JPH04309856A - 分析計 - Google Patents
分析計Info
- Publication number
- JPH04309856A JPH04309856A JP3073369A JP7336991A JPH04309856A JP H04309856 A JPH04309856 A JP H04309856A JP 3073369 A JP3073369 A JP 3073369A JP 7336991 A JP7336991 A JP 7336991A JP H04309856 A JPH04309856 A JP H04309856A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- calibration
- sensor
- slope
- calibration curve
- new
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- Y02P60/216—
Landscapes
- Hydroponics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】［発明の目的］
【０００２】
【産業上の利用分野】本発明は自己診断機能を有する分
析計に関する。
析計に関する。
【０００３】
【従来の技術】各種の濃度計やマイクロイオンメータ等
の分析計においては、センサによって測定対象となる物
質の濃度等を測定し、この測定結果を処理して測定内容
を表示したり、予め設定されている範囲内から外れてい
るとき、警報を発したりしている。
の分析計においては、センサによって測定対象となる物
質の濃度等を測定し、この測定結果を処理して測定内容
を表示したり、予め設定されている範囲内から外れてい
るとき、警報を発したりしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の分析計においては、測定動作によって正しい値
が得られるように予め設定された周期やタイミングでセ
ンサを校正するようにしているが、校正時の作業内容に
よってはセンサ内にゴミや気泡等が入り込んでセンサの
校正値が大幅にずれてしまい、次の校正時まで誤った測
定値が出力されてしまうという問題があった。
た従来の分析計においては、測定動作によって正しい値
が得られるように予め設定された周期やタイミングでセ
ンサを校正するようにしているが、校正時の作業内容に
よってはセンサ内にゴミや気泡等が入り込んでセンサの
校正値が大幅にずれてしまい、次の校正時まで誤った測
定値が出力されてしまうという問題があった。
【０００５】特に、自動的に校正を行なう分析計では、
校正動作で校正されたセンサの出力に基づいて測定処理
が行われて誤った値によってシステムが誤動作してしま
うという問題があった。
校正動作で校正されたセンサの出力に基づいて測定処理
が行われて誤った値によってシステムが誤動作してしま
うという問題があった。
【０００６】本発明は上記の事情に鑑み、校正動作によ
って校正されたセンサの出力が正しくないとき、これを
検出して校正動作をやり直させたりして正しい校正を行
なうことができ、これによってセンサの測定状態を常に
最適な状態に保つことができる分析計を提供することを
目的としている。
って校正されたセンサの出力が正しくないとき、これを
検出して校正動作をやり直させたりして正しい校正を行
なうことができ、これによってセンサの測定状態を常に
最適な状態に保つことができる分析計を提供することを
目的としている。
【０００７】［発明の構成］
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明による分析計は、第１の発明では、校正物質
をセンサに供給しこのとき前記センサから出力される値
に基づいて検量線を作成した後、測定対象となっている
物質を前記センサに供給しこのとき前記センサから出力
される値と前記検量線とに基づいて前記物質の測定対象
量を演算する分析計において、新たな校正動作を行なっ
て得られた新たな検量線の傾きと、前回以前の校正動作
で得られた基準検量線の傾きとの差を演算する傾き差演
算部と、この傾き差演算部によって得られた差が予め設
定されている範囲以下のとき、校正動作によって得られ
た新たな検量線を正しい検量線と判定する判定部とを備
えたことを特徴としている。
めに本発明による分析計は、第１の発明では、校正物質
をセンサに供給しこのとき前記センサから出力される値
に基づいて検量線を作成した後、測定対象となっている
物質を前記センサに供給しこのとき前記センサから出力
される値と前記検量線とに基づいて前記物質の測定対象
量を演算する分析計において、新たな校正動作を行なっ
て得られた新たな検量線の傾きと、前回以前の校正動作
で得られた基準検量線の傾きとの差を演算する傾き差演
算部と、この傾き差演算部によって得られた差が予め設
