JPH04305984A - 酸化物高温超電導体における絶縁層の製造方法 - Google Patents
酸化物高温超電導体における絶縁層の製造方法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、酸化物高温超電導体の
放射線照射による絶縁層の製造方法に関する。
放射線照射による絶縁層の製造方法に関する。
【0002】本発明による絶縁層は、酸化物高温超電導
体で構成するジョセフソン素子等のエレクトロニクスで
使用する素子あるいはエレクトロニクス回路の製造に好
適である。
体で構成するジョセフソン素子等のエレクトロニクスで
使用する素子あるいはエレクトロニクス回路の製造に好
適である。
【0003】
【従来の技術】従来の金属あるいは化合物の超電導体で
は、例えば、Nbの間にNb2 O5 やSi、Al2
O3 を絶縁層として挟んだもの、NbNにアモルフ
ァスSiやMgOを絶縁層として接合したものなどが、
トンネル接合型のジョセフソン素子として使用されてい
る。
は、例えば、Nbの間にNb2 O5 やSi、Al2
O3 を絶縁層として挟んだもの、NbNにアモルフ
ァスSiやMgOを絶縁層として接合したものなどが、
トンネル接合型のジョセフソン素子として使用されてい
る。
【0004】ところで、酸化物高温超電導体では、コヒ
ーレンス長が短いので、トンネル接合型のジョセフソン
素子を作るには、厚さが数nm以下の均一な絶縁層が必
要である。
ーレンス長が短いので、トンネル接合型のジョセフソン
素子を作るには、厚さが数nm以下の均一な絶縁層が必
要である。
【0005】このような絶縁層は、金属の表面を酸化す
ることによって、比較的容易に得られるので、酸化物高
温超電導体と金属超電導体の間に絶縁層を挟んだトンネ
ル接合が作られている。
ることによって、比較的容易に得られるので、酸化物高
温超電導体と金属超電導体の間に絶縁層を挟んだトンネ
ル接合が作られている。
【0006】酸化物高温超電導体の間に絶縁層を挟んだ
トンネル接合型のジョセフソン素子として、YBa2
Cu3 O7 −xの間にPrBa2 Cu3 O7
−xを挟んだものが作製されている。この素子では、P
rBa2 Cu3 O7 −xが斜方晶であるため、こ
の障害層では臨界電流密度が一様にならないことが考え
られる。これを改良するために、Y− Ba− Cu−
Oの間にNbを添加したSrTiO3 を挟んだジョセ
フソン素子が製造されている。ところで、これらの酸化
物高温超電導体を用いたジョセフソン素子は、エピタキ
シャル成長によって製造されるので、超電導体と絶縁層
との間の電気的特性および結晶学的な整合性の観点から
、素子が製造できる組合せは非常に限定されている。
トンネル接合型のジョセフソン素子として、YBa2
Cu3 O7 −xの間にPrBa2 Cu3 O7
−xを挟んだものが作製されている。この素子では、P
rBa2 Cu3 O7 −xが斜方晶であるため、こ
の障害層では臨界電流密度が一様にならないことが考え
られる。これを改良するために、Y− Ba− Cu−
Oの間にNbを添加したSrTiO3 を挟んだジョセ
フソン素子が製造されている。ところで、これらの酸化
物高温超電導体を用いたジョセフソン素子は、エピタキ
シャル成長によって製造されるので、超電導体と絶縁層
との間の電気的特性および結晶学的な整合性の観点から
、素子が製造できる組合せは非常に限定されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、絶縁
層を有する酸化物高温超電導体で構成するジョセフソン
素子などのエレクトロニクスで使用する素子を任意の酸
化物高温超電導体を使用して提供することにある。
層を有する酸化物高温超電導体で構成するジョセフソン
素子などのエレクトロニクスで使用する素子を任意の酸
化物高温超電導体を使用して提供することにある。
【0008】また、本発明の目的は、酸化物高温超電導
体を構成要素の一部とするエレクトロニクスで使用する
素子あるいはエレクトロニクス回路を提供することにあ
る。本発明者らは、前記従来技術の有する問題点を克服
するために鋭意研究した結果、酸化物高温超電導体に放
射線を照射することにより、前記目的を達成できること
を見出し、この知見に基づいて本発明を完成するに至っ
た。
体を構成要素の一部とするエレクトロニクスで使用する
素子あるいはエレクトロニクス回路を提供することにあ
る。本発明者らは、前記従来技術の有する問題点を克服
するために鋭意研究した結果、酸化物高温超電導体に放
射線を照射することにより、前記目的を達成できること
を見出し、この知見に基づいて本発明を完成するに至っ
た。
【0009】
【課題を解決するための手段】かくして、本発明によれ
ば、酸化物高温超電導体に放射線を照射して絶縁層を形
成することを特徴とするエレクトロニクスで使用するジ
ョセフソン素子等の製造方法が任意の酸化物高温超電導
体を用いて提供される。
ば、酸化物高温超電導体に放射線を照射して絶縁層を形
成することを特徴とするエレクトロニクスで使用するジ
ョセフソン素子等の製造方法が任意の酸化物高温超電導
体を用いて提供される。
【0010】また、本発明によれば、上記の絶縁層を形
成した酸化物高温超電導体を構成要素の一部とするエレ
クトロニクスで使用する素子あるいはエレクトロニクス
回路の製造方法が提供される。
成した酸化物高温超電導体を構成要素の一部とするエレ
クトロニクスで使用する素子あるいはエレクトロニクス
回路の製造方法が提供される。
