JPH0428056Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0428056Y2 JPH0428056Y2 JP13259686U JP13259686U JPH0428056Y2 JP H0428056 Y2 JPH0428056 Y2 JP H0428056Y2 JP 13259686 U JP13259686 U JP 13259686U JP 13259686 U JP13259686 U JP 13259686U JP H0428056 Y2 JPH0428056 Y2 JP H0428056Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- moisture
- grains
- predetermined value
- voltage
- output
- Prior art date
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- Expired
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- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 230000009931 harmful effect Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は、穀粒乾燥機などに使用され穀粒の水
分測定を行う水分計に関し、特に1粒づつの水分
測定を行う一粒式の水分計の改良に関する。
分測定を行う水分計に関し、特に1粒づつの水分
測定を行う一粒式の水分計の改良に関する。
(従来の技術)
この種の一粒式の水分計は、1対の水分測定用
の電極ロールと、その電極ロール間に穀粒を所定
時間毎に1粒づつ供給する送りロールと称される
穀粒供給機構とから構成されている。
の電極ロールと、その電極ロール間に穀粒を所定
時間毎に1粒づつ供給する送りロールと称される
穀粒供給機構とから構成されている。
そして、乾燥機内の穀粒の水分測定を行うとき
には、その穀粒供給機構によつて乾燥機内から穀
粒を取り出して電極ロール間に供給すると、これ
を電極ロールが圧砕してそのときの電極ロール間
の抵抗を抵抗電圧変換回路で電圧に変換する。
には、その穀粒供給機構によつて乾燥機内から穀
粒を取り出して電極ロール間に供給すると、これ
を電極ロールが圧砕してそのときの電極ロール間
の抵抗を抵抗電圧変換回路で電圧に変換する。
この水分計は、上述のように乾燥機内の穀粒、
すなわち内部サンプルを測定する他に、乾燥機外
の穀粒、すなわち外部サンプルの測定することが
できる。外部サンプルの測定の場合は、電極ロー
ルの上方にのぞむ外部供給ホツパに所定の外部サ
ンプルの穀粒を投入すると、その多粒の穀粒が電
極ロール上に導かれて水分測定を行う。
すなわち内部サンプルを測定する他に、乾燥機外
の穀粒、すなわち外部サンプルの測定することが
できる。外部サンプルの測定の場合は、電極ロー
ルの上方にのぞむ外部供給ホツパに所定の外部サ
ンプルの穀粒を投入すると、その多粒の穀粒が電
極ロール上に導かれて水分測定を行う。
(考案が解決しようとする問題点)
ところで、抵抗電圧変換回路から出力される水
分電圧から1粒のデータを検出するには、その水
分電圧の立ち上りから所定時間(例えば3秒間)
内における最大値を求めるようにしている。そし
て、この最大値は、1粒のデータとしてマイクロ
コンピユータに読み込まれ、水分算出のために供
される。
分電圧から1粒のデータを検出するには、その水
分電圧の立ち上りから所定時間(例えば3秒間)
内における最大値を求めるようにしている。そし
て、この最大値は、1粒のデータとしてマイクロ
コンピユータに読み込まれ、水分算出のために供
される。
そこで、例えば、抵抗電圧変換回路から出力さ
れる水分電圧ERの出力波形が第4図の場合には、
その各水分電圧ER1〜ER4の各立ち上がりから
所定期間T1〜T6内における各最大値M1〜M
6が検出される。
れる水分電圧ERの出力波形が第4図の場合には、
その各水分電圧ER1〜ER4の各立ち上がりから
所定期間T1〜T6内における各最大値M1〜M
6が検出される。
ところが、この各最大値M1〜M6は、電極ロ
ールに何らかの原因で複数粒の穀粒が同時に供給
されたときの水分電圧ER1,ER3およびER4
から得られたものであるので、いずれも1粒の検
出データとしは不適当であるという問題がある。
さらに加えて、第4図の場合には、電極ロールに
1粒の穀粒が供給されたときの水分電圧ER2の
最大値M7は、1粒の検出データとしては適切で
