JPH04293578A - 洗浄装置 - Google Patents
洗浄装置Info
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- JPH04293578A JPH04293578A JP3059111A JP5911191A JPH04293578A JP H04293578 A JPH04293578 A JP H04293578A JP 3059111 A JP3059111 A JP 3059111A JP 5911191 A JP5911191 A JP 5911191A JP H04293578 A JPH04293578 A JP H04293578A
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- JP
- Japan
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- brush
- cleaning
- glass substrate
- substrate
- section
- Prior art date
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B1/00—Cleaning by methods involving the use of tools
- B08B1/50—Cleaning by methods involving the use of tools involving cleaning of the cleaning members
- B08B1/54—Cleaning by methods involving the use of tools involving cleaning of the cleaning members using mechanical tools
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B1/00—Cleaning by methods involving the use of tools
- B08B1/50—Cleaning by methods involving the use of tools involving cleaning of the cleaning members
- B08B1/52—Cleaning by methods involving the use of tools involving cleaning of the cleaning members using fluids
Landscapes
- Surface Treatment Of Glass (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Cleaning In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばTFT(薄膜ト
ランジスタ)カラー液晶パネルの製造工程のフォトリソ
グラフィープロセスにおけるレジスト塗布前等に用いら
れる洗浄装置に関するものである。
ランジスタ)カラー液晶パネルの製造工程のフォトリソ
グラフィープロセスにおけるレジスト塗布前等に用いら
れる洗浄装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】TFTカラー液晶パネルは、ガラス基板
上の各画素ごとに薄膜トランジスタ(TFT)を設ける
もので、その製造工程におけるフォトリソグラフィープ
ロセスでは、3μm〜10μmパターンの微細加工が行
われる。したがって、ガラス基板に付着している塵埃等
の異物が、歩留りに大きく影響するものとなっている。
上の各画素ごとに薄膜トランジスタ(TFT)を設ける
もので、その製造工程におけるフォトリソグラフィープ
ロセスでは、3μm〜10μmパターンの微細加工が行
われる。したがって、ガラス基板に付着している塵埃等
の異物が、歩留りに大きく影響するものとなっている。
【0003】このため、例えば、フォトリソグラフィー
プロセスにおけるレジスト塗布前には、ガラス基板を洗
浄して上記塵埃等を極力除去するようになっており、こ
のような洗浄装置の一例について、本発明の説明図であ
る図4を参照して説明すると、ガラス基板13を真空吸
着により固定するスピンチャック11が本体部10の略
中央位置に設けられると共に、純水を噴射する基板洗浄
液噴射ノズル15と、上記スピンチャック11上に吸着
