JPH04310830A - 分析機器用回路装置 - Google Patents
分析機器用回路装置Info
- Publication number
- JPH04310830A JPH04310830A JP3345215A JP34521591A JPH04310830A JP H04310830 A JPH04310830 A JP H04310830A JP 3345215 A JP3345215 A JP 3345215A JP 34521591 A JP34521591 A JP 34521591A JP H04310830 A JPH04310830 A JP H04310830A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current
- heating
- voltage
- resistor
- analytical instrument
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 94
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 49
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 12
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 10
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 5
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004455 differential thermal analysis Methods 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 239000000112 cooling gas Substances 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000006880 cross-coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 238000000113 differential scanning calorimetry Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000008014 freezing Effects 0.000 description 1
- 238000007710 freezing Methods 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 239000012925 reference material Substances 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/20—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating the development of heat, i.e. calorimetry, e.g. by measuring specific heat, by measuring thermal conductivity
- G01N25/48—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating the development of heat, i.e. calorimetry, e.g. by measuring specific heat, by measuring thermal conductivity on solution, sorption, or a chemical reaction not involving combustion or catalytic oxidation
- G01N25/4806—Details not adapted to a particular type of sample
- G01N25/4826—Details not adapted to a particular type of sample concerning the heating or cooling arrangements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/20—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating the development of heat, i.e. calorimetry, e.g. by measuring specific heat, by measuring thermal conductivity
- G01N25/48—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating the development of heat, i.e. calorimetry, e.g. by measuring specific heat, by measuring thermal conductivity on solution, sorption, or a chemical reaction not involving combustion or catalytic oxidation
- G01N25/4806—Details not adapted to a particular type of sample
- G01N25/4813—Details not adapted to a particular type of sample concerning the measuring means
- G01N25/482—Details not adapted to a particular type of sample concerning the measuring means concerning the temperature responsive elements
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、熱量分析機器に関し、
かつとくにサンプルを加熱しかつその温度を感知するた
めに各サンプル材料と関連付けられる単一素子を備えた
差動走査熱量計に関する。
かつとくにサンプルを加熱しかつその温度を感知するた
めに各サンプル材料と関連付けられる単一素子を備えた
差動走査熱量計に関する。
【０００２】
【従来の技術】差動熱分析（ＤＴＡ）は材料の分析のた
めの古くかつ公知の方法である。基本的には、その方法
はサンプル材料および基準材料に熱を同時に加えること
からなる。サンプル材料が結晶化、溶融、凍結、酸化の
ごとき種々の物理的および化学的変化を実現するとき、
その温度は内部エネルギの変化に影響を及ぼされる。簡
単なＤＴＡにおいては、サンプルと基準との間の温度の
差が記録されそしてこのデータから、サンプルに発生す
る内部エネルギ変化を決定するために計算がなされるこ
とができる。本譲受人のアメリカ合衆国特許第３，２６
３，４８４号に開示されるような、より高性能な機器に
おいては、フイードバツク回路が電流差をもたらすため
に差の温度測定を利用し、その場合に差パワーは内部エ
ネルギの変化を測定するために計算される。
めの古くかつ公知の方法である。基本的には、その方法
はサンプル材料および基準材料に熱を同時に加えること
からなる。サンプル材料が結晶化、溶融、凍結、酸化の
ごとき種々の物理的および化学的変化を実現するとき、
その温度は内部エネルギの変化に影響を及ぼされる。簡
単なＤＴＡにおいては、サンプルと基準との間の温度の
差が記録されそしてこのデータから、サンプルに発生す
る内部エネルギ変化を決定するために計算がなされるこ
とができる。本譲受人のアメリカ合衆国特許第３，２６
３，４８４号に開示されるような、より高性能な機器に
おいては、フイードバツク回路が電流差をもたらすため
に差の温度測定を利用し、その場合に差パワーは内部エ
ネルギの変化を測定するために計算される。
【０００３】上述した特許において教示されるような、
従来の加熱および温度感知装置において、サンプルは抵
抗性加熱素子に電気的エネルギを加えることにより加熱
される一方サンプル温度は独立の抵抗性感知素子により
または熱電対素子により感知される。１つの装置はサン
プル容器を収容すべくなされた比較的小さい炉を使用し
かつサンプル容器に関連して炉内に位置決めされた抵抗
性加熱および温度感知素子を含んでいる。他の形におい
て、温度感知素子は炉の近くに位置決めされるが一般的
には炉から離して間隔が置かれる熱電対からなる。
従来の加熱および温度感知装置において、サンプルは抵
抗性加熱素子に電気的エネルギを加えることにより加熱
される一方サンプル温度は独立の抵抗性感知素子により
または熱電対素子により感知される。１つの装置はサン
プル容器を収容すべくなされた比較的小さい炉を使用し
かつサンプル容器に関連して炉内に位置決めされた抵抗
性加熱および温度感知素子を含んでいる。他の形におい
て、温度感知素子は炉の近くに位置決めされるが一般的
には炉から離して間隔が置かれる熱電対からなる。
【０００４】また、本譲受人のアメリカ合衆国特許第３
，５２７，９２３号は加熱および感知用単一素子の使用
を開示する。特別な回路は素子電圧とプリセツト電圧を
感知する間で交替し、そして素子の平均加熱電流を調整
するためにこれらの電圧間の差を表す方形波をフイード
バツクする。
，５２７，９２３号は加熱および感知用単一素子の使用
を開示する。特別な回路は素子電圧とプリセツト電圧を
感知する間で交替し、そして素子の平均加熱電流を調整
するためにこれらの電圧間の差を表す方形波をフイード
バツクする。
【０００５】
【発明が解決すべき課題】上記アメリカ合衆国特許第３
，２６３，４８４号の装置はヒーターセンサ熱的遅れ、
電気漏洩、比較的大きなサンプルホルダ容量、炉の製造
の困難、多数の電気リード線、および関連の回路のかな
りの複雑さおよびコストをを含んでいる１またはそれ以
上の欠点を有している。
，２６３，４８４号の装置はヒーターセンサ熱的遅れ、
