JPH04290940A - 光変調器の特性測定方法及び装置 - Google Patents
光変調器の特性測定方法及び装置Info
- Publication number
- JPH04290940A JPH04290940A JP7827191A JP7827191A JPH04290940A JP H04290940 A JPH04290940 A JP H04290940A JP 7827191 A JP7827191 A JP 7827191A JP 7827191 A JP7827191 A JP 7827191A JP H04290940 A JPH04290940 A JP H04290940A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical modulator
- light
- optical
- modulator
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光変調器の特性測定方法
及び装置に関する。
及び装置に関する。
【０００２】光通信システムにおける変調方式としては
、半導体レーザに流れる電流をデータ信号により変調す
る直接変調方式が一般的である。しかし、直接変調方式
によると、伝送速度が速くなるのに従って出力される光
信号の波長変動（チャーピング）の影響が大きくなり、
伝送路として使用される光ファイバ内の波長分散により
長距離伝送が困難となってきた。
、半導体レーザに流れる電流をデータ信号により変調す
る直接変調方式が一般的である。しかし、直接変調方式
によると、伝送速度が速くなるのに従って出力される光
信号の波長変動（チャーピング）の影響が大きくなり、
伝送路として使用される光ファイバ内の波長分散により
長距離伝送が困難となってきた。
【０００３】このような点に鑑み、原理的にチャーピン
グを生じないマッハツェンダ型光変調器等の光変調器を
用いた外部変調方式が検討されている。外部変調方式に
おいては、駆動電圧の増減に対応して出力光強度が周期
的に増減するという光変調器の特性を利用して、一定強
度の光が入力している光変調器の駆動電圧をデータ信号
により変調して変調光を得るようにしている。このよう
な外部変調方式を実施するに際しては、光変調器の特性
を把握しておくことが必要であり、特性測定の容易化が
要望されている。
グを生じないマッハツェンダ型光変調器等の光変調器を
用いた外部変調方式が検討されている。外部変調方式に
おいては、駆動電圧の増減に対応して出力光強度が周期
的に増減するという光変調器の特性を利用して、一定強
度の光が入力している光変調器の駆動電圧をデータ信号
により変調して変調光を得るようにしている。このよう
な外部変調方式を実施するに際しては、光変調器の特性
を把握しておくことが必要であり、特性測定の容易化が
要望されている。
【０００４】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来、
光変調器の特性評価方法としては、実際の動作周波数よ
りもはるかに低い周波数で変調を行い、その変調波形か
ら変調特性を求める方法が一般によく用いられている。 ところが、ＬｉＮｂＯ３ からなる導波路基板を用いた
マッハツェンダ型光変調器等のように入力光の偏光状態
により変調特性が異なる光変調器においては、上記方法
により変調特性を評価することができない。何故ならば
、この種の偏光依存性を有している光変調器にあっては
、特定の偏光状態の光、例えばＴＭ光を入力して使用さ
れるようになっており、測定時に入力光にＴＥ光が混入
していると実際の使用状態における変調特性を正確に評
価し得ないからである。従って、従来、偏光依存性のあ
る光変調器の特性を評価するに際しては、特定の偏光状
態の光が正確に光変調器に入力するようにしておく必要
があり、煩雑な光学調整作業等が要求されるという問題
があった。特に長時間にわたる経時的な光変調器の特性
変化を評価しようとする場合には、特定の偏光状態の光
を安定して光変調器に入力させておくのには困難性を伴
う。
光変調器の特性評価方法としては、実際の動作周波数よ
りもはるかに低い周波数で変調を行い、その変調波形か
ら変調特性を求める方法が一般によく用いられている。 ところが、ＬｉＮｂＯ３ からなる導波路基板を用いた
マッハツェンダ型光変調器等のように入力光の偏光状態
により変調特性が異なる光変調器においては、上記方法
により変調特性を評価することができない。何故ならば
、この種の偏光依存性を有している光変調器にあっては
