JPH0429086A - 放射性ダストサンプリング装置 - Google Patents
放射性ダストサンプリング装置Info
- Publication number
- JPH0429086A JPH0429086A JP13495290A JP13495290A JPH0429086A JP H0429086 A JPH0429086 A JP H0429086A JP 13495290 A JP13495290 A JP 13495290A JP 13495290 A JP13495290 A JP 13495290A JP H0429086 A JPH0429086 A JP H0429086A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dust
- filter paper
- collection chamber
- sampling
- dust collection
- Prior art date
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- Pending
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- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、原子力施設内および周辺環境等の空気中の放
射性物質を含むダストをサンプリングラインに導き、ろ
紙により捕集して放射能レベルを測定する装置に係り、
特に放射性ダストのサンプリング装置に関する。
射性物質を含むダストをサンプリングラインに導き、ろ
紙により捕集して放射能レベルを測定する装置に係り、
特に放射性ダストのサンプリング装置に関する。
(従来の技術)
ダストをろ紙に捕集し放射能を測定する方法は、従来か
ら実施されているが、空気中に存在する自然放射能のラ
ドン・トロンも同時に捕集され、目的とする核種(主と
して111(−3,905r等)の放射能レベル測定に
悪影響を与える。
ら実施されているが、空気中に存在する自然放射能のラ
ドン・トロンも同時に捕集され、目的とする核種(主と
して111(−3,905r等)の放射能レベル測定に
悪影響を与える。
現状では、ラドン・トロンの半減期が比較的短かい(平
均0.5時間)ことを利用し、捕集後時間をおいて(1
〜2時間)測定する方法をとる場合がある。また、検出
感度を下げて測定する等の方法をとっている。しかし、
いずれもリアルタイムの測定ができない、あるいは検出
感度が低い等の問題がある。
均0.5時間)ことを利用し、捕集後時間をおいて(1
〜2時間)測定する方法をとる場合がある。また、検出
感度を下げて測定する等の方法をとっている。しかし、
いずれもリアルタイムの測定ができない、あるいは検出
感度が低い等の問題がある。
(発明が解決しようとする課題)
本発明は、従来の欠点であるラドン・トロンの影響を取
り除き、測定したい核種を含むダストのみをろ紙上に捕
集する放射性ダストサンプリング装置を実現することを
課題とし、本発明の目的もそこにある。
り除き、測定したい核種を含むダストのみをろ紙上に捕
集する放射性ダストサンプリング装置を実現することを
課題とし、本発明の目的もそこにある。
(課題を解決するための手段)
通常の空気中において、放射能を含む浮遊ダストの性状
は、SiO□、有機物等のダスト母材の中に放射性の1
37C5,905rの金属または酸化物が混入し、ガス
状のラドン・トロン分子が表面に吸着または母材に取り
込まれている。表面に吸着している場合は、結合力が弱
く、温度が上昇すれば容易に脱着する。また、母材に取
り込まれたラドン・トロンは、温度上昇により圧力の上
昇および分子自体の移動度(モビリティ)の増加により
、母材の隙間から抜は出す。
は、SiO□、有機物等のダスト母材の中に放射性の1
37C5,905rの金属または酸化物が混入し、ガス
状のラドン・トロン分子が表面に吸着または母材に取り
込まれている。表面に吸着している場合は、結合力が弱
く、温度が上昇すれば容易に脱着する。また、母材に取
り込まれたラドン・トロンは、温度上昇により圧力の上
昇および分子自体の移動度(モビリティ)の増加により
、母材の隙間から抜は出す。
これに対し、放射性のL’17C3,90Srは、沸点
が700℃〜1300℃であり、これ以下の温度では蒸
気圧が低く、(ラドン・トロンの沸点は−61,9℃)
減少する割合は極めて少ない。
が700℃〜1300℃であり、これ以下の温度では蒸
気圧が低く、(ラドン・トロンの沸点は−61,9℃)
