JPH04313227A - 洗浄装置 - Google Patents
洗浄装置Info
- Publication number
- JPH04313227A JPH04313227A JP7879391A JP7879391A JPH04313227A JP H04313227 A JPH04313227 A JP H04313227A JP 7879391 A JP7879391 A JP 7879391A JP 7879391 A JP7879391 A JP 7879391A JP H04313227 A JPH04313227 A JP H04313227A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cleaning
- cleaned
- wafer
- objects
- drying
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、薄板状の被洗浄物の洗
浄装置に関し、特に半導体集積回路装置の半導体ウエハ
の洗浄に用いられ、半導体ウエハの汚れ防止が可能とさ
れる洗浄装置に適用して有効な技術に関する。
浄装置に関し、特に半導体集積回路装置の半導体ウエハ
の洗浄に用いられ、半導体ウエハの汚れ防止が可能とさ
れる洗浄装置に適用して有効な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体ウエハの洗浄装置としては
、たとえばウエハの搬送および洗浄を兼ねたウエハカセ
ットに入れた状態で直接カセットをクランプするか、ま
たはウエハの入ったカセットをバスケットなどに収納し
た状態でバスケットをクランプして、洗浄処理工程にお
ける搬送、洗浄および乾燥を行っている。
、たとえばウエハの搬送および洗浄を兼ねたウエハカセ
ットに入れた状態で直接カセットをクランプするか、ま
たはウエハの入ったカセットをバスケットなどに収納し
た状態でバスケットをクランプして、洗浄処理工程にお
ける搬送、洗浄および乾燥を行っている。
【0003】そして、たとえば洗浄する場合には、カセ
ットまたはバスケットをクランプ状態で洗浄処理槽に浸
漬し、洗浄処理槽下方からの上昇層流によってウエハの
洗浄を行う方法が採られている。
ットまたはバスケットをクランプ状態で洗浄処理槽に浸
漬し、洗浄処理槽下方からの上昇層流によってウエハの
洗浄を行う方法が採られている。
【0004】なお、これに類似する技術としては、社団
法人電子通信学会、昭和59年11月30日発行、「L
SIハンドブック」P238〜239などの文献に記載
される洗浄方法が挙げられる。
法人電子通信学会、昭和59年11月30日発行、「L
SIハンドブック」P238〜239などの文献に記載
される洗浄方法が挙げられる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、前記のよう
な従来技術においては、ウエハとウエハカセットとの接
触部および近傍に薬液の淀みが発生し、この薬液による
洗浄効率の低下およびウエハカセットの汚れの転写など
が考慮されておらず、洗浄後においてもウエハ周辺部に
汚れが生じるという問題がある。
な従来技術においては、ウエハとウエハカセットとの接
触部および近傍に薬液の淀みが発生し、この薬液による
洗浄効率の低下およびウエハカセットの汚れの転写など
が考慮されておらず、洗浄後においてもウエハ周辺部に
汚れが生じるという問題がある。
【0006】また、ウエハの汚れの要因となるウエハカ
セットを用いない洗浄装置としては、たとえばウエハを
枚葉で処理するものがあるが、この方法によると処理能
力の面で問題が生じる。
セットを用いない洗浄装置としては、たとえばウエハを
枚葉で処理するものがあるが、この方法によると処理能
力の面で問題が生じる。
【0007】従って、従来の洗浄装置においては、洗浄
の処理能力の向上を図り、かつウエハの汚れ防止も同時
に可能とすることができず、特に大口径化のウエハに用
いた場合に、洗浄効率の面で良好に適用できないという
問題がある。
の処理能力の向上を図り、かつウエハの汚れ防止も同時
に可能とすることができず、特に大口径化のウエハに用
いた場合に、洗浄効率の面で良好に適用できないという
