JPH04313070A - 電源電圧検出回路 - Google Patents
電源電圧検出回路Info
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- JPH04313070A JPH04313070A JP134591A JP134591A JPH04313070A JP H04313070 A JPH04313070 A JP H04313070A JP 134591 A JP134591 A JP 134591A JP 134591 A JP134591 A JP 134591A JP H04313070 A JPH04313070 A JP H04313070A
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- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- output
- power supply
- circuit
- divided
- Prior art date
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- Pending
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 20
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電源電圧検出回路に関し
、特に、集積回路化を目的とした電源電圧検出回路に関
する。
、特に、集積回路化を目的とした電源電圧検出回路に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来の電源電圧検出回路の一例の回路図
を図3に示す。この電源電圧検出回路は、図3に示すよ
うに、電源端子1と接地端子2との間に直列に接続され
た抵抗R1 およびR2 と、同じく電源端子1に一端
を接続された抵抗R3 とカソードを接地端子2に接続
されたダイオードDの直列接続回路と、電圧比較器3と
からなっている。
を図3に示す。この電源電圧検出回路は、図3に示すよ
うに、電源端子1と接地端子2との間に直列に接続され
た抵抗R1 およびR2 と、同じく電源端子1に一端
を接続された抵抗R3 とカソードを接地端子2に接続
されたダイオードDの直列接続回路と、電圧比較器3と
からなっている。
【0003】電圧比較器3の負入力端には、抵抗R1
とR2の接続点の電圧が入力され、また、正入力端には
、ダイオードDのアノード電圧が入力されている。
とR2の接続点の電圧が入力され、また、正入力端には
、ダイオードDのアノード電圧が入力されている。
【0004】今、ダイオードDのしきい値電圧をVF
、抵抗R1 およびR2 の抵抗値をR1 およびR2
、電源電圧をVDDとすると、VDD>VF ・(R
1 +R2 )/R2 の場合には、電圧比較器3の出
力は低レベルである。一方、VDD<VF ・(R1
+R2 )/R2 の場合には電圧比較器3の出力は高
レベルとなる。
、抵抗R1 およびR2 の抵抗値をR1 およびR2
、電源電圧をVDDとすると、VDD>VF ・(R
1 +R2 )/R2 の場合には、電圧比較器3の出
力は低レベルである。一方、VDD<VF ・(R1
+R2 )/R2 の場合には電圧比較器3の出力は高
レベルとなる。
【0005】従って、図3に示す電源電圧検出回路によ
れば VDD=VF ・(R1 +R2 )/R2
(1)で表される電源電圧を検出することが
できる。
れば VDD=VF ・(R1 +R2 )/R2
(1)で表される電源電圧を検出することが
できる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の電源電
圧検出回路は、集積回路化した場合、後で抵抗値R1
およびR2 を変更することができない。従って、電源
電圧の検出電圧は、(1)式で表される固定した電圧に
しか設定することができず、後で任意に検出電圧を変更
することが不可能であった。
圧検出回路は、集積回路化した場合、後で抵抗値R1
およびR2 を変更することができない。従って、電源
電圧の検出電圧は、(1)式で表される固定した電圧に
しか設定することができず、後で任意に検出電圧を変更
することが不可能であった。
【0007】更に、ダイオードのしきい値電圧VF お
よび抵抗値は、集積回路化した場合に特性値のばらつき
が大きいため、検出電圧の精度が高い電源電圧検出回路
を得ることができないという欠点もあった。
よび抵抗値は、集積回路化した場合に特性値のばらつき
が大きいため、検出電圧の精度が高い電源電圧検出回路
を得ることができないという欠点もあった。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の電源電圧検出回
路は、電源電圧を分圧して複数の分圧出力として出力す
る電源電圧分圧手段と、この電源電圧分圧手段の複数の
分圧出力の内から一つの分圧出力を選択する選択手段と
、前記選択手段により選択された分圧出力の電圧レベル
と基準電圧の電圧レベルとを比較する比較手段と、この
