JPH04289640A - 画像表示素子 - Google Patents
画像表示素子Info
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- JPH04289640A JPH04289640A JP5432591A JP5432591A JPH04289640A JP H04289640 A JPH04289640 A JP H04289640A JP 5432591 A JP5432591 A JP 5432591A JP 5432591 A JP5432591 A JP 5432591A JP H04289640 A JPH04289640 A JP H04289640A
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- JP
- Japan
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- cathode
- vacuum
- getter
- display element
- substrate
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2209/00—Apparatus and processes for manufacture of discharge tubes
- H01J2209/38—Control of maintenance of pressure in the vessel
- H01J2209/385—Gettering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2329/00—Electron emission display panels, e.g. field emission display panels
Landscapes
- Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)
- Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、平面配置陰極を用いた
画像表示素子に係り、特に該陰極として2次元に配置し
た電界放射形の多数の電子源に、蛍光体層をもつ表示面
を対向させて成る画像表示素子に関する。
画像表示素子に係り、特に該陰極として2次元に配置し
た電界放射形の多数の電子源に、蛍光体層をもつ表示面
を対向させて成る画像表示素子に関する。
【0002】
【従来の技術】表示用の陰極線管,所謂CRTの一形式
として平面型CRTあるいはフラットCRTと呼ばれる
表示素子が知られている。
として平面型CRTあるいはフラットCRTと呼ばれる
表示素子が知られている。
【0003】この種の表示素子(以下、フラットディス
プレイという)は、2次元に配置した電子源(陰極=カ
ソード)と2次元に蛍光体層を形成した蛍光面とを真空
中で対向させ、上記電子源から放出されて上記蛍光体層
に到達する電子流を制御することにより画像の表示を行
なうものである。
プレイという)は、2次元に配置した電子源(陰極=カ
ソード)と2次元に蛍光体層を形成した蛍光面とを真空
中で対向させ、上記電子源から放出されて上記蛍光体層
に到達する電子流を制御することにより画像の表示を行
なうものである。
【0004】2次元に電子源を配置した,所謂平面カソ
ードには、熱電子放出型(熱陰極)と電界放出型(冷陰
極)とがあるが、前者の熱電子放出型平面カソードはフ
ラットディスプレイに適用するためには2次元平面上に
多数の電子放出部を形成する必要があり、その集積度向
上のための構造に限界があると共に、電力消費が大きい
等の問題から実用化されるに至っていない。
ードには、熱電子放出型(熱陰極)と電界放出型(冷陰
極)とがあるが、前者の熱電子放出型平面カソードはフ
ラットディスプレイに適用するためには2次元平面上に
多数の電子放出部を形成する必要があり、その集積度向
上のための構造に限界があると共に、電力消費が大きい
等の問題から実用化されるに至っていない。
【0005】一方、後者の電界放出型平面カソードは、
半導体製造技術の応用により高集積化が可能な構造であ
り、表示性能が高い大画面のフラットディスプレイも構
成できるものとして期待されている。
半導体製造技術の応用により高集積化が可能な構造であ
り、表示性能が高い大画面のフラットディスプレイも構
成できるものとして期待されている。
【0006】図4は電界放出型平面カソードを電子源と
したフラットディスプレイの構造原理とその動作の説明
図であって、01はバックプレート(第1の基板)、0
2はカソード電極、03は絶縁層、04はゲート電極(
エキストラクタ電極)、05はカソードティプ、06は
フェースプレート(第2の基板)、07はアノード電極
、08は蛍光体層である。
したフラットディスプレイの構造原理とその動作の説明
図であって、01はバックプレート(第1の基板)、0
2はカソード電極、03は絶縁層、04はゲート電極(
エキストラクタ電極)、05はカソードティプ、06は
フェースプレート(第2の基板)、07はアノード電極
、08は蛍光体層である。
【0007】同図において、ガラス系材料等の絶縁材料
から成るバックプレート01の表面にカソード電極02
が成膜され、このカソード電極02上に電子放出部であ
る多数の突起(Tip:ティプ・・以下カソードティプ
という)05が形成されて電子源が構成されている。
から成るバックプレート01の表面にカソード電極02
が成膜され、このカソード電極02上に電子放出部であ
る多数の突起(Tip:ティプ・・以下カソードティプ
という)05が形成されて電子源が構成されている。
【0008】そして、上記カソードティプ05部分に開
口を持つゲート電極04が、電子流を引き出すためのエ
キストラクタ電極として作用する。カソード電極02と
は絶縁層03を介して配置される。そして、複数のカソ
ードティプで1画素の電子放出部を形成する。
口を持つゲート電極04が、電子流を引き出すためのエ
キストラクタ電極として作用する。カソード電極02と
は絶縁層03を介して配置される。そして、複数のカソ
ードティプで1画素の電子放出部を形成する。
【0009】一方、透過性のガラス系材料からなるフェ
