JPH04315032A - 高温一般腐食テスト装置 - Google Patents

高温一般腐食テスト装置

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JPH04315032A
JPH04315032A JP3357515A JP35751591A JPH04315032A JP H04315032 A JPH04315032 A JP H04315032A JP 3357515 A JP3357515 A JP 3357515A JP 35751591 A JP35751591 A JP 35751591A JP H04315032 A JPH04315032 A JP H04315032A
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JP
Japan
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gas
stage
preheating
reactor
assembly
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JP3357515A
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Joelle A Bressan
ジョエル、ブレッサン
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Gaz de France SA
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Publication date
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N17/00—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light

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  • Biodiversity & Conservation Biology (AREA)
  • Ecology (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Environmental Sciences (AREA)
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  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Pathology (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、応力下腐食を含む高温
一般腐食を検査するテスト装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、約１００℃を超えない温度条件の
もとに電気化学的ガラス壁体セルを使用して、局所的孔
食腐食現象を実験的に検査する方法はすでに提案されて
いる。また２００℃以下、１０ＭＰａ以下の圧力に対応
する比較的きびしい作業環境条件のもとの応力下腐食現
象を検査する実験材料が作製されている。しかしこのよ
うな実験材料は、約６００℃乃至約９００℃のオーダの
温度での一般腐食の検査には不適当である。この故に従
来は、約２００℃を越える温度において実験室で簡便に
一般腐食現象を検査する事が不可能だった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は前記の
問題点を解決し、非常な高温と圧下の液体およびガス媒
質による可変的腐食条件における一般腐食をコンパクト
な装置を使用して検査する事を可能とするにある。本発
明の他の目的は、類似構造の装置を使用して一般腐食お
よび応力下腐食を検査する事を可能にするにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】選択的液体フィーダ組立
