JPH04280664A - 半導体装置用リードフレーム - Google Patents
半導体装置用リードフレームInfo
- Publication number
- JPH04280664A JPH04280664A JP3298089A JP29808991A JPH04280664A JP H04280664 A JPH04280664 A JP H04280664A JP 3298089 A JP3298089 A JP 3298089A JP 29808991 A JP29808991 A JP 29808991A JP H04280664 A JPH04280664 A JP H04280664A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- die
- semiconductor die
- pad
- lead frame
- pedestal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/40—Leadframes
- H10W70/411—Chip-supporting parts, e.g. die pads
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/531—Shapes of wire connectors
- H10W72/536—Shapes of wire connectors the connected ends being ball-shaped
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/531—Shapes of wire connectors
- H10W72/5363—Shapes of wire connectors the connected ends being wedge-shaped
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5449—Dispositions of bond wires not being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. fan-out arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/90—Bond pads, in general
- H10W72/931—Shapes of bond pads
- H10W72/932—Plan-view shape, i.e. in top view
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体ダイ用のリード
フレームに関連し、さらに特定すれば、迫り上がったペ
デスタルを備えたリードフレームで、そのペデスタルに
対してグランドワイヤにより半導体ダイが連結されてい
るものに関する。
フレームに関連し、さらに特定すれば、迫り上がったペ
デスタルを備えたリードフレームで、そのペデスタルに
対してグランドワイヤにより半導体ダイが連結されてい
るものに関する。
【0002】
【発明が解決しようとする課題】樹脂封止DIPリード
フレームでは、リードフレームの設計に際して、半導体
ダイの熱放散に関し、該ダイをパッケージ幅一杯に用い
てリードフレーム上に取付けることにより増大させるこ
とが考慮される。半導体ダイ上のボンディングパッドの
幅は、半導体ダイの寸法とダイ取付けパッド上の半導体
ダイに対するダイボンディングに必要な寸法とから決定
される。より大形の半導体ダイは、大量の熱放散を必要
とするから、グランドボンドが、最大のせん断応力領域
になってしまう。このことは、繰り返しの温度変化や急
激な温度変化に晒されると、グランドボンドの破砕やデ
バイスの電気的故障の原因となる。又、ボンディングパ
ッドからのボンディングワイヤが弛んで、樹脂封止する
以前の半導体ダイに接触してしまうことも別の問題とし
て挙げられる。より小形の半導体ダイをダイ取付けパッ
ドに取付けると、故障の機会は減少するが、完全に上記
の問題が解決されるわけではない。大形の半導体ダイの
場合であっても、ボンディングのためのより大きな面積
が存在しているわけではない。他の解決方策では、ダイ
取付けパッドに孔を設けて、該取付けパッドに対して、
封止材と一体的に半導体ダイを固定することが行われた
。しかしながら、この解決方策は、リードフレームが本
来具備していた熱的能力を低下させるばかりか、リード
フレームと封止材間の固定には、有効でないことが判明
した。
フレームでは、リードフレームの設計に際して、半導体
ダイの熱放散に関し、該ダイをパッケージ幅一杯に用い
てリードフレーム上に取付けることにより増大させるこ
とが考慮される。半導体ダイ上のボンディングパッドの
幅は、半導体ダイの寸法とダイ取付けパッド上の半導体
ダイに対するダイボンディングに必要な寸法とから決定
される。より大形の半導体ダイは、大量の熱放散を必要