固定されたガラス基板13をブラシ洗浄するためのロー
ルブラシ21とが設けられた構成となっている。
プロセスにおけるレジスト塗布前には、ガラス基板を洗
浄して上記塵埃等を極力除去するようになっており、こ
のような洗浄装置の一例について、本発明の説明図であ
る図4を参照して説明すると、ガラス基板13を真空吸
着により固定するスピンチャック11が本体部10の略
中央位置に設けられると共に、純水を噴射する基板洗浄
液噴射ノズル15と、上記スピンチャック11上に吸着
固定されたガラス基板13をブラシ洗浄するためのロー
ルブラシ21とが設けられた構成となっている。
【0004】上記構成の洗浄装置においては、スピンチ
ャック11上に吸着固定されたガラス基板13に純水を
噴射しながらロールブラシ21によるブラシ洗浄が終了
すると、洗浄済みのガラス基板13の取出しが行われる
と共に、新たなガラス基板13がスピンチャック11上
に載置されて、上記洗浄操作が繰返される。このような
ガラス基板13の交換の間、ロールブラシ21は、スピ
ンチャック11の側方に設けられているブラシ待機ステ
ーション18に移動される。そして、図6に示すように
、従来のブラシ待機ステーション18’には、純水を噴
射するブラシ洗浄液噴射ノズル16’が設けられ、待機
位置に位置する間、ロールブラシ21’の回転を継続し
ながら、ブラシ洗浄液噴射ノズル16’からこのロール
ブラシ21’に純水を噴射し、このロールブラシ21’
の洗浄を行うようになっている。
ャック11上に吸着固定されたガラス基板13に純水を
噴射しながらロールブラシ21によるブラシ洗浄が終了
すると、洗浄済みのガラス基板13の取出しが行われる
と共に、新たなガラス基板13がスピンチャック11上
に載置されて、上記洗浄操作が繰返される。このような
ガラス基板13の交換の間、ロールブラシ21は、スピ
ンチャック11の側方に設けられているブラシ待機ステ
ーション18に移動される。そして、図6に示すように
、従来のブラシ待機ステーション18’には、純水を噴
射するブラシ洗浄液噴射ノズル16’が設けられ、待機
位置に位置する間、ロールブラシ21’の回転を継続し
ながら、ブラシ洗浄液噴射ノズル16’からこのロール
ブラシ21’に純水を噴射し、このロールブラシ21’
の洗浄を行うようになっている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
にロールブラシ21’をブラシ待機ステーション18’
に位置する毎に洗浄するに当たり、従来は、ブラシ洗浄
液噴射ノズル16’を通して純水を噴射させるだけの操
作が行われており、この操作においては、ロールブラシ
21’の毛先や毛の根元等に付着した塵埃は、ガラス基
板の交換時間、例えば20秒〜60秒という短時間の間
には容易には除去されないものとなっている。このため
、ガラス基板から除去した塵埃のロールブラシ21’へ
の付着量が次第に増加し、この結果、このロールブラシ
21’でブラシ洗浄されるガラス基板にロールブラシ2
1から塵埃が再付着することとなって、洗浄効果が徐々
に低下し、このため、製造歩留りが低下するという問題
を生じている。
にロールブラシ21’をブラシ待機ステーション18’
に位置する毎に洗浄するに当たり、従来は、ブラシ洗浄
液噴射ノズル16’を通して純水を噴射させるだけの操
作が行われており、この操作においては、ロールブラシ
21’の毛先や毛の根元等に付着した塵埃は、ガラス基
板の交換時間、例えば20秒〜60秒という短時間の間
には容易には除去されないものとなっている。このため
、ガラス基板から除去した塵埃のロールブラシ21’へ
の付着量が次第に増加し、この結果、このロールブラシ
21’でブラシ洗浄されるガラス基板にロールブラシ2
1から塵埃が再付着することとなって、洗浄効果が徐々
に低下し、このため、製造歩留りが低下するという問題
を生じている。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の洗浄装置は、上
記課題を解決するために、被洗浄基板を支持する支持台
と、この支持台上に支持されている被洗浄基板をブラシ
洗浄するためのブラシとが設けられると共に、上記支持
台上の被洗浄基板が交換される間、上記支持台側方のブ
ラシ待機位置に移動される上記ブラシにブラシ洗浄液を
噴射するブラシ洗浄液噴射ノズルが設けられている洗浄
装置において、上記ブラシ待機位置に位置するブラシに
当接して、ブラシの毛に撓み変形を生じさせる塵埃除去
具がさらに設けられていることを特徴としている。