体と、圧下ガスの選択的フィーダ組立体と、混合−予熱
組立体と、前記混合−予熱組立体から出たガス−蒸気混
合物を複数の高温一般腐食テスト回路に分配する分配組
立体と、各テスト回路から出たガスおよび蒸気混合物を
冷却する冷却手段と、前記ガス−蒸気混合物から液相と
ガス相を別個に回収するための分離装置とを含み、前記
混合−予熱組立体は、前記液体フィーダ組立体から受け
た液体を蒸発させるための蒸発段階と、前記ガスフィー
ダ組立体から受けた圧下ガスと前記蒸発段階において発
生された蒸気とを混合する混合段階と、前記混合段階か
ら出たガス−蒸気混合物を１５０℃乃至３００℃のオー
ダの温度まで予熱する予熱段階とを含み、また前記の各
腐食テスト回路は反応器を含み、前記反応器に送入され
たガス−蒸気混合物を４００℃乃至６００℃のオーダの
温度まで予熱する中間予熱段階と、少なくとも１つのテ
ストされる物質のサンプルを格納する最終加熱段階とを
含み、前記サンプルが前記中間予熱段階から出たガス−
蒸気混合物流と接触させられまた約７００℃乃至約８５
０℃の範囲内の温度まで加熱されるようにした高温一般
腐食テスト装置によって、前記の目的が達成される。
【０００５】望ましくは、前記の分配組立体は、前記予
熱段階の排出口に配置されて層流または乱流を生じる着
脱自在の分配装置を含む。分配組立体はテスト回路と同
数の平行管を含み、各管はそれぞれ電熱抵抗、止め弁と
、排出弁とを含む。
【０００６】本発明の他の実施態様において、テスト回
路の反応器の外部にあるテスト回路部分を約２００℃以
下まで冷却するために分配組立体とそれぞれの反応器と
の間に配置された液流熱交換器を含む。各反応器はグラ
ブの指状の単一本体を含み、この本体は中間予熱段階と
最終加熱段階とを集積し、また前記本体の中に種々の構
成要素が上から挿入される。各反応器は最終加熱段階の
レベルにセラミックスライニングを含む。
【０００７】一般腐食を検査するため、各反応器の最終
加熱段階は望ましくはサンプルキャリヤを含み、このキ
ャリヤ上に複数のサンプルが螺旋形に配置される。応力
下腐食の検査のため、各反応器の最終加熱段階は引っ張
りテスト片から成る単一のサンプルを含み、各引っ張り
テスト片に対して所定の引っ張り応力を加えるために各
テスト回路の中に引っ張り手段が配備される。各引っ張
りテスト片に対して加えられる引っ張り応力と伸びとを
モニタするために、各テスト回路の中に応力センサと伸
びセンサを含む。
【０００８】本発明の望ましい実施態様によれば、前記
引っ張り手段は、引っ張りサーボモータと、考慮される
引っ張りテスト片に対して低速で制御的に連続応力傾斜
を生じるためののこぎり形電圧発生装置とを含む。本発
明のテスト装置は開ループまたは閉ループで作動する事
ができる。閉ループの場合、前記の圧下ガス供給用選択
的ガスフィーダ組立体から送入らたガスは、テスト回路
と冷却回路を通過後に、前記ガスフィーダ組立体に循環
される。
【０００９】本発明の他の実施態様によれば、各テスト
回路から出たガス−蒸気混合物の冷却手段は、それぞれ
の反応器の排出口に共通水冷回路と共に配置された空冷
コイルを含む。好ましくは、前記蒸発段階は液流の螺旋
形チャンネルとガス流の軸流チャンネルとから成る。本
発明のテスト装置は例えば３乃至５のテスト回路を含む
。本発明の他の実施態様によれば、前記の予熱段階、中
間予熱段階および最終加熱段階はガス−蒸気混合物をそ
れぞれ約２００℃、約５００℃および約８００℃まで上
昇させるように成されている。
【００１０】
【実施例】図１の装置はタンク２１を有する選択的液体
フィーダ組立体２０を含み、このタンクは例えば約５〜
２０リットルの容量を有しまた水などの供給液体を収容
する。この液体はタンク２１から、止め弁２２、フィル
タ２３、流量制御器２４、ポンプ２５および逆止め弁２
６を含む回路を通して選択的に装置に供給される。蒸発
段階３０に液体を送るダクトに対して、弁２７によって
圧力計２８が接続されている。また選択的送液組立体２
