縁された基板載置手段、28は基
板用アースシールド、29は基板載置手段27と基板用
アースシールド28とを連結する真空シール機能および
電気絶縁機能を有する絶縁体、30はスパッタ用のガス
を導入する質量流量制御弁、31は真空容器20の内部
を排気する排気装置、40はターゲット6およびカソー
ド部にスパッタリング用のプラズマを生成するために高
電圧を給電するスパッタ用高圧電源、41は必要に応じ
てアノードリング24に給電する電源である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】マグネトロンスパッタ
リングの特徴である直交電磁界によるマグネトロン放電
は、カソード部近傍に設けられた磁気要素の形成するタ
ーゲット直上近傍の漏洩磁界によってスパッタ用のガス
分子から電離した電子あるいはスパッタリング現象によ
り生じた二次電子が収束されるため、これによって電子
とスパッタ用ガス分子との衝突確率が高くなり、プラズ
マ密度が増大するため、スパッタリング速度(成膜速度
,堆積速度)が以前の2極スパッタリングなどに比べて
著しく向上する。その反面、図24〜図26に示すよう
にターゲット6の侵食状態(スパッタリングによりター
ゲット材料が叩き出され、消費された状態)は、前記漏
洩磁界に収束された高密度プラズマ直下が最も激しく、
特にターゲット直上面の中心から外周に至る範囲の磁束
密度分布において、ターゲット面に対して水平方向の磁
束密度成分が略最大値を示し、かつ中心と外周との間で
垂直方向の磁束密度成分が正から負または負から正に変
化する位置においては、マグネトロン放電を維持し、侵
食が進行する(成膜時間が推移する)につれて著しくタ
ーゲット材料が消費される。したがって寿命に至ったタ
ーゲット6の断面形状は、図26に示すように略V字形
状の侵食状態をとり、その体積利用率は、およそ20%
程度であり、高価なターゲット材料を用いて成膜する場
合、特に問題となっていた。また、略V字形状の侵食が
進行するにつれ、スパッタリング現象により叩き出され
たターゲット粒子の飛散方向が変化するため、ターゲッ
ト6の消耗状態が進行した場合、基板8に体積する膜厚
分布を一定に保つことが困難であった。
リングの特徴である直交電磁界によるマグネトロン放電
は、カソード部近傍に設けられた磁気要素の形成するタ
ーゲット直上近傍の漏洩磁界によってスパッタ用のガス
分子から電離した電子あるいはスパッタリング現象によ
り生じた二次電子が収束されるため、これによって電子
とスパッタ用ガス分子との衝突確率が高くなり、プラズ
マ密度が増大するため、スパッタリング速度(成膜速度
,堆積速度)が以前の2極スパッタリングなどに比べて
著しく向上する。その反面、図24〜図26に示すよう
にターゲット6の侵食状態(スパッタリングによりター
ゲット材料が叩き出され、消費された状態)は、前記漏
洩磁界に収束された高密度プラズマ直下が最も激しく、
特にターゲット直上面の中心から外周に至る範囲の磁束
密度分布において、ターゲット面に対して水平方向の磁
束密度成分が略最大値を示し、かつ中心と外周との間で
垂直方向の磁束密度成分が正から負または負から正に変
化する位置においては、マグネトロン放電を維持し、侵
食が進行する(成膜時間が推移する)につれて著しくタ
ーゲット材料が消費される。したがって寿命に至ったタ
ーゲット6の断面形状は、図26に示すように略V字形
状の侵食状態をとり、その体積利用率は、およそ20%
程度であり、高価なターゲット材料を用いて成膜する場
合、特に問題となっていた。また、略V字形状の侵食が
進行するにつれ、スパッタリング現象により叩き出され
たターゲット粒子の飛散方向が変化するため、ターゲッ
ト6の消耗状態が進行した場合、基板8に体積する膜厚
分布を一定に保つことが困難であった。
【0006】このような課題を解決するために本発明は
、薄膜の原料としての成膜物質からなるターゲット材料
の利用効率を高くできるとともにターゲットの深さ方向
の侵食形状を制御可能としたスパッタリング方法および
その装置を提供することを目的としている。
、薄膜の原料としての成膜物質からなるターゲット材料
の利用効率を高くできるとともにターゲットの深さ方向
の侵食形状を制御可能としたスパッタリング方法および
その装置を提供することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明は、ターゲットを載置し電圧を印加し得
る構造でかつ冷却機能を有するカソード部の近傍に磁気
装置を配置したスパッタリング構造において、この磁気
装置の少なくとも2組の磁気要素をターゲット面に平行
な面に対して磁化方向または配向が±60度以内の角度
差を有する永久磁石で構成し、一方をターゲット中心近
傍に環状に配置し、他方をターゲット外周近傍に環状に
配置し、かつ各磁気要素が共有する中心線およびまたは
中心線が連なって構成される平面に向かって磁気要素を
構成している永久磁石のN極またはS極の極性を全て同
一とし、かつターゲット上面近傍の磁界分布調整手段を
具備した少なくとも1組の中間磁気要素をターゲット裏
面の中心と外周との間に環状に配置することにより達成
される。なお、前述したターゲット上面近傍の磁界分布
調整手段を具備した少なくとも1組の中間磁気要素とし
て下記(1)〜(4)に示すような手段を適用すれば、
スパッタリングに寄与するターゲット直上近傍の高密度
プラズマの発生形態およびまたは領域の幅が調整可能と
なる。 (1)カソード部の近傍に配置した磁気装置の各磁気要
素のうち、ターゲット裏面の中心と外周との間に配置し
た少なくとも1組の中間磁気要素がターゲット面に平行
な面に対して磁化方向または配向が±60度以内の角度
差を有する永久磁石で環状に構成し、かつこの永久磁石
のN極またはS極の極性とターゲット中心近傍と外周近
傍に環状に配置した少なくとも2組の磁気要素を構成し
ている永久磁石の極性を各磁気要素が共有する中心線お
よびまたは中心線が連なって構成される平面に向かって
全て同一側としかつターゲット上面近傍の磁気分布を調
整するためにこの中間磁気要素をターゲット面に対し遠
近調整可能な駆動手段を設け、この中間磁気要素の駆動
手段を調整することにより、成膜物質からなるターゲッ
ト材料の利用率を向上し、また、ターゲットの消耗状態
が進行した場合でも侵食幅が同一となるように制御して
成膜する。あるいはこの中間磁気要素の駆動手段の調整
をターゲット消費に連動させることでターゲットの深さ
方向の侵食形状を任意に制御して成膜する。 (2)そのためにカソード部の近傍に配置した磁気装置
の各磁気要素のうち、ターゲット裏面の中心と外周との
間に配置した少なくとも1組の中間磁気要素がターゲッ
ト面に平行な面に対して磁化方向または配向が±60度
以内の角度差を有する永久磁石で環状の構成し、かつこ
の永久磁石のN極またはS極の極性とターゲット中心近
傍と外周近傍に環状に配置した少なくとも2組の磁気要
素を構成している永久磁石の極性を各磁気要素が共有す
る中心線およびまたは中心線が連なって構成される平面
に向かって全て同一側とし、かつターゲット上面近傍の
磁気分布を調整するために中間磁気要素をターゲット面
に対して遠近調整可能な駆動手段を具備させておく。 (3)他の方法としてターゲット部の近傍に配置した磁
気装置の各磁気要素のうち、ターゲット裏面の中心と外
周との間に配置した少なくとも1組の中間磁気要素がソ
レノイドコイルなどの電磁石で構成したものをターゲッ
ト面に平行に配置し、かつターゲット上面近傍の磁界分
布を調整するためにこの中間磁気要素である電磁石の励
磁電流を供給および調整機能を有する励磁手段を設け、
この中間磁気要素の励磁手段を調整することにより、成
膜物質からなるターゲット材料の利用効率の向上し、ま
た、ターゲットの消耗状態が進行した場合でも侵食幅が
同一となるように制御して成膜する。あるいはこの中間
磁気要素の励磁手段の調整をターゲット消耗に連動させ
ることでターゲットの深さ方向の侵食形状を任意に制御
して成膜する。 (4)そのためにカソード部の近傍に配置した磁気装置
の各磁気要素のうち、ターゲット裏面の中心と外周との
間に配置した少なくとも1組の中間磁気要素がソレノイ
ドコイルなどの電磁石で構成したものをターゲット面に
平行に配置し、かつターゲット上面近傍の磁界分布を調
整するためにこの中間磁気要素である電磁石の励磁電流
を供給および調整機能を有する励磁手段を具備させてお
く。
るために本発明は、ターゲットを載置し電圧を印加し得
る構造でかつ冷却機能を有するカソード部の近傍に磁気
装置を配置したスパッタリング構造において、この磁気
装置の少なくとも2組の磁気要素をターゲット面に平行
な面に対して磁化方向または配向が±60度以内の角度
差を有する永久磁石で構成し、一方をターゲット中心近
傍に環状に配置し、他方をターゲット外周近傍に環状に
配置し、かつ各磁気要素が共有する中心線およびまたは
中心線が連なって構成される平面に向かって磁気要素を
構成している永久磁石のN極またはS極の極性を全て同
一とし、かつターゲット上面近傍の磁界分布調整手段を
具備した少なくとも1組の中間磁気要素をターゲット裏
面の中心と外周との間に環状に配置することにより達成
される。なお、前述したターゲット上面近傍の磁界分布
調整手段を具備した少なくとも1組の中間磁気要素とし
て下記(1)〜(4)に示すような手段を適用すれば、
スパッタリングに寄与するターゲット直上近傍の高密度
プラズマの発生形態およびまたは領域の幅が調整可能と
なる。 (1)カソード部の近傍に配置した磁気装置の各磁気要
素のうち、ターゲット裏面の中心と外周との間に配置し
た少なくとも1組の中間磁気要素がターゲット面に平行
な面に対して磁化方向または配向が±60度以内の角度
差を有する永久磁石で環状に構成し、かつこの永久磁石
のN極またはS極の極性とターゲット中心近傍と外周近
傍に環状に配置した少なくとも2組の磁気要素を構成し
ている永久磁石の極性を各磁気要素が共有する中心線お
よびまたは中心線が連なって構成される平面に向かって
全て同一側としかつターゲット上面近傍の磁気分布を調
整するためにこの中間磁気要素をターゲット面に対し遠
近調整可能な駆動手段を設け、この中間磁気要素の駆動
手段を調整することにより、成膜物質からなるターゲッ
ト材料の利用率を向上し、また、ターゲットの消耗状態
が進行した場合でも侵食幅が同一となるように制御して
成膜する。あるいはこの中間磁気要素の駆動手段の調整
をターゲット消費に連動させることでターゲットの深さ
方向の侵食形状を任意に制御して成膜する。 (2)そのためにカソード部の近傍に配置した磁気装置
の各磁気要素のうち、ターゲット裏面の中心と外周との
間に配置した少なくとも1組の中間磁気要素がターゲッ
ト面に平行な面に対して磁化方向または配向が±60度
以内の角度差を有する永久磁石で環状の構成し、かつこ
の永久磁石のN極またはS極の極性とターゲット中心近
傍と外周近傍に環状に配置した少なくとも2組の磁気要
素を構成している永久磁石の極性を各磁気要素が共有す
る中心線およびまたは中心線が連なって構成される平面
に向かって全て同一側とし、かつターゲット上面近傍の
