JPH0430330A - 光学式再生装置及びその方法 - Google Patents
光学式再生装置及びその方法Info
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- JPH0430330A JPH0430330A JP13733990A JP13733990A JPH0430330A JP H0430330 A JPH0430330 A JP H0430330A JP 13733990 A JP13733990 A JP 13733990A JP 13733990 A JP13733990 A JP 13733990A JP H0430330 A JPH0430330 A JP H0430330A
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- optical interference
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 13
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 20
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- 238000003491 array Methods 0.000 description 5
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、光ディスクや光カードのような記録媒体にピ
ットの間隔により記録された情報の再生を行う光学式再
生装置及びその方法に関する。
ットの間隔により記録された情報の再生を行う光学式再
生装置及びその方法に関する。
[従来の技術]
従来、記録された情報の再生は、記録媒体トラック長さ
方向に形成されたピットにレーザビームを照射し、反射
光(あるいは透過光)をレンズを通して光学的に検出し
て行われている。複数のピットにレーザビームが照射さ
れると反射回折光の広がりが大きくなり、受光するレン
ズ開口から外れる成分が生じる。また、レーザビームが
ピットにかかり、このピット底から反射してくるレーザ
ビームと、ピット内周面から反射してくるレーザビーム
とが干渉し合って反射光強度が変化する。
方向に形成されたピットにレーザビームを照射し、反射
光(あるいは透過光)をレンズを通して光学的に検出し
て行われている。複数のピットにレーザビームが照射さ
れると反射回折光の広がりが大きくなり、受光するレン
ズ開口から外れる成分が生じる。また、レーザビームが
ピットにかかり、このピット底から反射してくるレーザ
ビームと、ピット内周面から反射してくるレーザビーム
とが干渉し合って反射光強度が変化する。
従って、反射光強度を検出し、これを電気信号に変換し
て、再生信号を得ている。
て、再生信号を得ている。
また、最近では、まとまった−組の情報を、表面形状の
異なる一定エリアのパターン(光学的干渉や回折パター
ン)に変換して記録し、再生時には、光源から照射した
レーザビームの前記パターンの極大位置付近にフォトダ
イオード等の光電変換素子アレイを連設して前記パター
ンを検出し、光電変換素子アレイからの出力を順次比較
して演算し、再生情報として得る光学式再生方法及びそ
の装置が知られている。
異なる一定エリアのパターン(光学的干渉や回折パター
ン)に変換して記録し、再生時には、光源から照射した
レーザビームの前記パターンの極大位置付近にフォトダ
イオード等の光電変換素子アレイを連設して前記パター
ンを検出し、光電変換素子アレイからの出力を順次比較
して演算し、再生情報として得る光学式再生方法及びそ
の装置が知られている。
[発明が解決しようとする課題]
しかし、従来の記録媒体では、情報の記録密度の増減は
、トラックの長さ方向のピット間隔の変化によるもので
あり、記録される情報量が制限されている。このため、
トラックの幅方向に複数のピットを並列して形成し、こ
れらピットの間隔により情報を符号化したものを1組に
して、これをトラックの長さ方向に複数形成して記録密
度を向上させた。このような記録媒体から情報を再生す
る光学式再生装置及びその方法は、前記トラックの幅方
向に形成された複数のピットにレーザビームを照射し、
このとき得られた光学的干渉パターンの極大位置を検出
して再生情報としている。しかし、極大位置付近では光
強度の変化は非常にゆるやかである。このため、光電変
換素子アレイの隣どうしの出力値は、非常に近い値とな
る。その結果、例えば、ノイズの影響などによって、検
出誤りを起こしやすいという問題がある。また、検出誤
りを少なくするためには、光電変換素子アレイの配置間
隔を広くとらなければならない。このため、限られた極
大位置の移動領域内に対応する光電変換素子アレイの数
が少なくなる。その結果、記録されている情報量に対し
て再生できる情報量が減少してしまうという問題がある
。
、トラックの長さ方向のピット間隔の変化によるもので
あり、記録される情報量が制限されている。このため、
トラックの幅方向に複数のピットを並列して形成し、こ
れらピットの間隔により情報を符号化したものを1組に
して、これをトラックの長さ方向に複数形成して記録密
度を向上させた。このような記録媒体から情報を再生す
る光学式再生装置及びその方法は、前記トラックの幅方
向に形成された複数のピットにレーザビームを照射し、
このとき得られた光学的干渉パターンの極大位置を検出
して再生情報としている。しかし、極大位置付近では光
強度の変化は非常にゆるやかである。このため、光電変
換素子アレイの隣どうしの出力値は、非常に近い値とな
る。その結果、例えば、ノイズの影響などによって、検
出誤りを起こしやすいという問題がある。また、検出誤
りを少なくするためには、光電変換素子アレイの配置間
隔を広くとらなければならない。このため、限られた極