０はドレン２９、排出弁、およびレベル検出部材との接
続を成す弁を含む。
【００１１】圧下ガス、例えば数ＭＰａのオーダのガス
を送入するためのガスフィーダ組立体１０は、外部から
ガスを送入するためのガス導入管１１と、止め弁１２と
、逆止め弁１３と、蒸発段階３０を通して下方に、噴射
ガスと蒸発段階３０において噴射液体から生成された蒸
気とを混合する段階４０の中に開くダクトとを含む。 弁１４を介して導入管１１に接続された圧力計１５は、
約８００℃の温度での一般腐食に応用される際の圧力、
例えば３ＭＰａをモニタする事ができる。混合段階４０
から出たガス−蒸気混合物が、混合段階４０から出た混
合物を約１５０〜３００℃、例えば２００℃に予熱する
ための予熱段階５０に加えられる。
【００１２】蒸発組立体および混合組立体の各段階３０
、４０、５０の温度をモニタするために熱電対３１、４
１、５１が備えられる。予熱段階５０は望ましくは層流
または乱流の流れを分配する部材５２を含む。組立体６
０は一連の電熱抵抗６５を含み、例えば２００℃に予熱
されたガス−蒸気混合物を各テスト回路７０そのものに
選択的に輸送するのに役立つ。この組立体６０はファン
装置６３と温度モニタ手段６４とを含む。テスト回路７
０に達する各管は止め弁６１と排出弁６２とを含む。 各テスト回路７０そのものは、反応器７２、７３に付属
する外部ヘッドを含み、このヘッドは液体流を予熱器５
０の排出温度、例えば２００℃より高くない温度に維持
するための冷却回路７１を備える。
【００１３】テスト回路７０の反応器は、この反応器に
導入されるガス−蒸気混合物を４００〜６００℃、例え
ば５００℃のオーダに予熱する中間予熱段階７２と、テ
ストされる材料のサンプルセット７６が配置される最終
加熱段階７３とを含む。最終加熱段階７３は、サンプル
７６と接触させられるガス−蒸気混合物の温度を７００
〜８５０℃、例えば８００℃に上昇させる事のできる加
熱炉から成る。反応器の区域７２と７３の中の温度をモ
ニタするために熱電対７４、７５が使用される。
【００１４】各反応器７２、７３の排出口において、例
えば８００℃に加熱されたガス−蒸気混合物が空冷コイ
ル７７の中で冷却され、つぎに弁７８によって第２冷却
回路９１に送られ、この第２冷却回路９１はすべてのテ
スト回路７０に対して共通であって、その冷媒として水
流を使用する。冷却された流体混合物が分離段階９０に
送られ、セパレータ９２の中に入る。液体相がセパレー
タ９２の底部から手動注出弁９３によって除去されるが
、ガス相はセパレータ９２の頂上からドレン９６と排出
口を成すガス流量制御器９７とを介して除去され、前記
の制御器９７は応力下の一般腐食を調査する際にガス導
入口１１までループを成さない。分離される混合物の圧
力をモニタするため、弁９４によってセパレータ９２に
接続された圧力計９５が使用される。
【００１５】図１の概略図に図示の構成要素の一部を下
記に図３乃至図１０について詳細に説明する。図２は図
１の装置と多くの共通点を持つ応力下腐食テスト装置の
全体概略図であって、これらの装置の共通部分は同一数
字を与えられ、ここに再び説明されない。すなわち、圧
下ガスの選択的ガスフィーダ組立体１０、選択的液体フ
ィーダ組立体２０、混合物蒸発用組立体３０、４０、５
０および混合物流分布組立体６０は図１と図２において
完全に同一であり、また開ループ式でガスを使用する場
合、ガス−液体セパレータ装置９０はまったく同一であ
る。
【００１６】図２の構造はそのテスト回路８０において
相違している。このテスト回路８０は図１のテスト回路
７０と多くの共通点を有するが、種々の相違点がある。 すなわち、各テスト回路８０の外部ヘッドは流体を貫流
させる熱交換器８１を含み、この熱交換器８１は図１の
熱交換器７１と類似である。各反応器８２、８３は、図
１の熱電対７４、７５を備えた２段階７２、７３と類似
の熱電対８４、８５を有する中間加熱段階８２および最
終加熱段階８３を成す。空冷コイル８７と弁８８もそれ
ぞれ図１の７７および７８に対応する。図１の実施例に
おいては４テスト回路７０があるが、図２の実施例にお