ースプレート06の表面に、アノード電極07を介して
蛍光体層08が形成されて所謂表示面が構成されている
。
ースプレート06の表面に、アノード電極07を介して
蛍光体層08が形成されて所謂表示面が構成されている
。
【0010】上記バックプレート01とフェースプレー
ト06とは図示した状態で対向され、それらの端縁に設
けた封止部において真空封着されている。
ト06とは図示した状態で対向され、それらの端縁に設
けた封止部において真空封着されている。
【0011】各電極には図示したような所要の電圧が印
加され、カソード電極02とゲート電極04間の電界に
よりカソードティプ05の先端部から電子流Bが放出さ
れる。
加され、カソード電極02とゲート電極04間の電界に
よりカソードティプ05の先端部から電子流Bが放出さ
れる。
【0012】放出された電子流Bはアノード電極07と
ゲート電極04間の電界によりアノード07方向に指向
され、蛍光体層08に衝突し、これを励起して発光させ
る。
ゲート電極04間の電界によりアノード07方向に指向
され、蛍光体層08に衝突し、これを励起して発光させ
る。
【0013】このような構成において、エキストラクタ
電極であるゲート電極04に印加する電圧Vを変化させ
る(S)ことで、アノード07方向に指向する電子流B
を制御し蛍光体層08の発光量を制御することができる
。なお、アノード電極07の電圧を変化させることによ
って、あるいはゲート電極とアノード電極との間に別途
制御電極を設け、この制御電極に印加する電圧を変化さ
せることによっても蛍光体層08への電子流の到達を制
御することができる。
電極であるゲート電極04に印加する電圧Vを変化させ
る(S)ことで、アノード07方向に指向する電子流B
を制御し蛍光体層08の発光量を制御することができる
。なお、アノード電極07の電圧を変化させることによ
って、あるいはゲート電極とアノード電極との間に別途
制御電極を設け、この制御電極に印加する電圧を変化さ
せることによっても蛍光体層08への電子流の到達を制
御することができる。
【0014】図5は上記図4に示した様な電界放出型平
面カソードを電子源とした従来の矩形フラットディスプ
レイの一構造例の説明図であって、矩形のバックプレー
ト01上に、前記したカソードティプを高密度に多数配
置した複数のカソード電極02と複数のゲート電極04
が交差して配置される。
面カソードを電子源とした従来の矩形フラットディスプ
レイの一構造例の説明図であって、矩形のバックプレー
ト01上に、前記したカソードティプを高密度に多数配
置した複数のカソード電極02と複数のゲート電極04
が交差して配置される。
【0015】このバックプレート01に対向する矩形の
フェースプレート06には、アノード電極07を介して
蛍光体層08が塗布されている(なお、アノード電極0
7を螢光体層08の下に形成してもよい)。
フェースプレート06には、アノード電極07を介して
蛍光体層08が塗布されている(なお、アノード電極0
7を螢光体層08の下に形成してもよい)。
【0016】バックプレート01とフェースプレート0
6とは、その四辺の周縁部の封止部においてフリットガ
ラス等で真空封着され、フラットディスプレイを構成す
る。
6とは、その四辺の周縁部の封止部においてフリットガ
ラス等で真空封着され、フラットディスプレイを構成す
る。
【0017】なお、ゲッター材12が、カソード電極と
隣接してバックプレート上に形成された図示しない発熱
抵抗体等の加熱手段に載置され、バックプレート01と
フェースプレート06との真空封着後に加熱蒸発されて
真空度を高くする所謂ゲッター処理がなされる。
隣接してバックプレート上に形成された図示しない発熱
抵抗体等の加熱手段に載置され、バックプレート01と
フェースプレート06との真空封着後に加熱蒸発されて
真空度を高くする所謂ゲッター処理がなされる。
【0018】図6は図5において円で囲んだカソード部
分Aの拡大図であって、このカソード部分Aは表示する
1画素に相当する。この図では説明を容易にするために
カソードティプ05を4個としているが、実用的には数
千個で1画素の電子放出部を構成する。
分Aの拡大図であって、このカソード部分Aは表示する
1画素に相当する。この図では説明を容易にするために
カソードティプ05を4個としているが、実用的には数
千個で1画素の電子放出部を構成する。
【0019】カソードティプ05は、マイクロリソグラ
フィ技術によって微細に加工され、先鋭な突端を持つカ
ソードティプ05の先端に高電界を印加する。これによ
りカソードティプ05の先端から電子が放出され、蛍光
体層08が発光する。
フィ技術によって微細に加工され、先鋭な突端を持つカ
ソードティプ05の先端に高電界を印加する。これによ
りカソードティプ05の先端から電子が放出され、蛍光
体層08が発光する。
【0020】所望の画素はカソード電極02とゲート電
極04の交点として選ばれ、一つの画素は通常は上記し
たように数千個の多数のカソードティプ05から構成さ
れる。
極04の交点として選ばれ、一つの画素は通常は上記し
たように数千個の多数のカソードティプ05から構成さ
れる。
【0021】このような電界放射形カソードを備えた画
像表示素子は薄型で且つ直視形の高解像の画像表示素子
、すなわちフラットディスプレイとして期待されている
。
像表示素子は薄型で且つ直視形の高解像の画像表示素子
、すなわちフラットディスプレイとして期待されている
。
【0022】なお、この種の従来技術を開示したものと
しては、例えば特開昭49−79769号公報を挙げる
ことができる。
しては、例えば特開昭49−79769号公報を挙げる
ことができる。
【0023】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の技術におい
て説明したフラットデイスプレイは、動作時には10E
−5Torr.(≒10−3パスカル)程度の真空度に
保持される必要がある。真空度がこれより悪化すると、
残留ガスがイオン化してカソードティプ05の先端を衝
撃,破壊して所望の電子を放出することが困難になって
しまう。
て説明したフラットデイスプレイは、動作時には10E
−5Torr.(≒10−3パスカル)程度の真空度に
保持される必要がある。真空度がこれより悪化すると、