減少する割合は極めて少ない。
そこで本発明は、ラドン・トロンの沸点と137(、s
、 90Srの沸点との大きな違いを利用し、ヒータに
よりサンプリング空気中のダストを加熱し、ラドン・ト
ロンをダストから分離するようにしたものである。すな
わち、本発明の放射性ダストサブリング装置は、密閉容
器に形成されたダスト捕集室へのサンプリング配管にプ
レヒータを設けるとともに、ダスト捕集室内に配置され
たダスト捕集用のろ紙のまわりにもメインヒータを設け
、さらに前記ダスト捕集室底部からの吸引系に捕集室頂
部からのバイパス配管を付加したことを特徴とする。
、 90Srの沸点との大きな違いを利用し、ヒータに
よりサンプリング空気中のダストを加熱し、ラドン・ト
ロンをダストから分離するようにしたものである。すな
わち、本発明の放射性ダストサブリング装置は、密閉容
器に形成されたダスト捕集室へのサンプリング配管にプ
レヒータを設けるとともに、ダスト捕集室内に配置され
たダスト捕集用のろ紙のまわりにもメインヒータを設け
、さらに前記ダスト捕集室底部からの吸引系に捕集室頂
部からのバイパス配管を付加したことを特徴とする。
(作 用)
本発明の放射性ダストサンプリング装置において、プレ
ヒータは導入されて来るサンプリング空気を加熱し、ダ
スト表面に吸着しているラドントロンを脱着させる。ダ
スト捕集室では重力を利用してダストを極力ろ紙上に落
す。ダストを含まないラドン・トロンガスは、)IEP
Aフィルタを介してバイパス配管へ流量させる。また、
ろ紙まわりに設けられたメインヒータによりダストを捕
集したろ紙を加熱し、母材に取り込まれているラドント
ロンをダストから分離させる。このラドン・トロンガス
はろ紙に再吸着し捕集される恐れがあるため、N2ガス
等で一時的にパージしてやり、ろ紙の下流へ追い出す。
ヒータは導入されて来るサンプリング空気を加熱し、ダ
スト表面に吸着しているラドントロンを脱着させる。ダ
スト捕集室では重力を利用してダストを極力ろ紙上に落
す。ダストを含まないラドン・トロンガスは、)IEP
Aフィルタを介してバイパス配管へ流量させる。また、
ろ紙まわりに設けられたメインヒータによりダストを捕
集したろ紙を加熱し、母材に取り込まれているラドント
ロンをダストから分離させる。このラドン・トロンガス
はろ紙に再吸着し捕集される恐れがあるため、N2ガス
等で一時的にパージしてやり、ろ紙の下流へ追い出す。
以上により、ラドン・トロンガスはダストから完全に分
離除去され、目的とする核種を含むダストのみをろ紙に
捕集できる。
離除去され、目的とする核種を含むダストのみをろ紙に
捕集できる。
(実施例)
以下、図面に示した実施例に基いて本発明の詳細な説明
する。
する。
第1図に本発明一実施例の放射性ダストサンプリング装
置を示す。図示のように、密閉容器に形成されたダスト
捕集室ωの上部にサンプリング配管■が接続されており
、このサンプリング配管■のダスト捕集室近傍にプレヒ
ータ■が設けられている。そして、このプレヒータ■よ
りも上流側のサンプリング配管■には、パージガス供給
管(イ)が弁を介して接続されている。ダスト捕集室(
ト)白下部寄りに室を仕切ってろ紙0が配置され、この
ろ紙0のまわりにメインヒータ0が設けられている。
置を示す。図示のように、密閉容器に形成されたダスト
捕集室ωの上部にサンプリング配管■が接続されており
、このサンプリング配管■のダスト捕集室近傍にプレヒ
ータ■が設けられている。そして、このプレヒータ■よ
りも上流側のサンプリング配管■には、パージガス供給
管(イ)が弁を介して接続されている。ダスト捕集室(
ト)白下部寄りに室を仕切ってろ紙0が配置され、この
ろ紙0のまわりにメインヒータ0が設けられている。
ダスト捕集室■の底部には吸引配管■の一端が接続され
、他端は吸引ポンプ(13)に接続されている。
、他端は吸引ポンプ(13)に接続されている。
また、ダスト捕集室■の頂部には、HEPAフィルタ(
8)を介してバイパス配管(9)の一端が接続され、他
端は吸引ポンプ(13)の手前位置で吸引配管■に合流
接続されている。吸引配管■とバイパス配管■の合流点
手前側にそれぞれ流量調整弁(10)が介装されている
。さらに、吸引配管ωの流量調整弁(10)の手前側に
は、負圧計(11)と流量計(12)が設けられている
。
8)を介してバイパス配管(9)の一端が接続され、他
端は吸引ポンプ(13)の手前位置で吸引配管■に合流
接続されている。吸引配管■とバイパス配管■の合流点
手前側にそれぞれ流量調整弁(10)が介装されている
。さらに、吸引配管ωの流量調整弁(10)の手前側に