【0011】以下、本発明について詳述する。
【0012】(酸化物高温超電導体)本発明で使用する
酸化物高温超電導体は、Yを構成元素の一つとして含有
する超電導体(Y系超電導体)、Biを含有するもの(
Bi系超電導体)、Tlを含有するもの(Tl系超電導
体)、その他のもので、化学組成はどのようなものであ
ってもよい。
酸化物高温超電導体は、Yを構成元素の一つとして含有
する超電導体(Y系超電導体)、Biを含有するもの(
Bi系超電導体)、Tlを含有するもの(Tl系超電導
体)、その他のもので、化学組成はどのようなものであ
ってもよい。
【0013】また、これらの超電導体が、焼結、溶融、
基板上への推積、その他の方法によって作製した、多結
晶体、単結晶、薄膜、厚膜、その他の形態のものであっ
てもよい。すなわち、酸化物高温超電導体の製造方法、
形態、形状に制限はない。
基板上への推積、その他の方法によって作製した、多結
晶体、単結晶、薄膜、厚膜、その他の形態のものであっ
てもよい。すなわち、酸化物高温超電導体の製造方法、
形態、形状に制限はない。
【0014】(絶縁層の製造方法)本発明においては、
酸化物高温超電導体に、放射線を照射して、接合面、結
晶粒界、双晶境界、積層欠陥、変調構造境界等、面状の
広がりをもった、原子配列が超電導体の母相と異なる領
域に、絶縁層を形成する。
酸化物高温超電導体に、放射線を照射して、接合面、結
晶粒界、双晶境界、積層欠陥、変調構造境界等、面状の
広がりをもった、原子配列が超電導体の母相と異なる領
域に、絶縁層を形成する。
【0015】また、酸化物高温超電導体の絶縁層が存在
する領域に放射線を照射し、絶縁層の全てあるいは一部
を超電導相に変え、超電導電流が流れるようにする。
する領域に放射線を照射し、絶縁層の全てあるいは一部
を超電導相に変え、超電導電流が流れるようにする。
【0016】本発明において利用する放射線は、γ線、
X線レーザー光等の電磁波、電子、陽子、α粒子、重イ
オン等の粒子線であり、これらの放射線は、放射線発生
装置、加速器、原子炉等を用いて発生させたもの、ある
いは放射性崩壊によって発生したもの等、如何なる方法
によって発生させたものであってもよい。
X線レーザー光等の電磁波、電子、陽子、α粒子、重イ
オン等の粒子線であり、これらの放射線は、放射線発生
装置、加速器、原子炉等を用いて発生させたもの、ある
いは放射性崩壊によって発生したもの等、如何なる方法
によって発生させたものであってもよい。
【0017】酸化物高温超電導体の表面あるいは内部に
製造する絶縁層の厚さは、放射線の照射線量率および線
量で制御する。また、絶縁層を超電導相に変える領域は
、放射線の種類およびエネルギーの選択によって制限す
る。
製造する絶縁層の厚さは、放射線の照射線量率および線
量で制御する。また、絶縁層を超電導相に変える領域は
、放射線の種類およびエネルギーの選択によって制限す
る。
【0018】
【実施例】以下に実施例を挙げて本発明を具体的に説明
するが、これらの実施例のみに限定されるものではない
。
するが、これらの実施例のみに限定されるものではない
。
【0019】
【実施例1】大きさが10mm×1.5mm×0.5m
m程度の焼結した(Bi,Pb)2 Sr2 Ca2
Cu3 O10ペレットにCo− 60からの放射され
るγ線を7.5〜20MRの範囲で照射すると、結晶粒
界に薄い絶縁層が形成することによる高電流密度で測定
した超電導転移温度の低下が確認できた。
m程度の焼結した(Bi,Pb)2 Sr2 Ca2
Cu3 O10ペレットにCo− 60からの放射され
るγ線を7.5〜20MRの範囲で照射すると、結晶粒
界に薄い絶縁層が形成することによる高電流密度で測定
した超電導転移温度の低下が確認できた。
【0020】
【実施例2】大きさが10mm×1.5mm×0.5m
m程度の焼結した(Bi,Pb)2 Sr2 Ca2
Cu3 O10ペレットに3MeVの電子線を0.5〜
1.5×1019m−2の範囲で照射すると、結晶粒界
に薄い絶縁層が形成することによる高電流密度で測定し
た超電導転移温度の低下が確認できた。
m程度の焼結した(Bi,Pb)2 Sr2 Ca2
Cu3 O10ペレットに3MeVの電子線を0.5〜
1.5×1019m−2の範囲で照射すると、結晶粒界
に薄い絶縁層が形成することによる高電流密度で測定し
た超電導転移温度の低下が確認できた。
【0021】また、結晶粒界に絶縁層が存在する焼結ペ
レットに3MeVの電子線を0.5〜1.5×1019
×m−2の範囲で照射すると、結晶粒界の薄い絶縁層が
超電導相に変換することによる高電流密度で測定した超
電導転移温度の上昇が確認した。
レットに3MeVの電子線を0.5〜1.5×1019
×m−2の範囲で照射すると、結晶粒界の薄い絶縁層が
超電導相に変換することによる高電流密度で測定した超
電導転移温度の上昇が確認した。
【0022】
【実施例3】大きさが10mm×1.5mm×0.5m
m程度の焼結したBa2 YCu3 O7 ペレットに
3MeVの電子線を0.5〜1.5×1022m−2の
範囲で照射すると、結晶粒界に薄い絶縁層が形成するこ
とによる高電流密度で測定した超電導転移温度の低下が
確認できた。
m程度の焼結したBa2 YCu3 O7 ペレットに
3MeVの電子線を0.5〜1.5×1022m−2の
範囲で照射すると、結晶粒界に薄い絶縁層が形成するこ
とによる高電流密度で測定した超電導転移温度の低下が
確認できた。
【0023】また、結晶粒界に絶縁相を有するBa2
YCu3 O7 ペレットでは、3MeV電子線の0.