大位置の移動領域内に対応する光電変換素子アレイの数
が少なくなる。その結果、記録されている情報量に対し
て再生できる情報量が減少してしまうという問題がある
。
本発明は、前記問題点を解決するためになされたもので
、その目的とするところは、簡単な手段で、ノイズの影
響から生じる検出誤りをなくして検出精度を向上させる
と共に、記録された情報量を安定して正確に再生できる
光学式再生装置及びその方法を提供することにある。
、その目的とするところは、簡単な手段で、ノイズの影
響から生じる検出誤りをなくして検出精度を向上させる
と共に、記録された情報量を安定して正確に再生できる
光学式再生装置及びその方法を提供することにある。
[課題を解決するための手段]
前記問題点を解決するために、本発明の光学式再生装置
及びその方法は、トラックの幅方向のピットの間隔によ
り情報を符号化した複数のピットからなる複数のマーク
セットが、前記トラックの長さ方向に所定の間隔で順次
形成された光学式記録媒体に、レーザビームを前記トラ
ックの長さ方向に走査するレーザビーム照射手段と、こ
のレーザビーム照射手段により照射された前記マークセ
ットの各々に対応する前記レーザビームの光学的干渉パ
ターンを、光強度信号に変換して出力する複数の光電変
換素子と、 前記光強度信号を受信し、前記光学的干渉パターンに対
応した前記ピットの間隔による情報を再生する論理演算
手段と、を有し、 また、トラックの幅方向のピットの間隔により情報を符
号化した複数のピットからなる複数のマークセットが、
前記トラックの長さ方向に所定の間隔で順次形成された
光学式記録媒体に、レーザビームを前記トラックの長さ
方向に走査するレーザビーム照射手段と、 アレイ状に配列された複数の光電変換素子からなり、前
記レーザビーム照射手段により照射された前記マークセ
ットの各々に対応する前記レーザビームの光学的干渉パ
ターンを検出する検a手段と、 この検出手段により検出された光学的干渉パターンの極
大値の電圧よりも小さな基準電圧値を発生する基準電圧
発生手段と、 前記基準電圧発生手段からの出力と前記検出手段からの
出力とを比較して前記光学的干渉パターンと基準電圧と
の寸ロス位置を検出することにより、前記ピットの間隔
による情報を再生する論理演算手段と、を有する。
及びその方法は、トラックの幅方向のピットの間隔によ
り情報を符号化した複数のピットからなる複数のマーク
セットが、前記トラックの長さ方向に所定の間隔で順次
形成された光学式記録媒体に、レーザビームを前記トラ
ックの長さ方向に走査するレーザビーム照射手段と、こ
のレーザビーム照射手段により照射された前記マークセ
ットの各々に対応する前記レーザビームの光学的干渉パ
ターンを、光強度信号に変換して出力する複数の光電変
換素子と、 前記光強度信号を受信し、前記光学的干渉パターンに対
応した前記ピットの間隔による情報を再生する論理演算
手段と、を有し、 また、トラックの幅方向のピットの間隔により情報を符
号化した複数のピットからなる複数のマークセットが、
前記トラックの長さ方向に所定の間隔で順次形成された
光学式記録媒体に、レーザビームを前記トラックの長さ
方向に走査するレーザビーム照射手段と、 アレイ状に配列された複数の光電変換素子からなり、前
記レーザビーム照射手段により照射された前記マークセ
ットの各々に対応する前記レーザビームの光学的干渉パ
ターンを検出する検a手段と、 この検出手段により検出された光学的干渉パターンの極
大値の電圧よりも小さな基準電圧値を発生する基準電圧
発生手段と、 前記基準電圧発生手段からの出力と前記検出手段からの
出力とを比較して前記光学的干渉パターンと基準電圧と
の寸ロス位置を検出することにより、前記ピットの間隔
による情報を再生する論理演算手段と、を有する。
そして、トラックの幅方向のピットの間隔により情報を
符号化する複数のピットからなる複数のマークセットが
、前記トラックの長さ方向に所定の間隔で順次形成され
た光学式記録媒体に、レーザビームを前記トラックの長
さ方向に走査するレーザビーム照射工程と、 このレーザビーム照射工程により照射された前記マーク
セットの各々に対応する前記レーザビームの光学的干渉
パターンを、光強度信号に変換して出力する光電変換工
程と、 前記光強度信号を受信し、前記光学的干渉パターンに対
応した前記ピットの間隔による情報を再生する論理演算
工程と、を経て情報を再生することを特徴とする。
符号化する複数のピットからなる複数のマークセットが
、前記トラックの長さ方向に所定の間隔で順次形成され
た光学式記録媒体に、レーザビームを前記トラックの長
さ方向に走査するレーザビーム照射工程と、 このレーザビーム照射工程により照射された前記マーク
セットの各々に対応する前記レーザビームの光学的干渉
パターンを、光強度信号に変換して出力する光電変換工
程と、 前記光強度信号を受信し、前記光学的干渉パターンに対
応した前記ピットの間隔による情報を再生する論理演算
工程と、を経て情報を再生することを特徴とする。
[作用]
光学的干渉パターンの極大値付近での変化量の急な位置
に基準電圧をかけ、この基準電圧の前後で前記光学的干
渉パターンの変化を検出して情報として復調させる。こ
の結果、記録された情報の検出精度が向上し、干渉パタ
ーンの微妙な変化による検出誤りが防止できる。更に、
ノイズによる検出誤りが減少する。
に基準電圧をかけ、この基準電圧の前後で前記光学的干
渉パターンの変化を検出して情報として復調させる。こ
の結果、記録された情報の検出精度が向上し、干渉パタ
ーンの微妙な変化による検出誤りが防止できる。更に、
ノイズによる検出誤りが減少する。
[実施例]
以下、図面を参照して本発明の光学式再生装置及びその
方法について説明する。
方法について説明する。
まず、第1図ないし第3図を参照して本発明の第1の実
施例について説明する。
施例について説明する。
