JPH04283661A - 超音波探傷方法 - Google Patents
超音波探傷方法Info
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- JPH04283661A JPH04283661A JP3047013A JP4701391A JPH04283661A JP H04283661 A JPH04283661 A JP H04283661A JP 3047013 A JP3047013 A JP 3047013A JP 4701391 A JP4701391 A JP 4701391A JP H04283661 A JPH04283661 A JP H04283661A
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 62
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/07—Analysing solids by measuring propagation velocity or propagation time of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02854—Length, thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は摩擦圧接面といった接合
面上の傷有無を超音波探査する方法に関するものである
。
面上の傷有無を超音波探査する方法に関するものである
。
【0002】
【従来の技術】超音波探傷方法としては特開昭62−7
0754号公報、特開昭62−82351号公報及び特
開昭63−58254号公報に開示されるものがある。 特開昭62−70754号公報の方法では、正常と見な
される接合面からの超音波反射波の検出値を予め基準値
として設定しておき、この基準値と検査対象接合面から
の反射波検出値との比較に基づいて検査対象接合面にお
ける傷有無判定が行われている。
0754号公報、特開昭62−82351号公報及び特
開昭63−58254号公報に開示されるものがある。 特開昭62−70754号公報の方法では、正常と見な
される接合面からの超音波反射波の検出値を予め基準値
として設定しておき、この基準値と検査対象接合面から
の反射波検出値との比較に基づいて検査対象接合面にお
ける傷有無判定が行われている。
【0003】特開昭62−82351号公報では、溶接
線に沿って超音波探傷走査を行なって傷有無を検出し、
傷有を検出した場合には傷有部位を溶接線と直交する方
向へ超音波探傷走査を行なうという2段階走査方式が採
用されている。最初の超音波探傷は単なる傷有無検出の
ために比較的粗く行われ、傷有発見後の超音波探傷は傷
の形状、大きさの検出のために精密に行われる。従って
、このような2段階走査方式では最初の超音波探傷の走
査速度を大きくすることによって探傷時間の短縮化を図
ることができる。
線に沿って超音波探傷走査を行なって傷有無を検出し、
傷有を検出した場合には傷有部位を溶接線と直交する方
向へ超音波探傷走査を行なうという2段階走査方式が採
用されている。最初の超音波探傷は単なる傷有無検出の
ために比較的粗く行われ、傷有発見後の超音波探傷は傷
の形状、大きさの検出のために精密に行われる。従って
、このような2段階走査方式では最初の超音波探傷の走
査速度を大きくすることによって探傷時間の短縮化を図
ることができる。
【0004】特開昭63−58254号公報では、接合
面と超音波探触子との距離を切り換え変位し、単なる傷
有無検出の場合には接合面における超音波ビーム径を大
きくし、傷有検出後の傷の形状、大きさ等の精密検査の
場合には接合面における超音波ビーム径を絞る2段階探
傷方式が採用されている。この探傷方式においても最初
の超音波探傷の走査速度を大きくすることによって探傷
時間の短縮化を図ることができる。
面と超音波探触子との距離を切り換え変位し、単なる傷
有無検出の場合には接合面における超音波ビーム径を大
きくし、傷有検出後の傷の形状、大きさ等の精密検査の
場合には接合面における超音波ビーム径を絞る2段階探
傷方式が採用されている。この探傷方式においても最初
の超音波探傷の走査速度を大きくすることによって探傷
時間の短縮化を図ることができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】超音波探傷では粗くあ
るいは精密に行なうにしてもその探傷時間は探査領域の