は、負圧計(11)と流量計(12)が設けられている
。
上記のように構成された本発明一実施例の放射性ダスト
サンプリング装置においては、吸引ポンプ(13)によ
る吸引によりサンプリング配管■入口から流入したサン
プリング空気は、プレヒータ■により加熱され、ダスト
捕集室■内では大部分のラドン・トロンガスはダストと
分離された状態となる。流量調整弁(lO)により吸引
配管■およびバイパス配管(9)の各流量を調整するこ
とで、ダスト捕集室のでは上下2方向から吸引されるの
で、比較的重いダストは下にあるろ紙■へ、ガス状のラ
ドン・トロンは上にあるバイパス配管■の方へ向かう。
サンプリング装置においては、吸引ポンプ(13)によ
る吸引によりサンプリング配管■入口から流入したサン
プリング空気は、プレヒータ■により加熱され、ダスト
捕集室■内では大部分のラドン・トロンガスはダストと
分離された状態となる。流量調整弁(lO)により吸引
配管■およびバイパス配管(9)の各流量を調整するこ
とで、ダスト捕集室のでは上下2方向から吸引されるの
で、比較的重いダストは下にあるろ紙■へ、ガス状のラ
ドン・トロンは上にあるバイパス配管■の方へ向かう。
このとき、一部のダストがバイパス配管■)の方へ向っ
た場合には、HEPAフィルタ■により阻止される。
た場合には、HEPAフィルタ■により阻止される。
ダストを捕集したろ紙■は、メインヒータ(へ)により
加熱され、ダスト内部に取り込まれているラドン・トロ
ンガスを滲み出させ、パージガス供給管(イ)から−時
的にN2ガスを送り込み、ラドン・トロンガスを完全に
追い出すことができる。これにより、目的とする核種を
含むダストのみをろ紙に捕集することができる。
加熱され、ダスト内部に取り込まれているラドン・トロ
ンガスを滲み出させ、パージガス供給管(イ)から−時
的にN2ガスを送り込み、ラドン・トロンガスを完全に
追い出すことができる。これにより、目的とする核種を
含むダストのみをろ紙に捕集することができる。
第2図に示すものは、本発明の放射性ダストサンプリン
グ装置のろ紙(ハ)に放射線検出器(14)をセットし
、放射能測定を行なうようにした例である。
グ装置のろ紙(ハ)に放射線検出器(14)をセットし
、放射能測定を行なうようにした例である。
また、第3図に示すものは、固定ろ紙の代りに連続式ろ
紙(15)を使用した例である。また、これらを組合わ
せた測定装置も可能である。
紙(15)を使用した例である。また、これらを組合わ
せた測定装置も可能である。
以上説明したように1本発明−実施例の放射性ダストサ
ンプリング装置によれば、ラドン・トロンを含む浮遊ダ
スト中の放射能(13’ cs 、 903 r)を測
定しようとする場合、ラドン・トロンを効果的に追い出
すことができ、はとんどリアルタイムで、目的とする核
種の高感度な放射能測定が可能となる。
ンプリング装置によれば、ラドン・トロンを含む浮遊ダ
スト中の放射能(13’ cs 、 903 r)を測
定しようとする場合、ラドン・トロンを効果的に追い出
すことができ、はとんどリアルタイムで、目的とする核
種の高感度な放射能測定が可能となる。
以上詳述したように本発明によれば、密閉容器に形成さ
れたダスト捕集室へのサンプリング配管にプレヒータを
設けるとともに、ダスト捕集室内に配置されたダスト捕
集用のろ紙のまわりにもメインヒータを設け、さらに前
記ダスト捕集室底部からの吸引系に捕集室頂部からのバ
イパス配管を付加したことを特徴とする放射性ダストサ
ンプリング装置を実現したことにより、ラドン・トロン
と目的とする核種1:J7C5,90Srとの沸点の差
を利用し、サンプリング空気をプレヒータで加熱してダ
スト表面に吸着しているラドン・トロンを脱着させ、ラ
ドン・トロンガスはダスト捕集室頂部のバイパス配管か
ら流出させ、ラドン・トロンが脱着されたダストはろ紙
に捕集される。ダストを捕集したろ紙をメインヒータで
加熱し、ダスト内部に取り込まれているラドン・トロン
をダストから分離させ、−時的にN2ガスを送り込んで
ラドン・トロンガスを完全に追い出すことができる。し
たがって、本発明の放射性ダストサンプリング装置を用
いることにより、ラドン・トロンの影響を受けることな
く、はとんどリアルタイムで、目的とする核種の高感度
な放射能測定が可能となる。
れたダスト捕集室へのサンプリング配管にプレヒータを
設けるとともに、ダスト捕集室内に配置されたダスト捕
集用のろ紙のまわりにもメインヒータを設け、さらに前
記ダスト捕集室底部からの吸引系に捕集室頂部からのバ
イパス配管を付加したことを特徴とする放射性ダストサ