記課題を解決するために、被洗浄基板を支持する支持台
と、この支持台上に支持されている被洗浄基板をブラシ
洗浄するためのブラシとが設けられると共に、上記支持
台上の被洗浄基板が交換される間、上記支持台側方のブ
ラシ待機位置に移動される上記ブラシにブラシ洗浄液を
噴射するブラシ洗浄液噴射ノズルが設けられている洗浄
装置において、上記ブラシ待機位置に位置するブラシに
当接して、ブラシの毛に撓み変形を生じさせる塵埃除去
具がさらに設けられていることを特徴としている。
【0007】
【作用】上記の構成によれば、ブラシ待機位置に位置す
るブラシには、塵埃除去具によりブラシの毛に撓み変形
を与えながら、ブラシ洗浄液噴射ノズルから洗浄液を噴
射させることによって、ブラシの洗浄が行われる。上記
のように塵埃除去具によってブラシの毛に撓み変形が与
えられることにより、毛と毛の間の隙間が変化し、いわ
ゆる捌きを行いながら洗浄液を噴射する状態となるので
、噴射液が毛と毛の間にも奥深く侵入し、これによって
、毛の根元に付着している塵埃も容易に除去される。 この結果、塵埃付着量のない状態への回復がより短時間
で得られるので、待機位置でのブラシ洗浄を終えたブラ
シにより、支持台上に新たに支持された被洗浄基板を洗
浄する場合にも、先の洗浄時に除去し塵埃の影響は低減
され、これにより、製造歩留りを向上することができる
。
るブラシには、塵埃除去具によりブラシの毛に撓み変形
を与えながら、ブラシ洗浄液噴射ノズルから洗浄液を噴
射させることによって、ブラシの洗浄が行われる。上記
のように塵埃除去具によってブラシの毛に撓み変形が与
えられることにより、毛と毛の間の隙間が変化し、いわ
ゆる捌きを行いながら洗浄液を噴射する状態となるので
、噴射液が毛と毛の間にも奥深く侵入し、これによって
、毛の根元に付着している塵埃も容易に除去される。 この結果、塵埃付着量のない状態への回復がより短時間
で得られるので、待機位置でのブラシ洗浄を終えたブラ
シにより、支持台上に新たに支持された被洗浄基板を洗
浄する場合にも、先の洗浄時に除去し塵埃の影響は低減
され、これにより、製造歩留りを向上することができる
。
【0008】
【実施例】本発明の一実施例について図1ないし図5に
基づいて説明すれば、以下の通りである。
基づいて説明すれば、以下の通りである。
【0009】TFT(薄膜トランジスタ)カラー液晶パ
ネルの製造におけるフォトリソグラフィーの工程では、
図5に示すようなレジスト塗布装置1が用いられる。こ
の装置の一端側には、複数のガラス基板を収納する送出
側カセットが装着されるローダ部2が設けられる一方、
他端側には、上記ローダ部2から一枚ずつ送られてくる
ガラス基板を受納側カセットに順次収納するアンローダ
部3が設けられている。
ネルの製造におけるフォトリソグラフィーの工程では、
図5に示すようなレジスト塗布装置1が用いられる。こ
の装置の一端側には、複数のガラス基板を収納する送出
側カセットが装着されるローダ部2が設けられる一方、
他端側には、上記ローダ部2から一枚ずつ送られてくる
ガラス基板を受納側カセットに順次収納するアンローダ
部3が設けられている。
【0010】上記ローダ部2とアンローダ部3との間に
は、ローダ部2側から、ガラス基板の表面に純水をかけ
ながらブラシ洗浄を行う洗浄部4、洗浄後のガラス基板
の乾燥を行う脱水ベーク部5、HMDS(ヘキサメチレ
ンジシラザン)を塗布するHMDS処理部6、レジスト
を塗布するレジスト塗布部7、レジストの加熱乾燥を行
うプリベーク部8が順次設けられている。ローダ部2か
ら一枚ずつアンローダ部3に向かって送られるガラス基
板は、上記の各処理部4〜8を通過することによって、
洗浄処理とレジスト塗布処理とが順次行われるようにな
っている。
は、ローダ部2側から、ガラス基板の表面に純水をかけ
ながらブラシ洗浄を行う洗浄部4、洗浄後のガラス基板
の乾燥を行う脱水ベーク部5、HMDS(ヘキサメチレ
ンジシラザン)を塗布するHMDS処理部6、レジスト
を塗布するレジスト塗布部7、レジストの加熱乾燥を行
うプリベーク部8が順次設けられている。ローダ部2か
ら一枚ずつアンローダ部3に向かって送られるガラス基
板は、上記の各処理部4〜8を通過することによって、
洗浄処理とレジスト塗布処理とが順次行われるようにな
っている。
【0011】上記洗浄部4には、本発明を適用して構成
された洗浄装置が組込まれており、図1に示すように、
この洗浄装置の本体部10の略中央箇所には、円盤状の
回転自在なスピンチャック(支持台)11が設けられて
いる。このスピンチャック11の上面には吸着孔(図示