問題がある。
【0008】そこで、本発明の目的は、洗浄処理時のみ
被洗浄物を従来の洗浄治具に非接触状態とし、被洗浄物
の汚れの発生を最小限に抑えることができる洗浄装置を
提供することにある。
被洗浄物を従来の洗浄治具に非接触状態とし、被洗浄物
の汚れの発生を最小限に抑えることができる洗浄装置を
提供することにある。
【0009】また、本発明の他の目的は、複数枚の被洗
浄物を一括して研磨から洗浄および乾燥までを一貫処理
することができる洗浄装置を提供することにある。
浄物を一括して研磨から洗浄および乾燥までを一貫処理
することができる洗浄装置を提供することにある。
【0010】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0011】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
【0012】すなわち、本発明の洗浄装置は、洗浄およ
び乾燥機構を備え、複数枚の薄板状の被洗浄物を洗浄し
た後に乾燥する洗浄装置であって、複数枚の被洗浄物を
直接または複数枚収納可能な洗浄治具への収納状態で同
時に把持する把持部材と、複数枚の被洗浄物を同時に保
持する保持部材とを備えるものである。
び乾燥機構を備え、複数枚の薄板状の被洗浄物を洗浄し
た後に乾燥する洗浄装置であって、複数枚の被洗浄物を
直接または複数枚収納可能な洗浄治具への収納状態で同
時に把持する把持部材と、複数枚の被洗浄物を同時に保
持する保持部材とを備えるものである。
【0013】この場合に、前記洗浄装置に研磨機構を連
結するようにしたものである。
結するようにしたものである。
【0014】また、前記乾燥機構による乾燥を、窒素雰
囲気によるランプ加熱方式と温純水リフトドライ乾燥方
式とを併用するようにしたものである。
囲気によるランプ加熱方式と温純水リフトドライ乾燥方
式とを併用するようにしたものである。
【0015】
【作用】前記した洗浄装置によれば、把持部材および保
持部材が備えられることにより、同時に複数枚の被洗浄
物を把持部材により直接または洗浄治具への収納状態で
クランプして搬送し、さらにこれらの被洗浄物を洗浄槽
内部の保持部材によって外周部の2点のみを接触させる
ことができる。これにより、複数枚の被洗浄物の洗浄お
よび乾燥を、洗浄治具および把持部材に接触することな
く、必要最小限の接触状態で行うことができる。
持部材が備えられることにより、同時に複数枚の被洗浄
物を把持部材により直接または洗浄治具への収納状態で
クランプして搬送し、さらにこれらの被洗浄物を洗浄槽
内部の保持部材によって外周部の2点のみを接触させる
ことができる。これにより、複数枚の被洗浄物の洗浄お
よび乾燥を、洗浄治具および把持部材に接触することな
く、必要最小限の接触状態で行うことができる。
【0016】この場合に、洗浄装置に研磨機構が連結さ
れることにより、複数枚の被洗浄物を同時に研磨から洗
浄および乾燥までを行うことができる。これにより、研
磨から乾燥までの一貫した自動化が可能となる。
れることにより、複数枚の被洗浄物を同時に研磨から洗
浄および乾燥までを行うことができる。これにより、研
磨から乾燥までの一貫した自動化が可能となる。
【0017】また、乾燥機構による乾燥が、窒素雰囲気
によるランプ加熱方式と温純水リフトドライ乾燥方式と
を併用して行われることにより、乾燥効率の向上を図る
ことができる。
によるランプ加熱方式と温純水リフトドライ乾燥方式と
を併用して行われることにより、乾燥効率の向上を図る
ことができる。
【0018】
【実施例1】図1は本発明の一実施例である洗浄装置の
要部を示す断面図である。
要部を示す断面図である。
【0019】まず、図1により本実施例の洗浄装置の構
成を説明する。
成を説明する。
【0020】本実施例の洗浄装置は、たとえば半導体集
積回路装置の半導体ウエハの洗浄に用いられる洗浄装置
とされ、複数枚のウエハ(被洗浄物)1を直接把持する
搬送アーム(把持部材)2と、複数枚のウエハ1を保持
するウエハステージ(保持部材)3とを備え、研磨後の
複数枚のウエハ1を同時に洗浄および乾燥を行うもので
ある。
積回路装置の半導体ウエハの洗浄に用いられる洗浄装置