電気漏洩、比較的大きなサンプルホルダ容量、炉の製造
の困難、多数の電気リード線、および関連の回路のかな
りの複雑さおよびコストをを含んでいる１またはそれ以
上の欠点を有している。
【０００６】一般に、機器において試験されるかまたは
比較される各サンプル２つの抵抗素子を有するカツプま
たはるつぼの中に置かれる。一方の素子はサンプルを加
熱するためにそれに通される加熱電流を有し、加熱電流
は設定点との比較により制御される。第１と同一の型の
抵抗コイルであつても良い他方の抵抗素子は温度による
抵抗の変化の測定により温度を感知するために利用され
る。
比較される各サンプル２つの抵抗素子を有するカツプま
たはるつぼの中に置かれる。一方の素子はサンプルを加
熱するためにそれに通される加熱電流を有し、加熱電流
は設定点との比較により制御される。第１と同一の型の
抵抗コイルであつても良い他方の抵抗素子は温度による
抵抗の変化の測定により温度を感知するために利用され
る。
【０００７】アメリカ合衆国特許第３，５２７，９２３
号の回路は２つのサンプル用の素子間の温度差を感知し
かつそれを利用するのに適合されない。
号の回路は２つのサンプル用の素子間の温度差を感知し
かつそれを利用するのに適合されない。
【０００８】本発明の目的は分析機器において各サンプ
ル材料用の単一抵抗素子により同時に熱を発生しかつ温
度を測定するための新規な回路装置を提供することにあ
る。他の目的は２つの抵抗素子に熱を発生するように電
流を供給するための新規な回路装置を提供することにあ
り、各素子は個別のサンプル材料に関連付けられ、そし
て同時に素子間の差の温度を表す差の電圧を測定する。 さらに他の目的は加熱電流を制御して温度差をゼロにし
かつ必要とされる増分パワーを呈するように差の温度の
フイードバツクを提供することにある。追加の目的は平
均加熱電流を調整するように平均温度のフイードバツク
を追加的に提供することにある。さらに他の目的は非常
に高いインピーダンスで電流を供給するための改良され
た回路を提供することにある。
ル材料用の単一抵抗素子により同時に熱を発生しかつ温
度を測定するための新規な回路装置を提供することにあ
る。他の目的は２つの抵抗素子に熱を発生するように電
流を供給するための新規な回路装置を提供することにあ
り、各素子は個別のサンプル材料に関連付けられ、そし
て同時に素子間の差の温度を表す差の電圧を測定する。 さらに他の目的は加熱電流を制御して温度差をゼロにし
かつ必要とされる増分パワーを呈するように差の温度の
フイードバツクを提供することにある。追加の目的は平
均加熱電流を調整するように平均温度のフイードバツク
を追加的に提供することにある。さらに他の目的は非常
に高いインピーダンスで電流を供給するための改良され
た回路を提供することにある。
【０００９】前記および他の目的は温度に応答する素子
抵抗を有する単一抵抗素子を備えた回路装置により達成
される。この回路は抵抗素子中に第１周波数（直流のよ
うな）において加熱電流をもたらす第１電流手段、抵抗
素子に応答する感知電圧を誘起すべく抵抗素子中に第２
周波数（交流のような）において感知電流をもたらす第
２電流手段、および抵抗素子を横切る電圧を測定する測
定手段からなる。感知電流は加熱電流と同時にもたらさ
れる。測定手段は感知電圧を示す濾過された信号を発生
すべく第１周波数を濾過する濾過手段を含んでいる。そ
れにより濾過された信号が抵抗素子の温度の測定を提供
する。抵抗素子がサンプル材料に近接するならば、加熱
電流はサンプル材料を加熱しかつ濾過された信号が同時
にサンプル材料の温度の測定を提供する。
抵抗を有する単一抵抗素子を備えた回路装置により達成
される。この回路は抵抗素子中に第１周波数（直流のよ
うな）において加熱電流をもたらす第１電流手段、抵抗
素子に応答する感知電圧を誘起すべく抵抗素子中に第２
周波数（交流のような）において感知電流をもたらす第
２電流手段、および抵抗素子を横切る電圧を測定する測
定手段からなる。感知電流は加熱電流と同時にもたらさ
れる。測定手段は感知電圧を示す濾過された信号を発生
すべく第１周波数を濾過する濾過手段を含んでいる。そ
れにより濾過された信号が抵抗素子の温度の測定を提供
する。抵抗素子がサンプル材料に近接するならば、加熱
電流はサンプル材料を加熱しかつ濾過された信号が同時
にサンプル材料の温度の測定を提供する。
【００１０】２つのサンプル材料を加熱しかつ比較する
ための実施例において、回路装置は各々温度に応答する
素子抵抗を有する１対の抵抗素子、前記各抵抗素子中に
第１周波数において個別の加熱電流をもたらす第１電流
手段、前記抵抗素子に応答する感知電圧を各抵抗素子に
誘起すべく前記各抵抗素子中に第２周波数において個別
の感知電流をもたらす第２電流手段、および前記感知電
圧間の電圧差を測定する測定手段からなる。感知電流が
前記加熱電流と同時にもたらされる。前記測定手段が前
記電圧差を示す濾過された信号を発生すべく前記第１周
波数を濾過する濾過手段を含んでいる。それにより濾過
された信号が前記抵抗素子と関連のサンプル材料との間
の差の温度の測定を提供する。サンプル材料間にかつそ
れゆえ抵抗素子間に、それにより濾過された信号を発生
することにおいて電圧差をもたらすように、加熱の差が
あるならば、第１電流手段は加熱の差を補正しかつそれ
により電圧差を減少するために、加熱電流間の対応する
電流差を発生するために濾過された信号を受信する。
ための実施例において、回路装置は各々温度に応答する
素子抵抗を有する１対の抵抗素子、前記各抵抗素子中に
第１周波数において個別の加熱電流をもたらす第１電流
手段、前記抵抗素子に応答する感知電圧を各抵抗素子に
誘起すべく前記各抵抗素子中に第２周波数において個別
の感知電流をもたらす第２電流手段、および前記感知電
圧間の電圧差を測定する測定手段からなる。感知電流が
前記加熱電流と同時にもたらされる。前記測定手段が前
記電圧差を示す濾過された信号を発生すべく前記第１周
波数を濾過する濾過手段を含んでいる。それにより濾過
された信号が前記抵抗素子と関連のサンプル材料との間
の差の温度の測定を提供する。サンプル材料間にかつそ
れゆえ抵抗素子間に、それにより濾過された信号を発生
することにおいて電圧差をもたらすように、加熱の差が
あるならば、第１電流手段は加熱の差を補正しかつそれ
により電圧差を減少するために、加熱電流間の対応する
電流差を発生するために濾過された信号を受信する。
【００１１】好適な実施例において、感知電圧は平均さ
れかつ誤差信号を発生するために基準信号と比較される
フイードバツク信号を発生するために第１周波数から濾
過される。電流源は次いで加熱電流をもたらすように誤
差信号および濾過された信号を受信する。加熱電流の一
方がベース電流および正の電流増分の合計であり、加熱
電流の他方がベース電流および負の電流増分の合計であ
る。ベース電流は誤差信号を表し、そして各々の電流増
分が大きさにおいて電流差の半分に等しい。
れかつ誤差信号を発生するために基準信号と比較される
フイードバツク信号を発生するために第１周波数から濾
過される。電流源は次いで加熱電流をもたらすように誤
差信号および濾過された信号を受信する。加熱電流の一
方がベース電流および正の電流増分の合計であり、加熱
電流の他方がベース電流および負の電流増分の合計であ
る。ベース電流は誤差信号を表し、そして各々の電流増
分が大きさにおいて電流差の半分に等しい。
【００１２】装置さらに加熱の差を補正するのに利用さ
れる増分パワーの測定として、電流差の乗算積および加
熱電圧の平均を計算するための手段を含んでいる。好ま
しくは第１電流手段は各加熱電流用の高インピーダンス
電流源からなる。特別な態様において、電流源は、各関
連の抵抗素子に関して、電圧／電流変換器および特別な
関係を有する関連の抵抗器からなる。変換器は電流出力
端子、それから延在する第１入力抵抗器を備えた正の入
力端子、およびそれから延在する第２入力抵抗器を備え
た負の入力端子を有し、前記第１および第２入力抵抗器
は実質上等しい。制御電圧は第１および第２入力抵抗器
を横切って印加される。モニタ抵抗器が出力端子と電流
出力点との間に接続される。第１フイードバツク抵抗器
は出力端子と負の入力端子との間に接続される。そして
第２フイードバツク抵抗器が出力点と正の入力端子との
間に接続される。前記第１および第２フイードバツク抵
抗器は実質上等しい。前記フイードバツク抵抗器および
前記入力抵抗器は各々前記モニタ抵抗器より実質上大き
い。電流出力点は制御電圧に比例して電流をその中にも
たらすように関連の素子抵抗に、または他の負荷に接続
される。
れる増分パワーの測定として、電流差の乗算積および加
熱電圧の平均を計算するための手段を含んでいる。好ま
しくは第１電流手段は各加熱電流用の高インピーダンス
電流源からなる。特別な態様において、電流源は、各関
連の抵抗素子に関して、電圧／電流変換器および特別な
関係を有する関連の抵抗器からなる。変換器は電流出力
端子、それから延在する第１入力抵抗器を備えた正の入
力端子、およびそれから延在する第２入力抵抗器を備え
た負の入力端子を有し、前記第１および第２入力抵抗器
は実質上等しい。制御電圧は第１および第２入力抵抗器
を横切って印加される。モニタ抵抗器が出力端子と電流
出力点との間に接続される。第１フイードバツク抵抗器
は出力端子と負の入力端子との間に接続される。そして
第２フイードバツク抵抗器が出力点と正の入力端子との
間に接続される。前記第１および第２フイードバツク抵
抗器は実質上等しい。前記フイードバツク抵抗器および
前記入力抵抗器は各々前記モニタ抵抗器より実質上大き
い。電流出力点は制御電圧に比例して電流をその中にも
たらすように関連の素子抵抗に、または他の負荷に接続
される。
【００１３】以下に、本発明の実施例を添付図面に基づ
き詳細に説明する。
き詳細に説明する。
【００１４】
【実施例】図１は、本発明を組み込んでいる、差動走査
熱量計（ＤＳＣ）、例えば、パーキン−エルマーＤＳＣ
−７型の熱量計のごとき分析機器の１部分１０を示す。 銀または他の適切な熱−吸収材料からなる加熱ブロツク
１２が外部で加熱コイルおよび加熱ブロツク１２を通っ
て流れる冷却ガス用通路１６により公称温度に維持され
る。同様な材料からなるカバー１８がブロツク上に載置
し、かつ封入された室２０が酸化の、不活性または他の
雰囲気を含むことができる。支持ロツド２２は加熱ブロ
ツク１２の外部の直線アクチユエータ２４または他の支