、特定の偏光状態の光、例えばＴＭ光を入力して使用さ
れるようになっており、測定時に入力光にＴＥ光が混入
していると実際の使用状態における変調特性を正確に評
価し得ないからである。従って、従来、偏光依存性のあ
る光変調器の特性を評価するに際しては、特定の偏光状
態の光が正確に光変調器に入力するようにしておく必要
があり、煩雑な光学調整作業等が要求されるという問題
があった。特に長時間にわたる経時的な光変調器の特性
変化を評価しようとする場合には、特定の偏光状態の光
を安定して光変調器に入力させておくのには困難性を伴
う。
【０００５】本発明はこのような事情に鑑みて創作され
たもので、偏光依存性のある光変調器の特性評価の容易
化を目的としている。
たもので、偏光依存性のある光変調器の特性評価の容易
化を目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の光変調器
の特性測定装置の構成を示す原理ブロック図である。
の特性測定装置の構成を示す原理ブロック図である。
【０００７】本発明の光変調器の特性測定装置は、光源
２と、該光源２からの光が入力し、駆動電圧の増減に対
応して出力光強度が周期的に増減する被測定用の光変調
器４と、上記駆動電圧を一定周期の繰り返し波形により
変調する変調手段６と、上記光変調器４から出力された
光信号を電気信号に変換する光−電気変換手段８と、該
電気信号をフーリエ変換により互いに直交する偏光面を
有する偏光成分に対応する周波数成分に分離する分離手
段１０と、該周波数成分に基づいて所定偏光成分に対す
る上記光変調器４の特性を測定する測定手段１２とを備
えて構成される。
２と、該光源２からの光が入力し、駆動電圧の増減に対
応して出力光強度が周期的に増減する被測定用の光変調
器４と、上記駆動電圧を一定周期の繰り返し波形により
変調する変調手段６と、上記光変調器４から出力された
光信号を電気信号に変換する光−電気変換手段８と、該
電気信号をフーリエ変換により互いに直交する偏光面を
有する偏光成分に対応する周波数成分に分離する分離手
段１０と、該周波数成分に基づいて所定偏光成分に対す
る上記光変調器４の特性を測定する測定手段１２とを備
えて構成される。
【０００８】また、本発明の光変調器の特性測定方法は
、駆動電圧の増減に対応して出力光強度が周期的に増減
する被測定用の光変調器４の上記駆動電圧を一定周期の
繰り返し波形により変調するステップと、該光変調器４
から出力された光信号を電気信号に変換するステップと
、該電気信号をフーリエ変換により互いに直交する偏光
面を有する偏光成分に対応する周波数成分に分離するス
テップと、該周波数成分に基づいて所定偏光成分に対応
する上記光変調器４の特性を測定するステップとを含ん
で構成される。
、駆動電圧の増減に対応して出力光強度が周期的に増減
する被測定用の光変調器４の上記駆動電圧を一定周期の
繰り返し波形により変調するステップと、該光変調器４
から出力された光信号を電気信号に変換するステップと
、該電気信号をフーリエ変換により互いに直交する偏光
面を有する偏光成分に対応する周波数成分に分離するス
テップと、該周波数成分に基づいて所定偏光成分に対応
する上記光変調器４の特性を測定するステップとを含ん
で構成される。
【０００９】
【作用】本発明によると、光変調器の駆動電圧を一定周
期の繰り返し波形により変調し、変調光を変換して得ら
れる電気信号をフーリエ変換して、互いに直交する偏光
面を有する偏光成分（ＴＥ光及びＴＭ光で説明を進める
）に対応する周波数成分に分離するようにしているので
、特性測定に際しては、ＴＥ光又はＴＭ光のいずれか一
方のみが光変調器に入力するように光学的な調整を行う
ことなしに、ＴＥ光或いはＴＭ光に対する光変調器の特
性を評価し得るようになる。
期の繰り返し波形により変調し、変調光を変換して得ら
れる電気信号をフーリエ変換して、互いに直交する偏光
面を有する偏光成分（ＴＥ光及びＴＭ光で説明を進める
）に対応する周波数成分に分離するようにしているので
、特性測定に際しては、ＴＥ光又はＴＭ光のいずれか一
方のみが光変調器に入力するように光学的な調整を行う
ことなしに、ＴＥ光或いはＴＭ光に対する光変調器の特
性を評価し得るようになる。
【００１０】本発明において、変調光から得られた電気
信号をフーリエ変換するステップ又は手段を採用してい
るのは、駆動電圧を一定周期の繰り返し波形により変調
したときに得られる変調波形の周期が、光変調器にＴＥ
光が入力しているときとＴＭ光が入力しているときとで
異なり、これを周波数領域で分離するのに上記ステップ
