JPH0431773A - インピーダンス測定装置 - Google Patents
インピーダンス測定装置Info
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- JPH0431773A JPH0431773A JP13687090A JP13687090A JPH0431773A JP H0431773 A JPH0431773 A JP H0431773A JP 13687090 A JP13687090 A JP 13687090A JP 13687090 A JP13687090 A JP 13687090A JP H0431773 A JPH0431773 A JP H0431773A
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Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は各種の抵抗器、インダクタ、キャパシタ、或
はこれらの複合回路のインピーダンスを測定するインピ
ーダンス測定装置に関する。
はこれらの複合回路のインピーダンスを測定するインピ
ーダンス測定装置に関する。
被測定体に交流電圧を印加し、被測定体に流れる電流を
正弦波成分と余弦波成分に同期検波し、その検波出力信
号により被測定体のインピーダンスを求めるようにした
インピーダンス測定装置が実用されている。
正弦波成分と余弦波成分に同期検波し、その検波出力信
号により被測定体のインピーダンスを求めるようにした
インピーダンス測定装置が実用されている。
第7図及び第8図に従来のこの種のインピーダンス測定
装置を示す、第7図のインピーダンス測定装置では、方
形波発生器11は互に90°位相が異なる0°位相方形
波信号と、90°位相方形波信号とを出力する。
装置を示す、第7図のインピーダンス測定装置では、方
形波発生器11は互に90°位相が異なる0°位相方形
波信号と、90°位相方形波信号とを出力する。
0@位相方形波信号は低域通過が波器12により正弦波
信号に変換され、その正弦波信号はバッファ増幅器13
で増幅されて被測定体14に印加される。
信号に変換され、その正弦波信号はバッファ増幅器13
で増幅されて被測定体14に印加される。
被測定体14を流れる電流IDII〒が電流−電圧変換
器15に取込まれ、電圧信号IP1に変換されて切替ス
イッチ16の一方の固定接点Aに与えられる。
器15に取込まれ、電圧信号IP1に変換されて切替ス
イッチ16の一方の固定接点Aに与えられる。
切替スイッチ16の他方の入力端子には被測定体14に
印加した電圧信号VMを与える。
印加した電圧信号VMを与える。
V□にv8
1□i 二 17ノRt
R2は電流−電圧変換器15の帰還抵抗器の抵抗値であ
る。
る。
Vn、lxは切替スイッチ16によって同期検波器21
と22に選択的に与えられる。同期検波器21には基準
信号として0°位相方形波信号が与えられ、また同期検
波信号22には90°位相方形波信号が与えられ、これ
ら同期検波信号21と22で電圧信号V工と18の正弦
波成分と余弦波成分に分離して同期検波(ベクトル検波
)される、同期検波器21.22の検波出力は積分回路
23.24で積分し、平滑化して切替スイッチ25に与
えられる。
と22に選択的に与えられる。同期検波器21には基準
信号として0°位相方形波信号が与えられ、また同期検
波信号22には90°位相方形波信号が与えられ、これ
ら同期検波信号21と22で電圧信号V工と18の正弦
波成分と余弦波成分に分離して同期検波(ベクトル検波
)される、同期検波器21.22の検波出力は積分回路
23.24で積分し、平滑化して切替スイッチ25に与
えられる。
切替スイッチ25は正弦波成分の検波出力V。
と、余弦波成分の検波出力■、とを選択して取出し、A
D変換器26でAD変換して演算表示器27に与え、Z
ntrr−(VN /111 ) ・Reを演算し、そ
の演算結果を被測定体14のインピーダンス値として表
示する。
D変換器26でAD変換して演算表示器27に与え、Z
ntrr−(VN /111 ) ・Reを演算し、そ
の演算結果を被測定体14のインピーダンス値として表
示する。
■ 電流−電圧変換回路の周波数応答特性の為に被測定
体14に与える正弦波信号の周波数を変えると同期検波
器2工と22に与えられる電圧信号IMの振幅及び位相
が変化し、これにより測定誤差が生じる。
体14に与える正弦波信号の周波数を変えると同期検波
器2工と22に与えられる電圧信号IMの振幅及び位相
が変化し、これにより測定誤差が生じる。
■ 電流−電圧変換器15で用いられる演算増幅器のオ
ープンループ利得は、入力側が開放されたとき発振しな
い程度の利得に制限されるため、利得が不足し、電流−
電圧変換器の入力点が完全な仮想接地状態にならない、
このために■9とVIIUTに差が生じ測定誤差が生じ
る。
ープンループ利得は、入力側が開放されたとき発振しな
い程度の利得に制限されるため、利得が不足し、電流−
電圧変換器の入力点が完全な仮想接地状態にならない、
このために■9とVIIUTに差が生じ測定誤差が生じ
る。
■ 電流−電圧変換器I5の入力が完全に仮想接地状態
にならないから被測定体14に流れる電1IDt+アの
一部がケーブル等の容量C6を流れる。
にならないから被測定体14に流れる電1IDt+アの
一部がケーブル等の容量C6を流れる。
これによって被測定体14を流れる電流I DUTと電
圧信号に変換されたI工との間に差が止し、これも測定
誤差となる。第8図はこれらの欠点を解決するために電
流−電圧変換回路15を改良した従来例である。
圧信号に変換されたI工との間に差が止し、これも測定
誤差となる。第8図はこれらの欠点を解決するために電
流−電圧変換回路15を改良した従来例である。
第8図a点にはI DUTが流れ込みb点の電圧■。
■。
がIIILI7=−となるように帰還ループが動作R1
する。
この方式では、電流−電圧変換回路15の周波数応答特
性、オープンループ利得の制限、a点の仮想接地誤差が
すべて解決され正確なインピーダンス解析が可能となる
。
性、オープンループ利得の制限、a点の仮想接地誤差が
すべて解決され正確なインピーダンス解析が可能となる
。
しかし、構成が複雑でしかも電流−電圧変換回路15の
ループ安定後にさらにベクトル検波を行うため高速化し
にくい欠点がある。
ループ安定後にさらにベクトル検波を行うため高速化し
にくい欠点がある。
また、試験周波数を変更する場合第7図に示す低域通過
が波器12及び第8図に示す低域通過が波器12’、1
2”の遮断周波数を変更する必要がある。
が波器12及び第8図に示す低域通過が波器12’、1
2”の遮断周波数を変更する必要がある。
この発明の目的は被測定体に与える正弦波信号の周波数
を変えても誤差が生じることがなく。また電流−電圧変
換器を構成する演算増幅器の利得を高く採り、演算増幅
器の入力端子を完全に仮想接地することができる高速、
高精度インピーダンス測定装置を比較的簡単な構成でし
かも安価に提供しようとするものである。
を変えても誤差が生じることがなく。また電流−電圧変
