JPH04297Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】

〔考案の属する技術分野〕 この考案はサンプリング装置に使用される試料
水ヘツドベツセルに係り、特にヘツドベツセル内
の試料水のオーバーフロー量を多段階に設定する
と共にそのレベルを監視してサンプリング系のシ
ーケンス制御を容易化し得るレベル監視可能な試
料水ヘツドベツセルに関するものである。 〔従来技術とその問題点〕 従来、サンプリング装置においては、ヘツドベ
ツセルに貯留された試料水を分析系へ供給するに
際し、ヘツドベツセルでの試料水が規定レベル
（規定オーバーフロー量）以下となつた場合、こ
の状態を底レベルスイツチで検知し、試料水の供
給制御を行つている。また、試料水が規定レベル
以下になつた場合は、流量調整弁の機能が損なわ
れるため、バイパス弁を設けてこれを開放するこ
とにより分析系へ供給する試料水の流量を適正に
保持するよう制御される。しかるに、従来のサン
プリング装置においては、前記バイパス弁の開放
操作を試料水の圧力によつて行つており、しかも
前述のようにこのバイパス弁の開放条件設定値は
低くなるため、底レンジの圧力計を設ける必要が
ある。しかしながら、通常のサンプリングに際し
ては、前記底レンジの圧力計に対し高圧が負荷さ
れるため、圧力計保護のため圧力計入口にゲージ
セーバ等を設ける必要があるが、この場合ゲージ
セーバの故障により適正な圧力検知ができなくな
る難点がある。また、試料水の流量調整不良や自
動流量調整弁を設けていない脱気器系統等では、
高負荷時に試料水の流量過剰を生じて、例えば高
温試料水の流入によりヘツドベツセルに変色を生
じたり、分析計に支障を及ぼすことがあり、従来
この種の流量過剰によるヘツドベツセルの監視お
よび制御が困難であつた。 〔考案の目的〕 本考案の目的は、試料水ヘツドベツセルに複数
段階のオーバーフローレベルを設定し、各レベル
に対応してレベルスイツチを設けることにより、
オーバーフロー量をヘツドベツセルの試料水レベ
ルで監視し、オーバーフロー量を適正に制御し得
るレベル監視可能な試料水ヘツドベツセルを提供
するにある。 〔考案の要点〕 前記の目的を達成するため、本考案におけるレ
ベル監視可能な試料水ヘツドベツセルは、試料水
導入開口部を備えると共にオーバーフロー管を挿
通配置して試料水を導出するよう構成したサンプ
リング装置の試料水ヘツドベツセルにおいて、オ
ーバーフロー管の先端開口部を高レベルとして順
次複数のレベル位置を設定し、最も底レベル位置
を除く他のレベル位置に対しオーバーフロー管に
それぞれ異なる開孔面積を有するオーバーフロー
開孔を設け、さらにこのオーバーフロー管の設定
レベルと対応してレベル検出動作を行うレベル検
出器を設けることを特徴とする。 前記の試料水ヘツドベツセルにおいて、オーバ
ーフロー管の所定レベル位置にそれぞれ設けるオ
ーバーフロー開孔は、先端開口部より下方に低下
するに従つて開孔面積を順次小さく設定すれば好
適である。 また、レベル検出器はオーバーフロー管と平行
に配置した検知管とこの検知管に挿通したフロー
トとからなり、フロートのレベル位置変化に対応
して複数のレベル検出点を設定し得る多点レベル
スイツチで構成すれば好適である。 さらに、ヘツドベツセルにオーバーフロー管の
設定レベルと対応してレベルマークを施せば好適
である。 〔考案の実施例〕 次に、本考案に係るレベル監視可能な試料水ヘ
ツドベツセルの実施例につき、添付図面を参照し
ながら以下詳細に説明する。 第１図は、本考案の試料水ヘツドベツセルの一
実施例を示す断面図である。すなわち、第１図に
おいて、参照符号１０はヘツドベツセルの筒形容
器本体を示し、この容器本体１０の底部に試料水
導入開口部１２が設けられると共にオーバーフロ
ー管１４が挿通配置される。しかるに、本考案に
おいては、前記オーバーフロー管１４には、その
先端開口部１６より下方に所定のレベル間隔をも
つて複数のオーバーフロー開孔１８，２０を設け
る。この場合、オーバーフロー開孔１８，２０の
開孔面積は、低レベルになるにしたがつてオーバ
ーフロー量を低減すべく小さく設定する。例え
ば、第１図に示す実施例において、オーバーフロ
ー管１４に対する試料水の各設定レベルとオーバ
ーフロー量との関係を次のように設定することが
できる。

