JPH04281207A - 磁気ヘッドの試験装置および研磨装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、ビデオテープレコー
ダ（以下、ＶＴＲと称す）などの磁気記録再生装置の基
本的な性能を決定する重要なデバイスの一つである磁気
ヘッドのギャップ深さ、ギャップ長などの測定や磁気コ
アの割れの有無などの検査の場合に用いられる磁気ヘッ
ドの試験装置および磁気ヘッドのコアを適正な磁化特性
が得られるように研磨する磁気ヘッドの研磨装置に関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】図１６は例えば特開昭６４−１６１１７
８号公報に開示された従来の磁気ヘッドの試験装置の構
成を示すブロック図であり、同図において、１は磁気ヘ
ッドのコア、２は上記コア１を磁化するコイル、３は上
記コイル２に交流電流を流す信号源、４は上記コイル２
に流れる電流波形を測定しディジタルデータに変換する
電流計、５は上記コイル２の両端の電圧波形を測定しデ
ィジタルデータに変換する電圧計である。６はコンピュ
ータで、上記電流計４で測定された電流波形と電圧計５
で測定された電圧波形からコア１の磁化特性を算出する
。

【０００３】つぎに、上記構成の動作について説明する
。電流計４で測定された電流波形をＩ（ｔ）、電圧計５
で測定された電圧波形をＥ（ｔ）とすると、各時刻にお
いてコア１中を流れる磁束Φ（ｔ）とコア１に生じる起
磁力Ｆ（ｔ）とは次式で求められる。

【０００４】

【数１】

【０００５】図１７は、上記の測定結果の一例としての
電流Ｉ（ｔ）、電圧Ｅ（ｔ）、磁束Φ（ｔ）、起磁力Ｆ
（ｔ）の各波形を示し、図１８は起磁力Ｆに対する磁束
Φの磁化特性を示している。

【０００６】図１８に示したような磁化特性の具体的な
応用例として、従来、例えば特開昭６４−１６２２１０
号公報に示されたギャップ深さの測定装置が知られてい
る。これについて、以下、詳しく説明する。図１４は磁
気ヘッドの詳細な構造を示す平面図、図１５は同一部切
り欠き正面図であり、同図において、１０はコイル２を
コア１に巻くための巻線窓、１１はガラス、ｇはギャッ
プ、ｄはギャツプ深さ、ｗはトラック幅である。

【０００７】上記のような構成の磁気ヘッドにおいて、
まず、トラック幅ｗを光学的に測定し、次に、図１８に
示した磁化特性から、ギャツプｇ近傍のコア１が飽和し
たときにギャツプｇを通る磁束を求める。この磁束は、
図１８に示した磁化特性の領域ｂを外挿し縦軸に交わる
点として求められる。領域ｂはギャツプｇを通る磁束が
飽和している部分である。上記ギャツプｇ近傍のコア１
が飽和したときにギャツプｇを通る磁束をΦｓとし、コ
ア１の飽和磁束密度をＢｓとすると、ギャツプ深さｄは
次式で求められる。 ｄ＝（Φｓ／ｗ＋Ｂｓ）

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】従来の磁気ヘッドの試
験装置は以上のように構成されているので、ギャツプ深
さｄを求めるためには、図１８に示した磁化特性曲線を
用いてギャツプｇを通る磁束が飽和している領域ｂを認
識し、この部分を縦軸まで外挿する必要がある。しかし
、この磁化特性はヒステリシスを持っており、一つの変
数に対して二つの関数の値を持つ二価の関数であるため
、コンピュータによる処理がむずかしく、この作業は作
業者が個々に磁化特性曲線のグラフから主観的に判断す
るものであるから、測定データ、つまりは測定精度が作
業者によってばらつき、また測定作業が煩雑で、試験時
間が長くかかるなどの問題点があった。

【０００９】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、磁化特性をコンピュータによっ
て処理して、ギャップ深さなどの評価値を自動的に求め
ることが可能で、操作性よく高精度の測定を行なうこと
ができる磁気ヘッドの試験装置を提供することを目的と
する。