5〜1.5×1022m−2の範囲での照射、あるいは
200KeVの窒素イオンの1×1014m−2程度ま
での照射をすることによって、高電流密度で測定した超
電導転移温度の上昇を確認した。
YCu3 O7 ペレットでは、3MeV電子線の0.
5〜1.5×1022m−2の範囲での照射、あるいは
200KeVの窒素イオンの1×1014m−2程度ま
での照射をすることによって、高電流密度で測定した超
電導転移温度の上昇を確認した。
【0024】以上の実施例1〜3で得られた放射線照射
によって形成された絶縁層は、室温と液体窒素温度との
間の熱サイクルや室温での長時間にわたる放置に対して
安定である。
によって形成された絶縁層は、室温と液体窒素温度との
間の熱サイクルや室温での長時間にわたる放置に対して
安定である。
【0025】
【発明の効果】本発明の酸化物高温超電導体に放射線照
射により絶縁層を製造方法は、如何なる酸化物高温超電
導体にも適用できるので、これによって、液体温度で使
用できるジョセフソン素子を作るなど、酸化物高温超電
導体をエレクトロニクスに利用する道が大きく開かれる
。
射により絶縁層を製造方法は、如何なる酸化物高温超電
導体にも適用できるので、これによって、液体温度で使
用できるジョセフソン素子を作るなど、酸化物高温超電
導体をエレクトロニクスに利用する道が大きく開かれる
。
【0026】さらに、酸化物高温超電導体を構成要素と
するエレクトロニクス回路を製造することが可能になる
。
するエレクトロニクス回路を製造することが可能になる
。
Claims (4)
- 【請求項1】 酸化物高温超電導体に放射線を照射し
表面または内部に絶縁層を製造する方法。 - 【請求項2】 酸化物高温超電導体に放射線を照射し
、表面または内部に存在する絶縁層を超電導相に変え、
超電導電流を流せるようにする方法。 - 【請求項3】 酸化物高温超電導体単体あるいは酸化
物高温超電導体同士を接合したものに放射線を照射する
ことによって、ジョセフソン素子等のエレクトロニクス
で使用する素子あるいはエレクトロニクス回路を製造す
る方法。 - 【請求項4】 酸化物高温超電導体に半導体あるいは
無機化合物、金属、合金等を接合したものに、放射線を
照射することによって、エレクトロニクスで使用する素
子あるいはエレクトロニクス回路を製造する方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3069761A JPH04305984A (ja) | 1991-04-02 | 1991-04-02 | 酸化物高温超電導体における絶縁層の製造方法 |
| US07/862,368 US5229361A (en) | 1991-04-02 | 1992-04-02 | Method for forming Josephson junction devices by radiation |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3069761A JPH04305984A (ja) | 1991-04-02 | 1991-04-02 | 酸化物高温超電導体における絶縁層の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04305984A true JPH04305984A (ja) | 1992-10-28 |
Family
ID=13412110
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3069761A Pending JPH04305984A (ja) | 1991-04-02 | 1991-04-02 | 酸化物高温超電導体における絶縁層の製造方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5229361A (ja) |
| JP (1) | JPH04305984A (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07263767A (ja) | 1994-01-14 | 1995-10-13 | Trw Inc | イオンインプランテーションを用いたプレーナ型の高温超伝導集積回路 |
| WO1998016555A1 (en) * | 1996-10-15 | 1998-04-23 | Seikagaku Corporation | Polypeptide transition metal salts and method of enhancing anti-hiv activity of polypeptide |
| US6188919B1 (en) | 1999-05-19 | 2001-02-13 | Trw Inc. | Using ion implantation to create normal layers in superconducting-normal-superconducting Josephson junctions |
| JP2004079882A (ja) * | 2002-08-21 | 2004-03-11 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | ジョセフソン接合の作成方法及び装置 |
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