ンプリング装置を実現したことにより、ラドン・トロン
と目的とする核種1:J7C5,90Srとの沸点の差
を利用し、サンプリング空気をプレヒータで加熱してダ
スト表面に吸着しているラドン・トロンを脱着させ、ラ
ドン・トロンガスはダスト捕集室頂部のバイパス配管か
ら流出させ、ラドン・トロンが脱着されたダストはろ紙
に捕集される。ダストを捕集したろ紙をメインヒータで
加熱し、ダスト内部に取り込まれているラドン・トロン
をダストから分離させ、−時的にN2ガスを送り込んで
ラドン・トロンガスを完全に追い出すことができる。し
たがって、本発明の放射性ダストサンプリング装置を用
いることにより、ラドン・トロンの影響を受けることな
く、はとんどリアルタイムで、目的とする核種の高感度
な放射能測定が可能となる。
第1図は本発明一実施例の放射性ダストサンプリング装
置を示す系統図、第2図は第1図の装置のろ紙に放射線
検出器をセットした状態を示す要部概略図、第3図は第
1図の装置で固定ろ紙の代りに連続式ろ紙を使用した状
態を示す要部概略図である。 1−・ダスト捕集室 2・・・サンプリング配管3
・・・プレヒータ 5・・・ろ紙6・メインヒー
タ 7・・吸引配管9・・バイパス配管 10
・・・流量調整弁13・・・吸引ポンプ
置を示す系統図、第2図は第1図の装置のろ紙に放射線
検出器をセットした状態を示す要部概略図、第3図は第
1図の装置で固定ろ紙の代りに連続式ろ紙を使用した状
態を示す要部概略図である。 1−・ダスト捕集室 2・・・サンプリング配管3
・・・プレヒータ 5・・・ろ紙6・メインヒー
タ 7・・吸引配管9・・バイパス配管 10
・・・流量調整弁13・・・吸引ポンプ
Claims (1)
- 密閉容器に形成されたダスト捕集室に接続され放射性物
質を含むダストが浮遊している空気をダスト捕集室内へ
導くサンプリング配管と、このサンプリング配管のダス
ト捕集室近傍に設けられサンプリング空気を加熱するプ
レヒータと、前記ダスト捕集室内下部寄りに配置されサ
ンプリング空気中のダストを捕集するろ紙と、このろ線
のまわりに設けられたメインヒータと、前記ダスト捕集
室底部に一端が接続され他端が吸引ポンプに接続された
吸引配管と、前記ダスト捕集室頂部にフィルタを介して
一端が接続され他端が前記吸引ポンプ手前位置で吸引配
管に合流接続されたバイパス配管とを具備した放射性ダ
ストサンプリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13495290A JPH0429086A (ja) | 1990-05-24 | 1990-05-24 | 放射性ダストサンプリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13495290A JPH0429086A (ja) | 1990-05-24 | 1990-05-24 | 放射性ダストサンプリング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0429086A true JPH0429086A (ja) | 1992-01-31 |
Family
ID=15140408
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13495290A Pending JPH0429086A (ja) | 1990-05-24 | 1990-05-24 | 放射性ダストサンプリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0429086A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006064521A (ja) * | 2004-08-26 | 2006-03-09 | Mitsubishi Electric Corp | 放射性ヨウ素サンプラおよびそれを具備する放射性ヨウ素モニタ |
-
1990
- 1990-05-24 JP JP13495290A patent/JPH0429086A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006064521A (ja) * | 2004-08-26 | 2006-03-09 | Mitsubishi Electric Corp | 放射性ヨウ素サンプラおよびそれを具備する放射性ヨウ素モニタ |
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