持体から室内に垂直に延在し、そして室内の環境に抗す
るプラチナまたは他の適切な材料からなるプラツトフオ
ーム２６を保持する。１対のサンプルカツプ２８，３０
がプラツトフオーム２６に取り付けられる。サンプル材
料はカツプ内に置かれ、一方のサンプル３２は一般に標
準でありかつ他方のサンプル３４は標準の熱的特性と比
較されるような幾らかの熱的特性を有する。上記特徴は
ＤＳＣに関して一般に月並みである。
熱量計（ＤＳＣ）、例えば、パーキン−エルマーＤＳＣ
−７型の熱量計のごとき分析機器の１部分１０を示す。 銀または他の適切な熱−吸収材料からなる加熱ブロツク
１２が外部で加熱コイルおよび加熱ブロツク１２を通っ
て流れる冷却ガス用通路１６により公称温度に維持され
る。同様な材料からなるカバー１８がブロツク上に載置
し、かつ封入された室２０が酸化の、不活性または他の
雰囲気を含むことができる。支持ロツド２２は加熱ブロ
ツク１２の外部の直線アクチユエータ２４または他の支
持体から室内に垂直に延在し、そして室内の環境に抗す
るプラチナまたは他の適切な材料からなるプラツトフオ
ーム２６を保持する。１対のサンプルカツプ２８，３０
がプラツトフオーム２６に取り付けられる。サンプル材
料はカツプ内に置かれ、一方のサンプル３２は一般に標
準でありかつ他方のサンプル３４は標準の熱的特性と比
較されるような幾らかの熱的特性を有する。上記特徴は
ＤＳＣに関して一般に月並みである。
【００１５】本発明によれば、各サンプルカツプは関連
のサンプルに近接して単一の専用の抵抗素子３６，３８
を有し、各素子はサンプル材料を加熱しかつその温度を
測定するために作用する。各素子は温度により変化する
、すなわち、温度に応答する素子抵抗を有する。単一素
子は通常のＤＳＣにおいて各サンプル用の２つのかかる
素子に代えて使用される。しかしながら、各素子は、代
表的には０°Ｃないし７００°Ｃの温度範囲にわたつて
約１０オームから３５オームまでの範囲である、通常の
機器に使用される平らなプラチナコイルのごとき抵抗素
子からなる同一の型であつても良い。素子からのリード
線４０は支持ロツド２２を通って下方に供給されかつ回
路４２に引き出される。
のサンプルに近接して単一の専用の抵抗素子３６，３８
を有し、各素子はサンプル材料を加熱しかつその温度を
測定するために作用する。各素子は温度により変化する
、すなわち、温度に応答する素子抵抗を有する。単一素
子は通常のＤＳＣにおいて各サンプル用の２つのかかる
素子に代えて使用される。しかしながら、各素子は、代
表的には０°Ｃないし７００°Ｃの温度範囲にわたつて
約１０オームから３５オームまでの範囲である、通常の
機器に使用される平らなプラチナコイルのごとき抵抗素
子からなる同一の型であつても良い。素子からのリード
線４０は支持ロツド２２を通って下方に供給されかつ回
路４２に引き出される。
【００１６】図２は本発明の回路４２を示す回路図であ
る。フリツジ回路４４は素子抵抗に整合した抵抗素子３
６，３８により部分的に形成される。５００オームのご
とき、素子より非常に高い抵抗の１対の整合した直列抵
抗器４６，４８は２つの分圧器５０，５２を形成するた
めに素子と直列に接続され、これらの分圧器はブリツジ
を形成するために並列に接続される。高い抵抗のバラン
スポテンシヨメータ５４はこれらの抵抗器間で好都合に
橋絡される。電圧源６６と組み合わせて、ブリツジは各
素子を通して感知電流を印加するための電流手段６７を
構成する。
る。フリツジ回路４４は素子抵抗に整合した抵抗素子３
６，３８により部分的に形成される。５００オームのご
とき、素子より非常に高い抵抗の１対の整合した直列抵
抗器４６，４８は２つの分圧器５０，５２を形成するた
めに素子と直列に接続され、これらの分圧器はブリツジ
を形成するために並列に接続される。高い抵抗のバラン
スポテンシヨメータ５４はこれらの抵抗器間で好都合に
橋絡される。電圧源６６と組み合わせて、ブリツジは各
素子を通して感知電流を印加するための電流手段６７を
構成する。
【００１７】各対の素子に関して選択された加熱電流が
それぞれ直列抵抗と抵抗素子との間で第１電流手段５６
からライン５８，６０を介して関連の接続点６２，６４
に向けられる。各個別の加熱電流はその関連の抵抗素子
３６，３８に熱を発生し、該抵抗素子３６，３８はそれ
によりカツプ（図１）内の関連のサンプル材料３２，３
４に熱を発生する。加熱電流は好都合には実質上ゼロで
ある第１周波数においてもたらされる、すなわち直流電
流が好ましくは加熱に使用される。これらの電流はサン
プル材料用の主温度制御を構成する。平均サンプルホル
ダ温度の通常のフイードバツクは、外方コイル１４およ
び通路１６内の冷却ガスを介して、追随するようにブロ
ツク温度を強制する。
それぞれ直列抵抗と抵抗素子との間で第１電流手段５６
からライン５８，６０を介して関連の接続点６２，６４
に向けられる。各個別の加熱電流はその関連の抵抗素子
３６，３８に熱を発生し、該抵抗素子３６，３８はそれ
によりカツプ（図１）内の関連のサンプル材料３２，３
４に熱を発生する。加熱電流は好都合には実質上ゼロで
ある第１周波数においてもたらされる、すなわち直流電
流が好ましくは加熱に使用される。これらの電流はサン
プル材料用の主温度制御を構成する。平均サンプルホル
ダ温度の通常のフイードバツクは、外方コイル１４およ
び通路１６内の冷却ガスを介して、追随するようにブロ
ツク温度を強制する。
【００１８】第２電流手段６７において、ブリツジ電圧
供給電圧源６６は並列の組み合わせ抵抗を横切って第２
周波数においてライン６９上に電圧を印加する。この周
波数は関連の信号が互いから濾過されるように第１周波
数より顕著に異なる。ゼロ（直流電流）である第１周波
数の好適な場合において、第２周波数は少なくとも１０
０Ｈｚ、例えば６ＫＨｚにすべきである。交流波形が正
弦波または図示のごとく、方形波のごとき好都合な波形
である。印加された電圧は抵抗素子３６，３８の各々を
横切って感知電圧を誘起する感知電流をもたらす。十分
に高い直列抵抗４６，４８により、各抵抗素子３６，３
８に対応する感知電流が発生され、この感知電流は、好
ましくは、抵抗素子の加熱に顕著に寄与しないように加
熱電流より実質上少ない。代表的な値は各加熱電流に関
して１００ｍＡで、かつ各感知電流に関して５ｍＡであ
る。
供給電圧源６６は並列の組み合わせ抵抗を横切って第２
周波数においてライン６９上に電圧を印加する。この周
波数は関連の信号が互いから濾過されるように第１周波
数より顕著に異なる。ゼロ（直流電流）である第１周波
数の好適な場合において、第２周波数は少なくとも１０
０Ｈｚ、例えば６ＫＨｚにすべきである。交流波形が正
弦波または図示のごとく、方形波のごとき好都合な波形
である。印加された電圧は抵抗素子３６，３８の各々を
横切って感知電圧を誘起する感知電流をもたらす。十分
に高い直列抵抗４６，４８により、各抵抗素子３６，３
８に対応する感知電流が発生され、この感知電流は、好
ましくは、抵抗素子の加熱に顕著に寄与しないように加
熱電流より実質上少ない。代表的な値は各加熱電流に関
して１００ｍＡで、かつ各感知電流に関して５ｍＡであ
る。
【００１９】結合コンデンサ６８および変圧器７０は直
流を高帯域濾過しかつ２つの接続点６２，６４の間に交
流電流差を通すようにこれらの接続点の間に取着され、
差は抵抗素子を横切る感知電圧間の差である。通常の増
幅器および復調器ユニツト７２が第２周波数において濾
過された電圧を受信しかつ増幅し、そして差の電圧に比
例するライン７４上の濾過された（直流）信号Ｔｄ を
供給する。
流を高帯域濾過しかつ２つの接続点６２，６４の間に交
流電流差を通すようにこれらの接続点の間に取着され、
差は抵抗素子を横切る感知電圧間の差である。通常の増
幅器および復調器ユニツト７２が第２周波数において濾
過された電圧を受信しかつ増幅し、そして差の電圧に比
例するライン７４上の濾過された（直流）信号Ｔｄ を
供給する。
【００２０】増幅器／復調器ユニツト７２は上述したモ
デルＤＳＣ−７熱量計において同様な目的に使用される
同じ型のユニツトであつても良い。抵抗素子３６，３８
の抵抗が一般にそれらのそれぞれの温度に比例するので
、このユニツトからの濾過された信号Ｔｄ は抵抗素子
間の、かつそれにより近接サンプル材料間の温度差を示
する。とくに、幾つかの差の加熱源が、材料の発熱また
は吸熱反応のごとき、サンプルの一方に存在するならば
、これは温度差として表される。出発ライン７６は温度
差の読み取りを供給する。
デルＤＳＣ−７熱量計において同様な目的に使用される
同じ型のユニツトであつても良い。抵抗素子３６，３８
の抵抗が一般にそれらのそれぞれの温度に比例するので
、このユニツトからの濾過された信号Ｔｄ は抵抗素子
間の、かつそれにより近接サンプル材料間の温度差を示
する。とくに、幾つかの差の加熱源が、材料の発熱また
は吸熱反応のごとき、サンプルの一方に存在するならば
、これは温度差として表される。出発ライン７６は温度
差の読み取りを供給する。
【００２１】フイルタコンデンサ８０および高い接地抵
抗器８２の後に他の同様な増幅器／復調器ユニツト７８
が直流を濾過しかつ抵抗素子の平均温度Ｔ ａｖ を表
すライン８２上に信号を供給するのに利用される。この
場合に平均電圧は、接続点６２’，６４’（それぞれ点
６２，６４に等しい）から取られる、１対の整合抵抗器
８６の接触点８４において、例えば１Ｋで検出される。
抗器８２の後に他の同様な増幅器／復調器ユニツト７８
が直流を濾過しかつ抵抗素子の平均温度Ｔ ａｖ を表
すライン８２上に信号を供給するのに利用される。この
場合に平均電圧は、接続点６２’，６４’（それぞれ点
６２，６４に等しい）から取られる、１対の整合抵抗器
８６の接触点８４において、例えば１Ｋで検出される。
【００２２】ブリツジ供給および増幅器／復調器回路間
のライン８８は位相感知復調器用周波数を通常のように
結合するのに接続される。
のライン８８は位相感知復調器用周波数を通常のように
結合するのに接続される。
【００２３】上記回路は２つの抵抗素子を有する差動熱
量計に向けられる。理解されることは、本発明の概念が
また、例えば単一サンプル材料が加熱されかつ監視され
る場合に、単一の素子により利用されることができると
いうことである。単一加熱電流のみが必要とされ、そし
てブリツジ４４（図１）の一側と実質上同一の分圧回路
に供給される。交流感知電圧は好ましくは直流である加