第1図および第2図には、本実施例の光学式再生装置1
2と、トラック幅方向に間隔の変化により情報を符号化
した2つのピット13.13を1組としてなるマークセ
ット14・・・がトラック長さ方向に順次適宜の間隔を
有して複数記録されている光ディスク8と、が示されて
いる。
2と、トラック幅方向に間隔の変化により情報を符号化
した2つのピット13.13を1組としてなるマークセ
ット14・・・がトラック長さ方向に順次適宜の間隔を
有して複数記録されている光ディスク8と、が示されて
いる。
レーザーダイオード1から発光された所定の光強度を有
する再生用のレーザビーム11は、光ディスク8のピッ
ト13.13のディメンションと同じオーダの長さの波
長のコヒーレント光である。
する再生用のレーザビーム11は、光ディスク8のピッ
ト13.13のディメンションと同じオーダの長さの波
長のコヒーレント光である。
コリメータレンズ2に照射されたレーザビーム11は、
ここで平行光線に変換され、偏向ビームスプリッタ5て
P成分のみが透過される。続いて、1/4波長板6で4
5°回転され直線偏光から円偏光にされ、対物レンズ7
を介して光ディスク8のトラック(図示しない)に照射
される。
ここで平行光線に変換され、偏向ビームスプリッタ5て
P成分のみが透過される。続いて、1/4波長板6で4
5°回転され直線偏光から円偏光にされ、対物レンズ7
を介して光ディスク8のトラック(図示しない)に照射
される。
このとき、光ディスク8に照射されたレーザビーム11
の照射領域は第1図に符号15で示すように、光ディス
ク8のトラック幅方向に長く、トラック長さ方向に短い
長円形状を有する。
の照射領域は第1図に符号15で示すように、光ディス
ク8のトラック幅方向に長く、トラック長さ方向に短い
長円形状を有する。
光ディスク8から反射したレーザビーム11は、再度、
1/4波長板6を通過し、ここで偏光面が最初の直線偏
光から90″′回転した直線偏光に変換される。このた
め、レーザビーム11は偏光ビームスプリッタ5により
反射されて光電変換素子アレイ3に照射される。
1/4波長板6を通過し、ここで偏光面が最初の直線偏
光から90″′回転した直線偏光に変換される。このた
め、レーザビーム11は偏光ビームスプリッタ5により
反射されて光電変換素子アレイ3に照射される。
形成されて組をなすピット13.13は、トラック幅方
向に並列しているので、もし、レーザビーム11として
円形のレーザビームを照射するなら、トラック長さ方向
に隣接した他のマークセット14のピット13.13に
レーザビーム11が重なってしまい、再生時にこの重な
った部分がノイズとなり、記録された情報を正確に読み
出すことができなくなる恐れがある。そこで、この実施
例においては、し〜ザビーム11の照射領域15は、マ
ークセット14のピット13.13の間隔のうちトラッ
ク幅方向でみて外側の周面の間隔が最大となる距離dよ
り長く、トラック長さ方向は、マークセット14の相互
の間隔の最小値lより短くし、SN比を向上させている
。このような、マークセット14にレーザビーム11を
照射することにより第2図で示すような光学的干渉パタ
ーン4を得る。
向に並列しているので、もし、レーザビーム11として
円形のレーザビームを照射するなら、トラック長さ方向
に隣接した他のマークセット14のピット13.13に
レーザビーム11が重なってしまい、再生時にこの重な
った部分がノイズとなり、記録された情報を正確に読み
出すことができなくなる恐れがある。そこで、この実施
例においては、し〜ザビーム11の照射領域15は、マ
ークセット14のピット13.13の間隔のうちトラッ
ク幅方向でみて外側の周面の間隔が最大となる距離dよ
り長く、トラック長さ方向は、マークセット14の相互
の間隔の最小値lより短くし、SN比を向上させている
。このような、マークセット14にレーザビーム11を
照射することにより第2図で示すような光学的干渉パタ
ーン4を得る。
第3図は、前記光電変換素子アレイ3と、この光電変換
素子アレイ3により情報として復調される前記光学的干
渉パターン4の一部を示す。本実施例の光電変換素子ア
レイ3は、光学的干渉パターン4を検出して電気信号に
変換して出力する複数の光電変換素子30・・・と、こ
の光電変換素子30・・・で変換された光学的干渉パタ
ーン4の光強度信号を演算して、情報として再生する論
理演算部39とを備える。複数の光電変換素子3o・・
・は、光学的干渉パターン4の極大値I□8付近の位置
Xに対して並列して配置されている。これら光電変換素
子30・・・の出力は、夫々、論理演算部39に入力さ
れ、対応した比較器33・・・の一方の入力端子(図示
しない)に接続されている。また、各々の比較器33・
・・の他方の入力端子(図示しない)には、前記干渉パ
ターン4の極大値付近にかけられた基準電圧値v0の基
準電圧電源31が夫々接続されている。これら比較器3
3・・・の出力は、基準電圧V。に対するハイ(H)レ
ベル及びロー(L)レベルの比較器出力35の分布とし
て出力される。
素子アレイ3により情報として復調される前記光学的干
渉パターン4の一部を示す。本実施例の光電変換素子ア
レイ3は、光学的干渉パターン4を検出して電気信号に
変換して出力する複数の光電変換素子30・・・と、こ
の光電変換素子30・・・で変換された光学的干渉パタ
ーン4の光強度信号を演算して、情報として再生する論
理演算部39とを備える。複数の光電変換素子3o・・
・は、光学的干渉パターン4の極大値I□8付近の位置
Xに対して並列して配置されている。これら光電変換素
子30・・・の出力は、夫々、論理演算部39に入力さ
れ、対応した比較器33・・・の一方の入力端子(図示
しない)に接続されている。また、各々の比較器33・
・・の他方の入力端子(図示しない)には、前記干渉パ
ターン4の極大値付近にかけられた基準電圧値v0の基