磁気分布を調整するために中間磁気要素をターゲット面
に対して遠近調整可能な駆動手段を具備させておく。 (3)他の方法としてターゲット部の近傍に配置した磁
気装置の各磁気要素のうち、ターゲット裏面の中心と外
周との間に配置した少なくとも1組の中間磁気要素がソ
レノイドコイルなどの電磁石で構成したものをターゲッ
ト面に平行に配置し、かつターゲット上面近傍の磁界分
布を調整するためにこの中間磁気要素である電磁石の励
磁電流を供給および調整機能を有する励磁手段を設け、
この中間磁気要素の励磁手段を調整することにより、成
膜物質からなるターゲット材料の利用効率の向上し、ま
た、ターゲットの消耗状態が進行した場合でも侵食幅が
同一となるように制御して成膜する。あるいはこの中間
磁気要素の励磁手段の調整をターゲット消耗に連動させ
ることでターゲットの深さ方向の侵食形状を任意に制御
して成膜する。 (4)そのためにカソード部の近傍に配置した磁気装置
の各磁気要素のうち、ターゲット裏面の中心と外周との
間に配置した少なくとも1組の中間磁気要素がソレノイ
ドコイルなどの電磁石で構成したものをターゲット面に
平行に配置し、かつターゲット上面近傍の磁界分布を調
整するためにこの中間磁気要素である電磁石の励磁電流
を供給および調整機能を有する励磁手段を具備させてお
く。
【0008】
【作用】本発明においては、この磁気装置によりターゲ
ット直上面に発生される漏洩磁界の磁束密度分布の中心
から外周に至る範囲において、ターゲット面に対して水
平方向の磁束密度成分が単峰特性から強い双峰特性まで
調整可能でかつ中心と外周との間で垂直方向の磁束密度
成分の傾き略零を略中心に正から負または負から正に制
御できる。このため、スパッタリングに寄与するターゲ
ット直上近傍の高密度プラズマの発生形態およびまたは
領域が広く、また、領域の幅が調整可能となり、成膜物
質からなるターゲット材料の利用効果が向上し、また、
ターゲットの消耗状態が進行した場合でも侵食幅が同一
となるようにターゲット上面近傍の磁界分布調整手段を
具備した少なくとも1組の中間磁気要素を制御すること
で、スパッタリング現象により叩き出されたターゲット
粒子の飛散方向の変化が極めて少なく、基板に堆積する
膜厚分布を一定に保つことが可能となる。あるいはター
ゲット消費に連動し、ターゲット上面近傍の磁気分布調
整手段を具備した少なくとも1組の磁気要素を制御する
ことでターゲットの深さ方向の侵食形状を任意に調節で
きる。
ット直上面に発生される漏洩磁界の磁束密度分布の中心
から外周に至る範囲において、ターゲット面に対して水
平方向の磁束密度成分が単峰特性から強い双峰特性まで
調整可能でかつ中心と外周との間で垂直方向の磁束密度
成分の傾き略零を略中心に正から負または負から正に制
御できる。このため、スパッタリングに寄与するターゲ
ット直上近傍の高密度プラズマの発生形態およびまたは
領域が広く、また、領域の幅が調整可能となり、成膜物
質からなるターゲット材料の利用効果が向上し、また、
ターゲットの消耗状態が進行した場合でも侵食幅が同一
となるようにターゲット上面近傍の磁界分布調整手段を
具備した少なくとも1組の中間磁気要素を制御すること
で、スパッタリング現象により叩き出されたターゲット
粒子の飛散方向の変化が極めて少なく、基板に堆積する
膜厚分布を一定に保つことが可能となる。あるいはター
ゲット消費に連動し、ターゲット上面近傍の磁気分布調
整手段を具備した少なくとも1組の磁気要素を制御する
ことでターゲットの深さ方向の侵食形状を任意に調節で
きる。
【0009】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に
説明する。図1〜図22は本発明によるスパッタリング
方法およびその装置を説明する図である。図1において
、1はターゲット6の面と平行な面に対して磁化方向ま
たは配向が±60度以内の角度差を有する永久磁石から
なる中央磁極、2はターゲット6の面と平行な面に対し
て磁化方向または配向が±60度以内の角度差を有する
永久磁石からなる外周磁極、3は連結駆動軸4を介して
中間磁気要素7をターゲット6面または中央磁極1と外
周磁極2とに対して機械的に遠近調整を行う中間磁気要
素駆動装置、4は中間磁気要素駆動装置3を機械的に連
結する非磁性体からなる連結駆動軸、6は成膜物質から
なるターゲット、7はターゲット6面と平行な面に対し
て磁化方向または配向が±60度以内の角度差を有する
永久磁石からなるターゲット上面近傍の磁界分布調整用
の中間磁気要素、8は基板、11は中央磁極1と外周磁
極2との間の磁気回路により形成されるトンネル状の磁
力線、14はトンネル状の磁力線11により閉じ込めら
れた環状のプラズマ、15はプラズマ14中のスパッタ
用ガスイオンの衝突によりターゲット6が侵食された侵
食部である。
説明する。図1〜図22は本発明によるスパッタリング
方法およびその装置を説明する図である。図1において
、1はターゲット6の面と平行な面に対して磁化方向ま
たは配向が±60度以内の角度差を有する永久磁石から
なる中央磁極、2はターゲット6の面と平行な面に対し
て磁化方向または配向が±60度以内の角度差を有する
永久磁石からなる外周磁極、3は連結駆動軸4を介して
中間磁気要素7をターゲット6面または中央磁極1と外
周磁極2とに対して機械的に遠近調整を行う中間磁気要
素駆動装置、4は中間磁気要素駆動装置3を機械的に連
結する非磁性体からなる連結駆動軸、6は成膜物質から
なるターゲット、7はターゲット6面と平行な面に対し
て磁化方向または配向が±60度以内の角度差を有する
永久磁石からなるターゲット上面近傍の磁界分布調整用
の中間磁気要素、8は基板、11は中央磁極1と外周磁
極2との間の磁気回路により形成されるトンネル状の磁
力線、14はトンネル状の磁力線11により閉じ込めら
れた環状のプラズマ、15はプラズマ14中のスパッタ
用ガスイオンの衝突によりターゲット6が侵食された侵
食部である。
【0010】図11および図20に示した67はターゲ
ット6の上面近傍の磁界分布を調整するためにターゲッ
ト6の裏面の中央磁極1と外周磁極2との間に配置し電
磁石(ソレノイドコイル)で構成した第1の中間磁気要
素、60はターゲット6上面近傍の磁気分布の調整およ
びまたは磁界発生方向を切り換える電磁石励磁手段、6
1はカソード部外壁21を介して電磁石励磁手段60か
ら電磁石で構成された中間磁気要素67へ励磁電流を給
電するためのシール機能を有する電流導入端子、68は
電磁石の励磁電力を軽減する目的およびまたはターゲッ
ト6上面近傍の磁界分布の制御範囲にオフセットを与え
る目的で環状に配置された配向がターゲット6の面と平
行な面に対して0度の角度差を有する永久磁石で構成さ
れた第2の中間磁気要素、63は電磁石で構成された第
1の中間磁気要素67の励磁方向(磁界分布)である。
ット6の上面近傍の磁界分布を調整するためにターゲッ
ト6の裏面の中央磁極1と外周磁極2との間に配置し電
磁石(ソレノイドコイル)で構成した第1の中間磁気要
素、60はターゲット6上面近傍の磁気分布の調整およ
びまたは磁界発生方向を切り換える電磁石励磁手段、6
1はカソード部外壁21を介して電磁石励磁手段60か
ら電磁石で構成された中間磁気要素67へ励磁電流を給
電するためのシール機能を有する電流導入端子、68は
電磁石の励磁電力を軽減する目的およびまたはターゲッ
ト6上面近傍の磁界分布の制御範囲にオフセットを与え
る目的で環状に配置された配向がターゲット6の面と平
行な面に対して0度の角度差を有する永久磁石で構成さ
れた第2の中間磁気要素、63は電磁石で構成された第
1の中間磁気要素67の励磁方向(磁界分布)である。
【0011】20は真空容器、21はカソード部外壁、
22はターゲット6およびカソード部の内部を冷却する
水配管、23はカソード部を真空容器20に連結する真
空シール機能および電気絶縁機能を有する絶縁体、24
は必要に応じてプラズマポテンシャルを調整するために
設けられたアノードリング、25は真空容器20外の電
源からアノードリング24へ給電するための電流導入端
子、26は真空容器20に対してアノードリング24を
電気的に絶縁し固定するための絶縁体、27は基板8を
載置し冷却または加熱され所定の温度を維持し真空容器
20と電気的に絶縁された基板載置手段、28は基板用
アースシールド、29は基板載置手段27と基板用アー
スシールド28とを連結する真空シール機能および電気
絶縁機能を有する絶縁体、30はスパッタ用のガスを導
入する質量流量制御弁、31は真空容器20の内部を排
気する排気装置、40はターゲット6およびカソード部
にスパッタリング用のプラズマを生成するための高電圧
を給電するスパッタ用高圧電源、41は必要に応じてア
ノードリング24に給電する電源である。
22はターゲット6およびカソード部の内部を冷却する
水配管、23はカソード部を真空容器20に連結する真
空シール機能および電気絶縁機能を有する絶縁体、24
は必要に応じてプラズマポテンシャルを調整するために
設けられたアノードリング、25は真空容器20外の電
源からアノードリング24へ給電するための電流導入端
子、26は真空容器20に対してアノードリング24を
電気的に絶縁し固定するための絶縁体、27は基板8を
載置し冷却または加熱され所定の温度を維持し真空容器
20と電気的に絶縁された基板載置手段、28は基板用
アースシールド、29は基板載置手段27と基板用アー
スシールド28とを連結する真空シール機能および電気
絶縁機能を有する絶縁体、30はスパッタ用のガスを導
入する質量流量制御弁、31は真空容器20の内部を排
気する排気装置、40はターゲット6およびカソード部
にスパッタリング用のプラズマを生成するための高電圧
を給電するスパッタ用高圧電源、41は必要に応じてア
ノードリング24に給電する電源である。
【0012】また、図18に示した70は成膜プロセス
用の真空容器20と前後プロセス用の真空容器を必要に
応じて連結または遮断するゲートバルブ、71は基板8
を載置し通過成膜または両面同時成膜時に必要に応じて
基板8をターゲット6に対して相対移動およびまたは自
公転運動させる基板搬送手段、80は左右一対およびま
たは通過成膜の各段に設けられた複数の成膜自動制御装
置81の統括制御を行う統括制御装置、81は予め設定
されたターゲット寿命時間およびターゲット侵食形状お
よびまたは成膜スピードおよびまたは膜圧分布などに対
してターゲット上面近傍の磁界分布を自動調整するため
に中間磁気要素駆動装置3または電磁石励磁手段60へ
制御信号を送出するとともにスパッタ用高圧電源40の
出力電流または出力電力を自動調整するための信号を送
出する成膜自動制御装置である。なお、スパッタ用高圧
電源40はターゲット6の材質により、直流電源または
高周波電源と高周波整合装置とを用いる。
用の真空容器20と前後プロセス用の真空容器を必要に
応じて連結または遮断するゲートバルブ、71は基板8
を載置し通過成膜または両面同時成膜時に必要に応じて
基板8をターゲット6に対して相対移動およびまたは自
公転運動させる基板搬送手段、80は左右一対およびま