定されている範囲以下のとき、校正動作によって得られ
た新たな検量線を正しい検量線と判定する判定部とを備
えたことを特徴としている。
【０００９】また、第２の発明では、校正物質をセンサ
に供給しこのとき前記センサから出力される値に基づい
て検量線を作成した後、測定対象となっている物質を前
記センサに供給しこのとき前記センサから出力される値
と前記検量線とに基づいて前記物質の測定対象量を演算
する分析計において、新たな校正動作を行なって得られ
た新たな検量線の傾き変化と、前回の校正動作で得られ
た検量線の傾き変化との差を演算する傾き変化差演算部
と、この傾き変化差演算部によって得られた差が予め設
定されている範囲以下のとき、校正動作によって得られ
た新たな検量線を正しい検量線と判定する判定部とを備
えたことを特徴としている。
に供給しこのとき前記センサから出力される値に基づい
て検量線を作成した後、測定対象となっている物質を前
記センサに供給しこのとき前記センサから出力される値
と前記検量線とに基づいて前記物質の測定対象量を演算
する分析計において、新たな校正動作を行なって得られ
た新たな検量線の傾き変化と、前回の校正動作で得られ
た検量線の傾き変化との差を演算する傾き変化差演算部
と、この傾き変化差演算部によって得られた差が予め設
定されている範囲以下のとき、校正動作によって得られ
た新たな検量線を正しい検量線と判定する判定部とを備
えたことを特徴としている。
【００１０】
【作用】上記の構成において、第１の発明においては、
傾き差演算部によって新たな校正動作で得られた新たな
検量線の傾きと、前回以前の校正動作で得られた基準検
量線の傾きとの差が演算された後、この傾き差演算部で
得られた差が予め設定されている範囲以下のとき、判定
部によって新たな校正動作で得られた新たな検量線が正
しい検量線と判定される。
傾き差演算部によって新たな校正動作で得られた新たな
検量線の傾きと、前回以前の校正動作で得られた基準検
量線の傾きとの差が演算された後、この傾き差演算部で
得られた差が予め設定されている範囲以下のとき、判定
部によって新たな校正動作で得られた新たな検量線が正
しい検量線と判定される。
【００１１】また、第２の発明においては、傾き変化差
演算部によって新たな校正動作で得られた新たな検量線
の傾き変化と、前回の校正動作で得られた検量線の傾き
変化との差が演算された後、この傾き変化差演算部で得
られた差が予め設定されている範囲以下のとき、判定部
によって新たな校正動作で得られた新たな検量線が正し
い検量線と判定される。
演算部によって新たな校正動作で得られた新たな検量線
の傾き変化と、前回の校正動作で得られた検量線の傾き
変化との差が演算された後、この傾き変化差演算部で得
られた差が予め設定されている範囲以下のとき、判定部
によって新たな校正動作で得られた新たな検量線が正し
い検量線と判定される。
【００１２】
【実施例】図１は本発明による分析計の一実施例を使用
した養液栽培システムの一例を示すブロック図である。
した養液栽培システムの一例を示すブロック図である。
【００１３】この図に示す養液栽培システムは栽培室１
と、分析装置２とを備えており、分析装置２によって栽
培室１内を循環する養液３のイオン濃度を測定し、この
測定結果を表示したり、プリントアウトしたりする。
と、分析装置２とを備えており、分析装置２によって栽
培室１内を循環する養液３のイオン濃度を測定し、この
測定結果を表示したり、プリントアウトしたりする。
【００１４】栽培室１は温度や湿度が培養対象植物４に
とって最適となるように制御される栽培容器５と、この
栽培容器５内に配置される養液タンク６と、この養液タ
ンク６内に満たされている養液３のＰＨを測定するＰＨ
計７と、前記養液３の導電率を測定する導電率計８と、
前記養液３の温度を測定する液温計９と、前記養液タン
ク６内に配置されるフィルタ１０を介して前記養液タン
ク６内の養液３を取り込む養液取込みパイプ１１と、サ
ンプリング指令が供給されたとき、前記養液取込みパイ
プ１１を介して前記養液タンク６内の養液３を汲み出し
て前記分析装置２に供給するサンプリングポンプ１２と
、前記分析装置２から戻された養液３を前記養液タンク
６内に導く戻しパイプ１３と、前記栽培容器５内に配置
され栽培対象となる植物４が植付けられる栽培ベット１
４と、前記養液タンク６に設けられる養液取出しパイプ
１５と、循環指令が供給されたとき、前記養液取出しパ
イプ１５を介して前記養液タンク６内に満たされている
養液３を取り出して前記栽培ベット１４に供給してこれ
を循環させる循環ポンプ１６とを備えている。
とって最適となるように制御される栽培容器５と、この
栽培容器５内に配置される養液タンク６と、この養液タ
ンク６内に満たされている養液３のＰＨを測定するＰＨ
計７と、前記養液３の導電率を測定する導電率計８と、
前記養液３の温度を測定する液温計９と、前記養液タン