準電圧電源31が夫々接続されている。これら比較器3
3・・・の出力は、基準電圧V。に対するハイ(H)レ
ベル及びロー(L)レベルの比較器出力35の分布とし
て出力される。
このような構成によれば、光学的干渉パターン4は、光
電変換素子アレイ3の光電変換素子3゜・・・によりそ
の光強度に応じた光強度信号に変換される。そして、こ
れら光強度信号の大きさが、比較器33・・・において
、基準電圧電源31の基準電圧値V。と比較され、位置
Xの関数としてハイレベル及びローレベルの分布36と
して出力される。
電変換素子アレイ3の光電変換素子3゜・・・によりそ
の光強度に応じた光強度信号に変換される。そして、こ
れら光強度信号の大きさが、比較器33・・・において
、基準電圧電源31の基準電圧値V。と比較され、位置
Xの関数としてハイレベル及びローレベルの分布36と
して出力される。
この出力のロー(L)からハイ(H)への立ち上がりク
ロス位置37又はハイ(H)からロー(L)への立ち下
がりクロス位a38を情報として再生する。
ロス位置37又はハイ(H)からロー(L)への立ち下
がりクロス位a38を情報として再生する。
本実施例によれば、光学的干渉パターン4の変化率が最
も大きい点でクロスするように基準電圧v0を設けるこ
とで、立ち上がりクロス位置37付近、立ち下がりクロ
ス位置38付近の変化率を夫々大きくとることができる
。このため、ノイズの影響等による検出誤りをおこす確
率を小さくすることができる。また、検出誤りを起こす
確率を等しくするならば、光電変換素子30・・・の間
隔を細かく、即ち、分解能をよくすることができ記録密
度及び転送レートを向上させることができる。
も大きい点でクロスするように基準電圧v0を設けるこ
とで、立ち上がりクロス位置37付近、立ち下がりクロ
ス位置38付近の変化率を夫々大きくとることができる
。このため、ノイズの影響等による検出誤りをおこす確
率を小さくすることができる。また、検出誤りを起こす
確率を等しくするならば、光電変換素子30・・・の間
隔を細かく、即ち、分解能をよくすることができ記録密
度及び転送レートを向上させることができる。
なお、本実施例は、上述のものに限らず、例えば、光電
変換素子30・・・としてpinフォトダイオードを用
いることが好ましい。これにより、高速読みだしが可能
になると共に、高転送レートが実現する。
変換素子30・・・としてpinフォトダイオードを用
いることが好ましい。これにより、高速読みだしが可能
になると共に、高転送レートが実現する。
次に、第1図及び第4図を参照して本発明の第2の実施
例について説明する。なお、第1の実施例と同一の構成
部分については、同一の符号を付してその詳細な説明を
省略する。
例について説明する。なお、第1の実施例と同一の構成
部分については、同一の符号を付してその詳細な説明を
省略する。
本実施例の光学式再生装置12において、光電変換素子
アレイ3は、複数の光電変換素子3o・と論理演算部3
9を備えている。本実施例の論理演算部3つは、複数の
光電変換素子3o・・・に対応した複数の比較器33・
・・に加えて、更に、前記各々の比較器33・・・に夫
々対応した比較器出力35を夫々対応するANDゲート
40・・・に接続させる構成を採る。即ち、例えば、隣
設した2つの比較器33.33のうち、第4図でみて、
位置Xのマイナス方向に隣接した比較器33からの比較
出力35は、対応する1つのANDゲート4oの1つの
入力端子(図示しない)に直接接続され、位置Xのプラ
ス方向に隣接した比較器33からの比較出力35は、光
学的干渉パターン4と基準電圧■。との立ち下がりクロ
ス位置38を検出するために、前記1つのANDゲート
4oの他の1つの入内端子(図示しない)にインバータ
42を介して接続されている。更に、ANDゲート40
・・・のANDゲート出力43は、夫々、プライオリテ
ィエンコーダ44に接続されて論理演算部39の全体が
構成されている。なお、ANDゲート40・・・は、全
ての入力がHのとき出力かハイ(H)となり、それ以外
の場合は、全てロー(L)か出力される回路である。ま
た、プライオリティエンコーダ44は、ANDゲート出
力43のハイ(H)の位置で示す10進数データ(本実
施例では、“3”)を4ビツトの2進数データとして出
力する回路である。
アレイ3は、複数の光電変換素子3o・と論理演算部3
9を備えている。本実施例の論理演算部3つは、複数の
光電変換素子3o・・・に対応した複数の比較器33・
・・に加えて、更に、前記各々の比較器33・・・に夫
々対応した比較器出力35を夫々対応するANDゲート
40・・・に接続させる構成を採る。即ち、例えば、隣
設した2つの比較器33.33のうち、第4図でみて、
位置Xのマイナス方向に隣接した比較器33からの比較
出力35は、対応する1つのANDゲート4oの1つの
入力端子(図示しない)に直接接続され、位置Xのプラ
ス方向に隣接した比較器33からの比較出力35は、光
学的干渉パターン4と基準電圧■。との立ち下がりクロ
ス位置38を検出するために、前記1つのANDゲート
4oの他の1つの入内端子(図示しない)にインバータ
42を介して接続されている。更に、ANDゲート40
・・・のANDゲート出力43は、夫々、プライオリテ
ィエンコーダ44に接続されて論理演算部39の全体が
構成されている。なお、ANDゲート40・・・は、全
ての入力がHのとき出力かハイ(H)となり、それ以外
の場合は、全てロー(L)か出力される回路である。ま
た、プライオリティエンコーダ44は、ANDゲート出
力43のハイ(H)の位置で示す10進数データ(本実
施例では、“3”)を4ビツトの2進数データとして出
力する回路である。
このような構成によれば、光学的干渉パターン4は、光
電変換素子30・・・、比較器33・・・を介してハイ
(H)、ロー(L)レベルの比較器出力35の分布とし
