JPH04294006A - 異方性導電膜及びその製造方法 - Google Patents
異方性導電膜及びその製造方法Info
- Publication number
- JPH04294006A JPH04294006A JP5757191A JP5757191A JPH04294006A JP H04294006 A JPH04294006 A JP H04294006A JP 5757191 A JP5757191 A JP 5757191A JP 5757191 A JP5757191 A JP 5757191A JP H04294006 A JPH04294006 A JP H04294006A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductive
- base material
- insulating base
- conductive member
- hole
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Non-Insulated Conductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、異方性導電膜及びその
製造方法に係り、特にLSIチップ等を回路基板等に信
頼性良く実装することができる異方性導電膜及びその製
造方法に関する。
製造方法に係り、特にLSIチップ等を回路基板等に信
頼性良く実装することができる異方性導電膜及びその製
造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近時、LSI等を配線基板に実装する実
装技術分野においては、異方性導電膜がLSIチップ等
の実装に使用されており、この異方性導電膜においては
、接続ピッチの微細化と接続の信頼性が高度に要求され
ている。従来、この種の異方性導電膜については、特開
昭63−94504号公報に報告されており、ここでの
異方性導電膜は絶縁性基材に貫通孔を形成し、この貫通
孔内に絶縁性部材を充填させて構成したものである。 また、特開平2−239578号公報でも報告されてお
り、ここでの異方性導電膜は樹脂中に導電性粒子を含有
させて構成させたものである。
装技術分野においては、異方性導電膜がLSIチップ等
の実装に使用されており、この異方性導電膜においては
、接続ピッチの微細化と接続の信頼性が高度に要求され
ている。従来、この種の異方性導電膜については、特開
昭63−94504号公報に報告されており、ここでの
異方性導電膜は絶縁性基材に貫通孔を形成し、この貫通
孔内に絶縁性部材を充填させて構成したものである。 また、特開平2−239578号公報でも報告されてお
り、ここでの異方性導電膜は樹脂中に導電性粒子を含有
させて構成させたものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た樹脂中に導電性粒子を含有させて構成した従来の異方
性導電膜では、導電性粒子が横方向でも分散しており、
導電部が固定されていないため、特に横方向のショート
が生じ易いという問題があった。次に、上記した絶縁性
基材に形成された貫通孔内に導電性部材を埋め込んで構
成した従来の異方性導電膜では、導電部が固定されてい
るため横方向のショートを生じ難くすることができると
いう利点があるが、安定な接続を得るために接続部とな
る導電部の絶縁性部材に弾性材料や低融点金属(例えば
半田)を用いており、材料の制約を受け材料選択が面倒
であるという問題があった。
た樹脂中に導電性粒子を含有させて構成した従来の異方
性導電膜では、導電性粒子が横方向でも分散しており、
導電部が固定されていないため、特に横方向のショート
が生じ易いという問題があった。次に、上記した絶縁性
基材に形成された貫通孔内に導電性部材を埋め込んで構
成した従来の異方性導電膜では、導電部が固定されてい
るため横方向のショートを生じ難くすることができると
いう利点があるが、安定な接続を得るために接続部とな
る導電部の絶縁性部材に弾性材料や低融点金属(例えば
半田)を用いており、材料の制約を受け材料選択が面倒
であるという問題があった。
【0004】そこで本発明は、導電部を固定することが
でき、横方向のショートを生じ難くすることができ、し
かも導電性部材に弾性材料や低融点金属を用いずに弾性
構造を持たすことができ、導電性部材の材料の制約をな
くして材料選択を容易にすることができ、高信頼で安定
な接続を得ることができる異方性導電膜及びその製造方
法を提供することを目的としている。
でき、横方向のショートを生じ難くすることができ、し
かも導電性部材に弾性材料や低融点金属を用いずに弾性
構造を持たすことができ、導電性部材の材料の制約をな
くして材料選択を容易にすることができ、高信頼で安定
な接続を得ることができる異方性導電膜及びその製造方
法を提供することを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明による異方性導電
膜は上記目的達成のため、第1、第2の導電性バンプと
一体的に形成されるとともに、該第1、第2の導電性バ
ンプ間で柱状に形成された導電性部材と、該第1、第2
の導電性バンプ間の柱状に形成された導電性部材の柱状
部分を保持絶縁する絶縁性基材とからなるものである。
膜は上記目的達成のため、第1、第2の導電性バンプと
一体的に形成されるとともに、該第1、第2の導電性バ
ンプ間で柱状に形成された導電性部材と、該第1、第2
の導電性バンプ間の柱状に形成された導電性部材の柱状
部分を保持絶縁する絶縁性基材とからなるものである。
【0006】本発明による異方性導電膜の製造方法は上
記目的達成のため、導電性基材を陽極酸化して貫通孔が
形成された絶縁性基材を形成する工程と、該絶縁性基材
を溝が形成された導電性基板上に該貫通孔が該溝上にく
るように取り付け配置する工程と、該貫通孔を部分的に
覆うように開口部を有するマスクパターンを形成する工
程と、該導電性基板を電析用電極の陰極とし、電析によ
り該マスクパターン間の該開口部、該貫通孔及び該溝内
に埋め込むとともに、該絶縁性基材表裏面で突出された
第1、第2の導電性バンプを有する導電性部材を形成す
る工程と、該絶縁性基材を該導電性基板から取り外す工
程と、該絶縁性基材を除去して該第1、第2の導電性バ
