JPH04291138A - ストリップの有疵部マーキング装置 - Google Patents
ストリップの有疵部マーキング装置Info
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- JPH04291138A JPH04291138A JP3081919A JP8191991A JPH04291138A JP H04291138 A JPH04291138 A JP H04291138A JP 3081919 A JP3081919 A JP 3081919A JP 8191991 A JP8191991 A JP 8191991A JP H04291138 A JPH04291138 A JP H04291138A
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- Japan
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- tracking
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- Pending
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、冷間圧延によって製造
される鋼板ストリップの表面の疵を検出し、かつその有
疵部にマーキングを施す装置に関するものである。
される鋼板ストリップの表面の疵を検出し、かつその有
疵部にマーキングを施す装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】冷間圧延によって製造される鋼板ストリ
ップは、その品質保証のための疵検査が略全面に渡って
行なわれる。このストリップ表面の疵検査方法としては
、ライン内を走行するストリップ表面をレーザー光にて
幅方向に走査し、この反射波をＣＣＤ素子などの光電変
換素子によって電圧強度に変換し、この信号データから
疵の有無を判別する方法が既に確立されている（特開昭
６３−６２８２５号公報など参照）。
ップは、その品質保証のための疵検査が略全面に渡って
行なわれる。このストリップ表面の疵検査方法としては
、ライン内を走行するストリップ表面をレーザー光にて
幅方向に走査し、この反射波をＣＣＤ素子などの光電変
換素子によって電圧強度に変換し、この信号データから
疵の有無を判別する方法が既に確立されている（特開昭
６３−６２８２５号公報など参照）。
【０００３】一方、このようにして検査した結果は、一
般に文書にて購入者に提示され、疵についても、その性
質や大きさ、並びにその位置が書類上に示されることが
通例である。
般に文書にて購入者に提示され、疵についても、その性
質や大きさ、並びにその位置が書類上に示されることが
通例である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従って、ストリップ素
材の購入者は、書類上のデータと突合わせて現品を再度
確認する必要があり、その作業が厄介であるばかりでな
く、場合によっては疵を見落としたまま加工されたりす
る虞れもあった。
材の購入者は、書類上のデータと突合わせて現品を再度
確認する必要があり、その作業が厄介であるばかりでな
く、場合によっては疵を見落としたまま加工されたりす
る虞れもあった。
【０００５】本発明は、このような従来技術の不都合を
解消すべく案出されたものであり、その主な目的は、有
疵部を再検査するに際し、容易にその部分を識別可能と
するための有疵部マーキング装置を提供することにある
。
解消すべく案出されたものであり、その主な目的は、有
疵部を再検査するに際し、容易にその部分を識別可能と
するための有疵部マーキング装置を提供することにある
。
【０００６】
【課題を解決するための手段】このような目的は、スト
リップ表面をレーザー光にて走査し、光電変換素子にて
その反射光を受光して得られた電圧強度に基づいてスト
リップ表面の疵を検出するための疵検出装置と、ストリ
ップ搬送ローラの周速に基づいてストリップの長さ方向
の任意の位置の移動を追跡するためのトラッキング装置
と、疵検出装置からの疵データおよびトラッキング装置
からの疵位置移動データから得られたストリップ上の有
疵部にマークを付すためのマーキング装置とからなるこ
とを特徴とするストリップの有疵部マーキング装置によ
って達成される。
リップ表面をレーザー光にて走査し、光電変換素子にて
その反射光を受光して得られた電圧強度に基づいてスト
リップ表面の疵を検出するための疵検出装置と、ストリ
ップ搬送ローラの周速に基づいてストリップの長さ方向
の任意の位置の移動を追跡するためのトラッキング装置
と、疵検出装置からの疵データおよびトラッキング装置
からの疵位置移動データから得られたストリップ上の有
疵部にマークを付すためのマーキング装置とからなるこ
とを特徴とするストリップの有疵部マーキング装置によ
って達成される。
【０００７】
【作用】この装置によれば、疵検出装置にて検出された
有疵部をトラッキング装置にて追跡し、プロセス中の適
宜な位置にて塗料などを有疵部に付着させるなどして明
瞭なマーキングを施すことができる。
有疵部をトラッキング装置にて追跡し、プロセス中の適
宜な位置にて塗料などを有疵部に付着させるなどして明
瞭なマーキングを施すことができる。
【０００８】
【実施例】以下に添付の図面に示された具体的な実施例
に基づいて本発明の構成を詳細に説明する。
に基づいて本発明の構成を詳細に説明する。
【０００９】図１は、本発明装置の全体構成を示してい
る。本装置は、Ｈｅ −Ｎｅ レーザー投光器１からス
トリップ２の表面に向けてレーザースポットを幅方向に
掃引照射し、これの反射光をフォトマルチプライヤなど