あるにもかかわらず、排除されてしまうという欠
点があつた。
ールに何らかの原因で複数粒の穀粒が同時に供給
されたときの水分電圧ER1,ER3およびER4
から得られたものであるので、いずれも1粒の検
出データとしは不適当であるという問題がある。
さらに加えて、第4図の場合には、電極ロールに
1粒の穀粒が供給されたときの水分電圧ER2の
最大値M7は、1粒の検出データとしては適切で
あるにもかかわらず、排除されてしまうという欠
点があつた。
これらの問題は、上述のように内部サンプルの
みを測定中の場合のほかに、内部サンプルを測定
中に外部サイプルの測定を行う場合にも生じ、正
確な検出データを得るのを妨げて水分測定の信頼
性を低下させる。
みを測定中の場合のほかに、内部サンプルを測定
中に外部サイプルの測定を行う場合にも生じ、正
確な検出データを得るのを妨げて水分測定の信頼
性を低下させる。
そこで、本考案の目的は、上述の欠点を解消
し、複数の穀粒が電極ロールに供給されるときに
得られる検出データを排除するようにして正確な
検出データのみが得られるようにし、もつて水分
測定の信頼性を向上させることにある。
し、複数の穀粒が電極ロールに供給されるときに
得られる検出データを排除するようにして正確な
検出データのみが得られるようにし、もつて水分
測定の信頼性を向上させることにある。
(問題点を解決するための手段)
かかる目的を達成するために、本考案は、電極
ロールで穀粒を圧砕してその穀粒に応じた水分信
号を発生する水分信号発生手段Aと、 前記水分信号に基づいて水分を検出する水分検
出手段Bと、 前記水分信号を所定値と比較し、その所定値を
上回つた後前記所定値を下回るまでの時間を計数
する計数手段Cと、 前記計数手段Cが計数した時間が所定の粒数判
別基準時間を上回るときに、前記水分検出手段B
からの出力を禁止する水分出力禁止手段Dとを備
えてなるものである。
ロールで穀粒を圧砕してその穀粒に応じた水分信
号を発生する水分信号発生手段Aと、 前記水分信号に基づいて水分を検出する水分検
出手段Bと、 前記水分信号を所定値と比較し、その所定値を
上回つた後前記所定値を下回るまでの時間を計数
する計数手段Cと、 前記計数手段Cが計数した時間が所定の粒数判
別基準時間を上回るときに、前記水分検出手段B
からの出力を禁止する水分出力禁止手段Dとを備
えてなるものである。
(作用)
本考案は、第1図に示すように、計数手段Cが
水分信号発生手段Aからの水分信号を所定値と比
較し、その所定値を上回つた後、その所定値を下
回るまでの時間を計数する。
水分信号発生手段Aからの水分信号を所定値と比
較し、その所定値を上回つた後、その所定値を下
回るまでの時間を計数する。
計数手段Cが計数した時間が、所定の粒数判別
基準時間を上回るときに、水分出力禁止手段D
は、水分検出手段Bの出力を禁止する。
基準時間を上回るときに、水分出力禁止手段D
は、水分検出手段Bの出力を禁止する。
(実施例)
体2図は本考案の第1実施例のブロツク図であ
る。
る。
図において、1,1は回転自在な水分測定用の
1対の電極ロールであり、その電極ロール間を穀
粒が通過するときに、その電極ローラ間における
抵抗の変化を抵抗電圧変換回路2で電圧に変換す
る。3はA/Dコンバータであり、抵抗電圧変換
回路2からの水分電圧ERをA/D変換してマイ
クロコンピユータ4に供給する。
1対の電極ロールであり、その電極ロール間を穀
粒が通過するときに、その電極ローラ間における
抵抗の変化を抵抗電圧変換回路2で電圧に変換す
る。3はA/Dコンバータであり、抵抗電圧変換
回路2からの水分電圧ERをA/D変換してマイ
クロコンピユータ4に供給する。
マイクロコンピユータ4は、例えば第3図に示
すように各種の判断等を行い、後述のように各構
成要素を制御する。5はマイクロコンピユータ4
と接続する出力インタフエースであり、その出力
側に7セグメントLEDなどからなり水分表示を
行う表示部6を接続する。
すように各種の判断等を行い、後述のように各構
成要素を制御する。5はマイクロコンピユータ4
と接続する出力インタフエースであり、その出力
側に7セグメントLEDなどからなり水分表示を
行う表示部6を接続する。
次に、以上のように構成される第1実施例の動
作について第3図および第4図を参照して説明す
る。
作について第3図および第4図を参照して説明す
る。
いま、穀粒供給機構(図示せず)が作動して、
乾燥機内の穀粒(内部サンプル)が電極ロール
1,1に供給されると、電極ロール1,1の回転
に伴なつて抵抗電圧変換回路2から例えば第4図
に示すような水分電圧ERが出力される。
乾燥機内の穀粒(内部サンプル)が電極ロール