熱電流の周波数の濾過により、抵抗素子を横切って測定
される。濾過される信号は抵抗素子およびその関連のサ
ンプル材料の温度の測定である。信号は加熱電流を調整
して、例えば、一定の温度を維持するように、フイード
バツクされることができる。
量計に向けられる。理解されることは、本発明の概念が
また、例えば単一サンプル材料が加熱されかつ監視され
る場合に、単一の素子により利用されることができると
いうことである。単一加熱電流のみが必要とされ、そし
てブリツジ４４（図１）の一側と実質上同一の分圧回路
に供給される。交流感知電圧は好ましくは直流である加
熱電流の周波数の濾過により、抵抗素子を横切って測定
される。濾過される信号は抵抗素子およびその関連のサ
ンプル材料の温度の測定である。信号は加熱電流を調整
して、例えば、一定の温度を維持するように、フイード
バツクされることができる。
【００２４】平均直流電圧Ｖ ｄｃ は接続点６２’６
４’から同様な対の整合抵抗器９４間の点９６から取ら
れる。交流は接地へのコンデンサ１０２からなる低帯域
フイルタにより濾過される。この電圧は以下に続いて説
明されるような差のパワーの計算のために使用される。
４’から同様な対の整合抵抗器９４間の点９６から取ら
れる。交流は接地へのコンデンサ１０２からなる低帯域
フイルタにより濾過される。この電圧は以下に続いて説
明されるような差のパワーの計算のために使用される。
【００２５】電流手段５６は単に調整電圧源であっても
良い。しかしながら、好適な実施例において、高インピ
ーダンス電流コントローラが加熱および感知作用を分離
する、すなわち加熱および感知電流と関連の回路との間
の干渉を阻止するさらに他の手段として利用される。電
流コントローラの目的は、平均温度制御のために、各抵
抗素子に平均またはベース加熱電流をフイードバツクに
より制御し、かつまたサンプル材料間の熱の差により発
生される抵抗素子の温度間の差をゼロにするのに必要と
される電流差を供給することである。
良い。しかしながら、好適な実施例において、高インピ
ーダンス電流コントローラが加熱および感知作用を分離
する、すなわち加熱および感知電流と関連の回路との間
の干渉を阻止するさらに他の手段として利用される。電
流コントローラの目的は、平均温度制御のために、各抵
抗素子に平均またはベース加熱電流をフイードバツクに
より制御し、かつまたサンプル材料間の熱の差により発
生される抵抗素子の温度間の差をゼロにするのに必要と
される電流差を供給することである。
【００２６】フイードバツクループ９２により、平均温
度を示す平均電圧信号Ｔ ａｖ が電流コントローラ５
６の制御部分１０５に抵抗器１０３を介して印加される
。より少し好ましくは、平均直流電圧Ｖ ｄｃ がこの
フイードバツクに使用されても良い。基準直流信号電圧
Ｖｒ は平均温度を保持するかまたはそれを変化するの
に所望されるように設定またはプログラムされるコント
ローラ１０４から取られる。このコントローラは回路の
非直線性を補正するために必要な範囲にプログラムされ
た非直線性を組み込むことができる。基準電圧Ｖｒ お
よび平均温度信号Ｔ ａｖ は誤差電圧Ｖｅを発生する
ために２００Ｋのフイードバツク１０８と演算増幅器１
０６により比較される。誤差信号は正であり、例えばＶ
ｒ は約２ないし８ボルトでかつＴ ａｖ は同様であ
るがより大きい。
度を示す平均電圧信号Ｔ ａｖ が電流コントローラ５
６の制御部分１０５に抵抗器１０３を介して印加される
。より少し好ましくは、平均直流電圧Ｖ ｄｃ がこの
フイードバツクに使用されても良い。基準直流信号電圧
Ｖｒ は平均温度を保持するかまたはそれを変化するの
に所望されるように設定またはプログラムされるコント
ローラ１０４から取られる。このコントローラは回路の
非直線性を補正するために必要な範囲にプログラムされ
た非直線性を組み込むことができる。基準電圧Ｖｒ お
よび平均温度信号Ｔ ａｖ は誤差電圧Ｖｅを発生する
ために２００Ｋのフイードバツク１０８と演算増幅器１
０６により比較される。誤差信号は正であり、例えばＶ
ｒ は約２ないし８ボルトでかつＴ ａｖ は同様であ
るがより大きい。
【００２７】差の温度を示す濾過された信号電圧Ｔｄ
はまた制御手段１０５にライン７４上でフイードバツク
される。誤差電圧Ｖｅ および濾過された信号Ｔｄ は
ともに付加されかつライン１１２上に第１信号−Ｖｅ
−Ｔｄ を発生するように演算増幅器１１０により反転
される。この後者の信号に再び誤差信号Ｖｅ が付加さ
れかつ組み合わせはライン１１６上に第２信号−Ｖｅ
＋Ｔｄ を発生するように演算増幅器１１４により反転
される。これらの演算増幅器中の抵抗器「Ｒ」は図に示
されるような比率により選択され、Ｒは適宜に１０Ｋで
ある。第１および第２信号はそれぞれの抵抗性加熱素子
にライン５８，６０を介して比例の、変調された加熱電
流をもたらすようにそれぞれの電流源１１８，１２０に
供給される。高いインピーダンス電流制御が電圧制御を
介して好ましいので、１対の定電流回路は２つの信号か
らのそれぞれの入力を備えた電流源１１８，１１２に利
用される。
はまた制御手段１０５にライン７４上でフイードバツク
される。誤差電圧Ｖｅ および濾過された信号Ｔｄ は
ともに付加されかつライン１１２上に第１信号−Ｖｅ
−Ｔｄ を発生するように演算増幅器１１０により反転
される。この後者の信号に再び誤差信号Ｖｅ が付加さ
れかつ組み合わせはライン１１６上に第２信号−Ｖｅ
＋Ｔｄ を発生するように演算増幅器１１４により反転
される。これらの演算増幅器中の抵抗器「Ｒ」は図に示
されるような比率により選択され、Ｒは適宜に１０Ｋで
ある。第１および第２信号はそれぞれの抵抗性加熱素子
にライン５８，６０を介して比例の、変調された加熱電
流をもたらすようにそれぞれの電流源１１８，１２０に
供給される。高いインピーダンス電流制御が電圧制御を
介して好ましいので、１対の定電流回路は２つの信号か
らのそれぞれの入力を備えた電流源１１８，１１２に利
用される。
【００２８】本発明の好適な実施例によれば、図３に示
された型の変更されたトランジスタ回路が回路１１８お
よび１２０に利用される。そのエミツタに正の電圧を有
するＰＮＰトランジスタ１２２はそのコレクタに約１オ
ームのモニタ抵抗器１２４を有する。トランジスタベー
スへの入力は演算増幅器１２６から抵抗器１３０を介し
てエミツタ電圧によりバイアスされる５Ｋの抵抗器１２
８を介して出力される。演算増幅器の各入力はベース端
子（一般には接地）への任意の抵抗器１３３を有し、こ
れらは整合抵抗器である。（図２のライン１１２または
１１６からの）、Ｖ ｉｎ として図３に示される第１
または第２信号は第１入力抵抗器１３２を介して演算増
幅器の反転入力に印加され、そして演算増幅器の非反転
入力はさらに第１入力抵抗器１３２に整合される第２入
力抵抗器１３４を通して接地される。この回路のより一
般的な使用のために、第２入力は直接接地される必要は
なく、そしてＶ ｉｎ は入力抵抗を横切って印加され
、かかる場合においてＶ ｉｎ は第１および第２入力
抵抗器に接地に対して印加されるそれぞれの電圧間の差
であつても良い。モニタ抵抗器１２４のトランジスタの
コレクタ側は第１フイードバツク抵抗器１３６を介して
演算増幅器の非反転入力に接続され、そしてモニタ抵抗
器の他側は同一値（約０．１％）の第２フイードバツク
抵抗器１３８を介して反転入力に接続される。かくして
、モニタを横切る電圧が測定されかつ演算増幅器入力を
横切って正確に印加される。
された型の変更されたトランジスタ回路が回路１１８お
よび１２０に利用される。そのエミツタに正の電圧を有
するＰＮＰトランジスタ１２２はそのコレクタに約１オ
ームのモニタ抵抗器１２４を有する。トランジスタベー
スへの入力は演算増幅器１２６から抵抗器１３０を介し
てエミツタ電圧によりバイアスされる５Ｋの抵抗器１２
８を介して出力される。演算増幅器の各入力はベース端
子（一般には接地）への任意の抵抗器１３３を有し、こ
れらは整合抵抗器である。（図２のライン１１２または
１１６からの）、Ｖ ｉｎ として図３に示される第１
または第２信号は第１入力抵抗器１３２を介して演算増
幅器の反転入力に印加され、そして演算増幅器の非反転
入力はさらに第１入力抵抗器１３２に整合される第２入
力抵抗器１３４を通して接地される。この回路のより一
般的な使用のために、第２入力は直接接地される必要は
なく、そしてＶ ｉｎ は入力抵抗を横切って印加され
、かかる場合においてＶ ｉｎ は第１および第２入力
抵抗器に接地に対して印加されるそれぞれの電圧間の差
であつても良い。モニタ抵抗器１２４のトランジスタの
コレクタ側は第１フイードバツク抵抗器１３６を介して
演算増幅器の非反転入力に接続され、そしてモニタ抵抗
器の他側は同一値（約０．１％）の第２フイードバツク
抵抗器１３８を介して反転入力に接続される。かくして
、モニタを横切る電圧が測定されかつ演算増幅器入力を
横切って正確に印加される。
【００２９】入力、フイードバツクおよび（使用される
ならば）接地抵抗器はモニタ抵抗器１２４の値ＲＭ よ
り非常に高くすべきである。例えばフイードバツク抵抗
器ＲＦ は各々１０Ｋでありそして入力抵抗器ＲＩはＲ
Ｆ の半分である。モニタ１２４からの電流出力点１４
２において負荷抵抗器１４０の出力電流Ｉは式Ｉ／Ｖ
ｉｎ ＝ＲＦ ／ＲＭ ＲＩ から決定される。したが
つてＶ ｉｎ は制御電圧として作用する。負荷抵抗器
１４０は、この場合に、抵抗素子３６または３８（図２
）のいずれかである。
ならば）接地抵抗器はモニタ抵抗器１２４の値ＲＭ よ
り非常に高くすべきである。例えばフイードバツク抵抗
器ＲＦ は各々１０Ｋでありそして入力抵抗器ＲＩはＲ
Ｆ の半分である。モニタ１２４からの電流出力点１４
２において負荷抵抗器１４０の出力電流Ｉは式Ｉ／Ｖ
ｉｎ ＝ＲＦ ／ＲＭ ＲＩ から決定される。したが
つてＶ ｉｎ は制御電圧として作用する。負荷抵抗器
１４０は、この場合に、抵抗素子３６または３８（図２
）のいずれかである。
【００３０】ボツクス１４４（点線）内の回路部分は約
１００Ｋの代表的なインピーダンスを有する在来の高イ
ンピーダンス電流源である。本発明の実施例により上述
された図３の関連の回路は１００ＫＨｚまでの周波数に
おいても同様にメグオームにインピーダンスを上昇する
。非常に高いインピーダンスは、加熱および感知作用の
クロスカップリングを最小にするために、本発明のたん
