JPH04300295A - ニオブ酸リチウム単結晶およびその製造方法 - Google Patents
ニオブ酸リチウム単結晶およびその製造方法Info
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- JPH04300295A JPH04300295A JP3087591A JP8759191A JPH04300295A JP H04300295 A JPH04300295 A JP H04300295A JP 3087591 A JP3087591 A JP 3087591A JP 8759191 A JP8759191 A JP 8759191A JP H04300295 A JPH04300295 A JP H04300295A
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Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光を使用する情
報処理分野あるいは光応用計測制御および通信分野に利
用する単結晶に関するものであり、特に耐光損傷特性及
び結晶均一性に優れたニオブ酸リチウム単結晶に係る。
報処理分野あるいは光応用計測制御および通信分野に利
用する単結晶に関するものであり、特に耐光損傷特性及
び結晶均一性に優れたニオブ酸リチウム単結晶に係る。
【0002】
【従来の技術】近年、音響光学効果、非線形光学効果及
び電気光学効果を用いた各種光学素子が研究開発されて
いる。特にニオブ酸リチウム結晶は光学的品質に優れ、
比較的安価で大口径の結晶が育成可能で、しかも低損失
な光導波路が容易に形成可能なことから、各種光学素子
の基板材料として最もよく用いられている。その応用例
として、波長変換光素子は、例えば「日経ニューマテリ
アルズ」4月20号(1987年)p96〜105にお
いて、光変調器や光スイッチについては、「Optic
al and Quantum Electronic
s」vol.20(1988年)p189〜213やオ
プトロニクス(1988年)No.8、p103〜10
8において論じられている。しかしながら、その実用に
際しては、光損傷の発生を抑えることが重要であるとさ
れてきた。ここで言う光損傷には、正確には2つの意味
があり、1つは非常に強力なレーザ入射により結晶が誘
電破壊する現象(レーザダメージと呼ぶ)、もう一つは
レーザ光入射により結晶の屈折率が局所的に変化する現
象で光誘起屈折率変化と呼ばれるものがある。特に後者
の問題を改善するため、種々の提案がなされているが、
その一つとして、酸化マグネシウムを添加することによ
り光損傷を低減する方法が報告されている(D.A.B
ryan,et,al.,「Appl.Phys.Le
tt.」,vol.44、P.847、1984)。こ
の報告によれば、酸化マグネシウムを添加したニオブ酸
リチウム結晶においては、酸化マグネシウムの添加量と
ともに耐光損傷強度が増加し、この強度は添加酸化マグ
ネシウムが4.5原子%(以下、at%と記す)以上で
一定値となることが知られている。したがって、光損傷
が問題となるような光学素子にマグネア添加ニオブ酸リ
チウム結晶を用いる場合には、酸化マグネシウム添加量
を4.5at%(MgOとして添加する場合は4.5モ
ル%)以上にすることがよいと言われてきた。上記従来
技術における酸化マグネシウムを添加したニオブ酸リチ
ウム単結晶は酸化マグネシウムを酸化リチウムと五酸化
ニオブの二元系相図におけるコングルエント組成,すな
わち酸化リチウム/(酸化リチウム+五酸化ニオブ)の
モル分率が48.34〜48.6モル%あるいは別の表
記で示すとLi(1−y)Nb1+yO3(但し0.0
28≦Y≦0.033)のニオブ酸リチウム原料、もし
くは、ストイキオメトリ組成(酸化リチウム/(酸化リ
チウム+五酸化ニオブ)のモル分率が50.0モル%あ
るいは別の表記で示すとLi1−yNb1+yO3(但
しY=0)のニオブ酸リチウム原料に添加している。最
近では実際に、酸化マグネシウムを添加したニオブ酸リ
チウム結晶を用い、チェレンコフ方式により第二高調波
出力が連続発振(CW)レーザで0.4mW程度発生す
ることのできる波長変換素子が製品開発されている(谷
内;LiNbO3のSHGデバイス;応用物理学会、第
93回結晶工学分科会、P23(1900年))。
び電気光学効果を用いた各種光学素子が研究開発されて
いる。特にニオブ酸リチウム結晶は光学的品質に優れ、
比較的安価で大口径の結晶が育成可能で、しかも低損失
な光導波路が容易に形成可能なことから、各種光学素子
の基板材料として最もよく用いられている。その応用例
として、波長変換光素子は、例えば「日経ニューマテリ
アルズ」4月20号(1987年)p96〜105にお
いて、光変調器や光スイッチについては、「Optic
al and Quantum Electronic
s」vol.20(1988年)p189〜213やオ
プトロニクス(1988年)No.8、p103〜10
8において論じられている。しかしながら、その実用に
際しては、光損傷の発生を抑えることが重要であるとさ
れてきた。ここで言う光損傷には、正確には2つの意味
があり、1つは非常に強力なレーザ入射により結晶が誘
電破壊する現象(レーザダメージと呼ぶ)、もう一つは
レーザ光入射により結晶の屈折率が局所的に変化する現
象で光誘起屈折率変化と呼ばれるものがある。特に後者
の問題を改善するため、種々の提案がなされているが、
その一つとして、酸化マグネシウムを添加することによ
り光損傷を低減する方法が報告されている(D.A.B
ryan,et,al.,「Appl.Phys.Le
tt.」,vol.44、P.847、1984)。こ
の報告によれば、酸化マグネシウムを添加したニオブ酸
リチウム結晶においては、酸化マグネシウムの添加量と
ともに耐光損傷強度が増加し、この強度は添加酸化マグ
ネシウムが4.5原子%(以下、at%と記す)以上で
一定値となることが知られている。したがって、光損傷
が問題となるような光学素子にマグネア添加ニオブ酸リ
チウム結晶を用いる場合には、酸化マグネシウム添加量
を4.5at%(MgOとして添加する場合は4.5モ
ル%)以上にすることがよいと言われてきた。上記従来