ク６内に配置されるフィルタ１０を介して前記養液タン
ク６内の養液３を取り込む養液取込みパイプ１１と、サ
ンプリング指令が供給されたとき、前記養液取込みパイ
プ１１を介して前記養液タンク６内の養液３を汲み出し
て前記分析装置２に供給するサンプリングポンプ１２と
、前記分析装置２から戻された養液３を前記養液タンク
６内に導く戻しパイプ１３と、前記栽培容器５内に配置
され栽培対象となる植物４が植付けられる栽培ベット１
４と、前記養液タンク６に設けられる養液取出しパイプ
１５と、循環指令が供給されたとき、前記養液取出しパ
イプ１５を介して前記養液タンク６内に満たされている
養液３を取り出して前記栽培ベット１４に供給してこれ
を循環させる循環ポンプ１６とを備えている。
【００１５】そして、循環指令が供給されたとき、循環
ポンプ１６が動作して養液タンク６内に満たされている
養液３を取り出してこれを栽培ベット１４に供給し、ま
たサンプリング指令が供給されたとき、前記養液タンク
６内に満たされている養液３を取り出してこれを前記分
析装置２に供給し、戻しパイプ１３を介して養液３が供
給されたとき、これを前記養液タンク６内に戻す。
ポンプ１６が動作して養液タンク６内に満たされている
養液３を取り出してこれを栽培ベット１４に供給し、ま
たサンプリング指令が供給されたとき、前記養液タンク
６内に満たされている養液３を取り出してこれを前記分
析装置２に供給し、戻しパイプ１３を介して養液３が供
給されたとき、これを前記養液タンク６内に戻す。
【００１６】また、分析装置２は矩形状に形成される匡
体２０と、この匡体２０内に配置され前記養液取込みパ
イプ１１を介して供給される養液３を貯留した後、戻し
パイプ１３を介して前記養液タンク６に戻すサンプリン
グタンク２１と、前記匡体２０内に配置される高濃度校
正液タンク２２と、前記匡体２０内に配置される低濃度
校正液タンク２３と、前記サンプリングタンク２１〜低
濃度校正液タンク２３に個々に挿通される取込みパイプ
２４〜２６と、これらの各取込みパイプ２４〜２６を介
して養液３や高濃度校正液２７、低濃度校正液２８を選
択的に取り込んで前記養液３のイオン濃度を測定する分
析計２９と、この分析計２９の分析結果等をプリントア
ウトするプリンタ３０と、前記匡体２０内に配置され前
記分析計２９から出る養液３や高濃度校正液２７、低濃
度校正液２８などを排液として取り出す排液パイプ３１
と、この排液パイプ３１を介して排出される排液を貯留
する排液タンク３２とを備えている。
体２０と、この匡体２０内に配置され前記養液取込みパ
イプ１１を介して供給される養液３を貯留した後、戻し
パイプ１３を介して前記養液タンク６に戻すサンプリン
グタンク２１と、前記匡体２０内に配置される高濃度校
正液タンク２２と、前記匡体２０内に配置される低濃度
校正液タンク２３と、前記サンプリングタンク２１〜低
濃度校正液タンク２３に個々に挿通される取込みパイプ
２４〜２６と、これらの各取込みパイプ２４〜２６を介
して養液３や高濃度校正液２７、低濃度校正液２８を選
択的に取り込んで前記養液３のイオン濃度を測定する分
析計２９と、この分析計２９の分析結果等をプリントア
ウトするプリンタ３０と、前記匡体２０内に配置され前
記分析計２９から出る養液３や高濃度校正液２７、低濃
度校正液２８などを排液として取り出す排液パイプ３１
と、この排液パイプ３１を介して排出される排液を貯留
する排液タンク３２とを備えている。
【００１７】そして、予め設定されているタイミングで
分析計２９が動作して高濃度校正液２７や低濃度校正液
２８を取り込んで分析計２９内に設けられたセンサ３５
（図２参照）を校正し、この後校正に使用した高濃度校
正液２７や低濃度校正液２８を排液として排液タンク３
２に排出する。また、予め設定されているタイミングで
分析計２９が動作して前記サンプリングポンプ１２を動
作させ、前記養液タンク６内に満たされている養液３を
取り込んでサンプリングタンク２１に導いた後、これを
取り込んでそのイオン濃度を測定し、この後測定に使用
した養液３を排液として排液タンク３２に排出する。
分析計２９が動作して高濃度校正液２７や低濃度校正液
２８を取り込んで分析計２９内に設けられたセンサ３５
（図２参照）を校正し、この後校正に使用した高濃度校
正液２７や低濃度校正液２８を排液として排液タンク３
２に排出する。また、予め設定されているタイミングで
分析計２９が動作して前記サンプリングポンプ１２を動
作させ、前記養液タンク６内に満たされている養液３を
取り込んでサンプリングタンク２１に導いた後、これを
取り込んでそのイオン濃度を測定し、この後測定に使用
した養液３を排液として排液タンク３２に排出する。
【００１８】分析計２９は図２に示す如く前記養液３や
高濃度校正液２７、低濃度校正液２８のイオン濃度を測
定するセンサ３５と、マイクロプロセッサ等を備え前記
センサ３５から出力される信号値を校正する処理や前記