比較手段の出力によって制御される計数手段と、この計
数手段のデータを記憶する記憶手段と、この記憶手段の
出力および前記計数手段の出力を切り変えて出力する切
り変え手段とを有し、この切り変え手段の出力が前記選
択手段の制御入力となるように構成されていることを特
徴とする。
路は、電源電圧を分圧して複数の分圧出力として出力す
る電源電圧分圧手段と、この電源電圧分圧手段の複数の
分圧出力の内から一つの分圧出力を選択する選択手段と
、前記選択手段により選択された分圧出力の電圧レベル
と基準電圧の電圧レベルとを比較する比較手段と、この
比較手段の出力によって制御される計数手段と、この計
数手段のデータを記憶する記憶手段と、この記憶手段の
出力および前記計数手段の出力を切り変えて出力する切
り変え手段とを有し、この切り変え手段の出力が前記選
択手段の制御入力となるように構成されていることを特
徴とする。
【0009】
【実施例】次に、本発明について、図面を参照して説明
する。図1は、本発明の一実施例の回路構成を示す回路
図である。
する。図1は、本発明の一実施例の回路構成を示す回路
図である。
【0010】本実施例は、図1に示すように、電源電圧
を分圧する分圧回路4と、分圧された出力の内の1つを
選択する選択回路5と、選択された分圧出力と基準電圧
とを比較する電圧比較器3と、この電圧比較器3の出力
によって計数動作を制御されるカウンタ6と、このカウ
ンタ6の出力をデータ入力とするプログラマブル・リー
ド・オンリー・メモリ(以下PROMと記す)7と、こ
のPROM7の出力と前述のカウンタ6の出力とを切り
替え、デコードして出力するデータ・セレクタ・デコー
ダ8とを備えている。
を分圧する分圧回路4と、分圧された出力の内の1つを
選択する選択回路5と、選択された分圧出力と基準電圧
とを比較する電圧比較器3と、この電圧比較器3の出力
によって計数動作を制御されるカウンタ6と、このカウ
ンタ6の出力をデータ入力とするプログラマブル・リー
ド・オンリー・メモリ(以下PROMと記す)7と、こ
のPROM7の出力と前述のカウンタ6の出力とを切り
替え、デコードして出力するデータ・セレクタ・デコー
ダ8とを備えている。
【0011】ここで、分圧回路4は、(2n +1)個
の抵抗を電源端子1と接地端子2との間に縦続接続した
ものであって、各抵抗同志の接続点からは2n 個の分
圧出力が取り出される。
の抵抗を電源端子1と接地端子2との間に縦続接続した
ものであって、各抵抗同志の接続点からは2n 個の分
圧出力が取り出される。
【0012】選択回路5は、2n 個のスイッチで構成
され、各スイッチの出力は共通に接続されてこの選択回
路5の出力端となっている。この選択回路5は、後述す
るように、データ・セレクタ・デコーダ8に入力される
データの順に従って、分圧回路4の分圧出力を、高電圧
側から低電圧側へ順次選択して行く。
され、各スイッチの出力は共通に接続されてこの選択回
路5の出力端となっている。この選択回路5は、後述す
るように、データ・セレクタ・デコーダ8に入力される
データの順に従って、分圧回路4の分圧出力を、高電圧
側から低電圧側へ順次選択して行く。
【0013】電圧比較器3の負入力端に印加される基準
電圧は、電源端子1と接地端子2との間に直列に接続さ
れた抵抗R3 とダイオードDにより発生される。
電圧は、電源端子1と接地端子2との間に直列に接続さ
れた抵抗R3 とダイオードDにより発生される。
【0014】カウンタ6は、この場合には、nビットの
ものが必要である。そして、外部からの切替え信号が高
レベルで、電圧比較器3の出力が高レベルの時に外部か
らのクロック信号により計数を行ない、電圧比較器3の
出力が低レベルの時に計数を停止する。切替え信号が低
レベルになると、0にリセットされる。
ものが必要である。そして、外部からの切替え信号が高
レベルで、電圧比較器3の出力が高レベルの時に外部か
らのクロック信号により計数を行ない、電圧比較器3の
出力が低レベルの時に計数を停止する。切替え信号が低
レベルになると、0にリセットされる。
【0015】PROM7は、nビットのカウンタ6の出
力をデータ入力とし、書込み制御回路9によってデータ
書き込みの動作が制御される。書込み制御回路9は、前
記の切替え信号と外部からのクロック信号と電圧比較器
3の出力を入力として前記のPROM7の動作を制御す
る。
力をデータ入力とし、書込み制御回路9によってデータ
書き込みの動作が制御される。書込み制御回路9は、前
記の切替え信号と外部からのクロック信号と電圧比較器
3の出力を入力として前記のPROM7の動作を制御す
る。
【0016】データ・セレクタ・デコーダ8は、nビッ
トの2組の入力(カウンタ6の出力およびPROM7の
出力)のうちの一方を、外部からの切替え信号によって
選択し、2n 本のデータにデコードして出力する。こ
の2n 本のデータは選択回路5の2n 個のスイッチ
の制御端子に入力される。
トの2組の入力(カウンタ6の出力およびPROM7の
出力)のうちの一方を、外部からの切替え信号によって
選択し、2n 本のデータにデコードして出力する。こ
の2n 本のデータは選択回路5の2n 個のスイッチ
の制御端子に入力される。