技術における酸化マグネシウムを添加したニオブ酸リチ
ウム単結晶は酸化マグネシウムを酸化リチウムと五酸化
ニオブの二元系相図におけるコングルエント組成,すな
わち酸化リチウム/(酸化リチウム+五酸化ニオブ)の
モル分率が48.34〜48.6モル%あるいは別の表
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28≦Y≦0.033)のニオブ酸リチウム原料、もし
くは、ストイキオメトリ組成(酸化リチウム/(酸化リ
チウム+五酸化ニオブ)のモル分率が50.0モル%あ
るいは別の表記で示すとLi1−yNb1+yO3(但
しY=0)のニオブ酸リチウム原料に添加している。最
近では実際に、酸化マグネシウムを添加したニオブ酸リ
チウム結晶を用い、チェレンコフ方式により第二高調波
出力が連続発振(CW)レーザで0.4mW程度発生す
ることのできる波長変換素子が製品開発されている(谷
内;LiNbO3のSHGデバイス;応用物理学会、第
93回結晶工学分科会、P23(1900年))。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術における
酸化マグネシウム添加のニオブ酸リチウム単結晶は酸化
マグネシウムを酸化リチウムと五酸化ニオブの二元系相
図におけるコングルエント組成(酸化リチウム:五酸化
ニオブ=48.6モル%:51.4モル%)のニオブ酸
リチウム原料、もしくは、ストイキオメトリ組成(酸化
リチウム:五酸化ニオブ=50.0モル%:50.0モ
ル%)のニオブ酸リチウム原料に添加している。ここで
コングルエント組成とは、融液の組成と引き上げる単結
晶の組成が一致するような組成をいい、不純物濃度分布
を一様にする目的で採用される。しかし、前記コングル
エント組成は酸化リチウムと五酸化ニオブと酸化マグネ
シウムの三元系相図におけるコングルエント組成ではな
いため、結晶中のマグネシウムの偏析係数が1より大き
く、育成された結晶中のマグネシウム濃度は均一ではな
く、結晶上部でマグネシウム濃度が大きく、結晶の成長
にともない結晶下部ではその濃度が小さくなる。ここで
偏析係数とは、固相での平衡濃度と液相(融液)での平
衡濃度との比で定義される。このような、酸化マグネシ
ウムの添加方法は、マグネシウムを侵入型の不純物と見
なしたことに対応する。さらに、従来技術においては、
酸化マグネシウム添加ニオブ酸リチウム単結晶を育成す
る場合、クラックの発生が著しく、またサブグレインバ
ウンダリーも多く光学用途としての使用には耐えない品
質の結晶であった。このマグネシウム濃度分布の不均一
性のため結晶の屈折率も不均一分布をしており、これに
よる素子作製上の不安定性や低歩留り等の問題があった
。本発明の目的は、マグネシウム濃度の不均一性による
結晶品質の劣化と不均一性の問題を解決し、耐光損傷特
性及び、光学的均一性に優れた酸化マグネシウム添加ニ
オブ酸リチウム単結晶を提供し、これを用いた光素子を
安定に作製、動作させることにある。
酸化マグネシウム添加のニオブ酸リチウム単結晶は酸化
マグネシウムを酸化リチウムと五酸化ニオブの二元系相
図におけるコングルエント組成(酸化リチウム:五酸化
ニオブ=48.6モル%:51.4モル%)のニオブ酸
リチウム原料、もしくは、ストイキオメトリ組成(酸化
リチウム:五酸化ニオブ=50.0モル%:50.0モ
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を一様にする目的で採用される。しかし、前記コングル
エント組成は酸化リチウムと五酸化ニオブと酸化マグネ
シウムの三元系相図におけるコングルエント組成ではな
いため、結晶中のマグネシウムの偏析係数が1より大き
く、育成された結晶中のマグネシウム濃度は均一ではな
く、結晶上部でマグネシウム濃度が大きく、結晶の成長
にともない結晶下部ではその濃度が小さくなる。ここで
偏析係数とは、固相での平衡濃度と液相(融液)での平
衡濃度との比で定義される。このような、酸化マグネシ
ウムの添加方法は、マグネシウムを侵入型の不純物と見
なしたことに対応する。さらに、従来技術においては、
酸化マグネシウム添加ニオブ酸リチウム単結晶を育成す
る場合、クラックの発生が著しく、またサブグレインバ
ウンダリーも多く光学用途としての使用には耐えない品
質の結晶であった。このマグネシウム濃度分布の不均一
性のため結晶の屈折率も不均一分布をしており、これに
よる素子作製上の不安定性や低歩留り等の問題があった
。本発明の目的は、マグネシウム濃度の不均一性による
結晶品質の劣化と不均一性の問題を解決し、耐光損傷特
性及び、光学的均一性に優れた酸化マグネシウム添加ニ
オブ酸リチウム単結晶を提供し、これを用いた光素子を
安定に作製、動作させることにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的の達成のために
、本発明者は、コングルエント組成よりも酸化リチウム
の組成比を減じたLiプア(poor)な組成の原料に
酸化マグネシウムを秤量、添加し、これを出発生原料と
して混合、焼成した原料から単結晶を育成することによ
り、ニオブ酸リチウム単結晶中で添加したマグネシウム
がリチウム位置に置換することをつきとめ、耐光損傷特
性のみならず結晶品質均一性に優れた酸化マグネシウム
添加ニオブ酸リチウム単結晶を提供することを可能とし
た。即ち本発明は、引き上げ法によりニオブ酸リチウム
単結晶を製造するに際し、融液の組成をMgxLi(0
.972−δ)−zNb(1.028+δ)O3(ここ
で0.01≦x≦0.1、0<z≦x、0≦δ≦0.0
05)で表される組成とすることを特徴とするニオブ酸
リチウム単結晶の製造方法である。また本発明は、引き
上げ法によりニオブ酸リチウム単結晶を製造するに際し
、Liの1原子をMgの1原子が置換するように融液の
組成を予めコングルエント組成よりもLiプアに調整す
ることを特徴とするニオブ酸リチウム単結晶の製造方法
でもある。更に本発明は、融液を収容するルツボと、該
ルツボの外周に設けられた加熱手段と、前記ルツボ内の
融液に種結晶を接触させ引き上げて単結晶を得る手段か
らなるニオブ酸リチウム単結晶の製造装置において、前
記ルツボを二重ルツボとすることを特徴とするニオブ酸