又は手段が有効だからである。
信号をフーリエ変換するステップ又は手段を採用してい
るのは、駆動電圧を一定周期の繰り返し波形により変調
したときに得られる変調波形の周期が、光変調器にＴＥ
光が入力しているときとＴＭ光が入力しているときとで
異なり、これを周波数領域で分離するのに上記ステップ
又は手段が有効だからである。
【００１１】尚、分離された周波数成分の少なくとも一
方を逆フーリエ変換することによって、ＴＥ光、ＴＭ光
のいずれか一方についての光変調器の特性曲線（光出力
強度と駆動電圧の関係を表す曲線）を得ることができる
。
方を逆フーリエ変換することによって、ＴＥ光、ＴＭ光
のいずれか一方についての光変調器の特性曲線（光出力
強度と駆動電圧の関係を表す曲線）を得ることができる
。
【００１２】
【実施例】以下本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。
る。
【００１３】図２は本発明の実施に使用することができ
るマッハツェンダ型光変調器の斜視図である。このマッ
ハツェンダ型光変調器１３は、例えばＬｉＮｂＯ３ （
ニオブ酸リチウム）からなる平板状の導波路基板１４に
Ｔｉ（チタン）を熱拡散させることによってＹ分岐導波
路を２つ組み合わせた形状の光導波部１６を形成し、こ
の光導波部１６の分岐部分１６ａ，１６ｂにそれぞれ接
地用の電極１８及び進行波用の電極２０を装荷して構成
されている。実用時における変調動作に際しては、進行
波用の電極２０の入力側部分２０ａには高周波の変調信
号が入力され、出力側部分２０ｂは終端処理されている
。
るマッハツェンダ型光変調器の斜視図である。このマッ
ハツェンダ型光変調器１３は、例えばＬｉＮｂＯ３ （
ニオブ酸リチウム）からなる平板状の導波路基板１４に
Ｔｉ（チタン）を熱拡散させることによってＹ分岐導波
路を２つ組み合わせた形状の光導波部１６を形成し、こ
の光導波部１６の分岐部分１６ａ，１６ｂにそれぞれ接
地用の電極１８及び進行波用の電極２０を装荷して構成
されている。実用時における変調動作に際しては、進行
波用の電極２０の入力側部分２０ａには高周波の変調信
号が入力され、出力側部分２０ｂは終端処理されている
。
【００１４】尚、光ファイバとの結合損失を低く抑える
ために、基板の光学軸（ｚ軸）は電極形成面に対して垂
直な方向に設定されており、且つ、実用時にはｚ軸と平
行な偏波面を有するＴＭ光が光導波部１６に入力するよ
うにされている。
ために、基板の光学軸（ｚ軸）は電極形成面に対して垂
直な方向に設定されており、且つ、実用時にはｚ軸と平
行な偏波面を有するＴＭ光が光導波部１６に入力するよ
うにされている。
【００１５】この構成によると、変調信号を入力したと
きに、同位相で分岐された分岐光に異なる位相変化を与
えることができる。光導波部１６は、Ｙ分岐部分を除い
て基本モード光のみを伝搬する単一モード光導波路にさ
れているので、分岐光の位相差が零であるときには出力
される干渉光の強度は最大となり、分岐光の位相差がπ
であるときには、干渉光の強度は最小となる。また、位
相差が零とπの間であるときには、位相差に応じた干渉
光強度となる。従って、変調信号に応じた光強度変調を
行うことができる。
きに、同位相で分岐された分岐光に異なる位相変化を与
えることができる。光導波部１６は、Ｙ分岐部分を除い
て基本モード光のみを伝搬する単一モード光導波路にさ
れているので、分岐光の位相差が零であるときには出力
される干渉光の強度は最大となり、分岐光の位相差がπ
であるときには、干渉光の強度は最小となる。また、位
相差が零とπの間であるときには、位相差に応じた干渉
光強度となる。従って、変調信号に応じた光強度変調を
行うことができる。
【００１６】いま、図２に示されたようなマッハツェン
ダ型光変調器において、入力光がＴＥ光である場合及び
入力光がＴＭ光である場合における光出力強度と駆動電
圧の関係を考察する。入力光がＴＥ光である場合の光出
力強度をＩＴＥとし、入力光がＴＭ光である場合の光出
力強度をＩＴＭとすると、これらは次の式で表される。 ＩＴＥ＝ＡＴＥ ｃｏｓ２ ｛（π／λ）ｒ１３ｎＯ
３ ΓＥ｝ＩＴＭ＝ＡＴＭ ｃｏｓ２ ｛（π／λ）ｒ
３３ｎｅ ３ ΓＥ｝ここで、ＡＴＥはＴＥ光の強度振
幅、ＡＴＭはＴＭ光の強度振幅、λは光波長、ｒ１３，
ｒ３３はＬｉＮｂＯ３ の電気光学定数、ｎＯ はＴＥ
光に対する波長λでの屈折率、ｎｅ はＴＭ光に対する
波長λでの屈折率、Γは印加電界のうち有効に変調に寄
与する電界の割合、Ｅは印加された電界強度（駆動電圧