【0017】以下に、本実施例の動作について、図1お
よび図2を用いて説明する。図2は本実施例の動作タイ
ムチャート図である。
よび図2を用いて説明する。図2は本実施例の動作タイ
ムチャート図である。
【0018】本実施例において電源電圧の検出電圧を設
定するには、先ず、電源電圧を検出したい電圧に設定し
、図2に示すように、時刻t1 において切替え信号を
高レベルにする。
定するには、先ず、電源電圧を検出したい電圧に設定し
、図2に示すように、時刻t1 において切替え信号を
高レベルにする。
【0019】この時、nビットのカウンタ6は0であり
、選択回路5はこのカウンタ6のデータによって分圧回
路4の最大電圧レベルを選択し、電圧比較器3の出力は
高レベルになっている。
、選択回路5はこのカウンタ6のデータによって分圧回
路4の最大電圧レベルを選択し、電圧比較器3の出力は
高レベルになっている。
【0020】次に、外部からクロック信号を入力すると
、nビットカウンタ6は計数を開始し、選択回路5は分
圧回路4の出力を順次低電圧側へ選択して行く。
、nビットカウンタ6は計数を開始し、選択回路5は分
圧回路4の出力を順次低電圧側へ選択して行く。
【0021】そして、選択回路5の出力、つまり電圧比
較器3の比較入力の電圧が、クロック信号に従って順次
低下し、時刻t2 で電圧比較器3の基準電圧入力端に
接続されたダイオードDのアノード電圧以下になると、
電圧比較器3の出力が低レベルに反転し、同時に、nビ
ットカウンタ6の計数が停止し、データが保持される。
較器3の比較入力の電圧が、クロック信号に従って順次
低下し、時刻t2 で電圧比較器3の基準電圧入力端に
接続されたダイオードDのアノード電圧以下になると、
電圧比較器3の出力が低レベルに反転し、同時に、nビ
ットカウンタ6の計数が停止し、データが保持される。
【0022】この時、書込み制御回路9が、電圧比較器
3の出力レベルが高レベルから低レベルに反転したこと
をとらえて動作し、nビットカウンタ6のデータがPR
OM7に書き込まれる。
3の出力レベルが高レベルから低レベルに反転したこと
をとらえて動作し、nビットカウンタ6のデータがPR
OM7に書き込まれる。
【0023】この後、時刻t3 でクロック信号を停止
し、切替え信号を低レベルにする。
し、切替え信号を低レベルにする。
【0024】以上の動作によって検出電圧の設定が完了
し、切替え信号を低レベルにしておくかぎり書込み制御
回路9は動作せず、選択回路5は、PROM7のデータ
によって、所望の検出電圧に相当する分圧電圧を選択す
る。
し、切替え信号を低レベルにしておくかぎり書込み制御
回路9は動作せず、選択回路5は、PROM7のデータ
によって、所望の検出電圧に相当する分圧電圧を選択す
る。
【0025】つまり、所望の電源電圧の検出電圧は、電
源電圧を任意の所望の電圧に設定して切替え信号を高レ
ベルにし、クロック信号を入力するだけで容易に設定す
ることができる。
源電圧を任意の所望の電圧に設定して切替え信号を高レ
ベルにし、クロック信号を入力するだけで容易に設定す
ることができる。
【0026】また、この場合、電圧比較器3の基準電圧
入力に対して、電圧比較器3の出力が反転する分圧電圧
が自動的に選択されるため、基準電圧の精度は問題とな
らない。
入力に対して、電圧比較器3の出力が反転する分圧電圧
が自動的に選択されるため、基準電圧の精度は問題とな
らない。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
電源電圧の検出電圧を任意に設定することができる。し
かも、その検出電圧の設定は、外部から切替え信号とク
ロック信号を入力するだけで自動的に行なわれるので、
非常に容易に行なうことができる。
電源電圧の検出電圧を任意に設定することができる。し
かも、その検出電圧の設定は、外部から切替え信号とク
ロック信号を入力するだけで自動的に行なわれるので、
非常に容易に行なうことができる。
【0028】又、本発明では、高精度の基準電圧を必要
としないので、基準電圧のばらつきが大きい場合でも、
検出すべき電源電圧での最適な分圧電圧が選択され、精
度の高い電源電圧検出が行なわれる。このことは、電源
電圧検出回路を集積回路化するにあたって、従来の電源
電圧検出回路では素子特性のばらつきが大きな障害とな
っていたのに対して、非常に有利な点である。
としないので、基準電圧のばらつきが大きい場合でも、
検出すべき電源電圧での最適な分圧電圧が選択され、精
度の高い電源電圧検出が行なわれる。このことは、電源
電圧検出回路を集積回路化するにあたって、従来の電源
電圧検出回路では素子特性のばらつきが大きな障害とな
っていたのに対して、非常に有利な点である。
【図1】本発明の一実施例の回路構成を示す回路図であ
る。
る。
【図2】図1に示す実施例の動作タイムチャート図であ
る。
る。
【図3】従来の電源電圧検出回路の回路構成を示す回路
図である。
図である。
1 電源端子
2 接地端子
3 電圧比較器
4 分圧回路
5 選択回路
6 カウンタ
7 PROM
8 データ・セレクタ・デコーダ9 書込
み制御回路
み制御回路
Claims (1)
- 【請求項1】 電源電圧を分圧して複数の分圧出力と