リチウム単結晶の製造装置である。本発明は、前記の特
徴ある製造方法と製造装置を採用したため、Li位置が
Mgで置換され、第二高調波発生の位相整合温度がLi
位置がMgで置換されない場合よりも低いことを特徴と
するニオブ酸リチウム単結晶を得ることが出来る。本発
明に係るニオブ酸リチウム単結晶は、MgOを添加した
ニオブ酸リチウム単結晶であって、単結晶上下の位相整
合温度の差が1℃以下であることを特徴とするニオブ酸
リチウム単結晶でもある。本発明はまた、レーザー光源
からの出射光を基本波として非線形光学結晶への通過に
より第二高調波を発生するSHG素子において、前記非
線形光学結晶としてLi位置がMgで置換され、位相整
合温度がLi位置がMgで置換されない場合よりも低い
ニオブ酸リチウム単結晶を用いたことを特徴とするSH
G素子を提供できる。
、本発明者は、コングルエント組成よりも酸化リチウム
の組成比を減じたLiプア(poor)な組成の原料に
酸化マグネシウムを秤量、添加し、これを出発生原料と
して混合、焼成した原料から単結晶を育成することによ
り、ニオブ酸リチウム単結晶中で添加したマグネシウム
がリチウム位置に置換することをつきとめ、耐光損傷特
性のみならず結晶品質均一性に優れた酸化マグネシウム
添加ニオブ酸リチウム単結晶を提供することを可能とし
た。即ち本発明は、引き上げ法によりニオブ酸リチウム
単結晶を製造するに際し、融液の組成をMgxLi(0
.972−δ)−zNb(1.028+δ)O3(ここ
で0.01≦x≦0.1、0<z≦x、0≦δ≦0.0
05)で表される組成とすることを特徴とするニオブ酸
リチウム単結晶の製造方法である。また本発明は、引き
上げ法によりニオブ酸リチウム単結晶を製造するに際し
、Liの1原子をMgの1原子が置換するように融液の
組成を予めコングルエント組成よりもLiプアに調整す
ることを特徴とするニオブ酸リチウム単結晶の製造方法
でもある。更に本発明は、融液を収容するルツボと、該
ルツボの外周に設けられた加熱手段と、前記ルツボ内の
融液に種結晶を接触させ引き上げて単結晶を得る手段か
らなるニオブ酸リチウム単結晶の製造装置において、前
記ルツボを二重ルツボとすることを特徴とするニオブ酸
リチウム単結晶の製造装置である。本発明は、前記の特
徴ある製造方法と製造装置を採用したため、Li位置が
Mgで置換され、第二高調波発生の位相整合温度がLi
位置がMgで置換されない場合よりも低いことを特徴と
するニオブ酸リチウム単結晶を得ることが出来る。本発
明に係るニオブ酸リチウム単結晶は、MgOを添加した
ニオブ酸リチウム単結晶であって、単結晶上下の位相整
合温度の差が1℃以下であることを特徴とするニオブ酸
リチウム単結晶でもある。本発明はまた、レーザー光源
からの出射光を基本波として非線形光学結晶への通過に
より第二高調波を発生するSHG素子において、前記非
線形光学結晶としてLi位置がMgで置換され、位相整
合温度がLi位置がMgで置換されない場合よりも低い
ニオブ酸リチウム単結晶を用いたことを特徴とするSH
G素子を提供できる。
【0005】
【作用】本発明においては、酸化マグネシウムを添加す
る際に、その母原料であるニオブ酸リチウムの組成比に
於て、コングルエント組成(酸化リチウム:五酸化ニオ
ブ=48.6モル%:51.4モル%)から添加する酸
化マグネシウム中のマグネシウムイオンがリチウムイオ
ンの位置を置換するとして、あらかじめ酸化リチウムの
モル比を減じて配合、混合している。これによって、マ
グネシウムは過剰に不純物としては添加されず、その偏
析係数もコングルエント組成に添加する場合よりも1に
近くなるため、結晶内での不均一なマグネシウム濃度分
布を緩和することが出来る。これらによって、結晶内の
マグネシウムの局所的な偏析により導入される光散乱因
子や小傾角粒界を含まない結晶を育成することが出来る
ので、結晶の誘電破壊閾値や屈折率の均一性、種々の光
学的特性は良好なものが得られる。次に、マグネシウム
がリチウム位置を置換する根拠を記述する。MgOを融
液組成の中に添加する場合、従来はLN結晶に対するコ
ングルエント組成にMgOを適当な量添加するという方
法と、ストイキオメトリー組成にMgOを適当な量添加
する方法とが試みられていた。このような添加法はMg
を侵入型の不純物とみなしている。一方、Mg:LN結
晶(この表記はMg添加のLN単結晶を意味する。)に
光を照射した時に光誘起電流が増加することが報告され
ており(Wang Huafa et al., Ph
ys.Stat.Sol.(a) vol.89 (1
985))、この現象は光誘起電荷の増加によるものと
考えられる。現在のところMgがLN結晶中のどの位置
に入るかに関しての議論が始められた段階で定説はない
。 そこで、我々は、GrambmeirによるMg:LN
融液と結晶の組成に関する相図( B.C.Gramb
maier et al., J.Crys.Grow
th ,vol.79, p79 (1986))を基
に、Mgの置換位置に関する考察を行った。それによる
とMgOが0モル%のところではLi2Oは48.2モ
ル%(いわゆるLN結晶のコングルエント組成)になっ
ており、一方MgOが6モル%のところでは結晶のLi
2Oは46.9モル%になっている。Mgが置換型位置
に入るとするとLi位置とNb位置の2ケ所が考えられ
る。この各々について検討してみる。まず、MgがLi
位置に入る場合には、コングルエント組成がNbリッチ
であることを考慮すると、この場合の分子式は次式のよ
うになる。 MgxLi(1−y)−
xNb(1+y)O3
(1)一方、MgがNb位置に入る場合には、組
成式は次で与えられる。 MgxLi(1−y)N
b(1+y)−xO3
(2)Grambmeierの実験結果によると
MgO無添加のコングルエント組成ではx=0,y=0
.036となる。また、このコングルエント組成に6モ
ル%のMgOを添加した融液から育成した結晶ではMg
Oが7.4モル%,Li2Oが45.0モル%,Nb2
O5が55.0モル%となる。即ち組成式で表示すると
Mg0.14Li0.9
0Nb1.10O3
(3)x=0.14,y=0.036を(1)
,(3)各々に代入すると Mg0.14Li0.8
24Nb1.036O3
(4) Mg0.