ンプ間に該導電性部材の柱状部分を露出させる工程と、
該第1の導電性バンプ及び該マスクパターンと該第2の
導電性バンプとの間の柱状部分に樹脂を塗布して絶縁性
基材を形成する工程と、該マスクパターンを除去する工
程とを含むものである。
記目的達成のため、導電性基材を陽極酸化して貫通孔が
形成された絶縁性基材を形成する工程と、該絶縁性基材
を溝が形成された導電性基板上に該貫通孔が該溝上にく
るように取り付け配置する工程と、該貫通孔を部分的に
覆うように開口部を有するマスクパターンを形成する工
程と、該導電性基板を電析用電極の陰極とし、電析によ
り該マスクパターン間の該開口部、該貫通孔及び該溝内
に埋め込むとともに、該絶縁性基材表裏面で突出された
第1、第2の導電性バンプを有する導電性部材を形成す
る工程と、該絶縁性基材を該導電性基板から取り外す工
程と、該絶縁性基材を除去して該第1、第2の導電性バ
ンプ間に該導電性部材の柱状部分を露出させる工程と、
該第1の導電性バンプ及び該マスクパターンと該第2の
導電性バンプとの間の柱状部分に樹脂を塗布して絶縁性
基材を形成する工程と、該マスクパターンを除去する工
程とを含むものである。
【0007】本発明による異方性導電膜は上記目的達成
のため、貫通孔が形成された絶縁性基材と、該絶縁性基
材表面で離間して突出するように形成された導電性バン
プとを有するとともに、該導電性バンプと一体的に形成
された柱状部分が該貫通孔を貫通するように形成された
導電性部材とからなるものである。本発明による異方性
導電膜は上記目的達成のため、貫通孔が形成された絶縁
性基材と、該貫通孔内を埋め込むように、かつ該絶縁性
基材表裏面で突出するように形成された導電部材及びポ
リマー粒子からなる導電性部材とからなるものである。
のため、貫通孔が形成された絶縁性基材と、該絶縁性基
材表面で離間して突出するように形成された導電性バン
プとを有するとともに、該導電性バンプと一体的に形成
された柱状部分が該貫通孔を貫通するように形成された
導電性部材とからなるものである。本発明による異方性
導電膜は上記目的達成のため、貫通孔が形成された絶縁
性基材と、該貫通孔内を埋め込むように、かつ該絶縁性
基材表裏面で突出するように形成された導電部材及びポ
リマー粒子からなる導電性部材とからなるものである。
【0008】本発明による異方性導電膜は上記目的達成
のため、貫通孔が形成された絶縁性基材と、該貫通孔内
を埋め込むように形成された導体からなる柱状部分と該
柱状部分と接続するように形成され、かつ該絶縁性基材
表裏面で突出するように形成された導電部材とポリマー
粒子からなる導電性バンプとからなる導電性部材とから
なるものである。
のため、貫通孔が形成された絶縁性基材と、該貫通孔内
を埋め込むように形成された導体からなる柱状部分と該
柱状部分と接続するように形成され、かつ該絶縁性基材
表裏面で突出するように形成された導電部材とポリマー
粒子からなる導電性バンプとからなる導電性部材とから
なるものである。
【0009】
【作用】本発明では、図1に示すように、異方性導電膜
を第1、第2の導電性バンプ1a、1bと一体的に形成
されるとともに、該第1、第2の導電性バンプ1a、1
b間で柱状に形成された導電性部材1と、第1、第2の
導電性バンプ1a、1b間の柱状に形成された導電性部
材1の柱状部分1cを保持絶縁する絶縁性基材2とから
なるように構成している。このように、導電性部材1を
電析により導電性バンプ1a、1bと一体的に形成する
とともに、導電性バンプ1a、1b間で複数本の微細導
体柱となるように柱状部分1cを形成しているため、従
来の導電粒子を分散して構成した場合よりも導電部とな
る導電性バンプ1a、1bを固定することができ、横方
向のショートを生じ難くすることができる。また、導電
性バンプ1a、1bを導電性バンプ1a、1b間の導電
性部材1の微細な柱状部分1cで支えているため、応力
に対して弾性構造を示すようになる。
を第1、第2の導電性バンプ1a、1bと一体的に形成
されるとともに、該第1、第2の導電性バンプ1a、1
b間で柱状に形成された導電性部材1と、第1、第2の
導電性バンプ1a、1b間の柱状に形成された導電性部
材1の柱状部分1cを保持絶縁する絶縁性基材2とから
なるように構成している。このように、導電性部材1を
電析により導電性バンプ1a、1bと一体的に形成する
とともに、導電性バンプ1a、1b間で複数本の微細導
体柱となるように柱状部分1cを形成しているため、従
来の導電粒子を分散して構成した場合よりも導電部とな
る導電性バンプ1a、1bを固定することができ、横方
向のショートを生じ難くすることができる。また、導電
性バンプ1a、1bを導電性バンプ1a、1b間の導電
性部材1の微細な柱状部分1cで支えているため、応力
に対して弾性構造を示すようになる。
【0010】
【実施例】以下、本発明を図面に基づいて説明する。
(第1の実施例)図1は本発明の第1の実施例に則した
異方性導電膜の構造を示す断面図である。図1において
、1はNi等からなる導電性部材であり、この導電性部
材1はNi等からなる第1、第2の導電性バンプ1a、
1bと一体的に形成されており、第1、第2の導電性バ
ンプ1a、1b間で柱状形状の柱状部分1cが形成され
ている。2は第1、第2の導電性バンプ1a、1b間の
柱状に形成された導電性部材1部分を保持絶縁する熱可
塑性樹脂からなる絶縁性基材である。
異方性導電膜の構造を示す断面図である。図1において
、1はNi等からなる導電性部材であり、この導電性部
材1はNi等からなる第1、第2の導電性バンプ1a、
1bと一体的に形成されており、第1、第2の導電性バ
ンプ1a、1b間で柱状形状の柱状部分1cが形成され
ている。2は第1、第2の導電性バンプ1a、1b間の
柱状に形成された導電性部材1部分を保持絶縁する熱可
塑性樹脂からなる絶縁性基材である。
【0011】次に、図2は本発明の第1の実施例に則し
た異方性導電膜の製造方法を説明する図である。図2に
おいて、図1と同一符号は同一または相当部分を示し、
3はAl導電性基材が陽極酸化され形成されたAl2
O3からなる絶縁性基材、4は陽極酸化時に絶縁性基材
3に形成された貫通孔、5は溝6パターンが形成された
電析用電極となる導電性基板、7は開口部8が形成され
たレジストパターンである。
た異方性導電膜の製造方法を説明する図である。図2に
おいて、図1と同一符号は同一または相当部分を示し、