て出力される。本実施例では、(HHLL)である。そ
して、光学的干渉パターン4の基準電圧V。との上から
下への立ち下がりクロス位置38を情報として検出させ
るため、これら比較器出力35は、対応するANDゲー
ト40・・に夫々入力され、論理演算が行われる。この
結果、ANDゲート40・・・のANDゲート出力43
は、立ち下がりクロス位置38をハイ(H)レベルとし
て出力する。本実施例のANDゲート出力43I−14
LHLL)である。これを位置情報として、プライオリ
ティエンコーダ44に人力すると、立ち下がりクロス位
置38、即ち、ANDゲート出力43のハイ(H)レベ
ルに対応した10進数データ、本実施例では“3”が、
2進数データ(LLHH) −(OOILI として出
力される。これにより、ピット13.13の間隔の変化
に応じたm大鏡1 sexのマイナス方向又はプラス方
向の移動に伴う立ち下がりクロス位置38の移動が検出
テキ、ピット13.13の間隔に対応した正確な情報が
再生され得る。
電変換素子30・・・、比較器33・・・を介してハイ
(H)、ロー(L)レベルの比較器出力35の分布とし
て出力される。本実施例では、(HHLL)である。そ
して、光学的干渉パターン4の基準電圧V。との上から
下への立ち下がりクロス位置38を情報として検出させ
るため、これら比較器出力35は、対応するANDゲー
ト40・・に夫々入力され、論理演算が行われる。この
結果、ANDゲート40・・・のANDゲート出力43
は、立ち下がりクロス位置38をハイ(H)レベルとし
て出力する。本実施例のANDゲート出力43I−14
LHLL)である。これを位置情報として、プライオリ
ティエンコーダ44に人力すると、立ち下がりクロス位
置38、即ち、ANDゲート出力43のハイ(H)レベ
ルに対応した10進数データ、本実施例では“3”が、
2進数データ(LLHH) −(OOILI として出
力される。これにより、ピット13.13の間隔の変化
に応じたm大鏡1 sexのマイナス方向又はプラス方
向の移動に伴う立ち下がりクロス位置38の移動が検出
テキ、ピット13.13の間隔に対応した正確な情報が
再生され得る。
次に、第5図及び第6図を参照して本発明の第3の実施
例について説明する。なお、第1の実施例及び第2の実
施例と同一の構成部分については、同一の符号を付して
その詳細な説明を省略する。
例について説明する。なお、第1の実施例及び第2の実
施例と同一の構成部分については、同一の符号を付して
その詳細な説明を省略する。
本実施例の光電変換素子アレイ3は、複数の光電変換素
子30・・・と、論理演算部39とを備える。
子30・・・と、論理演算部39とを備える。
本実施例の論理演算部39は、複数の光電変換素子30
・・・に対応した複数の比較器33・・・のほかに、各
々の比較器33からの比較器出力35は、立ち下がりク
ロス位置38を検出するために設けられた夫々対応する
第1のANDゲート40a・・・と、立ち上りクロス位
置37を検出するため設けられた夫々対応する第2のA
NDゲート4ob・・・とに接続されている。即ち、例
えば、隣設した2つの比較器33.33のうち、第5図
でみてマイナス方向に隣接した比較器33からの比較器
出力35は、立ち下がりクロス位置38検出用の第1の
ANDゲート40a・・・の1つの入力端子(図示しな
い)に直接接続され、プラス方向に隣接された比較器3
3からの比較器出力35は、インバータ42を介して反
転されて前記第1のANDゲート40a・・・の他の1
つの入力端子(図示しない)に接続されている。また、
前記2つの比較器33.33からの比較器出力35は、
更に、立ち上がりクロス位置37検田用の第2のAND
ゲート40b・・に接続されている。即ち、前記マイナ
ス方向に隣接した比較器33からの比較器出力35は、
インバータ42を介して反転されて第2のANDゲート
40b・・・の1つの入力端子(図示しない)に接続さ
れ、前記プラス方向に隣接された比較器33からの比較
器出力35は、第2のANDゲート40b・・・の他の
1つの入力端子に直接接続されている。そして、立ち下
がりクロス位置38検昌用及び立ち上がりクロス位置3
7検出用の第1及び第2のANDゲート40a−=
40b=のANDゲート出力43は、夫々、対応する第
1及び第2のプライオリティエンコーダ44a、44b
に接続されている。これらプライオリティエンコーダ4
4a、44bで出力された立ち下がりクロス位置38及
び立ち上がりクロス位置37に対応する2値出力は、更
に、加算器51に接続されている。
・・・に対応した複数の比較器33・・・のほかに、各
々の比較器33からの比較器出力35は、立ち下がりク
ロス位置38を検出するために設けられた夫々対応する
第1のANDゲート40a・・・と、立ち上りクロス位
置37を検出するため設けられた夫々対応する第2のA
NDゲート4ob・・・とに接続されている。即ち、例
えば、隣設した2つの比較器33.33のうち、第5図
でみてマイナス方向に隣接した比較器33からの比較器
出力35は、立ち下がりクロス位置38検出用の第1の
ANDゲート40a・・・の1つの入力端子(図示しな
い)に直接接続され、プラス方向に隣接された比較器3
3からの比較器出力35は、インバータ42を介して反
転されて前記第1のANDゲート40a・・・の他の1
つの入力端子(図示しない)に接続されている。また、
前記2つの比較器33.33からの比較器出力35は、
更に、立ち上がりクロス位置37検田用の第2のAND
ゲート40b・・に接続されている。即ち、前記マイナ
ス方向に隣接した比較器33からの比較器出力35は、
インバータ42を介して反転されて第2のANDゲート
40b・・・の1つの入力端子(図示しない)に接続さ
れ、前記プラス方向に隣接された比較器33からの比較
器出力35は、第2のANDゲート40b・・・の他の
1つの入力端子に直接接続されている。そして、立ち下