いつ素子加熱／感知態様に好都合である。
１００Ｋの代表的なインピーダンスを有する在来の高イ
ンピーダンス電流源である。本発明の実施例により上述
された図３の関連の回路は１００ＫＨｚまでの周波数に
おいても同様にメグオームにインピーダンスを上昇する
。非常に高いインピーダンスは、加熱および感知作用の
クロスカップリングを最小にするために、本発明のたん
いつ素子加熱／感知態様に好都合である。
【００３１】図３のより広い態様において、ボックス１
４４は通常のまたは所望の電圧／電流変換器、例えば示
されたトランジスタ−演算増幅器の組み合わせに代わる
他の高インピーダンス源を示す。かくして、変換器１４
４に関して広範に、正の入力１４６（反転演算増幅器入
力によつて図３において達成される）、負の入力１４８
（非反転入力によつて達成される）およびモニタ１２４
への電流出力点１５０がある。より簡単な変更は変換器
用の簡単な演算増幅器を利用することができ、かかる場
合において演算増幅器の非反転入力は変換器の正の入力
に、そして反転入力は負の入力に利用される。
４４は通常のまたは所望の電圧／電流変換器、例えば示
されたトランジスタ−演算増幅器の組み合わせに代わる
他の高インピーダンス源を示す。かくして、変換器１４
４に関して広範に、正の入力１４６（反転演算増幅器入
力によつて図３において達成される）、負の入力１４８
（非反転入力によつて達成される）およびモニタ１２４
への電流出力点１５０がある。より簡単な変更は変換器
用の簡単な演算増幅器を利用することができ、かかる場
合において演算増幅器の非反転入力は変換器の正の入力
に、そして反転入力は負の入力に利用される。
【００３２】点１４２を介してのモニタ電流は対応する
抵抗素子に供給される加熱電流である。一方の抵抗素子
に印加される電流は電流差に半分にかわえたベース電流
だありかつ他方の抵抗素子の電流は電流差の半分を引い
たベース電流である。
抵抗素子に供給される加熱電流である。一方の抵抗素子
に印加される電流は電流差に半分にかわえたベース電流
だありかつ他方の抵抗素子の電流は電流差の半分を引い
たベース電流である。
【００３３】アメリカ合衆国特許第３，２３６，４８４
号に教示されるように、抵抗素子に印加される差のパワ
ーは標準と比較される試験サンプルの差動加熱または冷
却のＤＳＣにおける有用な手段である。この場合に差の
パワーは平均電圧および差の電流の乗算積である。
号に教示されるように、抵抗素子に印加される差のパワ
ーは標準と比較される試験サンプルの差動加熱または冷
却のＤＳＣにおける有用な手段である。この場合に差の
パワーは平均電圧および差の電流の乗算積である。
【００３４】差のパワーを計算するための適宜な回路１
６２が図４に示される。第１アナログ部分１６４、第２
デジタル部分１６６および第２アナログ部分１６８の３
つの部分がある。デジタル部分はアナログ／デジタル変
換器を備えたいずれかの在来の型式でありかつ例えば、
ＤＳＣ−７装置に使用されるパーキン−エルマーＴＡＣ
−７デジタルユニツトであつても良い。
６２が図４に示される。第１アナログ部分１６４、第２
デジタル部分１６６および第２アナログ部分１６８の３
つの部分がある。デジタル部分はアナログ／デジタル変
換器を備えたいずれかの在来の型式でありかつ例えば、
ＤＳＣ−７装置に使用されるパーキン−エルマーＴＡＣ
−７デジタルユニツトであつても良い。
【００３５】第１アナログ部分１６４において、約５ボ
ルトまでプラスまたはマイナスすることができる濾過さ
れた信号Ｔｄ は常に正の信号を発生するように５ボル
トにより合計１７０される。デジタル入力においてこの
アナログ電圧は、例えば５ｍＨｚまでの周波数に変換１
７２され、そして５＊１０５ がデジタル信号を提供す
るように１７４（付加されたアナログ５ボルトを除去す
るように）減算される。一方、平均電圧Ｖ ｄｃ は同
様に変換１７６されかつ次いで差の信号によりデジタル
的に乗算１７８される。結果はコンピユータ分析および
表示におけるように使用されることができる差のパワー
Ｗｄ のデジタル測定である。任意に、例えばアナログ
レコーダ読み取りに関して、結果はまた２＊１０ １７
のずれを有して加算１８０され、入力電圧と同一範囲
によりアナログ電圧に変換１８２され、そして５ボルト
がプラス／マイナスアナログ差のパワー出力Ｗａ を供
給するように減算１８４される。
ルトまでプラスまたはマイナスすることができる濾過さ
れた信号Ｔｄ は常に正の信号を発生するように５ボル
トにより合計１７０される。デジタル入力においてこの
アナログ電圧は、例えば５ｍＨｚまでの周波数に変換１
７２され、そして５＊１０５ がデジタル信号を提供す
るように１７４（付加されたアナログ５ボルトを除去す
るように）減算される。一方、平均電圧Ｖ ｄｃ は同
様に変換１７６されかつ次いで差の信号によりデジタル
的に乗算１７８される。結果はコンピユータ分析および
表示におけるように使用されることができる差のパワー
Ｗｄ のデジタル測定である。任意に、例えばアナログ
レコーダ読み取りに関して、結果はまた２＊１０ １７
のずれを有して加算１８０され、入力電圧と同一範囲
によりアナログ電圧に変換１８２され、そして５ボルト
がプラス／マイナスアナログ差のパワー出力Ｗａ を供
給するように減算１８４される。
【００３６】本発明は特別な実施例に関連して詳細に上
述されたが、本発明の精神および特許請求の範囲の範囲
内に入る種々の変化および変更が当該技術に熟練した者
に明らかとなる。それゆえ、本発明は特許請求の範囲ま
たはされらの同等物によつてのみ制限されるものとする
。
述されたが、本発明の精神および特許請求の範囲の範囲
内に入る種々の変化および変更が当該技術に熟練した者
に明らかとなる。それゆえ、本発明は特許請求の範囲ま
たはされらの同等物によつてのみ制限されるものとする
。
【００３７】
【発明の効果】叙上のごとく、本発明によれば、熱を供
給しかつ分析機器内の温度を測定する分析機器用回路装
置において、温度に応答する素子抵抗を有する抵抗素子
、前記抵抗素子中に第１周波数において加熱電流をもた
らす第１電流手段、前記抵抗素子に応答する感知電圧を
誘起すべく前記抵抗素子中に第２周波数において感知電
流をもたらす第２電流手段、および前記抵抗素子を横切
る電圧を測定する測定手段からなり、前記感知電流が前
記加熱電流と同時にもたらされ、そして前記測定手段が
前記感知電圧を示す濾過された信号を発生すべく前記第
１周波数を濾過する濾過手段を含み、そのさい濾過され
た信号が抵抗素子の温度の測定を提供する構成としたの
で、分析機器において各サンプル材料用の単一抵抗素子
により熱発生および温度測定を同時に行う新規な回路装
置を提供することができる。
給しかつ分析機器内の温度を測定する分析機器用回路装
置において、温度に応答する素子抵抗を有する抵抗素子
、前記抵抗素子中に第１周波数において加熱電流をもた
らす第１電流手段、前記抵抗素子に応答する感知電圧を
誘起すべく前記抵抗素子中に第２周波数において感知電
流をもたらす第２電流手段、および前記抵抗素子を横切
る電圧を測定する測定手段からなり、前記感知電流が前
記加熱電流と同時にもたらされ、そして前記測定手段が
前記感知電圧を示す濾過された信号を発生すべく前記第
１周波数を濾過する濾過手段を含み、そのさい濾過され
た信号が抵抗素子の温度の測定を提供する構成としたの
で、分析機器において各サンプル材料用の単一抵抗素子
により熱発生および温度測定を同時に行う新規な回路装
置を提供することができる。
【図１】本発明を組み込んでいる分析機器の部分を示す
簡単化された垂直断面図である。
簡単化された垂直断面図である。
【図２】本発明による回路を示す概略ブロツク図である
。
。
【図３】本発明による電流源用回路を示す概略ブロツク
図である。
図である。
【図４】図２の回路により印加された差のパワーを計算
するための回路の概略ブロツク図である。
するための回路の概略ブロツク図である。
１０ 分析機器の１部分
１２ 加熱ブロツク
３２ サンプル
３４ サンプル
３６ 抵抗素子
３８ 抵抗素子
４２ 回路
４４ ブリツジ回路
５０ 分圧器
５２ 分圧器
５６ 電流手段
６６ 電圧源
６７ 第２電流手段
６８ 結合コンデンサ
７０ 変圧器
７２ 増幅器／復調器ユニツト
７８ 増幅器／復調器ユニツト
８０ フイルタコンデンサ
８２ 接地抵抗器
１０５ 制御部分
１０６ 演算増幅器
１０８ フイードバツク抵抗器
１１０ 演算増幅器
１１４ 演算増幅器
１１８ 電流源
１２０ 電流源
１２４ モニタ抵抗器
１２６ 演算増幅器
１３２ 第１入力抵抗器
１３４ 第２入力抵抗器
１３６ 第１フイードバツク抵抗器
１３８ 第２フイードバツク抵抗器
１４４ 変換器
１４６ 正の入力
１４８ 負の入力
Claims (29)
- 【請求項１】 熱を供給しかつ分析機器内の温度を測
定する分析機器用回路装置において、温度に応答する素
子抵抗を有する抵抗素子、前記抵抗素子中に第１周波数
において加熱電流をもたらす第１電流手段、前記抵抗素
子に応答する感知電圧を誘起すべく前記抵抗素子中に第
２周波数において感知電流をもたらす第２電流手段、お
よび前記抵抗素子を横切る電圧を測定する測定手段から
なり、前記感知電流が前記加熱電流と同時にもたらされ
、そして前記測定手段が前記感知電圧を示す濾過された
信号を発生すべく前記第１周波数を濾過する濾過手段を
含み、そのさい濾過された信号が抵抗素子の温度の測定
を提供することを特徴とする分析機器用回路装置。 - 【請求項２】 前記抵抗素子は、加熱電流を有する前
記抵抗素子がサンプル材料を加熱するように、該サンプ
ル材料近傍に位置決め可能であり、そして濾過された信
号が前記サンプル材料の温度の測定を提供することを特
徴とする請求項１に記載の分析機器用回路装置。 - 【請求項３】 前記第１周波数が前記加熱電流が実質
上直流であるように実質上ゼロであり、そして前記第２
周波数が少なくとも約１００Ｈｚであることを特徴とす
る請求項１に記載の分析機器用回路装置。 - 【請求項４】 前記第２電流手段が前記抵抗素子を含
む分圧回路からなることを特徴とする請求項１に記載の
分析機器用回路装置。 - 【請求項５】 前記感知電流が実質上加熱電流以下で
あることを特徴とする請求項１に記載の分析機器用回路
装置。 - 【請求項６】 前記濾過された信号が前記加熱電流を
調整するために前記第１電流手段にフイードバツクされ
ることを特徴とする請求項１に記載の分析機器用回路装