3はAl導電性基材が陽極酸化され形成されたAl2
O3からなる絶縁性基材、4は陽極酸化時に絶縁性基材
3に形成された貫通孔、5は溝6パターンが形成された
電析用電極となる導電性基板、7は開口部8が形成され
たレジストパターンである。
【0012】次に、その製造方法について説明する。ま
ず、図2(a)に示すように、Al導電性基材を陽極酸
化してAl2 O3 からなる膜厚10〜 200μm
程度の絶縁性基材3を形成する。この時、絶縁性基材3
に孔径0.01〜 0.3μm程度の微細な貫通孔4が
形成される。次に、図2(b)に示すように、貫通孔4
が形成された絶縁性基材3を溝6が形成された導電性基
板5上に貫通孔4が溝6の上にくるように取り付け配置
し、貫通孔4が形成された絶縁性基材3上にレジストを
塗布し、露光・現像により貫通孔を部分的に覆うように
レジストをパターニングして開口部8を有するレジスト
パターン7を形成する。次いで、導電性基板5を電析用
電極の陰極とし、電析によりレジストパターン7間の開
口部8、貫通孔4及び溝6内にNiからなる導電性部材
1を埋め込むとともに、Al2 O3 絶縁性基材3表
裏面で突出された第1、第2の導電性バンプ1a、1b
を形成する。なお、レジストパターン7よりもNi導電
性部材1が突出した際は研磨等により除去する。また、
導電性部材1にはNi以外に、Cu、Au、Ag、Pb
−Sn等の金属、導電性高分子等を用いてもよく、導電
性部材の形成方法には電析以外に、無電界鍍金、蒸着、
スパッタ、溶融金属液中に浸漬する等の方法を用いても
よい。
ず、図2(a)に示すように、Al導電性基材を陽極酸
化してAl2 O3 からなる膜厚10〜 200μm
程度の絶縁性基材3を形成する。この時、絶縁性基材3
に孔径0.01〜 0.3μm程度の微細な貫通孔4が
形成される。次に、図2(b)に示すように、貫通孔4
が形成された絶縁性基材3を溝6が形成された導電性基
板5上に貫通孔4が溝6の上にくるように取り付け配置
し、貫通孔4が形成された絶縁性基材3上にレジストを
塗布し、露光・現像により貫通孔を部分的に覆うように
レジストをパターニングして開口部8を有するレジスト
パターン7を形成する。次いで、導電性基板5を電析用
電極の陰極とし、電析によりレジストパターン7間の開
口部8、貫通孔4及び溝6内にNiからなる導電性部材
1を埋め込むとともに、Al2 O3 絶縁性基材3表
裏面で突出された第1、第2の導電性バンプ1a、1b
を形成する。なお、レジストパターン7よりもNi導電
性部材1が突出した際は研磨等により除去する。また、
導電性部材1にはNi以外に、Cu、Au、Ag、Pb
−Sn等の金属、導電性高分子等を用いてもよく、導電
性部材の形成方法には電析以外に、無電界鍍金、蒸着、
スパッタ、溶融金属液中に浸漬する等の方法を用いても
よい。
【0013】次に、図2(c)に示すように、Al2
O3 絶縁性基材3を導電性基板5から取り外した後、
陽極酸化によって形成されたAl2 O3 絶縁性基材
3を溶解除去して第1、第2の導電性バンプ1a、1b
間にNi導電性部材1の柱状部分1cを露出させる。こ
の時、レジストパターン7は除去されずに残る。次に、
図2(d)に示すように、レジストパターン7間の第1
の導電性バンプ1a及びレジストパターン7と第2の導
電性バンプ1bとの間に熱可塑性樹脂を塗布して絶縁性
基材2を形成する。
O3 絶縁性基材3を導電性基板5から取り外した後、
陽極酸化によって形成されたAl2 O3 絶縁性基材
3を溶解除去して第1、第2の導電性バンプ1a、1b
間にNi導電性部材1の柱状部分1cを露出させる。こ
の時、レジストパターン7は除去されずに残る。次に、
図2(d)に示すように、レジストパターン7間の第1
の導電性バンプ1a及びレジストパターン7と第2の導
電性バンプ1bとの間に熱可塑性樹脂を塗布して絶縁性
基材2を形成する。
【0014】そして、レジストパターン7を除去するこ
とにより、図1に示すような異方性導電膜を得ることが
できる。なお、この異方性導電膜の接続方法は具体的に
は、まず異方性導電膜と基板とを位置合わせし、次いで
、異方性導電膜と基板を熱可塑性樹脂により熱圧着等を
行なって接続固定し、次いで、異方性導電膜とICチッ
プを位置合わせし、次いで、異方性導電膜とICチップ
を熱可塑性樹脂により熱圧着等を行なって接続固定する
。
とにより、図1に示すような異方性導電膜を得ることが
できる。なお、この異方性導電膜の接続方法は具体的に
は、まず異方性導電膜と基板とを位置合わせし、次いで
、異方性導電膜と基板を熱可塑性樹脂により熱圧着等を
行なって接続固定し、次いで、異方性導電膜とICチッ
プを位置合わせし、次いで、異方性導電膜とICチップ
を熱可塑性樹脂により熱圧着等を行なって接続固定する
。
【0015】すなわち、本実施例では、異方性導電膜を
第1、第2の導電性バンプ1a、1bと一体的に形成さ
れるとともに、第1、第2の導電性バンプ1a、1b間
で柱状に形成された導電性部材1と、第1、第2の導電
性バンプ1a、1b間の柱状に形成された導電性部材1
の柱状部分1cを保持絶縁する絶縁性基材2とからなる
ように構成している。このように、導電性部材1を電析
により導電性バンプ1a、1bと一体的に形成し、かつ
導電性バンプ1a、1b間で複数本の微細導体柱となる
ように柱状の柱状部分1cを形成しているため、従来の
導電粒子を分散して構成した場合よりも導電部となる導
電性バンプ1a、1bを固定することができ、横方向の
ショートを生じ難くすることができる。また、導電性バ
ンプ1a、1bを導電性バンプ1a、1b間の導電性部
材1の微細な柱状部分1cで支えているため、応力に対
して弾性構造を示すようになる。このため、導電性部材
1に弾性材料や低融点金属を用いずに弾性構造を持たす
ことができ、従来の導電性部材に弾性材料や低融点金属
を用いた場合よりも導電性部材1の材料の制約を少なく
して材料選択を容易にすることができる。従って、高信
頼で安定な接続を得ることができ、微細で高密度な実装
に対応することができる。
第1、第2の導電性バンプ1a、1bと一体的に形成さ
れるとともに、第1、第2の導電性バンプ1a、1b間
で柱状に形成された導電性部材1と、第1、第2の導電
性バンプ1a、1b間の柱状に形成された導電性部材1
の柱状部分1cを保持絶縁する絶縁性基材2とからなる