がりクロス位置38検昌用及び立ち上がりクロス位置3
7検出用の第1及び第2のANDゲート40a−=
40b=のANDゲート出力43は、夫々、対応する第
1及び第2のプライオリティエンコーダ44a、44b
に接続されている。これらプライオリティエンコーダ4
4a、44bで出力された立ち下がりクロス位置38及
び立ち上がりクロス位置37に対応する2値出力は、更
に、加算器51に接続されている。
かくして、論理演算部39の全体が構成されている。
上述のような構成において、光学的干渉パターン4は、
複数の光電変換素子3o・・・で光強度信号に変換され
、比較器30・・・で基準電圧Voと比較され、ハイ(
H)レベル及びロー(L)レベルの分布として出力され
る。本実施例では(LLHHHLIである。これら比較
器出力35は続いて夫々対応する前記第1及び第2のA
NDゲート40a・・・ 40b・・・に入力され、立
ち下がりクロス位置38及び立ち上がりクロス位置37
をハイ(H;レベルとして出力する。本実施例では、立
ち下がりクロス位置38を示すANDゲート出力43は
(LtLLHL)、立ち上がりクロス位置37は(LH
LLLL)である。これら各出力は、対応する第1及び
第2のプライオリティエンコーダ44a、44bに入力
され、夫々のノ1イ(H)レベルに対応した10進数デ
ータが2進数データとして2値出力される。本実施例の
場合、立ち下がりクロス位置38は、10進数で“2”
であり、また立ち上がりクロス位置37は、“5′であ
る。
複数の光電変換素子3o・・・で光強度信号に変換され
、比較器30・・・で基準電圧Voと比較され、ハイ(
H)レベル及びロー(L)レベルの分布として出力され
る。本実施例では(LLHHHLIである。これら比較
器出力35は続いて夫々対応する前記第1及び第2のA
NDゲート40a・・・ 40b・・・に入力され、立
ち下がりクロス位置38及び立ち上がりクロス位置37
をハイ(H;レベルとして出力する。本実施例では、立
ち下がりクロス位置38を示すANDゲート出力43は
(LtLLHL)、立ち上がりクロス位置37は(LH
LLLL)である。これら各出力は、対応する第1及び
第2のプライオリティエンコーダ44a、44bに入力
され、夫々のノ1イ(H)レベルに対応した10進数デ
ータが2進数データとして2値出力される。本実施例の
場合、立ち下がりクロス位置38は、10進数で“2”
であり、また立ち上がりクロス位置37は、“5′であ
る。
従って、2値出力は、夫々、(LLHLI (LH
LHIである。これらを加算器51に入力し加算演算し
て、再生出力+LHHH1−+01111を得る。
LHIである。これらを加算器51に入力し加算演算し
て、再生出力+LHHH1−+01111を得る。
このようなルールによって再生を行うと、次のような利
点がある。例えば、第6図に示すように、なんらかの要
因により再生光源の光量が減少して光学的干渉パターン
4の極大値I□8が、Io、。
点がある。例えば、第6図に示すように、なんらかの要
因により再生光源の光量が減少して光学的干渉パターン
4の極大値I□8が、Io、。
1で示すように減少し、立ち下がりクロス位置38及び
立ち上がりクロス位置37か、内側、即ち第5図の矢印
の方向に夫々移動する場合がある。
立ち上がりクロス位置37か、内側、即ち第5図の矢印
の方向に夫々移動する場合がある。
これに伴って、第1及び第2のプライオリティエンコー
ダ44a、44bの立ち下がりクロス位置38の出力デ
ータが“2”から“3”に変化する。
ダ44a、44bの立ち下がりクロス位置38の出力デ
ータが“2”から“3”に変化する。
しかし、同時に、立ち上がりクロス位置37の出力デー
タも“5”から“4°に変化する。結果としては、再生
情報は“7“となり変化しない。従って、再生情報は、
光量変化による影響をうけず、検出誤りが防止でき得る
。なお、再生光源の光量が増加した場合にも同様の方法
で情報を再生することができ得る。
タも“5”から“4°に変化する。結果としては、再生
情報は“7“となり変化しない。従って、再生情報は、
光量変化による影響をうけず、検出誤りが防止でき得る
。なお、再生光源の光量が増加した場合にも同様の方法
で情報を再生することができ得る。
次に、第5図及び第7図、第8図を参照して本発明の第
4の実施例について説明する。なお、第3の実施例と同
一の構成部分については、同一の符号を付してその詳細
な説明を省略する。
4の実施例について説明する。なお、第3の実施例と同
一の構成部分については、同一の符号を付してその詳細
な説明を省略する。
本実施例では、例えば、光学系の偏心、横ずれ等によっ
て光学的干渉パターン4が横ずれを起こした場合の再生
情報の検出方法について説明する。
て光学的干渉パターン4が横ずれを起こした場合の再生
情報の検出方法について説明する。
このような場合、光電変換素子アレイ3は、光学的干渉
パターン4の+1次の極大値付近に、夫々、配設されて
いる。これら光電変換素子アレイ3.3は、夫々、+1
次の立ち下がりクロス位138及び−1次の立ち上がり
クロス位置37に対応した2値出力が減算器71に接続
されており、他の構成は、第5図に示す第3の実施例に
おけるものと同一の構成を採る。
パターン4の+1次の極大値付近に、夫々、配設されて
いる。これら光電変換素子アレイ3.3は、夫々、+1
次の立ち下がりクロス位138及び−1次の立ち上がり
クロス位置37に対応した2値出力が減算器71に接続
されており、他の構成は、第5図に示す第3の実施例に
おけるものと同一の構成を採る。
第7図に示すように、光学的干渉パターン4の立ち下が
りクロス位置38及び立ち上がりクロス位置37は、夫
々、対応する光電変換素子30・・・を介して論理演算
部39に入力される。本実施例では、+1次の極大値付
近の光強度信号は、第5図に示す立ち下がりクロス位置