置。 - 【請求項７】 前記第１電流手段は前記加熱電流用の
高インピーダンス電流源からなることを特徴とする請求
項１に記載の分析機器用回路装置。 - 【請求項８】 前記電流源は、電流出力端子、それか
ら延在する第１入力抵抗器を備えた正の入力端子、およ
びそれから延在する第２入力抵抗器を備えた負の入力端
子を有する電圧／電流変換器、前記第１および第２入力
抵抗器が実質上等しく；前記第１および第２入力抵抗器
を横切る制御電圧を印加する制御手段；前記出力端子と
電流出力点との間に接続されるモニタ抵抗器；前記出力
端子と前記負の入力端子との間に接続される第１フイー
ドバツク抵抗器；および出力点と正の入力端子との間に
接続される第２フイードバツク抵抗器からなり、前記第
１および第２フイードバツク抵抗器が実質上等しく、前
記フイードバツク抵抗器および前記入力抵抗器は各々前
記モニタ抵抗器より実質上大きく、そして電流出力点は
加熱電流をその中にもたらすように素子抵抗に接続され
、そのさい前記加熱電流は前記制御電圧に応答すること
を特徴とする請求項７に記載の分析機器用回路装置。 - 【請求項９】 前記制御手段は前記濾過された信号に
応答して前記制御電圧を発生するために前記濾過された
信号を受信することを特徴とする請求項８に記載の分析
機器用回路装置。 - 【請求項１０】 熱を供給しかつ分析機器内の差の温
度を測定する分析機器用回路装置において、各々温度に
応答する素子抵抗を有する１対の抵抗素子、前記各抵抗
素子中に第１周波数において個別の加熱電流をもたらす
第１電流手段、前記抵抗素子に応答する感知電圧を各抵
抗素子に誘起すべく前記各抵抗素子中に第２周波数にお
いて個別の感知電流をもたらす第２電流手段、および前
記感知電圧間の電圧差を測定する測定手段からなり、前
記感知電流が前記加熱電流と同時にもたらされ、そして
前記測定手段が前記差の電圧を示す濾過された信号を発
生すべく前記第１周波数を濾過する濾過手段を含み、そ
のさい濾過された信号が前記抵抗素子間の温度の測定を
提供することを特徴とする分析機器用回路装置。 - 【請求項１１】 さらに、前記抵抗素子間の加熱の差
を生じそれにより濾過された信号を発生することにおい
て差の電圧をもたらす差の加熱手段からなり、前記第１
電流手段は、加熱の差を補正しかつそれにより電圧差を
減少するために、加熱電流間の対応する電流差を発生す
るために濾過された信号を受信することを特徴とする請
求項１０に記載の分析機器用回路装置。 - 【請求項１２】 前記差の加熱手段は、前記濾過され
た信号がサンプル材料間の差の温度の測定を行うように
、２つのサンプル材料の異なるサンプル材料近傍に位置
決め可能である抵抗素子からなることを特徴とする請求
項１１に記載の分析機器用回路装置。 - 【請求項１３】 前記加熱電流が各々抵抗素子をそれ
ぞれ横切る加熱電圧を誘起し、そして前記装置がさらに
加熱電圧の平均電圧を測定する手段、および加熱の差を
補正するのに利用される増分パワーの測定として平均電
圧と電流差の乗算積を計算する手段からなることを特徴
とする請求項１１に記載の分析機器用回路装置。 - 【請求項１４】 電流差の半分が前記抵抗素子の一方
に正の電流増分として印加され、そして電流差の半分が
前記抵抗素子の他方に負の電流増分として印加されるこ
とを特徴とする請求項１１に記載の分析機器用回路装置
。 - 【請求項１５】 さらに、フイードバツク信号を発生
するために前記抵抗素子の電圧を平均する平均手段から
なり、そして前記第１電流手段が前記加熱電流用の高イ
ンピーダンス電流源、および誤差信号を発生するために
フイードバツク信号と基準信号を比較するための制御手
段からなり、前記電流源が加熱電流をもたらすために前
記誤差信号および濾過された信号を受信し、加熱電流の
一方がベース電流および正の電流増分の合計であり、加
熱電流の他方がベース電流および負の電流増分の合計で
あり、前記ベース電流は誤差信号を表し、そして各々の
電流増分が大きさにおいて電流差の半分に等しいことを
特徴とする請求項１１に記載の分析機器用回路装置。 - 【請求項１６】 前記平均手段は感知電圧を平均しか
つ感知電圧の平均を表すフイードバツク信号を発生する
ためにそれから第１周波数を濾過することを特徴とする
請求項１５に記載の分析機器用回路装置。 - 【請求項１７】 前記第１周波数が前記加熱電流が実
質上直流であるように実質上ゼロであり、そして前記第
２周波数が少なくとも約１００Ｈｚであることを特徴と
する請求項１０に記載の分析機器用回路装置。 - 【請求項１８】 前記第２電流手段が前記抵抗素子を
含むブリツジ回路からなることを特徴とする請求項１０
に記載の分析機器用回路装置。 - 【請求項１９】 前記感知電流が実質上加熱電流以下
であることを特徴とする請求項１０に記載の分析機器用
回路装置。 - 【請求項２０】 前記第１電流手段は前記加熱電流用
の高インピーダンス電流源からなることを特徴とする請
求項１に記載の分析機器用回路装置。 - 【請求項２１】 前記電流源は、各関連の抵抗素子に
関して、電流出力端子、それから延在する第１入力抵抗
器を備えた正の入力端子、およびそれから延在する第２
入力抵抗器を備えた負の入力端子を有する電圧／電流変
換器、前記第１および第２入力抵抗器が実質上等しく；
前記第１および第２入力抵抗器を横切る制御電圧を印加
する制御手段；前記出力端子と電流出力点との間に接続
されるモニタ抵抗器；前記出力端子と前記負の入力端子
との間に接続される第１フイードバツク抵抗器；および
出力点と正の入力端子との間に接続される第２フイード
バツク抵抗器からなり、前記第１および第２フイードバ
ツク抵抗器が実質上等しく、前記フイードバツク抵抗器
および前記入力抵抗器は各々前記モニタ抵抗器より実質
上大きく、そして電流出力点は制御電圧に応答して選択
された加熱電流をその中にもたらすように関連の素子抵
抗に接続されることを特徴とする請求項２０に記載の分
析機器用回路装置。 - 【請求項２２】 前記変換器は実質上正の入力端子を
構成する反転入力および負の入力端子を構成する非反転
入力を備えた演算増幅器からなることを特徴とする請求
項２１に記載の分析機器用回路装置。 - 【請求項２３】 前記変換器は正にバイアスされたベ
ースおよび出力端子を構成するコレクタを備えたＰＮＰ
トランジスタ、正の入力端子を構成する非反転入力、負
の入力端子を構成する反転入力、および前記バイアスさ
れたベースに抵抗的に接続される増幅器出力を備えた演
算増幅器からなることを特徴とする請求項２１に記載の
分析機器用回路装置。 - 【請求項２４】 前記関連の抵抗素子からの電流はベ
ース端子に連通され、そして前記装置はさらに１対の実
質上等しい接地抵抗器からなり、これらの接地抵抗器は
各々前記入力端子の異なる端子とベース端子との間に接
続されかつ実質上前記モニタ抵抗器より大きいことを特
徴とする請求項２１に記載の分析機器用回路装置。 - 【請求項２５】 前記加熱電流が前記抵抗素子を横切
るそれぞれの加熱電圧を誘起し、そして前記装置がさら
に、前記抵抗素子間の加熱の差を生じそれにより濾過さ
れた信号を発生することにおいて電圧差をもたらす差の
加熱手段からなり、そして前記第１電流手段は加熱電流
用の高インピーダンス電流源、感知信号の平均を表すフ
イードバツク信号を発生するために前記感知電圧を平均
する平均手段およびベース信号を発生するためにフイー
ドバツク信号とプリセツト信号を比較するための手段か
らなり、前記電流源が加熱電流をもたらすために前記ベ
ース信号および濾過された信号を受信し、加熱電流の一
方がベース電流および正の電流増分の合計であり、加熱
電流の他方が前記ベース電流がベース信号を表すような
ベース電流および負の電流増分の合計であり、そして前
記電流増分が大きさにおいて加熱の差を補正しかつそれ
により電圧差を減少するように互いに等しいことを特徴
とする請求項１０に記載の分析機器用回路装置。 - 【請求項２６】 高インピーダンス電流源において、
該電流源は、電流出力端子、それから延在する第１入力
抵抗器を備えた正の入力端子、およびそれから延在する
第２入力抵抗器を備えた負の入力端子を有する電圧／電
流変換器、前記第１および第２入力抵抗器が実質上等し
くかつそれらの間に制御電圧を受容し；前記出力端子と
電流出力点との間に接続されるモニタ抵抗器；前記出力
端子と前記負の入力端子との間に接続される第１フイー
ドバツク抵抗器；および出力点と正の入力端子との間に
接続される第２フイードバツク抵抗器からなり、前記第
１および第２フイードバツク抵抗器が実質上等しく、前
記フイードバツク抵抗器および前記入力抵抗器は各々前
記モニタ抵抗器より実質上大きく、それにより電流出力
点は高インピーダンス電流源を構成し、前記電流が制御
電圧に比例する大きさを有することを特徴とする高イン
ピーダンス電流源。 - 【請求項２７】 前記変換器は実質上正の入力端子を
構成する反転入力および負の入力端子を構成する非反転
入力を備えた演算増幅器からなることを特徴とする請求
項２６に記載の高インピーダンス電流源。 - 【請求項２８】 前記変換器は正にバイアスされたベ
ースおよび出力端子を構成するコレクタを備えたＰＮＰ
トランジスタ、正の入力端子を構成する非反転入力、負
の入力端子を構成する反転入力、および前記バイアスさ
れたベースに抵抗的に接続される増幅器出力を備えた演
算増幅器からなることを特徴とする請求項２１に記載の
高インピーダンス電流源。 - 【請求項２９】 前記電流出力点は電流を負荷を通し
てベース端子に連通し、そして前記装置はさらに１対の
実質上等しい接地抵抗器からなり、これらの接地抵抗器
は各々前記入力端子の異なる端子とベース端子との間に
接続されかつ実質上前記モニタ抵抗器より大きいことを
特徴とする請求項２６に記載の高インピーダンス電流源
。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/637,392 US5098196A (en) | 1991-01-04 | 1991-01-04 | Circuit for heating and sensing with a single element |
| US07-637-392 | 1991-01-04 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04310830A true JPH04310830A (ja) | 1992-11-02 |