〔考案の効果〕

前述した実施例から明らかなように、本考案に
係るレベル監視可能な試料水ヘツドベツセルは、
容器本体内に垂直に挿通配置したオーバーフロー
管に対し複数のレベル段階でオーバーフロー量を
調整し得る開孔を設け、しかもこれらのレベル段
階に対応してレベル検知を行うことができる検出
器を設けることによつて、オーバーフロー量を試
料水レベルに関連させて検出することができる。
従つて、ヘツドベツセルからの試料水のオーバー
フロー量は常に監視することができると共に前記
検出器からのレベル検出信号に基づいてサンプリ
ング系のシーケンス制御を行うことにより、オー
バーフロー量の制御も可能となる。また、ヘツド
ベツセルは、その一部または全体を透明材料で構
成し、前記検出器の検出レベルと対応してレベル
マークを施すことにより、ヘツドベツセル内の試
料水レベルを直接目視で確認することもでき、こ
の種ヘツドベツセルの操作状態を適正に監視し、
サンプリング系の運転制御も円滑かつ安全に達成
することができる。 この結果、本考案のヘツドベツセルを使用する
ことにより、試料水底圧力時のバイパス弁の開放
に際し、従来のように底レンジの圧力計を設ける
必要がなく、また、サンプリング系の異常による
過剰なオーバーフローに対しても有効に監視制御
することができる。 以上、本考案の好適な実施例について説明した
が、本考案は前述した実施例に限定されることな
く、例えばオーバーフロー量を設定するレベルの
段数、レベル検出器の構成等についてはそれぞれ
変更が可能であり、その他本考案の精神を逸脱し
ない範囲内において種々の改良並びに変更をなし
得ることは勿論である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案に係るレベル監視可能な試料水
ヘツドベツセルの一実施例を示す断面図である。 １０……容器本体、１２……試料水導入開口
部、１４……オーバーフロー管、１６……先端開
口部、１８，２０……オーバーフロー開孔、２２
……レベル検出器、２４……フロート、２６……
検知管。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 試料水導入開口部を備えると共にオーバーフ
   ロー管を挿通配置して試料水を導出するよう構
   成したサンプリング装置の試料水ヘツドベツセ
   ルにおいて、オーバーフロー管の先端開口部を
   高レベルとして順次複数のレベル位置を設定
   し、最も底レベル位置を除く他のレベル位置に
   対しオーバーフロー管にそれぞれ異なる開孔面
   積を有するオーバーフロー開孔を設け、さらに
   このオーバーフロー管の設定レベルと対応して
   レベル検出動作を行うレベル検出器を設けるこ
   とを特徴とするレベル監視可能な試料水ヘツド
   ベツセル。 (2) 実用新案登録請求の範囲第１項記載の試料水
   ヘツドベツセルにおいて、オーバーフロー管の
   所定レベル位置にそれぞれ設けるオーバーフロ
   ー開孔は、先端開口部より下方に低下するに従
   つて開孔面積を順次小さく設定してなるレベル
   監視可能な試料水ヘツドベツセル。 (3) 実用新案登録請求の範囲第１項記載の試料水
   ヘツドベツセルにおいて、レベル検出器はオー
   バーフロー管と平行に配置した検知管とこの検
   知管に挿通したフロートからなり、フロートの
   レベル位置変化に対応して複数のレベル検出点
   を設定し得る多点レベルスイツチからなるレベ
   ル監視可能な試料水ヘツドベツセル。 (4) 実用新案登録請求の範囲第１項記載の試料水
   ヘツドベツセルにおいて、ヘツドベツセルにオ
   ーバーフロー管の設定レベルと対応してレベル
   マークを施してなるレベル監視可能な試料水ヘ
   ツドベツセル。