38検出用の第1のANDゲート40a・・・に入力さ
れ、一方、−1次の極大値付近の光強度信号は、第5図
の立ち上りクロス位W37検出用の第2のANf)ゲー
ト40b・・・に入力される。この場合、立ち下がりク
ロス位置38を示すANDゲート出力43は、(LHL
LLLIてあり、また、立ち上がりクロス位置37のA
NDゲート出力43は、(LLLLHL)である(図示
しない)。これら各出力は、プライオリティエンコーダ
44に入力され、夫々のハイ(H)レベルに対応した1
0進数データが2進数データとして2値出力される。本
実施例の場合、立ち下がりクロス位置38は、10進数
で“5°であり、また立ち上がりクロス位置37は、“
2”である。従って、2値出力は、夫々、(01o1)
<0ololである。これらを減算器71に入力
し両者の差をとると、“3′即ち再生出力として+00
11)を得る。
りクロス位置38及び立ち上がりクロス位置37は、夫
々、対応する光電変換素子30・・・を介して論理演算
部39に入力される。本実施例では、+1次の極大値付
近の光強度信号は、第5図に示す立ち下がりクロス位置
38検出用の第1のANDゲート40a・・・に入力さ
れ、一方、−1次の極大値付近の光強度信号は、第5図
の立ち上りクロス位W37検出用の第2のANf)ゲー
ト40b・・・に入力される。この場合、立ち下がりク
ロス位置38を示すANDゲート出力43は、(LHL
LLLIてあり、また、立ち上がりクロス位置37のA
NDゲート出力43は、(LLLLHL)である(図示
しない)。これら各出力は、プライオリティエンコーダ
44に入力され、夫々のハイ(H)レベルに対応した1
0進数データが2進数データとして2値出力される。本
実施例の場合、立ち下がりクロス位置38は、10進数
で“5°であり、また立ち上がりクロス位置37は、“
2”である。従って、2値出力は、夫々、(01o1)
<0ololである。これらを減算器71に入力
し両者の差をとると、“3′即ち再生出力として+00
11)を得る。
このようなルールによって再生を行うと、次のような利
点がある。例えば、第8図に示すように、なんらかの要
因により光学系が偏心、横ずれ等して光学的干渉パター
ン4の+1次の立ち下がりりロス位置38及び立ち上が
りクロス位置37か、第8図の矢印の方向に夫々移動す
る場合がある。
点がある。例えば、第8図に示すように、なんらかの要
因により光学系が偏心、横ずれ等して光学的干渉パター
ン4の+1次の立ち下がりりロス位置38及び立ち上が
りクロス位置37か、第8図の矢印の方向に夫々移動す
る場合がある。
これに伴って、プライオリティエンコーダ44aの立ち
下がりクロス位置38の出力データが5”から“4″に
変化する。しかし、同時に、立ち上がりクロス位置37
の出力データも“2”から“1”に変化する。結果とし
ては、再生情報は“3”即ち(0011)のままで変化
しない。従って、再生情報は、光学系の偏心、横ずれ等
の影響をうけず、検出誤りが防止でき得る。また、ピッ
ト13.13の間隔の変化により一1次の極大値及び+
1次の極大値が、互いに離反または接近し、立ち下がり
クロス位置38及び立ち上がりクロス位置37が追従し
て移動する場合にも、上述の光電変換素子アレイ3が機
能して情報の正確な再生ができ得る。
下がりクロス位置38の出力データが5”から“4″に
変化する。しかし、同時に、立ち上がりクロス位置37
の出力データも“2”から“1”に変化する。結果とし
ては、再生情報は“3”即ち(0011)のままで変化
しない。従って、再生情報は、光学系の偏心、横ずれ等
の影響をうけず、検出誤りが防止でき得る。また、ピッ
ト13.13の間隔の変化により一1次の極大値及び+
1次の極大値が、互いに離反または接近し、立ち下がり
クロス位置38及び立ち上がりクロス位置37が追従し
て移動する場合にも、上述の光電変換素子アレイ3が機
能して情報の正確な再生ができ得る。
なお、−1次の立ち下がりクロス位置38と+1次の立
ち上がりクロス位置とを検出して再生情報とする構成に
することも好ましい。
ち上がりクロス位置とを検出して再生情報とする構成に
することも好ましい。
なお、本発明は、前述の各実施例に限定されることはな
く、例えば、光量の変化による極大値11.工の減少又
は増加と、光学系の偏心、横ずれによる光学的干渉パタ
ーン4の横ずれと、が同時に生じた場合、第5図及び第
7図に示す光電変換素子アレイ3が同時に機能して、常
時、正確な情報を再生する構成とすることが好ましい。
く、例えば、光量の変化による極大値11.工の減少又
は増加と、光学系の偏心、横ずれによる光学的干渉パタ
ーン4の横ずれと、が同時に生じた場合、第5図及び第
7図に示す光電変換素子アレイ3が同時に機能して、常
時、正確な情報を再生する構成とすることが好ましい。
[発明の効果]
本発明の光学式再生装置及びその方法によれば、照射手
段による光量の変化又は光学系の偏心、横ずれ等による
光学的干渉パターンの変化に影響されることなく正確に
情報が再生できる。また、光電変換素子を複数並設する
ことで光学的干渉パターンの検出精度を上げることがで
きる。
段による光量の変化又は光学系の偏心、横ずれ等による
光学的干渉パターンの変化に影響されることなく正確に
情報が再生できる。また、光電変換素子を複数並設する
ことで光学的干渉パターンの検出精度を上げることがで
きる。
第1図は、本発明の光学式再生装置で情報が読み出され
る光ディスクに、間隔の変化に応じて情報を符号化して
形成された複数のピットの配列状態を示す図、第2図は
、本発明の光学式再生装置の全体を概略的に示す図、第
3図は、光学的干渉パターンを情報として再生する光電
変換素子アレイを備えた本発明の光学式再生装置の第1
の実施例を示す図、第4図は、本発明の光学式再生装置
の第2の実施例を示す図、第5図及び第6図は、夫々、