| JP3174118B2 JP3174118B2 (ja) | 2001-06-11 |
Family
ID=24555726
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34521591A Expired - Lifetime JP3174118B2 (ja) | 1991-01-04 | 1991-12-26 | 分析機器用回路装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5098196A (ja) |
| EP (1) | EP0498063B1 (ja) |
| JP (1) | JP3174118B2 (ja) |
| DE (1) | DE69133262T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008530560A (ja) * | 2005-02-10 | 2008-08-07 | パーキンエルマー・エルエーエス・インコーポレーテッド | 温度制御炉を備えた示差走査熱量計（ｄｓｃ） |
Families Citing this family (33)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5624187A (en) * | 1992-03-02 | 1997-04-29 | Ta Instruments, Inc. | Method and apparatus for gas flow modulated differential scanning calorimetry |
| US5439291C1 (en) * | 1992-03-02 | 2002-04-16 | Ta Instr Inc | Method and apparatus for ac differential thermal analysis |
| US5474385A (en) * | 1992-03-02 | 1995-12-12 | Ta Instruments, Inc. | Method and apparatus for parsed dynamic differential analysis |
| JP2909950B2 (ja) * | 1993-09-24 | 1999-06-23 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 熱分析装置 |
| US5509733A (en) * | 1993-12-21 | 1996-04-23 | Ta Instruments, Inc. | Infrared heated differential thermal analyzer |
| US5549387A (en) * | 1994-06-01 | 1996-08-27 | The Perkin-Elmer Corporation | Apparatus and method for differential analysis using real and imaginary signal components |
| US5484204A (en) * | 1994-09-21 | 1996-01-16 | Ta Instruments, Inc. | Mechanical cooling system |
| US5876118A (en) * | 1995-12-08 | 1999-03-02 | The Perkin-Elmer Corporation | Calorimeter having rapid cooling of a heating vessel therein |
| US5672289A (en) * | 1996-01-11 | 1997-09-30 | The Perkin-Elmer Corporation | Heater control circuit |
| DE69730699T2 (de) * | 1996-11-01 | 2005-08-18 | TA Instruments, Inc., New Castle | Differentialabtastkalorimeter |
| US5719378A (en) * | 1996-11-19 | 1998-02-17 | Illinois Tool Works, Inc. | Self-calibrating temperature controller |
| JP3434694B2 (ja) * | 1997-12-01 | 2003-08-11 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 示差走査熱量計 |
| US6262670B1 (en) * | 1998-04-10 | 2001-07-17 | Kevin R. Ballou | Source measure unit having secondary feedback for eliminating transients during range changing |
| JP3137605B2 (ja) * | 1998-07-14 | 2001-02-26 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 熱流束型示差走査熱量計 |
| US6435710B1 (en) | 1998-08-26 | 2002-08-20 | Fauske & Associates, Inc. | Foam detector apparatus and method |
| US6157009A (en) * | 1998-08-26 | 2000-12-05 | Fauske And Associates, Inc. | Advanced reactive system screening tool |
| US6477479B1 (en) | 1998-12-11 | 2002-11-05 | Symyx Technologies | Sensor array for rapid materials characterization |
| WO2000036410A1 (en) * | 1998-12-11 | 2000-06-22 | Symyx Technologies, Inc. | Sensor array-based system and method for rapid materials characterization |
| US6438497B1 (en) | 1998-12-11 | 2002-08-20 | Symyx Technologies | Method for conducting sensor array-based rapid materials characterization |
| WO2002006803A1 (en) * | 2000-07-13 | 2002-01-24 | Igc-Apd Cryogenics, Inc. | Cooling system for thermal analysis |
| US6843595B2 (en) * | 2001-01-26 | 2005-01-18 | Waters Investment Limited | Differential scanning calorimeter accounting for heat leakage |
| WO2004063639A2 (en) * | 2003-01-08 | 2004-07-29 | The Florida International University Board Of Trustees | 3-dimensional high performance heat sinks |
| US6860632B2 (en) * | 2003-07-28 | 2005-03-01 | Perkinelmer Instruments Llc | Instrument material holder and method of fabrication thereof |
| US7473028B1 (en) * | 2005-04-22 | 2009-01-06 | The Ohio State University | Method and device for investigation of phase transformations in metals and alloys |
| US20080273572A1 (en) * | 2006-06-02 | 2008-11-06 | James Madison University | Thermal detector for chemical or biological agents |
| KR100961065B1 (ko) * | 2008-09-29 | 2010-06-01 | 한국전력공사 | 송전애자용 열충격 모의시험장치 |
| US8147133B2 (en) * | 2009-05-26 | 2012-04-03 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Top loaded twin cell calorimeter system with removable reference |
| KR101853882B1 (ko) * | 2011-01-10 | 2018-05-02 | 삼성전자주식회사 | 생체물질 검사장치 및 그 제어방법 |
| CN103487460B (zh) * | 2013-10-15 | 2016-01-06 | 中国农业大学 | 一种提高覆盖材料保温性能测试台测试精度的方法 |
| US9453807B2 (en) * | 2014-04-08 | 2016-09-27 | Ams International Ag | Thermal conductivity gas sensor with amplification material |
| US11474054B2 (en) * | 2018-10-22 | 2022-10-18 | Equistar Chemicals, Lp | Temperature control apparatuses and methods |