とされ、複数枚のウエハ(被洗浄物)1を直接把持する
搬送アーム(把持部材)2と、複数枚のウエハ1を保持
するウエハステージ(保持部材)3とを備え、研磨後の
複数枚のウエハ1を同時に洗浄および乾燥を行うもので
ある。
【0021】搬送アーム2は、たとえば研磨機構および
洗浄装置間に設置され、ウエハ1の外周部を把持して研
磨位置から洗浄および乾燥位置まで搬送するものである
。
洗浄装置間に設置され、ウエハ1の外周部を把持して研
磨位置から洗浄および乾燥位置まで搬送するものである
。
【0022】ウエハステージ3は、洗浄液4が浸漬され
た洗浄処理槽5の内部に配設され、ウエハ1の外周部2
点のみを接触させて保持するものである。そして、搬送
アーム2によって搬送された複数枚のウエハ1が、洗浄
時にウエハステージ3による接触のみによって洗浄され
るようになっている。
た洗浄処理槽5の内部に配設され、ウエハ1の外周部2
点のみを接触させて保持するものである。そして、搬送
アーム2によって搬送された複数枚のウエハ1が、洗浄
時にウエハステージ3による接触のみによって洗浄され
るようになっている。
【0023】次に、本実施例の作用について説明する。
【0024】始めに、研磨処理が終了した複数枚のウエ
ハ1を搬送アーム2で直接クランプし、研磨位置から洗
浄位置まで搬送する(ステップ101)。そして、洗浄
処理槽5内のウエハステージ3を上昇させ(ステップ1
02)、洗浄位置まで搬送されたウエハ1を受け取る。
ハ1を搬送アーム2で直接クランプし、研磨位置から洗
浄位置まで搬送する(ステップ101)。そして、洗浄
処理槽5内のウエハステージ3を上昇させ(ステップ1
02)、洗浄位置まで搬送されたウエハ1を受け取る。
【0025】さらに、ウエハ1の保持状態においてウエ
ハステージ3を下降させ(ステップ103)、洗浄処理
槽5内の洗浄液4に浸漬する。そして、洗浄処理槽5の
下方から上昇層流6を発生させてウエハ1を洗浄する。 この場合に、ウエハ1がウエハステージ3に対して外周
部の2点のみで接触されることにより、必要最小限の接
触状態で洗浄を行うことができる。
ハステージ3を下降させ(ステップ103)、洗浄処理
槽5内の洗浄液4に浸漬する。そして、洗浄処理槽5の
下方から上昇層流6を発生させてウエハ1を洗浄する。 この場合に、ウエハ1がウエハステージ3に対して外周
部の2点のみで接触されることにより、必要最小限の接
触状態で洗浄を行うことができる。
【0026】そして、洗浄終了後にウエハステージ3を
上昇させ(ステップ104)、ウエハ1を搬送アーム2
でクランプする。さらに、搬送アーム2によるクランプ
状態において、ウエハ1を洗浄位置から次の洗浄処理槽
まで搬送し、前述の動作を繰り返した後に乾燥位置まで
搬送し(ステップ105)、ウエハ1を乾燥する。この
場合に、ウエハ1の乾燥を窒素雰囲気によるランプ加熱
方式と、温純水リフトドライ乾燥方式とを併用して行う
ことによって乾燥効率の向上を図ることができる。
上昇させ(ステップ104)、ウエハ1を搬送アーム2
でクランプする。さらに、搬送アーム2によるクランプ
状態において、ウエハ1を洗浄位置から次の洗浄処理槽
まで搬送し、前述の動作を繰り返した後に乾燥位置まで
搬送し(ステップ105)、ウエハ1を乾燥する。この
場合に、ウエハ1の乾燥を窒素雰囲気によるランプ加熱
方式と、温純水リフトドライ乾燥方式とを併用して行う
ことによって乾燥効率の向上を図ることができる。
【0027】以上のようにして、研磨処理後の洗浄から
乾燥までを、複数枚のウエハ1について同時に行うこと
ができる。
乾燥までを、複数枚のウエハ1について同時に行うこと
ができる。
【0028】従って、本実施例の洗浄装置によれば、搬
送時は複数枚のウエハ1を搬送アーム2によって直接把
持して搬送し、洗浄時にはウエハステージ3との必要最
小限の接触状態で洗浄を行うことができるので、従来の
ウエハカセットへの収納状態による洗浄に比べて、ウエ
ハカセットとの接触部および近傍に生じる薬液の淀みが
なく、かつウエハカセットの汚れの転写がないので、ウ
エハ1の汚れを最小限に抑えることができる。
送時は複数枚のウエハ1を搬送アーム2によって直接把
持して搬送し、洗浄時にはウエハステージ3との必要最