に相当）をそれぞれ表している。
ダ型光変調器において、入力光がＴＥ光である場合及び
入力光がＴＭ光である場合における光出力強度と駆動電
圧の関係を考察する。入力光がＴＥ光である場合の光出
力強度をＩＴＥとし、入力光がＴＭ光である場合の光出
力強度をＩＴＭとすると、これらは次の式で表される。 ＩＴＥ＝ＡＴＥ ｃｏｓ２ ｛（π／λ）ｒ１３ｎＯ
３ ΓＥ｝ＩＴＭ＝ＡＴＭ ｃｏｓ２ ｛（π／λ）ｒ
３３ｎｅ ３ ΓＥ｝ここで、ＡＴＥはＴＥ光の強度振
幅、ＡＴＭはＴＭ光の強度振幅、λは光波長、ｒ１３，
ｒ３３はＬｉＮｂＯ３ の電気光学定数、ｎＯ はＴＥ
光に対する波長λでの屈折率、ｎｅ はＴＭ光に対する
波長λでの屈折率、Γは印加電界のうち有効に変調に寄
与する電界の割合、Ｅは印加された電界強度（駆動電圧
に相当）をそれぞれ表している。
【００１７】従って、マッハツェンダ型光変調器のＴＥ
光及びＴＭ光に対する特性曲線はそれぞれ図３（ａ）及
び図３（ｂ）に示すようになる。尚、両グラフにおいて
縦軸及び横軸は同じ目盛尺度で表されている。最大光出
力強度を与える駆動電圧と、これと隣り合う最小光出力
強度を与える駆動電圧との差を半波長電圧というものと
すると、ＬｉＮｂＯ３ の電気光学定数ｒ１３とｒ３３
がそれぞれ８．６と３０．８であることから、ＴＭ光を
入力したときの半波長電圧はＴＥ光を入力したときの半
波長電圧の約１／３である。従って、マッハツェンダ型
光変調器の実用時に低電圧駆動を可能にするためには、
前述のように結晶のｚ軸に平行な偏波面を有するＴＭ光
を入力するのである。
光及びＴＭ光に対する特性曲線はそれぞれ図３（ａ）及
び図３（ｂ）に示すようになる。尚、両グラフにおいて
縦軸及び横軸は同じ目盛尺度で表されている。最大光出
力強度を与える駆動電圧と、これと隣り合う最小光出力
強度を与える駆動電圧との差を半波長電圧というものと
すると、ＬｉＮｂＯ３ の電気光学定数ｒ１３とｒ３３
がそれぞれ８．６と３０．８であることから、ＴＭ光を
入力したときの半波長電圧はＴＥ光を入力したときの半
波長電圧の約１／３である。従って、マッハツェンダ型
光変調器の実用時に低電圧駆動を可能にするためには、
前述のように結晶のｚ軸に平行な偏波面を有するＴＭ光
を入力するのである。
【００１８】もし、入力光の偏光状態を特定しないで光
出力強度と駆動電圧の関係を求めると、図４に示すよう
になる。即ち、ＴＥ光に対する特性とＴＭ光に対する特
性とが足し合わされた形の特性曲線が得られ、実際に必
要となるＴＭ光に対するマッハツェンダ型光変調器の特
性は得られないことになる。測定に際して入力光がＴＭ
光になるように光学的調整を長時間安定に維持すること
の困難性は前に指摘した通りである。
出力強度と駆動電圧の関係を求めると、図４に示すよう
になる。即ち、ＴＥ光に対する特性とＴＭ光に対する特
性とが足し合わされた形の特性曲線が得られ、実際に必
要となるＴＭ光に対するマッハツェンダ型光変調器の特
性は得られないことになる。測定に際して入力光がＴＭ
光になるように光学的調整を長時間安定に維持すること
の困難性は前に指摘した通りである。
【００１９】入力光の偏光状態を特定しておくことを必
要とせずにマッハツェンダ型光変調器における所要の特
性を評価するための装置の構成の実施例を図５に示す。
要とせずにマッハツェンダ型光変調器における所要の特
性を評価するための装置の構成の実施例を図５に示す。
【００２０】図５において、２２は光源として使用され
る半導体レーザであり、この半導体レーザ２２からの光
はマッハツェンダ型光変調器２４に入力する。マッハツ
ェンダ型光変調器２４の駆動電圧（バイアス電圧）は、
一定周期の繰り返し波形を発生する信号発生器２８から
の信号により掃引されている。この繰り返し波形の周波
数はマッハツェンダ型光変調器を実用するときの変調周
波数よりも充分低い周波数であり、また、該繰り返し波
形の振幅はＴＭ光についての半波長電圧よりも大きく設
定される。繰り返し波形としては三角波や正弦波を使用
することができる。
る半導体レーザであり、この半導体レーザ２２からの光
はマッハツェンダ型光変調器２４に入力する。マッハツ
ェンダ型光変調器２４の駆動電圧（バイアス電圧）は、
一定周期の繰り返し波形を発生する信号発生器２８から
の信号により掃引されている。この繰り返し波形の周波
数はマッハツェンダ型光変調器を実用するときの変調周
波数よりも充分低い周波数であり、また、該繰り返し波
形の振幅はＴＭ光についての半波長電圧よりも大きく設
定される。繰り返し波形としては三角波や正弦波を使用
することができる。