残留ガスがイオン化してカソードティプ05の先端を衝
撃,破壊して所望の電子を放出することが困難になって
しまう。
【0024】真空度が10E−5Torr.程度であれ
ば、ガスの平均自由行程が、電子の走行距離すなわちカ
ソード/アノード間距離よりも大きいので、上記したよ
うなカソードティプの破壊は起こらないとされている。
ば、ガスの平均自由行程が、電子の走行距離すなわちカ
ソード/アノード間距離よりも大きいので、上記したよ
うなカソードティプの破壊は起こらないとされている。
【0025】このフラットデイスプレイの製作工程にお
いて、バックプレートとフェースプレートをフリットガ
ラスで真空封止した段階では、その真空度は10E−3
Torr.(≒10−1パスカル)程度となるので、封
止後に内部をゲッター処理して上記10E−5Torr
.程度の高真空にする。
いて、バックプレートとフェースプレートをフリットガ
ラスで真空封止した段階では、その真空度は10E−3
Torr.(≒10−1パスカル)程度となるので、封
止後に内部をゲッター処理して上記10E−5Torr
.程度の高真空にする。
【0026】カソード面近くにゲッターを設けると、飛
散したゲッター材がカソードティプ05に被着して電子
放出性能を低下させ、また飛散したゲッター材が螢光体
層に被着し、発光性能が低下するという問題があるため
充分なゲッター材を飛散させることができず所要の高真
空度を得ることが困難であるという問題がある。
散したゲッター材がカソードティプ05に被着して電子
放出性能を低下させ、また飛散したゲッター材が螢光体
層に被着し、発光性能が低下するという問題があるため
充分なゲッター材を飛散させることができず所要の高真
空度を得ることが困難であるという問題がある。
【0027】そのため、長期にわたって高真空を維持す
ることが不可能であり、デイスプレイ素子の寿命を維持
することができないという問題があった。
ることが不可能であり、デイスプレイ素子の寿命を維持
することができないという問題があった。
【0028】本発明の目的は、上記従来技術の諸問題を
解消し、ゲッター材のカソードティプや螢光面への被着
を低減させ、長期にわたって高真空を維持できる構造を
持つ表示素子を提供することにある。
解消し、ゲッター材のカソードティプや螢光面への被着
を低減させ、長期にわたって高真空を維持できる構造を
持つ表示素子を提供することにある。
【0029】
【課題を解決するための手段】上記目的は、第1の基板
(バックプレート)と第2の基板(フェースプレート)
の間に形成される狭い空間を高真空に維持する必要のあ
る電界放出形カソードを電子源として備えた画像表示素
子において、(1)両基板の封止部近傍にゲッター部を
設けること、また(2)真空ポンプを具備させ、これを
必要に応じて稼働させるようにしたことを特徴とし、特
に、具備する真空ポンプをゲッターポンプ,ゲッターイ
オンポンプ,およびスパッターイオンポンプ等の表面吸
着形ポンプとすることにより、小型で、安価に、かつ簡
便に高真空が得られる構成としたことによって達成され
る。
(バックプレート)と第2の基板(フェースプレート)
の間に形成される狭い空間を高真空に維持する必要のあ
る電界放出形カソードを電子源として備えた画像表示素
子において、(1)両基板の封止部近傍にゲッター部を
設けること、また(2)真空ポンプを具備させ、これを
必要に応じて稼働させるようにしたことを特徴とし、特
に、具備する真空ポンプをゲッターポンプ,ゲッターイ
オンポンプ,およびスパッターイオンポンプ等の表面吸
着形ポンプとすることにより、小型で、安価に、かつ簡
便に高真空が得られる構成としたことによって達成され
る。
【0030】すなわち、本発明は、電界放射形の多数の
電子源を2次元に配置した第1の基板と蛍光体層を2次
元に形成した第2の基板とを、上記電子源と上記螢光体
層が対向するごとく上記各基板の周縁に設けた接合部で
真空封止した画像表示素子において、上記接合部近傍に
ゲッター部を設けたことを特徴とする。
電子源を2次元に配置した第1の基板と蛍光体層を2次
元に形成した第2の基板とを、上記電子源と上記螢光体
層が対向するごとく上記各基板の周縁に設けた接合部で
真空封止した画像表示素子において、上記接合部近傍に
ゲッター部を設けたことを特徴とする。
【0031】また、電界放射形の多数の電子源を2次元
に配置した第1の基板と蛍光体層を2次元に形成した第
2の基板とを、上記電子源と上記螢光体層が対向するご
とく上記各基板の周縁に設けた接合部で真空封止した画
像表示素子において、上記接合部近傍に真空ポンプを設
けたことを特徴とする。
に配置した第1の基板と蛍光体層を2次元に形成した第
2の基板とを、上記電子源と上記螢光体層が対向するご
とく上記各基板の周縁に設けた接合部で真空封止した画
像表示素子において、上記接合部近傍に真空ポンプを設
けたことを特徴とする。
【0032】そして、前記真空ポンプとしてゲッターポ
ンプ,ゲッターイオンポンプ,スパッターイオンポンプ
等の表面吸着型真空ポンプを用いたことを特徴とする。
ンプ,ゲッターイオンポンプ,スパッターイオンポンプ
等の表面吸着型真空ポンプを用いたことを特徴とする。
【0033】
【作用】フェースプレートとバックプレートの封止部(
両プレートの周辺部)近傍にゲッター部を設け、このゲ
ッター部にゲッター材を収納してゲッターをこのゲッタ
ー部10の内部空間において飛散処理することによりカ
ソードティプや螢光体へのゲッター材の飛散が防止され
る。
両プレートの周辺部)近傍にゲッター部を設け、このゲ
ッター部にゲッター材を収納してゲッターをこのゲッタ
ー部10の内部空間において飛散処理することによりカ
ソードティプや螢光体へのゲッター材の飛散が防止され
る。
【0034】また真空ポンプを備えることにより、内部
の真空度が低下した時に自動的に、または手動でこれを
稼働させ、あるいはこの表示素子を動作させる際に稼働
させるようにして所望の真空度を維持させる。
の真空度が低下した時に自動的に、または手動でこれを
稼働させ、あるいはこの表示素子を動作させる際に稼働
させるようにして所望の真空度を維持させる。
【0035】これにより、カソードティプの破壊や損傷
を防止し、また螢光体層の発光性能の低下をなくして半
永久的に良好な画像表示を可能とする。
を防止し、また螢光体層の発光性能の低下をなくして半