| WO2021183446A1 (en) * | 2020-03-09 | 2021-09-16 | Psemi Corporation | Compact humidity sensor |
| US11977044B2 (en) | 2021-02-16 | 2024-05-07 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | High linear range humidity sensor |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3263484A (en) * | 1962-04-04 | 1966-08-02 | Perkin Elmer Corp | Differential microcalorimeter |
| US3360993A (en) * | 1965-08-27 | 1968-01-02 | Air Force Usa | Single thermocouple differentiating method and system |
| US3527923A (en) * | 1967-10-05 | 1970-09-08 | Perkin Elmer Corp | Single element heater arrangement for an analytical instrument |
| GB1211429A (en) * | 1968-06-10 | 1970-11-04 | Bayer Ag | Process and apparatus for electrically heating and controlling the temperature of thin layers |
| US3675465A (en) * | 1969-10-07 | 1972-07-11 | Gunter Sommer | Apparatus and method for differential thermal analysis |
| US4274016A (en) * | 1979-02-07 | 1981-06-16 | International Telephone And Telegraph Corporation | Voltage-to-current converter |
| US4277672A (en) * | 1979-12-03 | 1981-07-07 | General Electric Company | Control circuit for controlling quantity of heat to electrically heatable windshield |
| DE3126238A1 (de) * | 1981-07-03 | 1983-01-20 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Vorrichtung zum betrieb einer sauerstoffsonde in einem grossen temperaturbereich |
| US4523084A (en) * | 1981-09-02 | 1985-06-11 | Oximetrix, Inc. | Controller for resistive heating element |
| GB2123991B (en) * | 1982-05-31 | 1986-02-12 | Hideo Sugimori | Heater control device |
| GB8316352D0 (en) * | 1983-06-16 | 1983-07-20 | Motorola Inc | Dc-dc converter |
| US4777350A (en) * | 1984-10-09 | 1988-10-11 | Ranco Electronics Division | Heater with duty cycle controller |
-
1991
- 1991-01-04 US US07/637,392 patent/US5098196A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-12-10 EP EP91121135A patent/EP0498063B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-12-10 DE DE69133262T patent/DE69133262T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1991-12-26 JP JP34521591A patent/JP3174118B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7677795B2 (en) | 2004-02-10 | 2010-03-16 | Perkinelmer Las, Inc. | Differential scanning calorimeter (DSC) with temperature controlled furnace |
| JP2008530560A (ja) * | 2005-02-10 | 2008-08-07 | パーキンエルマー・エルエーエス・インコーポレーテッド | 温度制御炉を備えた示差走査熱量計（ｄｓｃ） |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0498063A3 (en) | 1992-08-26 |
| EP0498063B1 (en) | 2003-05-21 |
| US5098196A (en) | 1992-03-24 |
| EP0498063A2 (en) | 1992-08-12 |
| DE69133262D1 (de) | 2003-06-26 |
| DE69133262T2 (de) | 2004-04-08 |
| JP3174118B2 (ja) | 2001-06-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3174118B2 (ja) | 分析機器用回路装置 | |
| US5225766A (en) | High impedance current source | |
| EP0883801B1 (en) | Differential scanning calorimeter | |
| US3754442A (en) | Temperature measuring system producing linear output signal from non-linear sensing resistance | |
| JP4172829B2 (ja) | ヒータ制御回路装置 | |
| US5072614A (en) | Temperature compensating circuit | |
| US3882728A (en) | Temperature sensing circuit | |
| CA1193471A (en) | Non-intrusive thermal power monitor and method | |
| US4592665A (en) | Temperature-controlled systems for non-thermal parameter measurements | |
| US5295746A (en) | High resolution digital thermometer | |
| JPH04231857A (ja) | 可燃ガス成分の検出用測定回路装置の動作方法 | |
| JP2810541B2 (ja) | ラムダセンサの内部抵抗測定回路 | |
| US4563098A (en) | Gradient compensated temperature probe and gradient compensation method | |
| US3731187A (en) | Temperature compensated fouling measuring method and apparatus | |
| JPS62293126A (ja) | レベル測定方法および装置 | |
| US5130640A (en) | Soldering iron testing apparatus | |
| EP0515356B1 (en) | Method and apparatus for measuring the temperature of an electrically conductive material | |
| CA1273225A (en) | Thermocouple vacuum gauge | |
| JP3300110B2 (ja) | ガス検出器 | |
| SU1711006A2 (ru) | Дифференциальный микрокалориметр | |
| JPH05223763A (ja) | 熱電対を用いた熱分析装置 | |
| US3893341A (en) | Measuring devices | |
| Murgatroyd et al. | A sensitive differential thermometer | |
| JPH0341351A (ja) | 熱伝導式計測装置 | |
| EP0220287A1 (en) | Ac-dc transfer standard temperature sensor reversal error compensation circuit |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090330 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100330 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100330 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110330 Year of fee payment: 10 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120330 Year of fee payment: 11 |