【００２１】掃引により低周波変調されたマッハツェン
ダ型光変調器２４からの光信号は、アバランシェフォト
ダイオード、ＰＩＮフォトダイオード等のフォトダイオ
ード２６により電気信号に変換され、この電気信号及び
信号発生器２８からの掃引信号はオシロスコープ３０に
入力する。本実施例においては、半導体レーザ２２から
マッハツェンダ型光変調器２４に入力する光の偏光状態
が特定されていないので、オシロスコープ３０で観測さ
れる波形は、図４に示されたように、ＴＭ光に対する特
性とＴＥ光に対する特性とが加え合わされた波形になっ
ている。オシロスコープ３０に入力したフォトダイオー
ド２６からの信号は、適当な振幅に増幅された後マイク
ロコンピュータ３２に入力する。
ダ型光変調器２４からの光信号は、アバランシェフォト
ダイオード、ＰＩＮフォトダイオード等のフォトダイオ
ード２６により電気信号に変換され、この電気信号及び
信号発生器２８からの掃引信号はオシロスコープ３０に
入力する。本実施例においては、半導体レーザ２２から
マッハツェンダ型光変調器２４に入力する光の偏光状態
が特定されていないので、オシロスコープ３０で観測さ
れる波形は、図４に示されたように、ＴＭ光に対する特
性とＴＥ光に対する特性とが加え合わされた波形になっ
ている。オシロスコープ３０に入力したフォトダイオー
ド２６からの信号は、適当な振幅に増幅された後マイク
ロコンピュータ３２に入力する。
【００２２】マイクロコンピュータ３２は図１に示され
た分離手段１０及び測定手段１２の機能をなし、即ち、
入力信号をフーリエ変換により互いに直交する偏光面を
有する偏光成分に対応する周波数成分に分離して、この
周波数に基づいて所定偏光成分に対するマッハツェンダ
型光変調器２４の特性を測定する。
た分離手段１０及び測定手段１２の機能をなし、即ち、
入力信号をフーリエ変換により互いに直交する偏光面を
有する偏光成分に対応する周波数成分に分離して、この
周波数に基づいて所定偏光成分に対するマッハツェンダ
型光変調器２４の特性を測定する。
【００２３】本実施例によると、分離された周波数成分
のレベルや周波数に基づいて半波長電圧や最大出力強度
等の特性を得ることができる。この場合、半導体レーザ
２２からマッハツェンダ型光変調器２４に入力する光の
偏光状態を特定しておく必要がないので、測定が極めて
容易である。
のレベルや周波数に基づいて半波長電圧や最大出力強度
等の特性を得ることができる。この場合、半導体レーザ
２２からマッハツェンダ型光変調器２４に入力する光の
偏光状態を特定しておく必要がないので、測定が極めて
容易である。
【００２４】分岐された周波数成分を逆フーリエ変換す
るようなプログラムを組んでおくことによって、半導体
レーザ２２からマッハツェンダ型光変調器２４に入力す
る光の偏光状態を特定していないにもかかわらず、ＴＥ
光に対する特性曲線（光出力強度と駆動電圧の関係を表
す曲線）とＴＭ光に対する特性曲線をそれぞれ独立に得
ることができる。上述のフーリエ変換及び逆フーリエ変
換をリアルタイムで実行するためには、計算機を用いた
高速フーリエ変換、高速フーリエ逆変換を採用すると良
い。
るようなプログラムを組んでおくことによって、半導体
レーザ２２からマッハツェンダ型光変調器２４に入力す
る光の偏光状態を特定していないにもかかわらず、ＴＥ
光に対する特性曲線（光出力強度と駆動電圧の関係を表
す曲線）とＴＭ光に対する特性曲線をそれぞれ独立に得
ることができる。上述のフーリエ変換及び逆フーリエ変
換をリアルタイムで実行するためには、計算機を用いた
高速フーリエ変換、高速フーリエ逆変換を採用すると良
い。
【００２５】図６はオシロスコープ３０により観測され
る波形の例を示す図である。（ａ）は駆動電圧の掃引が
三角波によりなされた場合、（ｂ）は駆動電圧の掃引が
正弦波によりなされた場合についてのものである。尚こ
の例では、たまたまＴＭ光のみがマッハツェンダ型光変
調器２４に入力している。繰り返し波形により駆動電圧
を変調する場合、繰り返し波形による掃引の幅が図３に
示された半波長電圧の整数倍でないと、図６からも明ら
かなように、光出力強度波形に折り返しが生じる。この
ように波形に折り返しが生じている信号をフーリエ変換
すると、所要な周波数成分以外の余分な成分が生じる。 そこで、このような場合には、この余分な周波数成分を
抑制するために、フーリエ変換する波形にある補正用の
関数を掛け合わせるような処理を行うと良い。このよう
な処理に適した関数としては、例えばハニング関数（Ｈ
ａｎｎｉｎｇ ｆｕｎｃｔｉｏｎ）がある。