大きさ程度に左右され、本来必要とされる探傷領域以外
の領域をも探傷することは大きな時間的損失に繋がる。 そのため、探傷不要な領域を可及的に除外した探傷開始
位置を特定することは探傷時間の短縮化を図る上で重要
であるが、前記各従来公報のいずれにおいてもこのよう
な探傷開始位置の特定方法は何ら開示されていない。そ
のため、必要な探傷領域を洩れなく探傷するために実際
の探傷領域を探傷必要領域よりも大きく設定せざるを得
ず、効果的な探傷時間短縮を達成することができない。
るいは精密に行なうにしてもその探傷時間は探査領域の
大きさ程度に左右され、本来必要とされる探傷領域以外
の領域をも探傷することは大きな時間的損失に繋がる。 そのため、探傷不要な領域を可及的に除外した探傷開始
位置を特定することは探傷時間の短縮化を図る上で重要
であるが、前記各従来公報のいずれにおいてもこのよう
な探傷開始位置の特定方法は何ら開示されていない。そ
のため、必要な探傷領域を洩れなく探傷するために実際
の探傷領域を探傷必要領域よりも大きく設定せざるを得
ず、効果的な探傷時間短縮を達成することができない。
【0006】本発明は実際の探傷領域から探傷不要領域
を極力排除するための探傷開始位置特定を可能とする超
音波探傷方法を提供することを目的とするものである。
を極力排除するための探傷開始位置特定を可能とする超
音波探傷方法を提供することを目的とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】そのために第1の発明で
は、接合面を識別し得るように超音波探傷装置の接合面
識別用ゲインを設定すると共に、該接合面識別用ゲイン
を用いた接合面の探査情報に基づいて接合面の境界を特
定し、接合面上の探傷を行なうために超音波探傷装置の
ゲインを探傷用ゲインに再設定し、該探傷用ゲインを用
いた接合面の探傷を前記境界から行なうようにした。
は、接合面を識別し得るように超音波探傷装置の接合面
識別用ゲインを設定すると共に、該接合面識別用ゲイン
を用いた接合面の探査情報に基づいて接合面の境界を特
定し、接合面上の探傷を行なうために超音波探傷装置の
ゲインを探傷用ゲインに再設定し、該探傷用ゲインを用
いた接合面の探傷を前記境界から行なうようにした。
【0008】第2の発明では、接合面を識別し得るよう
に超音波探傷装置の接合面識別用ゲインを設定し、該接
合面識別用ゲインを用いた接合面の探査情報に基づいて
超音波探触子の位置を把握すると共に、この位置把握結
果に基づいて超音波探触子の探傷開始位置を特定し、接
合面上の探傷を行なうために超音波探傷装置のゲインを
探傷用ゲインに再設定すると共に、前記特定された探傷
開始位置へ超音波探触子を移動し、探傷用ゲインを用い
た接合面の探傷を前記探傷開始位置から行なうようにし
た。
に超音波探傷装置の接合面識別用ゲインを設定し、該接
合面識別用ゲインを用いた接合面の探査情報に基づいて
超音波探触子の位置を把握すると共に、この位置把握結
果に基づいて超音波探触子の探傷開始位置を特定し、接
合面上の探傷を行なうために超音波探傷装置のゲインを
探傷用ゲインに再設定すると共に、前記特定された探傷
開始位置へ超音波探触子を移動し、探傷用ゲインを用い
た接合面の探傷を前記探傷開始位置から行なうようにし
た。
【0009】
【作用】正常と見なされる接合面を超音波探査で識別し
得るゲイン設定状態では、探触子が接合面を探査し得る
位置にあれば接合面からの反射波を拾うことができる。 従って、超音波走査経路が接合面の境界を通過すること
によって接合面の境界が把握され、この境界把握によっ
て探傷時間短縮をもたらすための探傷開始位置の特定が
行われる。
得るゲイン設定状態では、探触子が接合面を探査し得る
位置にあれば接合面からの反射波を拾うことができる。 従って、超音波走査経路が接合面の境界を通過すること
によって接合面の境界が把握され、この境界把握によっ
て探傷時間短縮をもたらすための探傷開始位置の特定が
行われる。
【0010】一対の棒材の端面同士を摩擦圧接した接合
面の探傷では、探触子が接合面を探査し得る位置にあれ
ば接合面と探触子との位置関係が棒材の径及び超音波入
射角に基づいて把握することができ、この位置関係把握
結果に基づいて接合面の周縁位置、即ち接合面の境界を
算出特定することができる。
面の探傷では、探触子が接合面を探査し得る位置にあれ
ば接合面と探触子との位置関係が棒材の径及び超音波入
射角に基づいて把握することができ、この位置関係把握
結果に基づいて接合面の周縁位置、即ち接合面の境界を
算出特定することができる。
【0011】
