JPH04313032A - 分光分析装置 - Google Patents
分光分析装置Info
- Publication number
- JPH04313032A JPH04313032A JP7880291A JP7880291A JPH04313032A JP H04313032 A JPH04313032 A JP H04313032A JP 7880291 A JP7880291 A JP 7880291A JP 7880291 A JP7880291 A JP 7880291A JP H04313032 A JPH04313032 A JP H04313032A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- section
- wavelength
- spectroscopic
- sample
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- Pending
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光源から放射された測
定用の光線束のうち試料を透過或いは反射した光線束を
分光する分光部と，その分光部により分光された光線束
の波長毎の強度を測定する受光部とから構成してある分
光分析装置に関する。
定用の光線束のうち試料を透過或いは反射した光線束を
分光する分光部と，その分光部により分光された光線束
の波長毎の強度を測定する受光部とから構成してある分
光分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種の成分測定装置は、回折格子で構
成される分光部と、その分光部により分光された光線束
の分散方向に沿って配置されたシリコン（Ｓｉ）を材料
としたアレイ型イメージセンサで構成される受光部とで
構成してあった。
成される分光部と、その分光部により分光された光線束
の分散方向に沿って配置されたシリコン（Ｓｉ）を材料
としたアレイ型イメージセンサで構成される受光部とで
構成してあった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述の従来技
術では、シリコン（Ｓｉ）を材料とするイメージセンサ
の感度帯域が０．３から１．１μｍの波長領域にしかな
いため用途が制限されるという欠点があった。例えば米
の成分分析に用いるには、感度帯域が０．８から２．５
μｍの波長領域にあることが要求されるのである。この
ため感度帯域が０．８から２．５μｍの波長領域にある
素子として硫化鉛（ＰｂＳ）やゲルマニウム（Ｇｅ）を
受光部に用いることが考えられるが、これらを材料とし
てアレイ型イメージセンサを構成するには多大のコスト
が必要となるので好ましくない。本発明の目的は上述し
た従来欠点を解消する点にある。
術では、シリコン（Ｓｉ）を材料とするイメージセンサ
の感度帯域が０．３から１．１μｍの波長領域にしかな
いため用途が制限されるという欠点があった。例えば米
の成分分析に用いるには、感度帯域が０．８から２．５
μｍの波長領域にあることが要求されるのである。この
ため感度帯域が０．８から２．５μｍの波長領域にある
素子として硫化鉛（ＰｂＳ）やゲルマニウム（Ｇｅ）を
受光部に用いることが考えられるが、これらを材料とし
てアレイ型イメージセンサを構成するには多大のコスト
が必要となるので好ましくない。本発明の目的は上述し
た従来欠点を解消する点にある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
、本発明による分光分析装置の特徴構成は、特定波長を
選択的に前記受光部に向けて透過させる透過波長選択手
段を前記分光部と前記受光部に介装してあることにある
。
、本発明による分光分析装置の特徴構成は、特定波長を
選択的に前記受光部に向けて透過させる透過波長選択手
段を前記分光部と前記受光部に介装してあることにある
。
【０００５】
【作用】透過波長選択手段は、分光部で分光された光線
束のうち測定に必要な特定波長の光線束を選択的に透過
させる。例えば、特定波長を含む微小領域の波長域のみ
透過する微小幅のスリットを、分光部による光線束の分
散方向に移動させることにより実現される。前記透過波
長選択手段を透過した特定光線束は、例えば硫化鉛（Ｐ
ｂＳ）やゲルマニウム（Ｇｅ）等で構成される単一の受
光部に入射することで、その強度が測定されることにな
る。
束のうち測定に必要な特定波長の光線束を選択的に透過
させる。例えば、特定波長を含む微小領域の波長域のみ
透過する微小幅のスリットを、分光部による光線束の分