センサ３５によって得られた測定値を補正する処理、補
正処理によって得られた測定値をプリントアウトする処
理等の処理を行なう分析部３６と、この分析部３６から
書込み指令が供給されたとき、この書込み指令とともに
供給された傾きデータを指定された場所に記憶し、また
前記分析部３６から読出し指令が供給されたとき、この
読出し指令によって指定された場所に記憶されている傾
きデータを読み出してこれを前記分析部３６に供給する
傾き記憶部３７とを備えている。
高濃度校正液２７、低濃度校正液２８のイオン濃度を測
定するセンサ３５と、マイクロプロセッサ等を備え前記
センサ３５から出力される信号値を校正する処理や前記
センサ３５によって得られた測定値を補正する処理、補
正処理によって得られた測定値をプリントアウトする処
理等の処理を行なう分析部３６と、この分析部３６から
書込み指令が供給されたとき、この書込み指令とともに
供給された傾きデータを指定された場所に記憶し、また
前記分析部３６から読出し指令が供給されたとき、この
読出し指令によって指定された場所に記憶されている傾
きデータを読み出してこれを前記分析部３６に供給する
傾き記憶部３７とを備えている。
【００１９】そして、予め設定されているタイミングで
高濃度校正液２７や低濃度校正液２８を取り込んで分析
計２９内に設けられたセンサ３５の出力に基づいて検量
線を作成した後、校正に使用した高濃度校正液２７や低
濃度校正液２８を排液として排液タンク３２に排出する
。この後、校正動作で得られた検量線が正しいかどうか
を判定する。また、予め設定されているタイミングで前
記サンプリングポンプ１２を動作させ、前記養液タンク
６内に満たされている養液３を取り込んでサンプリング
タンク２１に導いた後、これを取り込んでそのイオン濃
度を測定し、この後測定に使用した養液３を排液として
排液タンク３２に排出する。
高濃度校正液２７や低濃度校正液２８を取り込んで分析
計２９内に設けられたセンサ３５の出力に基づいて検量
線を作成した後、校正に使用した高濃度校正液２７や低
濃度校正液２８を排液として排液タンク３２に排出する
。この後、校正動作で得られた検量線が正しいかどうか
を判定する。また、予め設定されているタイミングで前
記サンプリングポンプ１２を動作させ、前記養液タンク
６内に満たされている養液３を取り込んでサンプリング
タンク２１に導いた後、これを取り込んでそのイオン濃
度を測定し、この後測定に使用した養液３を排液として
排液タンク３２に排出する。
【００２０】次に、図３および図４に示すフローチャー
トを参照しながらこの実施例の校正動作を説明する。
トを参照しながらこの実施例の校正動作を説明する。
【００２１】まず、初期設定モードが設定されていれば
、分析計２９の分析部３６は図３に示す如く最初に低濃
度校正液タンク２３に貯留されている低濃度校正液２８
を取り込んでこれをセンサ３５に導き、このセンサ３５
から出力される値を低濃度出力値ＰＬ１として記憶した
後、前記センサ３５で使用された低濃度校正液２８を排
液として排液タンク３２に排出させる（ステップＳＴ１
）。
、分析計２９の分析部３６は図３に示す如く最初に低濃
度校正液タンク２３に貯留されている低濃度校正液２８
を取り込んでこれをセンサ３５に導き、このセンサ３５
から出力される値を低濃度出力値ＰＬ１として記憶した
後、前記センサ３５で使用された低濃度校正液２８を排
液として排液タンク３２に排出させる（ステップＳＴ１
）。
【００２２】次いで、分析部３６は高濃度校正液タンク
２２に貯留されている高濃度校正液２７を取り込んでこ
れをセンサ３５に導き、このセンサ３５から出力される
値を高濃度出力値ＰＨ１として記憶した後、前記センサ
３５で使用された高濃度校正液２８を排液として排液タ
ンク３２に排出させる（ステップＳＴ２）。
２２に貯留されている高濃度校正液２７を取り込んでこ
れをセンサ３５に導き、このセンサ３５から出力される
値を高濃度出力値ＰＨ１として記憶した後、前記センサ
３５で使用された高濃度校正液２８を排液として排液タ
ンク３２に排出させる（ステップＳＴ２）。
【００２３】この後、分析部３６は記憶している低濃度
出力値と高濃度出力値とに基づいて図５に示す如く前記
低濃度出力値ＰＬ１と、高濃度出力値ＰＨ１とを直線で
結んで検量線Ｗ１ を作成し（ステップＳＴ３）、これ
を傾き記憶部３７に記憶させる（ステップＳＴ４）。
出力値と高濃度出力値とに基づいて図５に示す如く前記
低濃度出力値ＰＬ１と、高濃度出力値ＰＨ１とを直線で
結んで検量線Ｗ１ を作成し（ステップＳＴ３）、これ
を傾き記憶部３７に記憶させる（ステップＳＴ４）。
【００２４】そして、この初期設定が終了して測定モー
ドが設定されれば、分析部３６は予め設定されているタ
イミングでサンプリングポンプ１２を動作させ、養液タ
ンク６内に満たされている養液３を取り込んでサンプリ
ングタンク２１に導いた後、これを取り込んでセンサ３