【実施例】以下、本発明を具体化した一実施例を図1〜
図3及び図5〜図8に基づいて説明する。1は支持基台
であり、支持基台1の一側部にはワーク回転装置2が組
み込まれていると共に、他側部にはタレット往復台3が
設置されている。タレット往復台3はハンドル4の回動
操作によってワーク回転装置2に対する接離方向へ位置
調整可能である。摩擦圧接された丸棒状のワークWはワ
ーク回転装置2のチャック2aとタレット往復台3上の
タレット3aとの間に回転中心の芯出しをして架設支持
され、ワーク回転装置2の作動によってワークWがチャ
ック2aとタレット3aとの間で回転する。
図3及び図5〜図8に基づいて説明する。1は支持基台
であり、支持基台1の一側部にはワーク回転装置2が組
み込まれていると共に、他側部にはタレット往復台3が
設置されている。タレット往復台3はハンドル4の回動
操作によってワーク回転装置2に対する接離方向へ位置
調整可能である。摩擦圧接された丸棒状のワークWはワ
ーク回転装置2のチャック2aとタレット往復台3上の
タレット3aとの間に回転中心の芯出しをして架設支持
され、ワーク回転装置2の作動によってワークWがチャ
ック2aとタレット3aとの間で回転する。
【0012】ワーク回転装置2側には制御コンピュータ
C1 が組み込まれており、ワーク回転装置2が制御コ
ンピュータC1 の指令制御を受ける。又、ワーク回転
装置2側には操作器18が組付けられており、制御コン
ピュータC1 は操作器18の入力操作によって設定さ
れる回転速度でもってワーク回転装置2をフィードバッ
ク制御する。
C1 が組み込まれており、ワーク回転装置2が制御コ
ンピュータC1 の指令制御を受ける。又、ワーク回転
装置2側には操作器18が組付けられており、制御コン
ピュータC1 は操作器18の入力操作によって設定さ
れる回転速度でもってワーク回転装置2をフィードバッ
ク制御する。
【0013】ワーク回転装置2の組み込み部とタレット
往復台3の設置部との間にはねじ軸5が回転不能に架設
支持されており、ねじ軸5の側方にはガイドレール6が
並設されている。ねじ軸5には補助台7が螺合支持され
ていると共に、ガイドレール6にスライド可能に嵌合支
持されている。補助台7にはモータ8が取り付けられて
おり、補助台7がモータ8の作動によってねじ軸5との
螺合位置を変えながらガイドレール6上をスライド変位
可能である。
往復台3の設置部との間にはねじ軸5が回転不能に架設
支持されており、ねじ軸5の側方にはガイドレール6が
並設されている。ねじ軸5には補助台7が螺合支持され
ていると共に、ガイドレール6にスライド可能に嵌合支
持されている。補助台7にはモータ8が取り付けられて
おり、補助台7がモータ8の作動によってねじ軸5との
螺合位置を変えながらガイドレール6上をスライド変位
可能である。
【0014】補助台7上にはモータ9が装着されており
、その駆動ねじ9aには取り付けブラケット10が螺合
支持されている。取り付けブラケット10には発信側超
音波探触子11A及び受信側超音波探触子11Bが取り
付けられており、発信側超音波探触子11Aからの超音
波ビームが受信側超音波探触子11Bによって受信され
る。図2に矢印Pで示すように超音波ビームはワークW
の中心軸Qに対して角度θをなすように設定されており
、ワークWの半径方向への両超音波探触子11A,11
Bの間隔がワークWの径Dに設定されている。
、その駆動ねじ9aには取り付けブラケット10が螺合
支持されている。取り付けブラケット10には発信側超
音波探触子11A及び受信側超音波探触子11Bが取り
付けられており、発信側超音波探触子11Aからの超音
波ビームが受信側超音波探触子11Bによって受信され
る。図2に矢印Pで示すように超音波ビームはワークW
の中心軸Qに対して角度θをなすように設定されており
、ワークWの半径方向への両超音波探触子11A,11
Bの間隔がワークWの径Dに設定されている。
【0015】支持基台1の近くにはオイルタンク12が
設置されており、オイルタンク12には2本のオイル供
給チューブ13,14が電磁弁15,16を介して接続
されている。一方の供給チューブ13は発信側超音波探
触子11Aに接続されており、他方の供給チューブ14
は受信側超音波探触子11Bに接続されている。両チュ
ーブ13,14から供給されるオイルは超音波探触子1
1A,11BとワークW周面との空隙を充填し、空気層
の存在による超音波探傷誤検出を防止する。超音波探触
子11A,11BとワークW周面との間から洩れ出るオ
イルは支持基台1に設けられた回収層1aに滴下回収さ
れる。