1,1に供給されると、電極ロール1,1の回転
に伴なつて抵抗電圧変換回路2から例えば第4図
に示すような水分電圧ERが出力される。
そして、各水分電圧ER1〜ER4の各立ち上が
りから各立ち下がりまでの各期間T01〜T04
を計数手段であるカウンタ(図示せず)で計数す
るとともに、その各期間T01〜T04における
各最大値M1,M7,M4およびM6をそれぞれ
第3図に示す手順により検出する。
りから各立ち下がりまでの各期間T01〜T04
を計数手段であるカウンタ(図示せず)で計数す
るとともに、その各期間T01〜T04における
各最大値M1,M7,M4およびM6をそれぞれ
第3図に示す手順により検出する。
すなわち、水分電圧ERがあらかじめ定めたし
きい値ES(第4図参照)よりも大きいときに、そ
の水分電圧ERをA/Dコンバータ3でA/D変
換して、そのときの最大値を検出する(ステツプ
S1〜S4)。そして、このように検出された各
最大値M1,M7,M4およびM6は、後述のよ
うに所定の要件を具えたときに正常な測定データ
として水分算出に供される(ステツプS5)。
きい値ES(第4図参照)よりも大きいときに、そ
の水分電圧ERをA/Dコンバータ3でA/D変
換して、そのときの最大値を検出する(ステツプ
S1〜S4)。そして、このように検出された各
最大値M1,M7,M4およびM6は、後述のよ
うに所定の要件を具えたときに正常な測定データ
として水分算出に供される(ステツプS5)。
一方、各期間T01〜T04の終了後には、そ
の各期間T01〜T04に対応するカウンタの計
数値をあらかじめ定めた所定値と比較する。
の各期間T01〜T04に対応するカウンタの計
数値をあらかじめ定めた所定値と比較する。
そして、期間T02のようにその計数値が所定
値以下であつて、測定穀粒が1粒とみなされると
きには、その期間における最大値M7を正常なデ
ータとして上述した水分算出に供するようにす
る。他方、期間T01,T03およびT04のよ
うにその計数値が所定値以上であつて、測定穀粒
が複数粒とみなされるときには、その各期間にお
ける各最大値M1,M4およびM6を異常データ
として排除し、上述した水分算出には供しないよ
うにする。
値以下であつて、測定穀粒が1粒とみなされると
きには、その期間における最大値M7を正常なデ
ータとして上述した水分算出に供するようにす
る。他方、期間T01,T03およびT04のよ
うにその計数値が所定値以上であつて、測定穀粒
が複数粒とみなされるときには、その各期間にお
ける各最大値M1,M4およびM6を異常データ
として排除し、上述した水分算出には供しないよ
うにする。
このように、第1実施例によれば、電極ロール
1,1に供給される測定穀粒が複数粒のときに
は、その検出データを異常なデータとして排除し
て水分算出に供しないようにしたので、測定穀粒
が複数粒となる場合の弊害を除去することができ
る。
1,1に供給される測定穀粒が複数粒のときに
は、その検出データを異常なデータとして排除し
て水分算出に供しないようにしたので、測定穀粒
が複数粒となる場合の弊害を除去することができ
る。
次に、本考案の第2実施例について説明する
が、その構成は第2図で示した第1実施例と同様
であり、その制御手順のみが異なるので、第5図
および第6図を参照してその動作例のみを説明す
る。
が、その構成は第2図で示した第1実施例と同様
であり、その制御手順のみが異なるので、第5図
および第6図を参照してその動作例のみを説明す
る。
いま、穀粒供給機構(図示せず)が作動し、乾
燥機内の穀粒(内部サンプル)が電極ロール1,
1に供給されると、抵抗電圧変換回路2から水分
電圧ERが出力されてサンプリングされる(ステ
ツプS11)。
燥機内の穀粒(内部サンプル)が電極ロール1,
1に供給されると、抵抗電圧変換回路2から水分
電圧ERが出力されてサンプリングされる(ステ
ツプS11)。
そして、その水分電圧ERが第6図に示すよう
にあらかじめ定めたしきい値ESを越えるときの
時間を計数手段であるカウンタ(図示せず)で計
数する(ステツプS12)。次いで、そのカウン
タの計数値(カウント値)があらかじめ定めた所
定値αよりも大きいか否かを判定する(ステツプ
S13)。
にあらかじめ定めたしきい値ESを越えるときの
時間を計数手段であるカウンタ(図示せず)で計
数する(ステツプS12)。次いで、そのカウン
タの計数値(カウント値)があらかじめ定めた所
定値αよりも大きいか否かを判定する(ステツプ
S13)。
第6図に示す時間t1のようにその計数値が所
定値αよりも小さいときには、測定穀粒を1粒と
判定し(ステツプS14)、そのときには1粒に
かかる検出データを正常なデータとして水分算出