たは通過成膜の各段に設けられた複数の成膜自動制御装
置81の統括制御を行う統括制御装置、81は予め設定
されたターゲット寿命時間およびターゲット侵食形状お
よびまたは成膜スピードおよびまたは膜圧分布などに対
してターゲット上面近傍の磁界分布を自動調整するため
に中間磁気要素駆動装置3または電磁石励磁手段60へ
制御信号を送出するとともにスパッタ用高圧電源40の
出力電流または出力電力を自動調整するための信号を送
出する成膜自動制御装置である。なお、スパッタ用高圧
電源40はターゲット6の材質により、直流電源または
高周波電源と高周波整合装置とを用いる。
【0013】以上の主要構成要素からなる図1に示す本
発明の第1の実施例の装置全体は以下のように動作する
。先ず、基板8を基板載置手段27に載置した後、排気
装置31により、真空容器20の内部を所定のバックグ
ラウンド(高真空)まで排気すると同時に基板載置手段
27を温度制御して基板8を所定の温度に保つ。その後
、スパッタ用のアルゴンガス(これに限定するものでは
ない)を質量流量制御弁30より導入し、所定のガス圧
力に調整する。ターゲット6に電気的に接続されたカソ
ード部外壁21へスパッタ用高圧電源40から電力を供
給すると、磁力線11に閉じ込められたスパッタリング
用の高密度プラズマ14が発生する。この磁力線11は
、中央磁極1および外周磁極2がターゲット6の面と平
行な面に対して磁化方向または配向が±60度以内の角
度差を有する永久磁石で構成したものを環状に配置し、
また、ターゲット上面近傍の磁界分布調整手段である中
間磁気要素7の位置が移動範囲の略中央なので、ターゲ
ット直上面に発生される漏洩磁界の磁束密度分布の中心
から外周に至る範囲において、ターゲット6の面に対し
て水平方向の磁束密度成分が双峰特性を示し、かつ中心
と外周との間で垂直方向の磁束密度成分の傾きが略零と
なる。このため、スパッタリングに寄与するターゲット
6の直上近傍の高密度プラズマ14の発生形態およびま
たは領域が広い状態となる。このプラズマ14中のアル
ゴンガスイオンは陰極降下(カソードフォール)により
加速され、ターゲット6の広い範囲に衝突し、ターゲッ
ト原子を叩き出す。叩き出されたターゲット原子が基板
8の表面に堆積し、スパッタリング成膜機能を果たすと
同時にターゲット6の広い範囲において侵食が進行する
。ところが、ターゲット6の板厚が厚い場合は、ターゲ
ット6の消耗状態が進行するにつれてターゲット6上の
高密度プラズマ14を封じ込めている磁力線11の分布
に変化を来し、ターゲット6の侵食幅に影響を及ぼす。 一方、ターゲット6の上面近傍の磁界分布調整手段であ
る中間磁気要素7の位置を連結駆動軸4を介して中間磁
気要素駆動手段3によりターゲット6面に対して遠近調
整すると、ターゲット6直上面に発生される漏洩磁界の
磁束密度分布の中心から外周に至る範囲において、ター
ゲット6面に対して水平方向の磁束密度成分が単峰特性
が強い双峰特性まで調整可能でかつ中心と外周との間で
垂直方向の磁束密度成分の傾きが零を略中心に正から負
または負から正に制御できるので、上記問題を回避する
ためにターゲット6の消耗状態が進行するにつれて中間
磁気要素7の位置を中間磁気要素駆動装置3によりター
ゲット6面に対して遠近調整することにより、ターゲッ
ト6の消耗状態が進行した場合でも侵食幅が同一となる
ように調整可能でスパッタリング現象により叩き出され
たターゲット粒子の飛散方向の変化が極めて少なく、基
板8に堆積する膜厚分布を一定に保ことが可能となる。 また、矩形カソードで通過成膜するような装置では、タ
ーゲット粒子の飛散方向およびまたは飛散源位置の変化
が基板に堆積する膜厚分布に殆ど影響しないので、ター
ゲットの体積利用率を主体に追求できる。この場合、タ
ーゲット消耗に連動し、ターゲット上面近傍の磁界分布
調整手段である中間磁気要素7の位置を中間磁気要素駆
動装置3によりターゲット6面に対して遠近調整するこ
とでターゲット6の深さ方向の侵食形状を任意に制御で
きる。
発明の第1の実施例の装置全体は以下のように動作する
。先ず、基板8を基板載置手段27に載置した後、排気
装置31により、真空容器20の内部を所定のバックグ
ラウンド(高真空)まで排気すると同時に基板載置手段
27を温度制御して基板8を所定の温度に保つ。その後
、スパッタ用のアルゴンガス(これに限定するものでは
ない)を質量流量制御弁30より導入し、所定のガス圧
力に調整する。ターゲット6に電気的に接続されたカソ
ード部外壁21へスパッタ用高圧電源40から電力を供
給すると、磁力線11に閉じ込められたスパッタリング
用の高密度プラズマ14が発生する。この磁力線11は
、中央磁極1および外周磁極2がターゲット6の面と平
行な面に対して磁化方向または配向が±60度以内の角
度差を有する永久磁石で構成したものを環状に配置し、
また、ターゲット上面近傍の磁界分布調整手段である中
間磁気要素7の位置が移動範囲の略中央なので、ターゲ
ット直上面に発生される漏洩磁界の磁束密度分布の中心
から外周に至る範囲において、ターゲット6の面に対し
て水平方向の磁束密度成分が双峰特性を示し、かつ中心
と外周との間で垂直方向の磁束密度成分の傾きが略零と
なる。このため、スパッタリングに寄与するターゲット
6の直上近傍の高密度プラズマ14の発生形態およびま
たは領域が広い状態となる。このプラズマ14中のアル
ゴンガスイオンは陰極降下(カソードフォール)により
加速され、ターゲット6の広い範囲に衝突し、ターゲッ
ト原子を叩き出す。叩き出されたターゲット原子が基板
8の表面に堆積し、スパッタリング成膜機能を果たすと
同時にターゲット6の広い範囲において侵食が進行する
。ところが、ターゲット6の板厚が厚い場合は、ターゲ
ット6の消耗状態が進行するにつれてターゲット6上の
高密度プラズマ14を封じ込めている磁力線11の分布
に変化を来し、ターゲット6の侵食幅に影響を及ぼす。 一方、ターゲット6の上面近傍の磁界分布調整手段であ
る中間磁気要素7の位置を連結駆動軸4を介して中間磁
気要素駆動手段3によりターゲット6面に対して遠近調
整すると、ターゲット6直上面に発生される漏洩磁界の
磁束密度分布の中心から外周に至る範囲において、ター
ゲット6面に対して水平方向の磁束密度成分が単峰特性
が強い双峰特性まで調整可能でかつ中心と外周との間で
垂直方向の磁束密度成分の傾きが零を略中心に正から負
または負から正に制御できるので、上記問題を回避する
ためにターゲット6の消耗状態が進行するにつれて中間
磁気要素7の位置を中間磁気要素駆動装置3によりター
ゲット6面に対して遠近調整することにより、ターゲッ
ト6の消耗状態が進行した場合でも侵食幅が同一となる
ように調整可能でスパッタリング現象により叩き出され
たターゲット粒子の飛散方向の変化が極めて少なく、基
板8に堆積する膜厚分布を一定に保ことが可能となる。 また、矩形カソードで通過成膜するような装置では、タ
ーゲット粒子の飛散方向およびまたは飛散源位置の変化
が基板に堆積する膜厚分布に殆ど影響しないので、ター
ゲットの体積利用率を主体に追求できる。この場合、タ
ーゲット消耗に連動し、ターゲット上面近傍の磁界分布
調整手段である中間磁気要素7の位置を中間磁気要素駆
動装置3によりターゲット6面に対して遠近調整するこ
とでターゲット6の深さ方向の侵食形状を任意に制御で
きる。
【0014】なお、図1には、基板搬送手段,基板昇降
手段,基板回転手段,リアクティブスパッタ用ガス導入
手段,シャッタ,ビューポートおよび真空計等は図示し
ていないが、必要に応じて使用が可能であり、図1に示
す構成に限定されるものではない。
手段,基板回転手段,リアクティブスパッタ用ガス導入
手段,シャッタ,ビューポートおよび真空計等は図示し
ていないが、必要に応じて使用が可能であり、図1に示
す構成に限定されるものではない。
【0015】図2〜図4は、本発明の第1の実施例で図
1に示す構成についてスパッタリングに寄与するターゲ
ット直上近傍の高密度プラズマの発生形態およびまたは
領域が広く、また、領域の幅が調整可能であることを直
径8インチの円形ターゲット用を例にとり、そのカソー
ド部の断面構造の概略とそれにより生成される高密度プ
ラズマおよびターゲットの侵食状態とを示し、主にカソ
ード部の磁気要素に関し、従来との違いを含めて以下に
説明する。図2〜図4に示す中央磁極1および外周磁極
2は、ターゲット6の面と平行な面に対して磁化方向が
+45度および−45度(±60度以内)の角度差を有
する永久磁石を環状に配置し、また、ターゲット6の上
面近傍の磁界分布調整手段である中間磁気要素7は、タ
ーゲット6の面と平行な面に対して配向が0度(±60
度以内)の角度差を有する永久磁石を環状に配置してい
るが、図2は、ターゲット6の上面近傍の磁界分布調整
手段である中間磁気要素7の位置が移動範囲の略中央な
ので、これらの磁気要素がターゲット6上に形成する漏
洩磁界の磁力線11は、図24に示す従来に比べ、偏平
したトンネル形状になり、ターゲット6に対して略垂直
な電界と略平行な磁力線11とが直交する領域が広く、
直交電磁界によるマグネトロン放電の範囲が広くなる。 したがってターゲット6の上面に発生するプラズマ14
は、幅の広い環状となり、ターゲット6の利用効率が向
上する。
1に示す構成についてスパッタリングに寄与するターゲ
ット直上近傍の高密度プラズマの発生形態およびまたは
領域が広く、また、領域の幅が調整可能であることを直
径8インチの円形ターゲット用を例にとり、そのカソー
ド部の断面構造の概略とそれにより生成される高密度プ
ラズマおよびターゲットの侵食状態とを示し、主にカソ
ード部の磁気要素に関し、従来との違いを含めて以下に
説明する。図2〜図4に示す中央磁極1および外周磁極
2は、ターゲット6の面と平行な面に対して磁化方向が
+45度および−45度(±60度以内)の角度差を有
する永久磁石を環状に配置し、また、ターゲット6の上
面近傍の磁界分布調整手段である中間磁気要素7は、タ
ーゲット6の面と平行な面に対して配向が0度(±60
度以内)の角度差を有する永久磁石を環状に配置してい
るが、図2は、ターゲット6の上面近傍の磁界分布調整
手段である中間磁気要素7の位置が移動範囲の略中央な
ので、これらの磁気要素がターゲット6上に形成する漏
洩磁界の磁力線11は、図24に示す従来に比べ、偏平
したトンネル形状になり、ターゲット6に対して略垂直
な電界と略平行な磁力線11とが直交する領域が広く、
直交電磁界によるマグネトロン放電の範囲が広くなる。 したがってターゲット6の上面に発生するプラズマ14
は、幅の広い環状となり、ターゲット6の利用効率が向
上する。
【0016】図3はターゲット6の上面近傍の磁界分布
調整手段である中間磁気要素7が移動範囲で最もターゲ
ット6と離れた位置に調整しているため、これらの磁気
要素がターゲット6上に形成する漏洩磁界の磁力線11
は、図2に示すものに比べ、さらに偏平したトンネル形
状になり、ターゲット6に対して略垂直な電界と略平行
な磁力線11とが直交する領域がターゲット6の内周側
と外周側とに若干分離した状態となり、直交電磁界によ