14Li0.964Nb0.896O3
(5)(4)式の方が実験式(
3)により近いことから、MgはLi位置に入るとした
方が妥当と考えられる。従来はMgを単なる不純物とみ
なしてコングルエント組成に添加するとか、ストイキオ
メトリー組成に添加するという手法をとっていたが、こ
こでの結果に基づいて、我々は、(1)式に従った組成
の調合を行うことにした。MgOの量としては1モル%
、3モル%及び5モル%の3種を出発原料とする組成の
ものを準備した。さらに、種々の実験により、前記内容
を以下のように吟味した。酸化マグネシウムを添加した
ニオブ酸リチウム単結晶を育成し、その光学特性を評価
した。基礎吸収端近傍の光吸収スペクトル特性を図1に
示す。図1より求めた吸収端を表1に示す。図1の記号
a〜dは表1のa〜dに対応する。
る際に、その母原料であるニオブ酸リチウムの組成比に
於て、コングルエント組成(酸化リチウム:五酸化ニオ
ブ=48.6モル%:51.4モル%)から添加する酸
化マグネシウム中のマグネシウムイオンがリチウムイオ
ンの位置を置換するとして、あらかじめ酸化リチウムの
モル比を減じて配合、混合している。これによって、マ
グネシウムは過剰に不純物としては添加されず、その偏
析係数もコングルエント組成に添加する場合よりも1に
近くなるため、結晶内での不均一なマグネシウム濃度分
布を緩和することが出来る。これらによって、結晶内の
マグネシウムの局所的な偏析により導入される光散乱因
子や小傾角粒界を含まない結晶を育成することが出来る
ので、結晶の誘電破壊閾値や屈折率の均一性、種々の光
学的特性は良好なものが得られる。次に、マグネシウム
がリチウム位置を置換する根拠を記述する。MgOを融
液組成の中に添加する場合、従来はLN結晶に対するコ
ングルエント組成にMgOを適当な量添加するという方
法と、ストイキオメトリー組成にMgOを適当な量添加
する方法とが試みられていた。このような添加法はMg
を侵入型の不純物とみなしている。一方、Mg:LN結
晶(この表記はMg添加のLN単結晶を意味する。)に
光を照射した時に光誘起電流が増加することが報告され
ており(Wang Huafa et al., Ph
ys.Stat.Sol.(a) vol.89 (1
985))、この現象は光誘起電荷の増加によるものと
考えられる。現在のところMgがLN結晶中のどの位置
に入るかに関しての議論が始められた段階で定説はない
。 そこで、我々は、GrambmeirによるMg:LN
融液と結晶の組成に関する相図( B.C.Gramb
maier et al., J.Crys.Grow
th ,vol.79, p79 (1986))を基
に、Mgの置換位置に関する考察を行った。それによる
とMgOが0モル%のところではLi2Oは48.2モ
ル%(いわゆるLN結晶のコングルエント組成)になっ
ており、一方MgOが6モル%のところでは結晶のLi
2Oは46.9モル%になっている。Mgが置換型位置
に入るとするとLi位置とNb位置の2ケ所が考えられ
る。この各々について検討してみる。まず、MgがLi
位置に入る場合には、コングルエント組成がNbリッチ
であることを考慮すると、この場合の分子式は次式のよ
うになる。 MgxLi(1−y)−
xNb(1+y)O3
(1)一方、MgがNb位置に入る場合には、組
成式は次で与えられる。 MgxLi(1−y)N
b(1+y)−xO3
(2)Grambmeierの実験結果によると
MgO無添加のコングルエント組成ではx=0,y=0
.036となる。また、このコングルエント組成に6モ
ル%のMgOを添加した融液から育成した結晶ではMg
Oが7.4モル%,Li2Oが45.0モル%,Nb2
O5が55.0モル%となる。即ち組成式で表示すると
Mg0.14Li0.9
0Nb1.10O3
(3)x=0.14,y=0.036を(1)
,(3)各々に代入すると Mg0.14Li0.8
24Nb1.036O3
(4) Mg0.
14Li0.964Nb0.896O3
(5)(4)式の方が実験式(
3)により近いことから、MgはLi位置に入るとした
方が妥当と考えられる。従来はMgを単なる不純物とみ
なしてコングルエント組成に添加するとか、ストイキオ
メトリー組成に添加するという手法をとっていたが、こ
こでの結果に基づいて、我々は、(1)式に従った組成
の調合を行うことにした。MgOの量としては1モル%
、3モル%及び5モル%の3種を出発原料とする組成の
ものを準備した。さらに、種々の実験により、前記内容
を以下のように吟味した。酸化マグネシウムを添加した
ニオブ酸リチウム単結晶を育成し、その光学特性を評価
した。基礎吸収端近傍の光吸収スペクトル特性を図1に
示す。図1より求めた吸収端を表1に示す。図1の記号
a〜dは表1のa〜dに対応する。
【表1】
表1から酸化マグネシウムの添加量が増すにつれて
、吸収端がほぼ酸化マグネシウム添加量に比例して短波
長側へずれていることがわかる。さらにニオブ酸リチウ
ム単結晶では長波長の領域にOH基の吸収ピークが存在
することが知られているが、OH基の吸収がみられる波
長2.87ミクロン(波数3480cm−1)近くの光
吸収スペクトルを図2に、その吸収強度の比較を表2に
示す。表2のa〜dは図2のa〜dに対応している。 (以下、余白)
、吸収端がほぼ酸化マグネシウム添加量に比例して短波
長側へずれていることがわかる。さらにニオブ酸リチウ
ム単結晶では長波長の領域にOH基の吸収ピークが存在
することが知られているが、OH基の吸収がみられる波
長2.87ミクロン(波数3480cm−1)近くの光
吸収スペクトルを図2に、その吸収強度の比較を表2に
示す。表2のa〜dは図2のa〜dに対応している。 (以下、余白)
【表2】