に供するとともに、次の測定準備を行う(ステツ
プS16)。
定値αよりも小さいときには、測定穀粒を1粒と
判定し(ステツプS14)、そのときには1粒に
かかる検出データを正常なデータとして水分算出
に供するとともに、次の測定準備を行う(ステツ
プS16)。
他方、第6図に示す時間t2のように、その計
数値が所定値αよりも大きいときには、乾燥機外
から多量の外部サンプルが電極ロール1,1に同
時に供給されて多粒と判定し(ステツプS15)、
そのときには多粒にかかる検出データを異常なデ
ータとして排除し、水分算出に供しないようにす
る。
数値が所定値αよりも大きいときには、乾燥機外
から多量の外部サンプルが電極ロール1,1に同
時に供給されて多粒と判定し(ステツプS15)、
そのときには多粒にかかる検出データを異常なデ
ータとして排除し、水分算出に供しないようにす
る。
このように、第2実施例によれば、内部サンプ
ルを測定中に外部サンプルを測定するような場合
には、その外部サンプルにかかる検出データを異
常なデータとして排除し水分算出に供しないよう
にしたので、外部サンプルによる弊害を除去する
ことができる。
ルを測定中に外部サンプルを測定するような場合
には、その外部サンプルにかかる検出データを異
常なデータとして排除し水分算出に供しないよう
にしたので、外部サンプルによる弊害を除去する
ことができる。
(考案の効果)
以上のように、本考案によれば、複数の穀粒が
電極ローラに同時に供給された際に得られる検出
データを排除し、その検出データを水分算出に供
しないようにしたので、正確な検出データのみが
得られ、もつて水分測定の信頼性を格段に向上さ
せることができる。
電極ローラに同時に供給された際に得られる検出
データを排除し、その検出データを水分算出に供
しないようにしたので、正確な検出データのみが
得られ、もつて水分測定の信頼性を格段に向上さ
せることができる。
第1図は本考案の機能図、第2図は本考案の第
1実施例のブロツク図、第3図はその動作例を示
すフローチヤート、第4図はその水分電圧を示す
線図、第5図は本考案の第2実施例の動作例を示
すフローチヤート、第6図はその水分電圧を示す
線図である。 Aは水分信号発生手段、Bは水分検出手段、C
は計数手段、Dは水分出力禁止手段。
1実施例のブロツク図、第3図はその動作例を示
すフローチヤート、第4図はその水分電圧を示す
線図、第5図は本考案の第2実施例の動作例を示
すフローチヤート、第6図はその水分電圧を示す
線図である。 Aは水分信号発生手段、Bは水分検出手段、C
は計数手段、Dは水分出力禁止手段。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 電極ロールで穀粒を圧砕してその穀粒に応じた
水分信号を発生する水分信号発生手段と、 前記水分信号に基づいて水分を検出する水分検
出手段と、 前記水分信号を所定値と比較し、その所定値を
上回つた後前記所定値を下回るまでの時間を計数
する計数手段と、 前記計数手段が計数した時間が所定の粒数判別
基準時間を上回るときに、前記水分検出手段から
の出力を禁止する水分出力禁止手段とを備えてな
る水分計の測定制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13259686U JPH0428056Y2 (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13259686U JPH0428056Y2 (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6338050U JPS6338050U (ja) | 1988-03-11 |
| JPH0428056Y2 true JPH0428056Y2 (ja) | 1992-07-07 |
Family
ID=31032133
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13259686U Expired JPH0428056Y2 (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0428056Y2 (ja) |
-
1986
- 1986-08-28 JP JP13259686U patent/JPH0428056Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6338050U (ja) | 1988-03-11 |
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