換器を構成する演算増幅器の利得を高く採り、演算増幅
器の入力端子を完全に仮想接地することができる高速、
高精度インピーダンス測定装置を比較的簡単な構成でし
かも安価に提供しようとするものである。
第1図にこの発明によるインピーダンス測定装置の構成
概念図を示す。
概念図を示す。
正弦波発生器31がら被測定体14に正弦波信号が与え
られ、被測定体14に電流I DtJTが流れる。この
電流111t17は電流−電圧変換器15を構成する演
算増幅器15Aの仮想設地点に流れ込む。
られ、被測定体14に電流I DtJTが流れる。この
電流111t17は電流−電圧変換器15を構成する演
算増幅器15Aの仮想設地点に流れ込む。
演算増幅15Aで増幅した信号は乗算器21゜22に入
力される。
力される。
乗算器21と22には基準信号として正弦波信号sin
と、余弦信号cosとがそれぞれ正弦波発生器32、余
弦信号発生器33がら与えられ、ベクトル検波する。
と、余弦信号cosとがそれぞれ正弦波発生器32、余
弦信号発生器33がら与えられ、ベクトル検波する。
乗算器21と22の検波出力は積分i23と24で積分
され、平滑化されて切替スイッチ25に取出される。切
替スイッチ25はAD変換器26にベクトル検波された
正弦波成分(実部)と余弦波成分(虚部)とを選択して
入力し、AD変換して演算表示部27に入力し、被測定
体I4のインピーダンスを表示する。
され、平滑化されて切替スイッチ25に取出される。切
替スイッチ25はAD変換器26にベクトル検波された
正弦波成分(実部)と余弦波成分(虚部)とを選択して
入力し、AD変換して演算表示部27に入力し、被測定
体I4のインピーダンスを表示する。
この発明の特徴とする構成は第1図に示す点線で囲んだ
帰還回路40の構成である。
帰還回路40の構成である。
つまり積分器23と24で平滑化したベクトル検波信号
を乗算器34.35に与え、乗算器34では乗算器21
においてベクトル検波された正弦波成分■、に正弦波発
生器36から出力される正弦波Sinを乗算する0乗算
器35では乗算器22においてベクトル検波された余弦
波成分v五に余弦波発生器37から出力される余弦波c
osを乗算し、その東軍結果を加算器38で加算し、既
知の抵抗値Rfを持つ帰還抵抗器39を通して演算増幅
器15Aの入力端子に帰還させた構成を特徴とするもの
である。
を乗算器34.35に与え、乗算器34では乗算器21
においてベクトル検波された正弦波成分■、に正弦波発
生器36から出力される正弦波Sinを乗算する0乗算
器35では乗算器22においてベクトル検波された余弦
波成分v五に余弦波発生器37から出力される余弦波c
osを乗算し、その東軍結果を加算器38で加算し、既
知の抵抗値Rfを持つ帰還抵抗器39を通して演算増幅
器15Aの入力端子に帰還させた構成を特徴とするもの
である。
二の帰還回路40の接続によって演算増幅器15Aは電
流−電圧変換器として動作する。つまり演算増幅器15
Aと帰還回路4oとによって電流−電圧変換器15が構
成される。
流−電圧変換器として動作する。つまり演算増幅器15
Aと帰還回路4oとによって電流−電圧変換器15が構
成される。
帰還抵抗器39を通じて演算増幅器15Aに帰還される
電流ifは被測定体14を流れる電流工□アと同じ値I
エア=Lとなる。つまり演算増幅器15Aから出力され
る電圧■、11が常にV、、、=Qとなるように帰還電
流i、が変化し、自動平衡ループが構成される。
電流ifは被測定体14を流れる電流工□アと同じ値I
エア=Lとなる。つまり演算増幅器15Aから出力され
る電圧■、11が常にV、、、=Qとなるように帰還電
流i、が変化し、自動平衡ループが構成される。
被測定体14のインピーダンス特性によって1!JUT
が正弦波成分であったとすると、V mPPはa −5
in(a+ t )となる、このa −5in(a+
t)の成分は乗算器21でベクトル検波され積分器23
がら正弦検波出力■、として出力される。
が正弦波成分であったとすると、V mPPはa −5
in(a+ t )となる、このa −5in(a+
t)の成分は乗算器21でベクトル検波され積分器23
がら正弦検波出力■、として出力される。
正弦検波出力■7に乗算器34で正弦波5in(ωt)
乗算されVl ・5rn(ωt)となって抵抗器39に
与えられ、電流jfに変換されて帰還され入力電流1o
ut=−一 ・5in(ωt)と平衡する(Gは演算増
幅器15Aの利得)。
乗算されVl ・5rn(ωt)となって抵抗器39に
与えられ、電流jfに変換されて帰還され入力電流1o
ut=−一 ・5in(ωt)と平衡する(Gは演算増
幅器15Aの利得)。
ループが平衡している間、正弦検波出力V、が出力され
続ける。この正弦検波出力■1は切替スイッチ25を通
じてAD変換器26に取込ま、演算表示器27でインピ
ーダンス値が表示される。
続ける。この正弦検波出力■1は切替スイッチ25を通
じてAD変換器26に取込ま、演算表示器27でインピ
ーダンス値が表示される。
一方V 、rrがb −cos(ωt )であった場合
は乗算器22のベクトル検波によって余弦検波出力■。
は乗算器22のベクトル検波によって余弦検波出力■。
が出力される。この余弦検波出方■iは乗算器35で余
弦波COSが乗算され、帰還抵抗器39で電流ifに変
換されて演算増幅器15Aに帰還されを相殺し、ループ
が平衡する。
弦波COSが乗算され、帰還抵抗器39で電流ifに変
換されて演算増幅器15Aに帰還されを相殺し、ループ
が平衡する。
ループが平衡している間接分器24は余弦検波出力V、
を出力し続ける。この余弦検波出力v轟を切替スイッチ
25を通じてAD変換器26に取込み、そのAD変換値
を演算表示器27に与えインピーダンス値を表示す。
を出力し続ける。この余弦検波出力v轟を切替スイッチ
25を通じてAD変換器26に取込み、そのAD変換値
を演算表示器27に与えインピーダンス値を表示す。
さらにv、11がC−5in(ωt+θ)=a−sin
(ωt) 十b−cos(ωt)であった場合はそれぞ
れ乗算器21.22から正弦検波出力vrと余弦検波出
力■iが出力され、その検波出力V1とV。
(ωt) 十b−cos(ωt)であった場合はそれぞ
れ乗算器21.22から正弦検波出力vrと余弦検波出
力■iが出力され、その検波出力V1とV。
にそれぞれ乗算器34と35で正弦波5in(ωt〕と
余弦波cos (ωt)が乗算されて演算増幅器15A
に帰還され、入力電流−一・5in(ωt+θ)が相殺
されループが平衡する。
余弦波cos (ωt)が乗算されて演算増幅器15A
に帰還され、入力電流−一・5in(ωt+θ)が相殺
されループが平衡する。
ループが平衡している間、積分器23と24は正弦検波
出力v1と余弦検波出力V、を出力し続ける。この正弦
検波出力■、と余弦検波出力■。
出力v1と余弦検波出力V、を出力し続ける。この正弦
検波出力■、と余弦検波出力■。
は切替スイッチ25でAD変換器26に交互に与えられ
、演算表示器27で演算されて被測定体14のインピー
ダンスが表示される。
、演算表示器27で演算されて被測定体14のインピー