設置されており、オイルタンク12には2本のオイル供
給チューブ13,14が電磁弁15,16を介して接続
されている。一方の供給チューブ13は発信側超音波探
触子11Aに接続されており、他方の供給チューブ14
は受信側超音波探触子11Bに接続されている。両チュ
ーブ13,14から供給されるオイルは超音波探触子1
1A,11BとワークW周面との空隙を充填し、空気層
の存在による超音波探傷誤検出を防止する。超音波探触
子11A,11BとワークW周面との間から洩れ出るオ
イルは支持基台1に設けられた回収層1aに滴下回収さ
れる。
【0016】支持基台1の近くには制御装置17が設置
されており、その前面には操作器17a及び表示装置1
7bが組付けられている。制御装置17内の制御コンピ
ュータC2 は図5に示すように制御コンピュータC1
と接続しており、両制御コンピュータC1 ,C2
間の情報伝達が図6〜図8のフローチャートで示す超音
波探傷プロクラムに基づいて遂行される。
されており、その前面には操作器17a及び表示装置1
7bが組付けられている。制御装置17内の制御コンピ
ュータC2 は図5に示すように制御コンピュータC1
と接続しており、両制御コンピュータC1 ,C2
間の情報伝達が図6〜図8のフローチャートで示す超音
波探傷プロクラムに基づいて遂行される。
【0017】制御コンピュータC1 は探傷プログラム
及び操作器18の入力操作によって設定されるワーク回
転装置2の回転速度情報に基づいてワーク回転装置2を
制御する。モータ8,9、超音波探触子11A,11B
及び電磁弁15,16は制御コンピュータC2 に接続
されており、制御コンピュータC2 は探傷プログラム
、超音波ビームの入射角θ、ワーク径D、ワークWを伝
搬する音速情報及びモータ8,9の回転速度情報に基づ
いてモータ8,9及び電磁弁15,16を制御する。入
射角θ、ワーク径D、ワークWを伝搬する音速情報及び
モータ8,9の回転速度情報は操作器17aの入力操作
によって制御コンピュータC2 に入力設定される。
及び操作器18の入力操作によって設定されるワーク回
転装置2の回転速度情報に基づいてワーク回転装置2を
制御する。モータ8,9、超音波探触子11A,11B
及び電磁弁15,16は制御コンピュータC2 に接続
されており、制御コンピュータC2 は探傷プログラム
、超音波ビームの入射角θ、ワーク径D、ワークWを伝
搬する音速情報及びモータ8,9の回転速度情報に基づ
いてモータ8,9及び電磁弁15,16を制御する。入
射角θ、ワーク径D、ワークWを伝搬する音速情報及び
モータ8,9の回転速度情報は操作器17aの入力操作
によって制御コンピュータC2 に入力設定される。
【0018】チャック2aとタレット3aとの間にワー
クWを装着した後、操作器17a上のスイッチ17cを
ON操作すればモータ8が正転作動し、超音波探触子1
1A,11Bが図1の実線で示す待機位置から鎖線で示
す探傷位置へ前進する。図2に示すように超音波探触子
11Aが接合面Sの右側、超音波探触子11Bが接合面
Sの左側に位置するように補助台7の初期位置X1 が
予め設定されており、探傷位置上の超音波探触子11A
から発信される超音波ビームPは接合面Sと交差する。
クWを装着した後、操作器17a上のスイッチ17cを
ON操作すればモータ8が正転作動し、超音波探触子1
1A,11Bが図1の実線で示す待機位置から鎖線で示
す探傷位置へ前進する。図2に示すように超音波探触子
11Aが接合面Sの右側、超音波探触子11Bが接合面
Sの左側に位置するように補助台7の初期位置X1 が
予め設定されており、探傷位置上の超音波探触子11A
から発信される超音波ビームPは接合面Sと交差する。
【0019】超音波探触子11A,11Bが探傷位置に
配置された後、電磁弁15,16が励磁され、供給チュ
ーブ13,14からオイルが供給される。このオイル供
給状態のもとに超音波探触子11Aが発振し、超音波ビ
ームPが投射される。超音波ビームPは接合面Sを通過
し、超音波探触子11Bによって受信される。制御コン
ピュータC2 はこの検出情報を表示装置17bに出力
表示する。作業者がこの表示情報に基づいて操作器17
aによってゲインの入力操作を行えば、制御コンピュー
タC2 は入力されたゲインG1 を設定する。このゲ
インG1 は接合面Sを識別し得るレベルでもって設定
される。
配置された後、電磁弁15,16が励磁され、供給チュ
ーブ13,14からオイルが供給される。このオイル供
給状態のもとに超音波探触子11Aが発振し、超音波ビ
ームPが投射される。超音波ビームPは接合面Sを通過