いては３テスト回路８０がある。これ以外の数のテスト
回路、例えば２または４テスト回路を使用する事もでき
る。
【００１７】図２の装置は、各反応器８２、８３がそれ
ぞれ引っ張りテスト片から成る単一のサンプル８６を収
容し、各サンプルは装置８９によって制御された引っ張
り応力を受け、この引っ張り装置８９は各反応器の上方
に配置され例えば上下運動する引っ張りサーボモータ８
９ａと８９ｂとから成る。この実施態様は、図１１乃至
図１７についてさらに詳細に説明する。図２に見られる
ように、コイル８７によって冷却されたガス混合物がガ
ス導入口１１を通して再噴射され、破線で示すように閉
ループを成す事ができる。このような再噴射は弁８８の
排出口から実施する事ができ（ループ９８ａ）、または
制御器９８の下流の排出口から実施する事ができる（ル
ープ９８ｂ）。
【００１８】図３は蒸発−混合装置３０、４０、５０の
実施例の断面図である。蒸発段階３０の本体１２１の外
周部分は蒸発された液体の通路１２３を成す螺旋ネジピ
ッチを画成する。また本体１２１は、きびしい環境条件
を生じるように選定された圧下ガスを転送するための内
部軸方向チャンネル１２２を有する。これらのガスは化
学的に腐食性のガス、例えば塩素または酸素とする事が
できる。熱電対１２５〜１２７を受けるための他の軸方
向通路が配備されている。
【００１９】蒸発器３０はガスフィーダ組立体１０と液
体フィーダ組立体２０とに対してスペーサ１１０を通し
て接続され、このスペーサ１１０はナット１１１によっ
て蒸発器の本体１２１を成すプラグのヘッド１２０に対
して圧着保持されている。蒸発器３０の本体のヘッド１
２０と、すべての段階、すなわち蒸発段階３０、混合段
階４０および予熱段階５０に共通のグラブの指状の本体
１２４との間に、Ｏ−リング１１２が配置されている。
【００２０】図４乃至図６はスペーサ１１０を通してガ
スを送りまた熱電対１２５〜１２７を通すためのチャン
ネル１１４と、スペーサの中に液体を送入するためのチ
ャンネル１１６とを詳細に図示する。図示のように、ガ
ス導入管と熱電対に接続されたケーブルがスペーサの傾
斜上側面に形成されたハウジング１１３に接続され、液
体フィーダ管がハウジング１１５を通して側方から接続
されている。
【００２１】図７は一般的腐食反応器の実施例を示す。 この反応器はグラブの指状の本体１４６を含み、この本
体は、中間予熱段階７２と高温加熱炉７３の中に形成さ
れたハウジング中に、特殊工具を使用しないで手作業で
挿入する事ができる。本体１４６の底部は、その非常に
高温の部分全体に延在するセラミックスライニング１５
６を内側に備えている。またサンプルキャリヤ１５５上
に配置されたサンプル１５９上を流通したガス−蒸気混
合物を排出するため、本体１４６はその下端を通してオ
リフィス１５７を有する。図８に図示のように、サンプ
ル１５９はキャリア１５５の周囲に望ましくは螺旋形に
配置される。各サンプルはピン１５８によって保持され
る。サンプルキャリア１５５そのものは、中間予熱段階
７２の加熱装置本体の下部１５２に形成された穴１６４
に係合した軸１５４によって懸垂され、また前記の加熱
装置本体１５１はその外側面にガス混合物を通すための
螺旋形通路１５３を備える。
【００２２】図９と図１０に図示のように、加熱装置は
反応器の加熱区域７２と７３の中の温度を測定するため
の熱電対を受けるために内部を軸方向に貫通するチャン
ネル１４５と１６５を有する。本体１５２の頂部に形成
された軸方向チャンネル１６２はタイバー１３４の下端
を受け、このタイバーはナット１３５を備え、このナッ
トがヒータ１５１とサンプルキャリア１５５とをトップ
プラグ１３３上に固着し、このトッププラグ１３３は反
応器本体１４６の頂上面に介在Ｏ−リング１３６を介し
て配置され、ナット１３７によって保持されている。プ
ラグ１３３はワイヤー１３１と１３２の接続端子を担持
し、これらのワイヤーは、加熱区域７２、７３、および
反応器本体１４６が加熱区域７２の中に入る直前の区域
１４５ａの中にそれぞれ配置された温度測定プローブに
接続される。