るマグネトロン放電による高密度プラズマ14がターゲ
ット6の内周側と外周側とに若干分離し、その中間が低
密度プラズマで連結された状態となる。したがってター
ゲット6の侵食形状は図示の如く略W字形状となり、タ
ーゲット6の侵食の幅は最も広いが、深さ方向の侵食深
さのバラツキが大のため、寿命に至るまでこの状態で使
用すると、結果的に体積利用率は、図2に示すものより
劣る。
調整手段である中間磁気要素7が移動範囲で最もターゲ
ット6と離れた位置に調整しているため、これらの磁気
要素がターゲット6上に形成する漏洩磁界の磁力線11
は、図2に示すものに比べ、さらに偏平したトンネル形
状になり、ターゲット6に対して略垂直な電界と略平行
な磁力線11とが直交する領域がターゲット6の内周側
と外周側とに若干分離した状態となり、直交電磁界によ
るマグネトロン放電による高密度プラズマ14がターゲ
ット6の内周側と外周側とに若干分離し、その中間が低
密度プラズマで連結された状態となる。したがってター
ゲット6の侵食形状は図示の如く略W字形状となり、タ
ーゲット6の侵食の幅は最も広いが、深さ方向の侵食深
さのバラツキが大のため、寿命に至るまでこの状態で使
用すると、結果的に体積利用率は、図2に示すものより
劣る。
【0017】図4は、ターゲット6の上面近傍の磁界分
布調整手段である中間磁気要素7が移動範囲で最もター
ゲット6と接近した位置に調整しているため、これらの
磁気要素がターゲット6上に形成する漏洩磁界の磁力線
11は、図24に示す従来のものとほぼ同様なトンネル
形状になり、ターゲット6に対して略垂直な電界と略平
行な磁力線11とが直交する領域がターゲット6の内側
と外側との中間に集中するため、直交電磁界によるマグ
ネトロン放電による高密度プラズマ14がターゲット6
の内側と外側との中間に環状に生成される。したがって
ターゲット6の侵食形状は図示の如く略V字形状となり
、ターゲット6の侵食の幅は最も狭く、寿命に至るまで
この状態で使用すると,結果的に図2および図3に示す
ものより劣る。
布調整手段である中間磁気要素7が移動範囲で最もター
ゲット6と接近した位置に調整しているため、これらの
磁気要素がターゲット6上に形成する漏洩磁界の磁力線
11は、図24に示す従来のものとほぼ同様なトンネル
形状になり、ターゲット6に対して略垂直な電界と略平
行な磁力線11とが直交する領域がターゲット6の内側
と外側との中間に集中するため、直交電磁界によるマグ
ネトロン放電による高密度プラズマ14がターゲット6
の内側と外側との中間に環状に生成される。したがって
ターゲット6の侵食形状は図示の如く略V字形状となり
、ターゲット6の侵食の幅は最も狭く、寿命に至るまで
この状態で使用すると,結果的に図2および図3に示す
ものより劣る。
【0018】図2〜図4に示すターゲット侵食形状制御
機能を有する本発明を適用すれば、ターゲット6の板厚
が厚い場合でも、ターゲット6の消耗状態が進行するに
つれて変化するターゲット6上の高密度プラズマ14を
閉じ込めている磁力線11の分布を中間磁気要素7の位
置を中間磁気要素駆動装置3によりターゲット6面に対
して遠近調整することで常に一定に保ち、ターゲット寿
命に至るまで侵食幅が同一となるように制御できる。ま
た、矩形カソードで通過成膜するような装置では、ター
ゲット粒子の飛散方向およびまたは飛散源位置の変化が
基板に堆積する膜厚分布に殆ど影響しないので、ターゲ
ット6の体積利用率を主体に追求できる。この場合、タ
ーゲット消費に連動し、ターゲット6の上面近傍の磁界
分布調整手段である中間磁気要素7の位置を中間磁気要
素駆動装置3によりターゲット6面に対して遠近調整す
ることで、ターゲット6の深さ方向の侵食形状を任意に
制御できる。
機能を有する本発明を適用すれば、ターゲット6の板厚
が厚い場合でも、ターゲット6の消耗状態が進行するに
つれて変化するターゲット6上の高密度プラズマ14を
閉じ込めている磁力線11の分布を中間磁気要素7の位
置を中間磁気要素駆動装置3によりターゲット6面に対
して遠近調整することで常に一定に保ち、ターゲット寿
命に至るまで侵食幅が同一となるように制御できる。ま
た、矩形カソードで通過成膜するような装置では、ター
ゲット粒子の飛散方向およびまたは飛散源位置の変化が
基板に堆積する膜厚分布に殆ど影響しないので、ターゲ
ット6の体積利用率を主体に追求できる。この場合、タ
ーゲット消費に連動し、ターゲット6の上面近傍の磁界
分布調整手段である中間磁気要素7の位置を中間磁気要
素駆動装置3によりターゲット6面に対して遠近調整す
ることで、ターゲット6の深さ方向の侵食形状を任意に
制御できる。
【0019】図5〜図7は、本発明の第1の実施例で非
磁性のターゲットを使用した場合、それぞれ図2〜図4
に示した断面構造を有するカソード部の内部に配置され
た磁気装置の発生する漏洩磁界のターゲット6の直上面
の中心位置から外周に至る範囲のターゲット6面に対し
て水平方向の磁束密度成分および垂直方向の磁束密度成
分を表す図でターゲット6直上の漏洩磁界の磁束密度分
布を示し、中間磁気要素7の位置を中間磁気要素駆動装
置3によりターゲット6面に対して遠近調整することで
ターゲット6の上面近傍の磁界分布が調整できることを
以下に説明する。
磁性のターゲットを使用した場合、それぞれ図2〜図4
に示した断面構造を有するカソード部の内部に配置され
た磁気装置の発生する漏洩磁界のターゲット6の直上面
の中心位置から外周に至る範囲のターゲット6面に対し
て水平方向の磁束密度成分および垂直方向の磁束密度成
分を表す図でターゲット6直上の漏洩磁界の磁束密度分
布を示し、中間磁気要素7の位置を中間磁気要素駆動装
置3によりターゲット6面に対して遠近調整することで
ターゲット6の上面近傍の磁界分布が調整できることを
以下に説明する。
【0020】図5〜図7は、それぞれ図2〜図4に対応
しており、図2〜図4示しているが、中央磁極1である
永久磁石のN極から発せられる磁力線は、ターゲット6
上を広範囲に漏洩する磁力線11と中央磁極1の永久磁
石のS極に向かう小ループを描く磁力線とに大別され、
磁力線11は外周磁極2である永久磁石のS極に達する
。また、外周磁極2である永久磁石のN極からそれ自身
のS極に向かう小ループを描く磁力線がターゲット6の
外周近傍で発生する。一方、永久磁石からなるターゲッ
ト6の上面近傍の磁界分布調整用の中間磁気要素7のN
極からそれ自身のS極に向かうループを描く磁力線が発
生し、特にターゲット6側の磁力線がターゲット6の上
面近傍の漏洩磁界分布に寄与し、中間磁気要素駆動装置
3によりターゲット6面に対して遠近調整することで前
述した寄与の割合が変化する。したがって図5〜図7に
示すターゲット6の直上面に発生される漏洩磁界の磁束
密度分布の中心から外周に至る範囲において、ターゲッ
ト6面に対して水平方向の磁束密度成分が単峰特性から
強い双峰特性まで調整可能でかつ中心と外周との間で垂
直方向の磁束密度成分の傾きが零を略中心に正から負ま
たは負から正に制御できる。
しており、図2〜図4示しているが、中央磁極1である
永久磁石のN極から発せられる磁力線は、ターゲット6
上を広範囲に漏洩する磁力線11と中央磁極1の永久磁
石のS極に向かう小ループを描く磁力線とに大別され、
磁力線11は外周磁極2である永久磁石のS極に達する
。また、外周磁極2である永久磁石のN極からそれ自身
のS極に向かう小ループを描く磁力線がターゲット6の
外周近傍で発生する。一方、永久磁石からなるターゲッ
ト6の上面近傍の磁界分布調整用の中間磁気要素7のN
極からそれ自身のS極に向かうループを描く磁力線が発
生し、特にターゲット6側の磁力線がターゲット6の上
面近傍の漏洩磁界分布に寄与し、中間磁気要素駆動装置
3によりターゲット6面に対して遠近調整することで前
述した寄与の割合が変化する。したがって図5〜図7に
示すターゲット6の直上面に発生される漏洩磁界の磁束
密度分布の中心から外周に至る範囲において、ターゲッ
ト6面に対して水平方向の磁束密度成分が単峰特性から
強い双峰特性まで調整可能でかつ中心と外周との間で垂
直方向の磁束密度成分の傾きが零を略中心に正から負ま
たは負から正に制御できる。
【0021】なお、ターゲット6の体積利用率の最も良
好なものは、図5に示す漏洩磁界分布なので、本発明を
適用し、ターゲット6の体積利用率を向上させる目的に
対しては、ターゲット6の材質(特に磁性体の場合はそ
の透磁率)およびまたはターゲットの消耗状態などによ
り変動する漏洩磁界分布や放電電力およびまたはスパッ
タガス圧などにより変動するプラズマ発生領域および形
態を中間磁気要素7の位置を調整し、補正する必要があ
る。
好なものは、図5に示す漏洩磁界分布なので、本発明を
適用し、ターゲット6の体積利用率を向上させる目的に
対しては、ターゲット6の材質(特に磁性体の場合はそ
の透磁率)およびまたはターゲットの消耗状態などによ
り変動する漏洩磁界分布や放電電力およびまたはスパッ
タガス圧などにより変動するプラズマ発生領域および形
態を中間磁気要素7の位置を調整し、補正する必要があ
る。
【0022】図8〜図10は、本発明の第1の実施例で
それぞれ図5〜図7に示したターゲット6の上近傍の漏
洩磁界分布になるように中間磁気要素駆動装置3を調整
し、ターゲット6として直径8インチの無酸素銅を用い
て寿命に至るまで使用した場合のターゲット中心から外
周までの範囲おける侵食状態を示している。図8〜図1
0より明らかなようにターゲット6の侵食部15は、図
示の如く略W字形状から従来の略V字形状まで制御でき
る。
それぞれ図5〜図7に示したターゲット6の上近傍の漏
洩磁界分布になるように中間磁気要素駆動装置3を調整
し、ターゲット6として直径8インチの無酸素銅を用い
て寿命に至るまで使用した場合のターゲット中心から外
周までの範囲おける侵食状態を示している。図8〜図1
0より明らかなようにターゲット6の侵食部15は、図
示の如く略W字形状から従来の略V字形状まで制御でき
る。
【0023】図11は本発明の第2の実施例で第1の実
施例と同様にスパッタリングに寄与するターゲット直上
近傍の高密度プラズマの発生形態およびまたは領域が広
く、また、領域の幅が調整可能であることを直径8イン
チの円形ターゲット用を例にとり、そのカソード部の断
面構造の概略とそれにより生成される高密度プラズマを
示し、主にカソード部の中間磁気要素である電磁石の励
磁を調整した場合の磁界分布を関し、図12〜図14に
対応させ、また、この場合のターゲット侵食形態に関し
、図15〜図17に対応させながら以下に説明する。 図11の中央磁極1および外周磁極2は、ターゲット6
の面と平行な面に対して磁化方向がそれぞれ+45度お
よび−45度(±60度以内)の角度差を有する永久磁
石を環状に配置し、また、ターゲット6の上面近傍の磁
界分布調整手段としてソレノイドコイルなどの電磁石で
構成した第1の中間磁気要素67をターゲット6面に平
行にまた、ターゲット6の裏面の中央磁極1と外周磁極
2との間に配置し、かつターゲット6の上面近傍の磁界
分布を調整するためにこの磁気要素67である電磁石の
励磁電流を供給および調整機能を有する電磁石励磁手段