からなる受光器３にて受けることによって得られた電圧
強度信号を処理装置４にて処理し、この電圧波形、もし
くはこれを微分して得られた微分波形からストリップ２
の表面の疵を検出すると共に、ＣＲＴ画面５上に濃淡画
像として表示するように構成された疵検出装置６と、ス
トリップ２を搬送するハースロール７の回転数をパルス
発信器８にて計数し、これを演算器９にて演算して求め
た板速度と、異材同士の溶接部に設けられたパンチ孔を
光電管１０にて検出して得たコイル毎の基準位置とから
ストリップ２の送り出し量を検出するトラッキング装置
１１と、疵検出装置６からの疵検出データおよびトラッ
キング装置１１からのストリップ送り出し量データから
得られたストリップ２上の有疵部に塗料などをスプレー
するためのマーキング装置１２と、各装置からのデータ
の集約並びに各装置の統合制御を行なう集中制御盤１３
とからなっている。
る。本装置は、Ｈｅ −Ｎｅ レーザー投光器１からス
トリップ２の表面に向けてレーザースポットを幅方向に
掃引照射し、これの反射光をフォトマルチプライヤなど
からなる受光器３にて受けることによって得られた電圧
強度信号を処理装置４にて処理し、この電圧波形、もし
くはこれを微分して得られた微分波形からストリップ２
の表面の疵を検出すると共に、ＣＲＴ画面５上に濃淡画
像として表示するように構成された疵検出装置６と、ス
トリップ２を搬送するハースロール７の回転数をパルス
発信器８にて計数し、これを演算器９にて演算して求め
た板速度と、異材同士の溶接部に設けられたパンチ孔を
光電管１０にて検出して得たコイル毎の基準位置とから
ストリップ２の送り出し量を検出するトラッキング装置
１１と、疵検出装置６からの疵検出データおよびトラッ
キング装置１１からのストリップ送り出し量データから
得られたストリップ２上の有疵部に塗料などをスプレー
するためのマーキング装置１２と、各装置からのデータ
の集約並びに各装置の統合制御を行なう集中制御盤１３
とからなっている。
【００１０】先ず、受光器３が発する電圧強度信号から
得た電圧波形、もしくは微分波形を予め定められた許容
値と比較し、許容値を超える信号が処理装置４に入力し
た場合には、警報を発すると共に、ディジタルメモリに
逐次記憶して静止画像をＣＲＴ画面５上に表示する。と
同時に、この疵発生信号と疵位置とを集中制御盤１３へ
出力する。
得た電圧波形、もしくは微分波形を予め定められた許容
値と比較し、許容値を超える信号が処理装置４に入力し
た場合には、警報を発すると共に、ディジタルメモリに
逐次記憶して静止画像をＣＲＴ画面５上に表示する。と
同時に、この疵発生信号と疵位置とを集中制御盤１３へ
出力する。
【００１１】一方、作業者は、疵発生時におけるＣＲＴ
画面５上の画像を目視にて判断し、有害疵と判別された
場合には、逐一押釦１４などにて有疵判定信号を集中制
御盤１３へ出力する。
画面５上の画像を目視にて判断し、有害疵と判別された
場合には、逐一押釦１４などにて有疵判定信号を集中制
御盤１３へ出力する。
【００１２】他方、ハースロール７の回転数から得られ
るストリップ２の送り長さを基にしてストリップ２上の
任意位置の追跡を行なう。そして有害疵判定信号が発せ
られた疵位置をトラッキングし、かつこれの移動に同期
させて集中制御盤１３からマーキング装置１２に起動信
号を発する。なお、客先別のコイルは中間部で溶接され
ることがあるため、溶接部のパンチ孔を光電管１０で検
出し、これをコイル毎の位置基準とする。
るストリップ２の送り長さを基にしてストリップ２上の
任意位置の追跡を行なう。そして有害疵判定信号が発せ
られた疵位置をトラッキングし、かつこれの移動に同期
させて集中制御盤１３からマーキング装置１２に起動信
号を発する。なお、客先別のコイルは中間部で溶接され
ることがあるため、溶接部のパンチ孔を光電管１０で検
出し、これをコイル毎の位置基準とする。
【００１３】しかして、有害と判定された疵がマーキン
グ装置１２の設置位置を通過するタイミングに同期して
有疵部分に塗料が噴霧される。それと共に、疵データは
外部記憶装置１５に入力され、プリントアウトして検査
成績書に添付したり、あるいは検証データとして保存さ
れる。
グ装置１２の設置位置を通過するタイミングに同期して
有疵部分に塗料が噴霧される。それと共に、疵データは
外部記憶装置１５に入力され、プリントアウトして検査
成績書に添付したり、あるいは検証データとして保存さ
れる。
【００１４】このようにして、再びコイル１６に巻き取
られた素材には、疵位置に明瞭なマークが付けられてい
るため、素材コイルの購入者が加工に際してアンコイル
すれば、疵の有無を容易に判別することができることと
なる。
られた素材には、疵位置に明瞭なマークが付けられてい
るため、素材コイルの購入者が加工に際してアンコイル
すれば、疵の有無を容易に判別することができることと
なる。
【００１５】なお、上記実施例においては、有害疵の判
定に作業者の判断を介入させるものとしたが、疵検出の
精度、あるいは閾値の設定如何によって完全自動化も可
能である。
定に作業者の判断を介入させるものとしたが、疵検出の
精度、あるいは閾値の設定如何によって完全自動化も可
能である。
【００１６】
【発明の効果】このように本発明によれば、ストリップ
上の有疵部分の位置を追跡し、その位置にマークを付け
るようにすることができるため、素材の購入者はアンコ
イルする際に有疵部を容易に発見することができる。従
って、不良部分の除去を行なうに際して購入者に無用な
負担を強いることがなく、その効果は極めて大である。
上の有疵部分の位置を追跡し、その位置にマークを付け
るようにすることができるため、素材の購入者はアンコ
イルする際に有疵部を容易に発見することができる。従
って、不良部分の除去を行なうに際して購入者に無用な
負担を強いることがなく、その効果は極めて大である。