５に供給し、そのイオン濃度を測定し、この測定動作に
よって得られた出力値と前記傾き記憶部３７に記憶され
ている検量線Ｗ１ とに基づいて前記養液３のイオン濃
度を演算し、この演算結果をプリンタ３０に供給してプ
リンアウトさせる。
ドが設定されれば、分析部３６は予め設定されているタ
イミングでサンプリングポンプ１２を動作させ、養液タ
ンク６内に満たされている養液３を取り込んでサンプリ
ングタンク２１に導いた後、これを取り込んでセンサ３
５に供給し、そのイオン濃度を測定し、この測定動作に
よって得られた出力値と前記傾き記憶部３７に記憶され
ている検量線Ｗ１ とに基づいて前記養液３のイオン濃
度を演算し、この演算結果をプリンタ３０に供給してプ
リンアウトさせる。
【００２５】この後、分析部３６は測定に使用した養液
３を排液として排液タンク３２に排出する。
３を排液として排液タンク３２に排出する。
【００２６】以下、予め設定されているタイミングにな
る毎に、分析部３６は上述した養液３の測定動作を繰り
返して測定結果をプリントアウトさせる。
る毎に、分析部３６は上述した養液３の測定動作を繰り
返して測定結果をプリントアウトさせる。
【００２７】そして、センサ３５の校正タイミングにな
ったとき、分析部３６は図４に示す如く最初に低濃度校
正液タンク２３に貯留されている低濃度校正液２８を取
り込んでこれをセンサ３５に導き、このセンサ３５から
出力される値を新たな低濃度出力値ＰＬｎとして記憶し
た後、前記センサ３５で使用された低濃度校正液２８を
排液として排液タンク３２に排出させる（ステップＳＴ
５）。
ったとき、分析部３６は図４に示す如く最初に低濃度校
正液タンク２３に貯留されている低濃度校正液２８を取
り込んでこれをセンサ３５に導き、このセンサ３５から
出力される値を新たな低濃度出力値ＰＬｎとして記憶し
た後、前記センサ３５で使用された低濃度校正液２８を
排液として排液タンク３２に排出させる（ステップＳＴ
５）。
【００２８】次いで、分析部３６は高濃度校正液タンク
２２に貯留されている高濃度校正液２７を取り込んでこ
れをセンサ３５に導き、このセンサ３５から出力される
値を新たな高濃度出力値ＰＨｎとして記憶した後、前記
センサ３５で使用された高濃度校正液２７を排液として
排液タンク３２に排出させる（ステップＳＴ６）。
２２に貯留されている高濃度校正液２７を取り込んでこ
れをセンサ３５に導き、このセンサ３５から出力される
値を新たな高濃度出力値ＰＨｎとして記憶した後、前記
センサ３５で使用された高濃度校正液２７を排液として
排液タンク３２に排出させる（ステップＳＴ６）。
【００２９】この後、分析部３６は記憶している新たな
低濃度出力値ＰＬｎと新たな高濃度出力値ＰＨｎとに基
づいて図６に示す如く前記低濃度出力値ＰＬｎと、高濃
度出力値ＰＨｎとを直線で結んで新たな検量線Ｗｎ を
作成し（ステップＳＴ７）、この新たな検量線Ｗｎ の
傾きと、傾き記憶部３７に記憶されている最初の検量線
Ｗ１ の傾きとを比較してこれらの差が予め設定されて
いる許容値内かどうかをチェツクする（ステップＳＴ８
）。
低濃度出力値ＰＬｎと新たな高濃度出力値ＰＨｎとに基
づいて図６に示す如く前記低濃度出力値ＰＬｎと、高濃
度出力値ＰＨｎとを直線で結んで新たな検量線Ｗｎ を
作成し（ステップＳＴ７）、この新たな検量線Ｗｎ の
傾きと、傾き記憶部３７に記憶されている最初の検量線
Ｗ１ の傾きとを比較してこれらの差が予め設定されて
いる許容値内かどうかをチェツクする（ステップＳＴ８
）。
【００３０】そして、これらが許容値内であれば（ステ
ップＳＴ８）、分析部３６は今回の校正が正しく行われ
たと判定して新たな検量線Ｗｎ を傾き記憶部３７に記
憶させて次の校正が行われるまで、この検量線Ｗｎ を
使用して養液３のイオン濃度を測定する（ステップＳＴ
９）。
ップＳＴ８）、分析部３６は今回の校正が正しく行われ
たと判定して新たな検量線Ｗｎ を傾き記憶部３７に記
憶させて次の校正が行われるまで、この検量線Ｗｎ を
使用して養液３のイオン濃度を測定する（ステップＳＴ
９）。
【００３１】また、新たな検量線Ｗｎ の傾きと、傾き
記憶部３７に記憶されている最初の検量線Ｗ１ の傾き
との差が許容値外であれば（ステップＳＴ８）、分析部
３６は今回の校正動作に何等かのミスがあったと判定し
て新たな検量線Ｗｎ を廃棄して校正動作によって得ら
れた新たな検量線の傾きと、傾き記憶部３７に記憶され
ている最初の検量線Ｗ１ の傾きとの差が許容値内にな
るまで校正動作を繰り返し行なう（ステップＳＴ１０）
。
記憶部３７に記憶されている最初の検量線Ｗ１ の傾き
との差が許容値外であれば（ステップＳＴ８）、分析部
３６は今回の校正動作に何等かのミスがあったと判定し
て新たな検量線Ｗｎ を廃棄して校正動作によって得ら
れた新たな検量線の傾きと、傾き記憶部３７に記憶され
ている最初の検量線Ｗ１ の傾きとの差が許容値内にな