ダンスが表示される。
第4図及び第5図に乗算器21.22及び3435の構
成を示す、この例では4象限乗算器を構成した場合を示
す、入力端子り、にオフセットバイナリディジタルデー
タ0FBDDATを与える。このオフセットバイナリデ
ィジタフレデータ0FBDDA丁の各ビットの信号は第
5図に示す二つの抵抗ラダー回路RRD、とRRD、の
スイッチs、、St、s、−・・S、、S、、、に与え
られ、これらスイッチ31〜S @ + 1をオン、オ
フ操作してDA変換動作する。
成を示す、この例では4象限乗算器を構成した場合を示
す、入力端子り、にオフセットバイナリディジタルデー
タ0FBDDATを与える。このオフセットバイナリデ
ィジタフレデータ0FBDDA丁の各ビットの信号は第
5図に示す二つの抵抗ラダー回路RRD、とRRD、の
スイッチs、、St、s、−・・S、、S、、、に与え
られ、これらスイッチ31〜S @ + 1をオン、オ
フ操作してDA変換動作する。
各乗算器21.22及び34.35のアナログ入力端子
R11fに入力されるアナログ入力信号ANは二つの演
算増幅器OP1とOP、の各一方の入力端子に与えられ
る。
R11fに入力されるアナログ入力信号ANは二つの演
算増幅器OP1とOP、の各一方の入力端子に与えられ
る。
演算増幅器OP、とOP、はそれぞれ帰還抵抗Rによっ
て利得1の増幅器として動作する。
て利得1の増幅器として動作する。
一方の演算増幅器OPIにはその非反転入力端子にアナ
ログ入力信号ANが与えられ、他方の演算増幅器OP
zにはその反転入力端子に与えられる。従って二つの演
算増幅器OP、とOP、は互に位相が逆転したアナログ
電圧信号V、とv2を出力し、これらアナログ電圧信号
V、とV、は抵抗ラダー回路RRD、とRRD、の電圧
入力端子■、に与えられる。
ログ入力信号ANが与えられ、他方の演算増幅器OP
zにはその反転入力端子に与えられる。従って二つの演
算増幅器OP、とOP、は互に位相が逆転したアナログ
電圧信号V、とv2を出力し、これらアナログ電圧信号
V、とV、は抵抗ラダー回路RRD、とRRD、の電圧
入力端子■、に与えられる。
抵抗ラダー回路RRD、とRRD、の出力端子Q2とQ
lを共通電位点に接続すると共に、抵抗ラダー回路RR
D+ とRRDtの各出力端子Q1とQ2を共通接続し
出力端子1.に接続する。
lを共通電位点に接続すると共に、抵抗ラダー回路RR
D+ とRRDtの各出力端子Q1とQ2を共通接続し
出力端子1.に接続する。
この回路構成においてアナログ入力信号ANとオフセッ
トバイナリディジタルデータ0FBDDATがAN=
a −5in(ωt +θン0FBDDAT−1+5
in(ωt )であったとすると、演算増幅器OP +
とOP tの出力電圧V、と■、は Vl = a −5in(ωt+θ)Vt =
a −5in(ωt+θ)となる。
トバイナリディジタルデータ0FBDDATがAN=
a −5in(ωt +θン0FBDDAT−1+5
in(ωt )であったとすると、演算増幅器OP +
とOP tの出力電圧V、と■、は Vl = a −5in(ωt+θ)Vt =
a −5in(ωt+θ)となる。
このとき抵抗ラダー回路RRD+ とRRDzの出力電
流i、とi!は il =b ・(1+sin art) ・V+it
−b ・(1−5in ωt) ・V。
流i、とi!は il =b ・(1+sin art) ・V+it
−b ・(1−5in ωt) ・V。
となり、出力電流■。、は
1oar=i++it −2a −5in(a+t+θ
) ・5in(ωt )となる。
) ・5in(ωt )となる。
この回路構成によれば、演算増幅器OP、とOP、はア
ナログ入力信号ANにのみ周波数帯域が要求されている
ため、理想的なバッファ及び反転出力が可能であり、デ
ィジタル変調出力電流10uアの周波数帯域に制限を与
えない。
ナログ入力信号ANにのみ周波数帯域が要求されている
ため、理想的なバッファ及び反転出力が可能であり、デ
ィジタル変調出力電流10uアの周波数帯域に制限を与
えない。
またディジタル入力端子りに与えるオフセットバイナリ
ディジタルデータ0FBODATの切替わり時に電流1
1のスパイクノイズと電流i!のスパイクノイズが発生
しても、これらのスパイクノイズは互に逆位相で発生し
、相殺される。
ディジタルデータ0FBODATの切替わり時に電流1
1のスパイクノイズと電流i!のスパイクノイズが発生
しても、これらのスパイクノイズは互に逆位相で発生し
、相殺される。
更に出力を流1ouアは2倍になるためSN化が6dB
向上する利点が得られる。
向上する利点が得られる。
以上説明したこの発明によれば電流〜電圧変換器15を
構成する帰還ループは乗算器21と22の出力側で直流
信号に変換される。この結果試験角周波数5in(ωt
)に係わりなく、演算増幅器15Aのオーブン利得を高
く採ることができる。つまり演算増幅器15Aのオープ
ン利得を高く採っても発振が起きるおそれがない。
構成する帰還ループは乗算器21と22の出力側で直流
信号に変換される。この結果試験角周波数5in(ωt
)に係わりなく、演算増幅器15Aのオーブン利得を高
く採ることができる。つまり演算増幅器15Aのオープ
ン利得を高く採っても発振が起きるおそれがない。
従って演算増幅器15Aの入力点の仮想接地は完全な状
態となり、被測定体14の電圧測定誤差及び電流測定誤
差を著るしく小さくすることができる。
態となり、被測定体14の電圧測定誤差及び電流測定誤
差を著るしく小さくすることができる。
一方上述では特に説明しなかったが、正弦波発生器31
と余弦波発生器37に位相調整機能を持たせると更に測
定確度を高めることができる。
と余弦波発生器37に位相調整機能を持たせると更に測
定確度を高めることができる。
その様子を第2図を用いて説明する。
第2図に示す31,32.及び36は第1図で説明した
と同じ正弦波発生器、33.37は余弦波発生器を示す
、これらの構成は第3図で説明する。
と同じ正弦波発生器、33.37は余弦波発生器を示す
、これらの構成は第3図で説明する。
第2回で特に説明する点は校正機能を持たせた点である
。つまり被試験体14と電流−電圧変換器15を構成す
る演算増幅器15Aとの間にモード切替スイッチ41を
設け、モード切替スイッチ41の切替によって電流測定
モード(接点aに倒す)と電圧測定及び校正モード(接
点すに倒す)とに切替ることかできるように構成してい
る。
。つまり被試験体14と電流−電圧変換器15を構成す
る演算増幅器15Aとの間にモード切替スイッチ41を
設け、モード切替スイッチ41の切替によって電流測定
モード(接点aに倒す)と電圧測定及び校正モード(接
点すに倒す)とに切替ることかできるように構成してい
る。
電流測定モードでは第1図に示したと同捧に被測定体1
4の一端側に正弦波発生器31から与えられる正弦波電
圧vl、otが与えられ、他端側はモード切替スイッチ
41を通じて演算増幅器15Aの反転入力端子に接続さ
れる。
4の一端側に正弦波発生器31から与えられる正弦波電
圧vl、otが与えられ、他端側はモード切替スイッチ
41を通じて演算増幅器15Aの反転入力端子に接続さ