とするから、グランドボンドが、最大のせん断応力領域
になってしまう。このことは、繰り返しの温度変化や急
激な温度変化に晒されると、グランドボンドの破砕やデ
バイスの電気的故障の原因となる。又、ボンディングパ
ッドからのボンディングワイヤが弛んで、樹脂封止する
以前の半導体ダイに接触してしまうことも別の問題とし
て挙げられる。より小形の半導体ダイをダイ取付けパッ
ドに取付けると、故障の機会は減少するが、完全に上記
の問題が解決されるわけではない。大形の半導体ダイの
場合であっても、ボンディングのためのより大きな面積
が存在しているわけではない。他の解決方策では、ダイ
取付けパッドに孔を設けて、該取付けパッドに対して、
封止材と一体的に半導体ダイを固定することが行われた
。しかしながら、この解決方策は、リードフレームが本
来具備していた熱的能力を低下させるばかりか、リード
フレームと封止材間の固定には、有効でないことが判明
した。
【0003】
【課題を解決するための手段】本発明は、半導体ダイ用
のリードフレームであって、取付けパッドにプレス加工
によりペデスタルを形成することで、取付けパッド上方
にパッドボンディング用の領域を確保するようにしたも
のを提供する。ボンディング用の領域は、半導体ダイ表
面の上方に位置し、リードフレームのせん断面からは、
封止材側に離れており、しかも封止材で全面が覆われて
いる。従って、繰り返しの温度変化や急激な温度変化に
よるボンディング箇所の破損が防止される。その上、半
導体ダイの表面上方に存在する箇所に対して接続される
ボンディングワイヤに関し、垂れ下がりが防止され、ボ
ンディング中や樹脂封止以前における半導体ダイへの不
所望の接触も防止される。
のリードフレームであって、取付けパッドにプレス加工
によりペデスタルを形成することで、取付けパッド上方
にパッドボンディング用の領域を確保するようにしたも
のを提供する。ボンディング用の領域は、半導体ダイ表
面の上方に位置し、リードフレームのせん断面からは、
封止材側に離れており、しかも封止材で全面が覆われて
いる。従って、繰り返しの温度変化や急激な温度変化に
よるボンディング箇所の破損が防止される。その上、半
導体ダイの表面上方に存在する箇所に対して接続される
ボンディングワイヤに関し、垂れ下がりが防止され、ボ
ンディング中や樹脂封止以前における半導体ダイへの不
所望の接触も防止される。
【0004】本発明に関して表明された技術的利点や目
的は、添付の図面と特許請求の範囲に記載された新規な
構成に関して熟考のうえ、本発明の好適な実施例に関す
る以下の記述を理解することにより明らかになるであろ
う。
的は、添付の図面と特許請求の範囲に記載された新規な
構成に関して熟考のうえ、本発明の好適な実施例に関す
る以下の記述を理解することにより明らかになるであろ
う。
【0005】
【実施例】図1は、半導体ダイが取付けられた半導体ダ
イ用のリードフレームの1部分の透視図である。リード
フレーム10のダイ取付けパッド16上には、半導体ダ
イ11が取付けられている。半導体ダイ11の2側面に
接して、ダイ取付けパッド16の1部分をプレスにより
凸形に迫り上げて形成されたペデスタル12a 、13
a がある。これらのペデスタルを迫り上げるためのブ
リッジ12、13が、ダイ取付けパッド16の1部分か
らプレス加工されて、高くなっており、例えば、半導体
ダイ11の上面11a の高さにペデスタル(12a
、13a )の上面が一致しているか、ペデスタル12
a、13a 上面の方が、僅かに高くなっている。そし
て、ダイ取付けパッド16との関係では、1例としては
、ペデスタル12a 、13a が、ダイ取付けパッド
16よりも約5ミル〜20ミル程度高くなっている。典
型例としては、ペデスタル12a 、13a 上面が、
ダイ取付けパッド16表面の約15ミル上方にある。こ
の寸法は、取付けられる半導体ダイ11の寸法(厚さ)
により異なってくる。
イ用のリードフレームの1部分の透視図である。リード
フレーム10のダイ取付けパッド16上には、半導体ダ
イ11が取付けられている。半導体ダイ11の2側面に
接して、ダイ取付けパッド16の1部分をプレスにより
凸形に迫り上げて形成されたペデスタル12a 、13
a がある。これらのペデスタルを迫り上げるためのブ
リッジ12、13が、ダイ取付けパッド16の1部分か
らプレス加工されて、高くなっており、例えば、半導体
ダイ11の上面11a の高さにペデスタル(12a
、13a )の上面が一致しているか、ペデスタル12
a、13a 上面の方が、僅かに高くなっている。そし
て、ダイ取付けパッド16との関係では、1例としては
、ペデスタル12a 、13a が、ダイ取付けパッド
16よりも約5ミル〜20ミル程度高くなっている。典
型例としては、ペデスタル12a 、13a 上面が、
ダイ取付けパッド16表面の約15ミル上方にある。こ
の寸法は、取付けられる半導体ダイ11の寸法(厚さ)
により異なってくる。
【0006】ペデスタル12a 、13a のプレス加
工では、取付パッド16から、目立って取除かれる金属
部がないので、熱放散面積には、殆んど変りがない。グ
ランドワイヤは、ペデスタル12a 、13a の上面
に対して、ワイヤ14、15によりボンディングされる
。半導体ダイ11上のボンディングパッド19の同類で
あるグランドパッドを取付けパッド16上のペデスタル
12a 、13a に接続することで、半導体ダイ11
と取付けパッド16間の電気的接続が行われる。この場
合、ペデスタル12a 、13a の上面が、ダイ11
の上面11a と同じ高さか、或いは僅かに高くなって
いるので、ワイヤ14、15が垂れ下がって、半導体ダ
イの不所望の箇所に接触することはない。半導体ダイ1
1は、通常の方法で、リードフレームフィンガー17、
18(図示は2本のみ)と連結される。例えば、リード
フレームフィンガー17、18の端部と半導体ダイ11
上のボンディング用パッド19(図2では22)との間
が、ボンディングワイヤ20、22で連結される。
工では、取付パッド16から、目立って取除かれる金属
部がないので、熱放散面積には、殆んど変りがない。グ
ランドワイヤは、ペデスタル12a 、13a の上面
に対して、ワイヤ14、15によりボンディングされる
。半導体ダイ11上のボンディングパッド19の同類で
あるグランドパッドを取付けパッド16上のペデスタル
12a 、13a に接続することで、半導体ダイ11
と取付けパッド16間の電気的接続が行われる。この場
合、ペデスタル12a 、13a の上面が、ダイ11
の上面11a と同じ高さか、或いは僅かに高くなって
いるので、ワイヤ14、15が垂れ下がって、半導体ダ
イの不所望の箇所に接触することはない。半導体ダイ1
1は、通常の方法で、リードフレームフィンガー17、
18(図示は2本のみ)と連結される。例えば、リード
フレームフィンガー17、18の端部と半導体ダイ11
上のボンディング用パッド19(図2では22)との間
が、ボンディングワイヤ20、22で連結される。
【0007】図2は、リードフレームとその上に取付け
られた半導体ダイの関係において、2個の接続用ペデス
タルを実現可能に配置したリードフレームの1例を示す
ものである。リードフレーム20には、ダイ取付けパッ
ド21と、その上に取付けられた半導体ダイ33がある
。ダイ33の両側端には、ダイ取付けパッド21の表面
から迫り上げて形成されたペデスタル23、25がある
。その頂部がペデスタル23、25に形成されたブリッ
ジ、ひいてはダイ取付けパッド21が、ワイヤ24、2
6経由で半導体ダイ33に対して電気的に接続されてい
る。半導体ダイ33上には、リードフレームフィンガー
17に接続されるボンディングパッド22が複数個設け
られている。デバイスが樹脂成形されて封止されるまで
、ダムバ31がリードフレームフィンガーどうしを連結
している。また、リードフレーム付デバイスの全製造工
程が完了するまでは、リードフレーム20が、インデッ
クスストリップ28、34に連結されている。後の工程
で、成形済みのデバイスが、インデックスストリップ2
8、34から切離され、さらに、ダムバも切除される。
られた半導体ダイの関係において、2個の接続用ペデス
タルを実現可能に配置したリードフレームの1例を示す
ものである。リードフレーム20には、ダイ取付けパッ
ド21と、その上に取付けられた半導体ダイ33がある
。ダイ33の両側端には、ダイ取付けパッド21の表面
から迫り上げて形成されたペデスタル23、25がある
。その頂部がペデスタル23、25に形成されたブリッ
ジ、ひいてはダイ取付けパッド21が、ワイヤ24、2
6経由で半導体ダイ33に対して電気的に接続されてい
る。半導体ダイ33上には、リードフレームフィンガー
17に接続されるボンディングパッド22が複数個設け
られている。デバイスが樹脂成形されて封止されるまで
、ダムバ31がリードフレームフィンガーどうしを連結
している。また、リードフレーム付デバイスの全製造工
程が完了するまでは、リードフレーム20が、インデッ
クスストリップ28、34に連結されている。後の工程
で、成形済みのデバイスが、インデックスストリップ2
8、34から切離され、さらに、ダムバも切除される。
【0008】図3は、迫り上げられたペデスタルの側面
図つまり、図2の切断線3−3から見た図であって、半
導体ダイの端面及びペデスタル上面とダイ間の電気的接
続を示す。図示によれば、ペデスタル23が、ダイ取付
けパッド21から一体的に形成されている。半導体ダイ
33は、ボンディングワイヤ24によってペデスタル2
3に接続されている。
図つまり、図2の切断線3−3から見た図であって、半
導体ダイの端面及びペデスタル上面とダイ間の電気的接
続を示す。図示によれば、ペデスタル23が、ダイ取付
けパッド21から一体的に形成されている。半導体ダイ
33は、ボンディングワイヤ24によってペデスタル2
3に接続されている。
【0009】本発明の要点は以下のとおりである。即ち
、迫り上げられたペデスタル12、13が、リードフレ
ームのダイ取付けパッド16上に形成され、そこからワ
イヤ14、15経由で半導体ダイ上のボンディングパッ
ド19、さらには半導体ダイ11に至る間の電気的接続
を形成するのに用いられる。ここでの電気的接続は、製
作済みの半導体デバイスに対する繰り返しの温度変化や
急激な温度変化により発生するせん断力とは無関係にな
っている。このようなせん断力は、通常的には、ワイヤ
14、15の張力を介して半導体ダイ11と該ダイのボ
ンディングパッド19との間のボンディングを破壊する
に至る。
、迫り上げられたペデスタル12、13が、リードフレ
ームのダイ取付けパッド16上に形成され、そこからワ
イヤ14、15経由で半導体ダイ上のボンディングパッ
ド19、さらには半導体ダイ11に至る間の電気的接続
を形成するのに用いられる。ここでの電気的接続は、製
作済みの半導体デバイスに対する繰り返しの温度変化や
急激な温度変化により発生するせん断力とは無関係にな
っている。このようなせん断力は、通常的には、ワイヤ
14、15の張力を介して半導体ダイ11と該ダイのボ
ンディングパッド19との間のボンディングを破壊する
に至る。
【0010】<その他の開示事項>1.リードフレーム
の一部分に形成され、半導体ダイがその上に取付けられ
る金属製のダイ取付パッドと、上記ダイ取付けパッド上
に存在する少なくとも1個の迫り上げられた接続領域と
、上記半導体ダイと上記接続領域との間の電気的接続を
確立するワイヤとを備えて成る半導体装置用リードフレ
ーム。 2.1項の組合せ物において、持ち上げられた接続区域
は、ダイ据置パッド金属を押圧加工して製作される。 3.2項の組合せ物において、持ち上げられた接続区域
はその上面に接続区域を持つペデスタル形状に製作する
。 4.1項の組合せ物において、2個の持ち上げられた接
続区域はダイ据置パッド上に製作される。 5.4項の組合せ物において、2個の持ち上げられた接
続は半導体ダイの互に相対する辺上で行なわれる。 6.1項の組合せ物において、持ち上げられた接続区域
は上面がペデスタル形状である。 7.1項の組合せ物において、ペデスタルの上面はダイ
据置パッドの1面の上より5ミルから20ミルだけ高い
。 8.リードフレームの1部分をプレス成形した金属製ダ
イ据置パッド上に据置かれた半導体ダイと、ダイ据置パ
ッド上に存在するダイパッド金属の少なくとも1つの持
ち上げられた接続区域と、半導体ダイとダイ据置パッド
上に該最低1個の持ち上げられた接続区域との間の電気
的接続用の線と、から構成される、半導体ダイとそれを
据置くダイ据置パッドを持つリードフレームの組合せ物
。 9.8項の組合せ物において、持ち上げられた接続区域
は、ダイ据置パッド金属の押圧加工により製作される。 10.9項の組合せ物において、持ち上げられた接続区
域はその上面に接続区域を有するペデスタル状に製作す
る。 11.8項の組合せ物において、2個の持ち上げられた
接続区域はダイ据置パッド上に製作される。 12.11項の組合せ物において、2個の持ち上げられ
た接続は半導体ダイの互に相対する辺上で行なわれる。 13.8項の組合せ物において、持ち上げられた接続区
域は上面がペデスタル状である。 14.8項の組合せ物において、ペデスタルの上面はダ
イ据置パッドの1面の上より5ミルから20ミルだけ高
い。 15.半導体ダイ据置パッドを持つリードフレームと、
ダイ据置パッドの部分から製作された少なくとも1つの
持ち上げられたペデスタルと、から構成される、ダイ据
置パッドとその上に据置かれた半導体ダイとの相互接続
用の複数のリードフレーム導線を持つリードフレーム。 16.リードフレームダイパッド上に持ち上げられたペ
デスタルを製作し、ボンディング線で持ち上げたペデス
タルと半導体ダイとを接続する、段階で構成される、リ
ードフレームダイ据置パッドと半導体ダイとの間のボン
ディングを行う方法。 17.16項の方法において、ダイ据置パッドの1面の
上にダイ据置パッド材料の1部分を持ち上げるのにダイ
据置パッドを押圧加工によりペデスタルを製作する段階
を含む。 18.16項の方法において、持ち上げられたペデスタ
ルの1面は半導体ダイより高い。
の一部分に形成され、半導体ダイがその上に取付けられ
る金属製のダイ取付パッドと、上記ダイ取付けパッド上
に存在する少なくとも1個の迫り上げられた接続領域と
、上記半導体ダイと上記接続領域との間の電気的接続を
確立するワイヤとを備えて成る半導体装置用リードフレ
ーム。 2.1項の組合せ物において、持ち上げられた接続区域
は、ダイ据置パッド金属を押圧加工して製作される。 3.2項の組合せ物において、持ち上げられた接続区域
はその上面に接続区域を持つペデスタル形状に製作する
。 4.1項の組合せ物において、2個の持ち上げられた接
続区域はダイ据置パッド上に製作される。 5.4項の組合せ物において、2個の持ち上げられた接
続は半導体ダイの互に相対する辺上で行なわれる。 6.1項の組合せ物において、持ち上げられた接続区域
は上面がペデスタル形状である。 7.1項の組合せ物において、ペデスタルの上面はダイ
据置パッドの1面の上より5ミルから20ミルだけ高い
。 8.リードフレームの1部分をプレス成形した金属製ダ
イ据置パッド上に据置かれた半導体ダイと、ダイ据置パ
ッド上に存在するダイパッド金属の少なくとも1つの持
ち上げられた接続区域と、半導体ダイとダイ据置パッド
上に該最低1個の持ち上げられた接続区域との間の電気
的接続用の線と、から構成される、半導体ダイとそれを
据置くダイ据置パッドを持つリードフレームの組合せ物
。 9.8項の組合せ物において、持ち上げられた接続区域
は、ダイ据置パッド金属の押圧加工により製作される。 10.9項の組合せ物において、持ち上げられた接続区
域はその上面に接続区域を有するペデスタル状に製作す
る。 11.8項の組合せ物において、2個の持ち上げられた
接続区域はダイ据置パッド上に製作される。 12.11項の組合せ物において、2個の持ち上げられ
た接続は半導体ダイの互に相対する辺上で行なわれる。 13.8項の組合せ物において、持ち上げられた接続区
域は上面がペデスタル状である。 14.8項の組合せ物において、ペデスタルの上面はダ
イ据置パッドの1面の上より5ミルから20ミルだけ高
い。 15.半導体ダイ据置パッドを持つリードフレームと、
ダイ据置パッドの部分から製作された少なくとも1つの
持ち上げられたペデスタルと、から構成される、ダイ据
置パッドとその上に据置かれた半導体ダイとの相互接続
用の複数のリードフレーム導線を持つリードフレーム。 16.リードフレームダイパッド上に持ち上げられたペ
デスタルを製作し、ボンディング線で持ち上げたペデス
タルと半導体ダイとを接続する、段階で構成される、リ
ードフレームダイ据置パッドと半導体ダイとの間のボン
ディングを行う方法。 17.16項の方法において、ダイ据置パッドの1面の
上にダイ据置パッド材料の1部分を持ち上げるのにダイ
据置パッドを押圧加工によりペデスタルを製作する段階
を含む。 18.16項の方法において、持ち上げられたペデスタ
ルの1面は半導体ダイより高い。
【図1】本発明のリードフレームを透視図的に画いた斜
視図である。
視図である。
【図2】本発明のリードフレームを上から見た上面図で
ある。
ある。
【図3】図2の3−3切断線から見た断面図である。
10、20 リードフレーム
11、33 半導体ダイ
12、13、23、25 ペデスタル14、15、2
4、26 ボンディングワイヤ16、21 ダイ取
付けパッド 17、18 リードフレームフィンガ19、21、2
2 ボンディングパッド20、22 ボンディング
ワイヤ 28 インデックスストリップ 33 ダムバ
4、26 ボンディングワイヤ16、21 ダイ取
付けパッド 17、18 リードフレームフィンガ19、21、2
2 ボンディングパッド20、22 ボンディング
ワイヤ 28 インデックスストリップ 33 ダムバ
Claims (1)
- 【請求項1】 リードフレームの一部分に形成され、
半導体ダイがその上に取付けられる金属製のダイ取付パ
ッドと、上記ダイ取付けパッド上に存在する少なくとも
1個の迫り上げられた接続領域と、上記半導体ダイと上
記接続領域との間の電気的接続を確立するワイヤとを備
えて成る半導体装置用リードフレーム。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US60037090A | 1990-10-18 | 1990-10-18 | |
| US600,370 | 1990-10-18 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04280664A true JPH04280664A (ja) | 1992-10-06 |
Family
ID=24403327
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3298089A Pending JPH04280664A (ja) | 1990-10-18 | 1991-10-18 | 半導体装置用リードフレーム |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5479050A (ja) |
| JP (1) | JPH04280664A (ja) |
| TW (1) | TW333692B (ja) |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE59402033D1 (de) * | 1993-09-30 | 1997-04-17 | Siemens Ag | Zweipoliges SMT-Miniatur-Gehäuse für Halbleiterbauelemente und Verfahren zu dessen Herstellung |
| JP3205235B2 (ja) * | 1995-01-19 | 2001-09-04 | シャープ株式会社 | リードフレーム、樹脂封止型半導体装置、その製造方法及び該製造方法で用いる半導体装置製造用金型 |
| JP3907743B2 (ja) * | 1995-05-11 | 2007-04-18 | ローム株式会社 | 半導体装置 |
| KR0177744B1 (ko) * | 1995-08-14 | 1999-03-20 | 김광호 | 전기적 특성이 향상된 반도체 장치 |
| DE19638667C2 (de) | 1996-09-20 | 2001-05-17 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Mischfarbiges Licht abstrahlendes Halbleiterbauelement mit Lumineszenzkonversionselement |
| DE59713024D1 (de) | 1996-06-26 | 2010-01-28 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Lichtabstrahlender Halbleiterchip und Lichtabstrahlendes Halbleiterbauelement und Verfahren zu dessen Herstellung |
| US5814884C1 (en) | 1996-10-24 | 2002-01-29 | Int Rectifier Corp | Commonly housed diverse semiconductor die |
| US5939775A (en) * | 1996-11-05 | 1999-08-17 | Gcb Technologies, Llc | Leadframe structure and process for packaging intergrated circuits |
| US5859387A (en) * | 1996-11-29 | 1999-01-12 | Allegro Microsystems, Inc. | Semiconductor device leadframe die attach pad having a raised bond pad |
| JP3027954B2 (ja) * | 1997-04-17 | 2000-04-04 | 日本電気株式会社 | 集積回路装置、その製造方法 |
| EP1004145B1 (de) * | 1997-07-29 | 2005-06-01 | Osram Opto Semiconductors GmbH | Optoelektronisches bauelement |
| JP3003638B2 (ja) * | 1997-08-05 | 2000-01-31 | 日本電気株式会社 | 半導体装置、その製造方法 |
| US6211462B1 (en) * | 1998-11-05 | 2001-04-03 | Texas Instruments Incorporated | Low inductance power package for integrated circuits |
| SG92624A1 (en) * | 1999-02-09 | 2002-11-19 | Inst Of Microelectronics | Lead frame for an integrated circuit chip (integrated circuit peripheral support) |
| US6208020B1 (en) * | 1999-02-24 | 2001-03-27 | Matsushita Electronics Corporation | Leadframe for use in manufacturing a resin-molded semiconductor device |
| EP1207554A4 (en) * | 1999-07-02 | 2008-07-02 | Rohm Co Ltd | ELECTRONIC COMPONENT |
| WO2001009953A1 (en) * | 1999-07-30 | 2001-02-08 | Amkor Technology, Inc. | Lead frame with downset die pad |
| JP3913574B2 (ja) * | 2002-02-27 | 2007-05-09 | 三洋電機株式会社 | 半導体装置 |
| DE10247075A1 (de) * | 2002-10-09 | 2004-04-22 | Micronas Gmbh | Trägereinrichtung für monolithisch integrierte Schaltungen |
| CN100431093C (zh) * | 2003-01-03 | 2008-11-05 | 捷敏电子(上海)有限公司 | 用于横向传导装置的高空间效率封装和将横向传导半导体芯片封装到其中的方法 |
| US7215012B2 (en) * | 2003-01-03 | 2007-05-08 | Gem Services, Inc. | Space-efficient package for laterally conducting device |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1982003727A1 (fr) * | 1981-04-21 | 1982-10-28 | Seiichiro Aigoo | Procede de fabrication d'un dispositif a semi-conducteur possedant une electrode saillante plaquee |
| US4649415A (en) * | 1985-01-15 | 1987-03-10 | National Semiconductor Corporation | Semiconductor package with tape mounted die |
| JPS6290953A (ja) * | 1985-10-01 | 1987-04-25 | Fujitsu Ltd | 樹脂封止型半導体装置 |
-
1991
- 1991-10-18 JP JP3298089A patent/JPH04280664A/ja active Pending
-
1994
- 1994-10-11 US US08/321,373 patent/US5479050A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-06-08 TW TW084105792A patent/TW333692B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW333692B (en) | 1998-06-11 |
| US5479050A (en) | 1995-12-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH04280664A (ja) | 半導体装置用リードフレーム | |
| US6175149B1 (en) | Mounting multiple semiconductor dies in a package | |
| US6297547B1 (en) | Mounting multiple semiconductor dies in a package | |
| US4607276A (en) | Tape packages | |
| EP0424530B1 (en) | Resin-sealed semiconductor device | |
| CA1040747A (en) | Integrated circuit package utilizing novel heat sink structure | |
| CA1252912A (en) | Semiconductor package with high density i/o lead connection | |
| JP2599748Y2 (ja) | リード露出型半導体パッケージ | |
| CA2039417C (en) | Molded hybrid ic package and lead frame therefore | |
| KR970067781A (ko) | 반도체 장치와 그의 제조방법 및 집합형 반도체 장치 | |
| US5072280A (en) | Resin sealed semiconductor device | |
| JPH06216266A (ja) | 電子装置パッケージ・アセンブリー | |
| US6291262B1 (en) | Surface mount TO-220 package and process for the manufacture thereof | |
| US4278991A (en) | IC Package with heat sink and minimal cross-sectional area | |
| US6541856B2 (en) | Thermally enhanced high density semiconductor package | |
| JP4530863B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
| JPS6215844A (ja) | 半導体リ−ドフレ−ム | |
| US6169322B1 (en) | Die attach pad adapted to reduce delamination stress and method of using same | |
| JPS63283053A (ja) | 半導体装置のリ−ドフレ−ム | |
| JP2001267484A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
| JP3134445B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
| JPH0735403Y2 (ja) | リードフレーム | |
| JPH0870087A (ja) | リードフレーム | |
| JPH0677284A (ja) | 半導体装置 | |
| JPS63160262A (ja) | リ−ドフレ−ムおよびそれを用いた半導体装置 |