し、超音波探触子11Bによって受信される。制御コン
ピュータC2 はこの検出情報を表示装置17bに出力
表示する。作業者がこの表示情報に基づいて操作器17
aによってゲインの入力操作を行えば、制御コンピュー
タC2 は入力されたゲインG1 を設定する。このゲ
インG1 は接合面Sを識別し得るレベルでもって設定
される。
【0020】ゲインG1 の設定後、操作器17a上の
スタートスイッチ17dをON操作すれば、制御コンピ
ュータC2 は超音波探触子11Bからの検出情報に基
づいて図2に示す距離L1 ,L2 ,L3 を算出す
る。距離L1 は超音波ビームPと接合面Sとの交点と
、超音波探触子11Aとの距離を表し、距離L2 ,L
3 は接合面Sを超音波探傷するための超音波探触子1
1A,11Bの移動距離を表す。
スタートスイッチ17dをON操作すれば、制御コンピ
ュータC2 は超音波探触子11Bからの検出情報に基
づいて図2に示す距離L1 ,L2 ,L3 を算出す
る。距離L1 は超音波ビームPと接合面Sとの交点と
、超音波探触子11Aとの距離を表し、距離L2 ,L
3 は接合面Sを超音波探傷するための超音波探触子1
1A,11Bの移動距離を表す。
【0021】距離L1 は接合面識別用ゲインG1 で
もって得られる接合面検出波の時間情報及び前記音速情
報に基づいて算出される。距離L2 は次式(1)によ
って算出される。 L2 =D/ tanθ−L1 ・ cos
θ+δ ・・・(1)距離
L3 は次式(2)によって算出される。
もって得られる接合面検出波の時間情報及び前記音速情
報に基づいて算出される。距離L2 は次式(1)によ
って算出される。 L2 =D/ tanθ−L1 ・ cos
θ+δ ・・・(1)距離
L3 は次式(2)によって算出される。
【0022】
L3 =L2 +(L1 ・ cosθ−D
/2 tanθ)+δ ・・・(2)距離L1 ,L
2 ,L3 の算出後、モータ8が高速で正転作動し、
超音波探触子11A,11Bが図2の初期位置X1 か
ら算出された距離L2 だけ移動する。超音波探触子1
1A,11Bはこの移動によって図3の位置X2 へ速
やかに到達停止する。
/2 tanθ)+δ ・・・(2)距離L1 ,L
2 ,L3 の算出後、モータ8が高速で正転作動し、
超音波探触子11A,11Bが図2の初期位置X1 か
ら算出された距離L2 だけ移動する。超音波探触子1
1A,11Bはこの移動によって図3の位置X2 へ速
やかに到達停止する。
【0023】超音波探触子11A,11Bが距離L2
だけ移動して停止した後、ゲインの再設定を行なうが、
このゲインG2 は接合面S上の探傷を行ない得るレベ
ルに設定される。探傷用ゲインG2 の設定後、スター
トスイッチ17dをON操作すればワーク回転装置2が
作動すると共に、モータ8が低速で逆転作動し、超音波
探触子11A,11Bが図3の実線位置から左側に向け
て距離L3 だけ低速移動する。この低速移動によって
超音波ビームPが中心軸Qを中心に回転する接合面Sを
走査してゆき、探傷用ゲインG2 を用いた探傷情報が
表示装置17b上に出力表示される。即ち、図3の超音
波探触子11A,11Bの位置X2 は探傷開始位置と
なる。作業者は表示装置17b上に出力表示される探傷
情報に基づいて品質判定を行えばよい。超音波探触子1
1A,11Bはこの移動によって図3の左側の鎖線位置
へ到達停止し、ワーク回転装置2も作動停止する。即ち
、位置X3 は探傷終了位置となる。
だけ移動して停止した後、ゲインの再設定を行なうが、
このゲインG2 は接合面S上の探傷を行ない得るレベ
ルに設定される。探傷用ゲインG2 の設定後、スター
トスイッチ17dをON操作すればワーク回転装置2が
作動すると共に、モータ8が低速で逆転作動し、超音波
探触子11A,11Bが図3の実線位置から左側に向け
て距離L3 だけ低速移動する。この低速移動によって
超音波ビームPが中心軸Qを中心に回転する接合面Sを
走査してゆき、探傷用ゲインG2 を用いた探傷情報が
表示装置17b上に出力表示される。即ち、図3の超音
波探触子11A,11Bの位置X2 は探傷開始位置と
なる。作業者は表示装置17b上に出力表示される探傷
情報に基づいて品質判定を行えばよい。超音波探触子1
1A,11Bはこの移動によって図3の左側の鎖線位置
へ到達停止し、ワーク回転装置2も作動停止する。即ち
、位置X3 は探傷終了位置となる。
【0024】接合面Sの周縁S1 は接合面Sの境界で
あり、ワーク回転装置2によって中心軸Qを中心に回転
させられるワークWの接合面Sを探傷するには超音波ビ