せず)が複数穿設されており、これら吸着孔は、スピン
チャック11の裏面中央から下方に延びる回転軸12内
を通して、図示しない真空ポンプに接続されるようにな
っている。これにより、スピンチャック11上にガラス
基板13(被洗浄基板)が載置されたとき、上記吸着孔
を通して作用する真空吸着力によって、ガラス基板13
がスピンチャック11に吸着固定される。また、上記回
転軸12は回転駆動源(図示せず)に連結されている。
された洗浄装置が組込まれており、図1に示すように、
この洗浄装置の本体部10の略中央箇所には、円盤状の
回転自在なスピンチャック(支持台)11が設けられて
いる。このスピンチャック11の上面には吸着孔(図示
せず)が複数穿設されており、これら吸着孔は、スピン
チャック11の裏面中央から下方に延びる回転軸12内
を通して、図示しない真空ポンプに接続されるようにな
っている。これにより、スピンチャック11上にガラス
基板13(被洗浄基板)が載置されたとき、上記吸着孔
を通して作用する真空吸着力によって、ガラス基板13
がスピンチャック11に吸着固定される。また、上記回
転軸12は回転駆動源(図示せず)に連結されている。
【0012】一方、本体部10の上方は、スピンチャッ
ク11の側方をほぼ全周にわたって囲う形状のスピンカ
ップ14として形成されている。そして、スピンチャッ
ク11を挟んで図において左右に相対向する位置には、
基板洗浄液噴射ノズル15とブラシ洗浄液噴射ノズル1
6とがそれぞれスピンカップ14の上縁に沿って設けら
れている。基板洗浄液噴射ノズル15は、スピンチャッ
ク11の上面、すなわち、基板洗浄位置に向けて純水を
噴射させる噴射角度で設けられている。一方、上記基板
洗浄液噴射ノズル15の取付位置に対向する領域は、中
間隔壁17にて上記基板洗浄位置から区画されたブラシ
待機ステーション18として形成されており、ブラシ洗
浄液噴射ノズル16は、このブラシ待機ステーション1
8に位置するロールブラシ21に向けて純水を噴射させ
るように設けられている。
ク11の側方をほぼ全周にわたって囲う形状のスピンカ
ップ14として形成されている。そして、スピンチャッ
ク11を挟んで図において左右に相対向する位置には、
基板洗浄液噴射ノズル15とブラシ洗浄液噴射ノズル1
6とがそれぞれスピンカップ14の上縁に沿って設けら
れている。基板洗浄液噴射ノズル15は、スピンチャッ
ク11の上面、すなわち、基板洗浄位置に向けて純水を
噴射させる噴射角度で設けられている。一方、上記基板
洗浄液噴射ノズル15の取付位置に対向する領域は、中
間隔壁17にて上記基板洗浄位置から区画されたブラシ
待機ステーション18として形成されており、ブラシ洗
浄液噴射ノズル16は、このブラシ待機ステーション1
8に位置するロールブラシ21に向けて純水を噴射させ
るように設けられている。
【0013】上記ロールブラシ21は、図3に示すよう
に、ステンレス棒鋼よりなる軸部22に外嵌されている
円筒状の基部23の外周面に、ナイロン、或いはモヘア
等を多数植毛し、この植毛部(以下、ブラシ部という)
24の外周形状がほぼ円柱状となるように作製したもの
である。このような円柱状のロールブラシ21が、図2
に示すように、ガラス基板13の送り方向(図において
上下方向)に平行に配設されている。そして、このロー
ルブラシ21は軸部22の両端でそれぞれアーム部25
・25により回転自在に支持されると共に、上記アーム
部25・25は図示しない移動機構に連結されており、
この移動機構によって、ロールブラシ21は、図のよう
にブラシ待機ステーション18内に位置する待機位置か
ら、スピンチャック11上の基板洗浄位置へと移動し得
るようになっている。また、上記アーム部25・25を
通してロールブラシ21はその軸部22が回転駆動機構
(図示せず)にも連結されている。
に、ステンレス棒鋼よりなる軸部22に外嵌されている
円筒状の基部23の外周面に、ナイロン、或いはモヘア
等を多数植毛し、この植毛部(以下、ブラシ部という)
24の外周形状がほぼ円柱状となるように作製したもの
である。このような円柱状のロールブラシ21が、図2
に示すように、ガラス基板13の送り方向(図において
上下方向)に平行に配設されている。そして、このロー
ルブラシ21は軸部22の両端でそれぞれアーム部25
・25により回転自在に支持されると共に、上記アーム
部25・25は図示しない移動機構に連結されており、
この移動機構によって、ロールブラシ21は、図のよう
にブラシ待機ステーション18内に位置する待機位置か