散方向に移動させることにより実現される。前記透過波
長選択手段を透過した特定光線束は、例えば硫化鉛（Ｐ
ｂＳ）やゲルマニウム（Ｇｅ）等で構成される単一の受
光部に入射することで、その強度が測定されることにな
る。
【０００６】
【発明の効果】従って本発明の分光分析装置によれば、
硫化鉛（ＰｂＳ）やゲルマニウム（Ｇｅ）等を材料とす
る高価なアレイ型イメージセンサを用いることなく、し
かも、シリコン（Ｓｉ）を材料とするイメージセンサの
感度帯域０．３から１．１μｍの波長領域よりもさらに
長波長領域の測定を、硫化鉛（ＰｂＳ）やゲルマニウム
（Ｇｅ）等から成る単一の安価なセンサを使用すること
で低価格で可能とする分光分析装置を提供することがで
きるようになった。
硫化鉛（ＰｂＳ）やゲルマニウム（Ｇｅ）等を材料とす
る高価なアレイ型イメージセンサを用いることなく、し
かも、シリコン（Ｓｉ）を材料とするイメージセンサの
感度帯域０．３から１．１μｍの波長領域よりもさらに
長波長領域の測定を、硫化鉛（ＰｂＳ）やゲルマニウム
（Ｇｅ）等から成る単一の安価なセンサを使用すること
で低価格で可能とする分光分析装置を提供することがで
きるようになった。
【０００７】
【実施例】以下に本発明の一実施例である籾米を試料Ｓ
とする分光分析装置について説明する。分光分析装置は
、図２に示すように、光源１と、光源１からの光線束を
成形する第一光学系２と、第一光学系２からの光線束が
照射される試料保持部３と、その試料保持部３で保持さ
れた試料Ｓを透過した光線束を集光する第二光学系４と
、その第二光学系４により集光された光線束を分光分析
する分光分析部５とを光軸Ｐに沿って配置して構成して
ある。前記光源１は、タングステン−ハロゲン電球１ａ
と、その電球１ａから発生した光線束を一方向に向ける
凹面反射鏡１ｂとで構成してある。前記第一光学系２は
、前記試料保持部２に向かう光線束を平行光線束に成形
するレンズ２ａ，２ｂとスリット２ｃとで構成してある
。前記試料保持部３は、試料Ｓとして籾米を収容した石
英硝子製の容器３ａとその容器３ａを前記光軸Ｐに対し
て垂直方向に往復揺動する揺動手段３ｂとで構成してあ
る。前記揺動手段３ｂは、前記容器３ａの上端部を下方
に付勢するスプリングｂと前記容器３ａの下端部を上方
に付勢する偏心カムａとで構成してあり、前記偏心カム
ａの回転運動により前記容器３ａを上下揺動する。前記
第二光学系４は、前記試料Ｓを透過した光線束を前記分
光分析部５の入射孔５ａ位置で集光させる集光レンズ４
ａと、光路への有害光の進入を防止する暗箱４ｂとで構
成してある。前記分光分析部５は、前記第二光学系４に
隣接する暗箱５ｂに前記第二光学系４からの測定用の光
線束を入射させるスリット５ａと、そのスリット５ａか
ら入射後拡散する光線束を分光反射する分光部としての
凹面回折格子６と、分光反射された各波長毎の光線束強
度を検出する受光部７を設けて構成してある。即ち、前
記分光分析部５はポリクロメータ型の分光計である。 前記受光部７は、前記凹面回折格子６による光線束の分
散方向に固定設置してあり、単一の受光窓を有する硫化
鉛（ＰｂＳ）又はゲルマニウム（Ｇｅ）センサ７ｃで構
成してある。
とする分光分析装置について説明する。分光分析装置は
、図２に示すように、光源１と、光源１からの光線束を
成形する第一光学系２と、第一光学系２からの光線束が
照射される試料保持部３と、その試料保持部３で保持さ
れた試料Ｓを透過した光線束を集光する第二光学系４と
、その第二光学系４により集光された光線束を分光分析
する分光分析部５とを光軸Ｐに沿って配置して構成して
ある。前記光源１は、タングステン−ハロゲン電球１ａ
と、その電球１ａから発生した光線束を一方向に向ける
凹面反射鏡１ｂとで構成してある。前記第一光学系２は
、前記試料保持部２に向かう光線束を平行光線束に成形
するレンズ２ａ，２ｂとスリット２ｃとで構成してある
。前記試料保持部３は、試料Ｓとして籾米を収容した石
英硝子製の容器３ａとその容器３ａを前記光軸Ｐに対し
て垂直方向に往復揺動する揺動手段３ｂとで構成してあ
る。前記揺動手段３ｂは、前記容器３ａの上端部を下方
に付勢するスプリングｂと前記容器３ａの下端部を上方
に付勢する偏心カムａとで構成してあり、前記偏心カム
ａの回転運動により前記容器３ａを上下揺動する。前記
第二光学系４は、前記試料Ｓを透過した光線束を前記分
光分析部５の入射孔５ａ位置で集光させる集光レンズ４
ａと、光路への有害光の進入を防止する暗箱４ｂとで構
成してある。前記分光分析部５は、前記第二光学系４に
隣接する暗箱５ｂに前記第二光学系４からの測定用の光
線束を入射させるスリット５ａと、そのスリット５ａか
ら入射後拡散する光線束を分光反射する分光部としての