る波形の例を示す図である。（ａ）は駆動電圧の掃引が
三角波によりなされた場合、（ｂ）は駆動電圧の掃引が
正弦波によりなされた場合についてのものである。尚こ
の例では、たまたまＴＭ光のみがマッハツェンダ型光変
調器２４に入力している。繰り返し波形により駆動電圧
を変調する場合、繰り返し波形による掃引の幅が図３に
示された半波長電圧の整数倍でないと、図６からも明ら
かなように、光出力強度波形に折り返しが生じる。この
ように波形に折り返しが生じている信号をフーリエ変換
すると、所要な周波数成分以外の余分な成分が生じる。 そこで、このような場合には、この余分な周波数成分を
抑制するために、フーリエ変換する波形にある補正用の
関数を掛け合わせるような処理を行うと良い。このよう
な処理に適した関数としては、例えばハニング関数（Ｈ
ａｎｎｉｎｇ ｆｕｎｃｔｉｏｎ）がある。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
偏光依存性のある光変調器の特性評価を容易に行うこと
ができるようになるという効果を奏する。
偏光依存性のある光変調器の特性評価を容易に行うこと
ができるようになるという効果を奏する。
【図１】本発明装置の構成を示す原理ブロック図である
。
。
【図２】本発明の実施に使用することができるマッハツ
ェンダ型光変調器の斜視図である。
ェンダ型光変調器の斜視図である。
【図３】マッハツェンダ型光変調器のＴＥ光及びＴＭ光
に対する特性曲線を示す図である。
に対する特性曲線を示す図である。
【図４】偏光を特定しない場合の特性曲線の例を示す図
である。
である。
【図５】本発明の実施例を示す光変調器の特性測定装置
のブロック図である。
のブロック図である。
【図６】繰り返し波形（三角波、正弦波）により変調さ
れた駆動電圧波形と光出力強度波形の関係を示す図であ
る。
れた駆動電圧波形と光出力強度波形の関係を示す図であ
る。
２ 光源
４ 光変調器
６ 変調手段
８ 光−電気変換手段
１０ 分離手段１２ 測定手段
Claims (4)
- 【請求項１】 駆動電圧の増減に対応して出力光強度
が周期的に増減する被測定用の光変調器（４） の上記
駆動電圧を一定周期の繰り返し波形により変調するステ
ップと、該光変調器（４） から出力された光信号を電
気信号に変換するステップと、該電気信号をフーリエ変
換により互いに直交する偏光面を有する偏光成分に対応
する周波数成分に分離するステップと、該周波数成分に
基づいて所定偏光成分に対応する上記光変調器（４）
の特性を測定するステップとを含むことを特徴とする光
変調器の特性測定方法。 - 【請求項２】 光源（２） と、該光源（２） から
の光が入力し、駆動電圧の増減に対応して出力光強度が
周期的に増減する被測定用の光変調器（４） と、上記
駆動電圧を一定周期の繰り返し波形により変調する変調
手段（６） と、上記光変調器（４） から出力された
光信号を電気信号に変換する光−電気変換手段（８）
と、該電気信号をフーリエ変換により互いに直交する偏
光面を有する偏光成分に対応する周波数成分に分離する
分離手段（１０）と、該周波数成分に基づいて所定偏光
成分に対する上記光変調器（４） の特性を測定する測
定手段（１２）とを備えたことを特徴とする光変調器の
特性測定装置。 - 【請求項３】 上記分離された周波数成分の少なくと
も一方を逆フーリエ変換する手段が上記測定手段（１２
）に含まれていることを特徴とする請求項２に記載の光
変調器の特性測定装置。 - 【請求項４】 上記光変調器（４） がマッハツェン
ダ型光変調器であることを特徴とする請求項１に記載の
方法又は請求項２若しくは３に記載の装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7827191A JPH04290940A (ja) | 1991-03-19 | 1991-03-19 | 光変調器の特性測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7827191A JPH04290940A (ja) | 1991-03-19 | 1991-03-19 | 光変調器の特性測定方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04290940A true JPH04290940A (ja) | 1992-10-15 |
Family
ID=13657321