ら、スピンチャック11上の基板洗浄位置へと移動し得
るようになっている。また、上記アーム部25・25を
通してロールブラシ21はその軸部22が回転駆動機構
(図示せず)にも連結されている。
【0014】なお、ロールブラシ21は上記のように円
柱形状をなしていることから、前記のブラシ洗浄液噴射
ノズル16は、図のように直管形状の純水供給パイプ1
6aがロールブラシ21と平行に配設されると共に、こ
の純水供給パイプ16aに所定の間隔で複数のノズル管
16b…を取付けて構成され、これにより、ロールブラ
シ21のほぼ全長にわたっての純水の吹き付けが行われ
るようになっている。
柱形状をなしていることから、前記のブラシ洗浄液噴射
ノズル16は、図のように直管形状の純水供給パイプ1
6aがロールブラシ21と平行に配設されると共に、こ
の純水供給パイプ16aに所定の間隔で複数のノズル管
16b…を取付けて構成され、これにより、ロールブラ
シ21のほぼ全長にわたっての純水の吹き付けが行われ
るようになっている。
【0015】そして、上記ブラシ待機ステーション18
には、図1に示すように、待機位置に位置するロールブ
ラシ21の下方に塵埃除去具26が設けられている。こ
の塵埃除去具26は、図3に示すように、ステンレス丸
棒、或いはセラミックス丸棒から成っており、待機位置
のロールブラシ21におけるブラシ部24の下側の毛先
を分けて幾分内方に入り込んだ位置に位置するようにな
っている。
には、図1に示すように、待機位置に位置するロールブ
ラシ21の下方に塵埃除去具26が設けられている。こ
の塵埃除去具26は、図3に示すように、ステンレス丸
棒、或いはセラミックス丸棒から成っており、待機位置
のロールブラシ21におけるブラシ部24の下側の毛先
を分けて幾分内方に入り込んだ位置に位置するようにな
っている。
【0016】次に、上記構成のレジスト塗布装置におけ
る動作について説明する。
る動作について説明する。
【0017】前記ローダ部2からアンローダ部3の方向
に送り出されたガラス基板13は、まず、洗浄部4へと
送られ、スピンチャック11上にほぼ中心を合わせて止
定される。その後、スピンチャック11の吸着孔が前記
の真空ポンプに接続され、ガラス基板13はスピンチャ
ック11上に吸着固定される。次いで、スピンチャック
11が回転駆動されると共に、基板洗浄液噴射ノズル1
5から純水の噴射が開始される。同時に、ロールブラシ
21がブラシ待機ステーション18において中間隔壁1
7を越える高さ位置まで上昇移動された後、スピンチャ
ック11上に移動される。そして、スピンチャック11
上に達すると、図4に示すように、スピンチャック11
と共に回転しているガラス基板13に接するまで下降さ
れる。このロールブラシ21は、例えば100rpm〜
200rpmの回転数にて回転駆動されており、これに
よって、ガラス基板13のブラシ洗浄が行われる。
に送り出されたガラス基板13は、まず、洗浄部4へと
送られ、スピンチャック11上にほぼ中心を合わせて止
定される。その後、スピンチャック11の吸着孔が前記
の真空ポンプに接続され、ガラス基板13はスピンチャ
ック11上に吸着固定される。次いで、スピンチャック
11が回転駆動されると共に、基板洗浄液噴射ノズル1
5から純水の噴射が開始される。同時に、ロールブラシ
21がブラシ待機ステーション18において中間隔壁1
7を越える高さ位置まで上昇移動された後、スピンチャ
ック11上に移動される。そして、スピンチャック11
上に達すると、図4に示すように、スピンチャック11
と共に回転しているガラス基板13に接するまで下降さ
れる。このロールブラシ21は、例えば100rpm〜
200rpmの回転数にて回転駆動されており、これに
よって、ガラス基板13のブラシ洗浄が行われる。
【0018】上記ブラシ洗浄を所定時間行った後、ロー
ルブラシ21は上記と逆の動作にてブラシ待機ステーシ
ョン18へと戻され、また、基板洗浄液噴射ノズル15
からの純水の噴射が停止されると共に、スピンチャック
11の回転も停止される。そして、スピンチャック11
における吸着孔の真空ポンプへの連通状態が遮断される
と共に、上記吸着孔に大気が導入されてガラス基板13
の吸着固定が解除される。その後、上記のように洗浄の
完了したガラス基板13の洗浄部4からの取出しが行わ
れ、ガラス基板13は、次の脱水ベーク部5へと送られ
る一方、ローダ部2からガラス基板13が新たに洗浄部
4に送られて、この新たなガラス基板13に対し、洗浄
部4では上記同様の動作が繰返される。
ルブラシ21は上記と逆の動作にてブラシ待機ステーシ