凹面回折格子６と、分光反射された各波長毎の光線束強
度を検出する受光部７を設けて構成してある。即ち、前
記分光分析部５はポリクロメータ型の分光計である。 前記受光部７は、前記凹面回折格子６による光線束の分
散方向に固定設置してあり、単一の受光窓を有する硫化
鉛（ＰｂＳ）又はゲルマニウム（Ｇｅ）センサ７ｃで構
成してある。
【０００８】前記透過波長選択手段８は、第１図に示す
ように、前記凹面回折格子６による光線束の分散方向に
沿って複数のスリットＳＬ１を互いに平行に配列形成し
てなる固定マスク部材８ａと、そのマスク部材８ａに対
して同じく前記凹面回折格子６による光線束の分散方向
に沿って往復移動自在で且つ前記複数のスリットＳＬ１
に平行な単一のスリットＳＬを形成した可動マスク部材
８ｂとで構成してある。前記スリットＳＬ，ＳＬ１のス
リット幅はほぼ等しく約２０μｍとしてあり、前記可動
マスク部材８ｂを前記凹面回折格子６による光線束の分
散方向に沿って移動させることにより、そのスリットＳ
Ｌと前記固定マスク部材８ａに形成の特定のスリットＳ
Ｌ１の重なった部分に対応する特定波長の光線束が選択
的に透過されて、前記受光部７に入力される。
ように、前記凹面回折格子６による光線束の分散方向に
沿って複数のスリットＳＬ１を互いに平行に配列形成し
てなる固定マスク部材８ａと、そのマスク部材８ａに対
して同じく前記凹面回折格子６による光線束の分散方向
に沿って往復移動自在で且つ前記複数のスリットＳＬ１
に平行な単一のスリットＳＬを形成した可動マスク部材
８ｂとで構成してある。前記スリットＳＬ，ＳＬ１のス
リット幅はほぼ等しく約２０μｍとしてあり、前記可動
マスク部材８ｂを前記凹面回折格子６による光線束の分
散方向に沿って移動させることにより、そのスリットＳ
Ｌと前記固定マスク部材８ａに形成の特定のスリットＳ
Ｌ１の重なった部分に対応する特定波長の光線束が選択
的に透過されて、前記受光部７に入力される。
【０００９】以下に別実施例を説明する。先の実施例で
は、籾米を試料としていたが、試料はこれに限定するも
のではなく、任意の穀物等固体試料に適用できる。又、
光源にタングステン−ハロゲン電球を用いているが、こ
れに限定するものではなく試料及び測定目的に応じて適
宜設定可能であり、赤外波数全域で連続スペクトル放射
を持つ光源としての熱放射体（黒体炉）や、その他水銀
灯、Ｎｅ放電管等の光源や、ラマン散乱を測定するため
の単色光を発光するレーザ等を用いることができ、その
構成も適宜変更可能である。先の実施例では、単一のス
リットを形成した可動マスク部材と、複数のスリットを
形成した固定マスク部材で透過波長選択手段を構成して
いるが、単一のスリットを形成した可動マスク部材のみ
を前記凹面回折格子による分散方向に移動させるように
構成してもよく、この場合には波長に対して連続的な特
性が得られることになる。可動マスク部材の駆動機構は
、周知のカム機構を用いて構成してもよいし、ピエゾ素
子を用いて構成してもよく任意である。固定マスク部材
に設ける複数のスリット位置は測定希望波長域に応じて
適宜変更してよい。先の実施例では、試料からの透過光
を分光分析しているが、反射光を分光分析するように構
成してもよい。尚、特許請求の範囲の項に図面との対照
を便利にする為に符号を記すが、該記入により本発明は
添付図面の構成に限定されるものではない。
は、籾米を試料としていたが、試料はこれに限定するも
のではなく、任意の穀物等固体試料に適用できる。又、
光源にタングステン−ハロゲン電球を用いているが、こ
れに限定するものではなく試料及び測定目的に応じて適
宜設定可能であり、赤外波数全域で連続スペクトル放射
を持つ光源としての熱放射体（黒体炉）や、その他水銀
灯、Ｎｅ放電管等の光源や、ラマン散乱を測定するため
の単色光を発光するレーザ等を用いることができ、その
構成も適宜変更可能である。先の実施例では、単一のス
リットを形成した可動マスク部材と、複数のスリットを
形成した固定マスク部材で透過波長選択手段を構成して
いるが、単一のスリットを形成した可動マスク部材のみ
を前記凹面回折格子による分散方向に移動させるように
構成してもよく、この場合には波長に対して連続的な特
性が得られることになる。可動マスク部材の駆動機構は
、周知のカム機構を用いて構成してもよいし、ピエゾ素
子を用いて構成してもよく任意である。固定マスク部材
に設ける複数のスリット位置は測定希望波長域に応じて
適宜変更してよい。先の実施例では、試料からの透過光
を分光分析しているが、反射光を分光分析するように構
成してもよい。尚、特許請求の範囲の項に図面との対照
を便利にする為に符号を記すが、該記入により本発明は
添付図面の構成に限定されるものではない。