れる。
モード切替スイッチ41を接点a側に倒し、校正モード
に切替ると、被測定体14の他端はモード切替スイッチ
41によって共通電位に接続され、演算増幅器15Aの
反転入力端子には被測定体14の代りに校正用抵抗器4
2が接続される。この校正用抵抗器42は広い周波数範
囲にわたって純抵抗として動作する特性のものを使用す
る。
に切替ると、被測定体14の他端はモード切替スイッチ
41によって共通電位に接続され、演算増幅器15Aの
反転入力端子には被測定体14の代りに校正用抵抗器4
2が接続される。この校正用抵抗器42は広い周波数範
囲にわたって純抵抗として動作する特性のものを使用す
る。
従って被測定体14の代りに校正用抵抗器42を接続し
た場合には演算増幅器15Aから出力される電圧信号V
errは正弦波成分だけになるはずである。
た場合には演算増幅器15Aから出力される電圧信号V
errは正弦波成分だけになるはずである。
然し乍ら回路の位相特性等によって乗算器22に与えら
れる信号に位相回転が生じると、乗算器22で直交誤差
が生じる。このためこの位相回転量を修正して正弦波発
生器32から乗算器21に与えられる正弦波信号と校正
用抵抗器42を通じて演算増幅器15Aに与えられる信
号の位相差がゼロとなるように校正する。
れる信号に位相回転が生じると、乗算器22で直交誤差
が生じる。このためこの位相回転量を修正して正弦波発
生器32から乗算器21に与えられる正弦波信号と校正
用抵抗器42を通じて演算増幅器15Aに与えられる信
号の位相差がゼロとなるように校正する。
このためには切替スイッチ25をa側に倒し、積分器2
3と低域通過が波器43を通じて出力される信号v1が
Oとなるように正弦波発生器31の位相θ1を設定する
。このとき設定される位相θ、は本来設定すべき値から
90″ずれているから本来設定すべき位相θ、はθ、+
−(rad)に修正して第3図に示す補正データメモリ
301に記憶する。
3と低域通過が波器43を通じて出力される信号v1が
Oとなるように正弦波発生器31の位相θ1を設定する
。このとき設定される位相θ、は本来設定すべき値から
90″ずれているから本来設定すべき位相θ、はθ、+
−(rad)に修正して第3図に示す補正データメモリ
301に記憶する。
つまりこの場合には正弦検波出力■、が最大値になるよ
うに調整しなければならないが、最大値に設定する作業
はむずかしい。このためθ1を本来の位相値から −(
rad)ずらし、これによってて正弦検波出力v1がV
、=0になるようにθ。
うに調整しなければならないが、最大値に設定する作業
はむずかしい。このためθ1を本来の位相値から −(
rad)ずらし、これによってて正弦検波出力v1がV
、=0になるようにθ。
を調整すれば0点は比較的簡単で然も正確に合せること
かできる。従って0点に設定し、その調整値θ1をθ、
+ −(rad)に修正すれば正しい位相値を得る
ことができる。
かできる。従って0点に設定し、その調整値θ1をθ、
+ −(rad)に修正すれば正しい位相値を得る
ことができる。
次に切替スイッチ25を接点す側に倒し、今度は余弦波
発生器37の位相θ2を調整する。この場合には余弦検
波出力■、が■、=0となるようにθ、を調整すればよ
い。θ2も第3図に示す補正データメモリ301に記憶
する。(校正用抵抗器42が純抵抗であるため)。
発生器37の位相θ2を調整する。この場合には余弦検
波出力■、が■、=0となるようにθ、を調整すればよ
い。θ2も第3図に示す補正データメモリ301に記憶
する。(校正用抵抗器42が純抵抗であるため)。
以上で位相の校正が完了する。
次に乗算器21と22のベクトル検波利得を校正する。
つまり正弦波発生器31と余弦波発生器37において位
相θ8.θ2とを調整すると、これら正弦波発生H31
と余弦波発生器37がら出力される正弦波5in(ωt
+01)と余弦波cos(ωt+θ2) の振幅が変化
する不都合がある。
相θ8.θ2とを調整すると、これら正弦波発生H31
と余弦波発生器37がら出力される正弦波5in(ωt
+01)と余弦波cos(ωt+θ2) の振幅が変化
する不都合がある。
その理由は正弦波発生器31及び余弦波発生器37は第
3図に示すようにディジタル波形記憶器312.314
と、これらディジタル波形記憶器312及び314にア
ドレス信号を与えるフェーデスアキュームレータ308
とによって構成される。
3図に示すようにディジタル波形記憶器312.314
と、これらディジタル波形記憶器312及び314にア
ドレス信号を与えるフェーデスアキュームレータ308
とによって構成される。
ディジタル波形記憶器312及び314は波形データが
アドレス順に書込まれており、位相θ、。
アドレス順に書込まれており、位相θ、。
θ8を変更するには、その続出アドレスが例えば1.1
1,21.31・・・101番地を繰返し続出している
状態から、例えば2,12,22,32゜・・・102
番地を読出すように変更して位相θ1゜θ2を変更する
構造のため、ディジタル波形記憶器に記憶されている最
大振幅値を必ず読出すことにならないことと、続出アド
レスの変更により最大振幅値が記憶されているアドレス
との相対位置が変わるため、読出されてDA変換されて
出力される波形の振幅がわずかではあるが変化する。
1,21.31・・・101番地を繰返し続出している
状態から、例えば2,12,22,32゜・・・102
番地を読出すように変更して位相θ1゜θ2を変更する
構造のため、ディジタル波形記憶器に記憶されている最
大振幅値を必ず読出すことにならないことと、続出アド
レスの変更により最大振幅値が記憶されているアドレス
との相対位置が変わるため、読出されてDA変換されて
出力される波形の振幅がわずかではあるが変化する。
この振幅の変化は乗算器21と22のベクトル検波出力
V1とV、を変化させる不都合があるため、ここでは実
部検波利得補正係数aと虚部利得補正係数b(以下単に
利得補正係数と称す)を求める。
V1とV、を変化させる不都合があるため、ここでは実
部検波利得補正係数aと虚部利得補正係数b(以下単に
利得補正係数と称す)を求める。
利得補正係数aとbは次のようにして求める。
モード切替スイッチ41を接点a側に倒し、切替スイッ
チ25を接点す側に倒した状態で正弦波発生器31の位
相θ1を例えば、 θI(i) =ψ、十Δθ・i (rad)(i=0〜
10.ψ+:i=Oのときの01の値π つまりθ1十 −に修正する前の01の値、変化させる
。
チ25を接点す側に倒した状態で正弦波発生器31の位
相θ1を例えば、 θI(i) =ψ、十Δθ・i (rad)(i=0〜
10.ψ+:i=Oのときの01の値π つまりθ1十 −に修正する前の01の値、変化させる
。
その微小な位相変化θ8..に対する乗算器44の検波
出力信号■、をす18.として、b=Σ b (i) により虚部検波利得係数すを算出する。
出力信号■、をす18.として、b=Σ b (i) により虚部検波利得係数すを算出する。
モード切替スイッチ41を接点aに倒した状態のまま切
替スイッチ25を接点a側に戻し、θ+(D=ψ、+−