ームPは接合面S上の中心軸位置Q1 と周縁S1とを
結ぶ経路、即ちワークWの半径を走査すればよい。周縁
S1 を探査するための位置へ図2の位置にある超音波
探触子11A,11Bを移動する距離L4 は式(3)
で表される。
あり、ワーク回転装置2によって中心軸Qを中心に回転
させられるワークWの接合面Sを探傷するには超音波ビ
ームPは接合面S上の中心軸位置Q1 と周縁S1とを
結ぶ経路、即ちワークWの半径を走査すればよい。周縁
S1 を探査するための位置へ図2の位置にある超音波
探触子11A,11Bを移動する距離L4 は式(3)
で表される。
【0025】
L4 =D/ tanθ−L1 ・ cosθ
・・・(3)又、周縁S1 を探査する位置から中心
軸位置Q1 を探査する位置へ超音波探触子11A,1
1Bを移動する距離L5 は次式(4)で表される。 L5 =(D/ tanθ−L1 ・ co
sθ)+(L1 ・ cosθ−D/2 tanθ)
・・・(4)即ち、式(1),(
2)のδは超音波ビームPの必要な走査領域〔S1 −
Q1 〕を確実に包含するための微小な安全定数である
。
・・・(3)又、周縁S1 を探査する位置から中心
軸位置Q1 を探査する位置へ超音波探触子11A,1
1Bを移動する距離L5 は次式(4)で表される。 L5 =(D/ tanθ−L1 ・ co
sθ)+(L1 ・ cosθ−D/2 tanθ)
・・・(4)即ち、式(1),(
2)のδは超音波ビームPの必要な走査領域〔S1 −
Q1 〕を確実に包含するための微小な安全定数である
。
【0026】接合面Sを識別し得るゲインG1 の設定
によって図3の探傷開始位置X2 を特定する探傷方法
によれば、探傷すべき接合面Sを超音波ビームPによっ
て走査する距離は可及的に短縮される。このような走査
距離の短縮は接合面S以外の探傷不要領域の探傷を可及
的に排除するものであり、実際の探傷時間が探傷開始位
置特定を行わない従来の探傷方法に比して大幅な探傷時
間短縮をもたらす。
によって図3の探傷開始位置X2 を特定する探傷方法
によれば、探傷すべき接合面Sを超音波ビームPによっ
て走査する距離は可及的に短縮される。このような走査
距離の短縮は接合面S以外の探傷不要領域の探傷を可及
的に排除するものであり、実際の探傷時間が探傷開始位
置特定を行わない従来の探傷方法に比して大幅な探傷時
間短縮をもたらす。
【0027】式(1),(2)では超音波探触子11A
,11Bの移動距離L2 ,L3 を算出する上で安全
定数δを採用しているが、距離L1 の測定精度が十分
に高いものであればδ=0とすることもでき、この場合
の探傷開始位置X2 は接合面Sの周縁S1 と見なし
得る。摩擦圧接後のワークWの周縁S1 には溶融金属
の盛り上がりによる圧接バリが生じる。この圧接バリは
超音波探傷の妨げとなるために切削除去されるが、同種
材を摩擦圧接したワークWの接合面Sはこの切削のため
に外観から識別できなくなる。従って、ゲインG1 の
設定によって接合面Sを識別する方法は外観から接合面
Sを識別できないワークWに対して特に有効である。外
観から接合面Sを識別できる場合にもワークW装着の際
の取り付け位置がばらつくために接合面Sの位置は必ず
しも一定ではない。そのため、従来では超音波ビームの
走査範囲に余裕を持たせておく必要があり、探傷時間の
増大を招いていたが、本実施例の方法によれば余分な走
査範囲の設定が不要となる。
,11Bの移動距離L2 ,L3 を算出する上で安全
定数δを採用しているが、距離L1 の測定精度が十分
に高いものであればδ=0とすることもでき、この場合
の探傷開始位置X2 は接合面Sの周縁S1 と見なし
得る。摩擦圧接後のワークWの周縁S1 には溶融金属
の盛り上がりによる圧接バリが生じる。この圧接バリは
超音波探傷の妨げとなるために切削除去されるが、同種
材を摩擦圧接したワークWの接合面Sはこの切削のため
に外観から識別できなくなる。従って、ゲインG1 の
設定によって接合面Sを識別する方法は外観から接合面
Sを識別できないワークWに対して特に有効である。外
観から接合面Sを識別できる場合にもワークW装着の際
の取り付け位置がばらつくために接合面Sの位置は必ず
しも一定ではない。そのため、従来では超音波ビームの
走査範囲に余裕を持たせておく必要があり、探傷時間の
増大を招いていたが、本実施例の方法によれば余分な走
査範囲の設定が不要となる。
【0028】以上の実施例では探傷開始位置を接合面の
境界としているが、接合面S上の中心軸位置Q1 を探
傷開始位置とすることもできる。又、前記実施例では超