60を具備し、また、電磁石の励磁電力を軽減する目的
およびまたはターゲット6の上面近傍の磁界分布の制御
範囲にオフセットを与える目的で環状に配置された配向
がターゲット6面と平行な面に対して0度の角度差を有
する永久磁石で構成された第2の中間磁気要素68を具
備している。
施例と同様にスパッタリングに寄与するターゲット直上
近傍の高密度プラズマの発生形態およびまたは領域が広
く、また、領域の幅が調整可能であることを直径8イン
チの円形ターゲット用を例にとり、そのカソード部の断
面構造の概略とそれにより生成される高密度プラズマを
示し、主にカソード部の中間磁気要素である電磁石の励
磁を調整した場合の磁界分布を関し、図12〜図14に
対応させ、また、この場合のターゲット侵食形態に関し
、図15〜図17に対応させながら以下に説明する。 図11の中央磁極1および外周磁極2は、ターゲット6
の面と平行な面に対して磁化方向がそれぞれ+45度お
よび−45度(±60度以内)の角度差を有する永久磁
石を環状に配置し、また、ターゲット6の上面近傍の磁
界分布調整手段としてソレノイドコイルなどの電磁石で
構成した第1の中間磁気要素67をターゲット6面に平
行にまた、ターゲット6の裏面の中央磁極1と外周磁極
2との間に配置し、かつターゲット6の上面近傍の磁界
分布を調整するためにこの磁気要素67である電磁石の
励磁電流を供給および調整機能を有する電磁石励磁手段
60を具備し、また、電磁石の励磁電力を軽減する目的
およびまたはターゲット6の上面近傍の磁界分布の制御
範囲にオフセットを与える目的で環状に配置された配向
がターゲット6面と平行な面に対して0度の角度差を有
する永久磁石で構成された第2の中間磁気要素68を具
備している。
【0024】電磁石励磁手段60の出力電流が0[A]
の時のターゲット6の上面近傍の漏洩磁界分布(ターゲ
ット6直上面の中心から外周に至る範囲のターゲット6
の面に対して水平方向の磁束密度分布と垂直方向の磁束
密度成分)は、図12に示すようになり、前述した第1
の実施例で示した図5とほぼ同様な分布となり、このと
きのターゲット6の侵食形態(8インチの無酸素銅を寿
命に至るまで同一の磁界分布で使用した場合)は、図1
5に示したようになり、前述した第1の実施例で示した
図8とほぼ同様な侵食形状となる。
の時のターゲット6の上面近傍の漏洩磁界分布(ターゲ
ット6直上面の中心から外周に至る範囲のターゲット6
の面に対して水平方向の磁束密度分布と垂直方向の磁束
密度成分)は、図12に示すようになり、前述した第1
の実施例で示した図5とほぼ同様な分布となり、このと
きのターゲット6の侵食形態(8インチの無酸素銅を寿
命に至るまで同一の磁界分布で使用した場合)は、図1
5に示したようになり、前述した第1の実施例で示した
図8とほぼ同様な侵食形状となる。
【0025】電磁石励磁手段60の出力電流が−8.5
[A](コイル断面に対する電流密度=−6[A/mm
2 ])のときの励磁方向63は図示した方向と逆で第
2の中間磁気要素68の形成する磁界を相殺する効果を
果すため、ターゲット6の上面近傍の漏洩磁界分布は、
図13に示したようになり、前述した第1の実施例で示
した図6とほぼ同様な分布となり、この時のターゲット
6の侵食形態は、図16に示したようになり、前述した
第1の実施例で示した図9とほぼ同様な略W字状の侵食
形状となる。
[A](コイル断面に対する電流密度=−6[A/mm
2 ])のときの励磁方向63は図示した方向と逆で第
2の中間磁気要素68の形成する磁界を相殺する効果を
果すため、ターゲット6の上面近傍の漏洩磁界分布は、
図13に示したようになり、前述した第1の実施例で示
した図6とほぼ同様な分布となり、この時のターゲット
6の侵食形態は、図16に示したようになり、前述した
第1の実施例で示した図9とほぼ同様な略W字状の侵食
形状となる。
【0026】電磁石励磁手段60の出力電流が+8.5
[A](コイル断面に対する電流密度=+6[A/mm
2 ])のときの励磁方向63は図示した方向と同一で
第2の中間磁気要素68の形成する磁界を補充する効果
を果すため、ターゲット6の上面近傍の漏洩磁界分布は
、図14に示したようになり、前述した第1の実施例で
示した図7とほぼ同様な分布となり、この時のターゲッ
ト6の侵食形態は、図17に示したようになり、前述し
た第1の実施例で示した図10とほぼ同様な略V字状の
侵食形状となる。
[A](コイル断面に対する電流密度=+6[A/mm
2 ])のときの励磁方向63は図示した方向と同一で
第2の中間磁気要素68の形成する磁界を補充する効果
を果すため、ターゲット6の上面近傍の漏洩磁界分布は
、図14に示したようになり、前述した第1の実施例で
示した図7とほぼ同様な分布となり、この時のターゲッ
ト6の侵食形態は、図17に示したようになり、前述し
た第1の実施例で示した図10とほぼ同様な略V字状の
侵食形状となる。
【0027】なお、電磁石の励磁電力を軽減する目的お
よびまたはターゲット6上面近傍の磁界分布の制御範囲
にオフセットを与える目的で環状に配置された配向がタ
ーゲット6の面と平行な面に対して0度の角度差を有す
る永久磁石で構成された第2の中間磁気要素68は必要
に応じて使用すれば良いものであり、また、ターゲット
6の上面近傍の磁気分布の制御範囲のオフセットは、第
2の中間磁気要素68を構成している永久磁石の残留磁
束密度・断面積・配向または磁化方向・ターゲットから
の距離などを変えることで調整可能である。
よびまたはターゲット6上面近傍の磁界分布の制御範囲
にオフセットを与える目的で環状に配置された配向がタ
ーゲット6の面と平行な面に対して0度の角度差を有す
る永久磁石で構成された第2の中間磁気要素68は必要
に応じて使用すれば良いものであり、また、ターゲット
6の上面近傍の磁気分布の制御範囲のオフセットは、第
2の中間磁気要素68を構成している永久磁石の残留磁
束密度・断面積・配向または磁化方向・ターゲットから
の距離などを変えることで調整可能である。
【0028】図18は本発明の第3の実施例を示す図で
あり、矩形カソードで基板8が成膜物質からなるターゲ
ット6に対して通過しながら薄膜形成を行う通過成膜で
かつ基板8の表裏に対向して設けたターゲット6から飛
来する粒子を基板8の表裏同時に堆積して成膜を行う両
面同時成膜に本発明のスパッタリング技術を適用した実
施例を説明する成膜プロセス部分を示した断面概略図で
あり、以下これについて詳細に説明する。
あり、矩形カソードで基板8が成膜物質からなるターゲ
ット6に対して通過しながら薄膜形成を行う通過成膜で
かつ基板8の表裏に対向して設けたターゲット6から飛
来する粒子を基板8の表裏同時に堆積して成膜を行う両
面同時成膜に本発明のスパッタリング技術を適用した実
施例を説明する成膜プロセス部分を示した断面概略図で
あり、以下これについて詳細に説明する。
【0029】基板8は、図示していないが、大気圧下で
基板を装填する仕込プロセス,真空引きプロセス,真空
下で赤外線またはハロゲンランプなどを用いて熱やガス
冷却を行う基板脱ガスおよび基板温度制御プロセスなど
を経てゲートバルブ70を駆動し、基板搬送手段71に
より成膜プロセス用の真空容器20へ搬送される。成膜
プロセス用の真空容器20内は常に所望するスパッタガ
ス圧になるように質量流量制御弁30およびまたは図示
してないが、排気装置31と真空容器20を連結する管
に設けられたバルアブルコンダクタンスバルブにより自
動制御される。スパッタリング用の高密度プラズマ14
中のガスイオンにより、成膜物質であるターゲット粒子
が対向する一対のターゲット6から飛散し、基板8が搬
送手段71により接近すると、ターゲット粒子が基板8
に堆積し、スパッタリング成膜機能を果す。スパッタリ
ング成膜を終えた基板8は、後面のゲートバルブ70を
経て後面プロセスへ搬送される。逐次搬入・搬出を繰り
返される基板8に対して成膜を持続するにつれ、ターゲ
ット6の消耗が進行し、ターゲット6の上の磁界分布が
少しずつ変化する。初期に図5のような磁界分布になる
ように中間磁気要素7の位置を調整して置いてもターゲ
ット6が消耗するのみで図6のような磁界分布に近づく
ので、侵食幅を最初から最後まで同一に保つ場合は、消
耗に連動して中間磁気要素駆動装置3により、中間磁気
要素7の位置をターゲット6に対して接近する方向へ移
動させ、図5のような磁界分布に戻す必要がある。本実
施例では、このような調整を自動的に行う目的で予め設
定されたターゲット寿命時間およびまたはターゲット侵
食形状およびまたは成膜スピードおよびまたは膜厚分布
などに対してターゲット上面近傍の磁界分布を自動調整
するために中間磁気要素駆動装置3(または電磁石励磁
手段60)へ制御信号を送出するとともにスパッタ用高
圧電源40の出力電流または出力電力を自動調整するた
めの制御信号を送出する成膜自動制御装置81を各カソ
ードごとに具備し、また、ラインスピード,各カソード
間の成膜スピードの配分,ターゲット種別,基板種別,
膜厚,真空度,ガス導入量などの設定に対して左右一対
およびまたは通過成膜の格段に設けられた複数の成膜自
動制御装置81の統括制御を行う統括制御装置80を具
備している。
基板を装填する仕込プロセス,真空引きプロセス,真空
下で赤外線またはハロゲンランプなどを用いて熱やガス
冷却を行う基板脱ガスおよび基板温度制御プロセスなど
を経てゲートバルブ70を駆動し、基板搬送手段71に
より成膜プロセス用の真空容器20へ搬送される。成膜
プロセス用の真空容器20内は常に所望するスパッタガ
ス圧になるように質量流量制御弁30およびまたは図示
してないが、排気装置31と真空容器20を連結する管
に設けられたバルアブルコンダクタンスバルブにより自
動制御される。スパッタリング用の高密度プラズマ14
中のガスイオンにより、成膜物質であるターゲット粒子
が対向する一対のターゲット6から飛散し、基板8が搬
送手段71により接近すると、ターゲット粒子が基板8
に堆積し、スパッタリング成膜機能を果す。スパッタリ
ング成膜を終えた基板8は、後面のゲートバルブ70を
経て後面プロセスへ搬送される。逐次搬入・搬出を繰り
返される基板8に対して成膜を持続するにつれ、ターゲ
ット6の消耗が進行し、ターゲット6の上の磁界分布が
少しずつ変化する。初期に図5のような磁界分布になる
ように中間磁気要素7の位置を調整して置いてもターゲ
ット6が消耗するのみで図6のような磁界分布に近づく
ので、侵食幅を最初から最後まで同一に保つ場合は、消
耗に連動して中間磁気要素駆動装置3により、中間磁気
要素7の位置をターゲット6に対して接近する方向へ移
動させ、図5のような磁界分布に戻す必要がある。本実
施例では、このような調整を自動的に行う目的で予め設
定されたターゲット寿命時間およびまたはターゲット侵
食形状およびまたは成膜スピードおよびまたは膜厚分布
などに対してターゲット上面近傍の磁界分布を自動調整
するために中間磁気要素駆動装置3(または電磁石励磁
手段60)へ制御信号を送出するとともにスパッタ用高
圧電源40の出力電流または出力電力を自動調整するた
めの制御信号を送出する成膜自動制御装置81を各カソ