+ Δθ・j (rad)としてθ、(j)を設定した
ときのベクトル検波出力■2をa(j)とするとき、 a # Σ a(j) を測定する。
替スイッチ25を接点a側に戻し、θ+(D=ψ、+−
+ Δθ・j (rad)としてθ、(j)を設定した
ときのベクトル検波出力■2をa(j)とするとき、 a # Σ a(j) を測定する。
を記憶する。
以上の動作を試験角周波数ωを変更して実行し、角周波
数ω毎に利得補正係数aとbを求め、装置の校正が完了
する。
数ω毎に利得補正係数aとbを求め、装置の校正が完了
する。
ここで第2図に示した正弦波発生器31,32゜36と
余弦波発生器33.35について第3図を用いて説明す
る。
余弦波発生器33.35について第3図を用いて説明す
る。
第3図に示す例では位相調整が可能な正弦波発生器31
と余弦波発生器37を一つのディジタル波形メモリ31
2にフェーズアキュームレータ308及び位相調整手段
309とによって構成した場合を示す。
と余弦波発生器37を一つのディジタル波形メモリ31
2にフェーズアキュームレータ308及び位相調整手段
309とによって構成した場合を示す。
また正弦波発生器32.36と余弦波発生器33はディ
ジタル波形メモリ314とフェーズアキュームレータ3
08とによって構成した場合を示す。
ジタル波形メモリ314とフェーズアキュームレータ3
08とによって構成した場合を示す。
位相調整手段309はこの例では二つのラッチ回路30
9Aと309Bとを有し、この二つのラッチ回路309
Aと309Bに先に説明した位相設定値θ、とθ、に対
応するP、とP、が補正データメモリ301からストア
される。
9Aと309Bとを有し、この二つのラッチ回路309
Aと309Bに先に説明した位相設定値θ、とθ、に対
応するP、とP、が補正データメモリ301からストア
される。
ラッチ回路309Aと309Bにストアされた二つの位
相補正データPIとP2はデータセレクタ309Cによ
って選択されて取出される。
相補正データPIとP2はデータセレクタ309Cによ
って選択されて取出される。
つまりディジタル波形メモリ312は正弦波信号5in
(ωt)と余弦波信号C05(ωt)とを交互に発生す
る。このために位相補正データP1とP2はデータセレ
クタ309Cによって交互に選択され、加算器311に
与えられる。
(ωt)と余弦波信号C05(ωt)とを交互に発生す
る。このために位相補正データP1とP2はデータセレ
クタ309Cによって交互に選択され、加算器311に
与えられる。
加算器311にはフェーズアキュームレータ308から
のディジタル波形メモリ312を読出すためのアドレス
データが与えられ、このアドレスデータに位相補正デー
タP、とPtが加算されてディジタル波形メモリ312
に与えられる。
のディジタル波形メモリ312を読出すためのアドレス
データが与えられ、このアドレスデータに位相補正デー
タP、とPtが加算されてディジタル波形メモリ312
に与えられる。
ディジタル波形メモリ312から読出されたディジタル
波形データはラッチ回路315と318に交互にラッチ
される。つまりラッチ回路315には正弦波データが出
力されるタイミングでラッチ指令が与えられて正弦波デ
ータがラッチされ、またラッチ回路318には余弦波デ
ータが読出されるタイミングでラッチ指令が与えられ、
余弦波データがラッチされる。
波形データはラッチ回路315と318に交互にラッチ
される。つまりラッチ回路315には正弦波データが出
力されるタイミングでラッチ指令が与えられて正弦波デ
ータがラッチされ、またラッチ回路318には余弦波デ
ータが読出されるタイミングでラッチ指令が与えられ、
余弦波データがラッチされる。
ラッチ回路315にラッチされた正弦波データは余弦波
データをラッチするラッチ回路318のラッチタイミン
グと一致してラッチ回路316に移され、正弦波データ
と、余弦波データとを同一タイミングで出力するように
構成している。
データをラッチするラッチ回路318のラッチタイミン
グと一致してラッチ回路316に移され、正弦波データ
と、余弦波データとを同一タイミングで出力するように
構成している。
ラッチ回路316にラッチした正弦波データ5in(ω
t+θ1)はDA変換器317に与えられ、DA変換器
317でDA変換されて出力端子323にアナログの正
弦波信号を出力する。この正弦波信号が第2図に示す低
域通過が波器45とバッファ増幅器46、可変減衰器4
7を通じて被試験体14と校正用抵抗器42との接続点
に与えられる。
t+θ1)はDA変換器317に与えられ、DA変換器
317でDA変換されて出力端子323にアナログの正
弦波信号を出力する。この正弦波信号が第2図に示す低
域通過が波器45とバッファ増幅器46、可変減衰器4
7を通じて被試験体14と校正用抵抗器42との接続点
に与えられる。
ラッチ回路318にラッチされた余弦波データcos
(ωt+θ2)は出力端子324に出力され、この余弦
波データcos (ωを十〇、)は第2図に示す乗算器
35のデータ入力端子に与えられる。
(ωt+θ2)は出力端子324に出力され、この余弦
波データcos (ωを十〇、)は第2図に示す乗算器
35のデータ入力端子に与えられる。
フェーズアキュームレータ308は周波数を規定するた
めの増分データをラッチするラッチ回路308Aと、こ
のラッチ回路308Aにラッチした増分データを累積加
算する加算器308Bと、この加算器308Bで加算し
た結果を一時記憶して加算器308Bに帰還させると共
に外部の加算器311と移相回路313に累積加算値を
与えるラッチ回路308Cとによりて構成される。
めの増分データをラッチするラッチ回路308Aと、こ
のラッチ回路308Aにラッチした増分データを累積加
算する加算器308Bと、この加算器308Bで加算し
た結果を一時記憶して加算器308Bに帰還させると共
に外部の加算器311と移相回路313に累積加算値を
与えるラッチ回路308Cとによりて構成される。
ラッチ回路308Aには演算表示器27を構成するCP
[I303から補正データメモリ301に書込まれた周
波数設定inがストアされる0周波数設定値mの値に比
例してディジタル波形メモリ312.314の続出速度
が規定され、読出される正弦波データと余弦波データの
周波数が規定される。
[I303から補正データメモリ301に書込まれた周
波数設定inがストアされる0周波数設定値mの値に比
例してディジタル波形メモリ312.314の続出速度
が規定され、読出される正弦波データと余弦波データの
周波数が規定される。
フェーズアキュームレータ308とディジタル波形メモ
リ314との間に移相回路313が設けられる。移相回
路313はディジタル波形メモリ314に与える続出ア
ドレスデータに01と90@の移相量を与える。この移
相回路313の構成を第6図に示す。
リ314との間に移相回路313が設けられる。移相回
路313はディジタル波形メモリ314に与える続出ア
ドレスデータに01と90@の移相量を与える。この移
相回路313の構成を第6図に示す。
移相回路313はディジタルの角度信号を移相させる動