ョン18へと戻され、また、基板洗浄液噴射ノズル15
からの純水の噴射が停止されると共に、スピンチャック
11の回転も停止される。そして、スピンチャック11
における吸着孔の真空ポンプへの連通状態が遮断される
と共に、上記吸着孔に大気が導入されてガラス基板13
の吸着固定が解除される。その後、上記のように洗浄の
完了したガラス基板13の洗浄部4からの取出しが行わ
れ、ガラス基板13は、次の脱水ベーク部5へと送られ
る一方、ローダ部2からガラス基板13が新たに洗浄部
4に送られて、この新たなガラス基板13に対し、洗浄
部4では上記同様の動作が繰返される。
【0019】上記のように洗浄済みのガラス基板13が
洗浄部4から取出され、新たなガラス基板13がスピン
チャック11上に吸着固定される間、ロールブラシ21
はブラシ待機ステーション18の待機位置で保持されて
いる。この間、このブラシ待機ステーション18で、ロ
ールブラシ21の洗浄が行われる。すなわち、ロールブ
ラシ21の回転を継続しながら、ブラシ洗浄液噴射ノズ
ル16を通して純水の噴射が行われる。
洗浄部4から取出され、新たなガラス基板13がスピン
チャック11上に吸着固定される間、ロールブラシ21
はブラシ待機ステーション18の待機位置で保持されて
いる。この間、このブラシ待機ステーション18で、ロ
ールブラシ21の洗浄が行われる。すなわち、ロールブ
ラシ21の回転を継続しながら、ブラシ洗浄液噴射ノズ
ル16を通して純水の噴射が行われる。
【0020】そして、上記のようにブラシ待機ステーシ
ョン18でのロールブラシ21は、その下端側が塵埃除
去具26に接しながら回転動作を生じる。さらに詳細に
は、回転方向後方側から塵埃除去具26に毛先が当接し
た毛には後方への撓み変形が生じ、塵埃除去具26を越
えた毛との間に隙間が生じる。このような隙間が回転に
伴ってブラシ部24に周方向に順次生じる状態、いわゆ
る捌き状態が生じることから、毛先のみではなく、毛の
根元側に付着した塵埃も速やかに除去される。
ョン18でのロールブラシ21は、その下端側が塵埃除
去具26に接しながら回転動作を生じる。さらに詳細に
は、回転方向後方側から塵埃除去具26に毛先が当接し
た毛には後方への撓み変形が生じ、塵埃除去具26を越
えた毛との間に隙間が生じる。このような隙間が回転に
伴ってブラシ部24に周方向に順次生じる状態、いわゆ
る捌き状態が生じることから、毛先のみではなく、毛の
根元側に付着した塵埃も速やかに除去される。
【0021】したがって、ガラス基板13洗浄時にブラ
シ部24に付着した塵埃も、ガラス基板13の交換時間
、例えば20秒〜60秒の短時間の間に、その殆どを除
去することが可能となり、新たなガラス基板13の洗浄
動作に移行する際には、前のガラス基板13の洗浄時か
ら残存する塵埃が皆無の状態で、新たなガラス基板13
の洗浄動作へと移行することが可能となるので、より高
いガラス基板13の洗浄効果が維持され、これによって
、TFTカラー液晶パネルの製造歩留りが向上する。
シ部24に付着した塵埃も、ガラス基板13の交換時間
、例えば20秒〜60秒の短時間の間に、その殆どを除
去することが可能となり、新たなガラス基板13の洗浄
動作に移行する際には、前のガラス基板13の洗浄時か
ら残存する塵埃が皆無の状態で、新たなガラス基板13
の洗浄動作へと移行することが可能となるので、より高
いガラス基板13の洗浄効果が維持され、これによって
、TFTカラー液晶パネルの製造歩留りが向上する。
【0022】なお、前記レジスト塗布装置において、洗
浄部4でブラシ洗浄されたガラス基板13は、次いで、
脱水ベーク部5において、上記洗浄によりガラス基板に
付着した水分を蒸発させるための加熱乾燥が行われる。 その後、HMDS処理部6に送られて、表面にHMDS
(ヘキサメチレンジシラザン)が塗布される。次いで、
レジスト塗布部7において、レジストの塗布が行われる
。上記HMDSは親水基と疎水基とを両端に有し、ガラ
ス基板13上において、レジストの密着を劣下させる原
因となる基板の吸着水分に親水基側が結合し、この結果
、疎水性のレジストが塗布される表面側に疎水基が位置
するようになって、レジストの密着性が強化される。
浄部4でブラシ洗浄されたガラス基板13は、次いで、
脱水ベーク部5において、上記洗浄によりガラス基板に
付着した水分を蒸発させるための加熱乾燥が行われる。 その後、HMDS処理部6に送られて、表面にHMDS
(ヘキサメチレンジシラザン)が塗布される。次いで、
レジスト塗布部7において、レジストの塗布が行われる