るまで校正動作を繰り返し行なう（ステップＳＴ１０）
。
【００３２】このようにこの実施例においては、校正動
作によって得られた新たな検量線Ｗｎ の傾きと、最初
の校正動作によって得られた最初の検量線Ｗｎ の傾き
との差が許容値内かどうかをチェツクするようにしてい
るので、何等かのミスによって校正動作によって得られ
た新たな検量線Ｗｎが正しくないとき、これを検出して
正しい検量線Ｗｎ が得られるまで、校正動作をやり直
させることができ、これによってセンサ３５の測定状態
を常に最適な状態に保つことができる。
作によって得られた新たな検量線Ｗｎ の傾きと、最初
の校正動作によって得られた最初の検量線Ｗｎ の傾き
との差が許容値内かどうかをチェツクするようにしてい
るので、何等かのミスによって校正動作によって得られ
た新たな検量線Ｗｎが正しくないとき、これを検出して
正しい検量線Ｗｎ が得られるまで、校正動作をやり直
させることができ、これによってセンサ３５の測定状態
を常に最適な状態に保つことができる。
【００３３】また、上述した実施例においては、センサ
３５として検量線Ｗ１ 、Ｗｎ の傾きがほぼ一定とな
るセンサを例にとって本発明を説明しているが、センサ
３５が時間の経過とともに検量線Ｗｎ の傾きが変化す
るセンサであるときには、次に述べる手順で校正動作が
正しく行われているかどうかを判定する。
３５として検量線Ｗ１ 、Ｗｎ の傾きがほぼ一定とな
るセンサを例にとって本発明を説明しているが、センサ
３５が時間の経過とともに検量線Ｗｎ の傾きが変化す
るセンサであるときには、次に述べる手順で校正動作が
正しく行われているかどうかを判定する。
【００３４】すなわち、予め設定されている校正タイミ
ングになったとき、分析部３６は図７に示す如く最初に
低濃度校正液タンク２３に貯留されている低濃度校正液
２８を取り込んでこれをセンサ３５に導き、このセンサ
３５から出力される値を新たな低濃度出力値ＰＬｎとし
て記憶した後、前記センサ３５で使用された低濃度校正
液を排液２８として排液タンク３２に排出させる（ステ
ップＳＴ１１）。
ングになったとき、分析部３６は図７に示す如く最初に
低濃度校正液タンク２３に貯留されている低濃度校正液
２８を取り込んでこれをセンサ３５に導き、このセンサ
３５から出力される値を新たな低濃度出力値ＰＬｎとし
て記憶した後、前記センサ３５で使用された低濃度校正
液を排液２８として排液タンク３２に排出させる（ステ
ップＳＴ１１）。
【００３５】次いで、分析部３６は高濃度校正液タンク
２２に貯留されている高濃度校正液２７を取り込んでこ
れをセンサ３５に導き、このセンサ３５から出力される
値を新たな高濃度出力値ＰＨｎとして記憶した後、前記
センサ３５で使用された高濃度校正液２７を排液として
排液タンク３２に排出させる（ステップＳＴ１２）。
２２に貯留されている高濃度校正液２７を取り込んでこ
れをセンサ３５に導き、このセンサ３５から出力される
値を新たな高濃度出力値ＰＨｎとして記憶した後、前記
センサ３５で使用された高濃度校正液２７を排液として
排液タンク３２に排出させる（ステップＳＴ１２）。
【００３６】この後、分析部３６は記憶している新たな
低濃度出力値ＰＬｎと新たな高濃度出力値ＰＨｎとに基
づいて図８に示す如く前記低濃度出力値ＰＬｎと、高濃
度出力値ＰＨｎとを直線で結んで新たな検量線Ｗｎ を
作成するとともに（ステップＳＴ１３）、次の（１）式
に示す演算を行なってこの検量線Ｗｎ の傾きと、傾き
記憶部３７に記憶されている前回の検量線Ｗ（ｎ−１）
の傾きとの差Ｓｎ を求める（ステップＳＴ１４）。
低濃度出力値ＰＬｎと新たな高濃度出力値ＰＨｎとに基
づいて図８に示す如く前記低濃度出力値ＰＬｎと、高濃
度出力値ＰＨｎとを直線で結んで新たな検量線Ｗｎ を
作成するとともに（ステップＳＴ１３）、次の（１）式
に示す演算を行なってこの検量線Ｗｎ の傾きと、傾き
記憶部３７に記憶されている前回の検量線Ｗ（ｎ−１）
の傾きとの差Ｓｎ を求める（ステップＳＴ１４）。
【００３７】
Ｓｎ ＝（ＰＨ（ｎ−１）−ＰＬ（ｎ−１））
−（ＰＨｎ−ＰＬｎ）
…（１）次いで、分析部３６は次の（２）式に示す演算
を行なって傾き記憶部３７に記憶されている前回の検量
線Ｗ（ｎ−１） の傾きと、傾き記憶部３７に記憶され
ている前々回の検量線Ｗ（ｎ−２） の傾きとの差を求
める（ステップＳＴ１５）。
−（ＰＨｎ−ＰＬｎ）
…（１）次いで、分析部３６は次の（２）式に示す演算
を行なって傾き記憶部３７に記憶されている前回の検量
線Ｗ（ｎ−１） の傾きと、傾き記憶部３７に記憶され
ている前々回の検量線Ｗ（ｎ−２） の傾きとの差を求
める（ステップＳＴ１５）。
【００３８】
Ｓ（ｎ−１） ＝（ＰＨ（ｎ−２）−ＰＬ（ｎ
−２））−（ＰＨ（ｎ−１）−ＰＬ（ｎ−１））
…（２）この後、分析部３６は次の（３）式に示す演算
を行なって前記演算によって得られた各傾き差Ｓｎ 、
Ｓ（ｎ−１） の差ｄを求める。