小限の接触状態で洗浄を行うことができるので、従来の
ウエハカセットへの収納状態による洗浄に比べて、ウエ
ハカセットとの接触部および近傍に生じる薬液の淀みが
なく、かつウエハカセットの汚れの転写がないので、ウ
エハ1の汚れを最小限に抑えることができる。
【0029】
【実施例2】図2は本発明の他の実施例である洗浄装置
の要部を示す断面図である。
の要部を示す断面図である。
【0030】本実施例の洗浄装置は、実施例1と同様に
半導体集積回路装置の半導体ウエハの洗浄に用いられる
洗浄装置とされ、複数枚のウエハ(被洗浄物)1を収納
するウエハカセット(洗浄治具)7と、複数枚のウエハ
1をウエハカセット7を介して把持する搬送アーム(把
持部材)2aと、複数枚のウエハ1を保持するウエハス
テージ(保持部材)3aとを備え、実施例1との相違点
は、複数枚のウエハ1の搬送をウエハカセット7への収
納状態で行う点である。
半導体集積回路装置の半導体ウエハの洗浄に用いられる
洗浄装置とされ、複数枚のウエハ(被洗浄物)1を収納
するウエハカセット(洗浄治具)7と、複数枚のウエハ
1をウエハカセット7を介して把持する搬送アーム(把
持部材)2aと、複数枚のウエハ1を保持するウエハス
テージ(保持部材)3aとを備え、実施例1との相違点
は、複数枚のウエハ1の搬送をウエハカセット7への収
納状態で行う点である。
【0031】すなわち、本実施例の洗浄装置においては
、複数枚のウエハ1が収納されたウエハカセット7を搬
送アーム2aによりクランプし、ウエハ1をウエハカセ
ット7に入れた状態で洗浄位置まで搬送する(ステップ
201)。そして、搬送アーム2aを下降させ(ステッ
プ202)、洗浄位置に搬送されたウエハ1を洗浄液4
aの浸漬された洗浄処理槽5a内のウエハステージ3a
に保持させる。
、複数枚のウエハ1が収納されたウエハカセット7を搬
送アーム2aによりクランプし、ウエハ1をウエハカセ
ット7に入れた状態で洗浄位置まで搬送する(ステップ
201)。そして、搬送アーム2aを下降させ(ステッ
プ202)、洗浄位置に搬送されたウエハ1を洗浄液4
aの浸漬された洗浄処理槽5a内のウエハステージ3a
に保持させる。
【0032】さらに、ウエハ1をウエハステージ3aに
保持させた後、搬送アーム2aをさらに下降させ(ステ
ップ203)、ウエハカセット7をカセットガイド8に
保持させる。そして、搬送アームを上昇させた後(ステ
ップ204)、洗浄処理槽5aの下方から上昇層流6a
を発生させ、ウエハ1をウエハステージ3aへの外周部
2点のみの接触状態で洗浄を行う。この場合に、ウエハ
1は洗浄処理槽5a内でウエハカセット7の充分上方に
あるため、ウエハカセット7の影響を受けることなく、
上昇層流6aにより均一に洗浄することができる。
保持させた後、搬送アーム2aをさらに下降させ(ステ
ップ203)、ウエハカセット7をカセットガイド8に
保持させる。そして、搬送アームを上昇させた後(ステ
ップ204)、洗浄処理槽5aの下方から上昇層流6a
を発生させ、ウエハ1をウエハステージ3aへの外周部
2点のみの接触状態で洗浄を行う。この場合に、ウエハ
1は洗浄処理槽5a内でウエハカセット7の充分上方に
あるため、ウエハカセット7の影響を受けることなく、
上昇層流6aにより均一に洗浄することができる。
【0033】そして、洗浄終了後に搬送アーム2aを下
降させ(ステップ205)、ウエハカセット7を搬送ア
ーム2aでクランプする。さらに、クランプ状態におい
て搬送アーム2aを上昇させ(ステップ206)、ウエ
ハ1を洗浄位置から次の洗浄処理槽まで搬送し、前述の
動作を繰り返した後に乾燥位置まで搬送し(ステップ2
07)、ウエハ1を乾燥する。
降させ(ステップ205)、ウエハカセット7を搬送ア
ーム2aでクランプする。さらに、クランプ状態におい
て搬送アーム2aを上昇させ(ステップ206)、ウエ
ハ1を洗浄位置から次の洗浄処理槽まで搬送し、前述の
動作を繰り返した後に乾燥位置まで搬送し(ステップ2
07)、ウエハ1を乾燥する。
【0034】従って、本実施例の洗浄装置によれば、搬
送時は複数枚のウエハ1をウエハカセット7への収納状
態で搬送し、洗浄時には実施例1と同様にウエハステー
ジ3aとの必要最小限の接触状態で洗浄を行うことがで