図2からわかるように明確な吸収があり、吸収強度をこ
の吸収部分の面積で表すと波数3484cm−1(波長
2.87ミクロン)の吸収強度は、酸化マグネシウムの
添加量とともに小さくなる。また、この吸収ピークの半
値幅は、添加酸化マグネシウムの量とともに小さくなる
傾向を示している。添加量酸化マグネシウムの量が5モ
ル%以上になると、波数3534cm−1(波長2.8
3ミクロン)の位置に別の新しいOH基に基づくと思わ
れる吸収が発生してくる。図1と図2、及び上に述べた
ような今までに報告されている実験結果より、次のよう
なモデルを考えることができる。MgOを添加した時、
添加量が3モル%以下であればMgはLi位置の空孔(
VLi−1)位置に入る。これにより正の電荷が増加す
るが、これを解消するためにOH−1からHがぬけO−
2になる。 このため2.87μmの吸収が減少し、基礎吸収端は短
波長側へシフトする。さらにMgOの添加量が増すと、
MgはLi位置のNb(NbLi+4)位置に入る。こ
れにより負の電荷が増加し、これを解消するために酸素
空孔(VO)が増加する。VOの増加によりMg:LN
結晶の密度は小さくなる。即ち、ここで得た実験結果、
及び従来報告結果はいずれもMgがLi位置に入ると言
う仮説を支持している。前記内容は、本発明により達成
され、マグネシウムが不純物として添加されるのを防ぎ
,これによるマグネシウムの局所的偏析と、これに起因
する結晶不均一性が改善される。但し、本発明において
酸化リチウムと五酸化ニオブと酸化マグネシウムの三元
系におけるコングルエント組成ではないので育成した種
々の結晶におけるマグネシウムの偏析係数は完全に1で
はないが、得られた偏析係数は1.04程度であり従来
の報告値1.2より1に近くより目標に近い良好な結果
が得られた。一方、マグネシウムを添加していくと結晶
の屈折率は小さくなる結果が得られた。結晶の屈折率は
デバイス設計上重要な材料値であり、特に波長変換素子
においては、その位相整合条件に大きな影響を及ぼす。 このため、酸化マグネシウムの濃度に応じて位相整合温
度が変化するので、結晶を波長可変素子に実際に用いる
温度に応じて添加する酸化マグネシウムの量を選ぶこと
も可能となる。したがって、低濃度から高濃度の酸化マ
グネシウムを添加した結晶も素子の用途によっては、必
要とされるが、本発明により十分対応する事が可能とな
る。本発明に於て添加MgOの量は0.5〜10モル%
が好ましい。0.5モル%未満では位相整合角度または
位相整合温度が急激に変化するために安定な特性を得る
ことが出来ない。10モル%を越えると位相整合角度,
位相整合温度が大きくなりすぎて好ましくない。尚、本
発明において、マグネシウム添加による耐光損傷性の向
上の機構から考えると、添加物としてはマグネシウム以
外にも使用光により伝導帯に電子を供給できるようなア
クセプター準位を形成する適当な濃度と準位を与える物
質であれば使用することも可能であると考えられる。こ
のような添加物としては、例えば、カルシウムやボロン
等が考えられる。従ってこのような元素を添加する場合
にも本発明を適用することが出来る。
の吸収部分の面積で表すと波数3484cm−1(波長
2.87ミクロン)の吸収強度は、酸化マグネシウムの
添加量とともに小さくなる。また、この吸収ピークの半
値幅は、添加酸化マグネシウムの量とともに小さくなる
傾向を示している。添加量酸化マグネシウムの量が5モ
ル%以上になると、波数3534cm−1(波長2.8
3ミクロン)の位置に別の新しいOH基に基づくと思わ
れる吸収が発生してくる。図1と図2、及び上に述べた
ような今までに報告されている実験結果より、次のよう
なモデルを考えることができる。MgOを添加した時、
添加量が3モル%以下であればMgはLi位置の空孔(
VLi−1)位置に入る。これにより正の電荷が増加す
るが、これを解消するためにOH−1からHがぬけO−
2になる。 このため2.87μmの吸収が減少し、基礎吸収端は短
波長側へシフトする。さらにMgOの添加量が増すと、
MgはLi位置のNb(NbLi+4)位置に入る。こ
れにより負の電荷が増加し、これを解消するために酸素
空孔(VO)が増加する。VOの増加によりMg:LN
結晶の密度は小さくなる。即ち、ここで得た実験結果、
及び従来報告結果はいずれもMgがLi位置に入ると言
う仮説を支持している。前記内容は、本発明により達成
され、マグネシウムが不純物として添加されるのを防ぎ
,これによるマグネシウムの局所的偏析と、これに起因
する結晶不均一性が改善される。但し、本発明において
酸化リチウムと五酸化ニオブと酸化マグネシウムの三元
系におけるコングルエント組成ではないので育成した種
々の結晶におけるマグネシウムの偏析係数は完全に1で
はないが、得られた偏析係数は1.04程度であり従来
の報告値1.2より1に近くより目標に近い良好な結果
が得られた。一方、マグネシウムを添加していくと結晶
の屈折率は小さくなる結果が得られた。結晶の屈折率は
デバイス設計上重要な材料値であり、特に波長変換素子
においては、その位相整合条件に大きな影響を及ぼす。 このため、酸化マグネシウムの濃度に応じて位相整合温
度が変化するので、結晶を波長可変素子に実際に用いる
温度に応じて添加する酸化マグネシウムの量を選ぶこと
も可能となる。したがって、低濃度から高濃度の酸化マ
グネシウムを添加した結晶も素子の用途によっては、必
要とされるが、本発明により十分対応する事が可能とな
る。本発明に於て添加MgOの量は0.5〜10モル%
が好ましい。0.5モル%未満では位相整合角度または
位相整合温度が急激に変化するために安定な特性を得る
ことが出来ない。10モル%を越えると位相整合角度,