ードごとに具備し、また、ラインスピード,各カソード
間の成膜スピードの配分,ターゲット種別,基板種別,
膜厚,真空度,ガス導入量などの設定に対して左右一対
およびまたは通過成膜の格段に設けられた複数の成膜自
動制御装置81の統括制御を行う統括制御装置80を具
備している。
【0030】このようなインライン装置では、ターゲッ
ト利用率や成膜スピードが重要であり、本発明を適用す
れば、従来に比べてターゲット6の体積利用率で約2倍
,使用開始直後の成膜スピードで約1.5倍,寿命直前
の成膜スピードで約3倍以上(但し、成膜スピードはプ
ラズマ14とターゲット6との間の陰極降下部の面積当
たりの放電用の投入電力を同一とした場合)の性能を有
する。なお、両面同時成膜の場合、ターゲット6を載置
するカソード部を対向配置するが、厳密に平行である必
要はなく、基板8に堆積する薄膜の膜厚分布を補正する
目的で基板8の移動方向や自公転方向により、多少の角
度を有して配置して良い。また、通過成膜(両面同時成
膜を含む)技術において、多層コーテングや成膜スピー
ド向上などの目的で各層毎に対応するターゲット(成膜
スピード向上の場合は同一のターゲット)を載置した複
数のカソードを基板8の移動方向に対して配置するが、
本発明はこのような場合にも適用できる。
ト利用率や成膜スピードが重要であり、本発明を適用す
れば、従来に比べてターゲット6の体積利用率で約2倍
,使用開始直後の成膜スピードで約1.5倍,寿命直前
の成膜スピードで約3倍以上(但し、成膜スピードはプ
ラズマ14とターゲット6との間の陰極降下部の面積当
たりの放電用の投入電力を同一とした場合)の性能を有
する。なお、両面同時成膜の場合、ターゲット6を載置
するカソード部を対向配置するが、厳密に平行である必
要はなく、基板8に堆積する薄膜の膜厚分布を補正する
目的で基板8の移動方向や自公転方向により、多少の角
度を有して配置して良い。また、通過成膜(両面同時成
膜を含む)技術において、多層コーテングや成膜スピー
ド向上などの目的で各層毎に対応するターゲット(成膜
スピード向上の場合は同一のターゲット)を載置した複
数のカソードを基板8の移動方向に対して配置するが、
本発明はこのような場合にも適用できる。
【0031】本発明の第3の実施例では、ターゲット6
の中心に対して基板8の中心が相対的に移動するものに
ついて説明したが、移動しないもので良く、また、カソ
ード部の形状は矩形に限らず円形や楕円形でも適用可能
であり、ロールなどによる搬送手段で移送されるフィル
ム状の基板,カルーセルと称される回転するドラムに載
置された基板,ターゲット面の対して並行移送される搬
送手段に載置された単数または複数の基板などへ片面ま
たは両面同時成膜する場合にも適用が可能であり、図1
8に限定されるものではない。
の中心に対して基板8の中心が相対的に移動するものに
ついて説明したが、移動しないもので良く、また、カソ
ード部の形状は矩形に限らず円形や楕円形でも適用可能
であり、ロールなどによる搬送手段で移送されるフィル
ム状の基板,カルーセルと称される回転するドラムに載
置された基板,ターゲット面の対して並行移送される搬
送手段に載置された単数または複数の基板などへ片面ま
たは両面同時成膜する場合にも適用が可能であり、図1
8に限定されるものではない。
【0032】図19は、本発明の第3の実施例であり、
図18に示した断面構造を有する矩形カソードにてター
ゲット6として8×69インチの無酸素銅を用い、寿命
に至るまでターゲット6の上面近傍の磁界分布調整手段
である中間磁気要素7の位置を中間磁気要素駆動装置3
で種々調整し、使用した場合の短辺方向のターゲット中
心から外周までの範囲における侵食状態を示しており、
初期のターゲット厚さに対して侵食深さが初期の1/3
に達するまでは中間磁気要素7の位置が移動範囲の略中
間(図5に示す磁界分布の状態)で使用し、その後、2
/3に達するまでは、中間磁気要素7の位置を最もター
ゲット6に接近させて(図7に示す磁界分布の状態)使
用し、最後の寿命に至るまでは中間磁気要素7の位置を
最もターゲット6から離して(図6に示す磁界分布の状
態)使用した場合の例である。このように矩形カソード
で通過成膜するような装置では、ターゲット粒子の飛散
方向およびまたは飛散源位置の変化が基板に堆積する膜
厚分布に殆ど影響しないので、ターゲット6の体積利用
率を主体に追求できる。この場合、ターゲット消費に連
動し、ターゲット6の上面近傍の磁界分布調整手段であ
る中間磁気要素7の位置を中間磁気要素駆動装置3によ
りターゲット6面に対して遠近調整することでターゲッ
ト6の深さ方向の侵食形状を任意に制御できる。
図18に示した断面構造を有する矩形カソードにてター
ゲット6として8×69インチの無酸素銅を用い、寿命
に至るまでターゲット6の上面近傍の磁界分布調整手段
である中間磁気要素7の位置を中間磁気要素駆動装置3
で種々調整し、使用した場合の短辺方向のターゲット中
心から外周までの範囲における侵食状態を示しており、
初期のターゲット厚さに対して侵食深さが初期の1/3
に達するまでは中間磁気要素7の位置が移動範囲の略中
間(図5に示す磁界分布の状態)で使用し、その後、2
/3に達するまでは、中間磁気要素7の位置を最もター
ゲット6に接近させて(図7に示す磁界分布の状態)使
用し、最後の寿命に至るまでは中間磁気要素7の位置を
最もターゲット6から離して(図6に示す磁界分布の状
態)使用した場合の例である。このように矩形カソード
で通過成膜するような装置では、ターゲット粒子の飛散
方向およびまたは飛散源位置の変化が基板に堆積する膜
厚分布に殆ど影響しないので、ターゲット6の体積利用
率を主体に追求できる。この場合、ターゲット消費に連
動し、ターゲット6の上面近傍の磁界分布調整手段であ
る中間磁気要素7の位置を中間磁気要素駆動装置3によ
りターゲット6面に対して遠近調整することでターゲッ
ト6の深さ方向の侵食形状を任意に制御できる。
【0033】なお、同様にターゲット消費に連動し、タ
ーゲット6の上面近傍の磁界分布調整手段としてソレノ
イドコイルなどの電磁石で構成した中間磁気要素67の
励磁電流を供給する電磁石励磁手段60により、調整す
ることでターゲット6の深さ方向の侵食形状を任意に調
整することができる。
ーゲット6の上面近傍の磁界分布調整手段としてソレノ
イドコイルなどの電磁石で構成した中間磁気要素67の
励磁電流を供給する電磁石励磁手段60により、調整す
ることでターゲット6の深さ方向の侵食形状を任意に調
整することができる。
【0034】また、ターゲット6の上面近傍の磁界分布
を自動調整するために中間磁気要素駆動装置3(または
電磁石励磁手段60)へ制御信号を送出するとともにス
パッタ用高圧電源40の出力電流または出力電力を自動
調整するための制御信号を送出する成膜自動制御装置8
1を具備すれば、予め設定されたターゲット侵食形状の
自動制御することが可能で複雑な制御パターンでもター
ゲット寿命に至るまで正確に制御できる。
を自動調整するために中間磁気要素駆動装置3(または
電磁石励磁手段60)へ制御信号を送出するとともにス
パッタ用高圧電源40の出力電流または出力電力を自動
調整するための制御信号を送出する成膜自動制御装置8
1を具備すれば、予め設定されたターゲット侵食形状の
自動制御することが可能で複雑な制御パターンでもター
ゲット寿命に至るまで正確に制御できる。
【0035】図20〜図22は、本発明の第4〜第6の
各実施例を示したカソード部の断面概略図である。
各実施例を示したカソード部の断面概略図である。
【0036】図20は、本発明の第4の実施例であり、
中央磁極1および外周磁極2は、ターゲット6の面と平
行な面に対して配向が各々+45度と−45度(±60
度以内)の角度差を有する永久磁石を環状に配置し、ま
た、ターゲット6の上面近傍の磁界分布調整手段として
のソレノイドコイルなどの電磁石で構成した中間磁気要
素67をターゲット6面に平行にかつターゲット6裏面
の中央磁極1と外周磁極2との間に配置し、かつターゲ
ット6の上面近傍の磁界分布を調整するためにこの中間
磁気要素67である電磁石の励磁電流を供給および調整
機能を有する電磁石励磁手段60を具備している。
中央磁極1および外周磁極2は、ターゲット6の面と平
行な面に対して配向が各々+45度と−45度(±60
度以内)の角度差を有する永久磁石を環状に配置し、ま
た、ターゲット6の上面近傍の磁界分布調整手段として
のソレノイドコイルなどの電磁石で構成した中間磁気要
素67をターゲット6面に平行にかつターゲット6裏面
の中央磁極1と外周磁極2との間に配置し、かつターゲ
ット6の上面近傍の磁界分布を調整するためにこの中間
磁気要素67である電磁石の励磁電流を供給および調整
機能を有する電磁石励磁手段60を具備している。
【0037】図21は、本発明の第5の実施例であり、
中央磁極1および外周磁極2は、ターゲット6の面と平
行な面に対して配向が0度(±60度以内)の角度差を
有する永久磁石を環状に配置し、また、ターゲット6の
上面近傍の磁界分布調整手段としてターゲット6の面と
平行な面に対して配向が0度(±60度以内)の角度差
を有する永久磁石を環状に配置した中間磁気要素7およ
びこれを機械的に駆動する中間磁気要素駆動装置3およ
び連結駆動軸4を具備している。
中央磁極1および外周磁極2は、ターゲット6の面と平
行な面に対して配向が0度(±60度以内)の角度差を
有する永久磁石を環状に配置し、また、ターゲット6の
上面近傍の磁界分布調整手段としてターゲット6の面と
平行な面に対して配向が0度(±60度以内)の角度差
を有する永久磁石を環状に配置した中間磁気要素7およ
びこれを機械的に駆動する中間磁気要素駆動装置3およ
び連結駆動軸4を具備している。
【0038】図22は、本発明の第6の実施例であり、
中央磁極1および外周磁極2は、ターゲット6の面と平
行な面に対して磁化方向または配向が0度(±60度以
内)の角度差を有する永久磁石の小片を複数組み合わせ
て環状に配置し、また、ターゲット6の上面近傍の磁界
分布調整手段としてターゲット6の面と平行な面に対し
て配向が0度(±60度以内)の角度差を有する永久磁
石を環状に配置した中間磁気要素7およびこれを機械的
に駆動する中間磁気要素駆動装置3および連結駆動軸4
を具備している。
中央磁極1および外周磁極2は、ターゲット6の面と平
行な面に対して磁化方向または配向が0度(±60度以
内)の角度差を有する永久磁石の小片を複数組み合わせ
て環状に配置し、また、ターゲット6の上面近傍の磁界
分布調整手段としてターゲット6の面と平行な面に対し
て配向が0度(±60度以内)の角度差を有する永久磁
石を環状に配置した中間磁気要素7およびこれを機械的
に駆動する中間磁気要素駆動装置3および連結駆動軸4
を具備している。
【0039】なお、前述した図1〜図5,図18および
図20〜図22に示す本発明の第1〜第6の実施例で示
した各永久磁石のN極,S極の極性および電磁石の励磁
方向を全く逆にしても同様の効果が得られる。また、各
永久磁石は環状または楕円状の一体成形品を着磁したも