作を行なう、この移相回路313はマルチプレクサ31
3Aと、排他的論理和回路313Bと、インバータ31
3Cとによって構成することができる。
作を行なう、この移相回路313はマルチプレクサ31
3Aと、排他的論理和回路313Bと、インバータ31
3Cとによって構成することができる。
マルチプレクサ313Aは入力端子AI、A2及びBl
、B2と出力端子Ql、Q2と、制御端子A/Bとを有
し、制御端子A/Bに与える論理に応じて入力端子Al
、A2が選択されて出力端子Ql、Q2に接続される状
態と、入力端子Bl。
、B2と出力端子Ql、Q2と、制御端子A/Bとを有
し、制御端子A/Bに与える論理に応じて入力端子Al
、A2が選択されて出力端子Ql、Q2に接続される状
態と、入力端子Bl。
B2が出力端子Ql、Q2に接続される状態とに切替え
られる。
られる。
入力端子Bl、B2にはフェーズアキュームレータ30
8から出力される波形メモリ314に書込まれる波形デ
ータの0@〜3601に対応したアドレス信号の最上位
ビットMSBと、その一つの下のビットMSB−1が与
えられる0例えばMSBとMSB−1が0,0のとき0
1に対応したアドレスを読出し、0.1のとき90°の
アドレスを読出し、1.0のとき180@のアドレスを
読出し、1゜1のとき270°のアドレスを読出すもの
とすると、 MSBと列5B−1が0,0のとき、入力端子At。
8から出力される波形メモリ314に書込まれる波形デ
ータの0@〜3601に対応したアドレス信号の最上位
ビットMSBと、その一つの下のビットMSB−1が与
えられる0例えばMSBとMSB−1が0,0のとき0
1に対応したアドレスを読出し、0.1のとき90°の
アドレスを読出し、1.0のとき180@のアドレスを
読出し、1゜1のとき270°のアドレスを読出すもの
とすると、 MSBと列5B−1が0,0のとき、入力端子At。
A2には0.1が与えられ、入力端子Bl、B2より9
0°進んだアドレスデータが与えられる。
0°進んだアドレスデータが与えられる。
またMSBとMSB−1が0.1のとき入力端子AI。
A2には1. Oが与えられ、入力端子B1. B2
より901進んだアドレスデータが与えられる。
より901進んだアドレスデータが与えられる。
MSB ト145B−1b<1. 0 (180” )
ノトキ入力端子AI、A2には1.1 (270°)
が与えられる。
ノトキ入力端子AI、A2には1.1 (270°)
が与えられる。
このようにして入力端子AI、A2には入力端子B1.
B2のアドレスより90°位相が進んだアドレス信号が
与えられ、ディジタル波形メモリ314からディジタル
の正弦波データ5in(ωt)を読出すタイミングでは
フェーズアキュームレータ308からディジタル波形メ
モリ314に与えるアドレス信号をそのまま与え、余弦
波データC05(ωt)を読出すタイミングではディジ
タル波形メモリ314から読出す信号を90@移相させ
る量だけアドレスをシフトさせたアドレス信号をディジ
タル波形メモリ314に与える。
B2のアドレスより90°位相が進んだアドレス信号が
与えられ、ディジタル波形メモリ314からディジタル
の正弦波データ5in(ωt)を読出すタイミングでは
フェーズアキュームレータ308からディジタル波形メ
モリ314に与えるアドレス信号をそのまま与え、余弦
波データC05(ωt)を読出すタイミングではディジ
タル波形メモリ314から読出す信号を90@移相させ
る量だけアドレスをシフトさせたアドレス信号をディジ
タル波形メモリ314に与える。
このようにしてラッチ回路319と322には交互に正
弦波データ5in(ωt)と余弦波データC08(ωt
)が読出される。ラッチ回路319に読出された正弦波
データ5in(ωt)はラッチ回路322に余弦波デー
タCO5(ωt)をラッチするタイミングでランチ回路
321に移され、正弦波データ5in(a+t)と、余
弦波データCOS <ωt)とをタイミングを合せて更
新し、出力端子325と326に出力する。
弦波データ5in(ωt)と余弦波データC08(ωt
)が読出される。ラッチ回路319に読出された正弦波
データ5in(ωt)はラッチ回路322に余弦波デー
タCO5(ωt)をラッチするタイミングでランチ回路
321に移され、正弦波データ5in(a+t)と、余
弦波データCOS <ωt)とをタイミングを合せて更
新し、出力端子325と326に出力する。
出力端子325に出力されたディジタルの正弦波データ
5in(ωt)は第2図に示した乗算器21と34に与
えられる。また出力端子326に出力されたディジタル
の余弦波データCO5(ωt)ば第2図に示した乗算器
22と35に与えられる。
5in(ωt)は第2図に示した乗算器21と34に与
えられる。また出力端子326に出力されたディジタル
の余弦波データCO5(ωt)ば第2図に示した乗算器
22と35に与えられる。
尚、第3図に示す306はクロック発生器を示し、この
クロック発生器306でディジタル波形メモリ312,
314を読出す周波数f、の倍の周波数2f、のクロッ
クを発生し、このクロックを分周器307で2に分周し
、続出速度に対応した周波数f1の信号を得る。この周
波数1.のクロック信号はラッチ308C,315,3
,6317,318,319,321,322及び移相
回路313に与えられる。
クロック発生器306でディジタル波形メモリ312,
314を読出す周波数f、の倍の周波数2f、のクロッ
クを発生し、このクロックを分周器307で2に分周し
、続出速度に対応した周波数f1の信号を得る。この周
波数1.のクロック信号はラッチ308C,315,3
,6317,318,319,321,322及び移相
回路313に与えられる。
また演算表示器27はCPU303は、このCPU30
3を所定の順序で動作させるプログラムを収納したRO
M302と、上述した補正データメモリ301と、表示
器304とによって構成される。
3を所定の順序で動作させるプログラムを収納したRO
M302と、上述した補正データメモリ301と、表示
器304とによって構成される。
CPt1303ばランチ回11r309A、309Bと
308Aに与えるラッチ指令信号り、、t、□、L、と
、モード切替スイッチ41を切替制御する制御信号SI
と、切替スイッチ25を制御する制御信号Sつを出力す
る。
308Aに与えるラッチ指令信号り、、t、□、L、と
、モード切替スイッチ41を切替制御する制御信号SI
と、切替スイッチ25を制御する制御信号Sつを出力す
る。
■ 被試験体14に与える正弦波信号5in(ωt+θ
1)の角周波数ωよりラッチ回路308Aにラッチする
初期値mを設定する。
1)の角周波数ωよりラッチ回路308Aにラッチする
初期値mを設定する。
ω・ 211
n:ラッチ回路308Aから加算器308Eに与える初
wI値ディジタルデータのビット数。
wI値ディジタルデータのビット数。
■ 補正データメモリ301より試験角周波数ωに対応
した位相補正データθ2(ω)を読出し、この位相補正
データからラッチ回路3゜9Bにセットする補正値Pオ
を算出する。
した位相補正データθ2(ω)を読出し、この位相補正