【００１０】また、この発明は磁気ヘッドのコアを研磨
して、適正なギャツプ深さに調整することが容易な磁気
ヘッドの研磨装置を提供することに他の目的を有する。

【００１１】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明に
係る磁気ヘッドの試験装置は、電流波形計測手段により
計測された電流波形と上記電圧波形計測手段により計測
された電圧波形から磁気ヘッドの磁化特性を求めるとと
もに、その磁化特性を近似する一価の関数を求め、その
一価の関数をもとに試験結果を得るように構成したとを
特徴とする。とくに、試験結果として、磁気ヘッドのギ
ャップ深さ、ギャップ長、磁気ヘッドのコアの割れおよ
び磁気ヘッドのコア効率のうちの少なくとも１つを得る
ものである。

【００１２】また、請求項３に記載の発明に係る磁気ヘ
ッドの研磨装置は、上記請求項１の試験装置と、回転ド
ラムに取り付けられた磁気ヘッドのコアを研磨する研磨
テープとを備え、上記磁気ヘッドの試験装置による試験
結果にもとづいて磁気ヘッドのコアの研磨量を制御する
ように構成したことを特徴とする。

【００１３】

【作用】請求項１の発明によれば、磁気ヘッドに巻回さ
れたコイルに交流信号を加えたときにコイルに流れる電
流波形とコイルの両端の電圧波形を計測し、この両波形
から磁気ヘッドの磁化特性を求める。そして、ヒステリ
シスのある上記磁化特性をヒステリスのない一価の関数
で近似することにより、コンピュータによる評価値の計
算が容易かつ精度よくおこなえ、これにより、磁気ヘッ
ドのギャツプ深さ、ギャツプ長の測定やコアの割れの有
無、コア効率の検査などを精度よくおこなうことができ
る。

【００１４】また、請求項３の発明によれば、上記のよ
うな試験結果を入力情報として、磁気ヘッドのコアの研
磨量を自動的に適正、良好に制御することができる。

【００１５】

【実施例】以下、この発明の一実施例を図面にもとづい
て説明する。図１はこの発明の一実施例による磁気ヘッ
ドの試験装置の構成を示すブロック図であり、同図にお
いて、１〜６は図１６に示す従来例と同一であるため、
該当部分に同一の符号を付して、それらの説明を省略す
る。図１において、図１６と相違する点は、信号源３が
コンピュータ６からの制御信号により、その出力信号の
周波数を切り換えできるようになされている点である。

【００１６】つぎに、上記構成の動作について、図２に
示す測定手順のフローチャートを参照しながら説明する
。図１に示すように、磁気ヘッドを接続して、そのコイ
ル２の巻数Ｎをコンピュータ６に入力する（ステップＳ
１）。コンピュータ６は信号源３の出力信号の周波数を
低周波に切り換える。この周波数は、出力信号の周波数
をｆ、コイル２の抵抗成分をＲ、インダクタンス成分を
Ｌとするとき、（２πｆＬ≪Ｒ）となる周波数、例えば
１００Ｈｚを選ぶ（ステップＳ２）。周波数の低い電流
Ｉ（ｔ）をコイル２に流した場合、コイル２の両端の電
圧Ｅ（ｔ）は次式のようになる。 Ｅ（ｔ）＝Ｉ（ｔ）×Ｒ

【００１７】つぎに、コンピュータ６は電流計４および
電圧計５が測定を開始するように制御する。これによっ
て、電流計４および電圧計５が電流波形Ｉ（ｔ）および
電圧波形Ｅ（ｔ）の測定を開始する（ステップＳ３）。 このとき、各測定データの精度を上げるために電流計４
および電圧計５は数１０回のアベレージングを行なった
のち、電流波形データＩ（ｔ）および電圧波形データＥ
（ｔ）をコンピュータ６に送る。この電流波形データＩ
（ｔ）および電圧波形データＥ（ｔ）をうけたコンピュ
ータ６は、それらデータから次式によってコイル２の抵
抗成分Ｒを求める（ステップＳ４）。 Ｒ＝｛Ｅ（ｔ）／Ｉ（ｔ）｝ このようにして、各時刻における抵抗値が得られるので
、それらを平均することにより、精度が向上する。以上
のステップＳ１〜Ｓ４によりコイル２の抵抗成分Ｒを求
める。

【００１８】次に、コンピュータ６は信号源３の出力信
号の周波数ｆを高周波、例えば２５０Ｈｚに切り換える
ことにより、コイル２の両端の電圧Ｅ（ｔ）にコア１中
を流れる磁束Φが影響するようにする（ステップＳ５）
。つぎに、コンピュータ６は電流計４および電圧計５が
測定を開始するように制御する。これによって、電流計
４および電圧計５が電流波形Ｉ（ｔ）および電圧波形Ｅ
（ｔ）の測定を開始する（ステップＳ６）。このとき、
各測定データの精度を上げるために電流計４および電圧
計５は数１０回のアベレージングを行なったのち、電流
波形データＩ（ｔ）および電圧波形データＥ（ｔ）をコ
ンピュータ６に送る。この電流波形データＩ（ｔ）およ
び電圧波形データＥ（ｔ）をうけたコンピュータ６は、
次式によって、各時刻における磁束Φ（ｔ）および起磁
力Ｆ（ｔ）を求める（ステップＳ７）。

【００１９】

【数２】

【００２０】ここで、コイル２の巻数Ｎは事前に入力さ
れており、コイル２の抵抗成分Ｒも上述のように測定さ
れているので、各時刻における磁束Φ（ｔ）および起磁
力Ｆ（ｔ）は決定される。図３は上記の測定結果の一例
としての電流Ｉ（ｔ）、電圧Ｅ（ｔ）、磁束Φ（ｔ）、
起磁力Ｆ（ｔ）の各波形を示し、図４（ａ）は起磁力Ｆ
に対する磁束Φの関係、すなわち磁化特性を示し、この
磁化特性は図４（ａ）からわかるように、ヒステリシス
を持っており、二価の関数である。そして、測定の結果
を表示して（ステップＳ８）、測定を終了する。

【００２１】次に、上記のようにして得られた磁化特性
から磁気ヘッドのギャツプ深さｄを求める処理について
説明する。図５は、その処理のフローチャートを示し、
まず、コンピユータ６において、上記磁化特性を近似す
る図４（ｂ）に示すような一価の関数を求める（ステッ
プＳ１１）。図４（ａ）の特徴を良くみると、磁化特性
が飽和により折れ曲がっている点は、起磁力Ｆ側からみ
れば、ヒステリシスにより明らかに二つに分かれている
が、磁束Φ側からみれば、ヒステリシスがあるにもかか
わらずほぼ同一点である。そこで、ある磁束Φ１に対す
る起磁力Ｆ（Φ１）のヒステリシスによる二つの値を平
均したものを新たな起磁力Ｆ（Φ１）とする。しかし、
上記の計測で得られた磁化特性は時間軸上で離散的に取
り込んだデータをもとに計算したものであるため、起磁
力Ｆ（Φ１）の２つの値を直接得ることはできない。そ
こで、この２つの値に近い測定点のデータで代わりをす
るか、または時間軸上の近い時刻のデータを用いて内挿
するなどの方法が考えられるが、次に示す方法が実用的
な方法の一つである。その方法としては、ある磁束Φ１
に対する起磁力Ｆ（Φ１）の値を測定データ中の次式を
満足する時刻ｔすべてにおける起磁力Ｆ（ｔ）の平均値
を用いる。 Φ１−ΔΦ＜Φ（ｔ）＜Φ１＋ΔΦ ここで、ΔΦは適当に決めた磁束Φの分解能である。こ
のようにして求めた一価の関数を図４（ｂ）に示す。な
お、図４（ｂ）の起磁力Ｆは磁束Φの一価の関数である
と同時に、磁束Φは起磁力Ｆの一価の関数である。

【００２２】次に、コンピュータ６は、図４（ｂ）に示
した磁化特性の近似関数において、磁束Φを起磁力Ｆで
微分（実際は差分）して傾きを求める（ステップＳ１２
）。この結果を図４（ｃ）に示す。図４（ｃ）では、起
磁力Ｆに対する実効的なパーミアンスＰ（磁気抵抗の逆
数）を表しており、起磁力Ｆの絶対値が小さい時は大き
な値を示しているが、起磁力Ｆの絶対値が大きくなると
磁気ヘッドのギャツプｇ近傍のコア１が飽和し実効的な
パーミアンスが低下していることが分かる。このパーミ
アンスＰの値は飽和過程による過渡的な変化のほかは、
未飽和状態の値と飽和状態の値の二つの値で表されてい
る。

【００２３】次に、コンピュータ６は、図４（ｃ）に示
した起磁力Ｆに対する実効的なパーミアンスＰの特性か
ら、未飽和状態と飽和状態の間で飽和が起こり始める起
磁力Ｆｓを求める。まず、図４（ｃ）のパーミアンスＰ
を起磁力Ｆで微分（実際は差分）する（ステップＳ１３
）。この結果を図４（ｄ）に示す。つづいて、図４（ｄ
）の縦軸上（ΔＰ／ΔＦ）で最小値を与える起磁力Ｆを
も求める（ステップＳ１４）。これが上記の未飽和状態
と飽和状態の間で飽和が起こり始める起磁力Ｆｓである
。

【００２４】図６は、上記の図４（ｂ）に示した磁化特
性の近似関数に上記の処理によって得られたところの、
ギャップｇ近傍のコア１の飽和が起こり始める起磁力Ｆ
ｓを示す。コンピュータ６はこのＦｓから、測定した起
磁力の最大値Ｆｍまでのデータをもとに最小自乗法を用
いてこの部分を次に示す一次式で近似する。 Φ＝Ａ×Ｆ＋Ｂ 最小自乗法により上式のＡとＢが決定される（ステップ
Ｓ１５）。このＡは飽和部分のパーミアンスＰを示して
おり、またＢはギャツプｇ近傍のコア１が飽和したとき
にギャツプｇを通る磁束Φｓを示している。このように
してΦｓを求めることができる。なお、上記の説明では
、図６の第１象限について計算したが、第３象限でも同
様の計算ができ、第１象限および第３象限での計算結果
を平均することにより、精度を向上することができる。

【００２５】このようにして、ギャツプｇ近傍のコア１
が飽和したときにギャツプｇを通る磁束Φｓを求めれば
、従来例で示したように、ギャツプ深さを求めることが
できる。コンピュータ６においては、上記Φｓと、光学
的に測定したトラック幅ｗと、磁気ヘッドの飽和磁束密
度Ｂｓから次式によってギャツプ深さｄを求める。 ｄ＝Φｓ／ｗ×Ｂｓ

【００２６】以上のように、すべての処理をコンピュー
タ６を介して機械的におこなうので、作業者による主観
的な判断は不要となり、操作性が容易でありながら、測
定にばらつきがなく、精度良くギャツプ深さｄを測定す
ることができる。

【００２７】なお、上記実施例では、磁化特性を測定し
たのち、磁化特性を近似する一価の関数を求め、この一
価の関数の傾きをもとにギャツプｇを通る磁束が飽和し
ている部分を判断し、この部分に対して最小自乗法を用
いてΦｓを求めたが、他の方法、例えば、図７に示すフ
ローチャートのような処理で求めてもよい。この図７に
示す方法は、ステップＳ２２で図４（ｃ）に示したパー
ミアンスを求めるステップまでは上記実施例の場合と同
じである。ついで、図４（ｃ）の特性からギャツプｇ近
傍のコア１が飽和したときのパーミアンスＰｓを求める
（ステップＳ２３）。図４（ｃ）の特性とパーミアンス
Ｐｓの関係は図８に示す通りである。この図８における
斜線の部分の面積がΦｓであり、次式で表される。コン
ピュータ６は、この式でΦｓを求める。

【００２８】

【数３】

【００２９】ただし、Ｆｍは測定した起磁力Ｆの最大値
である。次式で求めると、さらに精度が向上する。

【００３０】

【数４】

【００３１】また、上記実施例では、電流波形Ｉ（ｔ）
を求めるための手段として、電流計４を使用したもので
示したが、他の方法で電流を求めてもよい。例えば、図
９に示すように、磁気ヘッドのコイル２と信号源３との
間にＺオームの抵抗７を設け、コイル２の両端の電圧波
形Ｅａ（ｔ）を電圧計５ａで測定する一方、コイル２と
Ｚオームの抵抗７の両端の電圧波形Ｅｂ（ｔ）を別の電
圧計５ｂで測定し、これからコイル２に流れる電流Ｉ（
ｔ）を次式により求めるようにしてもよい。 Ｉ（ｔ）＝｛Ｅｂ（ｔ）−Ｅａ（ｔ）／Ｚ｝この場合は
、電流計４が不要になるとともに、２つの電圧計５ａ，
５ｂのアースを共通にできるため、精度のよい測定を容
易に実行することができるという効果を奏する。

【００３２】また、電流計４を使用しないで電流Ｉ（ｔ
）を求めるもう１つの方法として、図１０に示すような
方法もある。すなわち、磁気ヘッドのコイル２と信号源
３との間にＺオームの抵抗７を設け、コイル２の両端の
電圧およびコイル２と抵抗７の両端の電圧とをスイッチ
８で切替えて１つの電圧計５で交互に測定し、それら電
圧波形をＥａ（ｔ）およびＥｂ（ｔ）として、コイル２
に流れる電流Ｉ（ｔ）を次式により求めるようにしても
よい。 Ｉ（ｔ）＝｛Ｅｂ（ｔ）−Ｅａ（ｔ）／Ｚ｝この場合も
、電流計４が不要になるとともに、１つの電圧計５だけ
を用いて精度のよい測定を容易に実行することができる
という効果を奏する。

【００３３】また、上記実施例では、磁気ヘッドのギャ
ツプ深さｄの測定について説明したが、これ以外に磁気
ヘッドのギャツプ長の測定や磁気ヘッドのコアの割れの
検出などに適用してもよい。例えば、磁気ヘッドのギャ
ツプ長とギャツプを通る磁束が飽和する起磁力Ｆｓとの
間には図１１に示すような関係があるので、上記のよう
にして起磁力Ｆｓを求めることにより、磁気ヘッドのギ
ャツプ長を容易に測定することができる。また、磁気ヘ
ッドのコア１に図１２に示すようなクラック９が発生す
ると、上記起磁力Ｆｓの値が大きくなるので、起磁力Ｆ
ｓを求めることにより、磁気ヘッドのコア１の割れを容
易に検出することができる。さらにまた、上記起磁力Ｆ
ｓから磁気ヘッドのコア効率を求めることも可能である
。このコア効率ηは次式で表される。 η＝Ｂｓ×Ｇｌ／μ０×Ｆｓ ただし、Ｂｓはコアの飽和磁束密度、Ｇｌはギャツプ長
、μ０は真空の透磁率である。

【００３４】図１３は他の発明である磁気ヘッドの研磨
装置の構成を示すブロック図であり、同図において、３
０はギャツプ深さ測定装置で、上記図１の実施例に示す
構成と同一の構成、すなわち、磁気ヘッドのコイル２に
交流電流を流す信号源３、コイル２に流れる電流波形を
測定する電流計４、コイル２の両端の電圧波形を測定す
る電圧計５、および電流波形と電圧波形からコア１の磁
化特性を計算するコンピュータ６とからなる。２１は磁
気ヘッドのコア１をヘッドベース２０を介して取り付け
た回転ドラム、２４は磁気ヘッドのコア１を研磨する研
磨テープ、２２，２３はコイル２と磁気ヘッドのコア１
とを電気的に接続するスリップリングおよびブラシであ
る。

【００３５】このような構成の磁気ヘッドの研磨装置に
よれば、研磨テープ２４を介して磁気ヘッドのコア１を
研磨仕上げしているとき、上述した原理でギャツプ深さ
ｄを常時測定し、その測定値が予め設定されている所定
の値になったとき、コンピュータ６からの制御信号にも
とづいて研磨を自動的に停止させることによって、ギャ
ツプ深さｄが適正な状態での研磨仕上げを確実、容易に
実現し、性能のよい磁気ヘッドを生産することができる
。

【００３６】また、上記実施例の磁気ヘッドのギャツプ
深さ測定装置を磁気記録再生装置に内蔵し、磁気ヘッド
のギャツプ深さがある規格値より小さくなったときに磁
気ヘッドの交換を喚起する警告を発するように構成すれ
ば、磨耗による磁気ヘッドの交換時期を適正なものとで
き、磁気記録再生装置の安全で経済的な保守が可能とな
る。同様に、上記した磁気ヘッドのコア効率測定装置を
磁気記録再生装置に内蔵し、磁気ヘッドのコア効率に応
じて記録電流を調整するように構成すれば、磨耗によっ
て磁気ヘッドのコア効率が変わっても、最適な記録をお
こなえる効果を奏する。

【００３７】さらに、上記実施例では、２５０ＫＨｚの
周波数で磁化特性を測定したが、他の周波数、例えば１
００ＫＨｚ、１ＭＨｚ、１０ＭＨｚなどであってもよい
。

【００３８】

【発明の効果】以上のように、請求項１の発明によれば
、ヒステリシスのある磁化特性を一価の関数で近似する
ことにより、すべてのデータ処理をコンピュータで行わ
せることが容易となり、したがって、操作性良く、しか
も精度良く所定の試験を実行することができる。また、
試験のかかるコストも低減することができる。

【００３９】また、請求項３の発明によれば、高精度な
試験結果をもとにして磁気ヘッドのコアの研磨を制御す
ることができるので、ギャツプ深さなどの面において非
常に精度の高い、かつ性能の良い磁気ヘッドを確実に生
産することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例による磁気ヘッドの試験装
置の構成を示すブロック図である。

【図２】測定手順を説明するフローチャートである。

【図３】測定データの信号波形図である。

【図４】測定データの特性図である。

【図５】コンピュータによる計算処理内容を説明するフ
ローチャートである。

【図６】図５による計算処理内容を説明する特性図であ
る。

【図７】他の実施例による計算処理内容を説明するフロ
ーチャートである。

【図８】図７による計算処理内容を説明するための特性
図である。

【図９】この発明の他の実施例による磁気ヘッドの試験
装置の構成を示すブロック図である。

【図１０】この発明のもう１つの実施例による磁気ヘッ
ドの試験装置の構成を示すブロック図である。

【図１１】磁気ヘッドのギャツプ長測定装置の原理を説
明する特性図である。

【図１２】磁気ヘッドのコアの割れ検出を説明するため
の磁気ヘッドの平面図である。

【図１３】他の発明の一実施例である磁気ヘッドの研磨
装置の構成を示すブロック図である。

【図１４】磁気ヘッドの構造を示す平面図である。

【図１５】磁気ヘッドの構造を示す一部切り欠き正面図
である。

【図１６】従来の磁気ヘッドの試験装置の構成を示すブ
ロック図である。

【図１７】従来の磁気ヘッドの試験装置によって測定さ
れたデータを示す信号波形図である。

【図１８】従来の磁気ヘッドの試験装置によって測定さ
れたデータを示す特性図である。

【符号の説明】

１　　コア ２　　コイル ３　　信号源 ４　　電流計 ５　　電圧計 ６　　コンピュータ ２１　　回転ドラム ２４　　研磨テープ

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　磁気ヘッドに巻回されたコイルに交流
   信号を加える信号源と、この交流信号を加えたときに上
   記コイルに流れる電流波形を計測する電流波形計測手段
   と、上記コイルの両端の電圧波形を計測する電圧波形計
   測手段と、計測された電流波形および電圧波形を演算す
   る演算手段とを備えた磁気ヘッドの試験装置であって、
   上記電流波形計測手段により計測された電流波形と上記
   電圧波形計測手段により計測された電圧波形から磁気ヘ
   ッドの磁化特性を求める手段と、その磁化特性を近似す
   る一価の関数を求める手段とを備え、その一価の関数を
   もとに試験結果を得るように構成したことを特徴とする
   磁気ヘッドの試験装置。
2. 【請求項２】　　上記試験結果として、磁気ヘッドのギ
   ャッブ深さ、ギャップ長、磁気ヘッドのコアの割れおよ
   び磁気ヘッドのコア効率のうちの少なくとも１つを得る
   ものである請求項１の磁気ヘッドの試験装置。
3. 【請求項３】　　請求項１記載の磁気ヘッドの試験装置
   と、磁気ヘッドを取り付ける回転ドラムと、磁気ヘッド
   のコアに相対的に摺動してコアを研磨する研磨テープと
   を備え、上記磁気ヘッドの試験装置による試験結果にも
   とづいて磁気ヘッドのコアの研磨量を制御するように構
   成したことを特徴とする磁気ヘッドの研磨装置。