ように構成している。このように、導電性部材1を電析
により導電性バンプ1a、1bと一体的に形成し、かつ
導電性バンプ1a、1b間で複数本の微細導体柱となる
ように柱状の柱状部分1cを形成しているため、従来の
導電粒子を分散して構成した場合よりも導電部となる導
電性バンプ1a、1bを固定することができ、横方向の
ショートを生じ難くすることができる。また、導電性バ
ンプ1a、1bを導電性バンプ1a、1b間の導電性部
材1の微細な柱状部分1cで支えているため、応力に対
して弾性構造を示すようになる。このため、導電性部材
1に弾性材料や低融点金属を用いずに弾性構造を持たす
ことができ、従来の導電性部材に弾性材料や低融点金属
を用いた場合よりも導電性部材1の材料の制約を少なく
して材料選択を容易にすることができる。従って、高信
頼で安定な接続を得ることができ、微細で高密度な実装
に対応することができる。
【0016】なお、上記実施例では、異方性導電膜をA
l導電性基材を陽極酸化して貫通孔4が形成されたAl
2 O3 絶縁性基材3を用いて形成する場合について
説明したが、Al2 O3 絶縁性基材3は容易に樹脂
におきかえることが可能である。 (第2の実施例)図3は本発明の第2の実施例に則した
異方性導電膜の構造を示す断面図である。図3において
、11は陽極酸化によって形成されたAl2 O3 等
からなる絶縁性基材であり、この絶縁性基材11には複
数の微細な貫通孔12が形成されている。13は絶縁性
基材11表面で離間して突出するように形成されたNi
等からなる導電性バンプ13aを有するとともに、この
導電性バンプ13aと一体的に形成された柱状部分13
bが貫通孔12を貫通するように形成されたNi等から
なる導電性部材である。
l導電性基材を陽極酸化して貫通孔4が形成されたAl
2 O3 絶縁性基材3を用いて形成する場合について
説明したが、Al2 O3 絶縁性基材3は容易に樹脂
におきかえることが可能である。 (第2の実施例)図3は本発明の第2の実施例に則した
異方性導電膜の構造を示す断面図である。図3において
、11は陽極酸化によって形成されたAl2 O3 等
からなる絶縁性基材であり、この絶縁性基材11には複
数の微細な貫通孔12が形成されている。13は絶縁性
基材11表面で離間して突出するように形成されたNi
等からなる導電性バンプ13aを有するとともに、この
導電性バンプ13aと一体的に形成された柱状部分13
bが貫通孔12を貫通するように形成されたNi等から
なる導電性部材である。
【0017】次に、図4は本発明の第2の実施例に則し
た異方性導電膜の製造方法を説明する図である。図4に
おいて、14は開口部15が形成されたレジストパター
ンである。次に、その製造方法について説明する。まず
、図4(a)に示すように、Al導電性基材を陽極酸化
してAl2 O3 からなる膜厚10〜 200μm程
度の絶縁性基材11を形成する。この時、絶縁性基材1
1に孔径0.01〜 0.3μm程度の微細な貫通孔1
2が形成される。次いで、貫通孔12が形成された絶縁
性基材11上にレジストを塗布し、露光・現像により貫
通孔12を部分的に覆うようにレジストをパターニング
して開口部15を有するレジストパターン14を形成す
る。
た異方性導電膜の製造方法を説明する図である。図4に
おいて、14は開口部15が形成されたレジストパター
ンである。次に、その製造方法について説明する。まず
、図4(a)に示すように、Al導電性基材を陽極酸化
してAl2 O3 からなる膜厚10〜 200μm程
度の絶縁性基材11を形成する。この時、絶縁性基材1
1に孔径0.01〜 0.3μm程度の微細な貫通孔1
2が形成される。次いで、貫通孔12が形成された絶縁
性基材11上にレジストを塗布し、露光・現像により貫
通孔12を部分的に覆うようにレジストをパターニング
して開口部15を有するレジストパターン14を形成す
る。
【0018】次に、図4(b)に示すように、絶縁性基
材11をレジストパターン14が形成されている側とは
反対側がくるように導電性基板上に取り付け配置し、こ
の導電性基板を電析用電極の陰極とし、スルファミン酸
Ni浴中で電析を行なってレジストパターン14間の開
口部15及び貫通孔12内に埋め込むように導電性部材
13を形成する。この時、レジストパターン14の開口
部15内のAl2 O3 絶縁性基材11表面で突出さ
れた導電性バンプ13aと貫通孔12内を貫通するよう
に形成された柱状部分13bとからなる導電性部材13
が形成される。ここでの電析は例えば電流密度が50m
A/cm2 で行ない、導電性バンプ13bが形成され
たら電析を中止する。
材11をレジストパターン14が形成されている側とは
反対側がくるように導電性基板上に取り付け配置し、こ
の導電性基板を電析用電極の陰極とし、スルファミン酸
Ni浴中で電析を行なってレジストパターン14間の開
口部15及び貫通孔12内に埋め込むように導電性部材
13を形成する。この時、レジストパターン14の開口
部15内のAl2 O3 絶縁性基材11表面で突出さ
れた導電性バンプ13aと貫通孔12内を貫通するよう
に形成された柱状部分13bとからなる導電性部材13
が形成される。ここでの電析は例えば電流密度が50m
A/cm2 で行ない、導電性バンプ13bが形成され
たら電析を中止する。
【0019】なお、導電性部材13にはNi以外に、C
u、Au、Ag、Pb−Sn等の金属、導電性高分子、
カーボンの微粒子等を用いてもよく、導電性部材13の
形成方法には電析以外に、蒸着、スパッタ、溶融金属液
中に浸漬する等の方法を用いてもよい。そして、レジス
トパターン14を除去し、Al2 O3 絶縁性基材1
1をNaOH水溶液(1%、40℃) 等の溶液で5分
間浸漬し部分的に除去し導電性部材13の柱状部分13
bを露出させて導電性バンプ13aと絶縁性基材11を
離間させることにより、図3に示すような異方性導電膜
を得ることができる。
u、Au、Ag、Pb−Sn等の金属、導電性高分子、
カーボンの微粒子等を用いてもよく、導電性部材13の
形成方法には電析以外に、蒸着、スパッタ、溶融金属液
中に浸漬する等の方法を用いてもよい。そして、レジス
トパターン14を除去し、Al2 O3 絶縁性基材1
1をNaOH水溶液(1%、40℃) 等の溶液で5分
間浸漬し部分的に除去し導電性部材13の柱状部分13
bを露出させて導電性バンプ13aと絶縁性基材11を