位相整合温度が大きくなりすぎて好ましくない。尚、本
発明において、マグネシウム添加による耐光損傷性の向
上の機構から考えると、添加物としてはマグネシウム以
外にも使用光により伝導帯に電子を供給できるようなア
クセプター準位を形成する適当な濃度と準位を与える物
質であれば使用することも可能であると考えられる。こ
のような添加物としては、例えば、カルシウムやボロン
等が考えられる。従ってこのような元素を添加する場合
にも本発明を適用することが出来る。
【0006】
【実施例】以下、実施例に基づいて本発明をより詳細に
説明する。 (実施例1)試料を次の作製法により作成した。図3に
示すように、まずチョクラルスキ法により、各種LiN
bO3単結晶を育成した。直径100mm,深さ150
mmの白金坩堝9にMgxLi(1−y)−zNb1+
yO3の式においてx=0,1,3,5、y=0.02
8,0.033、z=x,z<xのそれぞれの原料粉を
いれ高周波加熱手段10によりこれを溶かし、融液11
を作り、その後種結晶7でシード付けを行い、所定の方
位に約3日間で、2インチの単結晶8を育成した。この
時の育成速度は1〜4mm/h、回転速度は8〜30r
pmである。 上記方法により育成した結晶はマグネシウム無添加の高
純度光学グレード結晶、マグネシウムを1モル%添加し
た結晶、マグネシウムを3モル%添加した結晶、マグネ
シウムを5モル%添加した結晶の5種類である。それぞ
れの結晶から各稜がx軸方位,y軸方位,およびz軸方
位に平行な10×10×10mm3の正方形ブロックを
切り出し、その各面を鏡面研磨した。また、それぞれの
結晶から2インチのウエハを作成した。育成した結晶の
巨視的な均質性評価法としてX線トポグラフ法による粒
界の観察、及びエッチング法による分域(domain
)の観察を行った。X線トポグラフ写真の撮影は56k
v、260mAの管電圧、電流で行った。エッチングは
約80℃に加熱したHF:HNO3=1:2の融液中に
ウェハを数時間侵蝕することにより行った。MgOを1
、3及び5モル%含む融液から育成したMg:LN結晶
の各々について、その上下部分から作成したウェハをX
線トポグラフ法により評価した。上、下部分いずれも粒
界がみられなかった。2インチZ軸方位に育成した結晶
のトポグラフ像を図4に示す。本発明による原料組成を
用いて育成した結晶では、従来のコングルエント組成の
ニオブ酸リチウムに酸化マグネシウムを添加した結晶よ
りも無粒界化が容易に達成される。従来、マグネシウム
の局所的偏析が原因で見られたセル構造が発生しない品
質の良好な結晶が得られた。次に、微視的な均質性評価
法としてEPMAによる結晶内Mgの分布、及び干渉法
による結晶内歪の存在を調べた。Mgの結晶内分布を求
めるために、育成した結晶の上下端から切り出したウェ
ハを各Mg:LN結晶について準備した。また、結晶内
部歪観察用の試料として、各Mg:LN結晶から10×
10×10mm3のブロックを切り出したものを準備し
た。内部歪の観察にはレーザー干渉法を使用した。EP
MA法によるマグネシウムの濃度分析の結果を図5に示
す。ウエハから図5に示すような測定用のチップを11
ケ作成し、その各々についてMg元素の線分析を行った
。結晶周辺部に近いところから作成したチップ2と中心
部に近いところから作成したチップ6について測定した
結果を示す。いずれの試料においてもMgの濃度は測定
の誤差、あるいは測定ノイズの範囲内で均一であった。 さらに光学干渉像による結晶内歪の観察写真には等厚干
渉縞の乱れがみられず、屈折率にして10−6程度の均
質性が得られた。次に、結晶の光学的評価として光透過
率の測定を行った。測定用の試料として各Mg:LN結
晶から10×10×10mm3の直方体に切り出して全
面を鏡面研磨したものを準備した。その結果を図6に示
す。従来、マグネシウム添加ニオブ酸リチウム単結晶で
みられた光透過率の低下は見られない。これは、上述し
たX線トポグラフ及び濃度分析の結果でも示されたよう
に、マグネシウムの偏析による光散乱因子が結晶内に含
まれないためである。また、育成した結晶の波長1.0
64μmの基本波に対する第二高調波発生の位相整合温
度を測定したところ、図7に示す結果が得られ、従来の
報告されているストイキオメトリ組成原料にMgOを添
加して育成した結晶およびコングルエント組成原料にM
gOを添加して育成した結晶に比べて位相整合温度が低
くなる特徴があることが判った。 (実施例2)実施例1で得られたブロック状試料のy面
及びx面に各種波長のレーザ光を入射し、光損傷の発生
するレーザ光強度の閾値を求めた。この結果を図8に示
す。図8に示されたように光損傷の発生する閾値は入射
する波長が短くなるほど低くなることがわかる。このこ
とは、LiNbO3単結晶を基板として用いる種々の光
素子に於て、波長が0.53〜0.4μmの短波長の第
2高調波を発生させる波長変換素子への応用が、光損傷
の点から考えると最も過酷な条件で使用すると言うこと
になる。また、使用波長が0.8μm帯の半導体レーザ
を用いる光計測用途の光変調器や光記録用途の光ピック
アップに於いても、光損傷は解決すべき大きな問題であ
る。しかし、この問題に対して先述したようにLiNb
O3単結晶にマグネシウムを添加することによって、こ
の光損傷閾値を向上させることが出来る。本発明者らは
光学的に良質なマグネシウム添加LiNbO3単結晶の
育成に、成功しこれら単結晶の光損傷特性を求めた。そ
の結果、図8中に示されたように本発明によるマグネシ
ウム添加は耐光損傷の特性向上に有効でありその光損傷
閾値は図中に示した従来の無添加のものと比べると10
0倍以上も向上している良好な結果が得られた。そこで
、本発明者らはこの結晶を基板として用い使用波長0.