【図１】要部の構成図
【図２】分光分析装置の構成図
１ 光源
６ 分光部
７ 受光部
８ 透過波長選択手段
Ｓ 試料
Claims (1)
- 【請求項１】 光源（１）から放射された測定用の光
線束のうち試料（Ｓ）を透過或いは反射した光線束を分
光する分光部（６）と，その分光部（６）により分光さ
れた光線束の波長毎の強度を測定する受光部（７）とか
ら構成してある分光分析装置であって、特定波長を選択
的に前記受光部（７）に向けて透過させる透過波長選択
手段（８）を前記分光部（６）と前記受光部（７）の間
に介装してある分光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7880291A JPH04313032A (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7880291A JPH04313032A (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 分光分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04313032A true JPH04313032A (ja) | 1992-11-05 |
Family
ID=13671990
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7880291A Pending JPH04313032A (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 分光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04313032A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009087753A1 (ja) * | 2008-01-07 | 2009-07-16 | Shimadzu Corporation | 電気泳動装置及び位置合わせ方法 |
| WO2018016410A1 (ja) * | 2016-07-19 | 2018-01-25 | 株式会社アサヒビジョン | 眼球分析装置および眼球分析方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61100620A (ja) * | 1984-10-24 | 1986-05-19 | Union Giken:Kk | 多波長分光光度計 |
| JPS61251724A (ja) * | 1985-03-21 | 1986-11-08 | アボツト，ラボラトリ−ズ | 分光光度計 |
| JPH02147926A (ja) * | 1988-10-03 | 1990-06-06 | Fried Krupp Gmbh | ポリクロメータ |
-
1991
- 1991-04-11 JP JP7880291A patent/JPH04313032A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61100620A (ja) * | 1984-10-24 | 1986-05-19 | Union Giken:Kk | 多波長分光光度計 |
| JPS61251724A (ja) * | 1985-03-21 | 1986-11-08 | アボツト，ラボラトリ−ズ | 分光光度計 |
| JPH02147926A (ja) * | 1988-10-03 | 1990-06-06 | Fried Krupp Gmbh | ポリクロメータ |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009087753A1 (ja) * | 2008-01-07 | 2009-07-16 | Shimadzu Corporation | 電気泳動装置及び位置合わせ方法 |
| WO2018016410A1 (ja) * | 2016-07-19 | 2018-01-25 | 株式会社アサヒビジョン | 眼球分析装置および眼球分析方法 |
| JPWO2018016410A1 (ja) * | 2016-07-19 | 2018-07-19 | 株式会社アサヒビジョン | 眼球分析装置および眼球分析方法 |
| JP2019034163A (ja) * | 2016-07-19 | 2019-03-07 | 株式会社アサヒビジョン | 眼球分析装置 |
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