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7827191A Withdrawn JPH04290940A (ja) | 1991-03-19 | 1991-03-19 | 光変調器の特性測定方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04290940A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009110039A1 (ja) * | 2008-03-07 | 2009-09-11 | 独立行政法人情報通信研究機構 | 高精度マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法 |
| WO2009113128A1 (ja) * | 2008-03-13 | 2009-09-17 | 独立行政法人情報通信研究機構 | 複数マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法 |
| JP2015037300A (ja) * | 2013-08-16 | 2015-02-23 | アンリツ株式会社 | ミリ波変調信号生成装置および生成方法 |
-
1991
- 1991-03-19 JP JP7827191A patent/JPH04290940A/ja not_active Withdrawn
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009110039A1 (ja) * | 2008-03-07 | 2009-09-11 | 独立行政法人情報通信研究機構 | 高精度マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法 |
| US8351047B2 (en) | 2008-03-07 | 2013-01-08 | National Institute Of Information And Communications Technology | Method for evaluating characteristics of optical modulator having high-precision Mach-Zehnder interferometers |
| JP5137042B2 (ja) * | 2008-03-07 | 2013-02-06 | 独立行政法人情報通信研究機構 | 高精度マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法 |
| EP2251666A4 (en) * | 2008-03-07 | 2017-06-14 | National Institute of Information and Communication Technology | Method for evaluating characteristics of optical modulator having high-precision mach-zehnder interferometer |
| WO2009113128A1 (ja) * | 2008-03-13 | 2009-09-17 | 独立行政法人情報通信研究機構 | 複数マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法 |
| US8446591B2 (en) | 2008-03-13 | 2013-05-21 | National Institute Of Information And Communications Technology | Method for evaluating characteristics of optical modulator having Mach-Zehnder interferometers |
| US8693005B2 (en) | 2008-03-13 | 2014-04-08 | National Institute Of Information And Communications Technology | Method for evaluating characteristics of optical modulator having Mach-Zehnder interferometers |
| JP2015037300A (ja) * | 2013-08-16 | 2015-02-23 | アンリツ株式会社 | ミリ波変調信号生成装置および生成方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Izutsu et al. | Integrated optical SSB modulator/frequency shifter | |