して出力する電源電圧分圧手段と、この電源電圧分圧手
段の複数の分圧出力の内から一つの分圧出力を選択する
選択手段と、前記選択手段により選択された分圧出力の
電圧レベルと基準電圧の電圧レベルとを比較する比較手
段と、この比較手段の出力によって制御される計数手段
と、この計数手段のデータを記憶する記憶手段と、この
記憶手段の出力および前記計数手段の出力を切り替えて
出力する切り替え手段とを有し、この切り替え手段の出
力が前記選択手段の制御入力となるように構成されてい
ることを特徴とする電源電圧検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP134591A JPH04313070A (ja) | 1991-01-10 | 1991-01-10 | 電源電圧検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP134591A JPH04313070A (ja) | 1991-01-10 | 1991-01-10 | 電源電圧検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04313070A true JPH04313070A (ja) | 1992-11-05 |
Family
ID=11498907
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP134591A Pending JPH04313070A (ja) | 1991-01-10 | 1991-01-10 | 電源電圧検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04313070A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000072028A1 (en) * | 1999-05-21 | 2000-11-30 | Micrel Incorporated | Voltage monitor circuit with adjustable hysteresis using a single comparator |
| JP2005331478A (ja) * | 2004-05-21 | 2005-12-02 | Sony Corp | 電圧検出回路 |
| WO2020172663A1 (en) | 2019-02-22 | 2020-08-27 | Texas Instruments Incorporated | Multi-level voltage detector |
-
1991
- 1991-01-10 JP JP134591A patent/JPH04313070A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000072028A1 (en) * | 1999-05-21 | 2000-11-30 | Micrel Incorporated | Voltage monitor circuit with adjustable hysteresis using a single comparator |
| US6304088B1 (en) | 1999-05-21 | 2001-10-16 | Micrel Incorporated | Voltage monitor circuit with adjustable hysteresis using a single comparator |
| JP2005331478A (ja) * | 2004-05-21 | 2005-12-02 | Sony Corp | 電圧検出回路 |
| WO2020172663A1 (en) | 2019-02-22 | 2020-08-27 | Texas Instruments Incorporated | Multi-level voltage detector |
| CN113454468A (zh) * | 2019-02-22 | 2021-09-28 | 德克萨斯仪器股份有限公司 | 多电平电压检测器 |
| EP3928104A4 (en) * | 2019-02-22 | 2022-05-18 | Texas Instruments Incorporated | MULTI-STAGE VOLTAGE DETECTOR |
| US11808792B2 (en) | 2019-02-22 | 2023-11-07 | Texas Instruments Incorporated | Multi-level voltage detector |
| US12235290B2 (en) | 2019-02-22 | 2025-02-25 | Texas Instruments Incorporated | Multi-level voltage detector |
| CN113454468B (zh) * | 2019-02-22 | 2025-04-15 | 德克萨斯仪器股份有限公司 | 多电平电压检测器 |
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