データからラッチ回路3゜9Bにセットする補正値Pオ
を算出する。
■
(θt(ω)十−π12”
■ 補正データメモリ301より試験角周波数ωに対応
した位相補正データθ1(ω)を読出し、この位相補正
データからラッチ回路309Aにラッチする補正値P1
を算出する。
した位相補正データθ1(ω)を読出し、この位相補正
データからラッチ回路309Aにラッチする補正値P1
を算出する。
■ モード切替スイッチ41を接点a(校正用抵抗器4
2を選択)、切替スイッチ25を接点aに倒す、このと
き低域通過が波器43が出力する電圧を■1.(電圧ベ
クトル実部)として演算表示器27に取込む。
2を選択)、切替スイッチ25を接点aに倒す、このと
き低域通過が波器43が出力する電圧を■1.(電圧ベ
クトル実部)として演算表示器27に取込む。
■ モード切替スイッチ41を接点a、切替スイッチ2
5を接点すに切替え、このとき低域通過が波器44が出
力する電圧をVl、(電圧ベクトル虚部)として演算表
示器27に取込む。
5を接点すに切替え、このとき低域通過が波器44が出
力する電圧をVl、(電圧ベクトル虚部)として演算表
示器27に取込む。
■ モード切替スイッチ41を接点b(被測定体を選択
)、切替スイッチ25を接点aに倒し、このとき低域通
過が波器43が出力する電圧を1゜(1流ベクトル実部
)として演算表示器27に取込む。
)、切替スイッチ25を接点aに倒し、このとき低域通
過が波器43が出力する電圧を1゜(1流ベクトル実部
)として演算表示器27に取込む。
■ モード切替スイッチ41を接点b、切替スイッチ2
5を接点すに倒し、このとき低域通過が波器44が出力
する電圧1+−(電流ベクトル虚部)として演算表示器
27に取込む。
5を接点すに倒し、このとき低域通過が波器44が出力
する電圧1+−(電流ベクトル虚部)として演算表示器
27に取込む。
■ 演算表示器27を構成する補正データメモIJ30
1(第3図)より試験角周波数ωに対応した利得補正値
α(ω)を読み出し、以下の演算式より被測定体14の
インピーダンス2、を算出し、表示する。
1(第3図)より試験角周波数ωに対応した利得補正値
α(ω)を読み出し、以下の演算式より被測定体14の
インピーダンス2、を算出し、表示する。
V la+J ” Im ・(X (a) )Zx==
Rest 1 @@+jI Im・α(ω) Rp*t:校正用抵抗器42の抵抗値 Z、Iの式は以下の如くして算出される。この発明の測
定系は 1!a=Vooy / Rt (Iffla :演算増幅器15Aの入力電流、VOL
IT :帰還傾向器39に与えられる帰還電圧、R1
:帰還抵抗器39の抵抗[) が成立する帰還回路を構成している。
Rest 1 @@+jI Im・α(ω) Rp*t:校正用抵抗器42の抵抗値 Z、Iの式は以下の如くして算出される。この発明の測
定系は 1!a=Vooy / Rt (Iffla :演算増幅器15Aの入力電流、VOL
IT :帰還傾向器39に与えられる帰還電圧、R1
:帰還抵抗器39の抵抗[) が成立する帰還回路を構成している。
そこでVaot=(Vm +jVb Hcr(a+))
・Bによって決定されているのでモード切替えスイッ
チ41が接点a(@にあるとき、v、=v、、。
・Bによって決定されているのでモード切替えスイッ
チ41が接点a(@にあるとき、v、=v、、。
Vb=V1@であり、Vooy / Rt ・=Vn
ur/ R,、、であるから V++uy=(Rrer/Rr)νOtl?=(Rr*
v/Rr) ’ (Vma+jV+m ・(X ((1
1)) ・β −(11β:DA変換器317.低域通
過済波器45バッファ増幅器46の伝達関数) モード切替スイッチ41が接点す側にあるとき、 V 、 = 1 m−、V −−I I−テあり、Vo
ut/Rt””11107から e (])、 (2)式より DUT 1 *dJ I Is・α(ω) となる。
ur/ R,、、であるから V++uy=(Rrer/Rr)νOtl?=(Rr*
v/Rr) ’ (Vma+jV+m ・(X ((1
1)) ・β −(11β:DA変換器317.低域通
過済波器45バッファ増幅器46の伝達関数) モード切替スイッチ41が接点す側にあるとき、 V 、 = 1 m−、V −−I I−テあり、Vo
ut/Rt””11107から e (])、 (2)式より DUT 1 *dJ I Is・α(ω) となる。
以上説明したようにこの発明によれば電流−電圧変換ル
ープ内で一旦直流信号に変換されるため、試験角周波数
に係わりなく、オープンループ利得を高くすることがで
きる。
ープ内で一旦直流信号に変換されるため、試験角周波数
に係わりなく、オープンループ利得を高くすることがで
きる。
よって電流−電圧変換器15において、入力電流1 i
nが完全な仮想接地状態となり、被測定電圧の測定誤差
、被測定電流の測定誤差が非常に少なくなる。
nが完全な仮想接地状態となり、被測定電圧の測定誤差
、被測定電流の測定誤差が非常に少なくなる。
■、(ベクトル実部)及びvb (ベクトル虚部)に
よって合成されるV。、Jアは試験角周波数毎にそのベ
クトル利得係数α(ω)及びベクトル直交角θt (ω
)を校正しているから、試験角周波数に係わりなく高精
度なJmmが検波される。
よって合成されるV。、Jアは試験角周波数毎にそのベ
クトル利得係数α(ω)及びベクトル直交角θt (ω
)を校正しているから、試験角周波数に係わりなく高精
度なJmmが検波される。
乗算器21.22及び34.35を第4図に示した構成
とし、更に温度バランスがとれていれば測定確度は校正
用抵抗器42の精度で決定される。
とし、更に温度バランスがとれていれば測定確度は校正
用抵抗器42の精度で決定される。
つまりこの発明によれば数PPIIオーダの測定確度が
実現できる。因みに従来の装置は100PP■が限界で
あった。
実現できる。因みに従来の装置は100PP■が限界で
あった。
従ってこの発明によれば測定精度の高いインピーダンス
測定装置を提供することができる。
測定装置を提供することができる。
第1図はこの発明の概略の構成及び概念を説明するため
の概念図、第2図は第1図に示したインピーダンス測定
装置の更に詳しい構成を説明するためのブロック図、第
3図は第2図に示したインピーダンス測定装置に信号を
与える回路の実施例を説明するためのブロック図、第4
図は第2図に示した乗算器の構成を説明するための接続
図、第5図は第4図の乗算器に用いる抵抗ラダー回路の
構成を説明するための接続図、第6図は第3図に示した
移相器の構成を説明するための接続図、第7図及び第8
図は従来の技術を説明するためのブロック図である。 14・・・被測定体、15・・・電流−電圧変換器。 21.22,34.35・・・乗算器、31・・・正弦
波発生器、40・・・帰還回路。
の概念図、第2図は第1図に示したインピーダンス測定
装置の更に詳しい構成を説明するためのブロック図、第
3図は第2図に示したインピーダンス測定装置に信号を
与える回路の実施例を説明するためのブロック図、第4
図は第2図に示した乗算器の構成を説明するための接続