85μmの光変調器を作成しその光損傷特性を評価した
ところ、2mWの半導体レーザの入力に対して光損傷は
発生せずにその動作は安定であることが確認された。 (実施例3)図3に示す通常の一重ルツボを用いた結晶
育成ではクラックが発生せず、サブグレインバウンダリ
ーを含まない良質の単結晶を育成することができるが、
Mgの偏析係数は1.2〜1.1であるため結晶の上下
方向のMg濃度に差が生じ、このため、結晶上下の位相
整合温度には2〜1.5℃程度の差がみられた。これを
改善するため図9に示したような二重ルツボ法により単
結晶を育成した。内側のルツボ1にある所望のMgOを
添加したニオブ酸リチウム原料2をいれる。外側のルツ
ボ3には内側のルツボ内側のMgO濃度の1.3〜1.
1倍多いMgO濃度を添加したニオブ酸リチウム原料4
を入れておく。内ルツボには外ルツボと連絡するパイプ
穴5が設けられている。この原料を高周波加熱手段6に
より融解し、内ルツボに5mm角の種結晶を付け、15
rpmで回転させながら引き上げ速度3〜0.5mm/
hで引き上げながら徐々に結晶を育成した。内側のルツ
ボから偏析係数1.2〜1.1で結晶が育成されるため
内側のルツボ内のMgO濃度が低下する事になるが、こ
の場合には外側のルツボからパイプを通じて予め引き上
げられる結晶と同じかそれ以上のMgO濃度の原料が供
給されるため、内側のルツボ内のMgO濃度はほぼ一定
に保つことができた。これにより育成された結晶のMg
O濃度を評価するとほぼ均一であることが確認できた。 さらに、第二高調波発生に対する位相整合温度は結晶中
のMgO濃度差に敏感な特性であるので、これを測定し
たところ、結晶上下の温度差として1℃以下の良好な結
果が得られた。結晶の固化率が50%以上で育成した場
合には結晶上下の部分での位相整合温度に差が生じ易く
なった。これは外側からの原料供給と育成結晶のMgO
濃度のバランスが崩れているためなので、このような場
合には育成中に外側のルツボ内に原料を添加した。 (実施例4)次に連続発振レーザの波長変換素子につい
ての適用性について検討を行った。波長0.809μm
の半導体レーザーで励起した1.06μmのYAGレー
ザー光を基本波として用い、これをミラー内に閉じ込め
パワー密度を上げ、この光路内に非線形光学結晶である
本発明のマグネシウム添加LiNbO3単結晶を挿入し
た。この時、半導体レーザーはペルチェ素子上に設置し
、波長を一定に保つためにその温度は20℃に制御した
。ここで用いた結晶のノンクリティカル位相整合温度は
22.5℃であるのでペルチェ素子上に結晶を設置し、
結晶の温度を制御した。温度により位相整合条件が満足
させると図10に示したように第二高調波が発生できた
。 (実施例5)更に、パルスレーザーに対するレーザーダ
メージ閾値を測定した。波長1.053μmの高出力の
縦横シングルモードQスイッチNd3+:YLiF4レ
ーザーを焦点距離3cmのレンズで結晶内に照射し、誘
電破壊閾値を求めた。従来、ニオブ酸リチウム単結晶の
誘電破壊閾値は、波長約1ミクロンにおいて0.1GW
/cm2と低く高出力レーザ用途には使用できないとさ
れていた。特に、酸化マグネシウムを添加した結晶では
、散乱因子により閾値は低下した。これに対して本発明
により育成した結晶では、先述したように、結晶内の散
乱因子の除去によ(以下、余白)り、その閾値は10G
W/cm2と大きく改善できた。波長変換素子への適用
性について検討を行い、誘電破壊によるレーザ損傷特性
、SHG特性を調べた。その結果、図11に示すように
波長1.064μmのパルスYAGレーザを基本光とし
て用い、入射光強度56MW/cm2で変換効率42%
と非常に高出力の第2高調波が得られ、この時の出力は
安定しており光損傷は発生しないことを確認した。この
ように、パルスレーザの波長変換素子へ十分使えること
がわかった。
説明する。 (実施例1)試料を次の作製法により作成した。図3に
示すように、まずチョクラルスキ法により、各種LiN
bO3単結晶を育成した。直径100mm,深さ150
mmの白金坩堝9にMgxLi(1−y)−zNb1+
yO3の式においてx=0,1,3,5、y=0.02
8,0.033、z=x,z<xのそれぞれの原料粉を
いれ高周波加熱手段10によりこれを溶かし、融液11
を作り、その後種結晶7でシード付けを行い、所定の方
位に約3日間で、2インチの単結晶8を育成した。この
時の育成速度は1〜4mm/h、回転速度は8〜30r
pmである。 上記方法により育成した結晶はマグネシウム無添加の高
純度光学グレード結晶、マグネシウムを1モル%添加し
た結晶、マグネシウムを3モル%添加した結晶、マグネ
シウムを5モル%添加した結晶の5種類である。それぞ
れの結晶から各稜がx軸方位,y軸方位,およびz軸方
位に平行な10×10×10mm3の正方形ブロックを
切り出し、その各面を鏡面研磨した。また、それぞれの
結晶から2インチのウエハを作成した。育成した結晶の
巨視的な均質性評価法としてX線トポグラフ法による粒
界の観察、及びエッチング法による分域(domain
)の観察を行った。X線トポグラフ写真の撮影は56k
v、260mAの管電圧、電流で行った。エッチングは
約80℃に加熱したHF:HNO3=1:2の融液中に
ウェハを数時間侵蝕することにより行った。MgOを1
、3及び5モル%含む融液から育成したMg:LN結晶
の各々について、その上下部分から作成したウェハをX
線トポグラフ法により評価した。上、下部分いずれも粒
界がみられなかった。2インチZ軸方位に育成した結晶
のトポグラフ像を図4に示す。本発明による原料組成を
用いて育成した結晶では、従来のコングルエント組成の
ニオブ酸リチウムに酸化マグネシウムを添加した結晶よ
りも無粒界化が容易に達成される。従来、マグネシウム
の局所的偏析が原因で見られたセル構造が発生しない品
質の良好な結晶が得られた。次に、微視的な均質性評価
法としてEPMAによる結晶内Mgの分布、及び干渉法
による結晶内歪の存在を調べた。Mgの結晶内分布を求
めるために、育成した結晶の上下端から切り出したウェ
ハを各Mg:LN結晶について準備した。また、結晶内
部歪観察用の試料として、各Mg:LN結晶から10×
10×10mm3のブロックを切り出したものを準備し
た。内部歪の観察にはレーザー干渉法を使用した。EP
MA法によるマグネシウムの濃度分析の結果を図5に示
す。ウエハから図5に示すような測定用のチップを11
ケ作成し、その各々についてMg元素の線分析を行った
。結晶周辺部に近いところから作成したチップ2と中心
部に近いところから作成したチップ6について測定した
結果を示す。いずれの試料においてもMgの濃度は測定
の誤差、あるいは測定ノイズの範囲内で均一であった。 さらに光学干渉像による結晶内歪の観察写真には等厚干
渉縞の乱れがみられず、屈折率にして10−6程度の均
質性が得られた。次に、結晶の光学的評価として光透過
率の測定を行った。測定用の試料として各Mg:LN結
晶から10×10×10mm3の直方体に切り出して全
面を鏡面研磨したものを準備した。その結果を図6に示
す。従来、マグネシウム添加ニオブ酸リチウム単結晶で
みられた光透過率の低下は見られない。これは、上述し
たX線トポグラフ及び濃度分析の結果でも示されたよう
に、マグネシウムの偏析による光散乱因子が結晶内に含
まれないためである。また、育成した結晶の波長1.0
64μmの基本波に対する第二高調波発生の位相整合温
度を測定したところ、図7に示す結果が得られ、従来の
報告されているストイキオメトリ組成原料にMgOを添
加して育成した結晶およびコングルエント組成原料にM
gOを添加して育成した結晶に比べて位相整合温度が低
くなる特徴があることが判った。 (実施例2)実施例1で得られたブロック状試料のy面
及びx面に各種波長のレーザ光を入射し、光損傷の発生
するレーザ光強度の閾値を求めた。この結果を図8に示
す。図8に示されたように光損傷の発生する閾値は入射
する波長が短くなるほど低くなることがわかる。このこ
とは、LiNbO3単結晶を基板として用いる種々の光
素子に於て、波長が0.53〜0.4μmの短波長の第
2高調波を発生させる波長変換素子への応用が、光損傷
の点から考えると最も過酷な条件で使用すると言うこと
になる。また、使用波長が0.8μm帯の半導体レーザ
を用いる光計測用途の光変調器や光記録用途の光ピック
アップに於いても、光損傷は解決すべき大きな問題であ
る。しかし、この問題に対して先述したようにLiNb
O3単結晶にマグネシウムを添加することによって、こ
の光損傷閾値を向上させることが出来る。本発明者らは
光学的に良質なマグネシウム添加LiNbO3単結晶の
育成に、成功しこれら単結晶の光損傷特性を求めた。そ
の結果、図8中に示されたように本発明によるマグネシ
ウム添加は耐光損傷の特性向上に有効でありその光損傷
閾値は図中に示した従来の無添加のものと比べると10
0倍以上も向上している良好な結果が得られた。そこで
、本発明者らはこの結晶を基板として用い使用波長0.
85μmの光変調器を作成しその光損傷特性を評価した
ところ、2mWの半導体レーザの入力に対して光損傷は
発生せずにその動作は安定であることが確認された。 (実施例3)図3に示す通常の一重ルツボを用いた結晶
育成ではクラックが発生せず、サブグレインバウンダリ
ーを含まない良質の単結晶を育成することができるが、
Mgの偏析係数は1.2〜1.1であるため結晶の上下
方向のMg濃度に差が生じ、このため、結晶上下の位相
整合温度には2〜1.5℃程度の差がみられた。これを
改善するため図9に示したような二重ルツボ法により単
結晶を育成した。内側のルツボ1にある所望のMgOを
添加したニオブ酸リチウム原料2をいれる。外側のルツ
ボ3には内側のルツボ内側のMgO濃度の1.3〜1.
1倍多いMgO濃度を添加したニオブ酸リチウム原料4
を入れておく。内ルツボには外ルツボと連絡するパイプ
穴5が設けられている。この原料を高周波加熱手段6に
より融解し、内ルツボに5mm角の種結晶を付け、15
rpmで回転させながら引き上げ速度3〜0.5mm/
hで引き上げながら徐々に結晶を育成した。内側のルツ
ボから偏析係数1.2〜1.1で結晶が育成されるため
内側のルツボ内のMgO濃度が低下する事になるが、こ
の場合には外側のルツボからパイプを通じて予め引き上
げられる結晶と同じかそれ以上のMgO濃度の原料が供
給されるため、内側のルツボ内のMgO濃度はほぼ一定
に保つことができた。これにより育成された結晶のMg
O濃度を評価するとほぼ均一であることが確認できた。 さらに、第二高調波発生に対する位相整合温度は結晶中
のMgO濃度差に敏感な特性であるので、これを測定し
たところ、結晶上下の温度差として1℃以下の良好な結
果が得られた。結晶の固化率が50%以上で育成した場
合には結晶上下の部分での位相整合温度に差が生じ易く
なった。これは外側からの原料供給と育成結晶のMgO
濃度のバランスが崩れているためなので、このような場
合には育成中に外側のルツボ内に原料を添加した。 (実施例4)次に連続発振レーザの波長変換素子につい
ての適用性について検討を行った。波長0.809μm
の半導体レーザーで励起した1.06μmのYAGレー
ザー光を基本波として用い、これをミラー内に閉じ込め
パワー密度を上げ、この光路内に非線形光学結晶である
本発明のマグネシウム添加LiNbO3単結晶を挿入し
た。この時、半導体レーザーはペルチェ素子上に設置し
、波長を一定に保つためにその温度は20℃に制御した
。ここで用いた結晶のノンクリティカル位相整合温度は
22.5℃であるのでペルチェ素子上に結晶を設置し、
結晶の温度を制御した。温度により位相整合条件が満足
させると図10に示したように第二高調波が発生できた
。 (実施例5)更に、パルスレーザーに対するレーザーダ
メージ閾値を測定した。波長1.053μmの高出力の
縦横シングルモードQスイッチNd3+:YLiF4レ
ーザーを焦点距離3cmのレンズで結晶内に照射し、誘
電破壊閾値を求めた。従来、ニオブ酸リチウム単結晶の
誘電破壊閾値は、波長約1ミクロンにおいて0.1GW
/cm2と低く高出力レーザ用途には使用できないとさ
れていた。特に、酸化マグネシウムを添加した結晶では
、散乱因子により閾値は低下した。これに対して本発明
により育成した結晶では、先述したように、結晶内の散
乱因子の除去によ(以下、余白)り、その閾値は10G
W/cm2と大きく改善できた。波長変換素子への適用
性について検討を行い、誘電破壊によるレーザ損傷特性
、SHG特性を調べた。その結果、図11に示すように
波長1.064μmのパルスYAGレーザを基本光とし
て用い、入射光強度56MW/cm2で変換効率42%
と非常に高出力の第2高調波が得られ、この時の出力は
安定しており光損傷は発生しないことを確認した。この
ように、パルスレーザの波長変換素子へ十分使えること
がわかった。
【0007】
【発明の効果】本発明によれば、マグネシウムをリチウ
ム位置に置換型として添加できるので、マグネシウムの
偏析を低減することが出来るとともに、添加による光散
乱因子、小傾角粒界、クラック、屈折率不均一などのな
い高品質の結晶を供給することが出来る。光損傷特性及
び屈折率均一性に優れた本発明による結晶の応用範囲は
、レーザープリンタ用光源,光ピック・アップ光源、光
情報処理器、波長変換素子、光変調器、光スイッチ、Q
スイッチ等広い分野で考えられる。
ム位置に置換型として添加できるので、マグネシウムの
偏析を低減することが出来るとともに、添加による光散
乱因子、小傾角粒界、クラック、屈折率不均一などのな
い高品質の結晶を供給することが出来る。光損傷特性及
び屈折率均一性に優れた本発明による結晶の応用範囲は
、レーザープリンタ用光源,光ピック・アップ光源、光
情報処理器、波長変換素子、光変調器、光スイッチ、Q
スイッチ等広い分野で考えられる。
【図1】光吸収スペクトルの波長依存性を示した図であ
る。
る。
【図2】透過率の波数依存性を示す図である。
【図3】酸化マグネシウム添加ニオブ酸リチウム単結晶
育成の外観図である。
育成の外観図である。
【図4】2インチウエハーのX線トポグラフ像を示した
図である。
図である。
【図5】酸化マグネシウム添加ニオブ酸リチウム単結晶
ウエハーをEPMAによりマグネシウム濃度分布測定し
た図である。
ウエハーをEPMAによりマグネシウム濃度分布測定し
た図である。
【図6】光透過率の波長依存性を示した図である。
【図7】位相整合温度のMgO濃度依存性を示す図であ
る。
る。
【図8】レーザ波長と光損傷が発生するレーザ光強度と
の関係を示した図である。
の関係を示した図である。
【図9】二重ルツボ法による単結晶育成の様子を示した
図である。
図である。
【図10】温度位相整合法により第二高調波の出力特性
を示した図である。
を示した図である。
【図11】パルスYAGレーザのSHG変換効率を示し
た図である。
た図である。
Claims (7)
- 【請求項1】 引き上げ法によりニオブ酸リチウム単
結晶を製造するに際し、融液の組成をMgxLi(0.
972−δ)−zNb(1.028+δ)O3(ここで
0.01≦x≦0.1、0<z≦x、0≦δ≦0.00
5)で表される組成とすることを特徴とするニオブ酸リ
チウム単結晶の製造方法。 - 【請求項2】 引き上げ法によりニオブ酸リチウム単
結晶を製造するに際し、Liの1原子をMgの1原子が
置換するように融液の組成を予めコングルエント組成よ
りもLiプアに調整することを特徴とするニオブ酸リチ
ウム単結晶の製造方法。 - 【請求項3】 融液を収容するルツボと、該ルツボの
外周に設けられた加熱手段と、前記ルツボ内の融液に種
結晶を接触させ引き上げて単結晶を得る手段からなるニ
オブ酸リチウム単結晶の製造装置において、前記ルツボ
を二重ルツボとすることを特徴とするニオブ酸リチウム
単結晶の製造装置。 - 【請求項4】 Li位置がMgで置換され、第二高調
波発生の位相整合温度がLi位置がMgで置換されない
場合よりも低いことを特徴とするニオブ酸リチウム単結
晶。 - 【請求項5】 MgOを添加したニオブ酸リチウム単
結晶であって、単結晶上下の位相整合温度の差が1℃以
下であることを特徴とするニオブ酸リチウム単結晶。 - 【請求項6】 添加MgOが0.5〜10モル%であ
る請求項5に記載のニオブ酸リチウム単結晶。 - 【請求項7】 レーザー光源からの出射光を基本波と
して非線形光学結晶への通過により第二高調波を発生す
るSHG素子において、前記非線形光学結晶としてLi
位置がMgで置換され、位相整合温度がLi位置がMg
で置換されない場合よりも低いニオブ酸リチウム単結晶
を用いたことを特徴とするSHG素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3087591A JPH04300295A (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | ニオブ酸リチウム単結晶およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3087591A JPH04300295A (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | ニオブ酸リチウム単結晶およびその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04300295A true JPH04300295A (ja) | 1992-10-23 |
Family
ID=13919243
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3087591A Pending JPH04300295A (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | ニオブ酸リチウム単結晶およびその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04300295A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002196381A (ja) * | 2000-12-22 | 2002-07-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光波長変換素子およびその製造方法 |
| JP2018527737A (ja) * | 2016-04-12 | 2018-09-20 | ▲復▼旦大学Fundan University | 大電流読出強誘電体単結晶薄膜メモリ及びその製造方法と操作方法 |
-
1991
- 1991-03-27 JP JP3087591A patent/JPH04300295A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002196381A (ja) * | 2000-12-22 | 2002-07-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光波長変換素子およびその製造方法 |
| JP2018527737A (ja) * | 2016-04-12 | 2018-09-20 | ▲復▼旦大学Fundan University | 大電流読出強誘電体単結晶薄膜メモリ及びその製造方法と操作方法 |
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