光学的干渉パターンの光量変化の影響を受けずに一定の
情報を再生する本発明の光学式再生装置の第3の実施例
を示す光強度の変化前の図及び変化後の図、第7図及び
第8図は、夫々、光学的干渉パターンの横ずれの影響を
受けずに一定の情報を再生する本発明の光学式再生装置
の第4の実施例を示す横ずれ前の図及び横ずれ後の図で
ある。 3・・・光電変換素子アレイ、30・・・光電変換素子
、31・・・基準電圧電源、33・・・比較器、40・
ANDゲート、40 a−・第1のANDゲート、40
b・・・第2のANDゲート、44・・・プライオリテ
ィエンコーダ、44a・・・第1のプライオリティエン
コーダ、40b・・・第2のプライオリティエンコーダ
、51・・・加算器、71・・・減算器。 出願人代理人 弁理士 坪井 淳 第 図 第 図 第 図
る光ディスクに、間隔の変化に応じて情報を符号化して
形成された複数のピットの配列状態を示す図、第2図は
、本発明の光学式再生装置の全体を概略的に示す図、第
3図は、光学的干渉パターンを情報として再生する光電
変換素子アレイを備えた本発明の光学式再生装置の第1
の実施例を示す図、第4図は、本発明の光学式再生装置
の第2の実施例を示す図、第5図及び第6図は、夫々、
光学的干渉パターンの光量変化の影響を受けずに一定の
情報を再生する本発明の光学式再生装置の第3の実施例
を示す光強度の変化前の図及び変化後の図、第7図及び
第8図は、夫々、光学的干渉パターンの横ずれの影響を
受けずに一定の情報を再生する本発明の光学式再生装置
の第4の実施例を示す横ずれ前の図及び横ずれ後の図で
ある。 3・・・光電変換素子アレイ、30・・・光電変換素子
、31・・・基準電圧電源、33・・・比較器、40・
ANDゲート、40 a−・第1のANDゲート、40
b・・・第2のANDゲート、44・・・プライオリテ
ィエンコーダ、44a・・・第1のプライオリティエン
コーダ、40b・・・第2のプライオリティエンコーダ
、51・・・加算器、71・・・減算器。 出願人代理人 弁理士 坪井 淳 第 図 第 図 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、トラックの幅方向のピットの間隔により情報を符号
化した複数のピットからなる複数のマークセットが、前
記トラックの長さ方向に所定の間隔で順次形成された光
学式記録媒体に、レーザビームを前記トラックの長さ方
向に走査するレーザビーム照射手段と、 このレーザビーム照射手段により照射された前記マーク
セットの各々に対応する前記レーザビームの光学的干渉
パターンを、光強度信号に変換して出力する複数の光電
変換素子と、 前記光強度信号を受信し、前記光学的干渉パターンに対
応した前記ピットの間隔による情報を再生する論理演算
手段と、を有することを特徴とする光学式再生装置。 2、トラックの幅方向のピットの間隔により情報を符号
化する複数のピットからなる複数のマークセットが、前
記トラックの長さ方向に所定の間隔で順次形成された光
学式記録媒体に、レーザビームを前記トラックの長さ方
向に走査するレーザビーム照射工程と、 このレーザビーム照射工程により照射された前記マーク
セットの各々に対応する前記レーザビームの光学的干渉
パターンを、光強度信号に変換して出力する光電変換工
程と、 前記光強度信号を受信し、前記光学的干渉パターンに対
応した前記ピットの間隔による情報を再生する論理演算
工程と、を有することを特徴とする光学式再生方法。 3、トラックの幅方向のピットの間隔により情報を符号
化した複数のピットからなる複数のマークセットが、前
記トラックの長さ方向に所定の間隔で順次形成された光
学式記録媒体に、レーザビームを前記トラックの長さ方
向に走査するレーザビーム照射手段と、 アレイ状に配列された複数の光電変換素子からなり、前
記レーザビーム照射手段により照射された前記マークセ
ットの各々に対応する前記レーザビームの光学的干渉パ
ターンを検出する検出手段と、 この検出手段により検出された光学的干渉パターンの極
大値の電圧よりも小さな基準電圧値を発生する基準電圧
発生手段と、 前記基準電圧発生手段からの出力と前記検出手段からの
出力とを比較して前記光学的干渉パターンと基準電圧と
のクロス位置を検出することにより、前記ピットの間隔
による情報を再生する論理演算手段と、を有することを
特徴とする光学式再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13733990A JPH0430330A (ja) | 1990-05-28 | 1990-05-28 | 光学式再生装置及びその方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13733990A JPH0430330A (ja) | 1990-05-28 | 1990-05-28 | 光学式再生装置及びその方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0430330A true JPH0430330A (ja) | 1992-02-03 |
Family
ID=15196338
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13733990A Pending JPH0430330A (ja) | 1990-05-28 | 1990-05-28 | 光学式再生装置及びその方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0430330A (ja) |
-
1990
- 1990-05-28 JP JP13733990A patent/JPH0430330A/ja active Pending
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