の,小片磁石を環状または楕円状に集積したもののいず
れでも良い。
図20〜図22に示す本発明の第1〜第6の実施例で示
した各永久磁石のN極,S極の極性および電磁石の励磁
方向を全く逆にしても同様の効果が得られる。また、各
永久磁石は環状または楕円状の一体成形品を着磁したも
の,小片磁石を環状または楕円状に集積したもののいず
れでも良い。
【0040】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ス
パッタリング用のカソード部近傍に設けた磁気装置の少
なくとも2組の磁気要素をターゲット面と平行な面に対
して磁化方向または配向が±60度以内の角度差を有す
る永久磁石で構成し、一方をターゲット中心近傍に環状
に配置し、他方をターゲット外周近傍に環状に配置し、
かつ各磁気要素が共有する中心線およびまたは中心線が
連なって構成される平面に向かってこの磁気要素を構成
している永久磁石のN極またはS極の磁性を全て同一側
とし、かつターゲット上面近傍の磁界分布調整手段を具
備した少なくとも1組の磁気要素をターゲット裏面の中
心と外周との間に環状に配置し、この磁界分布調整手段
である中間磁気要素を調整することにより、ターゲット
直上面の漏洩磁界の磁束密度分布の中心から外周に至る
範囲において、ターゲット面に対して水平方向の磁束密
度成分が単峰特性から強い双峰特性まで調整可能でかつ
中心と外周との間で垂直方向の磁束密度成分の傾きが零
を略中心に正から負または負から正に制御できるので、
ターゲット厚さが厚い場合においても、ターゲットの消
耗状態の進行に連動させ、中間磁気要素を調整すること
により、ターゲットの消耗状態が進行した場合でも侵食
幅が同一のなるように調整可能でスパッタリング現象に
より叩き出されたターゲット粒子の飛散方向の変化が極
めて少なく、基板に堆積する膜厚分布を一定に保つこと
が可能なスパッタリング方法およびその装置が提供でき
るという極めて優れた効果が得られる。また、本発明に
よれば、矩形カソードで通過成膜するようなスパッタリ
ング技術に適用した場合、ターゲット粒子の飛散方向お
よびまたは飛散源位置の変化が基板に堆積する膜厚分布
に殆ど影響しないので、ターゲット消費に連動し、ター
ゲット上面近傍の磁界分布調整手段である中間磁気要素
の調整でターゲットの深さ方向の侵食形状を任意に制御
できるスパッタリング方法およびその装置を提供できる
という極めて優れた効果が得られる。
パッタリング用のカソード部近傍に設けた磁気装置の少
なくとも2組の磁気要素をターゲット面と平行な面に対
して磁化方向または配向が±60度以内の角度差を有す
る永久磁石で構成し、一方をターゲット中心近傍に環状
に配置し、他方をターゲット外周近傍に環状に配置し、
かつ各磁気要素が共有する中心線およびまたは中心線が
連なって構成される平面に向かってこの磁気要素を構成
している永久磁石のN極またはS極の磁性を全て同一側
とし、かつターゲット上面近傍の磁界分布調整手段を具
備した少なくとも1組の磁気要素をターゲット裏面の中
心と外周との間に環状に配置し、この磁界分布調整手段
である中間磁気要素を調整することにより、ターゲット
直上面の漏洩磁界の磁束密度分布の中心から外周に至る
範囲において、ターゲット面に対して水平方向の磁束密
度成分が単峰特性から強い双峰特性まで調整可能でかつ
中心と外周との間で垂直方向の磁束密度成分の傾きが零
を略中心に正から負または負から正に制御できるので、
ターゲット厚さが厚い場合においても、ターゲットの消
耗状態の進行に連動させ、中間磁気要素を調整すること
により、ターゲットの消耗状態が進行した場合でも侵食
幅が同一のなるように調整可能でスパッタリング現象に
より叩き出されたターゲット粒子の飛散方向の変化が極
めて少なく、基板に堆積する膜厚分布を一定に保つこと
が可能なスパッタリング方法およびその装置が提供でき
るという極めて優れた効果が得られる。また、本発明に
よれば、矩形カソードで通過成膜するようなスパッタリ
ング技術に適用した場合、ターゲット粒子の飛散方向お
よびまたは飛散源位置の変化が基板に堆積する膜厚分布
に殆ど影響しないので、ターゲット消費に連動し、ター
ゲット上面近傍の磁界分布調整手段である中間磁気要素
の調整でターゲットの深さ方向の侵食形状を任意に制御
できるスパッタリング方法およびその装置を提供できる
という極めて優れた効果が得られる。
【図1】本発明の第1の実施例の構成を示す装置全体の
概略断面図である。
概略断面図である。
【図2】ターゲット上面近傍の磁界分布調整手段である
中間磁気要素の位置が移動範囲の略中央に調整された場
合の高密度プラズマの発生形態およびターゲットの侵食
状態を示したカソード部の概略断面図である。
中間磁気要素の位置が移動範囲の略中央に調整された場
合の高密度プラズマの発生形態およびターゲットの侵食
状態を示したカソード部の概略断面図である。
【図3】ターゲット上面近傍の磁界分布調整手段である
中間磁気要素の位置が移動範囲のターゲットと離れた位
置に調整された場合の高密度プラズマの発生形態および
ターゲットの侵食状態を示したカソード部の概略断面図
である。
中間磁気要素の位置が移動範囲のターゲットと離れた位
置に調整された場合の高密度プラズマの発生形態および
ターゲットの侵食状態を示したカソード部の概略断面図
である。
【図4】ターゲット上面近傍の磁界分布調整手段である
中間磁気要素の位置が移動範囲のターゲットと最も接近
した位置に調整された場合の高密度プラズマの発生形態
およびターゲットの侵食状態を示したカソード部の概略
断面図である。
中間磁気要素の位置が移動範囲のターゲットと最も接近
した位置に調整された場合の高密度プラズマの発生形態
およびターゲットの侵食状態を示したカソード部の概略
断面図である。
【図5】第1の実施例で図2に示した断面構造を有する
カソード部の内部に配置された磁気装置および磁気分布
調整手段を調整した場合の漏洩磁界のターゲット直上面
の中心から外周に至る範囲のターゲット面に対して水平
方向の磁束密度成分および垂直方向の磁束密度成分を表
す図である。
カソード部の内部に配置された磁気装置および磁気分布
調整手段を調整した場合の漏洩磁界のターゲット直上面
の中心から外周に至る範囲のターゲット面に対して水平
方向の磁束密度成分および垂直方向の磁束密度成分を表
す図である。
【図6】第1の実施例で図3に示した断面構造を有する
カソード部の内部に配置された磁気装置および磁気分布
調整手段を調整した場合の漏洩磁界のターゲット直上面
の中心から外周に至る範囲のターゲット面に対して水平
方向の磁束密度成分および垂直方向の磁束密度成分を表
す図である。
カソード部の内部に配置された磁気装置および磁気分布
調整手段を調整した場合の漏洩磁界のターゲット直上面
の中心から外周に至る範囲のターゲット面に対して水平
方向の磁束密度成分および垂直方向の磁束密度成分を表
す図である。
【図7】第1の実施例で図4に示した断面構造を有する
カソード部の内部に配置された磁気装置および磁気分布
調整手段を調整した場合の漏洩磁界のターゲット直上面
の中心から外周に至る範囲のターゲット面に対して水平
方向の磁束密度成分および垂直方向の磁束密度成分を表
す図である。
カソード部の内部に配置された磁気装置および磁気分布
調整手段を調整した場合の漏洩磁界のターゲット直上面
の中心から外周に至る範囲のターゲット面に対して水平
方向の磁束密度成分および垂直方向の磁束密度成分を表
す図である。
【図8】第1の実施例で図2に示した断面構造を有する
カソードにてターゲットとして直径8インチの無酸素銅
を用い寿命に至るまで使用した場合のターゲット中心か
ら外周までの範囲における侵食状態を示す断面図である
。
カソードにてターゲットとして直径8インチの無酸素銅
を用い寿命に至るまで使用した場合のターゲット中心か
ら外周までの範囲における侵食状態を示す断面図である
。
【図9】第1の実施例で図3に示した断面構造を有する
カソードにてターゲットとして直径8インチの無酸素銅
を用い寿命に至るまで使用した場合のターゲット中心か
ら外周までの範囲における侵食状態を示す断面図である
。
カソードにてターゲットとして直径8インチの無酸素銅
を用い寿命に至るまで使用した場合のターゲット中心か
ら外周までの範囲における侵食状態を示す断面図である
。
【図10】本発明の第1の実施例で図4に示した断面構
造を有するカソードにてターゲットとして直径8インチ
の無酸素銅を用い寿命に至るまで使用した場合のターゲ
ット中心から外周までの範囲における侵食状態を示す断
面図である。
造を有するカソードにてターゲットとして直径8インチ
の無酸素銅を用い寿命に至るまで使用した場合のターゲ
ット中心から外周までの範囲における侵食状態を示す断
面図である。
【図11】本発明の第2の実施例を示したカソード部の
概略断面図である。
概略断面図である。
【図12】第2の実施例で図11に示した断面構造を有
するカソード部の内部に配置された磁気装置および磁気
分布調整手段を調整した場合の漏洩磁界のターゲット直
上面の中心から外周に至る範囲のターゲット面に対して
水平方向の磁束密度成分および垂直方向の磁束密度成分
を表す図である。
するカソード部の内部に配置された磁気装置および磁気
分布調整手段を調整した場合の漏洩磁界のターゲット直
上面の中心から外周に至る範囲のターゲット面に対して
水平方向の磁束密度成分および垂直方向の磁束密度成分
を表す図である。
【図13】第2の実施例で図11に示した断面構造を有
するカソード部の内部に配置された磁気装置および磁気
分布調整手段を調整した場合の漏洩磁界のターゲット直
上面の中心から外周に至る範囲のターゲット面に対して
水平方向の磁束密度成分および垂直方向の磁束密度成分
を表す図である。
するカソード部の内部に配置された磁気装置および磁気
分布調整手段を調整した場合の漏洩磁界のターゲット直
上面の中心から外周に至る範囲のターゲット面に対して
水平方向の磁束密度成分および垂直方向の磁束密度成分
を表す図である。
【図14】第2の実施例で図11に示した断面構造を有
するカソード部の内部に配置された磁気装置および磁気
分布調整手段を調整した場合の漏洩磁界のターゲット直
上面の中心から外周に至る範囲のターゲット面に対して
水平方向の磁束密度成分および垂直方向の磁束密度成分
を表す図である。
するカソード部の内部に配置された磁気装置および磁気
分布調整手段を調整した場合の漏洩磁界のターゲット直
上面の中心から外周に至る範囲のターゲット面に対して
水平方向の磁束密度成分および垂直方向の磁束密度成分
を表す図である。
【図15】第2の実施例で図12に示したターゲット上
面近傍の漏洩磁界分布になるように磁界分布調整手段を
調整してターゲットとして直径8インチの無酸素銅を用
い寿命に至るまで使用した場合のターゲット中心から外
周までの範囲における侵食状態を示す断面図である。
面近傍の漏洩磁界分布になるように磁界分布調整手段を
調整してターゲットとして直径8インチの無酸素銅を用
い寿命に至るまで使用した場合のターゲット中心から外
周までの範囲における侵食状態を示す断面図である。
【図16】第2の実施例で図13に示したターゲット上