音波探触子11A,11Bの初期位置X1 として超音
波ビームPが接合面Sを通過する位置を前提としている
が、図4に示すように超音波ビームPが接合面Sを通過
しない超音波探触子11A,11Bの位置X1 が初期
位置の場合にも、図9〜図12のフローチャートで示す
探傷プログラムの設定によって接合面Sの境界S1 、
即ち探傷開始位置を特定することができる。
境界としているが、接合面S上の中心軸位置Q1 を探
傷開始位置とすることもできる。又、前記実施例では超
音波探触子11A,11Bの初期位置X1 として超音
波ビームPが接合面Sを通過する位置を前提としている
が、図4に示すように超音波ビームPが接合面Sを通過
しない超音波探触子11A,11Bの位置X1 が初期
位置の場合にも、図9〜図12のフローチャートで示す
探傷プログラムの設定によって接合面Sの境界S1 、
即ち探傷開始位置を特定することができる。
【0029】この探傷プログラムでは超音波ビームPが
接合面Sを通過するような超音波探触子11A,11B
の初期位置の場合には前記実施例と同様の探傷開始位置
特定が直ちに行われるが、超音波探触子11A,11B
の初期位置X1 が図4の場合には図12のステップが
介在する。即ち、超音波ビームPが接合面Sを通過しな
い場合にはモータ9が作動し、超音波探触子11A,1
1Bが初期位置X1 から左方あるいは右方へ移動する
。超音波探触子11A,11Bが所定時間内に接合面S
を検出する位置に来た場合にはモータ9の作動が停止し
、前記実施例と同様の探傷開始位置特定が行われる。
接合面Sを通過するような超音波探触子11A,11B
の初期位置の場合には前記実施例と同様の探傷開始位置
特定が直ちに行われるが、超音波探触子11A,11B
の初期位置X1 が図4の場合には図12のステップが
介在する。即ち、超音波ビームPが接合面Sを通過しな
い場合にはモータ9が作動し、超音波探触子11A,1
1Bが初期位置X1 から左方あるいは右方へ移動する
。超音波探触子11A,11Bが所定時間内に接合面S
を検出する位置に来た場合にはモータ9の作動が停止し
、前記実施例と同様の探傷開始位置特定が行われる。
【0030】超音波探触子11A,11Bが所定時間内
に接合面Sを検出する位置に来ない場合にはモータ9が
逆作動し、超音波探触子11A,11Bが逆方向へ移動
する。所定時間は超音波探触子11A,11Bが初期位
置X1 から接合面Sを検出し得る位置へ到達するのに
十分な値に設定されている。モータ9の逆作動によって
超音波探触子11A,11Bが接合面Sを検出する位置
に来た場合にはモータ9の作動が停止し、前記実施例と
同様の探傷開始位置特定が行われる。
に接合面Sを検出する位置に来ない場合にはモータ9が
逆作動し、超音波探触子11A,11Bが逆方向へ移動
する。所定時間は超音波探触子11A,11Bが初期位
置X1 から接合面Sを検出し得る位置へ到達するのに
十分な値に設定されている。モータ9の逆作動によって
超音波探触子11A,11Bが接合面Sを検出する位置
に来た場合にはモータ9の作動が停止し、前記実施例と
同様の探傷開始位置特定が行われる。
【0031】又、本発明では接合面識別用ゲインG1
の設定のもとに超音波ビームの走査を行ない、探傷開始
位置の算出特定を行なうことなく接合面の境界を走査通
過する際の探査変動に基づいて接合面の境界を特定する
ようにした実施例も可能である。さらに本発明は反射式
超音波探傷方式にも適用したり、溶接接続の探傷に対し
ても本発明の適用が可能である。
の設定のもとに超音波ビームの走査を行ない、探傷開始
位置の算出特定を行なうことなく接合面の境界を走査通
過する際の探査変動に基づいて接合面の境界を特定する
ようにした実施例も可能である。さらに本発明は反射式
超音波探傷方式にも適用したり、溶接接続の探傷に対し
ても本発明の適用が可能である。
【0032】
【発明の効果】以上詳述したように本発明は、接合面を
識別し得るように設定されたゲインを用いた接合面の探
査情報に基づいて探傷開始位置を特定するようにしたの
で、探傷不要領域を実際の探傷から可及的に排除するこ
とができ、探傷時間の短縮化を図り得るという優れた効
果を奏する。
識別し得るように設定されたゲインを用いた接合面の探
査情報に基づいて探傷開始位置を特定するようにしたの
で、探傷不要領域を実際の探傷から可及的に排除するこ
とができ、探傷時間の短縮化を図り得るという優れた効
果を奏する。
【図1】本発明の一実施例を表す斜視図である。
【図2】超音波探触子が接合面を検出し得る初期位置に
ある状態を示す要部拡大正面図である。