。上記HMDSは親水基と疎水基とを両端に有し、ガラ
ス基板13上において、レジストの密着を劣下させる原
因となる基板の吸着水分に親水基側が結合し、この結果
、疎水性のレジストが塗布される表面側に疎水基が位置
するようになって、レジストの密着性が強化される。
【0023】レジスト塗布部7においてレジストの塗布
されたガラス基板13は、次いで、プリベーク部8にお
いて、レジスト中の溶剤を揮発させてレジストの硬化を
促すと共にガラス基板13への密着力が上がるように加
熱処理が行われる。その後、ガラス基板13は、アンロ
ーダ部3に送り込まれ、受納側カセットに順次納められ
る。
されたガラス基板13は、次いで、プリベーク部8にお
いて、レジスト中の溶剤を揮発させてレジストの硬化を
促すと共にガラス基板13への密着力が上がるように加
熱処理が行われる。その後、ガラス基板13は、アンロ
ーダ部3に送り込まれ、受納側カセットに順次納められ
る。
【0024】以上の説明のように、上記実施例では、ブ
ラシ待機ステーション18に位置する間にロールブラシ
21の洗浄を行うに当たり、ブラシ部24に塵埃除去具
26を接触させてブラシの毛に変形を与えながら、純水
を噴射するようになっている。これにより、ブラシの毛
が捌かれて、純水の噴射だけでは除去することが難しい
毛の根元等の塵埃も短時間で容易に除去される。したが
って、ガラス基板13の洗浄効果の低下が抑制されるの
で、TFTカラー液晶パネルの製造歩留りが向上する。
ラシ待機ステーション18に位置する間にロールブラシ
21の洗浄を行うに当たり、ブラシ部24に塵埃除去具
26を接触させてブラシの毛に変形を与えながら、純水
を噴射するようになっている。これにより、ブラシの毛
が捌かれて、純水の噴射だけでは除去することが難しい
毛の根元等の塵埃も短時間で容易に除去される。したが
って、ガラス基板13の洗浄効果の低下が抑制されるの
で、TFTカラー液晶パネルの製造歩留りが向上する。
【0025】なお、上記実施例においては、レジスト塗
布装置に組み込まれた洗浄装置を例に挙げて説明したが
、例えばフォトリソグラフィープロセス以外の工程で用
いられる洗浄装置、さらには、TFTカラー液晶パネル
以外の被洗浄基板の洗浄装置にも本発明を適用すること
が可能である。
布装置に組み込まれた洗浄装置を例に挙げて説明したが
、例えばフォトリソグラフィープロセス以外の工程で用
いられる洗浄装置、さらには、TFTカラー液晶パネル
以外の被洗浄基板の洗浄装置にも本発明を適用すること
が可能である。
【0026】
【発明の効果】本発明の洗浄装置は、以上のように、支
持台上の被洗浄基板が交換される間、上記支持台側方の
ブラシ待機位置に移動されるブラシにブラシ洗浄液を噴
射するブラシ洗浄液噴射ノズルが設けられると共に、ブ
ラシ待機位置に位置するブラシに当接して、ブラシの毛
に撓み変形を生じさせる塵埃除去具がさらに設けられて
いる構成である。
持台上の被洗浄基板が交換される間、上記支持台側方の
ブラシ待機位置に移動されるブラシにブラシ洗浄液を噴
射するブラシ洗浄液噴射ノズルが設けられると共に、ブ
ラシ待機位置に位置するブラシに当接して、ブラシの毛
に撓み変形を生じさせる塵埃除去具がさらに設けられて
いる構成である。
【0027】これにより、待機位置に位置する間のブラ
シの洗浄によって、ブラシにおける塵埃付着量のない状
態への回復をより短時間で行うことができる。このため
、待機位置でのブラシ洗浄を終えたブラシにより、支持
台上に新たに支持された被洗浄基板を洗浄する場合にも
、先の洗浄時に除去した塵埃の影響が低減され、この結
果、製造歩留りを向上することができるという効果を奏
する。
シの洗浄によって、ブラシにおける塵埃付着量のない状
態への回復をより短時間で行うことができる。このため
、待機位置でのブラシ洗浄を終えたブラシにより、支持
台上に新たに支持された被洗浄基板を洗浄する場合にも
、先の洗浄時に除去した塵埃の影響が低減され、この結
果、製造歩留りを向上することができるという効果を奏
する。
【図1】本発明の一実施例における洗浄装置の要部構成
を示す縦断面図である。
を示す縦断面図である。
【図2】上記洗浄装置の平面図である。
【図3】上記洗浄装置におけるロールブラシと塵埃除去
具との形状を示す斜視図である。
具との形状を示す斜視図である。
【図4】上記洗浄装置でのガラス基板の洗浄動作を示す
斜視図である。
斜視図である。
【図5】上記洗浄装置が組込まれているレジスト塗布装
置の構成を示す模式図である。
置の構成を示す模式図である。