きるので、ウエハ1の汚れを最小限に抑えることができ
る。
送時は複数枚のウエハ1をウエハカセット7への収納状
態で搬送し、洗浄時には実施例1と同様にウエハステー
ジ3aとの必要最小限の接触状態で洗浄を行うことがで
きるので、ウエハ1の汚れを最小限に抑えることができ
る。
【0035】また、ウエハ1を従来と同様にウエハカセ
ット7への収納状態で搬送することができるので、搬送
中におけるトラブルの発生も防止することができる。
ット7への収納状態で搬送することができるので、搬送
中におけるトラブルの発生も防止することができる。
【0036】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例1および2に基づき具体的に説明したが、本発明は
前記各実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸
脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもな
い。
施例1および2に基づき具体的に説明したが、本発明は
前記各実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸
脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもな
い。
【0037】たとえば、前記各実施例の洗浄装置につい
ては、研磨処理後のウエハ1の洗浄および乾燥を行う場
合について説明したが、本発明は前記実施例に限定され
るものではなく、たとえば研磨機構を連結することも可
能とされ、この場合には研磨から洗浄および乾燥までを
一貫して行う自動化が可能となる。
ては、研磨処理後のウエハ1の洗浄および乾燥を行う場
合について説明したが、本発明は前記実施例に限定され
るものではなく、たとえば研磨機構を連結することも可
能とされ、この場合には研磨から洗浄および乾燥までを
一貫して行う自動化が可能となる。
【0038】また、実施例1の洗浄装置については、ウ
エハステージ3を上下動させてウエハ1の受渡しを行う
場合について説明したが、たとえば実施例2と同様にウ
エハステージ3を洗浄処理槽5内に設置し、搬送アーム
2を上下動する場合についても適用可能である。
エハステージ3を上下動させてウエハ1の受渡しを行う
場合について説明したが、たとえば実施例2と同様にウ
エハステージ3を洗浄処理槽5内に設置し、搬送アーム
2を上下動する場合についても適用可能である。
【0039】以上の説明では、主として本発明者によっ
てなされた発明をその利用分野である半導体集積回路装
置の半導体ウエハの洗浄に用いられる洗浄装置に適用し
た場合について説明したが、これに限定されるものでは
なく、たとえばマスク基板などの他の薄板状の被洗浄物
の洗浄装置についても広く適用可能である。
てなされた発明をその利用分野である半導体集積回路装
置の半導体ウエハの洗浄に用いられる洗浄装置に適用し
た場合について説明したが、これに限定されるものでは
なく、たとえばマスク基板などの他の薄板状の被洗浄物
の洗浄装置についても広く適用可能である。
【0040】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
【0041】(1).複数枚の被洗浄物を直接または複
数枚収納可能な洗浄治具への収納状態で同時に把持する
把持部材と、複数枚の被洗浄物を同時に保持する保持部
材とを備えることにより、搬送時には把持部材により直
接または洗浄治具への収納状態で搬送し、また洗浄時に
は保持部材によって外周部の2点のみを接触させて保持
することができるので、複数枚の被洗浄物の洗浄および
乾燥を、洗浄治具および把持部材に接触することなく、
必要最小限の接触状態で行うことができる。
数枚収納可能な洗浄治具への収納状態で同時に把持する
把持部材と、複数枚の被洗浄物を同時に保持する保持部
材とを備えることにより、搬送時には把持部材により直
接または洗浄治具への収納状態で搬送し、また洗浄時に
は保持部材によって外周部の2点のみを接触させて保持
することができるので、複数枚の被洗浄物の洗浄および
乾燥を、洗浄治具および把持部材に接触することなく、