永久的に良好な画像表示を可能とする。
【0036】以下、本発明の実施例を図面を参照して詳
細に説明する
細に説明する
【0037】
【実施例】(実施例1)図1は本発明による表示素子の
第1実施例の説明図であって、1は第1の基板(バック
プレート)、6は第2の基板(フエースプレート)、1
1,11’は封止部、10はゲッター部、12はゲッタ
ー材、13は真空ゲージである。
第1実施例の説明図であって、1は第1の基板(バック
プレート)、6は第2の基板(フエースプレート)、1
1,11’は封止部、10はゲッター部、12はゲッタ
ー材、13は真空ゲージである。
【0038】また、図2は図1のB部分の構成の詳細な
説明図であって、2はカソード電極、3は絶縁層、4は
ゲート電極、5はカソードティプ、7はアノード電極、
8は螢光体層、9はガラス薄層、10はゲッター部、1
2はゲッター材、13は真空ゲージである。
説明図であって、2はカソード電極、3は絶縁層、4は
ゲート電極、5はカソードティプ、7はアノード電極、
8は螢光体層、9はガラス薄層、10はゲッター部、1
2はゲッター材、13は真空ゲージである。
【0039】図1は周辺部(フエースプレート6とバッ
クプレート1の封止部)にゲッター部10を備えたフラ
ットディスプレイの部分破断した斜視図である。
クプレート1の封止部)にゲッター部10を備えたフラ
ットディスプレイの部分破断した斜視図である。
【0040】本実施例では、フェースプレート6として
一辺が50cm,厚さが0.5cmの石英ガラスを用い
、真空側となる面上に透明IT0膜を成膜しアノード電
極7を形成する。このITO膜の上にブラウン管等で使
用されるZnO等の螢光体を塗布し蛍光体層8とする。
一辺が50cm,厚さが0.5cmの石英ガラスを用い
、真空側となる面上に透明IT0膜を成膜しアノード電
極7を形成する。このITO膜の上にブラウン管等で使
用されるZnO等の螢光体を塗布し蛍光体層8とする。
【0041】一方、バックプレート1にはフェースプレ
ートと同じ石英ガラスを用い、同じく真空側となる面上
に以下のようにして作った電界放出型カソード板を貼付
けて構成している。
ートと同じ石英ガラスを用い、同じく真空側となる面上
に以下のようにして作った電界放出型カソード板を貼付
けて構成している。
【0042】まず、パイレックスガラス基板9の上に、
厚さ約1.0μmのモリブデン(Mo)をE−beam
蒸着(電子ビーム蒸着)とホトエッチングにより形成し
てカソード電極2を得、さらにSiO膜3を真空蒸着し
て絶縁層3とする。
厚さ約1.0μmのモリブデン(Mo)をE−beam
蒸着(電子ビーム蒸着)とホトエッチングにより形成し
てカソード電極2を得、さらにSiO膜3を真空蒸着し
て絶縁層3とする。
【0043】この上にMoをE−beam蒸着で成膜し
、これをホトエッチングでパターニングし、ゲート電極
4を形成する。この時、ゲート電極4にカソードアレイ
となるべき直径約2μmの貫通孔41を同時に形成する
。
、これをホトエッチングでパターニングし、ゲート電極
4を形成する。この時、ゲート電極4にカソードアレイ
となるべき直径約2μmの貫通孔41を同時に形成する
。
【0044】さらに、絶縁層3を構成するSiO膜をフ
ォトリソグラフィ技術を用いた化学的エッチングでエッ
チング処理してカソードティプ形成部分のカソード電極
2を露出させる。
ォトリソグラフィ技術を用いた化学的エッチングでエッ
チング処理してカソードティプ形成部分のカソード電極
2を露出させる。
【0045】その後、上記絶縁層3のエッチング処理用
のホトレジストを付けたまま、このホトレジストパター
ンを蒸着マスクとしてMoを蒸着し、リフトオフ法によ
りカソードティプ5を形成する。ちなみに、これに用い
たカソードコーンの数は100個である。
のホトレジストを付けたまま、このホトレジストパター
ンを蒸着マスクとしてMoを蒸着し、リフトオフ法によ
りカソードティプ5を形成する。ちなみに、これに用い
たカソードコーンの数は100個である。
【0046】以上のようにして作成したフエースプレー
ト6とバックプレート1とを、その螢光体層8とカソー
ドティプ5(ゲート電極4)とが対向するごとく合わせ
、封止部である両プレートの端縁をフリットガラスでハ
ーメチックシールにより封止する。なお、本実施例では
ガラス基板9上にカソード電極を形成し、これをバック
プレート1に貼付けているが、これに替えてバックプレ
ート1の表面を平滑にし、この上に直接カソード電極を
形成することもできる。
ト6とバックプレート1とを、その螢光体層8とカソー
ドティプ5(ゲート電極4)とが対向するごとく合わせ
、封止部である両プレートの端縁をフリットガラスでハ
ーメチックシールにより封止する。なお、本実施例では
ガラス基板9上にカソード電極を形成し、これをバック
プレート1に貼付けているが、これに替えてバックプレ
ート1の表面を平滑にし、この上に直接カソード電極を
形成することもできる。
【0047】次に、バックプレート1とフェースプレー
ト6の封止部の何れか、ここでは封止部11’にゲッタ
ー部10を取り付ける。このゲッター部10は、両端が
封止され、側壁に軸方向側壁にスリット開口を有する石
英ガラス等からなるガラス管であり、このガラス管内に
ゲッター材12を収容している。
ト6の封止部の何れか、ここでは封止部11’にゲッタ
ー部10を取り付ける。このゲッター部10は、両端が
封止され、側壁に軸方向側壁にスリット開口を有する石
英ガラス等からなるガラス管であり、このガラス管内に
ゲッター材12を収容している。
【0048】このガラス管の上記開口をフエースプレー
ト6とバックプレート1の端縁部に接合することでゲッ
ター12の収容部がフエースプレート6とバックプレー
ト1とで形成される真空空間と連なるように封止される
。実際には、上記両プレートの周辺はフリットガラスで
ハーメチックシールした。
ト6とバックプレート1の端縁部に接合することでゲッ
ター12の収容部がフエースプレート6とバックプレー
ト1とで形成される真空空間と連なるように封止される
。実際には、上記両プレートの周辺はフリットガラスで
ハーメチックシールした。
【0049】この実施例では、上記ゲッター部10と共
に電離真空ゲージ13を取り付ける。
に電離真空ゲージ13を取り付ける。