【図6】従来の洗浄装置におけるブラシ待機ステーショ
ンの断面図である。
ンの断面図である。
11 スピンチャック(支持台)13 ガ
ラス基板(被洗浄基板)16 ブラシ洗浄液噴射
ノズル 21 ロールブラシ 26 塵埃除去具
ラス基板(被洗浄基板)16 ブラシ洗浄液噴射
ノズル 21 ロールブラシ 26 塵埃除去具
Claims (1)
- 【請求項1】被洗浄基板を支持する支持台と、この支持
台上に支持されている被洗浄基板をブラシ洗浄するため
のブラシとが設けられると共に、上記支持台上の被洗浄
基板が交換される間、上記支持台側方のブラシ待機位置
に移動される上記ブラシにブラシ洗浄液を噴射するブラ
シ洗浄液噴射ノズルが設けられている洗浄装置において
、上記ブラシ待機位置に位置するブラシに当接して、ブ
ラシの毛に撓み変形を生じさせる塵埃除去具がさらに設
けられていることを特徴とする洗浄装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3059111A JPH04293578A (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | 洗浄装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3059111A JPH04293578A (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | 洗浄装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04293578A true JPH04293578A (ja) | 1992-10-19 |
Family
ID=13103878
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3059111A Pending JPH04293578A (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | 洗浄装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04293578A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001179190A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-07-03 | Tokyo Electron Ltd | 基板洗浄方法及び基板洗浄装置 |
| EP1566250A4 (en) * | 2002-10-25 | 2008-01-23 | Seiko Epson Corp | FIRE CLEANING METHOD, FIRE CLEANING DEVICE, DRYING METHOD AND DEVICE FOR LENS-FORMING MATRIZE, AND MANUFACTURING METHOD FOR A PLASTIC LENS |
| CN113327841A (zh) * | 2021-05-28 | 2021-08-31 | 华海清科股份有限公司 | 一种能够保持清洗辊清洁的晶圆清洗系统及清洗方法 |
-
1991
- 1991-03-22 JP JP3059111A patent/JPH04293578A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001179190A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-07-03 | Tokyo Electron Ltd | 基板洗浄方法及び基板洗浄装置 |
| EP1566250A4 (en) * | 2002-10-25 | 2008-01-23 | Seiko Epson Corp | FIRE CLEANING METHOD, FIRE CLEANING DEVICE, DRYING METHOD AND DEVICE FOR LENS-FORMING MATRIZE, AND MANUFACTURING METHOD FOR A PLASTIC LENS |
| CN113327841A (zh) * | 2021-05-28 | 2021-08-31 | 华海清科股份有限公司 | 一种能够保持清洗辊清洁的晶圆清洗系统及清洗方法 |
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