必要最小限の接触状態で行うことができる。
【0042】(2).洗浄装置に研磨機構を連結するこ
とにより、複数枚の被洗浄物を同時に研磨から洗浄およ
び乾燥までを行うことができるので、研磨から乾燥まで
の一貫した自動化が可能となる。
とにより、複数枚の被洗浄物を同時に研磨から洗浄およ
び乾燥までを行うことができるので、研磨から乾燥まで
の一貫した自動化が可能となる。
【0043】(3).乾燥機構による乾燥を、窒素雰囲
気によるランプ加熱方式と温純水リフトドライ乾燥方式
とを併用して行うことにより、被洗浄物の乾燥効率の向
上を図ることができる。
気によるランプ加熱方式と温純水リフトドライ乾燥方式
とを併用して行うことにより、被洗浄物の乾燥効率の向
上を図ることができる。
【0044】(4).前記(1) により、従来のよう
な洗浄治具との接触がなく、これによって薬液の淀みに
よる汚れの発生および洗浄治具の汚れの転写などがなく
なるので、被洗浄物の洗浄効率の向上が可能となる。
な洗浄治具との接触がなく、これによって薬液の淀みに
よる汚れの発生および洗浄治具の汚れの転写などがなく
なるので、被洗浄物の洗浄効率の向上が可能となる。
【0045】(5).前記(1) により、洗浄の処理
能力の向上を図り、かつ被洗浄物の汚れ防止も同時に可
能となるので、特に大口径化の半導体ウエハに適用した
場合の歩留りの向上が可能となる。
能力の向上を図り、かつ被洗浄物の汚れ防止も同時に可
能となるので、特に大口径化の半導体ウエハに適用した
場合の歩留りの向上が可能となる。
【0046】(6).前記(1) 〜(5) により、
従来の洗浄装置への小規模な改善によって、研磨から乾
燥までの一貫した処理効率の向上が可能とされる洗浄装
置を得ることができる。
従来の洗浄装置への小規模な改善によって、研磨から乾
燥までの一貫した処理効率の向上が可能とされる洗浄装
置を得ることができる。
【図1】本発明の一実施例である洗浄装置の要部を示す
断面図である。
断面図である。
【図2】本発明の他の実施例である洗浄装置の要部を示
す断面図である。
す断面図である。
1 ウエハ(被洗浄物)
2,2a 搬送アーム(把持部材)
3,3a ウエハステージ(保持部材)4,4a
洗浄液 5,5a 洗浄処理槽 6,6a 上昇層流 7 ウエハカセット(洗浄治具) 8 カセットガイド
洗浄液 5,5a 洗浄処理槽 6,6a 上昇層流 7 ウエハカセット(洗浄治具) 8 カセットガイド
Claims (3)
- 【請求項1】 洗浄および乾燥機構を備え、複数枚の
薄板状の被洗浄物を洗浄した後に乾燥する洗浄装置であ
って、前記複数枚の被洗浄物を直接または複数枚収納可
能な洗浄治具への収納状態で同時に把持する把持部材と
、該複数枚の被洗浄物を同時に保持する保持部材とを備
え、前記把持部材により前記複数枚の被洗浄物を同時に
洗浄および乾燥位置まで搬送し、さらに前記洗浄治具お
よび把持部材に接触することなく、前記保持部材の2点
接触のみにより前記複数枚の被洗浄物を同時に洗浄およ
び乾燥を行うことを特徴とする洗浄装置。 - 【請求項2】 前記洗浄装置に研磨機構を連結し、前
記複数枚の被洗浄物を同時に研磨から洗浄および乾燥ま
でを一貫して行うことを特徴とする請求項1記載の洗浄
装置。 - 【請求項3】 前記乾燥機構による乾燥を、窒素雰囲
気によるランプ加熱方式と温純水リフトドライ乾燥方式
とを併用することを特徴とする請求項1記載の洗浄装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7879391A JPH04313227A (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 洗浄装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7879391A JPH04313227A (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 洗浄装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04313227A true JPH04313227A (ja) | 1992-11-05 |