【００２３】中間予熱段階７２の外部の反応器部分は冷
媒を流す冷却回路７１を有し、この冷却回路は、本体１
４６の周囲に環状スペースを残す外側ジャケット１３８
と、冷媒供給管１４１および排出管１４２を含む。この
熱交換器７１の下方において本体１４６の外側面に望ま
しくは冷却フィン１４４を形成する。ヒーター本体１５
１とプラグ１３３との間に、スペーサ１３９およびその
中を貫通するタイバー１３４が介在させられる。またヒ
ーター本体１５１とプラグ１３３との間に、ガス流体を
通過させるオリフィスを有する複数のワッシャ１４０が
分布される。
【００２４】図１１乃至図１４は応力下の腐食を検査す
るテスト回路８０を示す。この場合図７のタイバー１３
４の代わりに使用されるタイバー１３４は上方に引っ張
り機構の出力軸２１０まで延在し、下方においては単一
サンプル１５９の上端まで延在する。このサンプル１５
９は引っ張りテスト片を成し、このテスト片の下端部は
キー２１９とワッシャ２２０によってスペーサ２２１の
下端に固着され、このスペーサはテスト片１５９の下端
とヒーター本体１５１の下端との間に介在されている。 加熱段階８１、８２、８３の他の構成要素は図７につい
て述べたものと類似であるので同一数字で示す。図１１
の上端において、タイバー１３４は２つのＯ−リング２
１７と２１８を担持しまたこのタイバー１３４は第２液
体流熱交換器を通過し、この第２熱交換器は環状チャン
バ２１６を画成するジャケット２１３と、導入管２１４
および端２１５を備える。この第２熱交換器はナット２
１１によってプレート２１２上に固着される。
【００２５】図１５と図１６は引っ張り装置２００を示
し、この装置は１連のサーボモータ２０１を含み、これ
らのサーボモータはその脚２０２によってフレーム２０
３上に搭載され、タイバー２０４に対して調節自在の引
っ張り力を加える。このタイバーは引っ張りセンサを含
む事ができる。タイバー２０４と軸２１０との間にヒン
ジによって取り付けられたセンサ２０７はそれぞれフォ
ーク２０５または２０８と、ピン２０６または２０９と
を含む。
【００２６】図１７は、３テスト回路、従って３測定セ
ルを有する応力下腐食テスト装置の実施態様の電気系統
回路図である。図１７は３個の測定セル３０６を示し、
それぞれ図２のテスト片８６、または図１１の高温反応
器８０の中のサンプル１５９などのテスト片を収容する
。参照数字３０３は、圧搾空気源３０１から圧搾空気を
供給されるサーボモータ３０２を備えた引っ張り機構を
示す。３０４と３０７は、それぞれ移動センサ（すなわ
ち伸びセンサ）と引っ張り力センサとを示す。センサ３
０７は電源３０９から給電されるが、各伸びセンサ３０
４は伸び制御装置３０５から給電され、この伸び制御装
置３０５は測定セル３０６のテスト片に対して、所定の
低速で逓増する応力を加えるようにノコギリ形電圧パル
スを送る。
【００２７】温度制御回路３０８に対して、熱電対など
の温度測定デバイスと加熱手段とが接続される。各測定
セルの温度データ、引っ張り力センサによって測定され
たデータ、および伸びセンサ３０４によって測定された
伸びデータがデータ収集回路３１０に転送され、この回
路３１０がデータ処理計算回路３１１に接続され、この
回路３１１がプリンタ手段３１２またはプロッタ手段３
１３に接続される。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の高温一般腐食テスト装置の概念図
【図
２】応力下腐食テスト用の本発明のテスト装置の概念図
【図３】図１と図２の装置に使用される混合−予熱組立
体の断面図
【図４】図３のスペーサの細部を示す図であって図４と
図６はそれぞれスペーサの底面図および平面図、図５は
図４のＶ−Ｖ線に沿った断面図
【図５】図３のスペーサの細部を示す図であって図４と
図６はそれぞれスペーサの底面図および平面図、図５は
図４のＶ−Ｖ線に沿った断面図
【図６】図３のスペーサの細部を示す図であって図４と
図６はそれぞれスペーサの底面図および平面図、図５は
図４のＶ−Ｖ線に沿った断面図
【図７】図１の装置の一般腐食反応器の詳細な軸方向断
面図
【図８】図７の矢印Ｆに沿った断面図であってサンプル
をサンプルキャリアの上に配置する方法を示す断面図
【
図９】図７に使用されるヒーター装置の中間予熱段階の
本体部分のそれぞれ立面図および断面図
【図１０】図７
に使用されるヒーター装置の中間予熱段階の本体部分の
それぞれ立面図および断面図
【図１１】図２の装置にお
いて使用される応力下腐食検査のための本発明による加
熱反応器の軸方向断面図
【図１２】図１１のそれぞれＸ
ＩＩ−ＸＩＩ、ＸＩＩＩ−ＸＩＩＩおよびＸＩＶ−ＸＩ
Ｖ線に沿ってとられた断面図
【図１３】図１１のそれぞれＸＩＩ−ＸＩＩ、ＸＩＩＩ
−ＸＩＩＩおよびＸＩＶ−ＸＩＶ線に沿ってとられた断
面図
【図１４】図１１のそれぞれＸＩＩ−ＸＩＩ、ＸＩＩＩ
−ＸＩＩＩおよびＸＩＶ−ＸＩＶ線に沿ってとられた断
面図
【図１５】図１１の応力下腐食テストのために反応器中
に使用される引っ張り装置の実施例を示す立面図
【図１
６】図１５の装置の一部の詳細図
【図１７】図２に示す
ような圧力下腐食テスト装置のサーボ制御回路および測
定信号処理回路を示す回路図
【符号の説明】
１０　　ガスフィーダ組立体 ２０　　液体フィーダ組立体 ３０　　蒸発段階 ４０　　混合段階 ５０　　予熱段階 ５２　　分配装置 ６０　　分配組立体 ６１　　止め弁 ６５　　電熱抵抗 ７０、８０　　テスト回路 ７１、８１　　熱交換器 ７２、７３；８２、８３　　反応器 ７７、９１　　冷却段階 ７２、８２　　中間予熱段階 ７３、８３　　最終加熱段階 ７６、１５９　　サンプル ８６　　テスト片 ８９　　引っ張りサーボモータ １４６　　反応器の本体 １５６　　セラミックスライニング ３０２、３０３　　サーボモータ ３０４　　伸びセンサ ３０５　　のこぎり状電圧発生器 ３０７　　引っ張り力センサ ３０６　　テスト片

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】選択的液体フィーダ組立体（２０）と、圧
    下ガスの選択的フィーダ組立体（１０）と、混合−予熱
    組立体（３０、４０、５０）と、前記混合−予熱組立体
    （３０、４０、５０）から出たガス−蒸気混合物を複数
    の高温一般腐食テスト回路（７０、８０）に分配する分
    配組立体（６０）と、各テスト回路（７０、８０）から
    出たガスおよび蒸気混合物を冷却する冷却手段（７７、
    ９１）と、前記ガス−蒸気混合物から液相とガス相を別
    個に回収するための分離装置（９０）とを含み、前記混
    合−予熱組立体は、前記液体フィーダ組立体（２０）か
    ら受けた液体を蒸発させるための蒸発段階（３０）と、
    前記ガスフィーダ組立体（１０）から受けた圧下ガスと
    前記蒸発段階（３０）において発生された蒸気とを混合
    する混合段階（４０）と、前記混合段階（４０）から出
    たガス−蒸気混合物を１５０℃乃至３００℃のオーダの
    温度まで予熱する予熱段階（５０）とを含み、また前記
    の各腐食テスト回路（７０、８０）は反応器を含み、前
    記反応器はその中に送入されたガス−蒸気混合物を４０
    ０℃乃至６００℃のオーダの温度まで予熱する中間予熱
    段階（７２、８２）と、少なくとも１つのテストされる
    物質のサンプル（７６、１５９）を格納する最終加熱段
    階（７３、８３）とを含み、前記サンプルが前記中間予
    熱段階（７２、８３）から出たガス−蒸気混合物流と接
    触させられまた約７００℃乃至約８５０℃の範囲内の温
    度まで加熱されるようにした事を特徴とする高温一般腐
    食テスト装置。
  2. 【請求項２】前記の分配組立体（６０）は、前記予熱段
    階（５０）の排出口に配置されて層流または乱流を生じ
    る着脱自在の分配装置（５２）を含む事を特徴とする請
    求項１に記載のテスト装置。
  3. 【請求項３】分配組立体（６０）はテスト回路（７０）
    と同数の平行管を含み、各管はそれぞれ電熱抵抗（６５