図、第5図は第4図の乗算器に用いる抵抗ラダー回路の
構成を説明するための接続図、第6図は第3図に示した
移相器の構成を説明するための接続図、第7図及び第8
図は従来の技術を説明するためのブロック図である。 14・・・被測定体、15・・・電流−電圧変換器。 21.22,34.35・・・乗算器、31・・・正弦
波発生器、40・・・帰還回路。
Claims (1)
- (1)正弦波発生器から被測定体に正弦波信号を印加し
、被測定体を流れる電流を電流−電圧変換器を構成する
演算増幅器を通じて電圧信号として取出すと共に、この
電圧信号に正弦波信号と余弦波信号によってベクトル検
波して正弦波成分と余弦波成分に分離して出力し、この
検波出力信号によって被測定体のインピーダンスを算出
するインピーダンス測定装置において、 上記正弦波成分と余弦波成分のそれぞれの検波出力に正
弦波信号と余弦波信号を乗算し、その乗算出力信号を加
算し、この加算結果を既知の抵抗値を持つ抵抗器を介し
て上記電流−電圧変換器を構成する演算増幅器に帰還さ
せ、この帰還ループによって上記演算増幅器を電流−電
圧変換器として動作させるように構成したことを特徴と
するインピーダンス測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13687090A JP2846926B2 (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | インピーダンス測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13687090A JP2846926B2 (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | インピーダンス測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0431773A true JPH0431773A (ja) | 1992-02-03 |
| JP2846926B2 JP2846926B2 (ja) | 1999-01-13 |
Family
ID=15185453
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13687090A Expired - Fee Related JP2846926B2 (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | インピーダンス測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2846926B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100350062B1 (ko) * | 1999-12-10 | 2002-08-24 | 닛본 덴기 가부시끼가이샤 | 정확하게 임피던스를 측정하는 장치 및 그 방법 |
| US6581016B1 (en) | 1998-07-30 | 2003-06-17 | Nec Electronics Corporation | Apparatus for accurately measuring impedance and method used therein |
| JP2006242718A (ja) * | 2005-03-02 | 2006-09-14 | Hokuto Denshi Kogyo Kk | インピーダンス検出装置 |
| JP2012032365A (ja) * | 2010-01-26 | 2012-02-16 | Hioki Ee Corp | 測定装置 |
| JP2020063943A (ja) * | 2018-10-16 | 2020-04-23 | 日置電機株式会社 | インピーダンス測定装置およびインピーダンス測定装置における負帰還回路の調整方法 |
| JP2021012135A (ja) * | 2019-07-08 | 2021-02-04 | 株式会社デンソー | 絶縁抵抗検出装置 |
| CN114609425A (zh) * | 2022-02-09 | 2022-06-10 | 常州市致新精密电子有限公司 | 一种用于高频精密阻抗测量的矢量负反馈自动平衡电桥 |
| WO2023139871A1 (ja) * | 2022-01-21 | 2023-07-27 | 日置電機株式会社 | インピーダンス測定システムおよび方法 |
-
1990
- 1990-05-25 JP JP13687090A patent/JP2846926B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6581016B1 (en) | 1998-07-30 | 2003-06-17 | Nec Electronics Corporation | Apparatus for accurately measuring impedance and method used therein |
| KR100350062B1 (ko) * | 1999-12-10 | 2002-08-24 | 닛본 덴기 가부시끼가이샤 | 정확하게 임피던스를 측정하는 장치 및 그 방법 |
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| JP2012032365A (ja) * | 2010-01-26 | 2012-02-16 | Hioki Ee Corp | 測定装置 |
| JP2020063943A (ja) * | 2018-10-16 | 2020-04-23 | 日置電機株式会社 | インピーダンス測定装置およびインピーダンス測定装置における負帰還回路の調整方法 |
| WO2020079888A1 (ja) * | 2018-10-16 | 2020-04-23 | 日置電機株式会社 | インピーダンス測定装置およびインピーダンス測定装置における負帰還回路の調整方法 |
| JP2021012135A (ja) * | 2019-07-08 | 2021-02-04 | 株式会社デンソー | 絶縁抵抗検出装置 |
| WO2023139871A1 (ja) * | 2022-01-21 | 2023-07-27 | 日置電機株式会社 | インピーダンス測定システムおよび方法 |
| JP2023107030A (ja) * | 2022-01-21 | 2023-08-02 | 日置電機株式会社 | インピーダンス測定システムおよび方法 |
| CN114609425A (zh) * | 2022-02-09 | 2022-06-10 | 常州市致新精密电子有限公司 | 一种用于高频精密阻抗测量的矢量负反馈自动平衡电桥 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2846926B2 (ja) | 1999-01-13 |
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |