JPH04305171A - 表面電荷密度の測定方法及びその装置 - Google Patents
表面電荷密度の測定方法及びその装置Info
- Publication number
- JPH04305171A JPH04305171A JP9501491A JP9501491A JPH04305171A JP H04305171 A JPH04305171 A JP H04305171A JP 9501491 A JP9501491 A JP 9501491A JP 9501491 A JP9501491 A JP 9501491A JP H04305171 A JPH04305171 A JP H04305171A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- charged body
- detection electrodes
- electrodes
- surface charge
- charge density
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、フィルム等の帯電体の
両表面の電荷密度を同時に測定する表面電荷密度の測定
方法及びその装置に関する。
両表面の電荷密度を同時に測定する表面電荷密度の測定
方法及びその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、フィルム等の帯電体の両表面の電
荷密度を測定する方法としては、図６に示すような距離
補償型電位計を用いる方法が代表的なものである。同図
において、２０は、検出電極２１及び振動体２２を内蔵
したプローブユニット、２３は発振器、２４はプリアン
プ、２５は増幅器、２６は同期検波器、２７は積分器、
２８は高電圧発生器、２９はインピーダンス整合回路で
ある。検出電極２１を振動させながら帯電体３０に対向
させると、電界強度Ｅ２に応じた交流電圧が検出電極２
１に生じ、更にこの交流電圧に応じた直流電圧Ｖｂが高
電圧発生器２８に発生し、このＶｂがプローブユニット
２０へフィードバックされる。このＶｂはＥ２を打ち消
す方向に作用し、０から上昇を始めてＥ２＝０となった
ところで一定値となる。このとき、次の数１の関係が成
り立つ。
荷密度を測定する方法としては、図６に示すような距離
補償型電位計を用いる方法が代表的なものである。同図
において、２０は、検出電極２１及び振動体２２を内蔵
したプローブユニット、２３は発振器、２４はプリアン
プ、２５は増幅器、２６は同期検波器、２７は積分器、
２８は高電圧発生器、２９はインピーダンス整合回路で
ある。検出電極２１を振動させながら帯電体３０に対向
させると、電界強度Ｅ２に応じた交流電圧が検出電極２
１に生じ、更にこの交流電圧に応じた直流電圧Ｖｂが高
電圧発生器２８に発生し、このＶｂがプローブユニット
２０へフィードバックされる。このＶｂはＥ２を打ち消
す方向に作用し、０から上昇を始めてＥ２＝０となった
ところで一定値となる。このとき、次の数１の関係が成
り立つ。
【０００３】
【数１】
【０００４】ここに、σ１＊とσ２＊は表面電荷密度、
ε０は空気中の誘電率、εは帯電体３０の誘電率、ｈは
帯電体３０の厚さ、ｘ１は帯電体３０と接地電極３１と
の距離である。σ１＊とσ２＊を求めるには、まず少な
くともｘ１の二つの異なる値ｘ１１及びｘ１２に対して
Ｅ２＝０となるようなＶｂの値Ｖｂ１とＶｂ２を測定し
、Ｖｂ−ｘ１特性を表す直線の方程式を求める。すると
、この直線の傾きΔＶｂ／Δｘ１及びこの直線をｘ１＝
０まで外挿したときの値Ｖｂ０と上記数１の式から、次
の数２及び数３の関係式が得られ、これらの式からσ１
＊とσ２＊が求められる。
ε０は空気中の誘電率、εは帯電体３０の誘電率、ｈは
帯電体３０の厚さ、ｘ１は帯電体３０と接地電極３１と
の距離である。σ１＊とσ２＊を求めるには、まず少な
くともｘ１の二つの異なる値ｘ１１及びｘ１２に対して
Ｅ２＝０となるようなＶｂの値Ｖｂ１とＶｂ２を測定し
、Ｖｂ−ｘ１特性を表す直線の方程式を求める。すると
、この直線の傾きΔＶｂ／Δｘ１及びこの直線をｘ１＝
０まで外挿したときの値Ｖｂ０と上記数１の式から、次
の数２及び数３の関係式が得られ、これらの式からσ１
＊とσ２＊が求められる。
【０００５】
【数２】
【０００６】
【数３】
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような距
離補償型電位計を用いる方法は、電位そのものの測定に
対しては、瞬時に測定を行えるので他の従来の方法に比
べて優れてはいるが、帯電体両面の電荷密度を求めるこ
とに関しては、上記のように検出電極と帯電体の距離を
少なくとも２回変えて電位を求めなければならないので
、瞬時というわけにはいかない。従って、帯電体が移動
している場合の測定には適さない。又、距離補償型電位
計は、高電圧発生器を含むフィードバック機構を取り入
れているため、危険性があって取扱いに注意が必要であ
り、しかも高価である等の問題がある。
離補償型電位計を用いる方法は、電位そのものの測定に
対しては、瞬時に測定を行えるので他の従来の方法に比
べて優れてはいるが、帯電体両面の電荷密度を求めるこ
とに関しては、上記のように検出電極と帯電体の距離を
少なくとも２回変えて電位を求めなければならないので
、瞬時というわけにはいかない。従って、帯電体が移動
している場合の測定には適さない。又、距離補償型電位
計は、高電圧発生器を含むフィードバック機構を取り入
れているため、危険性があって取扱いに注意が必要であ
り、しかも高価である等の問題がある。
【０００８】本発明の目的は、帯電体の両表面の電荷を
、移動中であっても同時にかつリアルタイムで測定でき
、しかも本質的に危険性がなく、かつまた経済的でもあ
る、表面電荷密度の測定方法及びその装置を提供するこ
とにある。
、移動中であっても同時にかつリアルタイムで測定でき
、しかも本質的に危険性がなく、かつまた経済的でもあ
る、表面電荷密度の測定方法及びその装置を提供するこ
とにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明による測定方法は
、２つの検出電極を、帯電体を挟んで対向させて互いに
異なる周波数で帯電体面に対し垂直に振動させ、これら
検出電極の出力を、その振動周波数に対応するフィルタ
を介して測定する。
、２つの検出電極を、帯電体を挟んで対向させて互いに
異なる周波数で帯電体面に対し垂直に振動させ、これら
検出電極の出力を、その振動周波数に対応するフィルタ
を介して測定する。
【００１０】本発明による測定装置は、帯電体を挟んで
対向される２つの検出電極と、これら検出電極を互いに
異なる周波数で帯電体面に対し垂直に振動させる２つの
振動体と、検出電極の出力からその振動周波数成分だけ
をそれぞれ抽出する２つのバンドパスフィルタと、これ
らバンドパスフィルタを通過した出力電圧を測定する電
圧測定手段とからなる。
対向される２つの検出電極と、これら検出電極を互いに
異なる周波数で帯電体面に対し垂直に振動させる２つの
振動体と、検出電極の出力からその振動周波数成分だけ
をそれぞれ抽出する２つのバンドパスフィルタと、これ
らバンドパスフィルタを通過した出力電圧を測定する電
圧測定手段とからなる。
【００１１】
【作用】図１に本発明の原理を示す。ここで、−σ１と
＋σ２はフィルム状帯電体３の等価表面電荷密度、＋σ
１’と−σ２’は検出電極１、２面に誘導された表面電
荷密度、Ｅは帯電体３内の電解強度、Ｅ１とＥ２はそれ
ぞれ検出電極１、２と帯電体３間の電界強度、εは帯電
体３の誘電率、ε０は空気中の誘電率、ｈは帯電体３の
厚さ、ｇ１、ｇ２はそれぞれ検出電極１、２と帯電体３
との間隔、Ｓは検出電極１と２の面積、Ｒ１とＲ２は負
荷抵抗、ｉ１とｉ２は電流、ｖ１とｖ２は電圧降下であ
る。同図において、検出電極１、２をそれぞれ各周波数
ω１、ω２で同時刻ｔにおいて、
＋σ２はフィルム状帯電体３の等価表面電荷密度、＋σ
１’と−σ２’は検出電極１、２面に誘導された表面電
荷密度、Ｅは帯電体３内の電解強度、Ｅ１とＥ２はそれ
ぞれ検出電極１、２と帯電体３間の電界強度、εは帯電
体３の誘電率、ε０は空気中の誘電率、ｈは帯電体３の
厚さ、ｇ１、ｇ２はそれぞれ検出電極１、２と帯電体３
との間隔、Ｓは検出電極１と２の面積、Ｒ１とＲ２は負
荷抵抗、ｉ１とｉ２は電流、ｖ１とｖ２は電圧降下であ
る。同図において、検出電極１、２をそれぞれ各周波数
ω１、ω２で同時刻ｔにおいて、
【００１２】
【数４】
【００１３】となるように、帯電体３面に垂直、つまり
電気力線に対し平行に振動させた場合を考える。ここで
ｇ１０、ｇ２０はそれぞれ検出電極１、２が静止してい
るときの間隔、Δ１、Δ２はそれぞれ検出電極１、２の
振幅である。図１に電荷保存の法則、Ｋｉｒｃｈｈｏｆ
ｆの第２法則、Ｇａｕｓｓの法則を適用すると、
電気力線に対し平行に振動させた場合を考える。ここで
ｇ１０、ｇ２０はそれぞれ検出電極１、２が静止してい
るときの間隔、Δ１、Δ２はそれぞれ検出電極１、２の
振幅である。図１に電荷保存の法則、Ｋｉｒｃｈｈｏｆ
ｆの第２法則、Ｇａｕｓｓの法則を適用すると、
【００１４】
【数５】
【００１５】
【数６】
【００１６】であるようなときには、ｖ２について
【０
０１７】
０１７】
【数７】
【００１８】なるノンパラメトリックな微分方程式が得
られる。これは、
られる。これは、
【００１９】
【数８】
【００２０】なる解をもつ。ここで、
【００２１】
【数９】
【００２２】
【数１０】
【００２３】
【数１１】
【００２４】
【数１２】
【数１３】
【００２５】このような場合にΔ１、Δ２が既知ならば
、ｖ２の成分であるａ２１ｓｉｎ（ω１ｔ＋θ１）とａ
２２ｓｉｎ（ω２ｔ＋θ２）を別々のバンドパスフィル
タで取り出すことにより、ａ２１とａ２２から帯電体３
の表面電荷密度σ１とσ２を求めることができる。
、ｖ２の成分であるａ２１ｓｉｎ（ω１ｔ＋θ１）とａ
２２ｓｉｎ（ω２ｔ＋θ２）を別々のバンドパスフィル
タで取り出すことにより、ａ２１とａ２２から帯電体３
の表面電荷密度σ１とσ２を求めることができる。
【００２６】Δ１とΔ２は図２に示すように既知電圧Ｖ
ｃを与えた模擬帯電体（導体板）４を用いて求めること
ができる。図２で、ｇは検出電極１又は２と模擬帯電体
４との間隔、Ｒは負荷抵抗、Ｓは検出電極１又は２の面
積、ｉは電流、ｖはＲの電圧降下である。いま、検出電
極１又は２をｇ０を中心として、振幅Δ、各周波数ωで
ｃを与えた模擬帯電体（導体板）４を用いて求めること
ができる。図２で、ｇは検出電極１又は２と模擬帯電体
４との間隔、Ｒは負荷抵抗、Ｓは検出電極１又は２の面
積、ｉは電流、ｖはＲの電圧降下である。いま、検出電
極１又は２をｇ０を中心として、振幅Δ、各周波数ωで
【００２７】
【数１４】
【００２８】となるように振動させたとする。この場合
、もし
、もし
【００２９】
【数１５】
【００３０】であれば、出力電圧ｖは
【００３１】
【数１６】
【００３２】となる。ここで
【００３３】
【数１７】
【００３４】
【数１８】
【００３５】
【数１９】
【００３６】ｖの振幅ａを測定すれば数１４よりΔを求
めることができる。このΔは検出電極が１のときはΔ１
となり２のときはΔ２となる。
めることができる。このΔは検出電極が１のときはΔ１
となり２のときはΔ２となる。
【００３７】
【実施例】図３に本発明による測定装置の一実施例を示
す。第１と第２の２つの検出電極１、２を、それぞれ支
柱１ａ、２ａを介してスピーカ５、６に取り付け、帯電
体３を挟んで対向させる。スピーカ５、６のムービング
コイル５ａ、６ａに発振器７、８から互いに異なる周波
数の信号を与え、両検出電極１、２を帯電体３面に対し
垂直に振動、つまり電気力線と平行に縦振動させる。例
えば、第１の検出電極１は６５９．５Ｈｚ、第２の検出
電極２は２８６Ｈｚでそれぞれ振動させる。各検出電極
１、２と接地間との負荷抵抗Ｒ１、Ｒ２は例えば同じく
１００ＫΩとする。又、検出電極１と帯電体３との距離
ｇ１と、検出電極２と帯電体３との距離ｇ２は同じとす
る（ｇ１＝ｇ２＝ｇ０）。
す。第１と第２の２つの検出電極１、２を、それぞれ支
柱１ａ、２ａを介してスピーカ５、６に取り付け、帯電
体３を挟んで対向させる。スピーカ５、６のムービング
コイル５ａ、６ａに発振器７、８から互いに異なる周波
数の信号を与え、両検出電極１、２を帯電体３面に対し
垂直に振動、つまり電気力線と平行に縦振動させる。例
えば、第１の検出電極１は６５９．５Ｈｚ、第２の検出
電極２は２８６Ｈｚでそれぞれ振動させる。各検出電極
１、２と接地間との負荷抵抗Ｒ１、Ｒ２は例えば同じく
１００ＫΩとする。又、検出電極１と帯電体３との距離
ｇ１と、検出電極２と帯電体３との距離ｇ２は同じとす
る（ｇ１＝ｇ２＝ｇ０）。
【００３８】第２の検出電極２には、帯電体３の一方の
面の表面電荷密度と、他方の面の表面電荷密度に応じた
電圧が表れる。この電圧を電圧増幅器９で増幅した後、
第１及び第２のバンドパスフィルタ１０、１１によって
それぞれの振動周波数成分だけを抽出する。本例の場合
、第１のバンドパスフィルタ１０の通過周波数は６５９
．５Ｈｚ、第２のバンドパスフィルタ１０の通過周波数
は２８６Ｈｚにしてある。
面の表面電荷密度と、他方の面の表面電荷密度に応じた
電圧が表れる。この電圧を電圧増幅器９で増幅した後、
第１及び第２のバンドパスフィルタ１０、１１によって
それぞれの振動周波数成分だけを抽出する。本例の場合
、第１のバンドパスフィルタ１０の通過周波数は６５９
．５Ｈｚ、第２のバンドパスフィルタ１０の通過周波数
は２８６Ｈｚにしてある。
【００３９】これら第１及び第２のバンドパスフィルタ
１０、１１のアナログ出力をＡ／Ｄコンバータ１２、１
３でそれぞれデジタルに変換した後、ＣＰＵ１４におい
てリアルタイムで演算する。いま、第１及び第２のバン
ドパスフィルタ１０、１１から得られた出力電圧をそれ
ぞれＶ１、Ｖ２とする。又、図３において、電圧増幅器
９と第１のバンドパスフィルタ１０とを合わせた利得を
Ａ１、電圧増幅器９と第２のバンドパスフィルタ１１と
を合わせた利得をＡ２とすると、Ｖ１、Ｖ２と、上記数
６の式で与えられるａ２１、上記数１１の式で与えられ
るａ２２とは次の関係が成立する。 Ｖ１＝Ａ１ａ２１ Ｖ２＝Ａ２ａ２２
１０、１１のアナログ出力をＡ／Ｄコンバータ１２、１
３でそれぞれデジタルに変換した後、ＣＰＵ１４におい
てリアルタイムで演算する。いま、第１及び第２のバン
ドパスフィルタ１０、１１から得られた出力電圧をそれ
ぞれＶ１、Ｖ２とする。又、図３において、電圧増幅器
９と第１のバンドパスフィルタ１０とを合わせた利得を
Ａ１、電圧増幅器９と第２のバンドパスフィルタ１１と
を合わせた利得をＡ２とすると、Ｖ１、Ｖ２と、上記数
６の式で与えられるａ２１、上記数１１の式で与えられ
るａ２２とは次の関係が成立する。 Ｖ１＝Ａ１ａ２１ Ｖ２＝Ａ２ａ２２
【００
４０】従って、ａ２１及びａ２２の中に含まれる既定値
である負荷抵抗Ｒ１、Ｒ２と、距離ｇ０と検出電極１、
２の振幅Δ１、Δ２と、更に既定値である利得Ａ１、Ａ
２をＲＡＭ１５に記憶しておき、そして電圧Ｖ１，Ｖ２
を取り込んでＲＯＭ１６又は外部記憶手段に格納されて
いるプログラムに従って演算すれば、帯電体３の両面の
表面電荷密度σ１とσ２をリアルタイムで求めることが
できる。 本発明者らが行った一つの実験例によれば、距離ｇ０が
１．５ｍｍのとき、σ１が１２．３×１０−４Ｃ／ｍ２
、σ２が１２．８×１０−４Ｃ／ｍ２であった。
４０】従って、ａ２１及びａ２２の中に含まれる既定値
である負荷抵抗Ｒ１、Ｒ２と、距離ｇ０と検出電極１、
２の振幅Δ１、Δ２と、更に既定値である利得Ａ１、Ａ
２をＲＡＭ１５に記憶しておき、そして電圧Ｖ１，Ｖ２
を取り込んでＲＯＭ１６又は外部記憶手段に格納されて
いるプログラムに従って演算すれば、帯電体３の両面の
表面電荷密度σ１とσ２をリアルタイムで求めることが
できる。 本発明者らが行った一つの実験例によれば、距離ｇ０が
１．５ｍｍのとき、σ１が１２．３×１０−４Ｃ／ｍ２
、σ２が１２．８×１０−４Ｃ／ｍ２であった。
【００４１】図３において、電圧比較器１７、１８、符
号判定回路１９は帯電体３の帯電極性を判定するもので
、プラス・マイナスに従い発光素子２０が点滅する。
号判定回路１９は帯電体３の帯電極性を判定するもので
、プラス・マイナスに従い発光素子２０が点滅する。
【００４２】図４に、検出電極１、２の振幅を模擬帯電
体４を使用して事前に測定する測定例を示す。ここで、
検出電極１、２とも直径は５．５ｍｍ、検出電極１は６
５９．５Ｈｚ、検出電極２は２８６Ｈｚで振動させた。 そして、メモリスコープ２１により測定して前記数１３
の式からａを求め、更にこれから前記数１４の式により
検出電極１、２のそれぞれの振幅Δ１、Δ２を求めたと
ころ、距離ｇ０の変化により図５に示すような結果が得
られた。この図からｇ０＝０のとき、Δ１＝７μｍ、Δ
２＝８μｍと推定できる。
体４を使用して事前に測定する測定例を示す。ここで、
検出電極１、２とも直径は５．５ｍｍ、検出電極１は６
５９．５Ｈｚ、検出電極２は２８６Ｈｚで振動させた。 そして、メモリスコープ２１により測定して前記数１３
の式からａを求め、更にこれから前記数１４の式により
検出電極１、２のそれぞれの振幅Δ１、Δ２を求めたと
ころ、距離ｇ０の変化により図５に示すような結果が得
られた。この図からｇ０＝０のとき、Δ１＝７μｍ、Δ
２＝８μｍと推定できる。
【００４３】
【発明の効果】本発明によれば、帯電体の両表面の電荷
を、移動中であっても同時にかつリアルタイムで瞬時に
測定できるので、例えば走行するフィルムの両面の電荷
密度を測定する場合などに好適である。
を、移動中であっても同時にかつリアルタイムで瞬時に
測定できるので、例えば走行するフィルムの両面の電荷
密度を測定する場合などに好適である。
【図１】 本発明の原理説明図である。
【図２】 模擬帯電体を使用して検出電極の振幅を測
定する原理説明図である。
定する原理説明図である。
【図３】 本発明の測定装置の一実施例のブロック図
である。
である。
【図４】 模擬帯電体を使用して検出電極の振幅を測
定する一例の概要図である。
定する一例の概要図である。
【図５】 測定した振幅を帯電体と検出電極間の距離
との関係で示したグラフである。
との関係で示したグラフである。
【図６】 従来の距離補償型電位計による測定法を示
すブロック図である。
すブロック図である。
１ 第１の検出電極
２ 第２の検出電極
３ 帯電体
４ 模擬帯電体
５ スピーカ
６ スピーカ
５ａ ムービングコイル
６ａ ムービングコイル
１１ 第１のバンドパスフィルタ１２ 第
２のバンドパスフィルタ１４ ＣＰＵ
２のバンドパスフィルタ１４ ＣＰＵ
Claims (4)
- 【請求項１】２つの検出電極を、帯電体を挟んで対向さ
せて互いに異なる周波数で帯電体面に対し垂直に振動さ
せ、これら検出電極の出力を、その振動周波数に対応す
るフィルタを介して測定することを特徴とする表面電荷
密度の測定方法。 - 【請求項２】前記検出電極の振幅を模擬帯電体を使用し
て事前に測定することを特徴とする請求項１に記載の表
面電荷密度の測定方法。 - 【請求項３】帯電体を挟んで対向される２つの検出電極
と、これら検出電極を互いに異なる周波数で帯電体面に
対し垂直に振動させる２つの振動体と、検出電極の出力
からその振動周波数成分だけをそれぞれ抽出する２つの
バンドパスフィルタと、これらバンドパスフィルタを通
過した出力電圧を測定する電圧測定手段とを備えてなる
ことを特徴とする表面電荷密度の測定装置。 - 【請求項４】前記振動体がムービングコイルである請求
項３に記載の表面電荷密度の測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9501491A JPH0766019B2 (ja) | 1991-04-02 | 1991-04-02 | 表面電荷密度の測定方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9501491A JPH0766019B2 (ja) | 1991-04-02 | 1991-04-02 | 表面電荷密度の測定方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04305171A true JPH04305171A (ja) | 1992-10-28 |
| JPH0766019B2 JPH0766019B2 (ja) | 1995-07-19 |
Family
ID=14126137
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9501491A Expired - Lifetime JPH0766019B2 (ja) | 1991-04-02 | 1991-04-02 | 表面電荷密度の測定方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0766019B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7466145B2 (en) | 2005-10-12 | 2008-12-16 | Hioki Denki Kabushiki Kaisha | Voltage measuring apparatus and power measuring apparatus |
| US7834645B2 (en) | 2005-12-20 | 2010-11-16 | Hioki Denki Kabushiki Kaisha | Variable capacitance circuit, voltage measuring apparatus, and power measuring apparatus |
| CN110596476A (zh) * | 2019-09-17 | 2019-12-20 | 华南师范大学 | 一种快速测量表面束缚电荷密度的方法 |
-
1991
- 1991-04-02 JP JP9501491A patent/JPH0766019B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7466145B2 (en) | 2005-10-12 | 2008-12-16 | Hioki Denki Kabushiki Kaisha | Voltage measuring apparatus and power measuring apparatus |
| US7834645B2 (en) | 2005-12-20 | 2010-11-16 | Hioki Denki Kabushiki Kaisha | Variable capacitance circuit, voltage measuring apparatus, and power measuring apparatus |
| CN110596476A (zh) * | 2019-09-17 | 2019-12-20 | 华南师范大学 | 一种快速测量表面束缚电荷密度的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0766019B2 (ja) | 1995-07-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5130654A (en) | Magnetolelastic amorphous metal ribbon gradiometer | |