【図１】本発明に基づく有疵部マーキング装置の概略構
成図である。
成図である。
１ 投光器
２ ストリップ
３ 受光器
４ 処理装置
５ ＣＲＴ画面
６ 疵検出装置
７ ハースロール
８ パルス発信器
９ 演算器
１０ 光電管
１１ トラッキング装置
１２ マーキング装置
１３ 集中制御盤
１４ 押釦
１５ 外部記憶装置
１６ コイル
Claims (1)
- 【請求項１】ストリップ表面をレーザー光にて走査し、
光電変換素子にてその反射光を受光して得られた電圧強
度に基づいてストリップ表面の疵を検出するための疵検
出装置と、ストリップ搬送ローラの周速に基づいてスト
リップの長さ方向の任意の位置の移動を追跡するための
トラッキング装置と、前記疵検出装置からの疵データお
よび前記トラッキング装置からの疵位置移動データから
得られたストリップ上の有疵部にマークを付すためのマ
ーキング装置とからなることを特徴とするストリップの
有疵部マーキング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3081919A JPH04291138A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | ストリップの有疵部マーキング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3081919A JPH04291138A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | ストリップの有疵部マーキング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04291138A true JPH04291138A (ja) | 1992-10-15 |
Family
ID=13759866
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3081919A Pending JPH04291138A (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | ストリップの有疵部マーキング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04291138A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003084822A (ja) * | 2001-09-14 | 2003-03-19 | Kawasaki Steel Corp | 鋼材の品質情報管理方法 |
| JP2005024431A (ja) * | 2003-07-03 | 2005-01-27 | Koyo Seiko Co Ltd | 外観検査装置 |
| JP2005074448A (ja) * | 2003-08-29 | 2005-03-24 | Jfe Steel Kk | コイルおよびその製造方法 |
| US7248366B2 (en) | 1999-03-18 | 2007-07-24 | Nkk Corporation | Method for marking defect and device therefor |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0290046A (ja) * | 1988-09-28 | 1990-03-29 | Toshiba Corp | 表面検査装置 |
| JPH02259454A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-22 | Nippon Steel Corp | コイル鋼板の欠陥疵表示装置 |
-
1991
- 1991-03-20 JP JP3081919A patent/JPH04291138A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0290046A (ja) * | 1988-09-28 | 1990-03-29 | Toshiba Corp | 表面検査装置 |
| JPH02259454A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-22 | Nippon Steel Corp | コイル鋼板の欠陥疵表示装置 |
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| US7248366B2 (en) | 1999-03-18 | 2007-07-24 | Nkk Corporation | Method for marking defect and device therefor |
| US7423744B2 (en) | 1999-03-18 | 2008-09-09 | Nkk Corporation | Method for marking defect and device therefor |
| US7599052B2 (en) | 1999-03-18 | 2009-10-06 | Nkk Corporation | Method for marking defect and device therefor |
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| JP2005074448A (ja) * | 2003-08-29 | 2005-03-24 | Jfe Steel Kk | コイルおよびその製造方法 |
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