    ）と、止め弁（６１）と、排出弁（６２）とを含む事を
    特徴とする請求項１または２のいずれかに記載のテスト
    装置。
  4. 【請求項４】テスト回路（７０；８０）の反応器（７２
    、７３；８２、８３）の外部にあるテスト回路部分を約
    ２００℃以下まで冷却するために分配組立体（６０）と
    それぞれの反応器（７２、７３；８２、８３）との間に
    配置された液流熱交換器（７１；８１）を含む事を特徴
    とする請求項１乃至３のいずれかに記載の装置。
  5. 【請求項５】各反応器（７２、７３；８２、８３）はグ
    ラブの指状の単一本体（１４６）を含み、この本体（１
    ４６）は中間予熱段階（７２；８２）と最終加熱段階（
    ７３、８３）とを集積し、また前記本体（１４６）の中
    に種々の構成要素が上から挿入される事を特徴とする請
    求項１乃至４のいずれかに記載の装置。
  6. 【請求項６】各反応器（７２、７３；８２、８３）は最
    終加熱段階（７３；８３）のレベルにセラミックスライ
    ニング（１５６）を含む事を特徴とする請求項１乃至５
    のいずれかに記載の装置。
  7. 【請求項７】各反応器（７２，７３）の最終加熱段階（
    ７３）はサンプルキャリヤ（７６；１５５）を含み、こ
    のキャリヤ上に複数のサンプル（１５９）が螺旋形に配
    置される事を特徴とする請求項１乃至６のいずれかに記
    載の装置。
  8. 【請求項８】各反応器（８２、８３）の最終加熱段階（
    ８３）は引っ張りテスト片から成る単一のサンプル（８
    ６）を含み、各引っ張りテスト片（８６）に対して所定
    の引っ張り応力を加えるために各テスト回路（８０）の
    中に引っ張り手段（８９）が配備される事を特徴とする
    請求項１乃至６のいずれかに記載の装置。
  9. 【請求項９】各引っ張りテスト片（８６、３０６）に対
    して加えられる引っ張り応力と伸びとをモニタするため
    に、各テスト回路（８０）の中に応力センサ（３０７）
    と伸びセンサ（３０４）を含む事を特徴とする請求項８
    に記載の装置。
  10. 【請求項１０】前記引っ張り手段（８）は、引っ張りサ
    ーボモータ（３０２；３０３）と、考慮される引っ張り
    テスト片（３０６）に対して低速で制御的に連続応力傾
    斜を生じるためののこぎり形電圧発生装置（３０５）と
    を含む事を特徴とする請求項９に記載の装置。
  11. 【請求項１１】前記の圧下ガス供給用の選択的ガスフィ
    ーダ組立体（１０）から供給されたガスを循環させる閉
    ループを含む事を特徴とする請求項８乃至１０のいずれ
    かに記載の装置。
  12. 【請求項１２】各テスト回路（７０）から出たガス−蒸
    気混合物の冷却手段（７７、９１）は、それぞれの反応
    器の排出口に共通水冷回路（９１）と共に配置された空
    冷コイル（７７、８７）を含む事を特徴とする請求項１
    乃至１１のいずれかに記載の装置。
  13. 【請求項１３】前記蒸発段階（３０）は液流の螺旋形チ
    ャンネルとガス流の軸流チャンネルとから成る事を特徴
    とする請求項１乃至１２のいずれかに記載の装置。
  14. 【請求項１４】３乃至５のテスト回路（７０；８０）を
    含む事を特徴とする請求項１乃至１３のいずれかに記載
    の装置。
  15. 【請求項１５】前記の予熱段階（５０）、中間予熱段階
    （７２；８２）および最終加熱段階（７３；８３）はガ
    ス−蒸気混合物をそれぞれ約２００℃、約５００℃およ
    び約８００℃まで上昇させるように成されている事を特
    徴とする請求項１乃至１４のいずれかに記載の装置。
JP3357515A 1990-12-31 1991-12-26 高温一般腐食テスト装置 Pending JPH04315032A (ja)

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