【0050】フエースプレート6とバックプレート1の
真空封止工程終了時は、上記の真空ゲージ13での真空
度は、一般に10E−3Torr.のオーダーとなる。
真空封止工程終了時は、上記の真空ゲージ13での真空
度は、一般に10E−3Torr.のオーダーとなる。
【0051】その後、ゲッター部10に対して外部から
高周波を加え、その誘導加熱によってゲッター部10内
に収容されているゲッター材12を蒸発させる。
高周波を加え、その誘導加熱によってゲッター部10内
に収容されているゲッター材12を蒸発させる。
【0052】このゲッター材12としてはバリュームB
a,Ba系合金等を用いて800度Cないし850度C
程度で蒸発させることでゲッター材12を飛散させるこ
とができる。ここでは、BaAl4 に約50%のNi
粉末を混合したものを用いた。
a,Ba系合金等を用いて800度Cないし850度C
程度で蒸発させることでゲッター材12を飛散させるこ
とができる。ここでは、BaAl4 に約50%のNi
粉末を混合したものを用いた。
【0053】ゲッター材を封止部に配置することにより
、前記従来技術のように、ゲッター材を内部すなわちカ
ソード配置領域に配置した場合に比べ、蒸発直後の真空
度の上昇は早くない。しかし、ある程度の時間経過後に
は10E−6Torr.のオーダーには容易に到達する
。
、前記従来技術のように、ゲッター材を内部すなわちカ
ソード配置領域に配置した場合に比べ、蒸発直後の真空
度の上昇は早くない。しかし、ある程度の時間経過後に
は10E−6Torr.のオーダーには容易に到達する
。
【0054】このように、高真空を得るまでに時間を要
するのは、内部の残留ガスの拡散に時間がかかることに
よるものと考えられる。
するのは、内部の残留ガスの拡散に時間がかかることに
よるものと考えられる。
【0055】ここで、図示の表示素子を用いてエミッシ
ョン実験をしたところ、カソード電極2に対してゲート
電極4が100Vとなるように電圧を印加したとき、エ
ミッション電流が約5μAであった。このようなエミッ
ション実験の最初においては、一時的に真空度が劣化す
るので、ゲッター効果を見極めながら慎重に実験を行う
ことが必要である。
ョン実験をしたところ、カソード電極2に対してゲート
電極4が100Vとなるように電圧を印加したとき、エ
ミッション電流が約5μAであった。このようなエミッ
ション実験の最初においては、一時的に真空度が劣化す
るので、ゲッター効果を見極めながら慎重に実験を行う
ことが必要である。
【0056】上記のように、エミッション電流が小さい
のは、ゲート電極4とカソードティプ5の位置関係によ
るものと思われる。
のは、ゲート電極4とカソードティプ5の位置関係によ
るものと思われる。
【0057】この実験の後、ゲッターの飛散の後を観察
したところ、その痕跡はゲッター部10のごく近傍に限
られており、カソードティプ5部分および蛍光体層8に
は何ら影響を及ぼしていないことが分かった。
したところ、その痕跡はゲッター部10のごく近傍に限
られており、カソードティプ5部分および蛍光体層8に
は何ら影響を及ぼしていないことが分かった。
【0058】この実施例では、ゲッター部10として石
英ガラスからなる円筒部材を用いてこれをフエースプレ
ート6とバックプレート1との周辺部(封止部11’)
に取り付けているが、単に両プレートの周辺部の近傍に
ゲッター材を配置するだけでも良く、蒸発したゲッター
が、カソード部分,特にカソードティプに悪影響を及ぼ
さないようにすればよい。
英ガラスからなる円筒部材を用いてこれをフエースプレ
ート6とバックプレート1との周辺部(封止部11’)
に取り付けているが、単に両プレートの周辺部の近傍に
ゲッター材を配置するだけでも良く、蒸発したゲッター
が、カソード部分,特にカソードティプに悪影響を及ぼ
さないようにすればよい。
【0059】また、この実施例では、ゲッター部10を
フエースプレートとバックプレートとの封止部となる周
辺の一辺に取り付けたが、必要に応じて二以上の辺に取
り付けても良い。
フエースプレートとバックプレートとの封止部となる周
辺の一辺に取り付けたが、必要に応じて二以上の辺に取
り付けても良い。
【0060】なお、真空ゲージ13は必ずしも必要なも
のではなく、量産品では省略してもよい。
のではなく、量産品では省略してもよい。
【0061】(実施例2)図3は本発明による表示素子
の第2実施例の説明図であって、周辺部にゲッターポン
プを備えたフラットディスプレイを示す。
の第2実施例の説明図であって、周辺部にゲッターポン
プを備えたフラットディスプレイを示す。
【0062】同図において、14はゲッターポンプ、1
5はゲッターフィラメントであり、主機能部すなわちカ
ソード電極部を搭載するバックプレート1と螢光体層を
被着するフエースプレート6の構造は前記第1実施例と
同様である。
5はゲッターフィラメントであり、主機能部すなわちカ
ソード電極部を搭載するバックプレート1と螢光体層を
被着するフエースプレート6の構造は前記第1実施例と
同様である。
【0063】フエースプレート6とバックプレート1と
は、前記実施例と同様にその端縁部(周辺部)において
フリットガラス等によるハーメチックシールで封止され
る。
は、前記実施例と同様にその端縁部(周辺部)において
フリットガラス等によるハーメチックシールで封止され
る。
【0064】この時、その一辺にゲッターポンプ14を
取り付け、さらに電離真空ゲージ13を第1実施例の場
合と同様に取り付ける。
取り付け、さらに電離真空ゲージ13を第1実施例の場
合と同様に取り付ける。
【0065】ゲッターポンプ14は、フエースプレート
6とバックプレート1と同様の石英ガラスの円筒体から
なり、その内部にはタングステン(W)ワイヤーに、B
aAl4 等の混合物を付着したゲッターフィラメント
15を収容している。
6とバックプレート1と同様の石英ガラスの円筒体から
なり、その内部にはタングステン(W)ワイヤーに、B
aAl4 等の混合物を付着したゲッターフィラメント
15を収容している。
【0066】フエースプレート6とバックプレート1と
を真空封止すると、前記実施例において説明したように
約10E−3Torr.のオーダーまで真空度が劣化す
る。
を真空封止すると、前記実施例において説明したように