面近傍の漏洩磁界分布になるように磁界分布調整手段を
調整してターゲットとして直径8インチの無酸素銅を用
い寿命に至るまで使用した場合のターゲット中心から外
周までの範囲における侵食状態を示す断面図である。
面近傍の漏洩磁界分布になるように磁界分布調整手段を
調整してターゲットとして直径8インチの無酸素銅を用
い寿命に至るまで使用した場合のターゲット中心から外
周までの範囲における侵食状態を示す断面図である。
【図17】第2の実施例で図14に示したターゲット上
面近傍の漏洩磁界分布になるように磁界分布調整手段を
調整してターゲットとして直径8インチの無酸素銅を用
い寿命に至るまで使用した場合のターゲット中心から外
周までの範囲における侵食状態を示す断面図である。
面近傍の漏洩磁界分布になるように磁界分布調整手段を
調整してターゲットとして直径8インチの無酸素銅を用
い寿命に至るまで使用した場合のターゲット中心から外
周までの範囲における侵食状態を示す断面図である。
【図18】本発明の第3の実施例の構成を示す装置全体
のカソード部の概略断面図である。
のカソード部の概略断面図である。
【図19】図18に示した断面構造を有する矩形カソー
ドにてターゲットとして8×69インチの無酸素銅を用
いて寿命に至るまでターゲット上面近傍の磁界分布調整
手段を種々調整して使用した場合の短辺方向のターゲッ
ト中心から外周までの範囲における侵食状態を示す断面
図である。
ドにてターゲットとして8×69インチの無酸素銅を用
いて寿命に至るまでターゲット上面近傍の磁界分布調整
手段を種々調整して使用した場合の短辺方向のターゲッ
ト中心から外周までの範囲における侵食状態を示す断面
図である。
【図20】本発明の第4の実施例を示すカソード部の概
略断面図である。
略断面図である。
【図21】本発明の第5の実施例を示すカソード部の概
略断面図である。
略断面図である。
【図22】本発明の第6の実施例を示すカソード部の概
略断面図である。
略断面図である。
【図23】従来の装置全体の構成を示す断面図である。
【図24】従来のカソード部の構成を示す概略断面図で
ある。
ある。
【図25】図24に示した断面構造を有するカソード部
の内部に配置された磁気装置の発生する漏洩磁界のター
ゲット直上面の中心から外周に至る範囲のターゲット面
に対して水平方向の磁束密度成分および垂直方向の磁束
密度成分を示す図である。
の内部に配置された磁気装置の発生する漏洩磁界のター
ゲット直上面の中心から外周に至る範囲のターゲット面
に対して水平方向の磁束密度成分および垂直方向の磁束
密度成分を示す図である。
【図26】図24に示した断面構造を有するカソード部
にてターゲットとして直径8インチの無酸素銅を用い寿
命に至るまで使用した場合のターゲット中心から外周ま
での範囲における従来の侵食状態を示す断面図である。
にてターゲットとして直径8インチの無酸素銅を用い寿
命に至るまで使用した場合のターゲット中心から外周ま
での範囲における従来の侵食状態を示す断面図である。
1 中央磁極
2 外周磁極
3 中間磁気要素駆動装置
4 連結駆動軸
5 軟磁性体ヨーク
6 ターゲット
7 永久磁石の中間磁気要素
8 基板
11 磁力線
14 プラズマ
15 ターゲットの侵食部
20 真空容器
21 カソード部外壁
22 水配管
23 絶縁体
24 アノードリング
25 電流導入端子
26 絶縁体
27 基板載置手段
28 基板用アースシールド
29 絶縁体
30 質量流量制御弁
31 排気装置
40 スパッタ用高圧電源
41 電源
60 電磁石励磁手段
61 電流導入端子
63 磁力線
67 第1の中間磁気要素
68 第2の中間磁気要素
70 ゲートバルブ
71 基板搬送手段
80 統括制御装置
81 成膜自動制御装置
Claims (2)
- 【請求項1】 単数または複数の基板を保持またはカ
ソード部に対して相対的に移動させる基板載置手段と、
前記基板の堆積面と所定の間隔を隔てて対向配置された
ターゲットと、前記ターゲットを載置しかつ前記ターゲ
ットの前面近傍に磁界を発生させる磁気装置とを備え、
前記磁気装置は少なくとも2組の磁気要素を前記ターゲ
ット面と平行な面に対して磁化方向または配向が±60
度以内の角度差を有する永久磁石で構成し、前記永久磁
石の一方を前記ターゲットの中心近傍に環状に配置し、
前記永久磁石の他方をターゲット外周近傍に環状に配置
するとともに前記各磁気要素が共有する中心線およびま
たは中心線が連なって形成される平面に向かって前記磁
気要素を構成している永久磁石のN極またはS極の極性
を全て同一側とし、かつ前記ターゲット背面の中心と外
周との間に少なくとも1組の中間磁気要素を配置し、前
記ターゲット前面近傍の磁界分布を調整することを特徴
としたスパッタリング方法。 - 【請求項2】 単数または複数の基板を保持またはカ
ソード部に対して相対的に移動させる基板載置手段と、
前記基板の堆積面と所定の間隔を隔てて対向配置された
ターゲットと、前記ターゲットを載置しかつ前記ターゲ
ットの前面近傍に磁界を発生させる磁気装置とを備えた
スパッタリング装置において、前記磁気装置は少なくと
も2組の磁気要素を前記ターゲット面と平行な面に対し
て磁化方向または配向が±60度以内の角度差を有する
永久磁石で構成し、前記永久磁石の一方を前記ターゲッ
トの中心近傍に環状に配置し、前記永久磁石の他方をタ
ーゲット外周近傍に環状に配置するとともに前記各磁気
要素が共有する中心線およびまたは中心線が連なって形
成される平面に向かって前記磁気要素を構成している永
久磁石のN極またはS極の極性を全て同一側に配置し、
前記ターゲット背面の中心と外周との間に配置された少
なくとも1組の中間磁気要素と、前記中間磁気要素を前
記ターゲット前面に対して近接または離間調整する中間
磁気要素駆動手段とを設けたことを特徴とするスパッタ
リング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6106291A JPH04276069A (ja) | 1991-03-04 | 1991-03-04 | スパッタリング方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6106291A JPH04276069A (ja) | 1991-03-04 | 1991-03-04 | スパッタリング方法およびその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04276069A true JPH04276069A (ja) | 1992-10-01 |
Family
ID=13160304
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6106291A Pending JPH04276069A (ja) | 1991-03-04 | 1991-03-04 | スパッタリング方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04276069A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5399253A (en) * | 1992-12-23 | 1995-03-21 | Balzers Aktiengesellschaft | Plasma generating device |
| JP2002047566A (ja) * | 2000-07-27 | 2002-02-15 | Nec Kyushu Ltd | スパッタ装置 |
| WO2010023952A1 (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-04 | 株式会社アルバック | マグネトロンスパッタカソード及び成膜装置 |
| EP1944388A4 (en) * | 2005-11-04 | 2011-11-02 | Shinmaywa Ind Ltd | MAGNETIC STRUCTURE FOR MAGNETIC SPINDLE SYSTEM, CATHODE ELECTRODE UNIT AND MAGNETIC SPONGE SYSTEM |
| US8273221B2 (en) | 2005-12-13 | 2012-09-25 | Oerlikon Solar Ag, Trubbach | Sputter target utilization |
| US8608918B2 (en) | 2005-09-29 | 2013-12-17 | Shinmaywa Industries, Ltd. | Magnet structure and cathode electrode unit for magnetron sputtering, and magnetron sputtering system |
-
1991
- 1991-03-04 JP JP6106291A patent/JPH04276069A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5399253A (en) * | 1992-12-23 | 1995-03-21 | Balzers Aktiengesellschaft | Plasma generating device |
| JP2002047566A (ja) * | 2000-07-27 | 2002-02-15 | Nec Kyushu Ltd | スパッタ装置 |
| US8608918B2 (en) | 2005-09-29 | 2013-12-17 | Shinmaywa Industries, Ltd. | Magnet structure and cathode electrode unit for magnetron sputtering, and magnetron sputtering system |
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| TWI396762B (zh) * | 2005-11-04 | 2013-05-21 | Shinmaywa Ind Ltd | A magnet structure and a cathode electrode unit for magnetron sputtering apparatus, and a magnetron sputtering apparatus |
| US8273221B2 (en) | 2005-12-13 | 2012-09-25 | Oerlikon Solar Ag, Trubbach | Sputter target utilization |
| WO2010023952A1 (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-04 | 株式会社アルバック | マグネトロンスパッタカソード及び成膜装置 |
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