−２））−（ＰＨ（ｎ−１）−ＰＬ（ｎ−１））
…（２）この後、分析部３６は次の（３）式に示す演算
を行なって前記演算によって得られた各傾き差Ｓｎ 、
Ｓ（ｎ−１） の差ｄを求める。
【００３９】
ｄ＝Ｓ（ｎ−１） −Ｓｎ
…（３）次いで、分析部３６はこの差ｄ
が予め設定されている範囲内かどうかをチェツクし（ス
テップＳＴ１６）、この差ｄが前記範囲内であれば、今
回の校正が正しく行われたと判定して新たな検量線Ｗｎ
を傾き記憶部３７に記憶させるとともに、傾き記憶部
３７に記憶されている前々回の検量線Ｗ（ｎ−２） を
削除した後、次の校正が行われるまで、今回の校正動作
によって得れた検量線Ｗｎ を使用して養液３のイオン
濃度を測定する（ステップＳＴ１７、ＳＴ１８）。
…（３）次いで、分析部３６はこの差ｄ
が予め設定されている範囲内かどうかをチェツクし（ス
テップＳＴ１６）、この差ｄが前記範囲内であれば、今
回の校正が正しく行われたと判定して新たな検量線Ｗｎ
を傾き記憶部３７に記憶させるとともに、傾き記憶部
３７に記憶されている前々回の検量線Ｗ（ｎ−２） を
削除した後、次の校正が行われるまで、今回の校正動作
によって得れた検量線Ｗｎ を使用して養液３のイオン
濃度を測定する（ステップＳＴ１７、ＳＴ１８）。
【００４０】また、上述した演算動作によって得られた
差ｄが前記範囲内に入っていなければ（ステップＳＴ１
６）、分析部３６は今回の校正動作に何等かのミスがあ
ったと判定して新たな検量線Ｗｎ を廃棄して校正動作
によって得られた新たな検量線の傾きが上述した条件を
満たすまで校正動作を繰り返し行なう（ステップＳＴ１
９）。
差ｄが前記範囲内に入っていなければ（ステップＳＴ１
６）、分析部３６は今回の校正動作に何等かのミスがあ
ったと判定して新たな検量線Ｗｎ を廃棄して校正動作
によって得られた新たな検量線の傾きが上述した条件を
満たすまで校正動作を繰り返し行なう（ステップＳＴ１
９）。
【００４１】このようにこの実施例においては、校正動
作によって得られる新たな検量線Ｗｎ と前回の検量線
Ｗ（ｎ−１） との傾き差Ｓｎ と、前回の検量線Ｗ（
ｎ−１） と前々回の検量線Ｗ（ｎ−２） との傾き差
Ｓ（ｎ−１） との差ｄが予め設定されている範囲内に
入っているかどうかに基づいて校正動作によって得られ
た新たな検量線Ｗｎ が正しいかどうかを判定するよう
にしているので、センサ３５が時間の経過とともに検量
線Ｗｎ の傾きが変化するセンサの場合、校正動作によ
って校正されたセンサ３５の出力が正しくないとき、こ
れを検出して校正動作をやり直させることができ、これ
によってセンサ３５の測定状態を常に最適な状態に保つ
ことができる。
作によって得られる新たな検量線Ｗｎ と前回の検量線
Ｗ（ｎ−１） との傾き差Ｓｎ と、前回の検量線Ｗ（
ｎ−１） と前々回の検量線Ｗ（ｎ−２） との傾き差
Ｓ（ｎ−１） との差ｄが予め設定されている範囲内に
入っているかどうかに基づいて校正動作によって得られ
た新たな検量線Ｗｎ が正しいかどうかを判定するよう
にしているので、センサ３５が時間の経過とともに検量
線Ｗｎ の傾きが変化するセンサの場合、校正動作によ
って校正されたセンサ３５の出力が正しくないとき、こ
れを検出して校正動作をやり直させることができ、これ
によってセンサ３５の測定状態を常に最適な状態に保つ
ことができる。
【００４２】また、上述した各実施例においては、セン
サ３５によって養液３のイオン濃度を測定する場合を例
にとって本発明を説明しているが、センサ３５によって
養液３の温度やＰＨ、導電率等を測定するときやガス分
析処理、他の分析計等に、本発明を適用するようにして
も良い。
サ３５によって養液３のイオン濃度を測定する場合を例
にとって本発明を説明しているが、センサ３５によって
養液３の温度やＰＨ、導電率等を測定するときやガス分
析処理、他の分析計等に、本発明を適用するようにして
も良い。
【００４３】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、校
正動作によって校正されたセンサの出力が正しくないと
き、これを検出して校正動作をやり直させたりして正し
い校正を行なうことができ、これによってセンサの測定
状態を常に最適な状態に保つことができる。
正動作によって校正されたセンサの出力が正しくないと
き、これを検出して校正動作をやり直させたりして正し
い校正を行なうことができ、これによってセンサの測定
状態を常に最適な状態に保つことができる。
【図１】本発明による分析計の一実施例を使用した養液
栽培システムの一例を示すブロック図である。
栽培システムの一例を示すブロック図である。
【図２】図１に示す分析計の詳細例を示すブロック図で
ある。
ある。
【図３】図１に示す分析計の初期校正例を示すフローチ
ャート図である。
ャート図である。
【図４】図１に示す分析計の各校正例を示すフローチャ
ート図である。
ート図である。