| Shi et al. | High-speed electrooptic modulator characterization using optical spectrum analysis | |
| Izutsu et al. | Broad-band traveling-wave modulator using a LiNbO 3 optical waveguide | |
| US8693005B2 (en) | Method for evaluating characteristics of optical modulator having Mach-Zehnder interferometers | |
| JP2619981B2 (ja) | 電磁界強度測定装置 | |
| US6204954B1 (en) | Technique for measuring the Vpi-AC of a mach-zehnder modulator | |
| Johnson | Optical modulators for fiber optic sensors | |
| Anwar et al. | Design considerations for an electrooptic directional coupler modulator | |
| CN106443126A (zh) | 一种测量电光晶体半波电压的方法与装置 | |
| US20070147725A1 (en) | Coupled-waveguide electro-optic switch based on polarisation conversion | |
| JP4184131B2 (ja) | 光ｓｓｂ変調装置 | |
| JP5137042B2 (ja) | 高精度マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法 | |
| JP4608149B2 (ja) | マッハツェンダ型光変調器の半波長電圧測定方法及び装置 | |
| JPH0422246B2 (ja) | ||
| JP3538619B2 (ja) | 光変調器の特性評価方法、およびそれを用いた高周波発振装置の制御方法 | |
| JPH04290940A (ja) | 光変調器の特性測定方法及び装置 | |
| JP3866082B2 (ja) | 光変調器の特性測定方法及び装置 | |
| US5022754A (en) | Determining the wavelength of optical radiation | |
| US20170370723A1 (en) | Electro-optical Phase Modulator Having Stitched-in Vacuum Stable Waveguide with Minimized Conductivity Contrast | |
| US20030133647A1 (en) | Polarization independent electro-optical device for modulation of light | |
| WO2006037181A1 (en) | An optical signal processing device | |
| JP5640195B2 (ja) | 複数マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法 | |
| EP1640788A1 (en) | Method of driving Mach-Zehnder light modulator and light modulating device | |
| Jackel et al. | Nonsymmetric Mach-Zehnder interferometers used as low-drive voltage modulators | |
| Hu | Coupled-resonators on thin-film lithium niobate: Photonic multi-level system with electro-optic transition |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980514 |