Family
ID=13671754
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7879391A Pending JPH04313227A (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 洗浄装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04313227A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6412501B1 (en) * | 1999-06-29 | 2002-07-02 | Kimmon Quartz Co., Ltd. | Drying apparatus and drying method |
| JP2009272655A (ja) * | 1994-12-06 | 2009-11-19 | Ebara Corp | ポリッシング装置 |
-
1991
- 1991-04-11 JP JP7879391A patent/JPH04313227A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009272655A (ja) * | 1994-12-06 | 2009-11-19 | Ebara Corp | ポリッシング装置 |
| US6412501B1 (en) * | 1999-06-29 | 2002-07-02 | Kimmon Quartz Co., Ltd. | Drying apparatus and drying method |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100390300B1 (ko) | 폴리싱 장치와 폴리싱 방법 및 반도체장치 제조방법 | |
| US6273802B1 (en) | Method and apparatus for dry-in, dry-out polishing and washing of a semiconductor device | |
| JPH04305929A (ja) | 洗浄装置および洗浄方法 | |
| US4936328A (en) | Wafer transposing device | |
| JPH04313227A (ja) | 洗浄装置 | |
| JP3167765B2 (ja) | 自動洗浄装置 | |
| JPH04196531A (ja) | 洗浄装置 | |
| JP3066986B2 (ja) | ウエット処理装置及びウエット処理方法 | |
| JPH09223680A (ja) | エッチング機能付き研磨装置 | |
| JPH03188631A (ja) | 処理装置 | |
| JP3559099B2 (ja) | 基板処理装置 | |
| JP3194592B2 (ja) | 枚葉式ウェハー洗浄装置 | |
| JP3326994B2 (ja) | 被処理材の液体処理装置、ウエハの液体処理装置、液体処理方法、並びに半導体装置の製造方法 | |
| JPH08195368A (ja) | 洗浄方法及びその装置並びに移載装置 | |
| JPS59134834A (ja) | 半導体ウエハの洗浄装置 | |
| JP3623220B2 (ja) | ポリッシング装置及び方法 | |
| JP7521148B1 (ja) | めっき装置、及び基板ホルダを洗浄する洗浄方法 | |
| JP3652359B2 (ja) | ポリッシング装置 | |
| JPH07142550A (ja) | 基板処理装置 | |
| JP3102824B2 (ja) | 基板処理装置 | |
| JPH05129267A (ja) | 洗浄装置 | |
| JPS60187027A (ja) | 部品の洗浄方法 | |
| JPH11330193A (ja) | 基板処理装置 | |
| JP3628307B2 (ja) | ポリッシング装置及び方法 | |
| JPH07321079A (ja) | 基板洗浄用キャリア及び基板洗浄方法 |