【図５】図３に示す初期校正例の動作を説明する模式図
である。
である。
【図６】図４に示す各校正例の動作を説明する模式図で
ある。
ある。
【図７】本発明による分析計の他の実施例を示すフロー
チャートである。
チャートである。
【図８】図７に示す各校正例の動作を説明する模式図で
ある。
ある。
３ 測定対象となっている物質（養液）２７ 校正
物質（高濃度校正液） ２８ 校正物質（低濃度校正液） ３５ センサ ３６ 傾き差演算部、傾き変化差演算部、判定部（分
析部）
物質（高濃度校正液） ２８ 校正物質（低濃度校正液） ３５ センサ ３６ 傾き差演算部、傾き変化差演算部、判定部（分
析部）
Claims (2)
- 【請求項１】 校正物質をセンサに供給しこのとき前
記センサから出力される値に基づいて検量線を作成した
後、測定対象となっている物質を前記センサに供給しこ
のとき前記センサから出力される値と前記検量線とに基
づいて前記物質の測定対象量を演算する分析計において
、新たな校正動作を行なって得られた新たな検量線の傾
きと、前回以前の校正動作で得られた基準検量線の傾き
との差を演算する傾き差演算部と、この傾き差演算部に
よって得られた差が予め設定されている範囲以下のとき
、校正動作によって得られた新たな検量線を正しい検量
線と判定する判定部と、を備えたことを特徴とする分析
計。 - 【請求項２】 校正物質をセンサに供給しこのとき前
記センサから出力される値に基づいて検量線を作成した
後、測定対象となっている物質を前記センサに供給しこ
のとき前記センサから出力される値と前記検量線とに基
づいて前記物質の測定対象量を演算する分析計において
、新たな校正動作を行なって得られた新たな検量線の傾
き変化と、前回の校正動作で得られた検量線の傾き変化
との差を演算する傾き変化差演算部と、この傾き変化差
演算部によって得られた差が予め設定されている範囲以
下のとき、校正動作によって得られた新たな検量線を正
しい検量線と判定する判定部と、を備えたことを特徴と
する分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3073369A JPH04309856A (ja) | 1991-04-05 | 1991-04-05 | 分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3073369A JPH04309856A (ja) | 1991-04-05 | 1991-04-05 | 分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04309856A true JPH04309856A (ja) | 1992-11-02 |
Family
ID=13516197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3073369A Pending JPH04309856A (ja) | 1991-04-05 | 1991-04-05 | 分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04309856A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6093674A (ja) * | 1983-10-27 | 1985-05-25 | Canon Inc | フレキシブル・デイスク装置 |
| JP2016028246A (ja) * | 2007-12-10 | 2016-02-25 | バイエル・ヘルスケア・エルエルシーＢａｙｅｒ ＨｅａｌｔｈＣａｒｅＬＬＣ | 勾配ベース補正 |
| KR102162817B1 (ko) * | 2020-06-15 | 2020-10-07 | 농업회사법인 상상텃밭 주식회사 | 센서의 자동 캘리브레이션이 가능한 양액 제어 장치 및 방법 |
-
1991
- 1991-04-05 JP JP3073369A patent/JPH04309856A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6093674A (ja) * | 1983-10-27 | 1985-05-25 | Canon Inc | フレキシブル・デイスク装置 |
| JP2016028246A (ja) * | 2007-12-10 | 2016-02-25 | バイエル・ヘルスケア・エルエルシーＢａｙｅｒ ＨｅａｌｔｈＣａｒｅＬＬＣ | 勾配ベース補正 |
| KR102162817B1 (ko) * | 2020-06-15 | 2020-10-07 | 농업회사법인 상상텃밭 주식회사 | 센서의 자동 캘리브레이션이 가능한 양액 제어 장치 및 방법 |
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