約10E−3Torr.のオーダーまで真空度が劣化す
る。
【0067】そこで、ゲッターポンプ14のゲッターフ
ィラメント15に端子151,152を介して外部から
電流を流し、Wワイヤーに付着した上記ゲッター材を蒸
発させ、真空度を10E−6Torr.のオーダーに真
空度を高める。
ィラメント15に端子151,152を介して外部から
電流を流し、Wワイヤーに付着した上記ゲッター材を蒸
発させ、真空度を10E−6Torr.のオーダーに真
空度を高める。
【0068】この実施例のフラットディスプレイにおけ
るエミッション実験では、前記実施例における実験と同
様に、ゲート電圧が100Vで、エミッション電流は約
5μAであった。
るエミッション実験では、前記実施例における実験と同
様に、ゲート電圧が100Vで、エミッション電流は約
5μAであった。
【0069】次に、加速試験をするために、この状態の
まま、125度Cで放置したところ、真空度が徐々に悪
化し、同時にエミッション電流も減少しはじめた。1時
間放置で真空度が2×10E−5Torr.になったの
で、再び上記Wワイヤーに電流を流してポンプを働かせ
、10E−6Torr.にした。しかし、エミッション
電流は必ずしも元の状態に回復しなかった。この時点で
、陰極ティプの状態を観察したところ、その一部が破壊
されているのが認められた。
まま、125度Cで放置したところ、真空度が徐々に悪
化し、同時にエミッション電流も減少しはじめた。1時
間放置で真空度が2×10E−5Torr.になったの
で、再び上記Wワイヤーに電流を流してポンプを働かせ
、10E−6Torr.にした。しかし、エミッション
電流は必ずしも元の状態に回復しなかった。この時点で
、陰極ティプの状態を観察したところ、その一部が破壊
されているのが認められた。
【0070】以上の実験結果から、たとえ真空度が10
E−5Torr.程度でもカソードティプの破壊が発生
するという事実から、高真空を維持することが、この表
示素子にとって極めて重要であることが分かった。そし
て、高真空を維持することはエミッション電流の安定化
に必須であることも考察された。
E−5Torr.程度でもカソードティプの破壊が発生
するという事実から、高真空を維持することが、この表
示素子にとって極めて重要であることが分かった。そし
て、高真空を維持することはエミッション電流の安定化
に必須であることも考察された。
【0071】ちなみに、本出願人等は、上記と同様の表
示素子を5台製作して上記の実験を行ったが、実験開始
時の真空度を同じ値にしても、加速試験すると、真空度
の劣化の仕方にバラツキがあることも分かった。
示素子を5台製作して上記の実験を行ったが、実験開始
時の真空度を同じ値にしても、加速試験すると、真空度
の劣化の仕方にバラツキがあることも分かった。
【0072】このことから、表示素子個々に真空ポンプ
を備えて、常に高真空度を保つことにより、これらの問
題が解決できることが分かった。
を備えて、常に高真空度を保つことにより、これらの問
題が解決できることが分かった。
【0073】この種のフラットディスプレイは、そのサ
イズを大きくすればその分カソードの面積とそのカソー
ドティプの数も飛躍的に増加する。
イズを大きくすればその分カソードの面積とそのカソー
ドティプの数も飛躍的に増加する。
【0074】カソードとカソードティプの数が増大すれ
ば、それだけガス放出の量も増大することになる。した
がって、このフラットディスプレイを大画面の表示素子
とする場合には、なおさら上記のような真空ポンプを具
備させて出来るだけ高真空度を維持にする必要がある。
ば、それだけガス放出の量も増大することになる。した
がって、このフラットディスプレイを大画面の表示素子
とする場合には、なおさら上記のような真空ポンプを具
備させて出来るだけ高真空度を維持にする必要がある。
【0075】また、この平面タイプの表示素子はその商
品価値から見て、これに具備する真空ポンプは小型、軽
量、安価、操作が簡単でなければならない。もちろん、
このポンプは常時稼働させるものではないし、必ずしも
特定のガスを選んで排気する必要もない。
品価値から見て、これに具備する真空ポンプは小型、軽
量、安価、操作が簡単でなければならない。もちろん、
このポンプは常時稼働させるものではないし、必ずしも
特定のガスを選んで排気する必要もない。
【0076】この種のポンプとしては、被吸着材の表面
現像を利用したポンプ、すなわちゲッターポンプ、ゲッ
ターイオンポンプ、あるいは、スパッターイオンポンプ
が最適である。
現像を利用したポンプ、すなわちゲッターポンプ、ゲッ
ターイオンポンプ、あるいは、スパッターイオンポンプ
が最適である。
【0077】表面現象を利用したものとして、この他に
ソープションポンプやクライオポンプがあるが、前者は
冷却機能を必要とし、また後者は設備が大型化する。
ソープションポンプやクライオポンプがあるが、前者は
冷却機能を必要とし、また後者は設備が大型化する。
【0078】本実施例では、ゲッターポンプを用いたが
、単に2本の蒸発源フィラメント(ゲッター材で構成し
たフィラメント)を装着し、これに直接通電することに
よってゲッター材を容器の壁に蒸着するものであっても
よく、このようなゲッターポンプを採用すれば操作も簡
単である。
、単に2本の蒸発源フィラメント(ゲッター材で構成し
たフィラメント)を装着し、これに直接通電することに
よってゲッター材を容器の壁に蒸着するものであっても
よく、このようなゲッターポンプを採用すれば操作も簡
単である。
【0079】上記の真空ポンプは、真空ゲージ13の真
空度を確認して手動により随時作動させるようにしたり
、真空ゲージ13の真空度検出信号に基づいて自動的に
作動させるような制御手段を設けることも可能である。
空度を確認して手動により随時作動させるようにしたり
、真空ゲージ13の真空度検出信号に基づいて自動的に
作動させるような制御手段を設けることも可能である。
【0080】さらに、予め時間対真空度低下の特性を求
め、その特性に沿った周期で作動するようにすることも
できる。
め、その特性に沿った周期で作動するようにすることも
できる。
【0081】なお、素子間である程度均一な特性が得ら
れる場合には、第1実施例で述べたごとく真空ゲージは
必ずしも必要なものではなく、ゲッター部あるいはゲッ
ターポンプのみを具備させることで充分な表示性能を維
持できる。
れる場合には、第1実施例で述べたごとく真空ゲージは
必ずしも必要なものではなく、ゲッター部あるいはゲッ
ターポンプのみを具備させることで充分な表示性能を維
持できる。
【0082】また、上記第2実施例における真空ポンプ
は高真空を維持するためにのみ使用するものではなく、
単に真空封止直後の真空度向上のために働かせるだけの
機能として取り付けることもできる。
は高真空を維持するためにのみ使用するものではなく、
単に真空封止直後の真空度向上のために働かせるだけの
機能として取り付けることもできる。
【0083】以上の実施例は、全て単色表示素子を例と
したが、本発明は多色画像の表示素子に適用できるもの
であることはいうまでもない。また、素子形状も矩形に
限らない。
したが、本発明は多色画像の表示素子に適用できるもの
であることはいうまでもない。また、素子形状も矩形に
限らない。
【0084】本発明を多色表示素子に適用する場合は、
電子源を表示原色の数に相当して1画素当たり複数の電
子源のグループをもつように形成し、ゲート電極および
蛍光体層もこれと対応して設ければよい。なお、アノー
ド電極に色選択機能を付与するようにしてもよい。
電子源を表示原色の数に相当して1画素当たり複数の電
子源のグループをもつように形成し、ゲート電極および
蛍光体層もこれと対応して設ければよい。なお、アノー
ド電極に色選択機能を付与するようにしてもよい。
【0085】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
電界放出型カソードを備えたフラットディスプレイにお
いて、その表示特性に対して特に重要な要素である高真
空度を実現し、これを長期間にわたって維持することが
でき、エミッション電流の安定化、カソードの長寿命化
を図った大画面サイズの表示素子としての優れた性能を
もつフラットディスプレイを提供することができる。
電界放出型カソードを備えたフラットディスプレイにお
いて、その表示特性に対して特に重要な要素である高真
空度を実現し、これを長期間にわたって維持することが
でき、エミッション電流の安定化、カソードの長寿命化
を図った大画面サイズの表示素子としての優れた性能を
もつフラットディスプレイを提供することができる。
【図1】本発明による表示素子の第1実施例の説明図で
ある。
ある。
【図2】図1のB部分の構成の詳細な説明図である。
【図3】本発明による表示素子の第2実施例の説明図で
ある。
ある。
【図4】電界放出型平面カソードを電子源としたフラッ
トディスプレイの構造原理とその動作の説明図である。
トディスプレイの構造原理とその動作の説明図である。
【図5】図4に示した様な電界放出型平面カソードを電
子源とした従来のフラットディスプレイの一構造例の説
明図である。
子源とした従来のフラットディスプレイの一構造例の説
明図である。
【図6】図5のA部分の拡大図である。
1・・・バックプレート、2・・・カソード電極、3・
・・絶縁層、4・・・ゲート電極、5・・・カソードテ
ィプ、6・・・フェースプレート、7・・・アノード電
極、8・・・蛍光体層、9・・・ガラス基板、10・・
・ゲッター部、11・・・真空ゲージ、12・・・ゲッ
ター材、13・・・ゲッターポンプ、14・・・ゲッタ
ーフィラメント。
・・絶縁層、4・・・ゲート電極、5・・・カソードテ
ィプ、6・・・フェースプレート、7・・・アノード電
極、8・・・蛍光体層、9・・・ガラス基板、10・・
・ゲッター部、11・・・真空ゲージ、12・・・ゲッ
ター材、13・・・ゲッターポンプ、14・・・ゲッタ
ーフィラメント。
Claims (3)
- 【請求項1】 電界放射形の多数の電子源を2次元に
配置した第1の基板と蛍光体層を2次元に形成した第2
の基板とを、上記電子源と上記螢光体層が対向するごと
く上記各基板の周縁に設けた接合部で真空封止した画像
表示素子において、上記接合部近傍にゲッター部を設け
たことを特徴とする画像表示素子。 - 【請求項2】 電界放射形の多数の電子源を2次元に
配置した第1の基板と蛍光体層を2次元に形成した第2
の基板とを、上記電子源と上記螢光体層が対向するごと
く上記各基板の周縁に設けた接合部で真空封止した画像
表示素子において、上記接合部近傍に真空ポンプを設け
たことを特徴とする画像表示素子。 - 【請求項3】請求項2において、前記真空ポンプが表面
吸着型真空ポンプであることを特徴とする画像表示素子
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5432591A JPH04289640A (ja) | 1991-03-19 | 1991-03-19 | 画像表示素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5432591A JPH04289640A (ja) | 1991-03-19 | 1991-03-19 | 画像表示素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04289640A true JPH04289640A (ja) | 1992-10-14 |
Family
ID=12967440
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5432591A Pending JPH04289640A (ja) | 1991-03-19 | 1991-03-19 | 画像表示素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04289640A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05205669A (ja) * | 1992-01-24 | 1993-08-13 | Futaba Corp | 蛍光表示装置 |
| JPH1125889A (ja) * | 1997-06-27 | 1999-01-29 | Pixtech Sa | フラットマイクロチップスクリーンのイオンポンピング |
| US5936342A (en) * | 1994-12-14 | 1999-08-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Image display apparatus and method of activating getter |
| EP1020889A1 (en) * | 1999-01-13 | 2000-07-19 | Canon Kabushiki Kaisha | Process for forming non-evaporative getter and method of producing image forming apparatus |
| US6489720B1 (en) | 1998-09-07 | 2002-12-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Image-forming apparatus and fabrication method therefor |
| US6559596B1 (en) | 1999-02-26 | 2003-05-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Getter, air tight chamber and image forming apparatus having getter, and manufacturing method of getter |
| US6858984B2 (en) | 2000-07-28 | 2005-02-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Vacuum container and display device having a getter with a getter material |
| US6926575B1 (en) | 1999-03-31 | 2005-08-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for manufacturing flat image display and flat image display |
| JP2008130376A (ja) * | 2006-11-21 | 2008-06-05 | Mt Picture Display Co Ltd | 真空装置 |
| JP2011243557A (ja) * | 2010-05-20 | 2011-12-01 | Qinghua Univ | 電界放出装置及びその製造方法 |
-
1991
- 1991-03-19 JP JP5432591A patent/JPH04289640A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05205669A (ja) * | 1992-01-24 | 1993-08-13 | Futaba Corp | 蛍光表示装置 |
| US5936342A (en) * | 1994-12-14 | 1999-08-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Image display apparatus and method of activating getter |
| JPH1125889A (ja) * | 1997-06-27 | 1999-01-29 | Pixtech Sa | フラットマイクロチップスクリーンのイオンポンピング |
| US6489720B1 (en) | 1998-09-07 | 2002-12-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Image-forming apparatus and fabrication method therefor |
| EP1020889A1 (en) * | 1999-01-13 | 2000-07-19 | Canon Kabushiki Kaisha | Process for forming non-evaporative getter and method of producing image forming apparatus |
| US6383050B1 (en) | 1999-01-13 | 2002-05-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Process for forming non-evaporative getter and method of producing image forming apparatus |
| US6559596B1 (en) | 1999-02-26 | 2003-05-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Getter, air tight chamber and image forming apparatus having getter, and manufacturing method of getter |
| US6926575B1 (en) | 1999-03-31 | 2005-08-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for manufacturing flat image display and flat image display |
| US6858984B2 (en) | 2000-07-28 | 2005-02-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Vacuum container and display device having a getter with a getter material |
| JP2008130376A (ja) * | 2006-11-21 | 2008-06-05 | Mt Picture Display Co Ltd | 真空装置 |
| JP2011243557A (ja) * | 2010-05-20 | 2011-12-01 | Qinghua Univ | 電界放出装置及びその製造方法 |
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