| WO2020253795A1 (zh) | 基于模态局部化效应的微弱磁场测量装置及方法 | |
| SU1308206A3 (ru) | Электростатический акселерометр | |
| US4467271A (en) | Test apparatus for determination of vibration characteristics of piezoelectric transducers | |
| EP1426772B1 (en) | Impedance measuring circuit, its method, and capacitance measuring circuit | |
| JPS60142203A (ja) | 微小距離測定装置および方法 | |
| JPH03267754A (ja) | 渦流探傷方法及びその装置 | |
| JPH04305171A (ja) | 表面電荷密度の測定方法及びその装置 | |
| RU195153U1 (ru) | Устройство для измерения инфразвуковых колебаний среды | |
| JPH02500775A (ja) | 定常磁界又は時間変化磁界測定装置 | |
| RU2260811C1 (ru) | Способ определения поверхностной плотности заряда плоских диэлектриков | |
| JPH0224476B2 (ja) | ||
| Liess et al. | The scanning Kelvin microscope with voltage modulation: a new principle to image discrete surface potentials | |
| JP2763255B2 (ja) | 電流ベクトルによる受動素子値測定装置 | |
| JPS62121325A (ja) | リフト・オフの影響を受けない電磁式応力測定装置 | |
| RU2115115C1 (ru) | Способ выявления газонасыщенных слоев на титановых сплавах и устройство для его осуществления | |
| JPH08178986A (ja) | 電位センサ | |
| CN118707135B (zh) | 一种可变量程的摆式加速度计差分电容测量电路的制作方法 | |
| SU1390578A1 (ru) | Способ измерени потенциала поверхности зар женного диэлектрика | |
| RU2087927C1 (ru) | Устройство для измерений в геологоразведке | |
| SU1396063A1 (ru) | Электрометр | |
| JP3157907B2 (ja) | 加速度検出装置 | |
| SU1394167A1 (ru) | Способ измерени составл ющих вектора напр женности невозмущенного электростатического пол атмосферы с летательного аппарата | |
| Wang et al. | Research on the dynamic test method for force-balance accelerometers (FBAs) with electric stimulation Part 2. An improved test method for voltage-source type FBAs | |
| SU1411569A2 (ru) | Накладной электромагнитный преобразователь дл измерени толщины неэлектропровод щих покрытий |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090719 Year of fee payment: 14 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100719 Year of fee payment: 15 |