ある状態を示す要部拡大正面図である。
【図3】超音波探触子が探触開始位置に移動した状態を
示す要部拡大正面図である。
示す要部拡大正面図である。
【図4】超音波探触子が接合面を検出しない初期位置に
ある状態を示す要部拡大正面図である。
ある状態を示す要部拡大正面図である。
【図5】電気回路ブロック図である。
【図6】第1実施例の探傷プログラムを表すフローチャ
ートである。
ートである。
【図7】第1実施例の探傷プログラムを表すフローチャ
ートである。
ートである。
【図8】第1実施例の探傷プログラムを表すフローチャ
ートである。
ートである。
【図9】第2実施例の探傷プログラムを表すフローチャ
ートである。
ートである。
【図10】第2実施例の探傷プログラムを表すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図11】第2実施例の探傷プログラムを表すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図12】第2実施例の探傷プログラムを表すフローチ
ャートである。
ャートである。
11A,11B…超音波探触子、S…接合面、S1 …
境界となる周縁、X2 …探傷開始位置、G1 …接合
面識別用ゲイン、G2 …探傷用ゲイン。
境界となる周縁、X2 …探傷開始位置、G1 …接合
面識別用ゲイン、G2 …探傷用ゲイン。
Claims (2)
- 【請求項1】接合面を識別し得るように超音波探傷装置
の接合面識別用ゲインを設定すると共に、該接合面識別
用ゲインを用いた接合面の探査情報に基づいて接合面の
境界を特定し、接合面上の探傷を行なうために超音波探
傷装置のゲインを探傷用ゲインに再設定し、該探傷用ゲ
インを用いた接合面の探傷を前記境界から行なう超音波
探傷方法。 - 【請求項2】接合面を識別し得るように超音波探傷装置
の接合面識別用ゲインを設定し、該接合面識別用ゲイン
を用いた接合面の探査情報に基づいて超音波探触子の位
置を把握すると共に、この位置把握結果に基づいて超音
波探触子の探傷開始位置を特定し、接合面上の探傷を行
なうために超音波探傷装置のゲインを探傷用ゲインに再
設定すると共に、前記特定された探傷開始位置へ超音波
探触子を移動し、探傷用ゲインを用いた接合面の探傷を
前記探傷開始位置から行なう超音波探傷方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3047013A JPH04283661A (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 超音波探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3047013A JPH04283661A (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 超音波探傷方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04283661A true JPH04283661A (ja) | 1992-10-08 |
Family
ID=12763290
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3047013A Pending JPH04283661A (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 超音波探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04283661A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104677992A (zh) * | 2015-03-06 | 2015-06-03 | 中国航空工业集团公司北京航空材料研究院 | 飞机框梁结构电子束焊缝的超声检测装置及检测方法 |
-
1991
- 1991-03-12 JP JP3047013A patent/JPH04283661A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104677992A (zh) * | 2015-03-06 | 2015-06-03 | 中国航空工业集团公司北京航空材料研究院 | 飞机框梁结构电子束焊缝的超声检测装置及检测方法 |
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