離間させることにより、図3に示すような異方性導電膜
を得ることができる。
【0020】なお、この異方性導電膜の接続方法は具体
的には図5に示すように、まず異方性導電膜と基板16
を位置合わせし、次いで、異方性導電膜と基板16を熱
可塑性樹脂により熱圧着等を行なって接続固定し、次い
で、異方性導電膜とICチップ17を位置合わせし、次
いで、異方性導電膜とICチップ17を熱可塑性樹脂に
より熱圧着等を行なって接続固定する。
的には図5に示すように、まず異方性導電膜と基板16
を位置合わせし、次いで、異方性導電膜と基板16を熱
可塑性樹脂により熱圧着等を行なって接続固定し、次い
で、異方性導電膜とICチップ17を位置合わせし、次
いで、異方性導電膜とICチップ17を熱可塑性樹脂に
より熱圧着等を行なって接続固定する。
【0021】すなわち、本実施例では、貫通孔12が形
成された絶縁性基材11と、絶縁性基材11表面で離間
して突出するように形成された導電性バンプ13aを有
するとともに、導電性バンプ13aと一体的に形成され
た柱状部分13bが貫通孔を貫通するように形成された
導電性部材13とからなるように構成している。このよ
うに、所定の貫通孔12内に導電性部材13を形成して
いるため、導電部を固定することができ、横方向のショ
ートを生じ難くすることができる。また、導電性部材1
3の柱状部分13bを絶縁性基材11の貫通孔12内を
貫通するように、かつ絶縁性基材11表裏面で露出する
ように形成したため、応力に対して弾性構造を示すよう
になる。このため、導電性部材13に弾性材料や低融点
金属を用いずに弾性構造を持たすことができ、従来の導
電性部材1に弾性材料や低融点金属を用いた場合よりも
導電性部材1の材料の制約を少なくして材料選択を容易
にすることができる。従って、高信頼で安定な接続を得
ることができ、微細で高密度な実装に対応することがで
きる。また、絶縁性基材11を陽極酸化によって形成し
ているため、容易にしかも高密度の異方性導電膜を得る
ことができる。
成された絶縁性基材11と、絶縁性基材11表面で離間
して突出するように形成された導電性バンプ13aを有
するとともに、導電性バンプ13aと一体的に形成され
た柱状部分13bが貫通孔を貫通するように形成された
導電性部材13とからなるように構成している。このよ
うに、所定の貫通孔12内に導電性部材13を形成して
いるため、導電部を固定することができ、横方向のショ
ートを生じ難くすることができる。また、導電性部材1
3の柱状部分13bを絶縁性基材11の貫通孔12内を
貫通するように、かつ絶縁性基材11表裏面で露出する
ように形成したため、応力に対して弾性構造を示すよう
になる。このため、導電性部材13に弾性材料や低融点
金属を用いずに弾性構造を持たすことができ、従来の導
電性部材1に弾性材料や低融点金属を用いた場合よりも
導電性部材1の材料の制約を少なくして材料選択を容易
にすることができる。従って、高信頼で安定な接続を得
ることができ、微細で高密度な実装に対応することがで
きる。また、絶縁性基材11を陽極酸化によって形成し
ているため、容易にしかも高密度の異方性導電膜を得る
ことができる。
【0022】(第3の実施例)次に、図6は本発明の第
3の実施例に則した異方性導電膜の構造を示す断面図で
あり、図6(b)は図6(a)に示すX部の詳細を示す
構造断面図である。図6において、31は陽極酸化によ
って形成されたAl2 O3 等からなる絶縁性基材で
あり、この絶縁性基材31に複数の微細な貫通孔32が
形成されている。33は貫通孔32内を埋め込むように
、かつ絶縁性基材31表裏面で突出するように形成され
た導電部材33a及びポリマー粒子33bからなる導電
性部材である。
3の実施例に則した異方性導電膜の構造を示す断面図で
あり、図6(b)は図6(a)に示すX部の詳細を示す
構造断面図である。図6において、31は陽極酸化によ
って形成されたAl2 O3 等からなる絶縁性基材で
あり、この絶縁性基材31に複数の微細な貫通孔32が
形成されている。33は貫通孔32内を埋め込むように
、かつ絶縁性基材31表裏面で突出するように形成され
た導電部材33a及びポリマー粒子33bからなる導電
性部材である。
【0023】次に、図7は本発明の第3の実施例に則し
た異方性導電膜の製造方法を説明する図である。図7に
おいて、図6と同一符号は同一または相当部分を示し、
34は密着電極、35は電着用電極である。次に、その
製造方法について説明する。まず、図7(a)に示すよ
うに、Al導電性基材を陽極酸化して貫通孔32が形成
されたAl2 O3 からなる絶縁性基材31を形成し
た後、絶縁性基材31裏面にスパッタ等により密着電極
34を形成する。
た異方性導電膜の製造方法を説明する図である。図7に
おいて、図6と同一符号は同一または相当部分を示し、
34は密着電極、35は電着用電極である。次に、その
製造方法について説明する。まず、図7(a)に示すよ
うに、Al導電性基材を陽極酸化して貫通孔32が形成
されたAl2 O3 からなる絶縁性基材31を形成し
た後、絶縁性基材31裏面にスパッタ等により密着電極
34を形成する。
【0024】次に、図7(b)に示すように、密着電極
34裏面に電着用電極35を配置し、電着により貫通孔
32を埋め込むように、かつ絶縁性基材31表面で突出
するように導電部材33a及びポリマー粒子33bから
なる導電性部材33を形成する。次に、絶縁性基材31
裏面の密着電極34を溶解除去し (この時、絶縁性基
材31と電着用電極35間に隙間が形成される。) 、
再び電着することにより絶縁性基材31裏面で突出する
ように導電部材33a及びポリマー粒子33bからなる
導電性部材33を形成する。
34裏面に電着用電極35を配置し、電着により貫通孔
32を埋め込むように、かつ絶縁性基材31表面で突出
するように導電部材33a及びポリマー粒子33bから
なる導電性部材33を形成する。次に、絶縁性基材31
裏面の密着電極34を溶解除去し (この時、絶縁性基
材31と電着用電極35間に隙間が形成される。) 、
再び電着することにより絶縁性基材31裏面で突出する
ように導電部材33a及びポリマー粒子33bからなる
導電性部材33を形成する。
【0025】そして、電着用電極35を除去することに
より、図6に示すような異方性導電膜を得ることができ
る。なお、この異方性導電膜の接続方法は具体的には、
図8に示すように、まず異方性導電膜と下側のLSIチ
ップ41を位置合わせし、次いで、異方性導電膜と下側
のLSIチップ41を熱可塑性樹脂により熱圧着等を行
なって接続固定し、次いで、異方性導電膜と上側のLS
Iチップ41を位置合わせし、次いで、異方性導電膜と
上側のLSIチップ41を熱可塑性樹脂により熱圧着等
を行なって接続固定する。
より、図6に示すような異方性導電膜を得ることができ
る。なお、この異方性導電膜の接続方法は具体的には、
図8に示すように、まず異方性導電膜と下側のLSIチ
ップ41を位置合わせし、次いで、異方性導電膜と下側
のLSIチップ41を熱可塑性樹脂により熱圧着等を行
なって接続固定し、次いで、異方性導電膜と上側のLS
Iチップ41を位置合わせし、次いで、異方性導電膜と
上側のLSIチップ41を熱可塑性樹脂により熱圧着等
を行なって接続固定する。
【0026】すなわち、本実施例では、貫通孔32が形
成された絶縁性基材31と、貫通孔32内を埋め込むよ
うに、かつ絶縁性基材31表裏面で突出するように形成
された導電部材33a及びポリマー粒子33bからなる
導電性部材33とからなるように構成している。このよ
うに、所定の貫通孔32内に導電性部材33を形成して
いるため、導電部を固定することができ、横方向のショ
ートを生じ難くすることができる。また、導電性部材3
3を導電部材33aとポリマー粒子33bの複合体で構
成するようにしたため、導電部に弾性構造を持たせるこ
とができる。このため、実装時の突起高さのばらつきを
吸収することができ、突起高さのばらつきが大きくても
信頼性良くLSI実装することができる。
成された絶縁性基材31と、貫通孔32内を埋め込むよ
うに、かつ絶縁性基材31表裏面で突出するように形成
された導電部材33a及びポリマー粒子33bからなる
導電性部材33とからなるように構成している。このよ
うに、所定の貫通孔32内に導電性部材33を形成して
いるため、導電部を固定することができ、横方向のショ
ートを生じ難くすることができる。また、導電性部材3
3を導電部材33aとポリマー粒子33bの複合体で構
成するようにしたため、導電部に弾性構造を持たせるこ
とができる。このため、実装時の突起高さのばらつきを
吸収することができ、突起高さのばらつきが大きくても
信頼性良くLSI実装することができる。
【0027】また、導電性部材31を陽極酸化によって
形成しているため、LSIで発生する熱を効率良く放熱
することができ信頼性を向上させることができる。なお
、図6に示す異方性導電膜を図7で説明した製造方法の
他に以下のように行なってもよい。図9は本発明の第3
の実施例に則した異方性導電膜の製造方法を説明する図
である。図7において、図6と同一符号は同一または相
当部分を示し、37は開口部38を有するレジストパタ
ーンである。
形成しているため、LSIで発生する熱を効率良く放熱
することができ信頼性を向上させることができる。なお
、図6に示す異方性導電膜を図7で説明した製造方法の
他に以下のように行なってもよい。図9は本発明の第3
の実施例に則した異方性導電膜の製造方法を説明する図
である。図7において、図6と同一符号は同一または相
当部分を示し、37は開口部38を有するレジストパタ
ーンである。
【0028】次に、その製造方法について説明する。ま
ず、図9(a)に示すように、Al導電性基材を陽極酸
化して貫通孔32が形成されたAl2 O3 からなる
絶縁性基材31を形成し、貫通孔32を部分的に覆うよ
うに開口部38を有するレジストパターン37を形成し
た後、絶縁性基材31裏面にスパッタ等により密着電極
34を形成する。
ず、図9(a)に示すように、Al導電性基材を陽極酸
化して貫通孔32が形成されたAl2 O3 からなる
絶縁性基材31を形成し、貫通孔32を部分的に覆うよ
うに開口部38を有するレジストパターン37を形成し
た後、絶縁性基材31裏面にスパッタ等により密着電極
34を形成する。
【0029】次に、図9(b)に示すように、密着電極
34裏面に電着用電極35を配置し、電着により貫通孔
32を埋め込むように、かつ絶縁性基材31表面で突出
するように導電部材33a及びポリマー粒子33bから
なる導電性部材33を形成する。次に、密着電極34裏
面の電着用電極35を部分的に溶解除去し (この時、
密着電極34と電着用電極35間に隙間が形成される。 ) 、再び電着することにより絶縁性基材31裏面で突
出するように導電部材33a及びポリマー粒子33bか
らなる導電性部材33を形成する。
34裏面に電着用電極35を配置し、電着により貫通孔
32を埋め込むように、かつ絶縁性基材31表面で突出
するように導電部材33a及びポリマー粒子33bから
なる導電性部材33を形成する。次に、密着電極34裏
面の電着用電極35を部分的に溶解除去し (この時、
密着電極34と電着用電極35間に隙間が形成される。 ) 、再び電着することにより絶縁性基材31裏面で突
出するように導電部材33a及びポリマー粒子33bか
らなる導電性部材33を形成する。
【0030】そして、電着用電極35を除去することに
より、図6に示すような異方性導電膜を得ることができ
る。 (第4の実施例)次に、図10は本発明の第4の実施例
に則した異方性導電膜の構造を示す断面図であり、図1
0(b)は図10(a)に示すX部の詳細を示す構造断
面図である。図10において、41は陽極酸化によって
形成されたAl2 O3 等からなる絶縁性基材であり
、この絶縁性基材41に複数の微細な貫通孔42が形成
されている。43は貫通孔42内を埋め込むように形成
された導体からなる柱状部分43aとこの柱状部分43
aと接続するように形成され、かつ絶縁性基材41表裏
面で突出するように形成された導電部材43bとポリマ
ー粒子43cからなる導電性バンプ43dとからなる導
電性部材である。
より、図6に示すような異方性導電膜を得ることができ
る。 (第4の実施例)次に、図10は本発明の第4の実施例
に則した異方性導電膜の構造を示す断面図であり、図1
0(b)は図10(a)に示すX部の詳細を示す構造断
面図である。図10において、41は陽極酸化によって
形成されたAl2 O3 等からなる絶縁性基材であり
、この絶縁性基材41に複数の微細な貫通孔42が形成
されている。43は貫通孔42内を埋め込むように形成
された導体からなる柱状部分43aとこの柱状部分43
aと接続するように形成され、かつ絶縁性基材41表裏
面で突出するように形成された導電部材43bとポリマ
ー粒子43cからなる導電性バンプ43dとからなる導
電性部材である。
【0031】すなわち、本実施例では、貫通孔42が形
成された絶縁性基材41と、貫通孔42内を埋め込むよ
うに形成された導体からなる柱状部分43aとこの柱状
部分43aと接続するように形成され、かつ絶縁性基材
41表裏面で突出するように形成された導電部材43b
とポリマー粒子43cからなる導電性バンプ43dとか
らなる導電性部材43とからなるように構成している。 このように、所定の貫通孔42内に導電性部材43を形
成しているため、導電部を固定することができ、横方向
のショートを生じ難くすることができる。また、導電性
部材43の導電性バンプ43dを導電部材43bとポリ
マー粒子43cの複合体で構成するようにしたため、導
電部に弾性構造を持たせることができる。このため、実
装時の突起高さのばらつきを吸収することができ、突起
高さのばらつきが大きくても信頼性良くLSI実装する
ことができる。
成された絶縁性基材41と、貫通孔42内を埋め込むよ
うに形成された導体からなる柱状部分43aとこの柱状
部分43aと接続するように形成され、かつ絶縁性基材
41表裏面で突出するように形成された導電部材43b
とポリマー粒子43cからなる導電性バンプ43dとか
らなる導電性部材43とからなるように構成している。 このように、所定の貫通孔42内に導電性部材43を形
成しているため、導電部を固定することができ、横方向
のショートを生じ難くすることができる。また、導電性
部材43の導電性バンプ43dを導電部材43bとポリ
マー粒子43cの複合体で構成するようにしたため、導
電部に弾性構造を持たせることができる。このため、実
装時の突起高さのばらつきを吸収することができ、突起
高さのばらつきが大きくても信頼性良くLSI実装する
ことができる。
【0032】また、絶縁性基材31を陽極酸化によって
形成しているため、LSIで発生する熱を効率良く放熱
することができ信頼性を向上させることができる。
形成しているため、LSIで発生する熱を効率良く放熱
することができ信頼性を向上させることができる。
【0033】
【発明の効果】本発明によれば、導電部を固定すること
ができ、横方向のショートを生じ難くすることができ、
しかも導電性部材に弾性材料や紙融点金属を用いずに弾
性構造を持たすことができ、導電性部材の材料の制約を
なくして材料選択を容易にすることができ、高信頼で安
定な接続を得ることができるという効果がある。
ができ、横方向のショートを生じ難くすることができ、
しかも導電性部材に弾性材料や紙融点金属を用いずに弾
性構造を持たすことができ、導電性部材の材料の制約を
なくして材料選択を容易にすることができ、高信頼で安
定な接続を得ることができるという効果がある。
【図1】本発明の第1の実施例に則した異方性導電膜の
構造を示す断面図である。
構造を示す断面図である。
【図2】本発明の第1の実施例に則した異方性導電膜の
製造方法を説明する図である。
製造方法を説明する図である。
【図3】本発明の第2の実施例に則した異方性導電膜の
構造を示す断面図である。
構造を示す断面図である。
【図4】本発明の第2の実施例に則した異方性導電膜の
製造方法を説明する図である。
製造方法を説明する図である。
【図5】本発明の第2の実施例に則した異方性導電膜を
用いてICチップを基板に実装する場合を示す図である
。
用いてICチップを基板に実装する場合を示す図である
。
【図6】本発明の第3の実施例に則した異方性導電膜の
構造を示す断面図である。
構造を示す断面図である。
【図7】本発明の第3の実施例に則した異方性導電膜の
製造方法を説明する図である。
製造方法を説明する図である。
【図8】本発明の第3の実施例に則した異方性導電膜を
用いてICチップをICチップに実装する場合を示す図
である。
用いてICチップをICチップに実装する場合を示す図
である。
【図9】本発明の第3の実施例に則した異方性導電膜の
製造方法を説明する図である。
製造方法を説明する図である。
【図10】本発明の第4の実施例に則した異方性導電膜
の構造を示す断面図である。
の構造を示す断面図である。
1 導電性部材
1a 第1の導電性バンプ
1b 第2の導電性バンプ
1c 柱状部分
2 絶縁性基材
4 貫通孔
5 導電性基板
6 溝
7 レジストパターン
8 開口部
11 絶縁性基材
12 貫通孔
13 導電性部材
13a 導電性バンプ
13b 柱状部材
31 絶縁性基材
32 貫通孔
33 導電性部材
33a 導電部材
33b ポリマー粒子
41 絶縁性基材
42 貫通孔
43 導電性部材
43a 柱状部分
43b 導電部材
43c ポリマー粒子
43d 導電性バンプ
Claims (7)
- 【請求項1】 第1、第2の導電性バンプ(1a、1
b)と一体的に形成されるとともに、該第1、第2の導
電性バンプ(1a、1b)間で柱状に形成された導電性
部材(1)と、該第1、第2の導電性バンプ(1a、1
b)間の柱状に形成された導電性部材(1)の柱状部分
(1c)を保持絶縁する絶縁性基材(2)とからなるこ
とを特徴とする異方性導電膜。 - 【請求項2】 導電性基材を陽極酸化して貫通孔(4
)が形成された絶縁性基材(3)を形成する工程と、該
絶縁性基材(3)を溝(6)が形成された導電性基板(
5)上に該貫通孔(4)が該溝(6)上にくるように取
り付け配置する工程と、該貫通孔(4)を部分的に覆う
ように開口部(8)を有するマスクパターン(7)を形
成する工程と、該導電性基板(5)を電析用電極の陰極
とし、電析により該マスクパターン(7)間の該開口部
(8)、該貫通孔(4)及び該溝(6)内に埋め込むと
ともに、該絶縁性基材(3)表裏面で突出された第1、
第2の導電性バンプ(1a、1b)を有する導電性部材
(1)を形成する工程と、該絶縁性基材(3)を該導電
性基板(5)から取り外す工程と、該絶縁性基材(3)
を除去して該第1、第2の導電性バンプ(1a、1b)
間に該導電性部材(1)の柱状部分(1c)を露出させ
る工程と、該第1の導電性バンプ(1a)及び該マスク
パターン(7)と該第2の導電性バンプ(1b)との間
の柱状部分(1c)に樹脂を塗布して絶縁性基材(2)
を形成する工程と、該マスクパターン(7)を除去する
工程とを含むことを特徴とする異方性導電膜の製造方法
。 - 【請求項3】 貫通孔(12)が形成された絶縁性基
材(11)と、該絶縁性基材(11)表面で離間して突
出するように形成された導電性バンプ(13a)を有す
るとともに、該導電性バンプ(13a) と一体的に形
成された柱状部分(13b)が該貫通孔(12)を貫通
するように形成された導電性部材 (13) とからな
ることを特徴とする異方性導電膜。 - 【請求項4】 前記絶縁性基材(11) が陽極酸化
によって形成されたものであることを特徴とする請求項
3記載の異方性導電膜。 - 【請求項5】 貫通孔 (32) が形成された絶縁
性基材 (31) と、該貫通孔 (32) 内を埋め
込むように、かつ該絶縁性基材(31) 表裏面で突出
するように形成された導電部材 (33a) 及びポリ
マー粒子 (33b) からなる導電性部材 (33)
とからなることを特徴とする異方性導電膜。 - 【請求項6】 貫通孔(42) が形成された絶縁性
基材 (41) と、該貫通孔 (42) 内を埋め込
むように形成された導体からなる柱状部分 (43a)
と該柱状部分(43a) と接続するように形成され
、かつ該絶縁性基材 (41) 表裏面で突出するよう
に形成された導電部材 (43b) とポリマー粒子
(43c) からなる導電性バンプ (43d) とか
らなる導電性部材 (43) とからなることを特徴と
する異方性導電膜。 - 【請求項7】 前記絶縁性基材 (31、41) が
陽極酸化して形成されたものであることを特徴とする請
求項5乃至6記載の異方性導電膜。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5757191A JPH04294006A (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | 異方性導電膜及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5757191A JPH04294006A (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | 異方性導電膜及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04294006A true JPH04294006A (ja) | 1992-10-19 |
Family
ID=13059534
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5757191A Pending JPH04294006A (ja) | 1991-03-22 | 1991-03-22 | 異方性導電膜及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04294006A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014071962A (ja) * | 2012-09-27 | 2014-04-21 | Fujifilm Corp | 異方導電性部材および多層配線基板 |
-
1991
- 1991-03-22 JP JP5757191A patent/JPH04294006A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014071962A (ja) * | 2012-09-27 | 2014-04-21 | Fujifilm Corp | 異方導電性部材および多層配線基板 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4993148A (en) | Method of manufacturing a circuit board | |
| JP3952129B2 (ja) | 半導体装置、実装基板及びその製造方法、回路基板並びに電子機器 | |
| US7543375B2 (en) | Process for filling via hole in a substrate | |
| JPH03178152A (ja) | モールドicおよびその製造方法 | |
| JP2006093575A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
| JP3855320B2 (ja) | 半導体装置用基板の製造方法及び半導体装置の製造方法 | |
| JP3297177B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JP2005057264A (ja) | パッケージ化された電気構造およびその製造方法 | |
| JP7382170B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JPH03276512A (ja) | 異方性導電膜およびその製造方法 | |
| JP4429435B2 (ja) | バンプ付き二層回路テープキャリアおよびその製造方法 | |
| JPH04294006A (ja) | 異方性導電膜及びその製造方法 | |
| JPH06347480A (ja) | プローブ構造 | |
| JPH0727789A (ja) | 回路配線板およびその製造方法 | |
| JP3813497B2 (ja) | バンプ形成方法および半導体装置の実装構造体 | |
| JPH08235935A (ja) | 異方導電フィルム | |
| JP2984064B2 (ja) | 異方導電フィルムの製造方法 | |
| JP2004140248A (ja) | バンプ付き配線基板およびその製造方法 | |
| JPH01145891A (ja) | ハンダバンプ付き回路基板の製造方法 | |
| JP3173109B2 (ja) | 半導体素子及びその製造方法 | |
| KR20190046505A (ko) | 인쇄회로기판 | |
| JPH08330472A (ja) | 半導体装置とその製造方法 | |
| JP3847973B2 (ja) | バンプ形成方法 | |
| JPH04170036A (ja) | 異方性導電膜の製造方法 | |
| JPH05267306A (ja) | 半導体装置の製造方法 |